JPH05256751A - 曲げ試験用治具 - Google Patents

曲げ試験用治具

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JPH05256751A
JPH05256751A JP5391792A JP5391792A JPH05256751A JP H05256751 A JPH05256751 A JP H05256751A JP 5391792 A JP5391792 A JP 5391792A JP 5391792 A JP5391792 A JP 5391792A JP H05256751 A JPH05256751 A JP H05256751A
Authority
JP
Japan
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test piece
jig
test
piece
guided
Prior art date
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Pending
Application number
JP5391792A
Other languages
English (en)
Inventor
Akira Shimada
暁 島田
Hiroyuki Iwasaki
裕行 岩崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NGK Insulators Ltd
Original Assignee
NGK Insulators Ltd
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Publication date
Application filed by NGK Insulators Ltd filed Critical NGK Insulators Ltd
Priority to JP5391792A priority Critical patent/JPH05256751A/ja
Publication of JPH05256751A publication Critical patent/JPH05256751A/ja
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  • Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 治具部品点数を低減し、試験片の取り付け作
業性を容易にし、試験片の位置決めを的確にすること
で、曲げ強度試験実施を容易に行える曲げ強度試験用治
具を提供する。 【構成】 試験片1を支持する一対の棒状押しピン3、
4は、試験受け台2に形成される直線状押しピン案内溝
2e、2fに案内される。試験片1は、試験片案内溝2
gに案内される。試験片1の頂面に1点または2点荷重
を作用させる上部荷重治具8と、この上に載せられる押
え治具10とは、カバー5の貫通孔5eに案内される。
この治具によると、押しピン3、4が溝2e、2fで案
内されるためずれることはなく、この押しピン3、4の
上に試験片1が溝2gで案内されるので、試験時の試験
片1の位置ずれが解消される。また、カバー5が試験片
1に直接接触することなく、このカバー5が凸部2c、
2dにより試験片受け台2に固定されるので、試験片1
の位置ずれおよび試験片1への荷重負荷位置のずれが解
消される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、曲げ強度試験用治具に
関するもので、特に曲げ強度試験を実施する場合の試験
片のセット時の作業性を容易にするようにした曲げ強度
試験用治具に関するものである。
【0002】
【従来の技術】セラミックス等の材料の特性の基礎デー
タとして曲げ強さを測定することが一般的である。この
曲げ強さの試験法として、日本工業規格JIS R16
01に示される3点および4点曲げ強度試験法が知られ
ている。この3点および4点曲げ強度試験法を実施する
に当たっては、例えば実公平3−7804号公報、実公
平1−42025号公報に示される曲げ強度試験用治具
が知られている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
曲げ試験用治具によると、実公平3−7804号公報に
示すものは、 治具の部品点数が多いため、支点上に
試験片をセットするための作業が煩雑でありセットに長
時間を要する。また治具の構成部品全体として高価であ
る、 試験片に支点としてのピンを載せるとき、ピン
が試験片から落下しやすい、 破壊後の試験片の破面
が治具に衝突して破損しやすいので、破壊後に試験片の
破面観察を行うことが困難である、という問題がある。
【0004】また、実公平1−42025号公報に示す
ものは、前記公報に示される、、の欠点はない
が、 押しピンと試験片を直角にセットする作業が煩
雑である、 試験片を直接カバーで押さえているた
め、試験片の位置がずれやすく、また低強度品を用いた
試験ではカバーの自重が試験片にかかり、強度測定値の
誤差が大きくなる等の問題がある。
【0005】本発明は、上記問題点に鑑みてなされたも
ので、前記〜の問題点を解消したもので、治具部品
点数を低減し、試験片の取り付け作業性を容易にし、試
験片の位置決めを的確にすることで、曲げ強度試験実施
を容易に行えるようにした曲げ強度試験用治具を提供す
ることを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
の本発明による曲げ試験用治具は、試験片の底面に接触
して試験片を支持する一対の棒状押しピンと、前記押し
ピンを案内するための互いに平行な直線状押しピン案内
溝、および頂面にこの押しピン案内溝より浅溝でかつ押
しピン案内溝に直交する方向に形成される試験片案内溝
を有する試験片受け台と、前記試験片の頂面に1点また
は2点荷重を作用させる上部荷重治具と、この上部荷重
治具の頂部に載せられる押え治具と、前記上部荷重治具
と前記押え治具とを案内する貫通孔を有するとともに、
前記試験片受け台に係止する係止部を有するカバーとを
備えたことを特徴とする。
【0007】
【作用】本発明の曲げ試験用治具によると、支点として
の押しピンが溝で案内されるためずれることはなく、こ
の押しピンの上に試験片が溝で案内されるので、試験時
の試験片の位置ずれが解消される。また、カバーが試験
片に直接接触することなく、このカバーが固定ピンによ
り試験片受け台に固定されるので、試験片の位置ずれが
解消される。さらに、カバーの自重が加わらないため、
低強度品の試験も問題がない。
【0008】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。本発明の曲げ試験用治具の実施例を図1〜図3に
示す。試験片1は、角柱状のもので、幅4mm、厚さ3
mm、全長40mmの大きさである。試験片の形状およ
び大きさはこの大きさに限られるものでない。
【0009】試験片受け台2は、両端側面の底部にフラ
ンジ2a、2bを有し、このフランジ2a、2bの幅方
向中央部に後述するカバーを位置決めするための凸部2
c、2dがそれぞれ形成されている。試験片受け台2の
頂面には押しピン案内溝2e、2fが30mmの間隔を
おいて直線状に形成されている。またこの押しピン案内
溝2e、2fに直交する方向に試験片案内溝2gが直線
状に幅方向ほぼ中央部に形成されている。また押しピン
案内溝2e、2fの間の試験片受け台2の頂面には試験
後の破片を回収するための破片回収溝2hが凹状に形成
されている。
【0010】押しピン3、4は、円柱状のもので、例え
ばSiCからなり、押しピン案内溝2e、2fに案内嵌
合されている。これにより、押しピン3、4は押しピン
案内溝2e、2fからの抜け防止が図られ、しかも互い
に平行な一定間隔をおいた位置決めがなされ、試験片1
の支点ずれを防止する役割がある。カバー5は、断面コ
字状のもので、脚部5a、5bは、その長さが試験片1
との間に十分な隙間(クリアランス)Cを確保する長さ
を有する。この脚部5a、5bには、前記試験片受け台
2の凸部2c、2dに嵌合される凹部5c、5dが形成
される。凸部はカバーの位置決めができればよく、この
ような機能構造を有するものであればよい。またカバー
5の中央部には貫通孔5eが形成される。
【0011】上部荷重治具8は、前記貫通孔5eから挿
入されるもので、4点曲げではその底面に間隔10mm
をおいた2本の直線状突起である荷重作用点8a、8b
を有するとともに、その頂部が断面三角形状にとがる頂
部8cを有する。押え治具10は、底面に断面三角形状
に凹溝10aを有し、この凹溝10aの開き角は、前記
上部荷重治具8の頂部8cの開き角よりも大きい角度に
なっている。押え治具10は、前記頂部8cの直線方向
に直交する方向に断面三角形状の直線状頂部10bを有
する。この頂部10bに荷重が上部から作用させられ
る。
【0012】次にこの実施例の作用を説明する。押え治
具10の頂部10bに荷重が垂直下方に作用されると、
この荷重が上部荷重治具8から荷重作用点8a、8bを
通して試験片1に作用される。試験片1は押しピン3、
4によって支持される。荷重を増大すると、試験片1が
破壊応力に達した時、破損する。この試験片の破損は、
カバー5によってカバーされる。また試験片1の一部は
試験片回収溝2hに回収される。
【0013】前記実施例によると、試験片1が押しピン
3、4によって支持され、この押しピン3、4は直線状
の押しピン案内溝2e、2fに案内されているので位置
ずれが発生しない。また試験片1は試験片案内溝2gに
案内されているから試験片1の位置ずれも生じない。さ
らには上部荷重治具8は貫通孔5eに案内されているの
で上部荷重治具8の位置ずれも発生しない。そして隙間
Cがあることによりカバー5を取り付ける際に試験片1
とカバー5とが非接触状態であるから、試験片1自体に
カバーの自重がかからず、位置ずれの発生も防止され
る。
【0014】荷重作用時、押え治具10に鉛直下方の荷
重が作用されると、上部荷重治具8の頂部8cを伝達さ
れて荷重作用点8a、8bに均等な荷重が試験片1に作
用される。従って4点曲げ強度試験の測定結果にばらつ
きが発生しにくいので精度の高い信頼性の高い曲げ強度
試験結果が得られる。3点曲げ強度試験でも1点荷重を
作用させる上部荷重治具を用いることにより、同様な効
果が得られる。
【0015】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の曲げ試験
用治具によると、比較的部品点数の少ない曲げ強度試験
用治具になり、しかも試験片の位置ずれおよび試験片へ
の荷重負荷位置のずれを生じることがなく、試験片をセ
ットする時の作業性が極めて容易にできるという効果が
ある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例による曲げ試験用治具を示す概
略構成図である。
【図2】図1に示すA−A線断面図である。
【図3】図1に示すB−B線断面図である。
【図4】図1に示す押え治具を示す斜視図である。
【図5】図1に示す上部荷重治具を示す斜視図である。
【図6】図1に示すカバーを示す斜視図である。
【図7】図1に示す試験片受け台と押しピンをを示す斜
視図である。
【符号の説明】
1 試験片 2 試験片受け台 2c、2d 凸部 2e、2f 押しピン案内溝 2g 試験片案内溝 3、4 押しピン 5 カバー 5c、5d 係止部 8 上部荷重治具 10 押え治具

