JPH05249402A - 低慣性ミラー及び磁石を備えたビーム走査検流計 - Google Patents
低慣性ミラー及び磁石を備えたビーム走査検流計Info
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- JPH05249402A JPH05249402A JP17136292A JP17136292A JPH05249402A JP H05249402 A JPH05249402 A JP H05249402A JP 17136292 A JP17136292 A JP 17136292A JP 17136292 A JP17136292 A JP 17136292A JP H05249402 A JPH05249402 A JP H05249402A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R5/00—Instruments for converting a single current or a single voltage into a mechanical displacement
- G01R5/14—Moving-iron instruments
- G01R5/16—Moving-iron instruments with pivoting magnet
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B26/00—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
- G02B26/08—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
- G02B26/10—Scanning systems
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ベアリング支持システムを用いることなく異
常振動を回避でき、低い所要ピーク電流で作動可能な高
解像度印刷に使用できるビーム走査検流計を提供する。 【構成】 非共振モードでミラーを振動させるビーム走
査検流計。ミラー60が非共振モードで振動するので、
検流計の可動部は最小限の慣性モーメントを持つ。検流
計は、非共振検流計によく使用されるベアリングの代わ
りにミラーを支持するために2組の交差リーフバネ70
を使用している。リーフバネ70の各組は、冷間圧延ス
テンレススチールの単一ストリップから形成されてい
る。各バネは、ミラーの回転軸に極めて近接した距離で
ミラーを支持する永久磁石内の唯一形成されたキャビテ
イ内に挿入されている。ミラーは傾斜エッジを以て特別
に形成されており、これによって慣性モーメントは低
く、またミラー支持磁石を包囲する駆動電流コイル64
に極めて近接した位置で振動することができる。
常振動を回避でき、低い所要ピーク電流で作動可能な高
解像度印刷に使用できるビーム走査検流計を提供する。 【構成】 非共振モードでミラーを振動させるビーム走
査検流計。ミラー60が非共振モードで振動するので、
検流計の可動部は最小限の慣性モーメントを持つ。検流
計は、非共振検流計によく使用されるベアリングの代わ
りにミラーを支持するために2組の交差リーフバネ70
を使用している。リーフバネ70の各組は、冷間圧延ス
テンレススチールの単一ストリップから形成されてい
る。各バネは、ミラーの回転軸に極めて近接した距離で
ミラーを支持する永久磁石内の唯一形成されたキャビテ
イ内に挿入されている。ミラーは傾斜エッジを以て特別
に形成されており、これによって慣性モーメントは低
く、またミラー支持磁石を包囲する駆動電流コイル64
に極めて近接した位置で振動することができる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はビーム走査検流計、特に
非共振モードで駆動される検流計に関する。
非共振モードで駆動される検流計に関する。
【0002】
【従来の技術】本発明は、4件の関連米国出願に関連す
るものである。第1の関連出願である出願番号第45
7,593号(発明者 S.サラフ; 出願日 199
0年12月27日; 発明の名称「サーマルプリン
タ」)は、本願と同じ被譲渡人である。本願と同時に出
願された第2の関連出願である出願番号第722,75
3号(発明者 J.クレソック、J.S.チャンドラ
ー、D.オルリッキ及びT.ニール; 出願日 199
1年6月28日; 発明の名称 「電子−機械装置の改
善された高速/高精度駆動方法」)も、本願と同じ被譲
渡人である。本願と同時に出願された第3の関連出願で
ある出願番号第723,290号(発明者 J.S.チ
ャンドラー、J.クレソック及びD.オルリッキ; 出
願日 1991年6月28日; 発明の名称 「バネ支
持されたミラーを有するビーム走査検流計」)も、本願
と同じ被譲渡人である。本願と同時に出願された第4の
関連出願である出願番号第728,910号(発明者
D.オルリッキ、B.コッペ及びJ.クレソック; 出
願日 1991年6月28日; 発明の名称 「磁気位
置センサ」)も、本願と同じ被譲渡人である。
るものである。第1の関連出願である出願番号第45
7,593号(発明者 S.サラフ; 出願日 199
0年12月27日; 発明の名称「サーマルプリン
タ」)は、本願と同じ被譲渡人である。本願と同時に出
願された第2の関連出願である出願番号第722,75
3号(発明者 J.クレソック、J.S.チャンドラ
ー、D.オルリッキ及びT.ニール; 出願日 199
1年6月28日; 発明の名称 「電子−機械装置の改
善された高速/高精度駆動方法」)も、本願と同じ被譲
渡人である。本願と同時に出願された第3の関連出願で
ある出願番号第723,290号(発明者 J.S.チ
ャンドラー、J.クレソック及びD.オルリッキ; 出
願日 1991年6月28日; 発明の名称 「バネ支
持されたミラーを有するビーム走査検流計」)も、本願
と同じ被譲渡人である。本願と同時に出願された第4の
関連出願である出願番号第728,910号(発明者
D.オルリッキ、B.コッペ及びJ.クレソック; 出
願日 1991年6月28日; 発明の名称 「磁気位
置センサ」)も、本願と同じ被譲渡人である。
【0003】ビーム走査検流計(ガルバノメータ)は、
像の生成または読み出しのために所定の観察領域に対し
て光ビームの制御された高速周期的偏位が要求される多
くの装置で使用されている。
像の生成または読み出しのために所定の観察領域に対し
て光ビームの制御された高速周期的偏位が要求される多
くの装置で使用されている。
【0004】共振モードで作動するように設計された検
流計は、一般には比較的低レベルの電力で通常検流計を
駆動することが望ましい装置で使用される。このような
装置では、検流計の振動ミラーは撓み部材またはバネに
より支持されている。バネの剛性及びミラーの質量及び
形状が、検流計に対して自然周波数(固有周波数)を生
成する。ミラーが自然周波数で振動される(即ち共振作
用)と、わずかな電力でミラーを駆動できる。検流計が
共振モードで作動すると、ミラーは中立位置に関して対
称的に偏位する。換言すれば、ミラーは第1方向に向け
て第1リミットまで偏位して中立位置まで戻り、第2方
向へ向けて第2リミットまで偏位する。各リミットは、
中立位置から等距離にあり、ミラーは2個のリミットの
何れかへ到達するのに等しい時間を消費する。
流計は、一般には比較的低レベルの電力で通常検流計を
駆動することが望ましい装置で使用される。このような
装置では、検流計の振動ミラーは撓み部材またはバネに
より支持されている。バネの剛性及びミラーの質量及び
形状が、検流計に対して自然周波数(固有周波数)を生
成する。ミラーが自然周波数で振動される(即ち共振作
用)と、わずかな電力でミラーを駆動できる。検流計が
共振モードで作動すると、ミラーは中立位置に関して対
称的に偏位する。換言すれば、ミラーは第1方向に向け
て第1リミットまで偏位して中立位置まで戻り、第2方
向へ向けて第2リミットまで偏位する。各リミットは、
中立位置から等距離にあり、ミラーは2個のリミットの
何れかへ到達するのに等しい時間を消費する。
【0005】共振モードでは、ミラーの角変位は、時間
の関数として正弦波パターンをとる。ミラーによって平
坦面へ反射した光ビームは、時間の関数としての非線形
偏位パターンをとる。このようにして、共振モードで作
用する検流計は、ふつう被走査面上の光ビーム速度に線
形性を要求しない装置にのみ使用される。更に、これら
の検流計は、いずれかの方向におけるミラーの偏位中に
走査するのが望ましい場合に使用されることが多い。こ
の双方向性走査は、「ピンクッション効果」と呼ばれる
イメージ歪を生成する。従って、この種の共振検流計
は、低解像度ベース、例えば200ドット/インチ程度
またはそれ未満の解像度で像生成または読み出しを行う
装置にのみ使用される。低解像度装置では、共振走査に
より生じる固有非線形性及び歪は許容され得るからであ
る。
の関数として正弦波パターンをとる。ミラーによって平
坦面へ反射した光ビームは、時間の関数としての非線形
偏位パターンをとる。このようにして、共振モードで作
用する検流計は、ふつう被走査面上の光ビーム速度に線
形性を要求しない装置にのみ使用される。更に、これら
の検流計は、いずれかの方向におけるミラーの偏位中に
走査するのが望ましい場合に使用されることが多い。こ
の双方向性走査は、「ピンクッション効果」と呼ばれる
イメージ歪を生成する。従って、この種の共振検流計
は、低解像度ベース、例えば200ドット/インチ程度
またはそれ未満の解像度で像生成または読み出しを行う
装置にのみ使用される。低解像度装置では、共振走査に
より生じる固有非線形性及び歪は許容され得るからであ
る。
【0006】ビーム走査検流計を使用するシステムの多
くは、検流計の共振作用モードにおける非線形性を許容
できない。
くは、検流計の共振作用モードにおける非線形性を許容
できない。
【0007】レーザプリンタ等の光走査装置では、走査
ミラーで比較的高密度エネルギーを転送する必要があ
る。例えば、先掲の米国特許出願第457,593号に
開示のサーマルプリンタでは、レーザはドナーダイフィ
ルムから受容体へ転送させるために使用される。現在、
レーザがこのサーマルプリンタシステムへ導入できる電
力は、50ミリワットに限定されている。このレーザ電
力限界内で最大可能速度で作動できるサーマルプリンタ
を製造するためには、ドナーダイフィルムに対してレー
ザビームを正弦波速度では走査しないほうがよい。も
し、共振ビーム走査検流計(正弦波速度の走査ビームを
生成)がこのサーマルプリンタに使用されるならば、サ
ーマルプリンタの作動速度を低減しなければならない。
これは、正弦波速度で走るビームは平均速度よりもかな
り大きなピーク速度をもつからである。サーマルプリン
タでは、検流計の走査率(即ち毎秒の走査数)は、レー
ザが走査ビームの最大速度で所望のダイ転送を行うよう
に十分低く保持されなければならない。換言すれば、も
し50ミリワットのレーザが20インチ/秒の最大ビー
ム速度で所望のダイ転送を行うならば、ミラーの振動率
はビームの最大速度が毎秒20インチとなるように十分
低く保持されなければならない。正弦波速度プロフィー
ルでは、20インチ/秒の最大ビーム速度は、わずか約
12インチ/秒の平均ビーム速度を生成する振動率に対
応する。このように、正弦ビーム速度を用いたサーマル
プリンタでは、プリンタの一部として使用されるレーザ
の特定パワーレベルに対する最適作動速度を達成するこ
とはできない。
ミラーで比較的高密度エネルギーを転送する必要があ
る。例えば、先掲の米国特許出願第457,593号に
開示のサーマルプリンタでは、レーザはドナーダイフィ
ルムから受容体へ転送させるために使用される。現在、
レーザがこのサーマルプリンタシステムへ導入できる電
力は、50ミリワットに限定されている。このレーザ電
力限界内で最大可能速度で作動できるサーマルプリンタ
を製造するためには、ドナーダイフィルムに対してレー
ザビームを正弦波速度では走査しないほうがよい。も
し、共振ビーム走査検流計(正弦波速度の走査ビームを
生成)がこのサーマルプリンタに使用されるならば、サ
ーマルプリンタの作動速度を低減しなければならない。
これは、正弦波速度で走るビームは平均速度よりもかな
り大きなピーク速度をもつからである。サーマルプリン
タでは、検流計の走査率(即ち毎秒の走査数)は、レー
ザが走査ビームの最大速度で所望のダイ転送を行うよう
に十分低く保持されなければならない。換言すれば、も
し50ミリワットのレーザが20インチ/秒の最大ビー
ム速度で所望のダイ転送を行うならば、ミラーの振動率
はビームの最大速度が毎秒20インチとなるように十分
低く保持されなければならない。正弦波速度プロフィー
ルでは、20インチ/秒の最大ビーム速度は、わずか約
12インチ/秒の平均ビーム速度を生成する振動率に対
応する。このように、正弦ビーム速度を用いたサーマル
プリンタでは、プリンタの一部として使用されるレーザ
の特定パワーレベルに対する最適作動速度を達成するこ
とはできない。
【0008】レーザの特定パワーレベルに対するサーマ
ルプリンタの作動速度の最適化は、ビームが一定速度で
対象物に対して走査された時に達成される。この作用モ
ードでは、ビームの最大速度はビームの平均速度に等し
い。従って、レーザは走査サイクル全体を通じてその最
大パワーを与えるよう使用可能である。
ルプリンタの作動速度の最適化は、ビームが一定速度で
対象物に対して走査された時に達成される。この作用モ
ードでは、ビームの最大速度はビームの平均速度に等し
い。従って、レーザは走査サイクル全体を通じてその最
大パワーを与えるよう使用可能である。
【0009】光ビームを平坦面に対して一定速度で走査
できる検流計は、従来技術として既に周知である。例え
ば、米国特許第4,791,591号(1988年12
月13日発行; 発明者 K.アサヌマ他)参照。この
種(即ち非共振型)の検流計は、駆動電流制御回路中に
使用される。通常、これらの電流制御回路は、フィード
バック原理で機能する。
できる検流計は、従来技術として既に周知である。例え
ば、米国特許第4,791,591号(1988年12
月13日発行; 発明者 K.アサヌマ他)参照。この
種(即ち非共振型)の検流計は、駆動電流制御回路中に
使用される。通常、これらの電流制御回路は、フィード
バック原理で機能する。
【0010】検流計の偏向ミラーには、角度位置検出機
構が設けられているものがある。この機構は、ミラーの
実際の偏向に応答する。駆動電流は位置検出機構に応答
して連続して変化し、これによってミラーが時間の関数
としてほぼ所望の変位パターンをたどることとなる。
構が設けられているものがある。この機構は、ミラーの
実際の偏向に応答する。駆動電流は位置検出機構に応答
して連続して変化し、これによってミラーが時間の関数
としてほぼ所望の変位パターンをたどることとなる。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】通常、上記角度位置検
出機構は、角度変位の関数として容量が変動する素子か
ら成る。効果的に作動するため、2個の素子は同心状に
互いに移動しなければならない。一の素子はミラーと共
に移動し、他の素子は静止状態を保つ。各素子は、0.
001インチ或いはそれ未満の程度の間隔で互いに極め
て近接している必要がある。検出素子間にこのような近
接同心状動作を確保するため、ミラーはしっかりと固定
された軸を中心として回転しなければならない。この結
果、検流計中における容量型角度位置検出機構を使用す
ると、検流計に使用できるミラー変位の形態が限定され
ることとなる。従来の非共振型検流計では、ミラーの回
転軸はベアリング(ボールベアリング、ニードルベアリ
ング、スリーブベアリング等)内で支持され、これによ
って位置センサの適切な機能が確保される。
出機構は、角度変位の関数として容量が変動する素子か
ら成る。効果的に作動するため、2個の素子は同心状に
互いに移動しなければならない。一の素子はミラーと共
に移動し、他の素子は静止状態を保つ。各素子は、0.
