JPH05264642A - ケーブルの劣化診断方法 - Google Patents
ケーブルの劣化診断方法Info
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- JPH05264642A JPH05264642A JP9364192A JP9364192A JPH05264642A JP H05264642 A JPH05264642 A JP H05264642A JP 9364192 A JP9364192 A JP 9364192A JP 9364192 A JP9364192 A JP 9364192A JP H05264642 A JPH05264642 A JP H05264642A
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- Testing Relating To Insulation (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【構成】 試料ケーブルの充電電流から容量成分を打ち
消して、損失電流を求め、評価の基準とする。損失電流
は周波数解析を行ない、その周波数成分中、第３高調波
成分のレベルに着目する。同一条件で試験をした場合、
正常なケーブルと劣化したケーブルの第３高調波成分の
レベルには、比較的大きな相違がある。また、劣化した
ケーブルについては絶縁体に印加する試験電圧が高まる
と、上記第３高調波成分のレベルが著しく上昇する。 【効果】 損失電流の第３高調波成分のレベルを比較す
ることによって、高電圧ケーブルについて、従来のｔａ
ｎδ等の比較をするよりも、劣化の程度を明確に確実に
診断できる。
消して、損失電流を求め、評価の基準とする。損失電流
は周波数解析を行ない、その周波数成分中、第３高調波
成分のレベルに着目する。同一条件で試験をした場合、
正常なケーブルと劣化したケーブルの第３高調波成分の
レベルには、比較的大きな相違がある。また、劣化した
ケーブルについては絶縁体に印加する試験電圧が高まる
と、上記第３高調波成分のレベルが著しく上昇する。 【効果】 損失電流の第３高調波成分のレベルを比較す
ることによって、高電圧ケーブルについて、従来のｔａ
ｎδ等の比較をするよりも、劣化の程度を明確に確実に
診断できる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ケーブル絶縁体の劣化
の程度を診断するケーブルの劣化診断方法に関する。
の程度を診断するケーブルの劣化診断方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】送電線、配電線等に利用される高電圧ケ
ーブルは高い信頼性が要求される。従って、これらのケ
ーブルは定期的に各種の電気特性検査が行なわれる。ま
た、より信頼性の高い高電圧ケーブルを製造するため
に、環境試験や耐電圧試験が行なわれる。このような場
合にもケーブルの絶縁体についてその絶縁特性等を含め
たケーブルの劣化診断が行なわれる。ケーブルの劣化診
断方法としては、破壊検査と非破壊検査とがある。布設
されたケーブルの定期検査等の場合、被破壊検査を行な
う。
ーブルは高い信頼性が要求される。従って、これらのケ
ーブルは定期的に各種の電気特性検査が行なわれる。ま
た、より信頼性の高い高電圧ケーブルを製造するため
に、環境試験や耐電圧試験が行なわれる。このような場
合にもケーブルの絶縁体についてその絶縁特性等を含め
たケーブルの劣化診断が行なわれる。ケーブルの劣化診
断方法としては、破壊検査と非破壊検査とがある。布設
されたケーブルの定期検査等の場合、被破壊検査を行な
う。
【０００３】図７に従来の非破壊検査によるケーブルの
劣化診断方法説明図を示す。図（ａ）に示したケーブル
１は、シース２、遮蔽３、絶縁体４及び導体５を有して
いる。このケーブル１の絶縁体４についてその劣化診断
を行なう場合、導体５と遮蔽３との間に試験用の高電圧
を印加する。ここで（ｂ）に示すように、ケーブルはコ
