JPH0525351B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 ＜産業上の利用分野＞ 本発明は、フアクシミリ等の画像処理装置にお
けるデイジタル画像処理方法に関するものであ
り、特に２値画像データを入力してその形状を認
識する際に施す雑音除去に関するものである。

＜従来の技術＞ 一般に、フアクシミリ等に入力された２値画像
データには種々の原因で第１４図に示すような、
欠陥Ａ１〜Ａ３、小突起Ｂ１〜Ｂ３、孤立点Ｃ１
〜Ｃ３等の雑音が発生する。

入力２値画像データに対する、従来の処理装置
の構成を第１５図に表わす。この処理装置は２値
画像データの各画素を注目画素P0とし、この注
目画素P0を中心に第１６図のような３画素×３
画素の窓を想定し、その近傍の８画素Ｐ１〜８の
値（“０”、“１”）によつて注目画素P0を“１”、
“０”に変換する、３×３のマスク処理が行なわ
れる。

即ち、第１５図の処理装置において、２次元変
換回路１は、注目画素P0を中心とする３×３の
２値画像データＰ０〜Ｐ８を９ビツトの信号列に
変換し、この９ビツトはデータ・テーブル・メモ
リ２へのアドレスとみなされる。データ・テーブ
ル・メモリ２はこの９ビツト・アドレスの内容に
従つて、予め定められている“０”、“１”信号を
発生する。

この３×３のマスク処理による従来の雑音の処
理方法は、注目画素P0を含む９画素中、“０”の
画素数または“１”の画素数を調べ、いずれか多
い方の画素値を注目画素P0の画素値として採用
するものである。例えば、第１７図ａ，ｂ，ｃ，
ｄに示すような２値画像データについて、注目画
素P0の画素値が雑音となつており、その画素値
を一意的に“０”または“１”に決定できる。即
ち、第１７図ａにおける注目画素P0は“１”、ｂ
における注目画素P0は“１”、ｃにおける注目画
素P0は“０”、ｄにおける注目画素P0は“０”と
いうように処理できる。

しかしながら、例えば、第１８図ａ，ｂ，ｃ，
ｄに示すような画素パターンの場合は、注目画素
P0を“０”、“１”に一意的に決定することはで
きない。

即ち、第１８図ａのパターンの場合、その周囲
は、第１９図ａまたはｂのような図形が考えら
れ、第１９図ａの場合は注目画素P0は“０”で
あり、ｂの場合は注目画素P0及びその下の画素
は雑音で注目画素P0は“１”とすべきである。

同様にして、第１８図ｂのパターンの場合、そ
の周囲は第１９図ｃまたはｄが考えられ、第１９
図ｃの場合は注目画素P0は“０”であり、ｂの
場合は注目画素P0“１”とすべきである。また、
第１８図ｃのパターンの場合、その周囲は第１９
図ｅまたはｆが考えられ、第１９図ｅの場合は注
目画素P0は“１”であり、ｆの場合は注目画素
P0は“０”とすべきである。更に、第１８図ｄ
のパターンの場合、その周囲は第１９図ｇまたは
ｈが考えられ、第１９図ｇの場合は注目画素P0
は“１”であり、ｈの場合は注目画素P0は“０”
とすべきである。

このように、雑音が２画素以上あるのかまたは
画像の形状の一部であるのか、当該３×３の２値
画像データのみでは判定できない場合があり、上
述のような多い方の画素値を採用する従来の方法
を用いて注目画素P0の画素値を決定すると画素
値の判定を誤ることがあり、注目画素P0を正し
く決定することができなかつた。

即ち、この従来の画像処理装置にあつては、例
えば第１４図において１画素の雑音A1、A2、
A5、B1、C1については通常処理を行なうことは
できるが、２画素の雑音A3、A4、A6、B2、B3、
C2、C3について雑音処理を施すことができなか
つた。

＜発明が解決しようとする問題点＞ 本発明が解決しようとする問題は、１画素、２
画素以上の雑音が画像データに混在している場合
でもマスク処理を行なうことができるようにする
ことであり、効率良く雑音処理を行えるデイジタ
ル画像処理方法を実現することを目的とする。

