JPH05267580A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
- Publication number
- JPH05267580A JPH05267580A JP4065960A JP6596092A JPH05267580A JP H05267580 A JPH05267580 A JP H05267580A JP 4065960 A JP4065960 A JP 4065960A JP 6596092 A JP6596092 A JP 6596092A JP H05267580 A JPH05267580 A JP H05267580A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gate
- unit
- voltage
- semiconductor device
- overcurrent
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 自動的に電流制限動作を行う過電流制限回路
を備えたIGBTなどのスイッチング部を有する半導体
装置において、電流制限動作時にスイッチング部を駆動
するゲート駆動信号自体を制御することにより、電流制
限動作の原因となっている過電流状態を解除すると共
に、過電流状態であることを知らせるアラーム信号を発
信可能とする。 【構成】 スイッチング部1の入力端子Pgの電圧を、
判定回路3のコンパレータ31により判断し、電流制限
回路20が稼働したことによるスイッチング部1の入力
インピーダンスの変化から過電流が流れる状態にあるこ
とを判断する。その結果に基づき、制御部4において入
力信号をオンからオフに切り換え、スイッチング部1を
オフとすると共に、アラーム信号を発信する。
を備えたIGBTなどのスイッチング部を有する半導体
装置において、電流制限動作時にスイッチング部を駆動
するゲート駆動信号自体を制御することにより、電流制
限動作の原因となっている過電流状態を解除すると共
に、過電流状態であることを知らせるアラーム信号を発
信可能とする。 【構成】 スイッチング部1の入力端子Pgの電圧を、
判定回路3のコンパレータ31により判断し、電流制限
回路20が稼働したことによるスイッチング部1の入力
インピーダンスの変化から過電流が流れる状態にあるこ
とを判断する。その結果に基づき、制御部4において入
力信号をオンからオフに切り換え、スイッチング部1を
オフとすると共に、アラーム信号を発信する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】電力変換装置の主スイッチング素
子として使われるIGBT等の絶縁ゲート型トランジス
タを有する半導体装置の構成に関し、特に、主スイッチ
ング素子を駆動するゲート駆動回路に関するものであ
る。
子として使われるIGBT等の絶縁ゲート型トランジス
タを有する半導体装置の構成に関し、特に、主スイッチ
ング素子を駆動するゲート駆動回路に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】図3に、従来の絶縁ゲート型トランジス
タを用いたスイッチング部1を有する半導体装置の構成
を示してある。本例においては、スイッチング素子10
として絶縁ゲートを備えたバイポーラトランジスタであ
るIGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor 以下
IGBT)12を用いてスイッチング部1が構成されて
いる。そして、このIGBT12は、電流センス用のI
GBTが作り込まれている。従って、IGBT12の高
電位の負荷端子P1に接続されたコレクタ端子12C
と、低電位の負荷端子P2に接続されたエミッタ端子1
2Eとの間に流れる電流と同じまたは比例した電流が、
電流センス用のIGBTの端子であるセンス用エミッタ
端子12eに流れる。さらに、このスイッチング部1に
は、IGBT12を過電流から保護するために、電流制
限回路20が構成されている。この電流制限回路20
は、IGBT12のセンス用エミッタ端子12eと負荷
端子P2との間に挿入された電流検出用の抵抗であるセ
ンス抵抗13と、このセンス抵抗13において発生する
電圧がゲート電極14Gに印加されるMOSFET14
から構成されている。そして、このMOSFET14の
ドレイン14Dは、スイッチング部1へ、スイッチング
素子10を制御するために供給されるゲート電圧信号V
gを受ける入力端子Pgから、IGBT12のゲート電
極12Gに至るライン上に接続されており、ソース14
Sは、負荷端子P2に接続されている。従って、IGB
T12に過電流が流れ、電流センス抵抗13において発
生する降下電圧がMOSFET14の閾値に達すると、
MOSFET14が導通し、入力端子Pgに印加されて
いるゲート電圧信号Vgが低下する。このため、IGB
T12のゲート電極12Gに印加される電圧は減少さ
れ、IGBT12は電流を制限する動作を行う。従っ
て、過電流が流れるような状態は避けられ、制限された
電流がIGBT12により流される。このようにして、
スイッチング素子10は過電流による素子破壊から保護
される。
タを用いたスイッチング部1を有する半導体装置の構成
を示してある。本例においては、スイッチング素子10
として絶縁ゲートを備えたバイポーラトランジスタであ
るIGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor 以下
IGBT)12を用いてスイッチング部1が構成されて
いる。そして、このIGBT12は、電流センス用のI
GBTが作り込まれている。従って、IGBT12の高
電位の負荷端子P1に接続されたコレクタ端子12C
と、低電位の負荷端子P2に接続されたエミッタ端子1
2Eとの間に流れる電流と同じまたは比例した電流が、
電流センス用のIGBTの端子であるセンス用エミッタ
端子12eに流れる。さらに、このスイッチング部1に
は、IGBT12を過電流から保護するために、電流制
限回路20が構成されている。この電流制限回路20
は、IGBT12のセンス用エミッタ端子12eと負荷
端子P2との間に挿入された電流検出用の抵抗であるセ
ンス抵抗13と、このセンス抵抗13において発生する
電圧がゲート電極14Gに印加されるMOSFET14
から構成されている。そして、このMOSFET14の
ドレイン14Dは、スイッチング部1へ、スイッチング