ンデンサ６として表わすことができ、電源７を接続する
と、ここに充電電流Ｉが流れる。ケーブル１が絶縁体４
に劣化のない理想的なコンデンサの場合には、この充電
電流Ｉは電源電圧と９０゜位相がずれたものとなる。し
かしながら、一般には図の（ｃ）に示したような等価回
路でケーブルを表わすことができる。即ち、ケーブルは
コンデンサＣｘと抵抗Ｒｘとの並列回路で表わすことが
できる。従って、ケーブルの充電電流Ｉは、コンデンサ
Ｃｘに流れる電流Ｉｃと抵抗Ｒｘに流れる電流Ｉｒとに
区別できる。この電流ＩｃとＩｒの大きさの比が、誘電
正接、即ちｔａｎδとして、従来ケーブルの劣化の程度
を評価する指標となっていた。
劣化診断方法説明図を示す。図（ａ）に示したケーブル
１は、シース２、遮蔽３、絶縁体４及び導体５を有して
いる。このケーブル１の絶縁体４についてその劣化診断
を行なう場合、導体５と遮蔽３との間に試験用の高電圧
を印加する。ここで（ｂ）に示すように、ケーブルはコ
ンデンサ６として表わすことができ、電源７を接続する
と、ここに充電電流Ｉが流れる。ケーブル１が絶縁体４
に劣化のない理想的なコンデンサの場合には、この充電
電流Ｉは電源電圧と９０゜位相がずれたものとなる。し
かしながら、一般には図の（ｃ）に示したような等価回
路でケーブルを表わすことができる。即ち、ケーブルは
コンデンサＣｘと抵抗Ｒｘとの並列回路で表わすことが
できる。従って、ケーブルの充電電流Ｉは、コンデンサ
Ｃｘに流れる電流Ｉｃと抵抗Ｒｘに流れる電流Ｉｒとに
区別できる。この電流ＩｃとＩｒの大きさの比が、誘電
正接、即ちｔａｎδとして、従来ケーブルの劣化の程度
を評価する指標となっていた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記のよう
な従来のケーブルの劣化診断方法は、例えば２２ｋＶ級
程度を越える高圧ＣＶケーブルについては十分に実用的
な指標にならないという問題があった。即ち、例えば既
に布設され使用されている高電圧ケーブルについて、そ
の劣化の程度を診断し、交換を必要とするか否かの判断
を行なうような場合、ｔａｎδの差があまり顕著でな
く、健全なケーブルと絶縁劣化が生じたケーブルとを見
分ける明確な線引きが難しいという問題があった。本発
明は以上の点に着目してなされたもので、高電圧ケーブ
ルについてその絶縁体等の電気特性劣化の程度を非破壊
検査するケーブルの劣化診断方法を提供することを目的
とするものである。
な従来のケーブルの劣化診断方法は、例えば２２ｋＶ級
程度を越える高圧ＣＶケーブルについては十分に実用的
な指標にならないという問題があった。即ち、例えば既
に布設され使用されている高電圧ケーブルについて、そ
の劣化の程度を診断し、交換を必要とするか否かの判断
を行なうような場合、ｔａｎδの差があまり顕著でな
く、健全なケーブルと絶縁劣化が生じたケーブルとを見
分ける明確な線引きが難しいという問題があった。本発
明は以上の点に着目してなされたもので、高電圧ケーブ
ルについてその絶縁体等の電気特性劣化の程度を非破壊
検査するケーブルの劣化診断方法を提供することを目的
とするものである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明の第１発明は、ケ
ーブルの絶縁体に交流電圧を印加し、その充電電流を測
定して、前記充電電流のうちの容量成分を打ち消して、
損失電流を求め、この損失電流の周波数成分中、第３高
調波成分のレベルを、正常なケーブルのレベルと比較し
て、前記ケーブルの絶縁劣化の程度を判定することを特
徴とするケーブルの劣化診断方法に関する。本発明の第
２発明は、ケーブルの絶縁体に電圧値の異なる少なくと
も２種の交流電圧を印加し、その充電電流を測定して、
前記各充電電流のうちの容量成分を打ち消して、それぞ
れその損失電流を求め、この損失電流の周波数成分中、
第３高調波成分のレベルを相互に比較して、前記ケーブ
ルの絶縁劣化の程度を判定することを特徴とするケーブ
ルの劣化診断方法に関する。
ーブルの絶縁体に交流電圧を印加し、その充電電流を測
