JPH05266429A - 薄膜磁気ヘッド - Google Patents
薄膜磁気ヘッドInfo
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- JPH05266429A JPH05266429A JP9162292A JP9162292A JPH05266429A JP H05266429 A JPH05266429 A JP H05266429A JP 9162292 A JP9162292 A JP 9162292A JP 9162292 A JP9162292 A JP 9162292A JP H05266429 A JPH05266429 A JP H05266429A
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- Japan
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- thin film
- pole portion
- magnetic head
- film
- tip
- Prior art date
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-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/127—Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
- G11B5/31—Structure or manufacture of heads, e.g. inductive using thin films
- G11B5/3109—Details
- G11B5/3116—Shaping of layers, poles or gaps for improving the form of the electrical signal transduced, e.g. for shielding, contour effect, equalizing, side flux fringing, cross talk reduction between heads or between heads and information tracks
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/02—Recording, reproducing, or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
- G11B5/09—Digital recording
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Magnetic Heads (AREA)
- Adjustment Of The Magnetic Head Position Track Following On Tapes (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】オーバライト特性を犠牲にすることなしに、ア
ンダーシュートをなくし、パーシャルレスポンス法が適
用できるようにすると共に、磁界分布及び再生波形を鋭
化し、高記録密度対応を図った薄膜磁気ヘッドを提供す
る。 【構成】薄膜磁気変換素子2は、ポール部P1、P2の
それぞれの先端部がギャップ膜22のある方向とは反対
側が部分的に削除されている。空気ベアリング面10
3、104に現れる残りの先端厚みPL1、PL2は1
μm以下であり、先端厚みとギャップ膜22の厚みg1
との総和(PL1+PL2+g1)は2.5μm以下で
ある。
ンダーシュートをなくし、パーシャルレスポンス法が適
用できるようにすると共に、磁界分布及び再生波形を鋭
化し、高記録密度対応を図った薄膜磁気ヘッドを提供す
る。 【構成】薄膜磁気変換素子2は、ポール部P1、P2の
それぞれの先端部がギャップ膜22のある方向とは反対
側が部分的に削除されている。空気ベアリング面10
3、104に現れる残りの先端厚みPL1、PL2は1
μm以下であり、先端厚みとギャップ膜22の厚みg1
との総和(PL1+PL2+g1)は2.5μm以下で
ある。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、薄膜磁気ヘッドに関
し、更に詳しくは、オーバライト特性を犠牲にすること
なしに、アンダーシュートをなくし、パーシャルレスポ
ンス法が適用できるようにすると共に、磁界分布及び再
生波形を鋭化し、高記録密度対応を図るための改良に係
る。
し、更に詳しくは、オーバライト特性を犠牲にすること
なしに、アンダーシュートをなくし、パーシャルレスポ
ンス法が適用できるようにすると共に、磁界分布及び再
生波形を鋭化し、高記録密度対応を図るための改良に係
る。
【0002】
【従来の技術】薄膜磁気ヘッドの基本的な構成は、例え
ば米国特許第4,856,181号明細書などで知られ
るように、セラミック構造体でなるスライダの媒体対向
面側に、間隔を置いてレール部を設け、レール部の表面
を高度の平面度を有する空気ベアリング面とすると共
に、レール部の空気流出方向の端部に、薄膜磁気変換素
子を付着した構造となっている。薄膜磁気変換素子は、
IC製造テクノロジと同様のプロセスに従って形成され
た薄膜素子であり、下部磁性膜、ギャップ膜、上部磁性
膜、コイル膜、層間絶縁膜及び保護膜などを集積した構
造となっている。下部磁性膜及び上部磁性膜は、先端部
がギャップ膜を介して対向する下部ポール部及び上部ポ
ール部となっていて、これらのポール部及びギャップ膜
により、変換ギャップを構成している。
ば米国特許第4,856,181号明細書などで知られ
るように、セラミック構造体でなるスライダの媒体対向
面側に、間隔を置いてレール部を設け、レール部の表面
を高度の平面度を有する空気ベアリング面とすると共