001インチ或いはそれ未満の程度の間隔で互いに極め
て近接している必要がある。検出素子間にこのような近
接同心状動作を確保するため、ミラーはしっかりと固定
された軸を中心として回転しなければならない。この結
果、検流計中における容量型角度位置検出機構を使用す
ると、検流計に使用できるミラー変位の形態が限定され
ることとなる。従来の非共振型検流計では、ミラーの回
転軸はベアリング(ボールベアリング、ニードルベアリ
ング、スリーブベアリング等)内で支持され、これによ
って位置センサの適切な機能が確保される。
【0012】検流計中にミラーを支持するベアリング
は、特に毎分数千振動が要求されるような高速作動状況
下では、摩耗しやすい。また、ベアリングは、被走査面
と平行でない面に所定量のミラー偏位(deflection)
(即ち交差軸偏位(cross-axis deflection) )を生じさ
せるので、検流計には不適である。この交差軸偏位は、
適度な高解像度例えば600ドット/インチまたはそれ
未満を必要とする装置に使用される高品質ベアリングに
許容レベルとなるように制御される。しかし、交差軸偏
位は高解像度装置即ち2000ドット/インチまたはそ
れ以上の装置では更に慎重な制御が要求される。
は、特に毎分数千振動が要求されるような高速作動状況
下では、摩耗しやすい。また、ベアリングは、被走査面
と平行でない面に所定量のミラー偏位(deflection)
(即ち交差軸偏位(cross-axis deflection) )を生じさ
せるので、検流計には不適である。この交差軸偏位は、
適度な高解像度例えば600ドット/インチまたはそれ
未満を必要とする装置に使用される高品質ベアリングに
許容レベルとなるように制御される。しかし、交差軸偏
位は高解像度装置即ち2000ドット/インチまたはそ
れ以上の装置では更に慎重な制御が要求される。
【0013】高解像度イメージを生成するためにベアリ
ング支持ミラーを用いる検流計は、比較的高価である。
このような検流計は、通常各ユニットが$500.00
〜1,000.00の値段である。デスクトップ装置用
としてのサーマルプリンタ等の検流計として使用される
場合には、このような高価な検流計は回避しなければな
らない。これが、これまで比較的低コストデスクトップ
型の高解像度サーマルプリンタが検流計内蔵型印刷シス
テムと共に製造されなかった一理由である。
ング支持ミラーを用いる検流計は、比較的高価である。
このような検流計は、通常各ユニットが$500.00
〜1,000.00の値段である。デスクトップ装置用
としてのサーマルプリンタ等の検流計として使用される
場合には、このような高価な検流計は回避しなければな
らない。これが、これまで比較的低コストデスクトップ
型の高解像度サーマルプリンタが検流計内蔵型印刷シス
テムと共に製造されなかった一理由である。
【0014】他の問題が、検流計がサーマルプリンタ等
のユニットの非共振モードで使用される時に生じる。即
ち、この場合には、検流計は共振モードにおける相当サ
イズの検流計を駆動するために使用されるものよりもか
なり大きな力で駆動されなければならなくなり、そのよ
うな大きな力を使用すると2つの問題が生じる。まず、
電力消費が増大する。次に、大きな駆動力は、高解像度
イメージの生成と干渉する望ましくない振動を引き起こ
すということである。これらの2つの条件はサーマルプ
リンタ内で調整可能であるが、通常はかなりのコスト高
を招く。
のユニットの非共振モードで使用される時に生じる。即
ち、この場合には、検流計は共振モードにおける相当サ
イズの検流計を駆動するために使用されるものよりもか
なり大きな力で駆動されなければならなくなり、そのよ
うな大きな力を使用すると2つの問題が生じる。まず、
電力消費が増大する。次に、大きな駆動力は、高解像度
イメージの生成と干渉する望ましくない振動を引き起こ
すということである。これらの2つの条件はサーマルプ
リンタ内で調整可能であるが、通常はかなりのコスト高
を招く。
【0015】検流計へ大きな電力量を供給するサーマル
プリンタは、通常は高価になりすぎてデスクトップ装置
には不向きである。大電力を消費するサーマルプリンタ
も、可搬性を考慮しなければならない装置には不適であ
る。
プリンタは、通常は高価になりすぎてデスクトップ装置
には不向きである。大電力を消費するサーマルプリンタ
も、可搬性を考慮しなければならない装置には不適であ
る。
【0016】非共振作用モードで生じる大きな反力が不
要な振動を発生することは、検流計を剛性を持ちしっか
りした支持体上に取り付けることによって防止できる。
しかし、大型支持構造体を組み込んだサーマルプリンタ
は、可搬性が重要ポイントである装置には適用できな
い。
要な振動を発生することは、検流計を剛性を持ちしっか
りした支持体上に取り付けることによって防止できる。
しかし、大型支持構造体を組み込んだサーマルプリンタ
は、可搬性が重要ポイントである装置には適用できな
い。
【0017】過去、非共振モードでビーム走査検流計を
作動させるのを目的として、必要な力を制御するために
種々の努力がなされてきた。これらの努力は、ミラーの
回転軸を可能な限りミラーの反射面に近づけるという方
向で行われてきた。この距離が小さければ、振動ミラー
の慣性モーメントはそれに応じて低く保持され、ミラー
を駆動するために必要な力も従って比較的低く保持され
る。従来技術における非共振型検流計の構造は、ミラー
の回転軸を支持するためにベアリングを使用し、これに
よってミラーにかかる慣性モーメントを低く維持すると
いうものであった。
作動させるのを目的として、必要な力を制御するために
種々の努力がなされてきた。これらの努力は、ミラーの
回転軸を可能な限りミラーの反射面に近づけるという方
向で行われてきた。この距離が小さければ、振動ミラー
の慣性モーメントはそれに応じて低く保持され、ミラー
を駆動するために必要な力も従って比較的低く保持され
る。従来技術における非共振型検流計の構造は、ミラー
の回転軸を支持するためにベアリングを使用し、これに
よってミラーにかかる慣性モーメントを低く維持すると
いうものであった。
【0018】交差軸偏位を低減させるという視点から、
たわみ部材またはバネ上に支持された検流計ミラーは、
ベアリング上に支持されたミラーよりも優れている。例
えば、米国特許第4,732,440号(発明者 Ga
dhok、1988年3月22日発行)を参照された
い。しかし、従来技術では、たわみ型ミラー支持システ
ムをどのようにして非共振モードで作動する検流計へ適
用するのかについては開示されていない。
たわみ部材またはバネ上に支持された検流計ミラーは、
ベアリング上に支持されたミラーよりも優れている。例
えば、米国特許第4,732,440号(発明者 Ga
dhok、1988年3月22日発行)を参照された
い。しかし、従来技術では、たわみ型ミラー支持システ
ムをどのようにして非共振モードで作動する検流計へ適
用するのかについては開示されていない。
【0019】従来の非共振型検流計の他の欠点は、作用
の走査やり直しモードを達成するための技術である。即
ち、非共振検流計が印刷作用のために使用されるとき、
光ビームの走査は、通常はミラー走行路の一方向に限ら
れている。換言すれば、光ビームがオンされると、ミラ
ーは第1方向へ偏位することとなる。ミラーが開始位置
へ戻っている間は光ビームはオフされる。この技術は、
作用の走査フライバックまたは走査やり直しモードとし
て知られている。ミラー偏位サイクルのフライバックま
たはやり直しを行っている間の時間の浪費を回避するた
め、ミラーは、通常走査時間よりも遥かに短い時間期間
中にその開始位置へ戻る。
の走査やり直しモードを達成するための技術である。即
ち、非共振検流計が印刷作用のために使用されるとき、
光ビームの走査は、通常はミラー走行路の一方向に限ら
れている。換言すれば、光ビームがオンされると、ミラ
ーは第1方向へ偏位することとなる。ミラーが開始位置
へ戻っている間は光ビームはオフされる。この技術は、
作用の走査フライバックまたは走査やり直しモードとし
て知られている。ミラー偏位サイクルのフライバックま
たはやり直しを行っている間の時間の浪費を回避するた
め、ミラーは、通常走査時間よりも遥かに短い時間期間
中にその開始位置へ戻る。
【0020】多くの従来技術では、検流計には、走査完
了後速やかにミラーをその開始位置へ戻すためのバネが
設けられている。これらのバネは、ミラーの支持は行わ
ない。それらは、ミラーを開始位置へ戻すためにのみ使
用される。通常、ミラーは超高速で帰還位置へ駆動され
る。このような高速で駆動されたミラーは、スタート位
置へ戻った時の衝撃でミラー及びバネに振動を与える。
ミラーが帰還位置へ達した直後に走査サイクルが始まる
と、これらの振動はビーム走査の安定性に悪影響を及ぼ
す。適度な解像度の印刷時には、これらの振動異常は、
微小であり、像品質にはさしたる影響はない。しかし、
2000ドット/インチまたはそれ以上の解像度を必要
とするような印刷時には、そうした振動は許容できない
ものとなる。
了後速やかにミラーをその開始位置へ戻すためのバネが
設けられている。これらのバネは、ミラーの支持は行わ
ない。それらは、ミラーを開始位置へ戻すためにのみ使
用される。通常、ミラーは超高速で帰還位置へ駆動され
る。このような高速で駆動されたミラーは、スタート位
置へ戻った時の衝撃でミラー及びバネに振動を与える。
ミラーが帰還位置へ達した直後に走査サイクルが始まる
と、これらの振動はビーム走査の安定性に悪影響を及ぼ
す。適度な解像度の印刷時には、これらの振動異常は、
微小であり、像品質にはさしたる影響はない。しかし、
2000ドット/インチまたはそれ以上の解像度を必要
とするような印刷時には、そうした振動は許容できない
ものとなる。
【0021】従って、望ましくないベアリング支持シス
テムを用いず、異常振動も回避できる比較的低ピーク電
力要求で作動する高解像度印刷作用に使用可能なビーム
走査検流計を提供することが望まれていた。
テムを用いず、異常振動も回避できる比較的低ピーク電
力要求で作動する高解像度印刷作用に使用可能なビーム
走査検流計を提供することが望まれていた。
【0022】
【課題を解決するための手段及び作用】本発明は、ミラ
ーを非共振モードで振動させるビーム走査検流計に関す
る。ミラーが非共振モードで振動するので、検流計の可
動部の慣性モーメントを可能な限り小さくすることが重
要である。これらの構造特徴は、特に傾斜エッジを持つ
ように形成されたミラーを用いた検流計において達成さ
れる。これによって慣性モーメントが低くなり、またミ
ラーを支持する回転磁石を包囲する駆動電流コイルに密
接して振動することができる。
ーを非共振モードで振動させるビーム走査検流計に関す
る。ミラーが非共振モードで振動するので、検流計の可
動部の慣性モーメントを可能な限り小さくすることが重
要である。これらの構造特徴は、特に傾斜エッジを持つ
ように形成されたミラーを用いた検流計において達成さ
れる。これによって慣性モーメントが低くなり、またミ
ラーを支持する回転磁石を包囲する駆動電流コイルに密
接して振動することができる。
【0023】一面から見れば、本発明は、入射光のビー
ムを走査するための振動検流計ミラーに関する。このミ
ラーは、振動軸と平行な方向に伸びた長さと、振動軸に
直交する方向に伸びた幅と、を有する反射面と、該反射
面に対向した背面と、を含む。背面は、ミラーの幅方向
端部においてミラーの厚さを減少させるような方向に傾
斜しており、これによってミラーの慣性モーメントが低
減される。
ムを走査するための振動検流計ミラーに関する。このミ
ラーは、振動軸と平行な方向に伸びた長さと、振動軸に
直交する方向に伸びた幅と、を有する反射面と、該反射
面に対向した背面と、を含む。背面は、ミラーの幅方向
端部においてミラーの厚さを減少させるような方向に傾
斜しており、これによってミラーの慣性モーメントが低
減される。
【0024】他の面からみれば、本発明はビーム走査検
流計に関する。検流計は、反射面及び該反射面に対向し
た背面を有するミラーと、該ミラーを支持する振動磁石
と、磁石を包囲するコイルと、を含む。ミラーはその背
面側に形成された少なくとも一の傾斜エッジを有し、こ
れがコイルと干渉することなくミラーの振動に対するク
リアランスを与える。
流計に関する。検流計は、反射面及び該反射面に対向し
た背面を有するミラーと、該ミラーを支持する振動磁石
と、磁石を包囲するコイルと、を含む。ミラーはその背
面側に形成された少なくとも一の傾斜エッジを有し、こ
れがコイルと干渉することなくミラーの振動に対するク
リアランスを与える。
【0025】更に他の面から見ると、本発明はビーム走
査検流計に関する。この検流計は、幅及び長さを持つ反
射面を有するミラーを含む。このミラーは、反射面に対
向した背面を有する。磁石が振動軸を中心に回転すると
共に、ミラーを支持するよう取り付けられる。この磁石
は、ミラーの背面に接続されている。磁石は、ミラーの
幅よりもかなり小さい厚さをもつ。コイルが磁石を包囲
している。コイルは、磁石とほぼ同じ大きさの開口部を
有する。磁石の振動軸は、コイルの開口内にある。ミラ
ーはコイルと干渉することなくミラーの振動に対するク
リアランスを与える少なくとも一の傾斜面がその背面側
に形成されている。
査検流計に関する。この検流計は、幅及び長さを持つ反
射面を有するミラーを含む。このミラーは、反射面に対
向した背面を有する。磁石が振動軸を中心に回転すると
共に、ミラーを支持するよう取り付けられる。この磁石
は、ミラーの背面に接続されている。磁石は、ミラーの
幅よりもかなり小さい厚さをもつ。コイルが磁石を包囲
している。コイルは、磁石とほぼ同じ大きさの開口部を
有する。磁石の振動軸は、コイルの開口内にある。ミラ
ーはコイルと干渉することなくミラーの振動に対するク
リアランスを与える少なくとも一の傾斜面がその背面側
に形成されている。
【0026】更に他の面から見れば、本発明は、ビーム
走査検流計に関する。検流計は、回転可能に支持された
磁石に固定されたミラーを有する。このミラーは、最大
厚さをもつ。磁石は、力中心を有する駆動コイルにより
包囲されている。ミラーは、コイル力の中心とほぼ一致
した振動軸を有する。ミラーの背面は、コイルからミラ
ーの最大厚よりも小さい距離を隔てて配置されている。
ミラーは、その背面に形成された少なくとも一の傾斜エ
ッジを有し、これによってコイルと干渉することなくミ
ラーの振動に対するクリアランスが与えられることとな
る。
走査検流計に関する。検流計は、回転可能に支持された
磁石に固定されたミラーを有する。このミラーは、最大
厚さをもつ。磁石は、力中心を有する駆動コイルにより
包囲されている。ミラーは、コイル力の中心とほぼ一致
した振動軸を有する。ミラーの背面は、コイルからミラ
ーの最大厚よりも小さい距離を隔てて配置されている。
ミラーは、その背面に形成された少なくとも一の傾斜エ
ッジを有し、これによってコイルと干渉することなくミ
ラーの振動に対するクリアランスが与えられることとな
る。
【0027】更に他の面から見ると、本発明は、ビーム
走査検流計に関する。検流計は、幅及び長さを持つ反射
面を有するミラーを含む。磁石は、振動軸を中心として
回転すると共に、ミラーを支持するように取り付けられ
ている。磁石は、ミラーの幅よりもかなり小さい厚さを
もち、また磁石はミラーの長さよりもかなり大きい長さ
をもつ。
走査検流計に関する。検流計は、幅及び長さを持つ反射
面を有するミラーを含む。磁石は、振動軸を中心として
回転すると共に、ミラーを支持するように取り付けられ
ている。磁石は、ミラーの幅よりもかなり小さい厚さを
もち、また磁石はミラーの長さよりもかなり大きい長さ
をもつ。
【0028】更に他の面からみれば、本発明はビーム走
査検流計に関する。検流計は、長さをもつ反射面を有す
るミラーを含む。磁石は、振動軸を中心として回転する
と共に、ミラーを支持するように取り付けられる。磁石
は、2組の交差バネにより支持される。磁石は、ミラー
