JPH0142025Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0142025Y2 JPH0142025Y2 JP10766185U JP10766185U JPH0142025Y2 JP H0142025 Y2 JPH0142025 Y2 JP H0142025Y2 JP 10766185 U JP10766185 U JP 10766185U JP 10766185 U JP10766185 U JP 10766185U JP H0142025 Y2 JPH0142025 Y2 JP H0142025Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- jig
- loading jig
- test piece
- point bending
- ceramics
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 34
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims description 15
- 238000013001 point bending Methods 0.000 claims description 14
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 2
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 239000003779 heat-resistant material Substances 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本考案はセラミツクスの4点曲げ強さ試験に用
いる荷重治具に関するものである。
いる荷重治具に関するものである。
(従来の技術)
耐熱材料、超硬工具、切削工具、理化学用とし
て、高温、高圧および腐食等の条件下で用いられ
るセラミツクスの性質の基礎データとして曲げ強
さを求めることが一般的である。この曲げ強さの
試験方法として、JIS R1601の3点曲げおよび4
点曲げ試験法が知られている。
て、高温、高圧および腐食等の条件下で用いられ
るセラミツクスの性質の基礎データとして曲げ強
さを求めることが一般的である。この曲げ強さの
試験方法として、JIS R1601の3点曲げおよび4
点曲げ試験法が知られている。
このうち4点曲げ試験を実施するときに使用す
る治具としては、従来第2図に示す構造のものが
知られている。第2図において、試験片受け台2
1上には30mmの間隔で支点22a,22bが設け
られ、幅4mm、厚さ3mm、全長40mmの試験片23
を支点22a,22b上に載置する。試験片23
上には、10mmの間隔で設けられた荷重点24a,
24bを有する荷重治具25を支点22a,22
bおよび荷重点24a,24bの間の距離がそれ
ぞれ10mmとなるよう載置して、その上部より荷重
を加えて試験を行なつている。
る治具としては、従来第2図に示す構造のものが
知られている。第2図において、試験片受け台2
1上には30mmの間隔で支点22a,22bが設け
られ、幅4mm、厚さ3mm、全長40mmの試験片23
を支点22a,22b上に載置する。試験片23
上には、10mmの間隔で設けられた荷重点24a,
24bを有する荷重治具25を支点22a,22
bおよび荷重点24a,24bの間の距離がそれ
ぞれ10mmとなるよう載置して、その上部より荷重
を加えて試験を行なつている。
(考案が解決しようとする問題点)
上述した構造の治具では、試験片23を受け台
21上に載置した後、荷重治具25を正確に位置
決めして試験片23上にセツトしなければならな
いため、その位置決め作業が難しく時間のかかる
欠点があつた。さらに、従来の治具はすべて金属
製であつたため、高温で試験をすることはできな
いか、または構造が複雑であるため高コストであ
り、数十回の試験で破棄される消耗品である治具
としては不適であつた。
21上に載置した後、荷重治具25を正確に位置
決めして試験片23上にセツトしなければならな
いため、その位置決め作業が難しく時間のかかる
欠点があつた。さらに、従来の治具はすべて金属
製であつたため、高温で試験をすることはできな
いか、または構造が複雑であるため高コストであ
り、数十回の試験で破棄される消耗品である治具
としては不適であつた。
本考案の目的は上述した不具合を解消して、荷
重治具の試験片に対する位置決めを簡単かつ迅速
にできると共に、高温での試験をも実施できしか
も安価なセラミツクスの4点曲げ荷重治具を提供
しようとするものである。
重治具の試験片に対する位置決めを簡単かつ迅速
にできると共に、高温での試験をも実施できしか
も安価なセラミツクスの4点曲げ荷重治具を提供
しようとするものである。
(問題点を解決するための手段)
本考案は、試験片受け台と、試験片受け台上の
押しピンと、押しピンに載置された試験片に接す
る所定の間隔で設けられた2個の荷重点をその下
面両端に有する上部荷重治具と、上部荷重治具を