＜問題を解決するための手段＞ 上記した問題を解決した本発明は、２値入力画
像データに対して３画素×３画素のマスク処理を
行なつて画像の形状を認識するデイジタル画像処
理方法において、 (イ) 注目画素を中心とする３画素×３画素の２値
画像データを入力し、この２値画像データの画
素値分布状態により、雑音が含まれているもの
かデイジタル図形の一部であるか一意的に定ま
らない不定の２値画像データであるか否かを判
断する工程と、 (ロ) 前記工程(イ)で不定の２値画像データであると
判断された際に、前記注目画素を中心として、
雑音画素が右側に連結する場合は当該３画素×
３画素の２値画像データの１画素分右側に３画
素×３画素の探索領域を設定し、雑音画素が下
側に連結する場合は当該３画素×３画素の２値
画像データの１画素分下側に３画素×３画素の
探索領域を設定し、雑音画素が右斜め下側に連
結する場合は当該３画素×３画素の２値画像デ
ータの１画素分右斜め下側に３画素×３画素の
探索領域を設定し、雑音画素が左斜め下側に連
結する場合は当該３画素×３画素の２値画像デ
ータの１画素分左斜め下側に３画素×３画素の
探索領域を設定する工程と、 (ハ) 前記探索領域を、前記注目画素の元の値及び
前記探索領域の種類により、予め定めたデー
タ・テーブルに従う画素値分布を有する３画素
×３画素の２値画像データに変換してその画素
値分布状態を調べてマスク処理を施す工程と (ニ) 前記工程(ハ)におけるマスク処理の結果に従つ
て前記注目画素の画素値を決定する工程と を有することを特徴とするデイジタル画像処理方
法である。

また、前記工程(ハ)において、変換された３画素
×３画素の２値画像データの画素分布状態が前記
不定の３画素×３画素の２値画像データである場
合に、前記工程(ロ)，(ハ)を繰り返して順次探索領域
を選択し、当該探索領域の画素値分布が前記不定
の３画素×３画素の２値画像データでなくなるま
で繰り返し実行してから前記工程(ニ)を実行し、前
記注目画素の画素値を決定することを特徴とする
特許請求の範囲第１項記載のデイジタル画像処理
方法である。

＜作用＞ 本発明のデイジタル画像処理方法は、読み込ま
れた３×３の２値画像データの注目画素を近傍８
画素の値によつて一意的に変換できない場合、こ
のマスク内の画素分布状態に従つて次に探索すべ
き３×３の探索領域を設定し、この探索領域にお
ける前記注目画素データを変換し、探索領域の中
心画素データを決定してから、元の注目画素のデ
ータを決定する。

＜実施例＞ 本発明のデイジタル画素処理方法を実施するの
に最適な画像処理装置の例を第１図にブロツク図
として表わす。

この図において、１は３×３画像データを取り
込んで３ビツト・アドレス信号列ADに変換する
２次元変換回路、２は２次元変換回路１のアドレ
ス出力ADに従つて画素データ“１”、“０”に関
する５ビツト・データＣ（C0，C1）、VP、Ｌ
（L1，L0）を出力するデータ・テーブル・メモリ
DTM（アドレス＃000〜＃1FF）、３はデータ・テ
ーブル・メモリ２からのデータに従つて選択信号
SELB、２次元変換回路１に対してタイミング・
クロツクLD、信号SELA、Ｔを出力しかつ最終
的な判定出力MC（MC0、MC1）を出力する制御
判定回路、４₁は制御判定回路３の選択信号
CELAに従つてはじめに入力される３×３画像デ
ータと後述する探索領域データとを切り換える選
択回路Ａ、４₂は制御判定回路３の選択信号
SELBにより探索領域データIN（０〜３）を選択
する選択回路Ｂである。

更に、２次元変換回路１は、レジスタ１₁に入
力された３×３画像データP0〜P8を保持し、次
に制御判定回路３からの制御信号LDによりその
出力RP4、３、２、５の４ビツト・アドレス・デ
ータを変換回路１₂に与えるとともにRP0、１、
６、７、８の５ビツトをそのまま出力する。変換
回路１₂は制御判定回路３の制御信号Ｔによりア
ドレス・データRP4、３、２、５にアドレス修飾
を行なう。選択回路Ｃ１₃は制御判定回路３から
の選択信号SELAによりレジスタ１₁の出力と変
換回路１₂の出力を切り換える。

即ち、２次元変換回路１は、入力された３×３
画像データP0〜P8について、アドレス修飾を行
なわない場合はP4→AD0、P3→AD1、P2→
AD2、P5→AD3、P0→AD4、P1→AD5、P6→
AD6、P7→AD7、P8→AD8とアドレス変換し、
アドレス修飾を行なう場合はRP4、３、２、５の
１つのビツトを強制的に“０”または“１”に変
換する。

