JPH05243655A - 半導体レーザ制御装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 温度変化により半導体レーザの温度依存性が
変化しても、規定値以上の再生パワーが出力されて記録
媒体が破壊されるのを防ぐ。 【構成】 主に半導体レーザ４とそれをモニタするフォ
トダイオード５及び再生パワーをフィードバック制御す
る為の回路６、７、８、９、１０と再生パワー駆動電流
をモニタする為に感熱抵抗１４を用い感熱抵抗１４の両
端にかかる電圧が一定値を越えると再生パワー駆動電流
を停止するエラー処理回路１５、１６、１７とから成
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、たとえば、半導体レ
ーザを光源として用いて記録媒体上に情報の記録再生を
行う光学式記録再生装置の半導体レーザの制御に関する
ものである。

【０００２】

【従来の技術】図３は例えば実用新案出願公開平３−２
３８１９に示された従来の半導体レーザ制御装置であ
り、図において、１は記録媒体、２は記録媒体を回転さ
せるモータ、３は上記記録媒体１へレーザ光を照射する
光ピックアップ、４は上記光ピックアップ３の内部に設
置される半導体レーザ、５は光導体レーザ光強度をモニ
タするフォトダイオード、６はフォトダイオード５より
出力される電流を電圧へ変換するＩ−Ｖ変換回路、７は
Ｉ−Ｖ変換回路６の出力をサンプルホールドするサンプ
ルホールド回路、８はサンプルホールド回路７の出力と
所望の再生パワー出力値とを比較する誤差検出回路、９
は誤差検出回路８の出力値に従って電圧を電流に変換す
るＶ−Ｉ変換回路、１０は再生パワー駆動電流と記録パ
ワー駆動電流を加算する回路、１１はサンプルホールド
回路７へのサンプリングとホールドのタイミングを指令
するＳＨパルス発生回路、１２は記録パワー駆動電流を
発生する記録パワー設定回路である。

【０００３】次に動作について説明する。半導体レーザ
４より出力されたレーザ光はフォトダイオード５により
検知され、光パワーに比例した電流へと変換される。フ
ォトダイオード５より出力される電流は次段のＩ−Ｖ変
換回路６にて電圧へと変換され、サンプルホールド回路
７を通して誤差検知回路８にて基準電圧と比較される。
比較され、その差の電圧が誤差検出回路８より出力さ
れ、次のＶ−Ｉ変換回路９にて再生パワー駆動電流とな
り、電流加算回路１０を通りＬＤへ供給される。以上の
回路により、再生パワーについてはフィードバック制御
がかかり常に一定の再生パワー出力光が得られる。サン
プルホールド回路７では、記録時には、高出力のパワー
が半導体レーザ４より出力される為、再生パワーが出力
されている時にサンプリング状態にしておき、記録パワ
ーが出力される場合にホールド状態とし、再生パワー出
力のみフィートバック制御がかかるようにしている。サ
ンプリングとホールドの切換は制御信号１３に従ってサ
ンプルホールドパルス発生回路を通してサンプルホール
ド回路７へ渡される。又、制御信号１３に従って記録パ
ワー設定回路１２がパルス状の記録パワー駆動電流を作
り、電流加算回路１０にて再生パワー駆動電流と合わさ
れ、半導体レーザ４へ流されて、再生パワーにパルス状
の記録パワーが重畳された形のレーザ出力が得られる。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】従来の半導体レーザ制
御回路は以上の様に構成されているので、何らかの事故
により、再生パワーが目標値より高く出力され、記録媒
体を破壊してしまう可能性があった。

【０００５】この発明は上記のような問題点を解消する
ためになされたもので、半導体レーザより過大な再生パ
ワーが出力されることを防止し、記録媒体を破壊しない
半導体レーザ制御装置を得ることを目的とする。

【０００６】

【課題を解決するための手段】この発明に係わる半導体
レーザ制御装置は、たとえば、再生パワー駆動電流が流
れる所に温度により電流値を補正できる温度依存性を持
つ素子を設けたものであり、以下の要素を有するもので
ある。 （ａ）レーザ光を出力する半導体レーザ、（ｂ）上記半
導体レーザを駆動するためのレーザ駆動電流を生成する
レーザ駆動電流生成手段、（ｃ）上記半導体レーザのレ
ーザ光出力が一定になるように、温度変化に対応して、
上記レーザ駆動電流生成手段により生成されたレーザ駆
動電流を補正する電流補正手段。

【０００７】

【作用】この発明における半導体レーザ制御装置は、半
導体レーザの温度依存性をその温度特性と所定の関係に
ある温度依存性を持つ素子（たとえば、感熱抵抗）にて
相殺する事により、再生パワー駆動電流を補正し、再生
パワー出力が温度依存性のない出力になるように再生パ
ワー駆動電流を制御する。また、この素子をモニタする
ことにより再生パワー出力の異常を知ることができ、異
常の場合には、再生パワー駆動電流をオフにして記録媒
体を破壊する事を防ぐ。