通して所定の力を加える押え治具と、試験片受け
台を内装するように開口端が試験片受け台の周辺
部に係合され、かつ上部荷重治具を係合するため
の貫通孔を有する蓋体とを具えることを特徴とす
るものである。
押しピンと、押しピンに載置された試験片に接す
る所定の間隔で設けられた2個の荷重点をその下
面両端に有する上部荷重治具と、上部荷重治具を
通して所定の力を加える押え治具と、試験片受け
台を内装するように開口端が試験片受け台の周辺
部に係合され、かつ上部荷重治具を係合するため
の貫通孔を有する蓋体とを具えることを特徴とす
るものである。
(作用)
本考案は、所定の間隔(10mm)で設けられた2
個の荷重点をその両端に有する上部荷重治具と蓋
体とを、蓋体に設けた貫通孔により係合する構成
をとつているため、試験片受け台上に載置された
試験片上に上部荷重治具を載せ、蓋体の開口端を
試験片受け台に係合させるだけで、JISで規定す
る所定の4点の位置関係を達成することができ
る。また、治具全体を例えばSiCのようなセラミ
ツクスで構成しているため、高温での試験にも使
用することができる。
個の荷重点をその両端に有する上部荷重治具と蓋
体とを、蓋体に設けた貫通孔により係合する構成
をとつているため、試験片受け台上に載置された
試験片上に上部荷重治具を載せ、蓋体の開口端を
試験片受け台に係合させるだけで、JISで規定す
る所定の4点の位置関係を達成することができ
る。また、治具全体を例えばSiCのようなセラミ
ツクスで構成しているため、高温での試験にも使
用することができる。
(実施例)
第1図は本考案のセラミツクスの4点曲げ荷重
治具の一実施例を示す線図である。第1図におい
て、SiC製の試験片受け台1上には30mmの間隔で
2個の切込み部2a,2bが設けられ、その切込
み部2a,2bに押しピン3a,3bを装着す
る。この押しピン3a,3b上に幅4mm、厚さ3
mm、全長40mmの試験片4を載置すれば、JISで定
められているスパン30mmを達成できる。
治具の一実施例を示す線図である。第1図におい
て、SiC製の試験片受け台1上には30mmの間隔で
2個の切込み部2a,2bが設けられ、その切込
み部2a,2bに押しピン3a,3bを装着す
る。この押しピン3a,3b上に幅4mm、厚さ3
mm、全長40mmの試験片4を載置すれば、JISで定
められているスパン30mmを達成できる。
SiC製の上部荷重治具5は、下面に10mmの間隔
で設けられた2個の荷重点6a,6bを有すると
共にその頂部は断面が三角形の屋根形の形状を有
している。このとき頂部の三角形の角度は大きい
方が安定する。この上部荷重治具5を試験片4上
の所定位置にセツトすれば、支点と荷重点の距離
が10mmのJISで規定された位置関係を達成するこ
とができる。この上部荷重治具5を試験片4上に
位置決めするために本考案では蓋体7を使用して
いる。この蓋体7はSiCで作製され、試験片受け
台1に係合する開口端8a,8bを有すると共に
その上面中央部に上部荷重治具5と係合する貫通
孔9を有している。さらに蓋体7の下面には、貫
通孔9を含み上部荷重治具5と同じ幅の溝10を
図中長手方向に延在させ、装着時に長手方向と直
角の方向に上部荷重治具5が動かないよう位置決
めしている。上述した蓋体7を使用することによ
り、その開口端8a,8bを試験片受け台1に係
合する簡単な操作により上部荷重治具5すなわち
荷重点6a,6bを試験片4に対して正確に位置
決めできる。なお、実際に試験を実施するとき
は、上部荷重治具5の頂部と係合するSiC製の押
え治具11を設けて荷重をかけることにより、本
考案の治具に荷重が均等にかかるようにしてい
る。
で設けられた2個の荷重点6a,6bを有すると
共にその頂部は断面が三角形の屋根形の形状を有
している。このとき頂部の三角形の角度は大きい
方が安定する。この上部荷重治具5を試験片4上
の所定位置にセツトすれば、支点と荷重点の距離
が10mmのJISで規定された位置関係を達成するこ
とができる。この上部荷重治具5を試験片4上に
位置決めするために本考案では蓋体7を使用して
いる。この蓋体7はSiCで作製され、試験片受け
台1に係合する開口端8a,8bを有すると共に
その上面中央部に上部荷重治具5と係合する貫通
孔9を有している。さらに蓋体7の下面には、貫
通孔9を含み上部荷重治具5と同じ幅の溝10を
図中長手方向に延在させ、装着時に長手方向と直
角の方向に上部荷重治具5が動かないよう位置決
めしている。上述した蓋体7を使用することによ
り、その開口端8a,8bを試験片受け台1に係
合する簡単な操作により上部荷重治具5すなわち
荷重点6a,6bを試験片4に対して正確に位置
決めできる。なお、実際に試験を実施するとき
は、上部荷重治具5の頂部と係合するSiC製の押
え治具11を設けて荷重をかけることにより、本
考案の治具に荷重が均等にかかるようにしてい
る。
本考案は上述した実施例にのみ限定されるもの
でなく、幾多の変形、変更が可能である。例えば
上述した実施例ではセラミツクスとしてSiCを使
用したが他のセラミツクスを使用することもでき
る。また、上部荷重治具の頂部を断面が三角形で