定して、前記充電電流のうちの容量成分を打ち消して、
損失電流を求め、この損失電流の周波数成分中、第３高
調波成分のレベルを、正常なケーブルのレベルと比較し
て、前記ケーブルの絶縁劣化の程度を判定することを特
徴とするケーブルの劣化診断方法に関する。本発明の第
２発明は、ケーブルの絶縁体に電圧値の異なる少なくと
も２種の交流電圧を印加し、その充電電流を測定して、
前記各充電電流のうちの容量成分を打ち消して、それぞ
れその損失電流を求め、この損失電流の周波数成分中、
第３高調波成分のレベルを相互に比較して、前記ケーブ
ルの絶縁劣化の程度を判定することを特徴とするケーブ
ルの劣化診断方法に関する。
【０００６】
【作用】この方法では、試料ケーブルや布設後の被検査
ケーブルの充電電流から容量成分を打ち消して、損失電
流を求め、評価の基準とする。損失電流は周波数解析を
行ない、その周波数成分中、第３高調波成分のレベルに
着目する。同一条件で試験をした場合、正常なケーブル
と劣化したケーブルの第３高調波成分のレベルには、比
較的大きな相違がある。また、劣化したケーブルについ
ては絶縁体に印加する試験電圧が高まると、上記第３高
調波成分のレベルが著しく上昇する。こうして、損失電
流の第３高調波成分のレベルを比較することによって、
高電圧ケーブルについて従来のようにｔａｎδ等の比較
をするよりも健全なケーブルと劣化したケーブルの示す
値が大きく相違し、劣化の程度を明確に確実に診断でき
る。
ケーブルの充電電流から容量成分を打ち消して、損失電
流を求め、評価の基準とする。損失電流は周波数解析を
行ない、その周波数成分中、第３高調波成分のレベルに
着目する。同一条件で試験をした場合、正常なケーブル
と劣化したケーブルの第３高調波成分のレベルには、比
較的大きな相違がある。また、劣化したケーブルについ
ては絶縁体に印加する試験電圧が高まると、上記第３高
調波成分のレベルが著しく上昇する。こうして、損失電
流の第３高調波成分のレベルを比較することによって、
高電圧ケーブルについて従来のようにｔａｎδ等の比較
をするよりも健全なケーブルと劣化したケーブルの示す
値が大きく相違し、劣化の程度を明確に確実に診断でき
る。
【０００７】
【実施例】以下、本発明を図の実施例を用いて詳細に説
明する。図１は、本発明の方法実施のための測定装置ブ
ロック図である。図において、この実施例では診断対象
となる試料ケーブルをコンデンサＣｘとして表わし、比
較のための標準コンデンサをコンデンサＣｓとして表わ
した。これらには電源５により試験用の高電圧が印加さ
れる。これらの充電電流はいずれもシェーリングブリッ
ジ１１に入力されるよう結線されている。この装置はこ
の他に、シェーリングブリッジ１１の出力を受け入れる
損失電流検出部１２、損出電流検出部１２の出力から損
失電流の周波数解析を行なう周波数解析部１３と、その
結果を表示する表示部１４を備えている。
明する。図１は、本発明の方法実施のための測定装置ブ
ロック図である。図において、この実施例では診断対象
となる試料ケーブルをコンデンサＣｘとして表わし、比
較のための標準コンデンサをコンデンサＣｓとして表わ
した。これらには電源５により試験用の高電圧が印加さ
れる。これらの充電電流はいずれもシェーリングブリッ
ジ１１に入力されるよう結線されている。この装置はこ
の他に、シェーリングブリッジ１１の出力を受け入れる
損失電流検出部１２、損出電流検出部１２の出力から損
失電流の周波数解析を行なう周波数解析部１３と、その
結果を表示する表示部１４を備えている。
【０００８】表示部１４には損失電流の解析結果１５が
表示される。表示部１４は例えばディスプレイやプリン
タ等から構成され、解析結果１５がブラウン管上に表示
されたり、印刷用紙上に印刷される。この解析結果１５
には、後で図５を用いて説明する損失電流の周波数成分
が表示されている。本発明においては、ここに表示され
たような高調波成分Ｓ１，Ｓ３，Ｓ５，Ｓ７のうち第３
高調波成分Ｓ３に着目して、そのレベルからケーブルの
劣化診断を行なう。例えば、電源５が６０Ｈｚの交流電