次に、本発明の方法の概略を説明する。

本発明は、入力された３×３の２値画像データ
の注目画素を中心とする近傍８画素の値によつて
注目画素を“１”または“０”に一意に変換でき
ない場合に適用する。

はじめに、この３×３のマスク内の画素の分布
状態に基づいて次に探索すべきその注目画素を含
む３×３の２値画像データの候補領域を決定す
る。

次に、この探索領域における上記注目画素Ｐ０
を、この注目画素Ｐ０の画素値、もとの３×３の
画像データと探索領域との位置関係等について予
め定めたテータ・テーブル・メモリ２に従つて”
０”または”１”に変換する。そして、この探索
領域にマスク処理を施して得られる中心画素値”
０”または”１”、この中心画素値を有する当該
探索領域の画素値分布状態を設定したデータ・テ
ーブル・メモリ２等に従つて上記注目画素の画素
値”１”，”０”を決定する。

ここで、探索領域において変換した中心画素値
は、処理の都合上、仮想的に”１”，”０”を設定
したものであり、この中心画素値そのものを変更
するものではない。

尚、探索領域における中心画素の画素値の決定
処理、最終的に注目画素の画素値の決定処理、最
終的な注目画素の画素値の決定処理、データ・テ
ーブル・メモリ２の詳細については後述する。

ここで、注目画素Ｐ０を中心とする３×３の２
値画像データ領域をIPと定義する時、領域IPと
その探索領域Ｉ０，Ｉ１，Ｉ２，Ｉ３との位置関
係を第３図に示す。

即ち、２画素の雑音が含まれる疑いのある３×
３の画素値パターン（IP）を予め数個定義して
おき、この画素値パターン（IP）を検出した際
に探索領域Ｉ０，Ｉ１，Ｉ２，Ｉ３のいずれかを
選択する。

具体的には、第４図ａ，ｄ，ｃ，ｄに表わすよ
うに、領域IPにおける注目画素Ｐ０を中心とし
てこれに連絡する画素値”０”または”１”に従
つて、予め定めたアルゴリズムにより、Ｉ０〜Ｉ
３のいずれか１つを領域IPに対応する探索領域
として選択する。ここで、注目画素Ｐ０を中心と
して右側に雑音画素が連結する場合はＩ０(a)、下
側に雑音画素が連結する場合はＩ１ｂ、右斜め下
側に雑音画素が連結する場合Ｉ２ｃ、左斜め下側
に雑音画素が連結する場合Ｉ３ｄを探索領域とす
る。

次に、例を挙げて説明する。

予め定義した数個の３×３の画素値パターン
（IP）として、第１８図ａ，ｂ，ｃ，ｄに示す４
つのパターン例を想定し、第４図ａ，ｂ，ｃ，ｄ
の探索領域との対応関係を次のように定める。
尚、２画素の雑音を含む疑いのあるパターンとし
ては第１８図の４例に限らず、処理する側の任意
で決めてよい。

第１８図ａについては、注目画素Ｐ０”０”か
つ下側の画素Ｐ７”０”であるからこの２画素が
着目されて第４図ｂの探索領域Ｉ１が選択され
る。

第１８図ｂについては、注目画素Ｐ０”０”か
つ左斜め下側の画素Ｐ６”０”であるからこの２
画素が着目され第４図ｄの探索領域Ｉ３が選択さ
れる。

第１８図ｃについては、注目画素Ｐ０”１”か
つ左側の画素Ｐ１”１”であるからこの２画素が
着目され第４図ａの探索領域Ｉ０が選択される。

第１８図ｄについては、注目画素Ｐ０”１”か
つ右斜め下側の画素Ｐ８”１”であるからこの２
画素が着目され第４図ｃの探索ｋ域Ｉ２が選択さ
れる。

このようにして、もとの注目画素Ｐ０の画素値
に対応して探索領域が選択される。

さて、本発明のデイジタル画像処理方法を第１
図のブロツク図と第２図のフローチヤートにより
詳しく説明する。

はじめに、制御判定回路３より選択信号SELA
＝０が出力され、選択回路Ａ４₁において３×３
画像データIPがレジスタ１₁にセツトされる。そ
して、選択回路Ｃ１₃にてレジスタ１₁出力RP４，
３，２，５がアドレスAD０〜３として選択され
ると同時に、レジスタ１₁出力RP０，１，６，
７，８がアドレスAD４〜８として、アドレス
AD（AD０〜８）がデータ・テーブル・メモリ２
へ与えられる。