屋根形のもので説明したが、同様の目的が達成で
きれば他の形状でもよい。また、荷重点距離が30
及び10mm、試験片が幅4mm、厚さ3mm、全長40mm
の場合について説明したが、荷重点距離や試験片
の寸法が変つても治具寸法の単純変更により試験
が実施できる。
でなく、幾多の変形、変更が可能である。例えば
上述した実施例ではセラミツクスとしてSiCを使
用したが他のセラミツクスを使用することもでき
る。また、上部荷重治具の頂部を断面が三角形で
屋根形のもので説明したが、同様の目的が達成で
きれば他の形状でもよい。また、荷重点距離が30
及び10mm、試験片が幅4mm、厚さ3mm、全長40mm
の場合について説明したが、荷重点距離や試験片
の寸法が変つても治具寸法の単純変更により試験
が実施できる。
(考案の効果)
以上詳細に説明したところから明らかなよう
に、本考案のセラミツクスの4点曲げ荷重治具に
よれば、蓋体を試験片受け台に係合させるという
簡単な操作により荷重治具の試験片に対する位置
決めを簡単かつ迅速に行うことができる。また、
セラミツクスを使用して治具全体を作製している
ため、高温で試験ができると共に安価かつ加工性
が良好となる。そのため、本考案の荷重治具を使
用することにより、従来時間がかかつていた曲げ
強さ試験を短時間で行なうことができる。
に、本考案のセラミツクスの4点曲げ荷重治具に
よれば、蓋体を試験片受け台に係合させるという
簡単な操作により荷重治具の試験片に対する位置
決めを簡単かつ迅速に行うことができる。また、
セラミツクスを使用して治具全体を作製している
ため、高温で試験ができると共に安価かつ加工性
が良好となる。そのため、本考案の荷重治具を使
用することにより、従来時間がかかつていた曲げ
強さ試験を短時間で行なうことができる。
第1図は本考案のセラミツクスの4点曲げ荷重
治具の一実施例を示す線図、第2図は従来の4点
曲げ荷重治具を示す線図である。 1……試験片受け台、2a,2b……切込み
部、3a,3b……押しピン、4……試験片、5
……上部荷重治具、6a,6b……荷重点、7…
…蓋体、8a,8b……開口端、9……貫通孔、
10……溝、11……押え治具。
治具の一実施例を示す線図、第2図は従来の4点
曲げ荷重治具を示す線図である。 1……試験片受け台、2a,2b……切込み
部、3a,3b……押しピン、4……試験片、5
……上部荷重治具、6a,6b……荷重点、7…
…蓋体、8a,8b……開口端、9……貫通孔、
10……溝、11……押え治具。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 1 試験片受け台と、試験片受け台上の押しピン
と、押しピンに載置された試験片に接する所定
の間隔で設けられた2個の荷重点をその下面両
端に有する上部荷重治具と、試験片受け台を内
装するように開口端が試験片受け台の周辺部に
係合され、かつ上部荷重治具を係合するための
貫通孔を有する蓋体とを具えることを特徴とす
るセラミツクスの4点曲げ荷重治具。 2 前記試験片受け台、押しピン、上部荷重治
具、蓋体がセラミツクスよりなる実用新案登録
請求の範囲第1項記載のセラミツクスの4点曲
げ荷重治具。 3 前記蓋体の貫通孔は、上下両面から直交する
方向の研削によつて作成される実用新案登録請
求の範囲第1項記載のセラミツクスの4点曲げ
荷重治具。 4 前記上部荷重治具の上面が屋根型の傾斜を有
する実用新案登録請求の範囲第1項記載のセラ
ミツクスの4点曲げ荷重治具。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10766185U JPH0142025Y2 (ja) | 1985-07-16 | 1985-07-16 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10766185U JPH0142025Y2 (ja) | 1985-07-16 | 1985-07-16 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6216453U JPS6216453U (ja) | 1987-01-31 |
| JPH0142025Y2 true JPH0142025Y2 (ja) | 1989-12-11 |
Family
ID=30984149
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10766185U Expired JPH0142025Y2 (ja) | 1985-07-16 | 1985-07-16 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0142025Y2 (ja) |
-
1985
- 1985-07-16 JP JP10766185U patent/JPH0142025Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6216453U (ja) | 1987-01-31 |
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