圧を発生する場合には、損失電流中の１８０Ｈｚの成分
に着目して、そのレベルからケーブルの劣化診断を行な
うことになる。
表示される。表示部１４は例えばディスプレイやプリン
タ等から構成され、解析結果１５がブラウン管上に表示
されたり、印刷用紙上に印刷される。この解析結果１５
には、後で図５を用いて説明する損失電流の周波数成分
が表示されている。本発明においては、ここに表示され
たような高調波成分Ｓ１，Ｓ３，Ｓ５，Ｓ７のうち第３
高調波成分Ｓ３に着目して、そのレベルからケーブルの
劣化診断を行なう。例えば、電源５が６０Ｈｚの交流電
圧を発生する場合には、損失電流中の１８０Ｈｚの成分
に着目して、そのレベルからケーブルの劣化診断を行な
うことになる。
【０００９】図２、図３及び図４を用いて、図１に示し
たシェーリングブリッジ１１と損失電流検出部１２の構
成及び動作を説明する。まず、図２は、図１に示した装
置の試料ケーブル周辺の等価回路である。試料ケーブル
は先に図７を用いて説明したようにコンデンサＣｘと抵
抗Ｒｘの並列回路から構成されると考えられる。図１に
示した装置では、この試験ケーブルに対し標準コンデン
サＣｓが並列に電気接続されている。電源５は保護抵抗
ｒを介して試料ケーブル及び標準コンデンサに対し所定
の高電圧を印加する。なお、上記試料ケーブルのコンデ
ンサＣｘに流れる電流をＩxcとし、抵抗Ｒｘに流れる電
流をＩxrとし、標準コンデンサに流れる電流をＩｓとす
る。図１に示すシェーリングブリッジ１１及び損失電流
検出部１２においては、例えば次のような処理を行なっ
て損失電流を求める。
たシェーリングブリッジ１１と損失電流検出部１２の構
成及び動作を説明する。まず、図２は、図１に示した装
置の試料ケーブル周辺の等価回路である。試料ケーブル
は先に図７を用いて説明したようにコンデンサＣｘと抵
抗Ｒｘの並列回路から構成されると考えられる。図１に
示した装置では、この試験ケーブルに対し標準コンデン
サＣｓが並列に電気接続されている。電源５は保護抵抗
ｒを介して試料ケーブル及び標準コンデンサに対し所定
の高電圧を印加する。なお、上記試料ケーブルのコンデ
ンサＣｘに流れる電流をＩxcとし、抵抗Ｒｘに流れる電
流をＩxrとし、標準コンデンサに流れる電流をＩｓとす
る。図１に示すシェーリングブリッジ１１及び損失電流
検出部１２においては、例えば次のような処理を行なっ
て損失電流を求める。
【００１０】図３に損失電流検出回路ブロック図を示
す。図において、図２に示した試料ケーブルに流れる充
電電流Ｉｘと標準コンデンサに流れる充電電流Ｉｓと
は、いずれもＩ／Ｖ変換部２１、２２に入力する。各Ｉ
／Ｖ変換部２１、２２により、各充電電流に対応する信
号電圧が得られる。Ｉ／Ｖ変換部２１の出力信号は、演
算部２６に入力する。また、Ｉ／Ｖ変換部２２の出力信
号は２分されて、９０゜シフト回路２３と位相反転回路
２４に入力する。９０゜シフト回路２３の出力はもう１
つの位相反転回路２５に入力し、２つの位相反転回路２
４、２５の出力はそれぞれ演算部２６に入力する。演算
部２６はこれらの信号を受け入れて損失電流Ｉxrを得る
構成となっている。
す。図において、図２に示した試料ケーブルに流れる充
電電流Ｉｘと標準コンデンサに流れる充電電流Ｉｓと
は、いずれもＩ／Ｖ変換部２１、２２に入力する。各Ｉ
／Ｖ変換部２１、２２により、各充電電流に対応する信
号電圧が得られる。Ｉ／Ｖ変換部２１の出力信号は、演
算部２６に入力する。また、Ｉ／Ｖ変換部２２の出力信
号は２分されて、９０゜シフト回路２３と位相反転回路
２４に入力する。９０゜シフト回路２３の出力はもう１
つの位相反転回路２５に入力し、２つの位相反転回路２
４、２５の出力はそれぞれ演算部２６に入力する。演算
部２６はこれらの信号を受け入れて損失電流Ｉxrを得る
構成となっている。
【００１１】図４に図３の回路の動作原理説明図を示
す。図４の左側部分に示すように、試料ケーブルに流れ
る電流Ｉｘは、その容量成分Ｉxcと損失電流Ｉxrのベク
トル和である。ここで、図３に示す位相反転回路２４