の長さよりもかなり大きい長さを持つ。2組のバネは、
ミラーの長さよりも大きな距離を互いに変位した点で磁
石に固定されている。
査検流計に関する。検流計は、長さをもつ反射面を有す
るミラーを含む。磁石は、振動軸を中心として回転する
と共に、ミラーを支持するように取り付けられる。磁石
は、2組の交差バネにより支持される。磁石は、ミラー
の長さよりもかなり大きい長さを持つ。2組のバネは、
ミラーの長さよりも大きな距離を互いに変位した点で磁
石に固定されている。
【0029】本発明は、添付図面及び各クレームを考慮
した以下の説明より一層よく理解されよう。
した以下の説明より一層よく理解されよう。
【0030】
【実施例】図1において、本発明が有用性を持つサーマ
ルプリンタ40を模式的に示す。サーマルプリンタ40
は、変調レーザユニット42、ビーム走査検流計44、
走査レンズ46、及びそれに対して像が形成される対象
物50を支持する支持体48を含む。像は、ビーム走査
検流計44によって対象物50に対してレーザ発生光の
収束及び変調光が走査された時に発生する。本発明が有
用なサーマルプリンタの例は、米国特許出願番号第45
7,593号に開示されている。この引例は、上記の関
連出願の欄に記載されている。
ルプリンタ40を模式的に示す。サーマルプリンタ40
は、変調レーザユニット42、ビーム走査検流計44、
走査レンズ46、及びそれに対して像が形成される対象
物50を支持する支持体48を含む。像は、ビーム走査
検流計44によって対象物50に対してレーザ発生光の
収束及び変調光が走査された時に発生する。本発明が有
用なサーマルプリンタの例は、米国特許出願番号第45
7,593号に開示されている。この引例は、上記の関
連出願の欄に記載されている。
【0031】サーマルプリンタ40は、コンピュータに
より発生された像を生成するため用いる35mmフォー
マット、即ち約1X1.5インチのスライドとしてコン
ピュータ発生像を生成する。スライドは、スライドより
も数百倍大きいスクリーン上に光投写像を発生させるた
めに使用される。この結果、スライド上に形成された像
は、殆ど写真的画質即ち4000ピクセルまたはドット
/インチの分解能となる。
より発生された像を生成するため用いる35mmフォー
マット、即ち約1X1.5インチのスライドとしてコン
ピュータ発生像を生成する。スライドは、スライドより
も数百倍大きいスクリーン上に光投写像を発生させるた
めに使用される。この結果、スライド上に形成された像
は、殆ど写真的画質即ち4000ピクセルまたはドット
/インチの分解能となる。
【0032】4000ドット/インチの所望解像度で対
象物50上に像を生成するため、走査ビーム52の対象
物50に対する極めて微細な速度制御を維持する必要が
ある。ビーム52の速度制御は、ビーム走査検流計44
の作用を制御することによって達成される。
象物50上に像を生成するため、走査ビーム52の対象
物50に対する極めて微細な速度制御を維持する必要が
ある。ビーム52の速度制御は、ビーム走査検流計44
の作用を制御することによって達成される。
【0033】図2に、本発明に係るビーム走査検流計4
4(以下「検流計」という)の好適な実施例の分解斜視
図を示す。検流計44は、ミラー60、駆動磁石62、
駆動コイル64、ケース66、バネ支持体68、第1及
び第2の本質的に同じバネ70、第1及び第2の本質的
に同じ中心ピン74、磁石挿入体78、センサ磁石8
2、センサ磁石支持体84、コイルレール86、ホール
効果センサ90、センサ支持体92、ゼロスラッグ9
4、ゼロスラッグホルダ96及び補償コイルを含む。
4(以下「検流計」という)の好適な実施例の分解斜視
図を示す。検流計44は、ミラー60、駆動磁石62、
駆動コイル64、ケース66、バネ支持体68、第1及
び第2の本質的に同じバネ70、第1及び第2の本質的
に同じ中心ピン74、磁石挿入体78、センサ磁石8
2、センサ磁石支持体84、コイルレール86、ホール
効果センサ90、センサ支持体92、ゼロスラッグ9
4、ゼロスラッグホルダ96及び補償コイルを含む。
【0034】図3には組み立てられた状態の図2の検流
計44を示す。ミラー60は駆動磁石62へ接続されて
いる。駆動磁石はバネ支持体68(図3には示されてい
ないが、図2及び図4には現れている)へ接続されたバ
ネ70に接続されており、中心ピン74にてその位置に
保持されている。バネ支持体68は、機械ネジ(不図
示)によおってケース66へ接続されている。磁石挿入
体78はバネ70及び駆動磁石62へに接続されてい
る。駆動コイル64は、ケース66へ接続されたコイル
支持レール86へ接続されている。駆動コイル64は、
組み立てられた検流計44内の駆動磁石62を取り囲ん
でいる。検流計44の好適な実施例において、ミラー6
0、バネ70、磁石挿入体78、駆動コイル64及びコ
イル支持レール86はそれぞれの支持体へエポキシ接着
剤にて固定されている。
計44を示す。ミラー60は駆動磁石62へ接続されて
いる。駆動磁石はバネ支持体68(図3には示されてい
ないが、図2及び図4には現れている)へ接続されたバ
ネ70に接続されており、中心ピン74にてその位置に
保持されている。バネ支持体68は、機械ネジ(不図
示)によおってケース66へ接続されている。磁石挿入
体78はバネ70及び駆動磁石62へに接続されてい
る。駆動コイル64は、ケース66へ接続されたコイル
支持レール86へ接続されている。駆動コイル64は、
組み立てられた検流計44内の駆動磁石62を取り囲ん
でいる。検流計44の好適な実施例において、ミラー6
0、バネ70、磁石挿入体78、駆動コイル64及びコ
イル支持レール86はそれぞれの支持体へエポキシ接着
剤にて固定されている。
【0035】ホール効果センサ90及びゼロスラッグホ
ルダ96がセンサ支持体92へ接続されている。センサ
支持体92はケース66へ接続されている。センサ磁石
82は、駆動磁石62へ接続されたセンサ磁石支持体8
4へ接続されている。ゼロスラッグ94(図3では示さ
れていないが、図2及び図10には示されている)は、
ゼロスラッグホルダ96へ移動可能に接続されている。
検流計44の好適な実施例において、ホール効果センサ
90、ゼロスラッグホルダ96、センサ支持体92及び
センサ磁石82はそれぞれの支持体へエポキシ接着剤に
て固定されている。好適な実施例において、ホール効果
センサ90はSprague Corp.から販売され
ているモデルUGN3503T/Uホール効果磁石セン
サである。
ルダ96がセンサ支持体92へ接続されている。センサ
支持体92はケース66へ接続されている。センサ磁石
82は、駆動磁石62へ接続されたセンサ磁石支持体8
4へ接続されている。ゼロスラッグ94(図3では示さ
れていないが、図2及び図10には示されている)は、
ゼロスラッグホルダ96へ移動可能に接続されている。
検流計44の好適な実施例において、ホール効果センサ
90、ゼロスラッグホルダ96、センサ支持体92及び
センサ磁石82はそれぞれの支持体へエポキシ接着剤に
て固定されている。好適な実施例において、ホール効果
センサ90はSprague Corp.から販売され
ているモデルUGN3503T/Uホール効果磁石セン
サである。
【0036】次にその作用について説明する。ミラー6
0は、駆動コイル64が励磁されると角方向に振動す
る。駆動コイル64内で電流により発生された電界は、
駆動磁石62上に回転力を発生する。駆動磁石62が回
転すると、バネ70は駆動磁石62に対して復元力を与
える。駆動コイル64内の電流方向が逆転すると、駆動
磁石62は駆動コイル64内に発生した磁界及びバネ7
0の復元力によって逆回転方向へ駆動される。駆動コイ
ル64にはコイル駆動回路(図13及び14に示した)
からの変動する電流が供給され、駆動磁石62及び固着
ミラー60内で非共振振動作用を起こす。コイル駆動回
路は、本願と同時に出願され、上記関連出願内に開示さ
れ、その内容が本願に盛り込まれた米国特許出願(発明
の名称「高精度で電子−機械装置を高速駆動する改良さ
れた方法及び回路」に開示され権利請求されている。駆
動磁石62及びミラーの質量と形状の組み合わせ、そし
てバネ70の剛性により、振動の予想できる自然周波数
を持つ構造が生成される。検流計44の好適な実施例に
おいて、検流計は共振モードでは作動しないが、この自
然周波数が有利に使用される。この有利な使用の詳細は
以下に記載する。
0は、駆動コイル64が励磁されると角方向に振動す
る。駆動コイル64内で電流により発生された電界は、
駆動磁石62上に回転力を発生する。駆動磁石62が回
転すると、バネ70は駆動磁石62に対して復元力を与
える。駆動コイル64内の電流方向が逆転すると、駆動
磁石62は駆動コイル64内に発生した磁界及びバネ7
0の復元力によって逆回転方向へ駆動される。駆動コイ
ル64にはコイル駆動回路(図13及び14に示した)
からの変動する電流が供給され、駆動磁石62及び固着
ミラー60内で非共振振動作用を起こす。コイル駆動回
路は、本願と同時に出願され、上記関連出願内に開示さ
れ、その内容が本願に盛り込まれた米国特許出願(発明
の名称「高精度で電子−機械装置を高速駆動する改良さ
れた方法及び回路」に開示され権利請求されている。駆
動磁石62及びミラーの質量と形状の組み合わせ、そし
てバネ70の剛性により、振動の予想できる自然周波数
を持つ構造が生成される。検流計44の好適な実施例に
おいて、検流計は共振モードでは作動しないが、この自
然周波数が有利に使用される。この有利な使用の詳細は
以下に記載する。
【0037】検流計44は、ミラー60と駆動磁石62
とが精密な制御にて移動できるように構成されている。
この望ましい特徴に貢献する設計的特徴が幾つかある。
まず、ミラー60は最小の慣性モーメントを持つように
形成されている。第2に、ミラー60の回転軸は、ミラ
ーの反射面に極めて近い。第3に、駆動磁石62とミラ
ーとの合成慣性モーメントは、磁石62が発生できる駆
動力に比して比較的低い。第4に、ミラー60は、その
角度振動中に交差軸変位は実質上生じない。第5に、ミ
ラー60の後退は、ミラー60、駆動磁石62及びバネ
70の組立体が自然周波数で駆動するときに、ミラーが
トラバースする速度とほぼ同じ速度で実行される。
とが精密な制御にて移動できるように構成されている。
この望ましい特徴に貢献する設計的特徴が幾つかある。
まず、ミラー60は最小の慣性モーメントを持つように
形成されている。第2に、ミラー60の回転軸は、ミラ
ーの反射面に極めて近い。第3に、駆動磁石62とミラ
ーとの合成慣性モーメントは、磁石62が発生できる駆
動力に比して比較的低い。第4に、ミラー60は、その
角度振動中に交差軸変位は実質上生じない。第5に、ミ
ラー60の後退は、ミラー60、駆動磁石62及びバネ
70の組立体が自然周波数で駆動するときに、ミラーが
トラバースする速度とほぼ同じ速度で実行される。
【0038】図2及び3において、検流計44の全体サ
イズに対してミラー60が大きく構成されていることが
理解される。これは、図1のサーマルプリンタ40の特
性によるものである。走査レンズ46は、入力ビームの
大きさに反比例した集束出力点(焦点のあったスポッ
ト)を生成する。5ミクロン前後の極めて小さな集束点
を達成するため、レーザユニット42からの入力ビーム
は、半インチまたはそれより大きな大きさを持つもので
なければならない。加えて、レーザユニット42からの
入力ビームは、所定角度でミラー60に当たる。これに
より、入力ビームがミラー60の反射面上に楕円形を形
成する(take on)こととなる。入力ビーム全体
を完全に反射するため、ミラーは反射面上へのビームに
より形成される楕円の極限リミットまで伸長するに十分
な幅をもつものでなければならない。サーマルプリンタ
40のこれら全ての特徴は、極めて幅の広いミラーが要
求される状態を作り出すこととなる。皮肉なことに、ミ
ラー60の最大寸法は、ミラー60の回転軸に対して直
交するように指向している。これにより、ミラー60の
慣性モーメントの悪影響が最大化されるような状況が生
じることとなる。この結果、サーマルプリンタ40の光
学的要求に支配された制限に合致した、合理的に可能な
限り慣性モーメントを小さくしたミラー60を製造する
ことが重要となる。
イズに対してミラー60が大きく構成されていることが
理解される。これは、図1のサーマルプリンタ40の特
性によるものである。走査レンズ46は、入力ビームの
大きさに反比例した集束出力点(焦点のあったスポッ
ト)を生成する。5ミクロン前後の極めて小さな集束点
を達成するため、レーザユニット42からの入力ビーム
は、半インチまたはそれより大きな大きさを持つもので
なければならない。加えて、レーザユニット42からの
入力ビームは、所定角度でミラー60に当たる。これに
より、入力ビームがミラー60の反射面上に楕円形を形
成する(take on)こととなる。入力ビーム全体
を完全に反射するため、ミラーは反射面上へのビームに
より形成される楕円の極限リミットまで伸長するに十分
な幅をもつものでなければならない。サーマルプリンタ
40のこれら全ての特徴は、極めて幅の広いミラーが要
求される状態を作り出すこととなる。皮肉なことに、ミ
ラー60の最大寸法は、ミラー60の回転軸に対して直
交するように指向している。これにより、ミラー60の
慣性モーメントの悪影響が最大化されるような状況が生
じることとなる。この結果、サーマルプリンタ40の光
学的要求に支配された制限に合致した、合理的に可能な
限り慣性モーメントを小さくしたミラー60を製造する
ことが重要となる。
【0039】図4は、図3の検流計44を破線4−4で
切断した部分断面図を示すものである。バネ70は、駆
動磁石62及びバネ支持体68と係合した状態に示され
ており、バネ70の非係合部(自由長)Lfが残されて
いる。バネ70は、中心ピン74によってバネ支持体6
8内に配置された状態に保持されている。各中心ピン7
4は、その自由長Lfを不用意に短縮させることなくバ
ネ70を変位させるように平坦部が配置されるように組
み立てられている。第1及び第2自由端130及び13
2は、それぞれ駆動磁石62内に形成されたキャビテイ
(段)138のスライド134及び136に固定されて
いる。この構成によって駆動磁石62は交差リーフバネ
及びフレクシュアの2組によって支持されることとな
り、各バネ70は各セットの内の位置を形成する。
切断した部分断面図を示すものである。バネ70は、駆
動磁石62及びバネ支持体68と係合した状態に示され
ており、バネ70の非係合部(自由長)Lfが残されて
いる。バネ70は、中心ピン74によってバネ支持体6
8内に配置された状態に保持されている。各中心ピン7
4は、その自由長Lfを不用意に短縮させることなくバ
ネ70を変位させるように平坦部が配置されるように組
み立てられている。第1及び第2自由端130及び13
2は、それぞれ駆動磁石62内に形成されたキャビテイ
(段)138のスライド134及び136に固定されて
いる。この構成によって駆動磁石62は交差リーフバネ
及びフレクシュアの2組によって支持されることとな
り、各バネ70は各セットの内の位置を形成する。
【0040】ノッチ137の側134及び136は、相
互の対向方向が所定角度、検流計44の好適な実施例で
は90度となるように設定されている。自由端130及
び132が側134及び136に対して配置されると、
バネ70は、自由端130と132との間に定められた
交差点が生じるように形成されることとなる。この交差
点がミラー60に対する回転軸となる。
互の対向方向が所定角度、検流計44の好適な実施例で
は90度となるように設定されている。自由端130及
び132が側134及び136に対して配置されると、
バネ70は、自由端130と132との間に定められた
交差点が生じるように形成されることとなる。この交差
点がミラー60に対する回転軸となる。
【0041】キャビテイ138は、駆動磁石62内に形
成される。この駆動磁石62は、バネ支持体68のバネ
