JPH05258903A - 電子部品 - Google Patents
電子部品Info
- Publication number
- JPH05258903A JPH05258903A JP4054940A JP5494092A JPH05258903A JP H05258903 A JPH05258903 A JP H05258903A JP 4054940 A JP4054940 A JP 4054940A JP 5494092 A JP5494092 A JP 5494092A JP H05258903 A JPH05258903 A JP H05258903A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- electronic component
- diffusing
- protective film
- reflecting
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Non-Adjustable Resistors (AREA)
- Ceramic Capacitors (AREA)
- Details Of Resistors (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 外観検査用の光を拡散反射させ、受光素子に
対する反射出力を増やし、外観検査を安定した状態で確
実に行うことができるようにした電子部品を提供する。 【構成】 光透過性の保護膜６の内面にケイ素粉末等の
光を拡散反射する成分を配して光拡散反射部５を形成す
る。レーザ光を照射した際、光拡散反射部５によりレー
ザ光を拡散反射させ、多くの反射光を受光素子に入射さ
せる。
対する反射出力を増やし、外観検査を安定した状態で確
実に行うことができるようにした電子部品を提供する。 【構成】 光透過性の保護膜６の内面にケイ素粉末等の
光を拡散反射する成分を配して光拡散反射部５を形成す
る。レーザ光を照射した際、光拡散反射部５によりレー
ザ光を拡散反射させ、多くの反射光を受光素子に入射さ
せる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、プリント基板に実装す
るのに適する電子部品に関するものである。
るのに適する電子部品に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】プリント基板に電子部品を実装した後、
電子部品の実装の有無、ずれ、横立ち等の外観検査を行
う必要がある。
電子部品の実装の有無、ずれ、横立ち等の外観検査を行
う必要がある。
【０００３】以下、従来の電子部品の構造およびこの電
子部品の実装状態の外観検査原理について図面を参照し
ながら説明する。
子部品の実装状態の外観検査原理について図面を参照し
ながら説明する。
【０００４】図７は従来の電子部品を示す一部切欠斜視
図である。図７に示す電子部品５１は微小抵抗素子であ
り、セラミックから成る基体５２の表面に膜状の抵抗体
５３が設けられ、基体５２の両端部に抵抗体５３の端部
と接続するように電極５４が設けられている。抵抗体５
３の表面は保護膜５５で覆われ、保護膜５５の表面に種
別を表示するための記号５６が捺印されている。
図である。図７に示す電子部品５１は微小抵抗素子であ
り、セラミックから成る基体５２の表面に膜状の抵抗体
５３が設けられ、基体５２の両端部に抵抗体５３の端部
と接続するように電極５４が設けられている。抵抗体５
３の表面は保護膜５５で覆われ、保護膜５５の表面に種
別を表示するための記号５６が捺印されている。
【０００５】図８は電子部品５１をプリント基板５７に
実装した状態を外観検査装置により検査する原理説明図
である。図８に示すように、電子部品５１を実装したプ
リント基板５７を紙面に対して垂直方向に走行させ、こ
の間、レーザ光源（図示省略）からレーザ光５８をプリ
ント基板５７および電子部品５１に照射させる。プリン
ト基板５７からの反射光を集光レンズ５９を介して受光
素子６０に入射させる。プリント基板５７上の電子部品
５１の保護膜５５からの反射光も集光レンズ５９を介し
て受光素子６０に入射させる。プリント基板５７と電子
部品５１とは反射箇所の高さが異なるので、それら反射
光の受光素子６０に対する入射位置６１ａ、６１ｂが異
なり、それらの位置６１ａ、６１ｂの差ｄｘを受光素子
６０が電気的に演算し、電子部品５１の高さ寸法を読み
取る。このような原理により電子部品５１の有無、ず
れ、横立ち等の外観検査を行うことができる。
実装した状態を外観検査装置により検査する原理説明図
である。図８に示すように、電子部品５１を実装したプ