ここで、データ・テーブル・メモリ２は、アド
レスAADの内容に応じて５ビツト・データCO，
Ｃ１，VP，Ｌ１，Ｌ０を出力する。

出力信号Ｃ０，Ｃ１は３×３画像データの注目
画素POに対する判定結果の一部である。その具
体的な意味付けを第５図の表に示す。この表でＣ
＝（C0，C1）＝３＝（１，１）の“不定”は、３×
３画像データIPにおける注目画素Ｐ０の近傍８
画素のデータのみでは注目画素Ｐ０を“１”に変
換すべきか“０”に変換すべきか判定できないこ
とを意味する。Ｃの値により後の処理工程がで異
なり、Ｃ＝０，１，２の場合は従来の装置と同様
な雑音処理である。即ち、Ｃ＝１の場合は小突起
または孤立点の１画素雑音処理であり、Ｃ＝２の
場合は欠陥の１画素雑音処理である。

本発明は、Ｃ＝３の場合、即ち雑音が２画素以
上の場合について処理を施すものである。

Ｃ＝（C1，C0）＝（１，１）＝３の場合、制御判
定回路３は選択信号SELA＝１を出力する。同時
にデータ・テーブル・メモリ２は、注目画素Ｐ０
（“０”または“１”）の値VPと、Ｃ＝３の時にの
み有効でアドレスADの内容に応じて探索すべき
候補領域IN（Ｎ＝０〜３）を決定する制御信号Ｌ
１，Ｌ０を出力する。これらの信号VP，Ｌ１，
Ｌ０に従つて、制御判定回路３は選択信号SELB
の値を出力する。

ここで、制御信号Ｌ１，Ｌ０は第６図の表に表
わすように、Ｌ＝０〜３の値を取り、Ｌ＝０の時
はSELB＝０探索領域IN＝０、Ｌ＝１の時は
SELB＝１で探索領域IN＝１、Ｌ＝２の時は
SELB＝２で探索領域IN＝２、Ｌ＝３の時は
SELB＝３で探索領域IN＝３と選択する。これに
従つて、レジスタ１₁には指定された探索領域IN
（Ｎ＝０〜３）の３×３画像データがセツトされ
る。

次に制御判定回路３は出力信号VP、選択信号
SELBに対応した制御信号Ｔを変換回路１₂に出
力する。

制御信号Ｔ（Ｔ２，Ｔ１，Ｔ０）の値（Ｔ＝０
〜７）は第７図に示す表のように設定され、この
Ｔの値に応じて変換回路１₂は、レジスタ出力Ａ
０，１，２，３（RP４，３，２，５）に対して
その内の１ビツトのみ強制的に“０”または
“１”に変換する。

例えば、データ・テーブル・メモリ２出力VP
＝１、Ｌ＝（L1，L0）＝０の時、制御判定回路３
からSELB＝０が出力され、探索領域Ｉ０の画像
データが選択されてレジスタ１₁にセツトされる。
次に制御判定回路３からＴ＝３が出力され、変換
回路１₂においてAD0＝RP4＝P4，AD1＝RP3＝
P3，AD2＝RP2＝P2，AD3＝RP5＝０と変換さ
れる。

そして、この変換されたAD0〜３とAD4〜８
がアドレスADとしてデータ・テーブル・メモリ
２に入力される。

次に、前と同様にこの新たな画像データに対し
てマスク処理が施される。即ち、アドレスADに
従つてデータ・テーブル・メモリ２から信号Ｃ，
VP，Ｌが出力される。

このとき、制御判定回路３は、出力されたＣの
値が１または０でかつ１つ前に出力されたVPの
値が１の場合はMC＝１、Ｃの値が２または０で
かつ１つ前に出力されたVPの値が０の場合は
MC＝２、それ以外の場合はMC＝０を出力する。

そして、このMCの値に応じて第８図の表に示
す処理を、はじめに入力された３×３の２値画像
データの注目画素Ｐ０に施す。即ち、MC＝１の
場合はＰ０を“０”、MC＝２の場合はＰ０を
“１”、MC＝０の場合はＰ０を“変更なし”とす
る。