保持部140を実質上包囲するように構成される。この
構成により、回転軸142は駆動磁石62内に配置され
ることとなる。実際上、回転軸142は駆動磁石62の
質量の中心軸及び駆動コイル64の力の中心とほぼ合致
する。換言すれば、駆動磁石62は、回転軸142を中
心として回転したときに慣性モーメントを最小限にする
ように支持されている。
成される。この駆動磁石62は、バネ支持体68のバネ
保持部140を実質上包囲するように構成される。この
構成により、回転軸142は駆動磁石62内に配置され
ることとなる。実際上、回転軸142は駆動磁石62の
質量の中心軸及び駆動コイル64の力の中心とほぼ合致
する。換言すれば、駆動磁石62は、回転軸142を中
心として回転したときに慣性モーメントを最小限にする
ように支持されている。
【0042】ミラー60の反射面158は、回転軸14
2から距離dだけ変位されている。ミラー60に対する
支持装置は、この距離dを最小限に抑制する。この距離
dは、ミラー60の厚さTmiに等しく、また駆動磁石
62の厚さDのわずか半分である。これが、ミラー6
0、磁気挿入体78及び駆動磁石62の組立体の回転半
径Rgを最小限とするために望ましい効果を持つ。この
組立体は、以下ミラー部材と呼び、図4に全体厚Tme
をもつものとして示されている。ミラー部材の慣性モー
メントは、回転半径Rgの平方(二乗)で変化する。従
って、回転半径Rgを最小限にすることは、ミラー部材
の回転モーメントを減少させる効果をもつこととなる。
2から距離dだけ変位されている。ミラー60に対する
支持装置は、この距離dを最小限に抑制する。この距離
dは、ミラー60の厚さTmiに等しく、また駆動磁石
62の厚さDのわずか半分である。これが、ミラー6
0、磁気挿入体78及び駆動磁石62の組立体の回転半
径Rgを最小限とするために望ましい効果を持つ。この
組立体は、以下ミラー部材と呼び、図4に全体厚Tme
をもつものとして示されている。ミラー部材の慣性モー
メントは、回転半径Rgの平方(二乗)で変化する。従
って、回転半径Rgを最小限にすることは、ミラー部材
の回転モーメントを減少させる効果をもつこととなる。
【0043】図5に、ミラー60及びミラー部材の慣性
モーメントを低減するミラー60の特徴を示すために、
ミラー60が他の作用位置へ移動された状態の図4の検
流計を示す。ミラー60の背側161は、駆動コイル6
4と干渉することなく、付加変位を生じさせるように解
放(傾斜)されている。この解放(傾斜)により、ミラ
ー部材の慣性モーメントが効果的に低減できることとな
る。ミラー60は、実質的な変位を通じて移動し、ミラ
ーの回転半径Rgは所望の小ささに保持される。検流計
44の好適な実施例において、ミラー60は図4の中立
位置の何れかの側へ7.8度変位している。小さい回転
半径Rgにより、ミラー部材に対する慣性モーメントは
比較的低く保持されることとなる。更に、ミラー60の
背面161の傾斜は、その外側端部で質量の低減をもた
らす。この質量低下もまた、ミラー部材の慣性モーメン
ト減少に貢献することとなる。
モーメントを低減するミラー60の特徴を示すために、
ミラー60が他の作用位置へ移動された状態の図4の検
流計を示す。ミラー60の背側161は、駆動コイル6
4と干渉することなく、付加変位を生じさせるように解
放(傾斜)されている。この解放(傾斜)により、ミラ
ー部材の慣性モーメントが効果的に低減できることとな
る。ミラー60は、実質的な変位を通じて移動し、ミラ
ーの回転半径Rgは所望の小ささに保持される。検流計
44の好適な実施例において、ミラー60は図4の中立
位置の何れかの側へ7.8度変位している。小さい回転
半径Rgにより、ミラー部材に対する慣性モーメントは
比較的低く保持されることとなる。更に、ミラー60の
背面161の傾斜は、その外側端部で質量の低減をもた
らす。この質量低下もまた、ミラー部材の慣性モーメン
ト減少に貢献することとなる。
【0044】図3には、ミラー部材の慣性モーメント低
減に寄与するミラー60の更に他の特徴が示されてい
る。ミラー60の反射面は、楕円計をシミューレートす
るように形成されている。図1のレーザユニット42に
より生成されるビームは円形であるが、ビームがミラー
60へ入射したときにはその反射が楕円形となる。これ
は、ミラー60がビーム軸に対して鋭角状に指向されて
いることによる。ビームからの全エネルギーを確実に転
送するため、ミラー60は最小幅Wmi(即ちその回転
軸と直交した寸法)及び最小長さLmi(即ち、その回
転軸に沿った寸法)を持つ。最小長さは、図1のレーザ
ユニット42及びミラー60に対するビームの入射角に
よって生成されたレーザビームの大きさにより支配され
る。図1のサーマルプリンタ40に使用されるミラーで
は、幅Wmiは長さLmiよりも遥かに大きい。反射面
のコーナをトリミングにより除去(trimming
away)することにより、ミラー60の質量と慣性モ
ーメントが大幅に低減される。
減に寄与するミラー60の更に他の特徴が示されてい
る。ミラー60の反射面は、楕円計をシミューレートす
るように形成されている。図1のレーザユニット42に
より生成されるビームは円形であるが、ビームがミラー
60へ入射したときにはその反射が楕円形となる。これ
は、ミラー60がビーム軸に対して鋭角状に指向されて
いることによる。ビームからの全エネルギーを確実に転
送するため、ミラー60は最小幅Wmi(即ちその回転
軸と直交した寸法)及び最小長さLmi(即ち、その回
転軸に沿った寸法)を持つ。最小長さは、図1のレーザ
ユニット42及びミラー60に対するビームの入射角に
よって生成されたレーザビームの大きさにより支配され
る。図1のサーマルプリンタ40に使用されるミラーで
は、幅Wmiは長さLmiよりも遥かに大きい。反射面
のコーナをトリミングにより除去(trimming
away)することにより、ミラー60の質量と慣性モ
ーメントが大幅に低減される。
【0045】図2において、所望の特性に寄与する検流
計44の他の特徴が示されている。駆動磁石62は比較
的長く且つ狭い構成であり、その全体形状はほぼ円柱状
である。駆動磁石がこのような形態であるので、トルク
−慣性比が大きくなり、検流計44の効率的な全体設計
に貢献している。
計44の他の特徴が示されている。駆動磁石62は比較
的長く且つ狭い構成であり、その全体形状はほぼ円柱状
である。駆動磁石がこのような形態であるので、トルク
−慣性比が大きくなり、検流計44の効率的な全体設計
に貢献している。
【0046】駆動コイル64中の電流によって駆動磁石
上に生じたトルクは、駆動磁石62の長さに比例してい
る。回転構造の慣性モーメントは、その回転軸方向の構
造寸法の関数として直線的に増大する。すなわち、回転
軸方向の寸法に比例する。このような構造の慣性モーメ
ントは、その回転軸に直交する寸法の3乗で増大してゆ
く。
上に生じたトルクは、駆動磁石62の長さに比例してい
る。回転構造の慣性モーメントは、その回転軸方向の構
造寸法の関数として直線的に増大する。すなわち、回転
軸方向の寸法に比例する。このような構造の慣性モーメ
ントは、その回転軸に直交する寸法の3乗で増大してゆ
く。
【0047】図1のサーマルプリンタ40の作用におい
て、ミラー部材の慣性モーメントを低く(即ち、高いト
ルク−慣性比)保持しつつ、ミラー部材(即ちミラー6
0、駆動磁石62及び磁気挿入体78)に対して高トル
クを生成することが望ましい。レーザユニット42によ
って制限されるミラー60の寸法を最小限とすることに
より、所望比は駆動磁石62の長さ(即ち、回転軸方向
の寸法)を増大することによって大きくなる。本発明の
好適な実施例において、駆動磁石62はミラー60の長
さLmiの3倍の長さLmaを持つ。ミラー部材に対す
る慣性モーメントを所望の低い値に保持するため、駆動
磁石62は、その長さLmaのわずか約1/4の厚さD
をもつ。
て、ミラー部材の慣性モーメントを低く(即ち、高いト
ルク−慣性比)保持しつつ、ミラー部材(即ちミラー6
0、駆動磁石62及び磁気挿入体78)に対して高トル
クを生成することが望ましい。レーザユニット42によ
って制限されるミラー60の寸法を最小限とすることに
より、所望比は駆動磁石62の長さ(即ち、回転軸方向
の寸法)を増大することによって大きくなる。本発明の
好適な実施例において、駆動磁石62はミラー60の長
さLmiの3倍の長さLmaを持つ。ミラー部材に対す
る慣性モーメントを所望の低い値に保持するため、駆動
磁石62は、その長さLmaのわずか約1/4の厚さD
をもつ。
【0048】高いトルク−慣性比を得るためには駆動磁
石62の長さを比較的大きくすることが望ましいわけで
あるが、駆動磁石62をどの程度の長さにするかという
点に現実的な制限が生じる場合がある。検流計44は、
低電圧で作動する必要のある装置で使用される場合が多
い。所定の電圧に対して、駆動コイル64の長さには制
限がある。駆動コイル64がより長い駆動磁石62を収
納するためにより大きな長さに設定されると、駆動コイ
ル64中に電流を流すために必要とされる電圧が増大す
る。これにより、検流計44に対する所定の作動電圧に
対し、駆動磁石62の最大長さLmaが存在する。
石62の長さを比較的大きくすることが望ましいわけで
あるが、駆動磁石62をどの程度の長さにするかという
点に現実的な制限が生じる場合がある。検流計44は、
低電圧で作動する必要のある装置で使用される場合が多
い。所定の電圧に対して、駆動コイル64の長さには制
限がある。駆動コイル64がより長い駆動磁石62を収
納するためにより大きな長さに設定されると、駆動コイ
ル64中に電流を流すために必要とされる電圧が増大す
る。これにより、検流計44に対する所定の作動電圧に
対し、駆動磁石62の最大長さLmaが存在する。
【0049】前述したごとく、サーマルプリンタ40ま
たは他の特定装置に検流計44が使用されると、ミラー
60に特定サイズ要求が生じる。
たは他の特定装置に検流計44が使用されると、ミラー
60に特定サイズ要求が生じる。
【0050】このようにして、検流計44の多くの装置
に対して、駆動磁石62の最大長さLma及びミラー6
0に対する最小サイズ及び慣性が存在する。我々は、こ
れらの制限内で、駆動磁石62の厚さDを最適化するこ
とが有利でることを見いだした。
に対して、駆動磁石62の最大長さLma及びミラー6
0に対する最小サイズ及び慣性が存在する。我々は、こ
れらの制限内で、駆動磁石62の厚さDを最適化するこ
とが有利でることを見いだした。
【0051】この駆動磁石62の厚さDの最適化は、次
の解析を用いることにより行われる。ミラー部材のトル
クと慣性との比Qが次の式で与えられると考える: Q=ミラーのトルク/慣性 + 磁石の慣性; トルク=Kt×r2 (Ktは駆動磁石62の長さの関数
である定数、rは駆動磁石62の厚さDの1/2J); 磁石の慣性=Ki×r3 (Kiは、駆動磁石62の長さ
の関数である定数); ミラーの慣性=Im(ミラー60の関数である定数);
従って、Qは次のようになる: Q=Kt×r2 /Im+(Ki×r2 ) 特に、ミラー60及び駆動磁石62の長さのrが比較的
小さい時、Qに対する式は次のようになる:Q=〜Kt
×r2 /Im;この式において、Qはrの増大に伴って
大きくなる。
の解析を用いることにより行われる。ミラー部材のトル
クと慣性との比Qが次の式で与えられると考える: Q=ミラーのトルク/慣性 + 磁石の慣性; トルク=Kt×r2 (Ktは駆動磁石62の長さの関数
である定数、rは駆動磁石62の厚さDの1/2J); 磁石の慣性=Ki×r3 (Kiは、駆動磁石62の長さ
の関数である定数); ミラーの慣性=Im(ミラー60の関数である定数);
従って、Qは次のようになる: Q=Kt×r2 /Im+(Ki×r2 ) 特に、ミラー60及び駆動磁石62の長さのrが比較的
小さい時、Qに対する式は次のようになる:Q=〜Kt
×r2 /Im;この式において、Qはrの増大に伴って
大きくなる。
【0052】ミラー60及び駆動磁石62の長さの特定
の一の文脈中でrが比較的大きい時、Qに対する式は次
のようになる:Q=〜Kt/Ki×r;この式におい
て、Qはrの増大に伴って減少する。このように、ミラ
ーの慣性及び駆動磁石62の長さの任意の特定の組み合
わせに対して、rの値はQを最大値とするように選択す
ることができる。
の一の文脈中でrが比較的大きい時、Qに対する式は次
のようになる:Q=〜Kt/Ki×r;この式におい
て、Qはrの増大に伴って減少する。このように、ミラ
ーの慣性及び駆動磁石62の長さの任意の特定の組み合
わせに対して、rの値はQを最大値とするように選択す
ることができる。
【0053】図2もまた、ミラー60の交差軸変位の制
御に貢献する検流計44の特徴を示す。ミラー60は、
バネ70から成る広い間隔を開けて配置された複数の支
持部材により支持されている。各バネ70間の間隔は、
バネ70を駆動磁石62の対向端部に配置することによ
って増大する。本発明の好適な実施例において、各バネ
70間の間隔は、ミラー60の長さを越える。
御に貢献する検流計44の特徴を示す。ミラー60は、
バネ70から成る広い間隔を開けて配置された複数の支
持部材により支持されている。各バネ70間の間隔は、
バネ70を駆動磁石62の対向端部に配置することによ
って増大する。本発明の好適な実施例において、各バネ
70間の間隔は、ミラー60の長さを越える。
【0054】図4には、ミラー60の交差軸変位の減少
に貢献する検流計44の特徴が示されている。バネ70
は、駆動磁石62の厚さDの1/2未満である自由長L
fを有する。リーフバネは、その自由長が該自由長に対
して直交する寸法よりも短い時に交差軸変位に対する極
めて高い抵抗を有する。この概念は、検流計44の文脈
中でバネ70の好適な実施例を詳細に考慮することによ
ってよりよく理解されるだろう。
に貢献する検流計44の特徴が示されている。バネ70
は、駆動磁石62の厚さDの1/2未満である自由長L
fを有する。リーフバネは、その自由長が該自由長に対
して直交する寸法よりも短い時に交差軸変位に対する極
めて高い抵抗を有する。この概念は、検流計44の文脈
中でバネ70の好適な実施例を詳細に考慮することによ
ってよりよく理解されるだろう。
【0055】図6に、バネ70の斜視図を示す。バネ7
0は、図4の回転軸142に対して直交する方向へ確実
に変位できるが、回転軸142に対して平行方向への変
位に対しては極めて抵抗が大きい。バネ70は、数分の
1グラム(fractionof a gram)程度
の低い力を受けた時に所望の方向に変位する。回転軸1
42とは平行方向への変位には、4kgを越える力を加
えなければならない。この結果、バネ70は、交差変位
に対して極めて抵抗の大きなミラー部材の取付系を構成
することとなる。
0は、図4の回転軸142に対して直交する方向へ確実
に変位できるが、回転軸142に対して平行方向への変
位に対しては極めて抵抗が大きい。バネ70は、数分の
1グラム(fractionof a gram)程度
の低い力を受けた時に所望の方向に変位する。回転軸1
42とは平行方向への変位には、4kgを越える力を加
えなければならない。この結果、バネ70は、交差変位
に対して極めて抵抗の大きなミラー部材の取付系を構成
することとなる。
【0056】バネ70は、均一厚tを有する単一素材片
から成る。自由端130及び132には、それぞれ段1
50及び152が形成されている。段150及び152
は、素材の減少部を自由端130及び132にそれぞれ
残すように形成されている。素材の各減少部は、図6に
高さH及び長さLf(図4の自由長)をもつものとして
示されている。バネ70の好適な実施例において、バネ
素材は0.0015インチの厚さtを持つ冷間圧延(c
old rolled)ステンレススチールである。自
由長Lfは0.076インチであり、高さHは0.12
0インチである。図1のサーマルプリンタ40中に使用
されるタイプの作動可能な検流計は、tの寸法が約0.