に、レール部の空気流出方向の端部に、薄膜磁気変換素
子を付着した構造となっている。薄膜磁気変換素子は、
IC製造テクノロジと同様のプロセスに従って形成され
た薄膜素子であり、下部磁性膜、ギャップ膜、上部磁性
膜、コイル膜、層間絶縁膜及び保護膜などを集積した構
造となっている。下部磁性膜及び上部磁性膜は、先端部
がギャップ膜を介して対向する下部ポール部及び上部ポ
ール部となっていて、これらのポール部及びギャップ膜
により、変換ギャップを構成している。
【0003】薄膜磁気ヘッドは、主として、コンピュー
タの記憶装置を構成する磁気ディスク装置に用いられる
ものであり、高記録密度に対応できるものでなければな
らない。高記録密度に対応するためには、再生波形を鋭
化し、隣接パルスの相互干渉を防止する必要がある。再
生波形の鋭化の程度はPW50値によって評価する。再
生波形を鋭化するためには薄膜磁気ヘッドの磁界分布を
鋭化しなければならない。磁界分布は、主として、ポー
ル部の長さ(厚み)及びギャップ長によって定まる。
タの記憶装置を構成する磁気ディスク装置に用いられる
ものであり、高記録密度に対応できるものでなければな
らない。高記録密度に対応するためには、再生波形を鋭
化し、隣接パルスの相互干渉を防止する必要がある。再
生波形の鋭化の程度はPW50値によって評価する。再
生波形を鋭化するためには薄膜磁気ヘッドの磁界分布を
鋭化しなければならない。磁界分布は、主として、ポー
ル部の長さ(厚み)及びギャップ長によって定まる。
【0004】また、再生波形のピークシフトを抑え、読
み出しのエラーマージンもしくは位相マージンを大きく
することが必要である。高記録密度が得られるパーシャ
ルレスポンス法の適用可能な規則的な再生波形が得られ
るようにすることも重要である。
み出しのエラーマージンもしくは位相マージンを大きく
することが必要である。高記録密度が得られるパーシャ
ルレスポンス法の適用可能な規則的な再生波形が得られ
るようにすることも重要である。
【0005】上述のような要件を満たした上で、所定の
書き込み能力を確保しなければならない。
書き込み能力を確保しなければならない。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
薄膜磁気ヘッドでは、ポール部の端面の先端厚みは、製
造工程において形成される磁性膜厚によって定まるか
ら、製造工程によって得られる以上には、磁界分布を鋭
化することができない。このため、再生波形及び磁界分
布をより一層鋭化することが困難で、高記録密度を達成
する上の一つの大きな障害になっていた。
薄膜磁気ヘッドでは、ポール部の端面の先端厚みは、製
造工程において形成される磁性膜厚によって定まるか
ら、製造工程によって得られる以上には、磁界分布を鋭
化することができない。このため、再生波形及び磁界分
布をより一層鋭化することが困難で、高記録密度を達成
する上の一つの大きな障害になっていた。
【0007】しかも、再生波形はポール部の端縁に対応
する位置で、擬似パルスに起因するアンダーシュートを
生じる。アンダーシュートは、ポール部厚みが有限な薄
膜磁気ヘッドにおいて、特に特徴的に現れる。アンダー
シュートの存在は、高記録密度の場合、ピークシフトを
大きくするため、読み出しのエラーマージンもしくは位
相マージンに限界を生じ、高記録密度の大きな障害とな
るとともに、パーシャルレスポンス法適用の障害にもな
る。
する位置で、擬似パルスに起因するアンダーシュートを
生じる。アンダーシュートは、ポール部厚みが有限な薄
膜磁気ヘッドにおいて、特に特徴的に現れる。アンダー
シュートの存在は、高記録密度の場合、ピークシフトを
大きくするため、読み出しのエラーマージンもしくは位
相マージンに限界を生じ、高記録密度の大きな障害とな
るとともに、パーシャルレスポンス法適用の障害にもな
る。
【0008】ポール部の厚みを小さくすれば、再生波形
及び磁界分布を鋭化できる。しかしながら、ポール部の
厚みを小さくすると、発生磁界強度が小さくなるため、
書き込み能力が低下し、オーバライト特性が劣化する。
及び磁界分布を鋭化できる。しかしながら、ポール部の
厚みを小さくすると、発生磁界強度が小さくなるため、
書き込み能力が低下し、オーバライト特性が劣化する。
【0009】そこで、本発明の課題は、書き込み能力を
実質的に犠牲にすることなしに、アンダーシュートをな
くし、磁界分布及び再生波形を鋭化して、高記録密度対
応を図った薄膜磁気ヘッドを提供することである。
実質的に犠牲にすることなしに、アンダーシュートをな
くし、磁界分布及び再生波形を鋭化して、高記録密度対
応を図った薄膜磁気ヘッドを提供することである。
【0010】
【課題を解決するための手段】上述した課題解決のた
め、本発明は、スライダに薄膜磁気変換素子を付着させ
た薄膜磁気ヘッドであって、前記スライダは、媒体対向
面側に空気ベアリング面を有しており、前記薄膜磁気変
換素子は、下部磁性膜、上部磁性膜及びコイル膜を含む
薄膜磁気回路を有しており、前記下部磁性膜及び前記上
部磁性膜はギャップ膜を介して対向する下部ポール部及
び上部ポール部を有しており、前記ポール部のそれぞれ
の先端部は前記ギャップ膜のある方向とは反対側が部分
的に削除され前記空気ベアリング面に現れる残りの先端
厚みが1μm以下であり、前記ポール部のそれぞれの前
記先端厚みと前記ギャップ膜の厚みとの総和は2.5μ
m以下である。
め、本発明は、スライダに薄膜磁気変換素子を付着させ
た薄膜磁気ヘッドであって、前記スライダは、媒体対向
面側に空気ベアリング面を有しており、前記薄膜磁気変
換素子は、下部磁性膜、上部磁性膜及びコイル膜を含む
薄膜磁気回路を有しており、前記下部磁性膜及び前記上
部磁性膜はギャップ膜を介して対向する下部ポール部及
び上部ポール部を有しており、前記ポール部のそれぞれ
の先端部は前記ギャップ膜のある方向とは反対側が部分
的に削除され前記空気ベアリング面に現れる残りの先端
厚みが1μm以下であり、前記ポール部のそれぞれの前