このようにして、入力された３×３の２画素の
雑音を含む２値画像データの注目画素Ｐ０に対し
て“１”、“０”を決定し、雑音除去を行なうこと
ができる。

次に、第９図ａ，ｂ，ｃ，ｄ，ｅ，ｆを用い
て、本発明の方法を実際に画像処理に利用した際
の概念を説明する。

第９図ａにおいて、デイジアル画像αに対し
て、注目画素Ｐ０を中心とする３画素×３画素の
マスクIPを制定する。

このときのＰ０〜８までの画像データを２次元
変換回路１に入力し、アドレスAD０〜８に変換
しデータ・テーブル・メモリ２より対応するデー
タを読み出す。この場合、データ・テーブル・メ
モリ２からVP＝０、Ｃ＝３、Ｌ＝１が出力され
る。

Ｃ＝３により画素PO値は不定となり、Ｌ＝１、
VP＝０より領域IPから探索領域Ｉ１が選択され
る(b)。

そして、探索領域Ｉ１が決定するｃと、領域Ｉ
１の画像データをアドレスAD０〜８としてａの
時と同様にデータ・テーブル・メモリ２を読み出
す。この場合、データ・テーブル・メモリ２から
はVP＝０、Ｔ＝５が出力される。Ｔ＝５の内容
は、探索領域Ｉ１における元の注目画素POに対
応する位置AD１を“１”に変換し、その他はそ
のままとする処理を指定するものである。この処
理によつてｂに示す画像データが作成され、この
画像データに従つて再びデータ・テーブルメモリ
２が読み出される。

データ・テーブル・メモリ２からはＣ＝２が読
み出され、この画像データはｅに示すような、１
→Q0とされた画像データとして認識される。

同時に、制御判定回路３からMC＝２が出力さ
れ、入力された元の３×３画像データIPの注目
画素Ｐ０は“１”と判定される。

第１０図ａ，ｂ，ｃ，ｄ，ｅ，ｆは、３×３画
像データにおいて大きさが２の黒画素の孤立雑音
を処理する例である。

画素Ｐ０を中心とする注目領域IPにおいて、
画素Ｐ０とその右下の画素が雑音である(d)。

この３×３画像データを２次元データに変換し
てデータ・テーブル・メモリ２に入力すると、Ｃ
＝３，VP＝１、Ｌ＝２が出力される。

そして、この画像データに対する探索領域Ｉ２
が選択される(b)。次にこの探索領域Ｉ２ｃの画像
データがデータ・テーブル・メモリ２に入力され
ると、VP＝０、Ｔ＝０が出力され、探索領域に
おけるAD０の位置に“０”（白）が書き込まれ
る(d)。

次に再び、この画像データｄがデータ・テーブ
ル・メモリ２に入力されると、Ｃ＝１が出力さ
れ、探索領域Ｉ２において０→Q0と変換される
(e)。この画像データにより、制御判定回路３から
MC＝１が出力され、元の画像データIPにおける
注目画素Ｐ０が“０”に変換される(f)。

このようにして、注目画素Ｐ０に“０”が書き
込まれ、この画素Ｐ０を雑音とみなすことができ
る。

以上に述べた本発明の方法を第１４図に示すデ
イジタル画像について施せば、第１１図のような
雑音のないデイジタル画像が得られる。

さて、以上述べた本発明のデイジタル画像処理
方法の実施例は、主として大きさが１画素及び２
画素の雑音を対象としたものであつたが、本発明
の方法はこれに限ることなく、例えば第１２図に
示すような大きさが２画素（但し幅は１画素）以
上の雑音Ａ１，Ａ２，Ｂ１，Ｂ２，Ｃ１，Ｃ２に
対して適用することもできる。

即ち、注目画素の位置に対応したデータを強制
的に“０”に変換した探索領域にマスク処理を施
した結果、その中心画素に対する判定結果が一意
に決定しない場合（第２図のフローチヤートにお
いてＣ＝３で、新たなＣの値が２または１または
０でない場合）、出力結果MCを０とする（変更
なし）のではなく、その探索領域の中心画素を新
たに注目画素として設定し、更に次の探索領域を
決定してマスク処理を施すという操作を、最初に
定めた探索領域の中心画素に対する判定結果が一
意に決定する（Ｃ＝２または１または０）まで繰
り返して実行する。

上記のように処理した例を第１３図に表わす。

以上のようにして、本発明の方法は読み込んだ
３×３の画像データの画素分布状態に応じて、注
目画素がデイジタル画像の一部であるのか、ある
いは１画素あるいは２画素以上の雑音であるのか
を判断することができる。