素子10を制御するために供給されるゲート電圧信号V
gを受ける入力端子Pgから、IGBT12のゲート電
極12Gに至るライン上に接続されており、ソース14
Sは、負荷端子P2に接続されている。従って、IGB
T12に過電流が流れ、電流センス抵抗13において発
生する降下電圧がMOSFET14の閾値に達すると、
MOSFET14が導通し、入力端子Pgに印加されて
いるゲート電圧信号Vgが低下する。このため、IGB
T12のゲート電極12Gに印加される電圧は減少さ
れ、IGBT12は電流を制限する動作を行う。従っ
て、過電流が流れるような状態は避けられ、制限された
電流がIGBT12により流される。このようにして、
スイッチング素子10は過電流による素子破壊から保護
される。
【0003】このようなスイッチング部1は、ゲート電
圧信号Vgを発生するゲート駆動回路2により制御され
ている。本例のゲート駆動回路2は、オン側出力スイッ
チとしてNPNトランジスタ21、オフ側出力スイッチ
としてPNPトランジスタ22を用いている。勿論、P
NPトランジスタなどに代わり、電界効果型トランジス
タ等のスイッチング素子を用いてゲート駆動回路を構成
しても良い。
圧信号Vgを発生するゲート駆動回路2により制御され
ている。本例のゲート駆動回路2は、オン側出力スイッ
チとしてNPNトランジスタ21、オフ側出力スイッチ
としてPNPトランジスタ22を用いている。勿論、P
NPトランジスタなどに代わり、電界効果型トランジス
タ等のスイッチング素子を用いてゲート駆動回路を構成
しても良い。
【0004】このゲート駆動回路2においては、さら
に、2つの出力スイッチ21、22の中間点aと、非駆
動素子、すなわちスイッチング素子10に接続される入
力端子Pgとの間にゲート抵抗25が挿入されている。
そして、スイッチング部1の低電位側の負荷端子P2、
すなわち、IGBT12のエミッタ側と、このゲート駆
動回路2の低電位側bが接続されている。また、この低
電位側bに対しゲート電圧信号Vgを発生させる電源電
位Vccを供給する駆動電源6が設置されている。
に、2つの出力スイッチ21、22の中間点aと、非駆
動素子、すなわちスイッチング素子10に接続される入
力端子Pgとの間にゲート抵抗25が挿入されている。
そして、スイッチング部1の低電位側の負荷端子P2、
すなわち、IGBT12のエミッタ側と、このゲート駆
動回路2の低電位側bが接続されている。また、この低
電位側bに対しゲート電圧信号Vgを発生させる電源電
位Vccを供給する駆動電源6が設置されている。
【0005】このようなゲート駆動回路2において、そ
れぞれの出力スイッチ21、22のベースに接続されて
いる入力端子Piに供給される入力信号がオン状態(H
igh)になると、オン側出力NPNトランジスタ21
がオンし、駆動電源電圧Vcc6がスイッチング部1の
入力端子Pgに印加され、スイッチング素子10がオン
となる。一方、駆動回路2の入力信号がオフ状態(LO
W)となると、オフ側出力PNPトランジスタ22がオ
ンとなり、スイッチング部1の入力端子Pgには低電位
が印加される。従って、スイッチング素子10はオフ状
態となる。
れぞれの出力スイッチ21、22のベースに接続されて
いる入力端子Piに供給される入力信号がオン状態(H
igh)になると、オン側出力NPNトランジスタ21
がオンし、駆動電源電圧Vcc6がスイッチング部1の
入力端子Pgに印加され、スイッチング素子10がオン
となる。一方、駆動回路2の入力信号がオフ状態(LO
W)となると、オフ側出力PNPトランジスタ22がオ
ンとなり、スイッチング部1の入力端子Pgには低電位
が印加される。従って、スイッチング素子10はオフ状
態となる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】このように、ゲート駆
動回路2を用いることにより、入力信号のオン、オフに
応じて、電流制限回路20を有するスイッチング部1の
IGBT12を制御することができる。そして、IGB
T12のコレクタ12C・エミッタ12E間電流が過電
流状態となると、センス抵抗13の降下電圧が高くな
り、電流制限用のMOSFET14がオンしてIGBT
12に印加されるゲート電圧が低下され、IGBT12
を保護できる。
動回路2を用いることにより、入力信号のオン、オフに
応じて、電流制限回路20を有するスイッチング部1の
IGBT12を制御することができる。そして、IGB
T12のコレクタ12C・エミッタ12E間電流が過電
流状態となると、センス抵抗13の降下電圧が高くな
り、電流制限用のMOSFET14がオンしてIGBT
12に印加されるゲート電圧が低下され、IGBT12
を保護できる。
【0007】しかし、このように過電流を所定の電流レ
ベルに制限する動作を行っている場合でも、ゲート駆動
回路2は入力信号に応じたゲート電圧信号Vgをスイッ
チング部1の入力端子Pgへ供給しつづける。従って、
スイッチング部1は、過電流が流れる状態にありなが
ら、継続してその状態に制御されつづける。このため、
何らかの原因で負荷端子P1、P2に供給される電流が
減少し、センス抵抗13の降下電圧が低くなり、MOS
FE14がオフとなると、再度IGBT12には過電流
が流れ、このような動作を繰り返すこととなる。この結
果、過電流制限回路が付いているにも関わらず、素子破
壊に達する場合も想定され、また、過電流が流れる異常
な状態での動作が継続されると言う点でも問題がある。
ベルに制限する動作を行っている場合でも、ゲート駆動
回路2は入力信号に応じたゲート電圧信号Vgをスイッ
チング部1の入力端子Pgへ供給しつづける。従って、
スイッチング部1は、過電流が流れる状態にありなが
ら、継続してその状態に制御されつづける。このため、
何らかの原因で負荷端子P1、P2に供給される電流が
減少し、センス抵抗13の降下電圧が低くなり、MOS
FE14がオフとなると、再度IGBT12には過電流
が流れ、このような動作を繰り返すこととなる。この結
果、過電流制限回路が付いているにも関わらず、素子破
壊に達する場合も想定され、また、過電流が流れる異常
な状態での動作が継続されると言う点でも問題がある。
【0008】そこで、本発明においては、上記の問題点
に鑑みて、過電流から主スイッチング素子を保護すると
同時に、過電流が流れる状態を排除することが可能な半
導体装置を実現することを目的としている。
に鑑みて、過電流から主スイッチング素子を保護すると
同時に、過電流が流れる状態を排除することが可能な半