記先端厚みと前記ギャップ膜の厚みとの総和は2.5μ
m以下である。
【0011】
【作用】ギャップ膜を介して対向する下部ポール部及び
上部ポール部のそれぞれの先端部は、ギャップ膜のある
方向とは反対側が部分的に削除されているから、磁気変
換に寄与するポール部の先端厚み(長さ)が、削除され
て空気ベアリング面に現れる残りの先端厚みまで縮小す
る。このため、磁界分布及び再生波形が鋭化される。従
って、高記録密度再生が可能になる。
上部ポール部のそれぞれの先端部は、ギャップ膜のある
方向とは反対側が部分的に削除されているから、磁気変
換に寄与するポール部の先端厚み(長さ)が、削除され
て空気ベアリング面に現れる残りの先端厚みまで縮小す
る。このため、磁界分布及び再生波形が鋭化される。従
って、高記録密度再生が可能になる。
【0012】しかも、下部ポール部及び上部ポール部の
それぞれは、ギャップ膜のある方向とは反対側が部分的
に削除されているから、ポール部の磁気特性を、磁気記
録媒体の走行方向に徐々に低下させたのと実質的に同様
の作用が得られる。このため、アンダーシュートが無視
できる程度に弱められ、パーシャルレスポンス法が適用
できるようになる。
それぞれは、ギャップ膜のある方向とは反対側が部分的
に削除されているから、ポール部の磁気特性を、磁気記
録媒体の走行方向に徐々に低下させたのと実質的に同様
の作用が得られる。このため、アンダーシュートが無視
できる程度に弱められ、パーシャルレスポンス法が適用
できるようになる。
【0013】ポール部は先端部が部分的に削除されるの
みで、削除された部分以外の大部分は、本来のポール部
厚みを保持しているから、書き込み能力を確保できる。
このため、オーバライト特性を犠牲にすることがない。
みで、削除された部分以外の大部分は、本来のポール部
厚みを保持しているから、書き込み能力を確保できる。
このため、オーバライト特性を犠牲にすることがない。
【0014】上述の磁界分布、再生波形の鋭化及びアン
ダーシュートの抑制作用は、削除されて空気ベアリング
面に残った先端厚み(長さ)、及び、ギャップ膜厚み
(長さ)に依存し、先端厚みが1μm以下で、それぞれ
の先端厚みと、ギャップ膜の厚みとの総和が2.5μm
以下であるときに、特に顕著に現れる。
ダーシュートの抑制作用は、削除されて空気ベアリング
面に残った先端厚み(長さ)、及び、ギャップ膜厚み
(長さ)に依存し、先端厚みが1μm以下で、それぞれ
の先端厚みと、ギャップ膜の厚みとの総和が2.5μm
以下であるときに、特に顕著に現れる。
【0015】削除による後退量は0.001μm〜5μ
mの範囲、好ましくは0.001μm〜1μmの範囲に
設定する。後退量が5μmを超えるとオーバライト特性
が劣化し、0.001μm以下ではPW50値が急激に
大きくなるからである。
mの範囲、好ましくは0.001μm〜1μmの範囲に
設定する。後退量が5μmを超えるとオーバライト特性
が劣化し、0.001μm以下ではPW50値が急激に
大きくなるからである。
【0016】国内先行技術文献として、特開昭60ー7
4111号公報は、磁性層の先端部が所定の長さ、所定
の厚さだけ除去されている薄膜磁気ヘッドを開示し、ま
た、特開昭61ー210510号公報、特開昭61ー2
37216号公報及び特開昭61ー237217号公報
は、磁極層の先端部に突起部を形成する薄膜磁気ヘッド
の製造方法を開示している。しかしながら、これらの先
行技術文献には、ポール部磁界分布及び再生波形の鋭化
と共に、書き込み能力を確保し、オーバライト特性の優
れた高記録密度用薄膜磁気ヘッドを得るために必須の、
先端厚み寸法及びその後退量についての開示がない。
4111号公報は、磁性層の先端部が所定の長さ、所定
の厚さだけ除去されている薄膜磁気ヘッドを開示し、ま
た、特開昭61ー210510号公報、特開昭61ー2
37216号公報及び特開昭61ー237217号公報
は、磁極層の先端部に突起部を形成する薄膜磁気ヘッド
の製造方法を開示している。しかしながら、これらの先
行技術文献には、ポール部磁界分布及び再生波形の鋭化
と共に、書き込み能力を確保し、オーバライト特性の優
れた高記録密度用薄膜磁気ヘッドを得るために必須の、
先端厚み寸法及びその後退量についての開示がない。
【0017】
【実施例】図1は本発明に係る薄膜磁気ヘッドの斜視
図、図2は図1に示した薄膜磁気ヘッドの磁気変換素子
部分の拡大斜視図、図3は図1に示した薄膜磁気ヘッド
の磁気変換素子部分の拡大断面図、図4は図1に示した
薄膜磁気ヘッドのポール部の拡大図である。各図におい
て、寸法は誇張されている。図を参照すると、スライダ
1は媒体対向面側にレール部101、102を有してい
る。レール部101、102は表面が空気ベアリング面
103、104を構成している。レール部101、10
2は2本に限らない。1本または3本設けられることも
ある。
図、図2は図1に示した薄膜磁気ヘッドの磁気変換素子
部分の拡大斜視図、図3は図1に示した薄膜磁気ヘッド
の磁気変換素子部分の拡大断面図、図4は図1に示した
薄膜磁気ヘッドのポール部の拡大図である。各図におい
て、寸法は誇張されている。図を参照すると、スライダ
1は媒体対向面側にレール部101、102を有してい
る。レール部101、102は表面が空気ベアリング面
103、104を構成している。レール部101、10
2は2本に限らない。1本または3本設けられることも
ある。
【0018】薄膜磁気変換素子2は、レール部101、
102の一方または両者に対し、その空気流出方向aの
端部に設けられている。薄膜磁気変換素子2の構造は、
図3に詳細に示されている。図3において、スライダ1
は、Al2O3−TiC等で構成される基体部分110
に、Al2O3等でなる絶縁膜120をスパッタ等の手段
によって付着させた構造となっていて、薄膜磁気変換素
子2は絶縁膜120の上に設けられている。薄膜磁気変
換素子2はIC製造テクノロジと同様のプロセスにした
がって形成された薄膜素子である。21はパーマロイ等
でなる下部磁性膜、22はAl2O3等で形成されたギャ