リント基板５７を紙面に対して垂直方向に走行させ、こ
の間、レーザ光源（図示省略）からレーザ光５８をプリ
ント基板５７および電子部品５１に照射させる。プリン
ト基板５７からの反射光を集光レンズ５９を介して受光
素子６０に入射させる。プリント基板５７上の電子部品
５１の保護膜５５からの反射光も集光レンズ５９を介し
て受光素子６０に入射させる。プリント基板５７と電子
部品５１とは反射箇所の高さが異なるので、それら反射
光の受光素子６０に対する入射位置６１ａ、６１ｂが異
なり、それらの位置６１ａ、６１ｂの差ｄｘを受光素子
６０が電気的に演算し、電子部品５１の高さ寸法を読み
取る。このような原理により電子部品５１の有無、ず
れ、横立ち等の外観検査を行うことができる。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ような従来の電子部品５１では、レーザ光５８を照射し
た際、レーザ光５８が保護膜５５の表面部でほとんど拡
散反射をしないで正反射するため、レーザ光５８の受光
素子６０に対する反射出力が落ちたり、ハレーションを
起こしたりし、外観検査を安定した状態で確実に行うこ
とができないという問題があった。
ような従来の電子部品５１では、レーザ光５８を照射し
た際、レーザ光５８が保護膜５５の表面部でほとんど拡
散反射をしないで正反射するため、レーザ光５８の受光
素子６０に対する反射出力が落ちたり、ハレーションを
起こしたりし、外観検査を安定した状態で確実に行うこ
とができないという問題があった。
【０００７】本発明は、このような従来の問題を解決す
るものであり、外観検査用の光を拡散反射させ、受光素
子に対する反射出力を増やし、外観検査を安定した状態
で確実に行うことができるようにした電子部品を提供す
ることを目的とするものである。
るものであり、外観検査用の光を拡散反射させ、受光素
子に対する反射出力を増やし、外観検査を安定した状態
で確実に行うことができるようにした電子部品を提供す
ることを目的とするものである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するために、外観検査用の光を拡散反射することがで
きる光拡散反射部を備えたものである。
成するために、外観検査用の光を拡散反射することがで
きる光拡散反射部を備えたものである。
【０００９】そして、上記光拡散反射部として、光透過
性の保護膜の裏面に光を拡散反射する成分を配して形成
し、または保護膜の表面に光を拡散反射する成分を配し
て形成し、または光透過性の保護膜の内部に光を拡散反
射する成分を配して形成し、または保護膜の表面を荒ら
して形成し、またはセラミックの露出面により形成する
ことができる。
性の保護膜の裏面に光を拡散反射する成分を配して形成
し、または保護膜の表面に光を拡散反射する成分を配し
て形成し、または光透過性の保護膜の内部に光を拡散反
射する成分を配して形成し、または保護膜の表面を荒ら
して形成し、またはセラミックの露出面により形成する
ことができる。
【００１０】
【作用】したがって、本発明によれば、光拡散反射部を
有するので、外観検査用の光を照射した際、上記光拡散
反射部により拡散反射させ、多くの反射光を受光素子に
入射させることができる。
有するので、外観検査用の光を照射した際、上記光拡散
反射部により拡散反射させ、多くの反射光を受光素子に
入射させることができる。
【００１１】
（実施例１）以下、本発明の第１の実施例について図面
を参照しながら説明する。
を参照しながら説明する。
【００１２】図１は本発明の第１の実施例における電子
部品を示す断面図である。図１に示す電子部品１は微小
抵抗素子であり、セラミックから成る基体２の表面に膜
状の抵抗体３が設けられ、基体２の両端部に抵抗体３の
端部と接続するように電極４が設けられている。抵抗体
３の表面にはケイ素粉末等の光を拡散反射する成分から
成る光拡散反射部５が設けられ、光拡散反射部５および
電極４の表面が保護膜６で覆われている。すなわち、保
護膜６の裏面に光を拡散反射する成分が配されて光拡散
反射部５が形成されている。したがって、保護膜６は光
透過性の材料により形成されている。
部品を示す断面図である。図１に示す電子部品１は微小
抵抗素子であり、セラミックから成る基体２の表面に膜
状の抵抗体３が設けられ、基体２の両端部に抵抗体３の
端部と接続するように電極４が設けられている。抵抗体
３の表面にはケイ素粉末等の光を拡散反射する成分から
成る光拡散反射部５が設けられ、光拡散反射部５および
電極４の表面が保護膜６で覆われている。すなわち、保
護膜６の裏面に光を拡散反射する成分が配されて光拡散
反射部５が形成されている。したがって、保護膜６は光
透過性の材料により形成されている。