導体装置を実現することを目的としている。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めに、本発明においては、スイッチング部の過電流制限
回路部の動作を判定し、入力信号自体を操作するように
している。すなわち、本発明に係るゲート駆動部から印
加されるゲート電圧に基づき制御される絶縁ゲート型ス
イッチング素子と、この絶縁ゲート型スイッチング素子
を流れる電流を制限可能な電流制限回路とを備えたスイ
ッチング部を有する半導体装置においては、電源制限回
路の作動状態を判断する判定部と、この判定部における
判断結果に基づきゲート駆動部への入力信号を制御可能
な制御部とを有することを特徴としている。
めに、本発明においては、スイッチング部の過電流制限
回路部の動作を判定し、入力信号自体を操作するように
している。すなわち、本発明に係るゲート駆動部から印
加されるゲート電圧に基づき制御される絶縁ゲート型ス
イッチング素子と、この絶縁ゲート型スイッチング素子
を流れる電流を制限可能な電流制限回路とを備えたスイ
ッチング部を有する半導体装置においては、電源制限回
路の作動状態を判断する判定部と、この判定部における
判断結果に基づきゲート駆動部への入力信号を制御可能
な制御部とを有することを特徴としている。
【0010】電流制限回路として、絶縁ゲート型スイッ
チング素子を流れる電流値を検出するセンス抵抗手段
と、このセンス抵抗手段における降下電圧からゲート電
圧をバイパス制御可能な制御素子と、降下電圧を検出可
能な過電流検出用端子とを備えている場合は、判定部と
しては、この過電流検出端子における電圧と基準電圧と
を比較可能な比較手段を備えていることが有効である。
また、電流制限回路が、過電流検出端子を備えていない
場合であっても、スイッチング部に印加されるゲート電
圧と基準電圧とを比較可能な比較手段を用いて判定部を
構成することができる。
チング素子を流れる電流値を検出するセンス抵抗手段
と、このセンス抵抗手段における降下電圧からゲート電
圧をバイパス制御可能な制御素子と、降下電圧を検出可
能な過電流検出用端子とを備えている場合は、判定部と
しては、この過電流検出端子における電圧と基準電圧と
を比較可能な比較手段を備えていることが有効である。
また、電流制限回路が、過電流検出端子を備えていない
場合であっても、スイッチング部に印加されるゲート電
圧と基準電圧とを比較可能な比較手段を用いて判定部を
構成することができる。
【0011】また、制御部としては、判定部の判断結果
に基づきゲート駆動部への入力信号を停止信号に変換可
能な自動停止制御部を採用することが望ましく、また、
判定部の判断結果に基づき警告信号を出力可能なアラー
ム制御部を採用することも有効である。
に基づきゲート駆動部への入力信号を停止信号に変換可
能な自動停止制御部を採用することが望ましく、また、
判定部の判断結果に基づき警告信号を出力可能なアラー
ム制御部を採用することも有効である。
【0012】
【作用】このようにスイッチング部における過電流制限
回路部の動作を判定部にて判断することにより、絶縁ゲ
ート型スイッチング素子を過電流が流れる状態となって
いるか否かを判定することが可能となる。そして、この
判断に基づきゲート駆動部への入力信号を制御すること
により、絶縁ゲート型スイッチング素子に過電流が流れ
る状態を解除することができるので、ハンチングなどに
より再度過電流が流れるような不具合の発生が防止可能
となる。
回路部の動作を判定部にて判断することにより、絶縁ゲ
ート型スイッチング素子を過電流が流れる状態となって
いるか否かを判定することが可能となる。そして、この
判断に基づきゲート駆動部への入力信号を制御すること
により、絶縁ゲート型スイッチング素子に過電流が流れ
る状態を解除することができるので、ハンチングなどに
より再度過電流が流れるような不具合の発生が防止可能
となる。
【0013】電流制限回路部として、過電流検出用端子
を備えている場合は、この端子の電圧を基準電圧と比較
することにより、絶縁ゲート型スイッチング素子に流れ
ている電流を判断することができる。また、過電流検出
用端子を備えていない場合であっても、スイッチング部
に印加されるゲート電圧と基準電圧とを比較することに
より、スイッチング部の入力インピーダンスとゲート駆
動部の出力インピーダンスの比を検出することが可能と
なる。そして、過電流状態となり、制御素子がバイパス
動作に入ることにより、スイッチング部の入力インピー
ダンスとゲート駆動部の出力インピーダンスの比が変わ
ることから過電流状態を判断することができる。
を備えている場合は、この端子の電圧を基準電圧と比較
することにより、絶縁ゲート型スイッチング素子に流れ
ている電流を判断することができる。また、過電流検出
用端子を備えていない場合であっても、スイッチング部
に印加されるゲート電圧と基準電圧とを比較することに
より、スイッチング部の入力インピーダンスとゲート駆
動部の出力インピーダンスの比を検出することが可能と
なる。そして、過電流状態となり、制御素子がバイパス
動作に入ることにより、スイッチング部の入力インピー
ダンスとゲート駆動部の出力インピーダンスの比が変わ
ることから過電流状態を判断することができる。
【0014】また、制御部として自動停止制御部を用い
ることにより、過電流が発生すると自動的にスイッチン
グ部を停止させるような保護方法を採用することができ
る。
ることにより、過電流が発生すると自動的にスイッチン
グ部を停止させるような保護方法を採用することができ
る。
【0015】また、アラーム制御部を採用することによ
り、ゲート駆動部に入力される入力信号に異常があるこ
とを報せ、過電流が発生する状態を解除したり、その原
因を排除するなどの処理を行うことが可能となる。
り、ゲート駆動部に入力される入力信号に異常があるこ
とを報せ、過電流が発生する状態を解除したり、その原
因を排除するなどの処理を行うことが可能となる。
【0016】
【実施例】以下に図面を参照して、本発明の実施例を説
明する。
明する。
【0017】〔実施例1〕図1に、実施例1に係る半導
体装置の構成を示してある。本例の装置は、先に図3に
基づき説明した従来の装置と同様に、IGBT12を用
いたスイッチング部1を有する半導体装置である。そし
て、本例のIGBT12も電流センス用のIGBTが作
り込まれており、このセンス用エミッタ端子12eに接
続されたセンス抵抗13、このセンス抵抗13において