ップ膜、23はパーマロイ等でなる上部磁性膜、24は
コイル膜、251〜253はフォトレジスト等で形成さ
れた膜間絶縁膜、26はAl2O3等の保護膜、27、2
8はリード導体である。
102の一方または両者に対し、その空気流出方向aの
端部に設けられている。薄膜磁気変換素子2の構造は、
図3に詳細に示されている。図3において、スライダ1
は、Al2O3−TiC等で構成される基体部分110
に、Al2O3等でなる絶縁膜120をスパッタ等の手段
によって付着させた構造となっていて、薄膜磁気変換素
子2は絶縁膜120の上に設けられている。薄膜磁気変
換素子2はIC製造テクノロジと同様のプロセスにした
がって形成された薄膜素子である。21はパーマロイ等
でなる下部磁性膜、22はAl2O3等で形成されたギャ
ップ膜、23はパーマロイ等でなる上部磁性膜、24は
コイル膜、251〜253はフォトレジスト等で形成さ
れた膜間絶縁膜、26はAl2O3等の保護膜、27、2
8はリード導体である。
【0019】下部磁性膜21及び上部磁性膜23は、先
端部がギャップ膜22を介して対向する下部ポール部P
1及び上部ポール部P2となっている。下部ポール部P
1及び上部ポール部P2の後方にはヨーク部211、2
31が連続しており、ヨーク部211、231は後方の
結合部において磁気回路を完成するように互いに結合さ
れている。コイル膜24は結合部のまわりを渦巻状にま
わるように形成されている。コイル膜24の両端はリー
ド導体27、28に接続されている。リード導体27、
28は取出電極41、42を形成する領域まで導出さ
れ、その端部に取出電極41、42が形成されている。
取出電極41、42の周りは薄膜磁気変換素子2の全体
を保護する保護膜26によって覆われている。
端部がギャップ膜22を介して対向する下部ポール部P
1及び上部ポール部P2となっている。下部ポール部P
1及び上部ポール部P2の後方にはヨーク部211、2
31が連続しており、ヨーク部211、231は後方の
結合部において磁気回路を完成するように互いに結合さ
れている。コイル膜24は結合部のまわりを渦巻状にま
わるように形成されている。コイル膜24の両端はリー
ド導体27、28に接続されている。リード導体27、
28は取出電極41、42を形成する領域まで導出さ
れ、その端部に取出電極41、42が形成されている。
取出電極41、42の周りは薄膜磁気変換素子2の全体
を保護する保護膜26によって覆われている。
【0020】図4を参照すると、下部ポール部P1は、
ギャップ膜22のある方向とは反対側が凹部105によ
って部分的に削除され、上部ポール部P2は、ギャップ
膜22のある方向とは反対側が凹部106によって部分
的に削除されている。凹部105、106は、下部ポー
ル部P1、上部ポール部P2の先端部に部分的にかかる
ように設け、後退量d1、d2を持って段差状に後退さ
せてある。上述のような凹部105、106は、マスク
及びイオンミーリングの併用またはケミカルエッチング
によって形成できる。凹部105、106は適当な充填
材によって埋めることもできる。凹部105、106は
側面が傾斜面となるように形成するのが望ましい。傾斜
面であると、読み書き動作時に発生する摺動ダスト、塵
埃等が残留したり、堆積したりすることがない。側面の
傾斜形状は、図示の弧状に限らず、一定の傾斜角度で傾
斜する平面であってもよい。
ギャップ膜22のある方向とは反対側が凹部105によ
って部分的に削除され、上部ポール部P2は、ギャップ
膜22のある方向とは反対側が凹部106によって部分
的に削除されている。凹部105、106は、下部ポー
ル部P1、上部ポール部P2の先端部に部分的にかかる
ように設け、後退量d1、d2を持って段差状に後退さ
せてある。上述のような凹部105、106は、マスク
及びイオンミーリングの併用またはケミカルエッチング
によって形成できる。凹部105、106は適当な充填
材によって埋めることもできる。凹部105、106は
側面が傾斜面となるように形成するのが望ましい。傾斜
面であると、読み書き動作時に発生する摺動ダスト、塵
埃等が残留したり、堆積したりすることがない。側面の
傾斜形状は、図示の弧状に限らず、一定の傾斜角度で傾
斜する平面であってもよい。
【0021】ポール部P1、P2の削除された残りの先
端厚みPL1、PL2は1μm以下であり、ポール部P
1、P2のそれぞれの先端厚みPL1、PL2と、ギャ
ップ膜22の厚みg1との総和(PL1+PL2+g
1)が2.5μm以下となるように選定されている。薄
膜磁気ヘッドの場合、ポール部P1、P2は厚みが3μ
m前後となるので、ポール部P1、P2の削除量は、こ
の厚み内で、先端厚みPL1、PL2の和(PL1+P
L2)が2μm以下となるように設定する。ギャップ膜
22の厚みは0.25〜0.5μmである。
端厚みPL1、PL2は1μm以下であり、ポール部P
1、P2のそれぞれの先端厚みPL1、PL2と、ギャ
ップ膜22の厚みg1との総和(PL1+PL2+g
1)が2.5μm以下となるように選定されている。薄
膜磁気ヘッドの場合、ポール部P1、P2は厚みが3μ
m前後となるので、ポール部P1、P2の削除量は、こ
の厚み内で、先端厚みPL1、PL2の和(PL1+P
L2)が2μm以下となるように設定する。ギャップ膜
22の厚みは0.25〜0.5μmである。
【0022】上述のように、空気ベアリング面上でギャ
ップ膜22を介して対向する下部ポール部P1及び上部
ポール部P2のそれぞれが、ギャップ膜22のある方向
とは反対側が部分的に削除されているから、磁気変換に
寄与するポール部P1、P2の先端厚み(長さ)が、実
質的に、削除された残りの先端厚みPL1、PL2によ
って定まる値まで縮小する。このため、磁界分布が鋭化
され、磁気記録媒体の遷移領域(磁化反転領域)が狭く
なり、高記録密度が可能になる。
ップ膜22を介して対向する下部ポール部P1及び上部
ポール部P2のそれぞれが、ギャップ膜22のある方向