は、標準コンデンサＣｓの充電電流Ｉｓを１８０゜位相
反転する。一方、図３に示す９０゜シフト回路２３と位
相反転回路２５とは、標準コンデンサＣｓの充電電流Ｉ
ｓを９０゜シフトさせ電圧信号と同相にし、演算部２６
に入力させる。演算部２６においては、位相反転回路２
４及び２５の入力信号を用いて、図４の中央部分に示す
ｋ×Ｉｓに相当する電流ベクトルを求める。このｋ×Ｉ
ｓは、試料ケーブルの容量成分電流Ｉxcをベクトル的に
丁度打ち消す大きさの電流である。従って、図４の中央
に示したようなベクトル和を求めれば、損失電流Ｉxrが
求められる。
す。図４の左側部分に示すように、試料ケーブルに流れ
る電流Ｉｘは、その容量成分Ｉxcと損失電流Ｉxrのベク
トル和である。ここで、図３に示す位相反転回路２４
は、標準コンデンサＣｓの充電電流Ｉｓを１８０゜位相
反転する。一方、図３に示す９０゜シフト回路２３と位
相反転回路２５とは、標準コンデンサＣｓの充電電流Ｉ
ｓを９０゜シフトさせ電圧信号と同相にし、演算部２６
に入力させる。演算部２６においては、位相反転回路２
４及び２５の入力信号を用いて、図４の中央部分に示す
ｋ×Ｉｓに相当する電流ベクトルを求める。このｋ×Ｉ
ｓは、試料ケーブルの容量成分電流Ｉxcをベクトル的に
丁度打ち消す大きさの電流である。従って、図４の中央
に示したようなベクトル和を求めれば、損失電流Ｉxrが
求められる。
【００１２】演算部２６においてはさらにこの損失電流
Ｉxrを打ち消すような電流成分Ｉｒを得る演算を行な
う。その結果、演算部２６の出力はゼロとなり、その出
力をゼロになるようにしたＩｒを損失電流Ｉxrとして図
１に示す周波数解析部１３に向け出力する。周波数解析
部１３においては、このようにして求められた損失電流
Ｉxrをよく知られた周波数解析装置を用いて解析処理
し、例えば図５に示すような解析結果を得る。
Ｉxrを打ち消すような電流成分Ｉｒを得る演算を行な
う。その結果、演算部２６の出力はゼロとなり、その出
力をゼロになるようにしたＩｒを損失電流Ｉxrとして図
１に示す周波数解析部１３に向け出力する。周波数解析
部１３においては、このようにして求められた損失電流
Ｉxrをよく知られた周波数解析装置を用いて解析処理
し、例えば図５に示すような解析結果を得る。
【００１３】図５は損失電流の周波数解析結果を示すグ
ラフである。このグラフの横軸は周波数を単位［Ｈｚ］
でとり、縦軸は損失電流の周波数成分信号レベルを単位
［ｄＢ］でとったものである。このグラフには多数の高
調波成分Ｓ１，Ｓ３，Ｓ５，Ｓ７が表れている。基本波
の偶数倍の成分は打ち消されるため奇数倍の成分がこの
解析結果に現われる。ここで、本発明においてはこの解
析結果の中から第３高調波Ｓ３のレベルに着目する。本
発明者等の実験によれば、この第３高調波成分のレベル
はケーブル絶縁体の劣化の程度によく追従し、これまで
知られているその他の各種の指標に比べ、より明確に劣
化の度合を判定する基準となることがわかった。
ラフである。このグラフの横軸は周波数を単位［Ｈｚ］
でとり、縦軸は損失電流の周波数成分信号レベルを単位
［ｄＢ］でとったものである。このグラフには多数の高
調波成分Ｓ１，Ｓ３，Ｓ５，Ｓ７が表れている。基本波
の偶数倍の成分は打ち消されるため奇数倍の成分がこの
解析結果に現われる。ここで、本発明においてはこの解
析結果の中から第３高調波Ｓ３のレベルに着目する。本
発明者等の実験によれば、この第３高調波成分のレベル
はケーブル絶縁体の劣化の程度によく追従し、これまで
知られているその他の各種の指標に比べ、より明確に劣
化の度合を判定する基準となることがわかった。
【００１４】図６に、実際にケーブルの劣化診断を行な
った場合に得られた２種の指標を比較した説明図を示
す。一方の指標は従来採用されていたｔａｎδ、もう一
方の指標は本発明により採用する第３高調波である。試
料ケーブルにはいずれも、２２ｋＶのＣＶケーブルを使
用した。図において、試料（１）は絶縁体内に水トリー
が認められ交換を必要とするような劣化したケーブルで
ある。また、試料（２）は既に１０年間使用されたケー