発生する電圧によりゲート電圧を制御する制御素子であ
るMOSFET14からなる電流制限回路20を備えて
いる。このようなスイッチング部1をゲート電圧信号V
gにより駆動するゲート駆動回路2も従来の装置と同様
に、オン側出力スイッチとしてNPNトランジスタ2
1、オフ側出力スイッチとしてPNPトランジスタ2
2、ゲート抵抗RG、電源電位Vcc26をそなてい
る。従って、共通する部分においては同じ符号を付し、
構成、動作の説明を省略する。
体装置の構成を示してある。本例の装置は、先に図3に
基づき説明した従来の装置と同様に、IGBT12を用
いたスイッチング部1を有する半導体装置である。そし
て、本例のIGBT12も電流センス用のIGBTが作
り込まれており、このセンス用エミッタ端子12eに接
続されたセンス抵抗13、このセンス抵抗13において
発生する電圧によりゲート電圧を制御する制御素子であ
るMOSFET14からなる電流制限回路20を備えて
いる。このようなスイッチング部1をゲート電圧信号V
gにより駆動するゲート駆動回路2も従来の装置と同様
に、オン側出力スイッチとしてNPNトランジスタ2
1、オフ側出力スイッチとしてPNPトランジスタ2
2、ゲート抵抗RG、電源電位Vcc26をそなてい
る。従って、共通する部分においては同じ符号を付し、
構成、動作の説明を省略する。
【0018】本例の装置においては、上記のスイッチン
グ部1およびゲート駆動回路2に加え、スイッチング部
1の電流制限回路20の動作を確認する判定回路3およ
びゲート駆動回路2に入力される入力信号の制御を行う
制御回路4が付加されている。また、スイッチング部1
においては、従来のスイッチング部1の端子に加え、セ
ンス抵抗13に発生した電圧の検出が可能なように検出
端子Psが付加されている。
グ部1およびゲート駆動回路2に加え、スイッチング部
1の電流制限回路20の動作を確認する判定回路3およ
びゲート駆動回路2に入力される入力信号の制御を行う
制御回路4が付加されている。また、スイッチング部1
においては、従来のスイッチング部1の端子に加え、セ
ンス抵抗13に発生した電圧の検出が可能なように検出
端子Psが付加されている。
【0019】先ず、判定回路3は、コンパレータ31に
より構成されており、このコンパレータ31の非反転入
力32がスイッチング部1の検出端子Psに接続されて
いる。そして、コンパレータ31の反転入力33には、
基準電圧Vsとなる定電圧電源35が接続されている。
従って、この基準電圧Vsを、MOSFET14の閾値
と同じ値とすることにより、電源制限回路20の動作状
態を判断することができる。すなわち、センス抵抗13
における降下電圧が基準電圧Vsより低い場合は、コン
パレータ31の出力34は低レベルである。そして、I
GBT12を通過する電流が所定の電流値を越えてセン
ス抵抗13における降下電圧が基準電圧Vsを越える
と、コンパレータ31の出力34は高レベルに反転され
る。電流制限回路20においては、この時にMOSFE
T14が導通状態となり、制限動作を開始する。従っ
て、このコンパレータ31を用いてセンス抵抗13に発
生する降下電圧を比較することにより電流制限回路20
の動作状態、すなわち、IGBTに過電流が流れる状態
となっているか否かを判断することができる。
より構成されており、このコンパレータ31の非反転入
力32がスイッチング部1の検出端子Psに接続されて
いる。そして、コンパレータ31の反転入力33には、
基準電圧Vsとなる定電圧電源35が接続されている。
従って、この基準電圧Vsを、MOSFET14の閾値
と同じ値とすることにより、電源制限回路20の動作状
態を判断することができる。すなわち、センス抵抗13
における降下電圧が基準電圧Vsより低い場合は、コン
パレータ31の出力34は低レベルである。そして、I
GBT12を通過する電流が所定の電流値を越えてセン
ス抵抗13における降下電圧が基準電圧Vsを越える
と、コンパレータ31の出力34は高レベルに反転され
る。電流制限回路20においては、この時にMOSFE
T14が導通状態となり、制限動作を開始する。従っ
て、このコンパレータ31を用いてセンス抵抗13に発
生する降下電圧を比較することにより電流制限回路20
の動作状態、すなわち、IGBTに過電流が流れる状態
となっているか否かを判断することができる。
【0020】制御回路4は、判定回路3の判断結果を用
いて入力信号の制御などを行う回路であり、コンパレー
タ31の出力と、制御回路の入力端子P0に供給される
入力信号とが入力される2入力NANDゲート41と、
このNANDゲート41の出力と、入力端子P0に供給
される入力信号とが入力されるANDゲート45とから
構成されている。そして、このANDゲート45の出力
信号が、ゲート駆動回路2の入力端子Piに供給され
る。従って、NANDゲート41の出力は、コンパレー
タ31からの出力が高レベル、すなわち、過電流動作状
態であり、入力信号も高レベルである時に低レベルとな
る。このため、ANDゲート45の出力は、入力信号が
高レベルであっても、過電流動作状態であるときは、低
レベルとなり、ゲート駆動回路2に供給される信号はオ
フを示す低レベルとなる。従って、スイッチング部1に
印加されるゲート電圧信号は低下し、IGBT12はオ
フとなり、過電流が流れる状態を解除できる。
いて入力信号の制御などを行う回路であり、コンパレー
タ31の出力と、制御回路の入力端子P0に供給される
入力信号とが入力される2入力NANDゲート41と、
このNANDゲート41の出力と、入力端子P0に供給
される入力信号とが入力されるANDゲート45とから
構成されている。そして、このANDゲート45の出力
信号が、ゲート駆動回路2の入力端子Piに供給され
る。従って、NANDゲート41の出力は、コンパレー
タ31からの出力が高レベル、すなわち、過電流動作状
態であり、入力信号も高レベルである時に低レベルとな
る。このため、ANDゲート45の出力は、入力信号が
高レベルであっても、過電流動作状態であるときは、低
レベルとなり、ゲート駆動回路2に供給される信号はオ
フを示す低レベルとなる。従って、スイッチング部1に
印加されるゲート電圧信号は低下し、IGBT12はオ
フとなり、過電流が流れる状態を解除できる。
【0021】一方、コンパレータ31の出力が低レベ
ル、すなわち、過電流制限回路が動作していない場合
は、入力信号に関わらずNANDゲート41の出力は高
レベルであるので、入力信号はそのままゲート駆動回路