【０００８】

【実施例】実施例１．以下この発明の一実施例を図につ
いて説明する。図１において、１４は温度が高くなるほ
ど抵抗値が小さくなる感熱抵抗（この発明における電流
補正手段の一例）、１５は感熱抵抗１４の両端の電圧の
差を検出する差動回路、１６は差動回路の出力と基準設
定値との比較を行うコンパレータ回路、１７はコンパレ
ータ回路１６の出力に従って再生パワー駆動電流を停止
するエラー処理回路、その他は図１の構成と同じであ
る。但し感熱抵抗１５は半導体レーザ４の近くに設置す
る必要がある。

【０００９】図２は一般的な半導体レーザの特性を示し
た図である。半導体レーザは温度が高くなるほどレーザ
光を出力するしきい値電流が大きくなり、効率（電流増
加分に対するレーザ光パワー増加分）も低くなり、同じ
再生パワー光を得るのに大きな電流が必要となる。たと
えば、図において温度ａ＜温度ｂとすると、温度ｂにお
けるしきい値電流Ｉ_thb は温度ａにおけるしきい値電流
Ｉ_tha よりも大きくなる。また、同一の再生パワーＸを
得る場合は、Ｉ_LDa ＜Ｉ_LDb となり、温度が高いほど同
一の光出力レベルを得るため大きな電流が必要となる。
よって再生パワー駆動電流が流れる箇所に、温度が高く
なるほど抵抗値が小さくなる感熱抵抗１４を設け、その
温度係数は一定の再生パワーを出力するのに必要な電流
の温度係数を相殺する値を用いるようにし、一定の再生
パワーを出力している状態では、感熱抵抗１４の両端に
温度が変化しても同じ電圧がかかる様にする。次にその
両端の電圧を差動回路１５へ入力し、電圧差として取り
出し、コンパレータ１６にてその電圧差を基準電圧と比
較し、電圧差が基準電圧よりも大きければ過大な再生パ
ワーが出力されたと見なし、エラー処理回路１７へ信号
を送り、エラー処理回路１７はＶ−Ｉ変換回路９へ働
き、電流の出力を止める。但し、コンパレータ１６へ入
力される基準電圧は、記録媒体が破壊されない値に設定
する必要がある。以上のように、この実施例では、半導
体レーザを光源として用いて記録媒体上に情報の記録再
生を行う光学式記録再生装置の半導体レーザ制御装置に
おいて、半導体レーザの光出力をモニタする光出力検出
手段と、再生時のレーザ光強度を検出してこれをサンプ
ルする手段と、記録時に上記レーザ光強度のサンプル値
をホールドする手段と、該サンプルホールド値と所望の
値との比較を行い、再生時のレーザ駆動電流を制御する
手段と、再生時のレーザ駆動電流を温度依存性を持つセ
ンサにて検出する手段と、検出された再生時のレーザ駆
動電流の大きさが一定値を越えると再生時のレーザ駆動
電流を停止する手段とからなることを特徴とする半導体
レーザ制御装置を説明した。

【００１０】実施例２．なお、上記実施例では、半導体
レーザ４の駆動電流の温度依存性を相殺するのに感熱抵
抗１４を用いたが、他の温度依存性を持つ素子にて、半
導体レーザ４の駆動電流の温度依存性を相殺しても良
い。

【００１１】

【発明の効果】以上のように、この発明によれば、半導
体レーザの再生パワー駆動電流の温度依存性を相殺する
ので、温度変化があっても再生パワーを一定に保つ半導
体レーザ制御装置を得ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の一実施例による半導体レーザ制御回
路を示すブロック図である。

【図２】一般的な半導体レーザの入出力特性を示す図で
ある。

【図３】従来の半導体レーザ制御回路を示すブロック図
である。

【符号の説明】

１ 記録媒体 ２ モータ ３ 光ピックアップ ４ 半導体レーザ ５ フォトダイオード ６ Ｉ−Ｖ変換回路 ７ サンプルホールド回路 ８ 誤差検出回路 ９ Ｖ−Ｉ変換回路 １０ 電流加算回路 １１ サンプルホールドパルス発生回路 １２ 記録パワー設定回路 １３ 制御信号 １４ 感熱抵抗 １５ 差動回路 １６ コンパレータ １７ エラー処理回路

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 以下の要素を有する半導体レーザ制御装
   置 （ａ）レーザ光を出力する半導体レーザ、 （ｂ）上記半導体レーザを駆動するためのレーザ駆動電
   流を生成するレーザ駆動電流生成手段、 （ｃ）上記半導体レーザのレーザ光出力が一定になるよ
   うに、温度変化に対応して、上記レーザ駆動電流生成手
   段により生成されたレーザ駆動電流を補正する電流補正
   手段。