007インチ、Lfの寸法が約0.25インチ、Hの寸
法が約0.36インチのものを用いて製造できる。これ
らの寸法制限内で形成されたバネ70は、冷間圧延ステ
ンレススチールの耐久力(endurance)限界内
で作動する。素材の耐久力限界内で作用するバネは、通
常欠陥なく殆ど無制限数のサイクルを作動する。
から成る。自由端130及び132には、それぞれ段1
50及び152が形成されている。段150及び152
は、素材の減少部を自由端130及び132にそれぞれ
残すように形成されている。素材の各減少部は、図6に
高さH及び長さLf(図4の自由長)をもつものとして
示されている。バネ70の好適な実施例において、バネ
素材は0.0015インチの厚さtを持つ冷間圧延(c
old rolled)ステンレススチールである。自
由長Lfは0.076インチであり、高さHは0.12
0インチである。図1のサーマルプリンタ40中に使用
されるタイプの作動可能な検流計は、tの寸法が約0.
007インチ、Lfの寸法が約0.25インチ、Hの寸
法が約0.36インチのものを用いて製造できる。これ
らの寸法制限内で形成されたバネ70は、冷間圧延ステ
ンレススチールの耐久力(endurance)限界内
で作動する。素材の耐久力限界内で作用するバネは、通
常欠陥なく殆ど無制限数のサイクルを作動する。
【0057】段150及び152のコーナーは、ステン
レススチールストリップの自由端130及び132互い
に交差して図6に示した形状を構成する時にクリアラン
スを与えるように切り込まれている。段150及び15
2のコーナーを切り取ることにより、バネ70はステン
レススチール素材の弾性限界を越える危険性なく形成さ
れ得る。この結果、バネ70を形成した後に再テンパー
(焼戻し)する必要はなくなる。従来技術の検流計バネ
は形成後の再テンパーが必要であった。
レススチールストリップの自由端130及び132互い
に交差して図6に示した形状を構成する時にクリアラン
スを与えるように切り込まれている。段150及び15
2のコーナーを切り取ることにより、バネ70はステン
レススチール素材の弾性限界を越える危険性なく形成さ
れ得る。この結果、バネ70を形成した後に再テンパー
(焼戻し)する必要はなくなる。従来技術の検流計バネ
は形成後の再テンパーが必要であった。
【0058】図2及び図3において、駆動磁石62は2
個のバネ70により支持されていることが理解される。
駆動磁石62の両端部には、図4に示した各段137の
内の一がそれぞれ形成されている。これら各段は、互い
に同じ所定の角度方向と位置決めにて形成された側部1
34及び136が形成されている。この結果、バネ70
がその各段へ配置されると、両バネ70の自由端130
及び132の交差点は互いに直接位置決めされる。もし
交差点が位置決めされないのであれば、駆動磁石62は
バネ70中に交差軸力を発生させる。こうした力は、バ
ネ70中に望ましくない振動を与える。この作用により
生じた振動は、「オイル作用(oilcan effect )」と呼
ばれることがある。通常、従来技術の交差撓みが検流計
ミラーを支持するために使用されると、この「オイル作
用」が問題となる。この作用を除去するためには、交差
した撓みの位置を合わせるという極めて大変な調整を必
要とする。これらの調整は、従来技術の検流計の組立後
に行われていた。本発明では、この交差点の所望の位置
合わせは、何等調整作用を必要とせずに行われる。駆動
磁石62及びバネ70の形状中における段の形状によっ
て、所望の位置合わせ及び「オイル作用」の除去が行わ
れるのである。
個のバネ70により支持されていることが理解される。
駆動磁石62の両端部には、図4に示した各段137の
内の一がそれぞれ形成されている。これら各段は、互い
に同じ所定の角度方向と位置決めにて形成された側部1
34及び136が形成されている。この結果、バネ70
がその各段へ配置されると、両バネ70の自由端130
及び132の交差点は互いに直接位置決めされる。もし
交差点が位置決めされないのであれば、駆動磁石62は
バネ70中に交差軸力を発生させる。こうした力は、バ
ネ70中に望ましくない振動を与える。この作用により
生じた振動は、「オイル作用(oilcan effect )」と呼
ばれることがある。通常、従来技術の交差撓みが検流計
ミラーを支持するために使用されると、この「オイル作
用」が問題となる。この作用を除去するためには、交差
した撓みの位置を合わせるという極めて大変な調整を必
要とする。これらの調整は、従来技術の検流計の組立後
に行われていた。本発明では、この交差点の所望の位置
合わせは、何等調整作用を必要とせずに行われる。駆動
磁石62及びバネ70の形状中における段の形状によっ
て、所望の位置合わせ及び「オイル作用」の除去が行わ
れるのである。
【0059】バネ70は、製造が容易であり且つ安価で
ある。これらは、最小限の努力で検流計44内へ組み込
むことができ、取付た後の調整が不要である。従って、
バネ70は、低コストサーマルプリンタに使用される検
流計内で用いるのに非常に適しているといえる。
ある。これらは、最小限の努力で検流計44内へ組み込
むことができ、取付た後の調整が不要である。従って、
バネ70は、低コストサーマルプリンタに使用される検
流計内で用いるのに非常に適しているといえる。
【0060】図7において、検流計44の振動パターン
を示すグラフ線100が表されている。時間関数として
の駆動磁石62及びミラー60の角度変位の関係が示さ
れており、横軸に時間を縦軸に角度変位をそれぞれとっ
ている。図7における時間周期の完全一サイクルには、
走査期間102及び帰線期間104が含まれる。グラフ
線100の点106及び108は、走査期間10の始点
及び終点におけるミラー60の角度位置をそれぞれ示し
ている。ミラー60が点106の位置にあるとき、図1
のレーザユニット42が駆動され、対象物50上の像の
一ラインの印刷が始まる。走査は、ミラー60の角度変
位が時間の関数として直線状に変化するよう継続する。
番号108で示した時点において、走査が停止即ちレー
ザユニット42がオフされる。ミラー60はその後速や
かに番号106で示された位置へ戻される。点108か
ら106への移行中におけるミラー60の動作は、帰線
(フライバック)として知られる。
を示すグラフ線100が表されている。時間関数として
の駆動磁石62及びミラー60の角度変位の関係が示さ
れており、横軸に時間を縦軸に角度変位をそれぞれとっ
ている。図7における時間周期の完全一サイクルには、
走査期間102及び帰線期間104が含まれる。グラフ
線100の点106及び108は、走査期間10の始点
及び終点におけるミラー60の角度位置をそれぞれ示し
ている。ミラー60が点106の位置にあるとき、図1
のレーザユニット42が駆動され、対象物50上の像の
一ラインの印刷が始まる。走査は、ミラー60の角度変
位が時間の関数として直線状に変化するよう継続する。
番号108で示した時点において、走査が停止即ちレー
ザユニット42がオフされる。ミラー60はその後速や
かに番号106で示された位置へ戻される。点108か
ら106への移行中におけるミラー60の動作は、帰線
(フライバック)として知られる。
【0061】サーマルプリンタ40の作動を成功させる
には、ミラー60の走査と帰線が精密に制御された状態
で行われることが重要となる。ミラー60の角速度は、
走査期間102の始点即ち時点106において一定でな
ければならない。
には、ミラー60の走査と帰線が精密に制御された状態
で行われることが重要となる。ミラー60の角速度は、
走査期間102の始点即ち時点106において一定でな
ければならない。
【0062】図8は、帰線期間104を持つ図7のグラ
フ線100の部分を拡大して示す。図7に示した点10
6及び108に加え、図8のグラフ線100の部分は、
2つの点110及び112をもつ。点110及び112
は、ミラー160が効果的な(有効)ゼロ角速度となっ
た時の点を表している。点110及び112は図7の走
査期間102外にあることに留意されなければならな
い。換言すれば、ミラー60は、走査期間102中に一
定速度(即ち加速なしに)で移動する。また、図7より
明らかなように、帰線期間104はミラー60の全振動
サイクル(走査期間102+帰線期間104)のわずか
に約15%を占めるに過ぎないことにも注意しなければ
ならない。これらの要素は、ミラー60が帰線期間10
4中は2倍の速度となるような加速を要求するものであ
る。
フ線100の部分を拡大して示す。図7に示した点10
6及び108に加え、図8のグラフ線100の部分は、
2つの点110及び112をもつ。点110及び112
は、ミラー160が効果的な(有効)ゼロ角速度となっ
た時の点を表している。点110及び112は図7の走
査期間102外にあることに留意されなければならな
い。換言すれば、ミラー60は、走査期間102中に一
定速度(即ち加速なしに)で移動する。また、図7より
明らかなように、帰線期間104はミラー60の全振動
サイクル(走査期間102+帰線期間104)のわずか
に約15%を占めるに過ぎないことにも注意しなければ
ならない。これらの要素は、ミラー60が帰線期間10
4中は2倍の速度となるような加速を要求するものであ
る。
【0063】図9は、ミラー60の角加速度(垂直軸)
を時間(水平軸)の関数として示したグラフである。更
に、図9にはミラー60に加えなければならない力を、
必要に応じてミラーを加速するための時間の関数として
示したグラフ図である。図9のグラフ図は、ミラー加速
度及びミラー力グラフ線120(実線で示した)及びバ
ネ力グラフ線122(破線で示した)を含む。グラフ線
120及び122は、時間的に図8のグラフ線100の
角変位に対応している。このように、グラフ線120
は、図8のグラフ線100により表されたミラー60の
動的角変位を達成するために必要な加速の大きさと方向
を表したものである。加えて、力は加速に比例するの
で、グラフ線120は、グラフ線100で表された動的
角変位を達成するためにミラー60へ加えなければなら
ない力の大きさ及び方向を表すこととなる。
を時間(水平軸)の関数として示したグラフである。更
に、図9にはミラー60に加えなければならない力を、
必要に応じてミラーを加速するための時間の関数として
示したグラフ図である。図9のグラフ図は、ミラー加速
度及びミラー力グラフ線120(実線で示した)及びバ
ネ力グラフ線122(破線で示した)を含む。グラフ線
120及び122は、時間的に図8のグラフ線100の
角変位に対応している。このように、グラフ線120
は、図8のグラフ線100により表されたミラー60の
動的角変位を達成するために必要な加速の大きさと方向
を表したものである。加えて、力は加速に比例するの
で、グラフ線120は、グラフ線100で表された動的
角変位を達成するためにミラー60へ加えなければなら
ない力の大きさ及び方向を表すこととなる。
【0064】検流計44の作動中にミラー60へ加えら
れる力は、2個の源から供給される。第1の源は、駆動
磁石62回転させるために作動する駆動コイル64によ
り発生する磁界である。第2の力源は、バネ70の復元
力である(即ち、走査期間102中にバネ内に蓄積され
たエネルギーにより生成される力)。これら2個の力源
は、図9にグラフとして示した。グラフ線122は、バ
ネ70により発生した力の大きさと方向を示す。グラフ
線120は、図8のグラフ線110により表される加速
を生成するために必要な総所要力の大きさと方向を示
す。バネ力が要求量を超えてしまうこともあれば、バネ
力が不十分な場合もあることが理解される。バネ力と要
求力との差は、駆動磁石62中にトルクを生成する磁界
を発生する駆動コイル64中の電流によって生成され
る。グラフ線120と122との間の斜線部は、ミラー
60のレトレース中に駆動コイル64により生成された
力の大きさと方向を示す。
れる力は、2個の源から供給される。第1の源は、駆動
磁石62回転させるために作動する駆動コイル64によ
り発生する磁界である。第2の力源は、バネ70の復元
力である(即ち、走査期間102中にバネ内に蓄積され
たエネルギーにより生成される力)。これら2個の力源
は、図9にグラフとして示した。グラフ線122は、バ
ネ70により発生した力の大きさと方向を示す。グラフ
線120は、図8のグラフ線110により表される加速
を生成するために必要な総所要力の大きさと方向を示
す。バネ力が要求量を超えてしまうこともあれば、バネ
力が不十分な場合もあることが理解される。バネ力と要
求力との差は、駆動磁石62中にトルクを生成する磁界
を発生する駆動コイル64中の電流によって生成され
る。グラフ線120と122との間の斜線部は、ミラー
60のレトレース中に駆動コイル64により生成された
力の大きさと方向を示す。
【0065】例えば、図9の時間t1において、グラフ
線120は、所望の加速を生成するために必要な力がグ
ラフ線122により示されたバネ70により生成された
力を超えたことを示している。この結果、時間t1でラ
イン120と122との間の斜線領域によって表される
能動補助力を生成するためにコイル64が必要となる。
図9における後の時間t2において、グラフ線120
は、所望の加速を生成するために必要な力は、バネ70
により生成される力の量よりも小さいことを示してい
る。この場合、コイル64はバネ70の力から逆の大き
さの力、即ち制動作用を生成しなければならない。
線120は、所望の加速を生成するために必要な力がグ
ラフ線122により示されたバネ70により生成された
力を超えたことを示している。この結果、時間t1でラ
イン120と122との間の斜線領域によって表される
能動補助力を生成するためにコイル64が必要となる。
図9における後の時間t2において、グラフ線120
は、所望の加速を生成するために必要な力は、バネ70
により生成される力の量よりも小さいことを示してい
る。この場合、コイル64はバネ70の力から逆の大き
さの力、即ち制動作用を生成しなければならない。
【0066】検流計44は、ミラー60が共振モードで
振動された時に移動する速度にほぼ対応する速度でその
帰線期間104を解して移動するよう構成されている。
この概念は、自然振動周波数及び検流計44の好適な実
施例の所望作動周波数を考慮することによって理解され
る。好適な実施例において、図1のサーマルプリンタ4
0は毎秒20走査を行う。ミラー60の完全振動は、走
査に対しては85%に、そして帰線に対しては15%に
分割される。帰線に対して割り当てられる時間は、従っ
て7.5ミリ秒となる。これは、もしミラー60、駆動
磁石62及びバネ70の組立体の自然振動周波数が約7
0Hzであるならば、帰線がバネ力のみで行えることを
意味する。この結果、サーマルプリンタ40における使
用では、検流計44はミラー60の自然振動周波数が約
50−120Hzになるように構成されることとなる。
振動された時に移動する速度にほぼ対応する速度でその
帰線期間104を解して移動するよう構成されている。
この概念は、自然振動周波数及び検流計44の好適な実
施例の所望作動周波数を考慮することによって理解され
る。好適な実施例において、図1のサーマルプリンタ4
0は毎秒20走査を行う。ミラー60の完全振動は、走
査に対しては85%に、そして帰線に対しては15%に
分割される。帰線に対して割り当てられる時間は、従っ
て7.5ミリ秒となる。これは、もしミラー60、駆動
磁石62及びバネ70の組立体の自然振動周波数が約7
0Hzであるならば、帰線がバネ力のみで行えることを
意味する。この結果、サーマルプリンタ40における使
用では、検流計44はミラー60の自然振動周波数が約
50−120Hzになるように構成されることとなる。