2に供給され、スイッチング部1では通常通りの動作が
行われる。
ル、すなわち、過電流制限回路が動作していない場合
は、入力信号に関わらずNANDゲート41の出力は高
レベルであるので、入力信号はそのままゲート駆動回路
2に供給され、スイッチング部1では通常通りの動作が
行われる。
【0022】また、本例の制御回路4においては、NA
NDゲート41の出力が、アラーム出力端子Paに接続
されており、入力信号がオン状態で、過電流制限回路が
動作した場合は、アラーム信号を供給することが可能と
なっている。従って、オペレータあるいは上位の制御装
置において、このアラーム信号に基づき、制御回路4の
入力端子P0への入力信号をオフとしたり、あるいは、
過電流状態となった原因を排除したりすることが可能で
ある。
NDゲート41の出力が、アラーム出力端子Paに接続
されており、入力信号がオン状態で、過電流制限回路が
動作した場合は、アラーム信号を供給することが可能と
なっている。従って、オペレータあるいは上位の制御装
置において、このアラーム信号に基づき、制御回路4の
入力端子P0への入力信号をオフとしたり、あるいは、
過電流状態となった原因を排除したりすることが可能で
ある。
【0023】このように、本例の装置においては、スイ
ッチング部1にて過電流を制限する動作に入ったことを
判断して、ゲート駆動回路2に供給される信号を制御す
ることができるので、このスイッチング部を通って過電
流が流れるような事態を防止できる。また、電流制限回
路20に起因して、電流値が振動し、再度過電流が流れ
るような事態を避けることもできる。さらに、アラーム
信号を発信することも可能であるので、過電流となった
ことをオペレータあるいは上位の制御装置が確認するこ
とができ、過電流状態の再発防止に役立てることも可能
である。
ッチング部1にて過電流を制限する動作に入ったことを
判断して、ゲート駆動回路2に供給される信号を制御す
ることができるので、このスイッチング部を通って過電
流が流れるような事態を防止できる。また、電流制限回
路20に起因して、電流値が振動し、再度過電流が流れ
るような事態を避けることもできる。さらに、アラーム
信号を発信することも可能であるので、過電流となった
ことをオペレータあるいは上位の制御装置が確認するこ
とができ、過電流状態の再発防止に役立てることも可能
である。
【0024】〔実施例2〕図2に、実施例2に係る半導
体装置の構成を示してある。本例の装置も、実施例1と
同様にセンス用エミッタ端子12eを備えたIGBT1
2を用いたスイッチング部1を有する半導体装置であ
り、過電流からの素子破壊などを防止する電流制限回路
20を備えている。そして、トランジスタ21、22等
を用いたゲート駆動回路2、電流制限回路20の動作状
態を判断する判定回路3、および制御回路4も備えてい
る。従って、共通する部分においては同じ符号を付し、
構成、動作の説明を省略する。
体装置の構成を示してある。本例の装置も、実施例1と
同様にセンス用エミッタ端子12eを備えたIGBT1
2を用いたスイッチング部1を有する半導体装置であ
り、過電流からの素子破壊などを防止する電流制限回路
20を備えている。そして、トランジスタ21、22等
を用いたゲート駆動回路2、電流制限回路20の動作状
態を判断する判定回路3、および制御回路4も備えてい
る。従って、共通する部分においては同じ符号を付し、
構成、動作の説明を省略する。
【0025】本例の装置において着目すべき点は、実施
例1と異なり、スイッチング部1としては、先に説明し
た従来のスイッチング部と同様のものが用いられてお
り、検出端子Psは構成されていない。このため、本例
では、判定回路3において、スイッチング部1のゲート
駆動電圧信号が入力される入力端子Pgをコンパレータ
31の非反転入力33と接続し、スイッチング部1の入
力インピーダンスの低下から電流制限回路20の動作状
態を判断している。すなわち、ゲート駆動回路2の入力
端子Piに入力される信号がオンの時は、ゲート駆動回
路2からスイッチング部1の入力端子Pgに駆動電圧V
ccにより所定の電圧信号がゲート抵抗25を介して印
加される。この入力端子Pgの電位は、電流制限回路2
0が作動していない場合には、IGBT12によるスイ
ッチング部1の入力インピーダンスと、ゲート抵抗25
によるゲート駆動回路2の出力インピーダンスに基づき
決定される。ここで、電流制限回路20が動作するとM
OSFET14が導通状態となるため、スイッチング部
1の入力インピーダンスは低下し、入力端子Pgの電位
は降下する。従って、入力端子Pgの電位が降下し、コ
ンパレータ31の反転入力に印加されている基準電圧V
s以下となると、コンパレータ31の出力34は、低レ
ベルに反転することとなる。
例1と異なり、スイッチング部1としては、先に説明し
た従来のスイッチング部と同様のものが用いられてお
り、検出端子Psは構成されていない。このため、本例
では、判定回路3において、スイッチング部1のゲート
駆動電圧信号が入力される入力端子Pgをコンパレータ
31の非反転入力33と接続し、スイッチング部1の入
力インピーダンスの低下から電流制限回路20の動作状
態を判断している。すなわち、ゲート駆動回路2の入力
端子Piに入力される信号がオンの時は、ゲート駆動回
路2からスイッチング部1の入力端子Pgに駆動電圧V
ccにより所定の電圧信号がゲート抵抗25を介して印
加される。この入力端子Pgの電位は、電流制限回路2
0が作動していない場合には、IGBT12によるスイ
ッチング部1の入力インピーダンスと、ゲート抵抗25
によるゲート駆動回路2の出力インピーダンスに基づき
決定される。ここで、電流制限回路20が動作するとM
OSFET14が導通状態となるため、スイッチング部
1の入力インピーダンスは低下し、入力端子Pgの電位
は降下する。従って、入力端子Pgの電位が降下し、コ
ンパレータ31の反転入力に印加されている基準電圧V
s以下となると、コンパレータ31の出力34は、低レ
ベルに反転することとなる。
【0026】このように、本例の装置の判定回路3にお
いては、スイッチング部1の入力インピーダンスの低下
に基づく入力端子Pgの電位変動から、電流制限回路2
0の動作状態を判断し、IGBT12に過電流が流れる
状態となっているか否かを検出することができる。従っ
て、スイッチング部1としては、従来と同様の構成で良
く、新たに検出端子を追設する必要はない。従って、本
例の装置においては、判定回路3と制御回路4を追加す