ブルでまだ健全なケーブルである。また、試料（３）は
製造されたばかりの新品の健全なケーブルである。
った場合に得られた２種の指標を比較した説明図を示
す。一方の指標は従来採用されていたｔａｎδ、もう一
方の指標は本発明により採用する第３高調波である。試
料ケーブルにはいずれも、２２ｋＶのＣＶケーブルを使
用した。図において、試料（１）は絶縁体内に水トリー
が認められ交換を必要とするような劣化したケーブルで
ある。また、試料（２）は既に１０年間使用されたケー
ブルでまだ健全なケーブルである。また、試料（３）は
製造されたばかりの新品の健全なケーブルである。
【００１５】これらについて、試験電圧を１．５ｋＶに
して印加した場合と、４．５ｋＶにして印加した場合に
おけるｔａｎδの変化と第３高調波の変化を比較してい
る。尚、ｔａｎδは単位をパーセントで示し、第３高調
波については、ケーブルの条長を考慮に入れるため、第
３高調波のレベルを静電容量で除した値を比較した。こ
の図の電圧特性比と表示した欄は２種の試験電圧におけ
る各指標の値の比を示したものである。
して印加した場合と、４．５ｋＶにして印加した場合に
おけるｔａｎδの変化と第３高調波の変化を比較してい
る。尚、ｔａｎδは単位をパーセントで示し、第３高調
波については、ケーブルの条長を考慮に入れるため、第
３高調波のレベルを静電容量で除した値を比較した。こ
の図の電圧特性比と表示した欄は２種の試験電圧におけ
る各指標の値の比を示したものである。
【００１６】図６を見てわかるように、試験電圧が１．
５ｋＶの場合でも４．５ｋＶの場合でも、ｔａｎδと第
３高調波が、それぞれ劣化の程度に応じて変化し、劣化
診断の指標となることがわかる。尚、この実験に用いた
２２ｋＶＣＶケーブルについて、第３高調波以外の周波
数成分については、このような著しい変化は見られなか
った。また、上記のように、健全なケーブルと実際に劣
化を生じたケーブルとを同じ条件で試験した結果を比較
して第３高調波成分のレベルの変化をとらえることがで
きるが、同一のケーブルについて試験電圧を高めた場合
にも、劣化の程度に応じて第３高調波成分のレベルが著
しく変化する。
５ｋＶの場合でも４．５ｋＶの場合でも、ｔａｎδと第
３高調波が、それぞれ劣化の程度に応じて変化し、劣化
診断の指標となることがわかる。尚、この実験に用いた
２２ｋＶＣＶケーブルについて、第３高調波以外の周波
数成分については、このような著しい変化は見られなか
った。また、上記のように、健全なケーブルと実際に劣
化を生じたケーブルとを同じ条件で試験した結果を比較
して第３高調波成分のレベルの変化をとらえることがで
きるが、同一のケーブルについて試験電圧を高めた場合
にも、劣化の程度に応じて第３高調波成分のレベルが著
しく変化する。
【００１７】即ち、ｔａｎδについては、試験電圧を上
昇させてもそれほど著しい増加は見られないが、第３高
調波については、かなり大きな増加が見られる。従っ
て、高電圧ケーブルほど第３高調波成分のレベルを指標
とする劣化診断の実用性が高いことがわかる。また、試
験電圧を増加させた場合の第３高調波成分のレベルの増
加率について一定の基準値を設けておけば、新品のケー
ブルと比較することなくただちに各ケーブルの絶縁劣化
診断を行なうことも可能である。本発明は以上の実施例
に限定されない。本発明の方法を実施するための測定装
置の構成や解析結果を得る手段については、従来よく知
られている各種の測定手段を用いることが可能である。
昇させてもそれほど著しい増加は見られないが、第３高
調波については、かなり大きな増加が見られる。従っ
て、高電圧ケーブルほど第３高調波成分のレベルを指標
とする劣化診断の実用性が高いことがわかる。また、試
験電圧を増加させた場合の第３高調波成分のレベルの増
加率について一定の基準値を設けておけば、新品のケー
ブルと比較することなくただちに各ケーブルの絶縁劣化
診断を行なうことも可能である。本発明は以上の実施例
に限定されない。本発明の方法を実施するための測定装
置の構成や解析結果を得る手段については、従来よく知