とは反対側が部分的に削除されているから、磁気変換に
寄与するポール部P1、P2の先端厚み(長さ)が、実
質的に、削除された残りの先端厚みPL1、PL2によ
って定まる値まで縮小する。このため、磁界分布が鋭化
され、磁気記録媒体の遷移領域(磁化反転領域)が狭く
なり、高記録密度が可能になる。
【0023】再生波形も、図4に示すように鋭化され、
PW50値が小さくなり、高記録密度が可能になる。図
4において、再生波形は、薄膜磁気ヘッドを使用して磁
気記録媒体に記録した信号を、同じ薄膜磁気ヘッドで再
生した場合の波形であり、横軸に時間軸をとり、縦軸に
瞬時値eと最大値Emとの比(e/Em)を百分率で表
示してある。PW50は(e/Em)が50%になるパ
ルス幅を示している。PW50値は再生波形の鋭化の程
度を示し、PW50値が小さければ再生波形は鋭くな
り、大きくなれば鈍化する。図4の特性L1は従来の薄
膜磁気ヘッドの再生波形、特性L2は本発明にかかる薄
膜磁気ヘッドの再生波形である。L11、L12はアン
ダーシュートを示している。図示するように、本発明に
かかる薄膜磁気ヘッドの再生波形L2は、従来の薄膜磁
気ヘッドの再生波形L1よりも鋭化されており、PW5
0値が小さくなっている。
PW50値が小さくなり、高記録密度が可能になる。図
4において、再生波形は、薄膜磁気ヘッドを使用して磁
気記録媒体に記録した信号を、同じ薄膜磁気ヘッドで再
生した場合の波形であり、横軸に時間軸をとり、縦軸に
瞬時値eと最大値Emとの比(e/Em)を百分率で表
示してある。PW50は(e/Em)が50%になるパ
ルス幅を示している。PW50値は再生波形の鋭化の程
度を示し、PW50値が小さければ再生波形は鋭くな
り、大きくなれば鈍化する。図4の特性L1は従来の薄
膜磁気ヘッドの再生波形、特性L2は本発明にかかる薄
膜磁気ヘッドの再生波形である。L11、L12はアン
ダーシュートを示している。図示するように、本発明に
かかる薄膜磁気ヘッドの再生波形L2は、従来の薄膜磁
気ヘッドの再生波形L1よりも鋭化されており、PW5
0値が小さくなっている。
【0024】しかも、再生時には、ポール部P1、P2
の磁気特性を、磁気記録媒体の走行方向aに徐々に低下
させたのと実質的に同様の作用が得られる。このため、
図4に示すごとく、本発明にかかる薄膜磁気ヘッドの再
生波形L2には、従来の薄膜磁気ヘッド特性L2に現れ
ていたアンダーシュートL11、L12が殆どなくな
り、パーシャルレスポンス法が適用できるようになる。
の磁気特性を、磁気記録媒体の走行方向aに徐々に低下
させたのと実質的に同様の作用が得られる。このため、
図4に示すごとく、本発明にかかる薄膜磁気ヘッドの再
生波形L2には、従来の薄膜磁気ヘッド特性L2に現れ
ていたアンダーシュートL11、L12が殆どなくな
り、パーシャルレスポンス法が適用できるようになる。
【0025】また、ポール部P1、P2は先端部が部分
的に削除されるのみで、削除された部分以外の大部分
は、3μm程度の本来のポール部厚みを保持しているか
ら、書き込み能力を確保できる。このため、オーバライ
ト特性を犠牲にすることがない。
的に削除されるのみで、削除された部分以外の大部分
は、3μm程度の本来のポール部厚みを保持しているか
ら、書き込み能力を確保できる。このため、オーバライ
ト特性を犠牲にすることがない。
【0026】凹部105、106による削除の後退量d
1、d2は0.001μm〜5μmの範囲に設定する。
後退量d1、d2が5μmを超えるとオーバライト特性
が劣化し、0.001μm以下ではPW50値が急激に
大きくなるからである。
1、d2は0.001μm〜5μmの範囲に設定する。
後退量d1、d2が5μmを超えるとオーバライト特性
が劣化し、0.001μm以下ではPW50値が急激に
大きくなるからである。
【0027】下部ポール部P1及び上部ポール部P2の
先端厚みPL1、PL2が1μm以下であり、ポール部
P1、P2のそれぞれの先端厚みPL1、PL2と、ギ
ャップ膜22の厚みg1との総和(PL1+PL2+g
1)が2.5μm以下となるように選定されているの
で、上述の磁界分布、再生波形の鋭化及びアンダーシュ
ートの抑制作用が一層顕著になる。この点について、図
5〜図12として添付するデータを参照して説明する。
先端厚みPL1、PL2が1μm以下であり、ポール部
P1、P2のそれぞれの先端厚みPL1、PL2と、ギ
ャップ膜22の厚みg1との総和(PL1+PL2+g
1)が2.5μm以下となるように選定されているの
で、上述の磁界分布、再生波形の鋭化及びアンダーシュ
ートの抑制作用が一層顕著になる。この点について、図
5〜図12として添付するデータを参照して説明する。
【0028】図5は先端厚みPL1、PL2の和(PL
1+PL2)と、PW50値との関係を示すデータであ
る。このデータが示すように、(PL1+PL2)が2
μm以下になると、PW50値が急激に小さくなる。こ
の種の薄膜磁気ヘッドでは、ギャップ膜22の厚みが
0.25〜0.5μmであるから、先端厚みPL1、P
L2と、ギャップ膜22の厚みg1との総和(PL1+
PL2+g1)が2.5μm以下であれば、PW50値
の小さい高記録密度に適した薄膜磁気ヘッドが得られ
る。しかも、(PL1+PL2+g1)を2.5μm以
下に設定した場合でも、図8に示すように、オーバライ
ト特性が劣化することがない。十分な書き込み能力を確
保できる。
1+PL2)と、PW50値との関係を示すデータであ
る。このデータが示すように、(PL1+PL2)が2
μm以下になると、PW50値が急激に小さくなる。こ
の種の薄膜磁気ヘッドでは、ギャップ膜22の厚みが
0.25〜0.5μmであるから、先端厚みPL1、P
L2と、ギャップ膜22の厚みg1との総和(PL1+
PL2+g1)が2.5μm以下であれば、PW50値
の小さい高記録密度に適した薄膜磁気ヘッドが得られ
る。しかも、(PL1+PL2+g1)を2.5μm以
下に設定した場合でも、図8に示すように、オーバライ