【００１３】以上のように構成された電子部品１の実装
状態の外観検査動作について図２に示す原理説明図を参
照しながら説明する。
状態の外観検査動作について図２に示す原理説明図を参
照しながら説明する。
【００１４】電子部品１を実装したプリント基板７を紙
面に対して垂直方向に走行させ、この間レーザ光源（図
示省略）からレーザ光８をプリント基板７および電子部
品１に照射させる。このとき、電子部品１においては、
レーザ光８は保護膜６を透過し、光拡散反射部５により
拡散反射され、多くの反射光が集光レンズ９を介して受
光素子１０に入射する。したがって、上記従来例と同様
にして電子部品１の高さ寸法を読み取り、電子部品１の
有無、ずれ、横立ち等の外観検査を行うことができる。
面に対して垂直方向に走行させ、この間レーザ光源（図
示省略）からレーザ光８をプリント基板７および電子部
品１に照射させる。このとき、電子部品１においては、
レーザ光８は保護膜６を透過し、光拡散反射部５により
拡散反射され、多くの反射光が集光レンズ９を介して受
光素子１０に入射する。したがって、上記従来例と同様
にして電子部品１の高さ寸法を読み取り、電子部品１の
有無、ずれ、横立ち等の外観検査を行うことができる。
【００１５】（実施例２）以下、本発明の第２の実施例
について図面を参照しながら説明する。
について図面を参照しながら説明する。
【００１６】図３は本発明の第２の実施例における電子
部品を示す断面図である。本実施例においては、図３に
示すように、保護膜６の表面にケイ素粉末等の光を拡散
反射する成分を配して光拡散反射部５が形成されたもの
である。したがって、本実施例における保護膜６は光透
過性である必要はない。その他の構成については上記第
１の実施例と同様であるので、同一部分には同一符号を
付してその説明を省略する。
部品を示す断面図である。本実施例においては、図３に
示すように、保護膜６の表面にケイ素粉末等の光を拡散
反射する成分を配して光拡散反射部５が形成されたもの
である。したがって、本実施例における保護膜６は光透
過性である必要はない。その他の構成については上記第
１の実施例と同様であるので、同一部分には同一符号を
付してその説明を省略する。
【００１７】（実施例３）以下、本発明の第３の実施例
について図面を参照しながら説明する。
について図面を参照しながら説明する。
【００１８】図４は本発明の第３の実施例における電子
部品を示す断面図である。本実施例においては、図４に
示すように、光透過性の材料から成る保護膜６の内部に
ケイ素粉末等の光を拡散反射する成分を配して光拡散反
射部５が形成されたものであり、その他の構成について
は上記第１の実施例と同様であるので、同一部分には同
一符号を付してその説明を省略する。
部品を示す断面図である。本実施例においては、図４に
示すように、光透過性の材料から成る保護膜６の内部に
ケイ素粉末等の光を拡散反射する成分を配して光拡散反
射部５が形成されたものであり、その他の構成について
は上記第１の実施例と同様であるので、同一部分には同
一符号を付してその説明を省略する。
【００１９】（実施例４）以下、本発明の第４の実施例
について図面を参照しながら説明する。
について図面を参照しながら説明する。
【００２０】図５は本発明の第４の実施例における電子
部品を示す断面図である。本実施例においては、図５に
示すように、保護膜６の表面を荒らした状態にして光拡
散反射部５が形成されたものである。したがって、本実
施例における保護膜６は光反射性の材料により形成され
ている。その他の構成については上記第１の実施例と同
様であるので、同一部分には同一符号を付してその説明
を省略する。
部品を示す断面図である。本実施例においては、図５に
示すように、保護膜６の表面を荒らした状態にして光拡
散反射部５が形成されたものである。したがって、本実
施例における保護膜６は光反射性の材料により形成され
ている。その他の構成については上記第１の実施例と同
様であるので、同一部分には同一符号を付してその説明
を省略する。
【００２１】（実施例５）以下、本発明の第５の実施例
について図面を参照しながら説明する。
について図面を参照しながら説明する。
【００２２】図６は本発明の第５の実施例における電子
部品を示す断面図である。本実施例においては、図６に
示すように、セラミックから成る基体２の露出面を光拡
散反射部５として用いるようにしたものである。セラミ
ックは光を拡散反射しやすいので、そのまま光拡散反射
部５として用いることができる。その他の構成について
は上記第１の実施例と同様であるので、同一部分には同
一符号を付してその説明を省略する。
部品を示す断面図である。本実施例においては、図６に
示すように、セラミックから成る基体２の露出面を光拡