られている各種の測定手段を用いることが可能である。
【００１８】
【発明の効果】以上説明した本発明のケーブル劣化診断
方法は、ケーブル絶縁体に交流電圧を印加し、その充電
電流の内の容量成分を打ち消して損失電流を求め、高調
波成分のレベルを比較してケーブルの劣化の程度を判定
するようにしたので、特に高電圧ケーブルについて、従
来の指標に比べその変動が顕著で、確実な信頼性の高い
診断が実施できる。また、同一のケーブルについて２種
の互いに異なる交流電圧を印加し、それぞれの場合の第
３高調波成分のレベルを比較することにより劣化診断を
行なうようにすれば、従来の診断のための指標に比べ
て、より明確な変化をとらえて診断を実施できるという
効果がある。
方法は、ケーブル絶縁体に交流電圧を印加し、その充電
電流の内の容量成分を打ち消して損失電流を求め、高調
波成分のレベルを比較してケーブルの劣化の程度を判定
するようにしたので、特に高電圧ケーブルについて、従
来の指標に比べその変動が顕著で、確実な信頼性の高い
診断が実施できる。また、同一のケーブルについて２種
の互いに異なる交流電圧を印加し、それぞれの場合の第
３高調波成分のレベルを比較することにより劣化診断を
行なうようにすれば、従来の診断のための指標に比べ
て、より明確な変化をとらえて診断を実施できるという
効果がある。
【図１】本発明の方法実施のための測定装置ブロック図
である。
である。
【図２】試料ケーブル周辺の等価回路結線図である。
【図３】損失電流検出回路ブロック図である。
【図４】損失電流検出動作原理説明図である。
【図５】損失電流の周波数解析結果を示すグラフであ
る。
る。
【図６】劣化診断の指標比較説明図である。
【図７】従来のケーブルの劣化診断方法説明図である。
５ 電源 １１ シェーリングブリッジ １２ 損失電流検出部 １３ 周波数解析部 １４ 表示部 １５ 解析結果 Ｓ３ 第３高調波成分
Claims (2)
- 【請求項１】 ケーブルの絶縁体に交流電圧を印加し、
その充電電流を測定して、 前記充電電流のうちの容量成分を打ち消して、損失電流
を求め、 この損失電流の周波数成分中、第３高調波成分のレベル
を、正常なケーブルのレベルと比較して、前記ケーブル
の絶縁劣化の程度を判定することを特徴とするケーブル
の劣化診断方法。 - 【請求項２】 ケーブルの絶縁体に電圧値の異なる少な
くとも２種の交流電圧を印加し、その充電電流を測定し
て、 前記各充電電流のうちの容量成分を打ち消して、それぞ
れその損失電流を求め、 この損失電流の周波数成分中、第３高調波成分のレベル
を相互に比較して、前記ケーブルの絶縁劣化の程度を判
定することを特徴とするケーブルの劣化診断方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9364192A JPH05264642A (ja) | 1992-03-19 | 1992-03-19 | ケーブルの劣化診断方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9364192A JPH05264642A (ja) | 1992-03-19 | 1992-03-19 | ケーブルの劣化診断方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05264642A true JPH05264642A (ja) | 1993-10-12 |
Family
ID=14087991
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9364192A Pending JPH05264642A (ja) | 1992-03-19 | 1992-03-19 | ケーブルの劣化診断方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05264642A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1999053329A1 (fr) * | 1998-04-14 | 1999-10-21 | The Furukawa Electric Co., Ltd. | Procede pour diagnostiquer la deterioration d'un cable electrique |