ト特性が劣化することがない。十分な書き込み能力を確
保できる。
【0029】図6は下部ポール部P1の先端厚みPL1
とPW50値との関係を示すデータ、図7は上部ポール
部P2の先端厚みPL2とPW50値との関係を示すデ
ータである。図6に示されるように、下部ポール部P1
の先端厚みPL1を小さくすると、PW50値が次第に
小さくなる傾向を示すが、それほど急激な改善効果は得
られない。これに対して、図7に示すように、上部ポー
ル部P2の先端厚みPL2が1μm以下になると、PW
50値が急激に小さくなる。即ち、PW50値の改善に
関しては、上部ポール部P2の先端厚みPL2が支配的
である。
とPW50値との関係を示すデータ、図7は上部ポール
部P2の先端厚みPL2とPW50値との関係を示すデ
ータである。図6に示されるように、下部ポール部P1
の先端厚みPL1を小さくすると、PW50値が次第に
小さくなる傾向を示すが、それほど急激な改善効果は得
られない。これに対して、図7に示すように、上部ポー
ル部P2の先端厚みPL2が1μm以下になると、PW
50値が急激に小さくなる。即ち、PW50値の改善に
関しては、上部ポール部P2の先端厚みPL2が支配的
である。
【0030】図9は上部ポール部P2の先端厚みPL2
とオーバライト特性との関係を示すデータ、図10は下
部ポール部P1の先端厚みPL1とオーバライト特性と
の関係を示すデータである。図9に示すように、上部ポ
ール部P2の先端厚みPL2が1μm以下になると、オ
ーバライト特性が急激に劣化する。これに対して、図1
0に示すように、下部ポール部P1の先端厚みPL1を
小さくしても、オーバライト特性は殆ど劣化しない。
とオーバライト特性との関係を示すデータ、図10は下
部ポール部P1の先端厚みPL1とオーバライト特性と
の関係を示すデータである。図9に示すように、上部ポ
ール部P2の先端厚みPL2が1μm以下になると、オ
ーバライト特性が急激に劣化する。これに対して、図1
0に示すように、下部ポール部P1の先端厚みPL1を
小さくしても、オーバライト特性は殆ど劣化しない。
【0031】図5〜図10のデータから、上部ポール部
P2の先端厚みPL2を、オーバライト特性が劣化しな
い範囲で、1μm以下に設定し、下部ポール部P1の先
端厚みPL1を、(PL1+PL2)≦2μmを満たす
ように選定することにより、PW50値が小さく、オー
バライト特性に優れた薄膜磁気ヘッドが得られることが
わかる。
P2の先端厚みPL2を、オーバライト特性が劣化しな
い範囲で、1μm以下に設定し、下部ポール部P1の先
端厚みPL1を、(PL1+PL2)≦2μmを満たす
ように選定することにより、PW50値が小さく、オー
バライト特性に優れた薄膜磁気ヘッドが得られることが
わかる。
【0032】図11は下部ポール部P1の先端厚みPL
1が3.05μm、上部ポール部P2の先端厚みPL2
が3.16μmである従来の薄膜磁気ヘッドを用いて得
られた再生波形のオシロスコープ波形図、図12は下部
ポール部P1の先端厚みPL1が0.57μm、上部ポ
ール部P2の先端厚みPL2が0.85μmである本発
明にかかる薄膜磁気ヘッドを用いて得られた再生波形の
オシロスコープ波形図である。図11に示すように、従
来の薄膜磁気ヘッドではアンダーシュートが生じている
が、本発明にかかる薄膜磁気ヘッドは、図12から明ら
かなように、アンダーシュートが殆ど認められず、しか
もPW50値が小さくなっている。
1が3.05μm、上部ポール部P2の先端厚みPL2
が3.16μmである従来の薄膜磁気ヘッドを用いて得
られた再生波形のオシロスコープ波形図、図12は下部
ポール部P1の先端厚みPL1が0.57μm、上部ポ
ール部P2の先端厚みPL2が0.85μmである本発
明にかかる薄膜磁気ヘッドを用いて得られた再生波形の
オシロスコープ波形図である。図11に示すように、従
来の薄膜磁気ヘッドではアンダーシュートが生じている
が、本発明にかかる薄膜磁気ヘッドは、図12から明ら
かなように、アンダーシュートが殆ど認められず、しか
もPW50値が小さくなっている。
【0033】図13は本発明にかかる薄膜磁気ヘッドの
更に別の実施例を示す。この実施例では、下部ポール部
P1及び上部ポール部P2の周囲に凹部107を設け、
ギャップ膜22のある方向とは反対側が部分的に削除さ
れている他、幅方向の両端が部分的に削除されている。
下部ポール部P1及び上部ポール部P2のポール部幅W
1は、幅方向の両端に置おける削除位置によって定ま
る。
更に別の実施例を示す。この実施例では、下部ポール部
P1及び上部ポール部P2の周囲に凹部107を設け、
ギャップ膜22のある方向とは反対側が部分的に削除さ
れている他、幅方向の両端が部分的に削除されている。
下部ポール部P1及び上部ポール部P2のポール部幅W
1は、幅方向の両端に置おける削除位置によって定ま
る。
【0034】上述のように、下部ポール部P1及び上部
ポール部P2は、幅方向の両端が部分的に削除されてい
るから、幅方向の両端に置おける削除位置によって、ポ
ール部幅W1を調整し、例えば高記録密度に対応するた
めの狭幅化等を容易に実現できる。
ポール部P2は、幅方向の両端が部分的に削除されてい
るから、幅方向の両端に置おける削除位置によって、ポ
ール部幅W1を調整し、例えば高記録密度に対応するた
めの狭幅化等を容易に実現できる。
【0035】また、フォトリソグラフィによるパターン
ニング誤差を生じたような場合にも、幅方向の両端に置
おける削除位置の選択、調整によって、ポール部幅W1
を所定値に設定し、歩留を向上させることができる。要
求されるポール部幅W1が異なる場合でも、一枚のマス
クを使用してパターンニングし、その後に削除の位置や
幅の調整によってポール部幅W1を所定値に設定でき
る。このため、各ポール部幅W1に応じたマスクが必要
でなくなり、一枚のマスクでポール部を形成でき、コス
トが安価になると共に、歩留が向上する。
ニング誤差を生じたような場合にも、幅方向の両端に置
おける削除位置の選択、調整によって、ポール部幅W1