【0067】帰線の速度が検流計44の自然周波数であ
るときには、駆動コイルにより生成された力は、低レベ
ルに保持され、検流計44の所要電力は低く保持される
という利点が得られる。検流計44の好適な実施例にお
いて、ミラー60が走査期間102が始まる前に図8の
点106で一定角速度に達することが確保されるよう、
帰線加速度の所望形状を実行するためにのみ使用され
る。その自然周波数にほぼ対応した帰線を伴う検流計4
4の作用は、ミラー60の各振動サイクルにおいて、帰
線期間104から走査期間102への円滑な移行を可能
とするものである。
るときには、駆動コイルにより生成された力は、低レベ
ルに保持され、検流計44の所要電力は低く保持される
という利点が得られる。検流計44の好適な実施例にお
いて、ミラー60が走査期間102が始まる前に図8の
点106で一定角速度に達することが確保されるよう、
帰線加速度の所望形状を実行するためにのみ使用され
る。その自然周波数にほぼ対応した帰線を伴う検流計4
4の作用は、ミラー60の各振動サイクルにおいて、帰
線期間104から走査期間102への円滑な移行を可能
とするものである。
【0068】帰線が自然周波数の周期の1/5以下の時
間で実行されると、検流計44は過度に高いピーク電圧
の電力量を要求することとなる。更に、このような帰線
速度と自然周波数との粗雑ミスマッチにより、ミラー6
0中へ振動を導入されることとなり、これがサーマルプ
リンタ40により生成された像を劣化させる悪影響を及
ぼす。
間で実行されると、検流計44は過度に高いピーク電圧
の電力量を要求することとなる。更に、このような帰線
速度と自然周波数との粗雑ミスマッチにより、ミラー6
0中へ振動を導入されることとなり、これがサーマルプ
リンタ40により生成された像を劣化させる悪影響を及
ぼす。
【0069】検流計44に対する所望の角変位−時間関
係を生成するため、任意時間におけるミラー60の角位
置を定める必要がある。この位置決めは、図2に示した
ホール効果センサ90により生成された信号を用いるこ
とにより達成される。ホール効果センサ90は、周知の
原理に従って作動し、図2のセンサ磁石82の動作によ
って生成された磁界の変化を測定する。センサ磁石82
は駆動磁石62に接続される。従って、センサ磁石82
の位置は、駆動磁石62及びミラー60の角度位置を示
すこととなる。
係を生成するため、任意時間におけるミラー60の角位
置を定める必要がある。この位置決めは、図2に示した
ホール効果センサ90により生成された信号を用いるこ
とにより達成される。ホール効果センサ90は、周知の
原理に従って作動し、図2のセンサ磁石82の動作によ
って生成された磁界の変化を測定する。センサ磁石82
は駆動磁石62に接続される。従って、センサ磁石82
の位置は、駆動磁石62及びミラー60の角度位置を示
すこととなる。
【0070】図10は、図3の破線10−10で切断さ
れた検流計44の部分断面図を示す。この図は、センサ
磁石82、ホール効果センサ90、センサ支持体92、
ゼロスラグホルダ96、ゼロスラグ94及び補償コイル
98の物理的関係を詳細に表したものである。ホール効
果センサ90(以下センサ90という)は、接着剤によ
ってセンサ支持体92へ接続されている。補償コイル9
8は、ゼロスラグホルダ96の回りでその内部に形成さ
れた溝内に巻回されている。好適な実施例において、ゼ
ロコイル98は、No.36銅ワイヤを31回巻回して
成る。ゼロスラグホルダ96は、その表面がセンサ90
の表面と近接した状態でセンサ支持体92に接続されて
いる。補償コイル98はセンサ支持体92の内部に配置
されている。ゼロスラグ94は、ゼロスラグホルダ96
に形成されたネジを介してゼロスラグホルダに接続され
ている。ゼロスラグ94は、ゼロスラグホルダ96に沿
って長手方向に移動(ネジとして回転されることによ
り)するよう設置され、これによってゼロスラグ94と
センサ90との間のギャップが要求に応じて調節される
こととなる。
れた検流計44の部分断面図を示す。この図は、センサ
磁石82、ホール効果センサ90、センサ支持体92、
ゼロスラグホルダ96、ゼロスラグ94及び補償コイル
98の物理的関係を詳細に表したものである。ホール効
果センサ90(以下センサ90という)は、接着剤によ
ってセンサ支持体92へ接続されている。補償コイル9
8は、ゼロスラグホルダ96の回りでその内部に形成さ
れた溝内に巻回されている。好適な実施例において、ゼ
ロコイル98は、No.36銅ワイヤを31回巻回して
成る。ゼロスラグホルダ96は、その表面がセンサ90
の表面と近接した状態でセンサ支持体92に接続されて
いる。補償コイル98はセンサ支持体92の内部に配置
されている。ゼロスラグ94は、ゼロスラグホルダ96
に形成されたネジを介してゼロスラグホルダに接続され
ている。ゼロスラグ94は、ゼロスラグホルダ96に沿
って長手方向に移動(ネジとして回転されることによ
り)するよう設置され、これによってゼロスラグ94と
センサ90との間のギャップが要求に応じて調節される
こととなる。
【0071】好適な実施例において、センサ磁石82
は、±0.005の位置決め誤差許容範囲をもって、セ
ンサ90から約0.010インチの所に位置決めされて
いる。センサ磁石82はセンサ90から0.050イン
チ程度離れていても、所望の検流作用をはたし得ること
が確認されている。検流計を大量生産する観点から見れ
ば、この程度の許容範囲の間隔を使用できるということ
は、極めて大きな利点となる。磁気位置センサを用いた
検流計は、従来のコンデンサを用いた位置センサに比し
て遥かに低コストで製造可能である。これは、コンデン
サを用いた位置センサは、センサ素子間を0.001イ
ンチまたはそれ未満の間隔で且つ±0.0002インチ
またはそれ未満の許容範囲での制御を必要とするからで
ある。
は、±0.005の位置決め誤差許容範囲をもって、セ
ンサ90から約0.010インチの所に位置決めされて
いる。センサ磁石82はセンサ90から0.050イン
チ程度離れていても、所望の検流作用をはたし得ること
が確認されている。検流計を大量生産する観点から見れ
ば、この程度の許容範囲の間隔を使用できるということ
は、極めて大きな利点となる。磁気位置センサを用いた
検流計は、従来のコンデンサを用いた位置センサに比し
て遥かに低コストで製造可能である。これは、コンデン
サを用いた位置センサは、センサ素子間を0.001イ
ンチまたはそれ未満の間隔で且つ±0.0002インチ
またはそれ未満の許容範囲での制御を必要とするからで
ある。
【0072】次に作用を説明する。センサ90は、セン
サ磁石82の角位置を示す信号を生成する。正確な位置
信号を生成するため、センサ90には、駆動コイル64
及び駆動磁石62により発生した磁界の歪作用を除去す
るシステムが設けられている。もしこれらの磁界がセン
サ90上で作用するように残されたならば、センサの発
生する信号は実質上使用不能となる。センサ90は、そ
の近傍での変化磁界の強さを示すが、必然的にセンサ磁
石82の位置を示すこととなる。
サ磁石82の角位置を示す信号を生成する。正確な位置
信号を生成するため、センサ90には、駆動コイル64
及び駆動磁石62により発生した磁界の歪作用を除去す
るシステムが設けられている。もしこれらの磁界がセン
サ90上で作用するように残されたならば、センサの発
生する信号は実質上使用不能となる。センサ90は、そ
の近傍での変化磁界の強さを示すが、必然的にセンサ磁
石82の位置を示すこととなる。
【0073】ホール効果センサは、これまでビーム走査
検流計には使用されていなかった。典型的な検流計で
は、駆動磁石はそれ自体の磁界を有しており、駆動コイ
ルにより生成された他の磁界内で作用する。この作用モ
ードの正味作用は、ミラー駆動機械の大きさがミラーの
角位置とは線状関係にないということである。従って、
振動検流計ミラーの角位置を検出するホール効果センサ
を用いた従来装置は存在しなかった。
検流計には使用されていなかった。典型的な検流計で
は、駆動磁石はそれ自体の磁界を有しており、駆動コイ
ルにより生成された他の磁界内で作用する。この作用モ
ードの正味作用は、ミラー駆動機械の大きさがミラーの
角位置とは線状関係にないということである。従って、
振動検流計ミラーの角位置を検出するホール効果センサ
を用いた従来装置は存在しなかった。
【0074】検流計44の現在の構造は、ミラー60の
角位置を示す第2及び分離可能磁界を生成することによ
ってこの問題を解決できる。位置表示磁界は、駆動磁石
62上にトルクを生成する磁界から分離及び隔離された
センサ磁石82によって生成される。しかしながら、セ
ンサ磁石82を用いたとしても、なおかつ駆動磁石62
及び駆動コイル64により発生した磁界を無視すること
はできない。図11及び12において、検流計44中に
おける種々の磁界の相互作用の模式図を示す。図11及
び12は、図2における駆動磁石62、駆動コイル6
4、センサ磁石82及びセンサ90を象徴的に示す。磁
界Frは、センサ90に対して作用し、センサ90は、
図4の回転軸142に対するセンサ磁石82の角位置の
関数として変化する信号を生成する。駆動磁石62の制
限回転量(検流計44の好適な実施例において16度未
満)内で、センサ90からの出力信号は、センサ磁石8
2の回転に伴って線形に変化する。
角位置を示す第2及び分離可能磁界を生成することによ
ってこの問題を解決できる。位置表示磁界は、駆動磁石
62上にトルクを生成する磁界から分離及び隔離された
センサ磁石82によって生成される。しかしながら、セ
ンサ磁石82を用いたとしても、なおかつ駆動磁石62
及び駆動コイル64により発生した磁界を無視すること
はできない。図11及び12において、検流計44中に
おける種々の磁界の相互作用の模式図を示す。図11及
び12は、図2における駆動磁石62、駆動コイル6
4、センサ磁石82及びセンサ90を象徴的に示す。磁
界Frは、センサ90に対して作用し、センサ90は、
図4の回転軸142に対するセンサ磁石82の角位置の
関数として変化する信号を生成する。駆動磁石62の制
限回転量(検流計44の好適な実施例において16度未
満)内で、センサ90からの出力信号は、センサ磁石8
2の回転に伴って線形に変化する。
【0075】図12は、駆動コイル64内における電流
によって生成された他の磁界Fiを示したものである。
この磁界Fiもまたセンサ90に対して作用し、センサ
90に対して磁界Fiの大きさの関数である信号を生成
させる。磁界Fiの大きさは、任意時間に駆動コイル6
4を通過する電流量の関数である。被駆動磁石62の回
転は図2のバネ70により発生した力によって部分的に
制御されるので、駆動磁石62の角位置は駆動コイル6
4中の電流の大きさとは線形に関連しない。この結果、
磁界Fiは、駆動磁石62の角位置とは線形に関連しな
いこととなる。
によって生成された他の磁界Fiを示したものである。
この磁界Fiもまたセンサ90に対して作用し、センサ
90に対して磁界Fiの大きさの関数である信号を生成
させる。磁界Fiの大きさは、任意時間に駆動コイル6
4を通過する電流量の関数である。被駆動磁石62の回
転は図2のバネ70により発生した力によって部分的に
制御されるので、駆動磁石62の角位置は駆動コイル6
4中の電流の大きさとは線形に関連しない。この結果、
磁界Fiは、駆動磁石62の角位置とは線形に関連しな
いこととなる。
【0076】もし2個の磁界Fi及びFrがセンサ90
に対して自由に作用するのであれば、センサ90はセン
サ磁石82の角位置を示さない信号を生成することとな
る。従って、センサ90上の磁界Fiの好ましくない作
用を除去する補償システムを設ける必要がある。
に対して自由に作用するのであれば、センサ90はセン
サ磁石82の角位置を示さない信号を生成することとな
る。従って、センサ90上の磁界Fiの好ましくない作
用を除去する補償システムを設ける必要がある。
【0077】図13に、センサ90の出力信号に対して
希望する補償を行うために使用される検流形44の一部
を象徴的に示す。図13は、図12の駆動コイル64及
び補償コイル98、コイル駆動回路162及びインバー
タ164を含む補償回路160を象徴的に示したもので
ある。コイル駆動回路162は、本願と同時に出願され
前記関連出願の項に記した米国特許出願(発明の名称
「高速度且つ高精度で電子−機械装置を駆動するための
改良された方法及び装置」)に開示及び権利請求されて
いる。また、図13には、図2の駆動磁石62、センサ
磁石82、センサ90及びゼロスラグ94が示されてい
る。
希望する補償を行うために使用される検流形44の一部
を象徴的に示す。図13は、図12の駆動コイル64及
び補償コイル98、コイル駆動回路162及びインバー
タ164を含む補償回路160を象徴的に示したもので
ある。コイル駆動回路162は、本願と同時に出願され
前記関連出願の項に記した米国特許出願(発明の名称
「高速度且つ高精度で電子−機械装置を駆動するための
改良された方法及び装置」)に開示及び権利請求されて
いる。また、図13には、図2の駆動磁石62、センサ
磁石82、センサ90及びゼロスラグ94が示されてい
る。
【0078】コイル駆動回路162の出力は駆動コイル
64及びインバータ164の入力に接続されている。イ
ンバータ164の出力は、補償コイル98に接続されて
いる。
64及びインバータ164の入力に接続されている。イ
ンバータ164の出力は、補償コイル98に接続されて
いる。
【0079】次に作用を説明する。補償回路160は、
任意時間において図12の磁界Fiとは逆極性の磁界F
cを生成する。磁界Fcは、通常磁界Fiとは同じ磁界
ではない。しかし、磁界Fcは、センサ90に極めて近
い位置で生成される。従って、センサ90の局部領域で
は、2個の磁界Fc及びFiは、常に逆極性であり、セ
ンサ90に対するその合成作用は、実質上ゼロになる。
磁界Fiの作用を完全に除去するため、ゼロスラッグ9
4がセンサに対して近接または離隔移動する。ゼロスラ
グ94は、軟鉄、ニッケルまたはフェライト等の高透磁
性素材からなるロッドである。補償コイル98に対する
その位置が、補償コイル98が生成する磁界の大きさに
影響を及ぼす。このようにして、ゼロスラグ94の位置
を調整することにより、補償コイル98はセンサ90に
対する磁界Fiの作用を完全に排除する磁界を生成する
よう設定されることとなる。
任意時間において図12の磁界Fiとは逆極性の磁界F
cを生成する。磁界Fcは、通常磁界Fiとは同じ磁界
ではない。しかし、磁界Fcは、センサ90に極めて近
い位置で生成される。従って、センサ90の局部領域で
は、2個の磁界Fc及びFiは、常に逆極性であり、セ
ンサ90に対するその合成作用は、実質上ゼロになる。
磁界Fiの作用を完全に除去するため、ゼロスラッグ9
4がセンサに対して近接または離隔移動する。ゼロスラ
グ94は、軟鉄、ニッケルまたはフェライト等の高透磁
性素材からなるロッドである。補償コイル98に対する
その位置が、補償コイル98が生成する磁界の大きさに
影響を及ぼす。このようにして、ゼロスラグ94の位置
を調整することにより、補償コイル98はセンサ90に
対する磁界Fiの作用を完全に排除する磁界を生成する
よう設定されることとなる。
【0080】図14は、センサ90に対する所望の補償
作用を生成する他の技術を示す。図14は、補償回路1
80を示す。補償回路180は、図13のコイル駆動回
路162、抵抗184、増幅器186及び図2の駆動コ
イル64及びセンサ90と組み合わされた加算器188
を含む。コイル駆動回路162の出力は、駆動コイル6
4の第1端子に接続されている。駆動コイル64の第2
端子は、端子190、増幅器186の入力、そして抵抗
184の第1端子、へそれぞれ接続されている。抵抗1