| US6361378B1 (en) | 1999-01-11 | 2002-03-26 | Sumitomo Wiring Systems, Ltd. | Connector with a side retainer |
| WO2003091743A1 (en) | 2002-04-26 | 2003-11-06 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Method for diagnosing deterioration of coil and system for diagnosing deterioration of coil |
| JP2009206237A (ja) * | 2008-02-27 | 2009-09-10 | Tokyo Electric Power Co Inc:The | クエンチ検出装置 |
-
1992
- 1992-03-19 JP JP9364192A patent/JPH05264642A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1999053329A1 (fr) * | 1998-04-14 | 1999-10-21 | The Furukawa Electric Co., Ltd. | Procede pour diagnostiquer la deterioration d'un cable electrique |
| US6361378B1 (en) | 1999-01-11 | 2002-03-26 | Sumitomo Wiring Systems, Ltd. | Connector with a side retainer |
| WO2003091743A1 (en) | 2002-04-26 | 2003-11-06 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Method for diagnosing deterioration of coil and system for diagnosing deterioration of coil |
| EP1503218A4 (en) * | 2002-04-26 | 2005-10-12 | Toshiba Kk | METHOD FOR DIAGNOSIS OF THE SPILLAGE OF A COIL AND SYSTEM FOR DIAGNOSIS OF THE INJURY OF A COIL |
| EP1757948A2 (en) | 2002-04-26 | 2007-02-28 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Coil deterioration diagnostic method and coil deterioration diagnostic apparatus |
| EP1757948A3 (en) * | 2002-04-26 | 2007-03-07 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Coil deterioration diagnostic method and coil deterioration diagnostic apparatus |
| JP2009206237A (ja) * | 2008-02-27 | 2009-09-10 | Tokyo Electric Power Co Inc:The | クエンチ検出装置 |
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