＜発明の結果＞ 本発明のデイジタル画像処理方法は、読み込ま
れた３×３の２値画像データの注目画素を近傍８
画素の値によつて一意的に変換できない場合、こ
のマスク内の画素分布状態に従つて次に探索すべ
き３×３の探索領域を判定し、この探索領域にお
ける前記注目画素データを変換し、探索領域の中
心画素データを決定してから、元の注目画素のデ
ータを決定するので、１画素、２画素以上の雑音
が画像データに混在している場合でもマスク処理
を行なうことができ、効率良く雑音処理を行える
デイジタル画像処理方法を実現することができ
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明のデイジタル画像処理方法を実
現するのに好適な回路構成ブロツク図、第２図は
本発明のデイジタル画像処理方法を表わすフロー
チヤート、第３図及び第４図ａ，ｂ，ｃ，ｄは注
目画素Ｐ０の３×３画像データとその探索領域を
表わす図、第５図はデータ・テーブル・メモリ２
の出力Ｃとその判定結果を表わす図、第６図はデ
ータ・テーブル・メモリ２出力VP，Ｌ，SELB
と探索領域IN（Ｎ＝０〜３）と制御判定回路３出
力Ｔの関係を示す表、第７図は制御判定回路３出
力ＴとアドレスAD０〜３の関係を示す表、第８
図は制御判定回路３の出力MCとその処理内容を
示す表、第９，１０図ａ，ｂ，ｃ，ｄ，ｅ，ｆは
本発明の方法の処理内容の概念を表わす図、第１
１図は本発明の方法をデイジタル画像について施
した際の図、第１２，１３図は本発明の方法を雑
音が２画素以上に亘る場合に適用した時の処理内
容の概念図、第１４図は雑音を含むデイジタル画
像を表わす図、第１５図は従来のデイジタル画像
処理装置の構成図、第１６図は３画素×３画素の
２値画像データの図、第１７，１８図ａ，ｂ，
ｃ，ｄは雑音を含む３×３画像データの図、第１
９図ａ，ｂ，ｃ，ｄ，ｅ，ｆ，ｇ，ｈは３×３画
像データと元の図形との関係を表す図である。 １……２次元変換回路、１₁……レジスタ、１₂
……変換回路、１₃……選択回路Ｃ、２……デー
タ・テーブル・メモリ、３……制御判定回路、４
_１……選択回路Ａ、４₂……選択回路Ｂ。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ ２値入力画像データに対して３画素×３画素
   のマスク処理を行なつて画像の形状を認識するデ
   イジタル画像処理方法において、 (イ) 注目画素を中心とする３画素×３画素の２値
   画像データを入力し、この２値画像データの画
   素値分布状態により、雑音が含まれているもの
   かデイジタル図形の一部であるか一意的に定ま
   らない不定の２値画像データであるか否かを判
   断する工程と、 (ロ) 前記工程(イ)で不定の２値画像データであると
   判断された際に、前記注目画素を中心として、
   雑音画素が右側に連結する場合は当該３画素×
   ３画素の２値画像データの１画素分右側に３画
   素×３画素の探索領域を設定し、雑音画素が下
   側に連結する場合は当該３画素×３画素の２値
   画像データの１画素分下側に３画素×３画素の
   探索領域を設定し、雑音画素が右斜め下側に連
   結する場合は当該３画素×３画素の２値画像デ
   ータの１画素分右斜め下側に３画素×３画素の
   探索領域を設定し、雑音画素が左斜め下側に連
   結する場合は当該３画素×３画素の２値画像デ
   ータの１画素分左斜め下側に３画素×３画素の
   探索領域を設定する工程と、 (ハ) 前記探索領域を、前記注目画素の元の値及び
   前記探索領域の種類により、予め定めたデー
   タ・テーブルに従う画素値 分布を有する３画素×３画素の２値画像データ
   に変換してその画素値分布状態を調べてマスク
   処理を施す工程と (ニ) 前記工程(ハ)におけるマスク処理の結果に従つ
   て前記注目画素の画素値を決定する工程と を有することを特徴とするデイジタル画像処理方
   法。 ２ 前記工程(ハ)において、変換された３画素×３
   画素の２値画像データの画素値分布状態が前記不
   定の３画素×３画素の２値画像データである場合
   に、前記工程(ロ)、(ハ)を繰り返して順次探索領域を
   選択し、当該探索領域の画素値分布が前記不定の
   ３画素×３画素の２値画像データでなくなるまで
   繰り返し実行してから前記工程(ニ)を実行し、前記
   注目画素の画素値を決定することを特徴とする特
   許請求の範囲第１項記載のデイジタル画像処理方
   法。