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 試験片の底面に接触して試験片を支持す
    る一対の棒状押しピンと、 前記押しピンを案内するための互いに平行な直線状押し
    ピン案内溝、および頂面にこの押しピン案内溝より浅溝
    でかつ押しピン案内溝に直交する方向に形成される試験
    片案内溝を有する試験片受け台と、 前記試験片の頂面に1点荷重または2点荷重を作用させ
    る上部荷重治具と、 この上部荷重治具の頂部に載せられる押え治具と、 前記上部荷重治具と前記押え治具とを案内する貫通孔を
    有するとともに、前記試験片受け台に係止する係止部を
    有するカバーとを備えたことを特徴とする曲げ試験用治
    具。
JP5391792A 1992-03-12 1992-03-12 曲げ試験用治具 Pending JPH05256751A (ja)

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JP5391792A JPH05256751A (ja) 1992-03-12 1992-03-12 曲げ試験用治具

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100672059B1 (ko) * 2004-12-27 2007-01-22 삼성전자주식회사 3축 굽힘 실험용 지그
CN105973697A (zh) * 2016-07-18 2016-09-28 深圳市金洲精工科技股份有限公司 用于检测棒料抗弯强度的夹具和检测方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100672059B1 (ko) * 2004-12-27 2007-01-22 삼성전자주식회사 3축 굽힘 실험용 지그
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