るだけで、過電流を検出し、IGBTを自動的にオフす
る機能を持たせることができる。また、アラーム信号を
発信し、過電流状態に対応した制御を行うこともでき
る。このように、本例の装置は、検出端子との配線を省
略でき、簡素化された形で、上記のような機能を付加す
ることができるものであり、従来と同様のコレクタ、ゲ
ート、エミッタ端子の各端子しか有しないパッケージを
用いることが可能である。
いては、スイッチング部1の入力インピーダンスの低下
に基づく入力端子Pgの電位変動から、電流制限回路2
0の動作状態を判断し、IGBT12に過電流が流れる
状態となっているか否かを検出することができる。従っ
て、スイッチング部1としては、従来と同様の構成で良
く、新たに検出端子を追設する必要はない。従って、本
例の装置においては、判定回路3と制御回路4を追加す
るだけで、過電流を検出し、IGBTを自動的にオフす
る機能を持たせることができる。また、アラーム信号を
発信し、過電流状態に対応した制御を行うこともでき
る。このように、本例の装置は、検出端子との配線を省
略でき、簡素化された形で、上記のような機能を付加す
ることができるものであり、従来と同様のコレクタ、ゲ
ート、エミッタ端子の各端子しか有しないパッケージを
用いることが可能である。
【0027】なお、本例においては、スイッチング部の
スイッチング素子としてIGBTを採用しているが、パ
ワーMOSFETなどの絶縁ゲート型半導体素子を用い
ることも勿論可能である。また、電流制限回路において
も、制御素子としてMOSFETを用いているが、サイ
リスタ、バイポーラトランジスタなどを用いることもで
きる。さらに、ゲート駆動回路はバイポーラトランジス
タに代わり、MOSFEなどのスイッチング素子を用い
るても勿論良い。また、判定回路としては、コンパレー
タに代わり、所定の閾値電圧を持つインバータ等を用い
ても良い。また、制御回路のロジックとしては多種多様
なロジックを組み込むことは勿論可能である。
スイッチング素子としてIGBTを採用しているが、パ
ワーMOSFETなどの絶縁ゲート型半導体素子を用い
ることも勿論可能である。また、電流制限回路において
も、制御素子としてMOSFETを用いているが、サイ
リスタ、バイポーラトランジスタなどを用いることもで
きる。さらに、ゲート駆動回路はバイポーラトランジス
タに代わり、MOSFEなどのスイッチング素子を用い
るても勿論良い。また、判定回路としては、コンパレー
タに代わり、所定の閾値電圧を持つインバータ等を用い
ても良い。また、制御回路のロジックとしては多種多様
なロジックを組み込むことは勿論可能である。
【0028】
【発明の効果】以上に説明したように、本発明に係る半
導体装置においては、過電流が流れた場合の電流を制限
する電流制限回路の動作から、スイッチング部に過電流
の流れる状態に有るか否かを判定部にて判断している。
そして、この判断に基づき、制御部において、スイッチ
ング部に入力される入力信号を変更し、スイッチング部
において過電流を遮断するなどの処置を行うことができ
る。従って、本発明に係る半導体装置においては、過電
流の流れるような状態が継続することを防止可能であ
る。また、スイッチング部において電流制限回路の動作
に起因して電流ちが振動したり、再度過電流が流れるよ
うな事態の発生を防止することができる。
導体装置においては、過電流が流れた場合の電流を制限
する電流制限回路の動作から、スイッチング部に過電流
の流れる状態に有るか否かを判定部にて判断している。
そして、この判断に基づき、制御部において、スイッチ
ング部に入力される入力信号を変更し、スイッチング部
において過電流を遮断するなどの処置を行うことができ
る。従って、本発明に係る半導体装置においては、過電
流の流れるような状態が継続することを防止可能であ
る。また、スイッチング部において電流制限回路の動作
に起因して電流ちが振動したり、再度過電流が流れるよ
うな事態の発生を防止することができる。
【0029】また、本発明に係る半導体装置において
は、過電流が流れる状態となった場合にアラーム信号を
発信することも容易であり、このアラーム信号に基づ
き、制御状態を変更したり、あるいは、過電流が流れる
状態にあることを知って、その原因を調査したりするこ
とも可能となる。
は、過電流が流れる状態となった場合にアラーム信号を
発信することも容易であり、このアラーム信号に基づ
き、制御状態を変更したり、あるいは、過電流が流れる
状態にあることを知って、その原因を調査したりするこ
とも可能となる。
【0030】さらに、スイッチング部の入力インピーダ
ンスから過電流制御部の動作状態を判断することも可能
であり、このような装置においては、従来用いられてい
るスイッチング部を変更することなく、上記のような機
能を持たせることが可能である。従って、新たな装置を
開発する時間、経費を省いて、簡易な構造でありなが
ら、より高機能の半導体装置を実現することができる。
ンスから過電流制御部の動作状態を判断することも可能
であり、このような装置においては、従来用いられてい
るスイッチング部を変更することなく、上記のような機
能を持たせることが可能である。従って、新たな装置を
開発する時間、経費を省いて、簡易な構造でありなが
ら、より高機能の半導体装置を実現することができる。
【図1】本発明の実施例1に係る半導体装置の構成を示
す回路図である。
す回路図である。
【図2】本発明の実施例2に係る半導体装置の構成を示
す回路図である。
す回路図である。
【図3】従来の半導体装置の構成を示す回路図である。
1 ・・・スイッチング部 2 ・・・ゲート駆動回路 3 ・・・判定回路 4 ・・・制御回路 10・・・スイッチング素子 12・・・IGBT 13・・・センス抵抗 14・・・制御素子(MOSFET) 20・・・電流制限回路 21・・・NPNトランジスタ 22・・・PNPトランジスタ 25・・・ゲート抵抗 26・・・駆動電圧源 31・・・コンパレータ 32・・・反転入力 33・・・非反転入力 34・・・コンパレータの出力 35・・・基準電圧源 41・・・NANDゲート 45・・・ANDゲート
Claims (5)
- 【請求項1】 ゲート駆動部から印加されるゲート電圧
に基づき制御される絶縁ゲート型スイッチング素子と、
この絶縁ゲート型スイッチング素子を流れる電流を制限
可能な電流制限回路とを備えたスイッチング部を有する
半導体装置において、前記電源制限回路の作動状態を判
断する判定部と、この判定部における判断結果に基づき