84の第2端子は、端子192及び接地電圧である基準
電圧にそれぞれ接続されている。増幅器186の出力
は、加算器188の第1入力に接続されている。センサ
90の出力は、加算器188の第2入力に接続されてい
る。加算器188の出力は、コイル駆動回路162の入
力に接続されている。図13はまた、センサ90が図1
1及び12の2個の磁界Fi及びFrにより作用を受け
ることを模式的に示す。
作用を生成する他の技術を示す。図14は、補償回路1
80を示す。補償回路180は、図13のコイル駆動回
路162、抵抗184、増幅器186及び図2の駆動コ
イル64及びセンサ90と組み合わされた加算器188
を含む。コイル駆動回路162の出力は、駆動コイル6
4の第1端子に接続されている。駆動コイル64の第2
端子は、端子190、増幅器186の入力、そして抵抗
184の第1端子、へそれぞれ接続されている。抵抗1
84の第2端子は、端子192及び接地電圧である基準
電圧にそれぞれ接続されている。増幅器186の出力
は、加算器188の第1入力に接続されている。センサ
90の出力は、加算器188の第2入力に接続されてい
る。加算器188の出力は、コイル駆動回路162の入
力に接続されている。図13はまた、センサ90が図1
1及び12の2個の磁界Fi及びFrにより作用を受け
ることを模式的に示す。
【0081】次に作用を説明する。図14の補償回路1
80は、センサ90からの出力信号の変更を生成する。
変更は、駆動コイル64を通過する電流の関数であり、
磁界Fiにより生成されたセンサ90からの出力信号の
一部を除去する。これは、次の式に従って増幅器186
に対するゲインKを選択することにより達成される:K
= −H(Fi/i)。ここでHはセンサ90のゲイ
ン、iは抵抗184を通過する電流である。加算器18
8は、2個の入力信号の総和に等しい出力を生成する。
センサからの入力信号Ssは、次の式により与えられ
る:Ss=H×Fi+H×Fr。増幅器186からの入
力信号Saは、次の式で与えられる: Sa=Kxiま
たは−H(Fi/i)xi。SaがSsに加算される
と、その結果加算器188から生じる出力信号Soは次
の式で与えられる: So=HxFr。この出力信号は
Soは、図2のセンサ磁石82の角位置のみを示すもの
であり、図2のミラー60の所望の移動を生成するため
の駆動コイル64を介した適切な電流量を駆動するため
にコイル駆動回路162によるフィードバック信号とし
て使用される。
80は、センサ90からの出力信号の変更を生成する。
変更は、駆動コイル64を通過する電流の関数であり、
磁界Fiにより生成されたセンサ90からの出力信号の
一部を除去する。これは、次の式に従って増幅器186
に対するゲインKを選択することにより達成される:K
= −H(Fi/i)。ここでHはセンサ90のゲイ
ン、iは抵抗184を通過する電流である。加算器18
8は、2個の入力信号の総和に等しい出力を生成する。
センサからの入力信号Ssは、次の式により与えられ
る:Ss=H×Fi+H×Fr。増幅器186からの入
力信号Saは、次の式で与えられる: Sa=Kxiま
たは−H(Fi/i)xi。SaがSsに加算される
と、その結果加算器188から生じる出力信号Soは次
の式で与えられる: So=HxFr。この出力信号は
Soは、図2のセンサ磁石82の角位置のみを示すもの
であり、図2のミラー60の所望の移動を生成するため
の駆動コイル64を介した適切な電流量を駆動するため
にコイル駆動回路162によるフィードバック信号とし
て使用される。
【0082】センサ90のゲインHは、センサ磁石82
の磁化と、センサ90とセンサ磁石82との間の空隙の
大きさとの関数である。これらの要素は各検流計44に
対して変化するものであるから、各検流計に対して唯一
の増幅器ゲイン値Kを選択する必要がある。
の磁化と、センサ90とセンサ磁石82との間の空隙の
大きさとの関数である。これらの要素は各検流計44に
対して変化するものであるから、各検流計に対して唯一
の増幅器ゲイン値Kを選択する必要がある。
【0083】上述した補償システムは、特に、図2の検
流計44が高解像度(即ち2000ドット/インチまた
はそれ以上)像を生成する図1の各サーマルプリンタ4
4の内の一に使用される時に有用である。図2のミラー
60がそうした高解像度画像を生成するために走査され
るとき、コイル駆動回路162から発生する駆動電流に
多くの個別増分変化を起こすことが必要になる。これら
の各変化は、短い時間の間においてのみ生成される。換
言すれば、それらは制御パルスであると考えられる。2
000ドット/インチの程度の像の分解能を達成するた
め、約2KHzの周波数でこれらの制御パルスを生成す
ることが望ましいことが見いだされた。
流計44が高解像度(即ち2000ドット/インチまた
はそれ以上)像を生成する図1の各サーマルプリンタ4
4の内の一に使用される時に有用である。図2のミラー
60がそうした高解像度画像を生成するために走査され
るとき、コイル駆動回路162から発生する駆動電流に
多くの個別増分変化を起こすことが必要になる。これら
の各変化は、短い時間の間においてのみ生成される。換
言すれば、それらは制御パルスであると考えられる。2
000ドット/インチの程度の像の分解能を達成するた
め、約2KHzの周波数でこれらの制御パルスを生成す
ることが望ましいことが見いだされた。
【0084】以上のように、サーマルプリンタ40の好
適な実施例では、センサ90は2KHzまたはそれ以上
の周波数で正確な位置情報を生成可能でなければならな
い。高周波数装置において、センサ90に対する駆動コ
イル64の磁界の作用を除去することが特にポイントと
なる。その理由は、センサ90の応答性を周波数の関数
として考慮することによって理解することができる。
適な実施例では、センサ90は2KHzまたはそれ以上
の周波数で正確な位置情報を生成可能でなければならな
い。高周波数装置において、センサ90に対する駆動コ
イル64の磁界の作用を除去することが特にポイントと
なる。その理由は、センサ90の応答性を周波数の関数
として考慮することによって理解することができる。
【0085】図15は、所望の名目変位グラフ線204
に対するミラー60の仮定的増分変位を示したものであ
る。図15はまた、グラフ線200で示したミラー60
の変位を生成するために必要な仮定的トルクを表すトル
クグラフ線204をも示すものである。変位グラフ線2
00及びトルクグラフ線204は、横軸に沿って示され
た時間に対する図15の垂直軸に沿って増大及び減少す
ることによって示される。名目変位グラフ線202は、
図7の走査期間102中における何れかの時間において
ミラー60の所望変位として示される。検流計44の実
際の装置ではミラー60の名目変位は時間の関数として
変化するわけであるが、明瞭化のため、グラフ線202
の名目変位は、直線として示されている。
に対するミラー60の仮定的増分変位を示したものであ
る。図15はまた、グラフ線200で示したミラー60
の変位を生成するために必要な仮定的トルクを表すトル
クグラフ線204をも示すものである。変位グラフ線2
00及びトルクグラフ線204は、横軸に沿って示され
た時間に対する図15の垂直軸に沿って増大及び減少す
ることによって示される。名目変位グラフ線202は、
図7の走査期間102中における何れかの時間において
ミラー60の所望変位として示される。検流計44の実
際の装置ではミラー60の名目変位は時間の関数として
変化するわけであるが、明瞭化のため、グラフ線202
の名目変位は、直線として示されている。
【0086】図15は、ミラー60に対してトルクを時
間の関数として段階的に印加された時にミラー60がト
ルク印加開始時点、例えば時間t1で加速し始めること
を示している。トルク印加は段階中は継続されるので、
ミラーは加速しつづけ、例えば時間t2に示されるよう
に所望の名目変位位置をオーバシュートする。ミラー6
0を名目変位位置へもってくるため、逆の大きさのトル
クが時間t2でミラーへ加えられる。ミラー60は名目
変位位置の方向にむけて加速しはじめるが、時間t3で
はこの位置をオーバシュートする。再び、トルクがミラ
ーへ加えられて、時間t3で名目変位位置へ駆動され
る。
間の関数として段階的に印加された時にミラー60がト
ルク印加開始時点、例えば時間t1で加速し始めること
を示している。トルク印加は段階中は継続されるので、
ミラーは加速しつづけ、例えば時間t2に示されるよう
に所望の名目変位位置をオーバシュートする。ミラー6
0を名目変位位置へもってくるため、逆の大きさのトル
クが時間t2でミラーへ加えられる。ミラー60は名目
変位位置の方向にむけて加速しはじめるが、時間t3で
はこの位置をオーバシュートする。再び、トルクがミラ
ーへ加えられて、時間t3で名目変位位置へ駆動され
る。
【0087】加速中におけるミラー60の変位は、時間
の2乗の関数として変化する。従って、もしミラー60
の加速期間が時間と共に減少するものであれば、この結
果生じるミラー60の変位は二次的要素により減少す
る。
の2乗の関数として変化する。従って、もしミラー60
の加速期間が時間と共に減少するものであれば、この結
果生じるミラー60の変位は二次的要素により減少す
る。
【0088】図16は、所望名目変位グラフ線222に
対するミラー60の仮定増分変位グラフ線220及び仮
定トルクグラフ線224を示す。図16は、図15のグ
ラフ線204と同じ大きさのトルクを表すトルクグラフ
線224を示す。トルクの印加周波数は、図15に示し
た周波数を2倍した状態で図16に示されている。変位
グラフ線220及びトルクグラフ線224は、横軸に沿
って示された時間に対して図16の立て軸に沿って増大
及び減少することが示されている。図16に示された時
間は、図15の時間と同じである。図15におけるグラ
フ線202に対する場合に説明したように、名目変位グ
ラフ線222は、図7の走査期間102中の或時間にお
いてミラー60の所望変位を表す。
対するミラー60の仮定増分変位グラフ線220及び仮
定トルクグラフ線224を示す。図16は、図15のグ
ラフ線204と同じ大きさのトルクを表すトルクグラフ
線224を示す。トルクの印加周波数は、図15に示し
た周波数を2倍した状態で図16に示されている。変位
グラフ線220及びトルクグラフ線224は、横軸に沿
って示された時間に対して図16の立て軸に沿って増大
及び減少することが示されている。図16に示された時
間は、図15の時間と同じである。図15におけるグラ
フ線202に対する場合に説明したように、名目変位グ
ラフ線222は、図7の走査期間102中の或時間にお
いてミラー60の所望変位を表す。
【0089】図16は、ミラー60に対してトルクが時
間の関数として段階的に印加されあ時、ミラー60はト
ルクの印加開始時点例えば時間t1において加速開始す
ることが示されている。トルク印加は段階中継続するの
で、ミラー60も加速し続け、例えば時間t2で示され
るように所望名目変位位置をオーバシュートする。しか
し、ミラー60のオーバシュートは、図15におけるよ
りもかなり小さい。これは、較正トルクステップの印加
周波数は倍増されているために図15の時間のわずか半
分の時間の間だけミラーが加速するからである。
間の関数として段階的に印加されあ時、ミラー60はト
ルクの印加開始時点例えば時間t1において加速開始す
ることが示されている。トルク印加は段階中継続するの
で、ミラー60も加速し続け、例えば時間t2で示され
るように所望名目変位位置をオーバシュートする。しか
し、ミラー60のオーバシュートは、図15におけるよ
りもかなり小さい。これは、較正トルクステップの印加
周波数は倍増されているために図15の時間のわずか半
分の時間の間だけミラーが加速するからである。
【0090】一般的事項として、較正トルク印加周波数
を増大することは、それぞれが周波数を倍増するに従
い、4の因数(factor)による変位のオーバシュ
ートを低減することになる。このようにして、高周波で
の較正トルク印加は、ミラー60の変位を精密に制御す
るために望ましい技術であり、これによって所望の名目
変位の経路に沿うこととなる。
を増大することは、それぞれが周波数を倍増するに従
い、4の因数(factor)による変位のオーバシュ
ートを低減することになる。このようにして、高周波で
の較正トルク印加は、ミラー60の変位を精密に制御す
るために望ましい技術であり、これによって所望の名目
変位の経路に沿うこととなる。
【0091】図17は、センサ90の電圧出力の2個の
成分をグラフ表示したものである。これらの成分は、図
16に示した仮定動作に応答するセンサ90の下で生じ
る。第1グラフ線Vtは、図16のトルクグラフ線22
4のトルクを生成する磁界によってセンサ90中に発生
した電圧を表す。第2グラフ線Vmは、図16のグラフ
線220により表されるミラー60の変位によりセンサ
90中に発生した電圧を表す。グラフ線Vtは、図16
のグラフ線224と同じ形状である。理由は、ミラー6
0を駆動するために必要なトルクはトルクを生成するた
めに必要な磁界の束に比例するからである。グラフ線V
mは、図16のグラフ線220と同じ形状である。理由
は、ミラー60の変位は、変位に比例する電圧をセンサ
内に生成するからである。
成分をグラフ表示したものである。これらの成分は、図
16に示した仮定動作に応答するセンサ90の下で生じ
る。第1グラフ線Vtは、図16のトルクグラフ線22
4のトルクを生成する磁界によってセンサ90中に発生
した電圧を表す。第2グラフ線Vmは、図16のグラフ
線220により表されるミラー60の変位によりセンサ
90中に発生した電圧を表す。グラフ線Vtは、図16
のグラフ線224と同じ形状である。理由は、ミラー6
0を駆動するために必要なトルクはトルクを生成するた
めに必要な磁界の束に比例するからである。グラフ線V
mは、図16のグラフ線220と同じ形状である。理由
は、ミラー60の変位は、変位に比例する電圧をセンサ
内に生成するからである。
【0092】図18は図17の電圧Vt及びVmを示す
グラフであるが、電圧Vtを生成するトルクの印加周波
数がより高くなっている。図18に示した周波数は図1
7の周波数よりも4倍大きい。Vmの大きさは、ミラー
60が正しいトルクが一回印加される間にミラー60が
加速される時間の2乗の関数として変化する。トルク印
加周波数が4のファクタで増大するとき、Vmの大きさ
は16のファクタにより減少する。電圧Vtの大きさ
は、適切なトルクがミラー60へ印加される周波数によ
っては影響されない。このようにして、図18中のグラ
フ線Vmは、電圧Vtの大きさに比して極めて小さい電
圧Vmの大きさを示すこととなる。
グラフであるが、電圧Vtを生成するトルクの印加周波
数がより高くなっている。図18に示した周波数は図1
7の周波数よりも4倍大きい。Vmの大きさは、ミラー
60が正しいトルクが一回印加される間にミラー60が
加速される時間の2乗の関数として変化する。トルク印
加周波数が4のファクタで増大するとき、Vmの大きさ
は16のファクタにより減少する。電圧Vtの大きさ
は、適切なトルクがミラー60へ印加される周波数によ
っては影響されない。このようにして、図18中のグラ
フ線Vmは、電圧Vtの大きさに比して極めて小さい電
圧Vmの大きさを示すこととなる。
【0093】図19は図2の検流計44の好適な実施例
における電圧VtとVmとの間の関係を表す周波数範囲
グラフ図を示す。グラフ線Vm+Vt(破線で示す)
は、センサ90からの現在の出力電圧を示す。図19
は、縦軸上における種々の対数電圧値及び横軸上の種々
の対数周波数値を示したものである。グラフ線Vm及び
Vt(双方共実線で示した)は、ミラー60へ印加され