を所定値に設定し、歩留を向上させることができる。要
求されるポール部幅W1が異なる場合でも、一枚のマス
クを使用してパターンニングし、その後に削除の位置や
幅の調整によってポール部幅W1を所定値に設定でき
る。このため、各ポール部幅W1に応じたマスクが必要
でなくなり、一枚のマスクでポール部を形成でき、コス
トが安価になると共に、歩留が向上する。
【0036】図14は本発明にかかる薄膜磁気ヘッドの
更に別の実施例を示す部分拡大斜視図であり、凹部10
7は3方が開放されている。
更に別の実施例を示す部分拡大斜視図であり、凹部10
7は3方が開放されている。
【0037】図15は本発明にかかる薄膜磁気ヘッドの
更に別の実施例における斜視図であり、スライダ1は媒
体対向面がレール部を持たない平面状の空気ベアリング
面103となっている。薄膜磁気変換素子2はスライダ
1の幅方向の中央部に配置されている。
更に別の実施例における斜視図であり、スライダ1は媒
体対向面がレール部を持たない平面状の空気ベアリング
面103となっている。薄膜磁気変換素子2はスライダ
1の幅方向の中央部に配置されている。
【0038】図16は本発明にかかる薄膜磁気ヘッドの
更に別の実施例における斜視図であり、図15の実施例
と同様に、スライダ1は媒体対向面がレール部を持たな
い平面状の空気ベアリング面103となっている。薄膜
磁気変換素子2はスライダ1の幅方向の一方側に寄せて
配置されている。
更に別の実施例における斜視図であり、図15の実施例
と同様に、スライダ1は媒体対向面がレール部を持たな
い平面状の空気ベアリング面103となっている。薄膜
磁気変換素子2はスライダ1の幅方向の一方側に寄せて
配置されている。
【0039】以上、好適な具体的実施例を参照して本発
明を詳説したが、本発明の本質及び範囲から離れること
なく、その形態と細部において、種々の変形がなされ得
ることは、当業者にとって明らかである。
明を詳説したが、本発明の本質及び範囲から離れること
なく、その形態と細部において、種々の変形がなされ得
ることは、当業者にとって明らかである。
【0040】
【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、次
のような効果が得られる。 (a)ギャップ膜を介して対向する下部ポール部及び上
部ポール部のそれぞれの先端部は、ギャップ膜のある方
向とは反対側が部分的に削除されているから、磁界分布
及び再生波形を鋭化し、高記録密度再生対応を図った薄
膜磁気ヘッドを提供できる。 (b)下部ポール部及び上部ポール部のそれぞれは、ギ
ャップ膜のある方向とは反対側が部分的に削除されてい
るから、アンダーシュートが無視できる程度に弱めら
れ、パーシャルレスポンス法の適用可能な薄膜磁気ヘッ
ドを提供できる。 (c)ポール部は先端部が部分的に削除されるのみで、
削除された部分以外は、本来のポール部厚みを保持して
いるから、オーバライト特性を犠牲にすることがない。 (d)下部ポール部及び上部ポール部のそれぞれは,先
端厚みが1μm以下で、それぞれの先端厚みとギャップ
膜の厚みとの総和が2.5μm以下であるから、磁界分
布、再生波形の鋭化及びアンダーシュート抑制作用の特
に顕著な薄膜磁気ヘッドを提供できる。
のような効果が得られる。 (a)ギャップ膜を介して対向する下部ポール部及び上
部ポール部のそれぞれの先端部は、ギャップ膜のある方
向とは反対側が部分的に削除されているから、磁界分布
及び再生波形を鋭化し、高記録密度再生対応を図った薄
膜磁気ヘッドを提供できる。 (b)下部ポール部及び上部ポール部のそれぞれは、ギ
ャップ膜のある方向とは反対側が部分的に削除されてい
るから、アンダーシュートが無視できる程度に弱めら
れ、パーシャルレスポンス法の適用可能な薄膜磁気ヘッ
ドを提供できる。 (c)ポール部は先端部が部分的に削除されるのみで、
削除された部分以外は、本来のポール部厚みを保持して
いるから、オーバライト特性を犠牲にすることがない。 (d)下部ポール部及び上部ポール部のそれぞれは,先
端厚みが1μm以下で、それぞれの先端厚みとギャップ
膜の厚みとの総和が2.5μm以下であるから、磁界分
布、再生波形の鋭化及びアンダーシュート抑制作用の特
に顕著な薄膜磁気ヘッドを提供できる。
【図1】本発明に係る薄膜磁気ヘッドの斜視図である。
【図2】図1に示した薄膜磁気ヘッドの磁気変換素子部
分の拡大斜視図である。
分の拡大斜視図である。
【図3】図1に示した薄膜磁気ヘッドの磁気変換素子部
分の拡大断面図である。
分の拡大断面図である。
【図4】図1〜図3に示した薄膜磁気ヘッドのポール部
の拡大図とその作用を説明する図である。
の拡大図とその作用を説明する図である。
【図5】ポール部の先端厚みの和(PL1+PL2)
と、PW50値との関係を示すデータである。
と、PW50値との関係を示すデータである。
【図6】下部ポール部の先端厚みPL1とPW50値と
の関係を示すデータである。
の関係を示すデータである。
【図7】上部ポール部の先端厚みPL2とPW50値と
の関係を示すデータである。
の関係を示すデータである。
【図8】ポール部の先端厚みの和(PL1+PL2)
と、オーバライト特性との関係を示すデータである。
と、オーバライト特性との関係を示すデータである。
【図9】下部ポール部の先端厚みPL1とオーバライト
特性との関係を示すデータである。
特性との関係を示すデータである。
【図10】上部ポール部の先端厚みPL2とオーバライ
ト特性との関係を示すデータである。
ト特性との関係を示すデータである。
【図11】従来の薄膜磁気ヘッドを用いて得られた再生
波形のオシロスコープ波形図である。
波形のオシロスコープ波形図である。
【図12】本発明にかかる薄膜磁気ヘッドを用いて得ら
れた再生波形のオシロスコープ波形図である。
れた再生波形のオシロスコープ波形図である。
【図13】本発明に係る薄膜磁気ヘッドの別の実施例に
おける磁気変換素子部分の拡大斜視図である。
おける磁気変換素子部分の拡大斜視図である。