前記ゲート駆動部への入力信号を制御可能な制御部とを
有することを特徴とする半導体装置。 - 【請求項2】 請求項1において、前記電流制限回路
は、前記絶縁ゲート型スイッチング素子を流れる電流値
を検出するセンス抵抗手段と、このセンス抵抗手段にお
ける降下電圧から前記ゲート電圧をバイパス制御可能な
制御素子と、前記降下電圧を検出可能な過電流検出用端
子とを備え、前記判定部は、この過電流検出端子におけ
る電圧と基準電圧とを比較可能な比較手段を備えている
ことを特徴とする半導体装置。 - 【請求項3】 請求項1において、前記電流制限回路
は、前記絶縁ゲート型スイッチング素子を流れる電流値
を検出するセンス抵抗手段と、このセンス抵抗手段にお
ける降下電圧から前記ゲート電圧をバイパス制御可能な
制御素子とを備え、前記判定部は、前記スイッチング部
に印加される前記ゲート電圧と基準電圧とを比較可能な
比較手段を備えていることを特徴とする半導体装置。 - 【請求項4】 請求項1ないし3のいずれかにおいて、
前記制御部は、前記判定部の判断結果に基づき前記ゲー
ト駆動部への前記入力信号を停止信号に変換可能な自動
停止制御部であることを特徴とする半導体装置。 - 【請求項5】 請求項1ないし4のいずれかにおいて、
前記制御部は、前記判定部の判断結果に基づき警告信号
を出力可能なアラーム制御部であることを特徴とする半
導体装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4065960A JPH05267580A (ja) | 1992-03-24 | 1992-03-24 | 半導体装置 |
| EP96107212A EP0730347A3 (en) | 1992-03-18 | 1993-03-17 | Semiconductor device |
| EP93104360A EP0561386A1 (en) | 1992-03-18 | 1993-03-17 | Semiconductor device |
| US08/121,470 US5500619A (en) | 1992-03-18 | 1993-09-16 | Semiconductor device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4065960A JPH05267580A (ja) | 1992-03-24 | 1992-03-24 | 半導体装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05267580A true JPH05267580A (ja) | 1993-10-15 |
Family
ID=13302068
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4065960A Pending JPH05267580A (ja) | 1992-03-18 | 1992-03-24 | 半導体装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05267580A (ja) |
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4878096A (en) * | 1986-03-28 | 1989-10-31 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor device IC with DMOS using self-aligned back gate region |
| JPH10135804A (ja) * | 1996-08-19 | 1998-05-22 | Siemens Ag | 電界効果により制御される半導体デバイス用駆動回路装置 |
| JP2004007989A (ja) * | 2003-07-11 | 2004-01-08 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体パワーモジュールおよび複合パワーモジュール |
| JP2007507893A (ja) * | 2003-10-06 | 2007-03-29 | セミコンダクター・コンポーネンツ・インダストリーズ・リミテッド・ライアビリティ・カンパニー | パワー・スイッチの構造および方法 |
| JP2009027883A (ja) * | 2007-07-23 | 2009-02-05 | Fuji Electric Device Technology Co Ltd | 半導体装置 |
| JP2012070045A (ja) * | 2010-09-21 | 2012-04-05 | Yazaki Corp | 負荷駆動装置 |
| WO2014136252A1 (ja) * | 2013-03-08 | 2014-09-12 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置 |
| JPWO2016038717A1 (ja) * | 2014-09-11 | 2017-07-06 | 三菱電機株式会社 | 自己消弧型半導体素子の短絡保護回路 |
| JPWO2023286464A1 (ja) * | 2021-07-12 | 2023-01-19 | ||
| JP2023027545A (ja) * | 2021-08-17 | 2023-03-02 | 富士電機株式会社 | 半導体モジュール |
| JP2023032984A (ja) * | 2021-08-27 | 2023-03-09 | 富士電機株式会社 | 半導体モジュール |
| EP2713504B1 (en) * | 2012-09-28 | 2024-11-27 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Overcurrent protection device and power tool |
-
1992
- 1992-03-24 JP JP4065960A patent/JPH05267580A/ja active Pending
Cited By (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4878096A (en) * | 1986-03-28 | 1989-10-31 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor device IC with DMOS using self-aligned back gate region |