たトルク量から生じたセンサの出力電圧を示す。ミラー
60は、トルクが印加される周波数により、与えられた
トルク量に対して異なる量を変位をすることが明かであ
る。検流計44の共振周波数(例:約100Hz)未満
の周波数では、ミラー60の慣性抵抗は低くなり、これ
により与えられたトルクはミラー60の実質的な変位を
生成する。この結果、実質的な電圧Vm(即ち、1ボル
ト以上)がトルクに応答してセンサ90により生成され
る。共振周波数に近い周波数では、共振モードでミラー
60を振動させるのに必要とされるトルクは極めて小さ
くて済むために、電圧Vmは非常に高くなる。共振周波
数よりも高い周波数では、電圧Vmは増大する周波数の
関数として速やかに減少する。これは、ミラー60の慣
性抵抗が、図2のミラー60及びバネ72の全体変位抵
抗中における支配的ファクタとなるからである。300
Hzの周波数では、VmはVtよりも著しく大きくはな
い範囲に入る(Vtは、ミラー60に対するトルクを生
成する磁界に応答してセンサ90により生成された電
圧)。2kHz以上の周波数では、複合グラフ線Vm+
Vtはグラフ線Vtとほぼ同じ形状になる。換言すれ
ば、センサ90からの出力電圧は、ミラー60を駆動す
る磁界の作用により完全に支配されることとなる。
における電圧VtとVmとの間の関係を表す周波数範囲
グラフ図を示す。グラフ線Vm+Vt(破線で示す)
は、センサ90からの現在の出力電圧を示す。図19
は、縦軸上における種々の対数電圧値及び横軸上の種々
の対数周波数値を示したものである。グラフ線Vm及び
Vt(双方共実線で示した)は、ミラー60へ印加され
たトルク量から生じたセンサの出力電圧を示す。ミラー
60は、トルクが印加される周波数により、与えられた
トルク量に対して異なる量を変位をすることが明かであ
る。検流計44の共振周波数(例:約100Hz)未満
の周波数では、ミラー60の慣性抵抗は低くなり、これ
により与えられたトルクはミラー60の実質的な変位を
生成する。この結果、実質的な電圧Vm(即ち、1ボル
ト以上)がトルクに応答してセンサ90により生成され
る。共振周波数に近い周波数では、共振モードでミラー
60を振動させるのに必要とされるトルクは極めて小さ
くて済むために、電圧Vmは非常に高くなる。共振周波
数よりも高い周波数では、電圧Vmは増大する周波数の
関数として速やかに減少する。これは、ミラー60の慣
性抵抗が、図2のミラー60及びバネ72の全体変位抵
抗中における支配的ファクタとなるからである。300
Hzの周波数では、VmはVtよりも著しく大きくはな
い範囲に入る(Vtは、ミラー60に対するトルクを生
成する磁界に応答してセンサ90により生成された電
圧)。2kHz以上の周波数では、複合グラフ線Vm+
Vtはグラフ線Vtとほぼ同じ形状になる。換言すれ
ば、センサ90からの出力電圧は、ミラー60を駆動す
る磁界の作用により完全に支配されることとなる。
【0094】このように、トルクの補正パルスが2kH
z以上の所望のレートで印加されるときには、上述した
ような補償システムを用いることなくミラー60の位置
を決めるためにセンサ90を使用することは不可能にな
る。
z以上の所望のレートで印加されるときには、上述した
ような補償システムを用いることなくミラー60の位置
を決めるためにセンサ90を使用することは不可能にな
る。
【0095】本発明の上記実施例は、本発明の概略的原
理を説明したものに過ぎないことが理解されなければな
らない。当業者であれば、上記原理に基づいて種々の変
更を行うことが可能である。例えば、詳細な説明の項で
記載したサーマルプリンタの作動速度として記載された
20走査/秒より大きなまたは未満の走査周波数で検流
計を駆動することが可能である。更に、検流計はスライ
ドのサーマルプリンテイング以外の装置にも適用でき
る。
理を説明したものに過ぎないことが理解されなければな
らない。当業者であれば、上記原理に基づいて種々の変
更を行うことが可能である。例えば、詳細な説明の項で
記載したサーマルプリンタの作動速度として記載された
20走査/秒より大きなまたは未満の走査周波数で検流
計を駆動することが可能である。更に、検流計はスライ
ドのサーマルプリンテイング以外の装置にも適用でき
る。
【0096】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
ミラーのが両側において中央部よる薄く形成されてい
る。そこで、ミラーの慣性モーメントが低くなり、非共
振振動を効果的に行える。またミラーを支持する回転磁
石を包囲する駆動電流コイルに密接して振動することが
できる。
ミラーのが両側において中央部よる薄く形成されてい
る。そこで、ミラーの慣性モーメントが低くなり、非共
振振動を効果的に行える。またミラーを支持する回転磁
石を包囲する駆動電流コイルに密接して振動することが
できる。
【0097】また、背面は、ミラーの幅方向端部におい
てミラーの厚さを減少させるような方向に傾斜してお
り、これによってミラーの慣性モーメントが低減され
る。
てミラーの厚さを減少させるような方向に傾斜してお
り、これによってミラーの慣性モーメントが低減され
る。
【0098】また、ミラーは傾斜エッジを有して、これ
がコイルと干渉することなくミラーの振動に対するクリ
アランスを与える。
がコイルと干渉することなくミラーの振動に対するクリ
アランスを与える。
【0099】また、ミラーは、コイル力の中心とほぼ一
致した振動軸を有し、ミラーの背面は、コイルからミラ
ーの最大厚よりも小さい距離を隔てて配置されている。
そして、ミラーは、その背面に形成された少なくとも一
の傾斜エッジを有し、これによってコイルと干渉するこ
となくミラーの振動に対するクリアランスを与えること
ができる。
致した振動軸を有し、ミラーの背面は、コイルからミラ
ーの最大厚よりも小さい距離を隔てて配置されている。
そして、ミラーは、その背面に形成された少なくとも一
の傾斜エッジを有し、これによってコイルと干渉するこ
となくミラーの振動に対するクリアランスを与えること
ができる。
【0100】更に、磁石は、振動軸を中心として回転す
ると共に、ミラーを支持するように取り付けられ、この
磁石は2組の交差バネにより支持される。磁石は、ミラ
ーの長さよりもかなり大きい長さを持ち、2組のバネは
ミラーの長さよりも大きな距離を互いに変位した点で磁
石に固定されている。これによって、効果的なミラーの
振動を行える。
ると共に、ミラーを支持するように取り付けられ、この
磁石は2組の交差バネにより支持される。磁石は、ミラ
ーの長さよりもかなり大きい長さを持ち、2組のバネは
ミラーの長さよりも大きな距離を互いに変位した点で磁
石に固定されている。これによって、効果的なミラーの
振動を行える。
【図1】本発明が有用性を見いだすサーマルプリンタの
部分模式的構成を示す図である。
部分模式的構成を示す図である。
【図2】本発明に係るビーム走査検流計の分解斜視図で
ある。
ある。
【図3】図2の検流計を組み立てた状態の斜視図であ
る。
る。
【図4】本発明に従って形成されたミラーの詳細図を示
した、点線4−4に沿って切断した第1作用位置での検
流計の部分断面図である。
した、点線4−4に沿って切断した第1作用位置での検
流計の部分断面図である。
【図5】第2作用位置における図4の同じ検流計の断面
図である。
図である。
【図6】図3の検流計の部分であるバネの斜視図であ
る。
る。
【図7】図3の検流計のミラーの時間に対する角度変位
を示すグラフ図である。
を示すグラフ図である。
【図8】図7に示したグラフの一部を詳細に示した図で
ある。
ある。
【図9】図3の検流計のミラーの加速及びミラー上へ加
わる値からのグラフ表示の時間に対するグラフ表示を示
す図である。
わる値からのグラフ表示の時間に対するグラフ表示を示
す図である。
【図10】図3の10−10線で切断した部分断面図で
ある。
ある。
【図11】図3の検流計の一部及びこれに加わる第1磁
気フィールドを象徴的に示した図である。
気フィールドを象徴的に示した図である。
【図12】図11の検流計の同じ部分に第2磁気フィー
ルドが加わる状態を象徴的に示した図である。
ルドが加わる状態を象徴的に示した図である。
【図13】模式的ブロック図フォーマットにおいて、図
3の検流計の作用における有用性を見いだす第1補償回
路を示す図である。
3の検流計の作用における有用性を見いだす第1補償回
路を示す図である。
【図14】図3の検流計の作用における有用性を見いだ
す第2補償回路を模式的に示す図である。
す第2補償回路を模式的に示す図である。
【図15】図3の検流計のミラーに加えられたトルク及
びその結果生ずるミラーの変位を時間軸上でのグラフ関
係で示した図である。
びその結果生ずるミラーの変位を時間軸上でのグラフ関
係で示した図である。
【図16】図15と同じグラフ関係において、より高い
周波数でトルクが加えられた場合を示す図である。
周波数でトルクが加えられた場合を示す図である。
【図17】図3の検流計のセンサの種々の時間と電圧出
力とのグラフ関係を示す図である。
力とのグラフ関係を示す図である。
【図18】図17と同じグラフ関係において、図3の検
流計のミラーに加えられるトルクの周波数がより高い場
合を示す図である。
流計のミラーに加えられるトルクの周波数がより高い場
合を示す図である。
【図19】図3における印加トルクの周波数と検流計の
センサの種々の電圧出力とのグラフ関係を示す図であ
る。
センサの種々の電圧出力とのグラフ関係を示す図であ
る。
40 サーマルプリンタ 42 変調レーザユニット 44 ビーム走査用検流計 46 走査レンズ 48 支持体
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 B41J 29/42 F 8804−2C G01R 5/00 B 6912−2G H04N 1/04 104 Z 7251−5C (72)発明者 ジョン マイケル クレソック アメリカ合衆国 ニューヨーク州 14058 エルバ バービル ロード 5004
Claims (12)
- 【請求項1】 入射する光ビームを走査する振動検流ミ
ラーにおいて、 振動軸と平行方向の長さと、振動軸と直交方向の幅と、
をもつ反射面と、 反射面に対向した背面と、 傾斜した背面と、を含み、 該背面は傾斜しており、この傾斜は、振動検流ミラーの
幅方向端部の厚さを減少するように形成され、これによ
って該ミラーの慣性モーメントが低減されることを特徴
とする振動検流ミラー。 - 【請求項2】 請求項1に記載のミラーにおいて、前記
背面の傾斜は、振動検流ミラーの厚さが、その中央部か
ら幅方向端部に向かうにつれて徐々に減少してゆくよう
に形成されていることを特徴とする振動検流ミラー。 - 【請求項3】 請求項1に記載のミラーにおいて、前記
ミラーの長さ及び幅は、入射する光ビームの形状にほぼ
対応しており、且つミラーの幅は、ミラーの長さよりも
充分大きいことを特徴とする振動検流ミラー。 - 【請求項4】 反射面及び該反射面に対向した背面を有
するミラーと、 該ミラーを支持する振動磁石と、 該振動磁石を取り囲むコイルと、を含み、 前記ミラーは、前記コイルと干渉することなくミラーの
振動のための遊びを与えるようにその背側に形成された
少なくとも一の傾斜エッジを有することを特徴とするビ
ーム走査検流ミラー。 - 【請求項5】 幅及び長さを有する反射面と、該反射面
に対向した背面と、を有するミラーと、 該ミラーの背面に接続された磁石と、を含み、 前記ミラー及び磁石は振動軸を中心として回転するよう
取り付けられ、 前記磁石は、ミラーの幅よりもかなり小さい厚さをも
ち、 磁石とほぼ同じ大きさの開口が貫通形成され、磁石を取
り囲むコイルを備え、 ミラー及び磁石の振動軸はコイルの開口内に位置し、 前記ミラーは、コイルと干渉することなくミラーの振動
のための遊びを与えるようその背側に形成された少なく
とも一の傾斜エッジを有することを特徴とするビーム走
査検流計。 - 【請求項6】 請求項5に記載のビーム走査検流計にお
いて、ミラーの背面は、コイルからミラーの最大厚さ以
下の距離を以って隔離されていることを特徴とするビー
ム走査検流計。 - 【請求項7】 回転可能に支持された磁石に固定され、
最大厚さをもつミラーを有し、 前記磁石には、力中心をもつ駆動コイルが取り巻くよう
に形成され、 前記ミラーは、コイルの力中心とほぼ位置合わせされた
振動軸を有し、 ミラーの背面は、ミラーの最大厚さ以下の距離だけコイ
ルから隔離され、 ミラーは、コイルと干渉することなくミラーの振動のた
めの遊びを与えるようその背側に形成された少なくとも
一の傾斜エッジを有することを特徴とするビーム走査検
流計。 - 【請求項8】 幅及び長さをもつ反射面を有するミラー
と、 振動軸を中心にして回転すると共にミラーを支持する磁
石と、を含み、 前記ミラーは、ミラーの幅よりかなり小さい厚さと、ミ
ラーの長さよりかなり大きい長さと、をもつことを特徴
とするビーム走査検流計。 - 【請求項9】 請求項8に記載のビーム走査検流計にお
いて、前記磁石の長さは、ミラーの長さよりも約3倍大
きいことを特徴とするビーム走査検流計。 - 【請求項10】 請求項8に記載のビーム走査検流計に
おいて、前記磁石の長さは、磁石の厚さよりも約4倍大
きいことを特徴とするビーム走査検流計。 - 【請求項11】 長さをもつ反射面を有するミラーと、 振動軸を中心として回転すると共にミラーを支持する磁
石と、を含み、 前記磁石は2組の交差バネにより支持され、 磁石はミラーの長さよりもかなり大きい長さをもち、 前記2組のバネは、ミラーの長さよりも大きな距離を介
して互いに隔てられた位置で磁石に固定されていること
を特徴とするビーム走査検流計。 - 【請求項12】振動軸を中心として回転すると共に該振
動軸に対して慣性モーメントを持つミラーと、 ミラーの振動軸を中心として回転すると共にミラーを支
持する磁石と、を含み、 該磁石は、厚さと、振動軸に対する慣性モーメントと、
をもち、 磁石は、コイルにより実質的に包囲され、 コイルへ電流が流されたときに磁石はトルクを生成し、 磁石の厚さは、磁石により生成されたトルクと磁石及び
ミラーの慣性モーメントの総和との比が最大となるよう
に設定されていることを特徴とするビーム走査検流計。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US723368 | 1991-06-28 | ||
| US07/723,368 US5221933A (en) | 1991-06-28 | 1991-06-28 | Beam scanning galvanometer with low inertia mirror and magnet |
Publications (1)
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|---|---|
| JPH05249402A true JPH05249402A (ja) | 1993-09-28 |
Family
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Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| JP17136292A Pending JPH05249402A (ja) | 1991-06-28 | 1992-06-29 | 低慣性ミラー及び磁石を備えたビーム走査検流計 |
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| JP (1) | JPH05249402A (ja) |
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