【図14】本発明に係る薄膜磁気ヘッドの別の実施例に
おける磁気変換素子部分の拡大斜視図である。
おける磁気変換素子部分の拡大斜視図である。
【図15】本発明に係る薄膜磁気ヘッドの別の実施例を
示す斜視図である。
示す斜視図である。
【図16】本発明に係る薄膜磁気ヘッドの別の実施例を
示す斜視図である。
示す斜視図である。
1 スライダ 103、104 空気ベアリング面 2 磁気変換素子 21 下部磁性膜 P1 下部ポール部 22 ギャップ膜 23 上部磁性膜 P2 上部ポール部 24 コイル
Claims (2)
- 【請求項1】 スライダに薄膜磁気変換素子を付着させ
た薄膜磁気ヘッドであって、 前記スライダは、媒体対向面側に空気ベアリング面を有
しており、 前記薄膜磁気変換素子は、下部磁性膜、上部磁性膜及び
コイル膜を含む薄膜磁気回路を有しており、前記下部磁
性膜及び前記上部磁性膜はギャップ膜を介して対向する
下部ポール部及び上部ポール部を有しており、前記ポー
ル部のそれぞれの先端部は、前記ギャップ膜のある方向
とは反対側が部分的に削除され前記空気ベアリング面に
現れる残りの先端厚みが1μm以下であり、前記ポール
部のそれぞれの前記先端厚みと前記ギャップ膜の厚みと
の総和は2.5μm以下である薄膜磁気ヘッド。 - 【請求項2】 前記ポール部の前記先端部は、幅方向の
端部が削除されている請求項1に記載の薄膜磁気ヘッ
ド。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9162292A JPH05266429A (ja) | 1992-03-17 | 1992-03-17 | 薄膜磁気ヘッド |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9162292A JPH05266429A (ja) | 1992-03-17 | 1992-03-17 | 薄膜磁気ヘッド |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05266429A true JPH05266429A (ja) | 1993-10-15 |
Family
ID=14031670
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9162292A Pending JPH05266429A (ja) | 1992-03-17 | 1992-03-17 | 薄膜磁気ヘッド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05266429A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5910871A (en) * | 1996-04-25 | 1999-06-08 | Hitachi, Ltd. | Magnetic head having track width specified by grooves formed with projection ion beam |
| US5978176A (en) * | 1997-04-11 | 1999-11-02 | Tdk Corporation | Magnetic head for a magnetic disk having a slider with indented portions for providing heat dissipation |
| US5991110A (en) * | 1994-01-25 | 1999-11-23 | Tdk Corporation | Thin film magnetic head and magnetic recording and reproducing apparatus |
| US6282061B1 (en) * | 1994-03-17 | 2001-08-28 | Fujitsu Limited | Magnetic head with improved floating surface |
-
1992
- 1992-03-17 JP JP9162292A patent/JPH05266429A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5991110A (en) * | 1994-01-25 | 1999-11-23 | Tdk Corporation | Thin film magnetic head and magnetic recording and reproducing apparatus |
| US6282061B1 (en) * | 1994-03-17 | 2001-08-28 | Fujitsu Limited | Magnetic head with improved floating surface |
| US7142393B2 (en) | 1994-03-17 | 2006-11-28 | Fujitsu Limited | Magnetic head and magnetic disk apparatus |
| US5910871A (en) * | 1996-04-25 | 1999-06-08 | Hitachi, Ltd. | Magnetic head having track width specified by grooves formed with projection ion beam |
| US5978176A (en) * | 1997-04-11 | 1999-11-02 | Tdk Corporation | Magnetic head for a magnetic disk having a slider with indented portions for providing heat dissipation |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20020424 |