| JPH10135804A (ja) * | 1996-08-19 | 1998-05-22 | Siemens Ag | 電界効果により制御される半導体デバイス用駆動回路装置 |
| JP2004007989A (ja) * | 2003-07-11 | 2004-01-08 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体パワーモジュールおよび複合パワーモジュール |
| JP2007507893A (ja) * | 2003-10-06 | 2007-03-29 | セミコンダクター・コンポーネンツ・インダストリーズ・リミテッド・ライアビリティ・カンパニー | パワー・スイッチの構造および方法 |
| JP2011135093A (ja) * | 2003-10-06 | 2011-07-07 | Semiconductor Components Industries Llc | パワー・スイッチの構造および方法 |
| JP2009027883A (ja) * | 2007-07-23 | 2009-02-05 | Fuji Electric Device Technology Co Ltd | 半導体装置 |
| JP2012070045A (ja) * | 2010-09-21 | 2012-04-05 | Yazaki Corp | 負荷駆動装置 |
| EP2713504B1 (en) * | 2012-09-28 | 2024-11-27 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Overcurrent protection device and power tool |
| WO2014136252A1 (ja) * | 2013-03-08 | 2014-09-12 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置 |
| JP5940211B2 (ja) * | 2013-03-08 | 2016-06-29 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置 |
| JPWO2016038717A1 (ja) * | 2014-09-11 | 2017-07-06 | 三菱電機株式会社 | 自己消弧型半導体素子の短絡保護回路 |
| JPWO2023286464A1 (ja) * | 2021-07-12 | 2023-01-19 | ||
| US12463633B2 (en) | 2021-07-12 | 2025-11-04 | Fuji Electric Co., Ltd. | Control device, and switching device |
| JP2023027545A (ja) * | 2021-08-17 | 2023-03-02 | 富士電機株式会社 | 半導体モジュール |
| JP2023032984A (ja) * | 2021-08-27 | 2023-03-09 | 富士電機株式会社 | 半導体モジュール |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR100843366B1 (ko) | 부하구동장치 | |
| CA2071405C (en) | Fault detection apparatus for a transformer isolated transistor drive circuit for a power device | |
| US4809122A (en) | Self-protective fuel pump driver circuit | |
| US8379360B2 (en) | Overcurrent protection circuit and in-vehicle display device | |
| JPH05299991A (ja) | モノリシックパワーmos集積回路 | |
| EP0709961A2 (en) | Method and circuit for controlling and monitoring a load | |
| JPH05267580A (ja) | 半導体装置 | |
| EP0561386A1 (en) | Semiconductor device | |
| US20020039037A1 (en) | Load driving device | |
| US5448441A (en) | Fault protection circuit for power switching device | |
| US5424897A (en) | Three leaded protected power device having voltage input | |
| JP2003308123A (ja) | 電源保護回路 | |
| JP6070003B2 (ja) | 半導体駆動装置 | |
| JP4479570B2 (ja) | 保護機能付きスイッチング回路および保護回路 | |
| JP3052619B2 (ja) | カレントセンシング機能付半導体装置の制御回路装置 | |
| JPH07183781A (ja) | 半導体装置とその駆動装置 | |
| KR100292572B1 (ko) | 유도성구성부품을지니는단락회로동안트랜지스터를불활성화시키는데사용되는보호회로 | |
| JP3649154B2 (ja) | 過電流保護装置 | |
| JP3453718B2 (ja) | 電流の遮断装置 | |
| JP2004248452A (ja) | 過電流保護回路 | |
| US5091816A (en) | Procedure and device for overload and short-circuit protection of output drivers | |
| JP3572878B2 (ja) | 車両用回路保護装置 | |
| JP3145868B2 (ja) | パワーデバイス及びパワーデバイス制御システム | |
| JP3764259B2 (ja) | インバータ装置 | |
| KR100338688B1 (ko) | 프로그래머블 로직 콘트롤러 출력부의 과 전류 보호 회로 |