散反射部５として用いるようにしたものである。セラミ
ックは光を拡散反射しやすいので、そのまま光拡散反射
部５として用いることができる。その他の構成について
は上記第１の実施例と同様であるので、同一部分には同
一符号を付してその説明を省略する。
【００２３】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、光
拡散反射部を有するので、外観検査用の光を照射した
際、上記光拡散反射部により拡散反射させ、多くの反射
光を受光素子に入射させることができる。したがって、
外観検査を安定した状態で確実に行うことができる。
拡散反射部を有するので、外観検査用の光を照射した
際、上記光拡散反射部により拡散反射させ、多くの反射
光を受光素子に入射させることができる。したがって、
外観検査を安定した状態で確実に行うことができる。
【図１】本発明の第１の実施例における電子部品の断面
図
図
【図２】同電子部品の実装状態の外観検査原理説明図
【図３】本発明の第２の実施例における電子部品の断面
図
図
【図４】本発明の第３の実施例における電子部品の断面
図
図
【図５】本発明の第４の実施例における電子部品の断面
図
図
【図６】本発明の第５の実施例における電子部品の断面
図
図
【図７】従来の電子部品の一部切欠斜視図
【図８】同電子部品の実装状態の外観検査原理説明図
１ 電子部品 ２ 基体 ３ 抵抗体 ４ 電極 ５ 光拡散反射部 ６ 保護膜
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 脊戸 卓美 神奈川県横浜市港北区綱島東四丁目３番１ 号 松下通信工業株式会社内 (72)発明者 小関 洋子 神奈川県横浜市港北区綱島東四丁目３番１ 号 松下通信工業株式会社内
Claims (6)
- 【請求項１】 外観検査用の光を拡散反射することがで
きる光拡散反射部を有する電子部品。 - 【請求項２】 光拡散反射部が光透過性の保護膜の裏面
に光を拡散反射する成分を配して形成された請求項１記
載の電子部品。 - 【請求項３】 光拡散反射部が保護膜の表面に光を拡散
反射する成分を配して形成された請求項１記載の電子部
品。 - 【請求項４】 光拡散反射部が光透過性の保護膜の内部
に光を拡散反射する成分を配して形成された請求項１記
載の電子部品。 - 【請求項５】 光拡散反射部が保護膜の表面を荒らして
形成された請求項１記載の電子部品。 - 【請求項６】 光拡散反射部がセラミックの露出面であ
る請求項１記載の電子部品。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4054940A JPH05258903A (ja) | 1992-03-13 | 1992-03-13 | 電子部品 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4054940A JPH05258903A (ja) | 1992-03-13 | 1992-03-13 | 電子部品 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05258903A true JPH05258903A (ja) | 1993-10-08 |
Family
ID=12984642
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4054940A Pending JPH05258903A (ja) | 1992-03-13 | 1992-03-13 | 電子部品 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05258903A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4837646A (en) * | 1982-01-13 | 1989-06-06 | Hitachi, Ltd. | Tape guide apparatus for helically wound tape |
-
1992
- 1992-03-13 JP JP4054940A patent/JPH05258903A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4837646A (en) * | 1982-01-13 | 1989-06-06 | Hitachi, Ltd. | Tape guide apparatus for helically wound tape |
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