JPH0526770A - カツトバツク法による光フアイバの自動測定方法 - Google Patents
カツトバツク法による光フアイバの自動測定方法Info
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- JPH0526770A JPH0526770A JP17793091A JP17793091A JPH0526770A JP H0526770 A JPH0526770 A JP H0526770A JP 17793091 A JP17793091 A JP 17793091A JP 17793091 A JP17793091 A JP 17793091A JP H0526770 A JPH0526770 A JP H0526770A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 光ファイバの伝送損失に関する測定を自動化
したカットバック法による光ファイバの自動測定ホルダ
を提供する。 【構成】 被測定ファイバ2の各端部を第1ハンドリン
グ部と第2ハンドリング部20で機械的に取り扱い、被
測定ファイバの一端を受光手段15側と、他端を光源側
と、夫々光接続することにより、光源から出射された検
査光を受光手段15で測定する。次に、機械的に作動す
る第3ハンドリング部30により、被測定ファイバ2を
光源側で所定長さ手繰り寄せて切断し、切断された被測
定ファイバの光源側における切断部を受光手段35に光
接続することにより、光源から出射された検査光を受光
手段35で測定する。検査光の両測定結果に基づいて、
被測定ファイバにおける伝送損失を自動的に求める。
したカットバック法による光ファイバの自動測定ホルダ
を提供する。 【構成】 被測定ファイバ2の各端部を第1ハンドリン
グ部と第2ハンドリング部20で機械的に取り扱い、被
測定ファイバの一端を受光手段15側と、他端を光源側
と、夫々光接続することにより、光源から出射された検
査光を受光手段15で測定する。次に、機械的に作動す
る第3ハンドリング部30により、被測定ファイバ2を
光源側で所定長さ手繰り寄せて切断し、切断された被測
定ファイバの光源側における切断部を受光手段35に光
接続することにより、光源から出射された検査光を受光
手段35で測定する。検査光の両測定結果に基づいて、
被測定ファイバにおける伝送損失を自動的に求める。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、カットバック法による
光ファイバの自動測定方法に関する。
光ファイバの自動測定方法に関する。
【0002】
【従来の技術】光ファイバの伝送損失を測定する測定方
法の一つとして、例えば、カットバック法が知られてい
る。この方法においては、先ず、一端が光源に接続され
たダミーファイバの他端に被測定ファイバの一端を突合
わせ接続して接続部とし、光源から出射される検査光を
ダミーファイバを介して被測定ファイバの一端に入射
し、他端から出射される検査光の出力P1 をパワーメー
タ等により測定する。
法の一つとして、例えば、カットバック法が知られてい
る。この方法においては、先ず、一端が光源に接続され
たダミーファイバの他端に被測定ファイバの一端を突合
わせ接続して接続部とし、光源から出射される検査光を
ダミーファイバを介して被測定ファイバの一端に入射
し、他端から出射される検査光の出力P1 をパワーメー
タ等により測定する。
【0003】次に、被測定ファイバを前記接続部の近傍
で切断(カットバック)し、この切断部における検査光
の出力P2 を再度前記パワーメータ等で測定する。次い
で、前記測定結果に基づき、10log(P2/P1)を算出し、こ
の値を被測定ファイバの残存長で割ることにより伝送損
失(dB/km) を求めるものであり、このカットバック法に
よればダミーファイバとの接続損失の影響を除いた正確
な損失を測定することができるという利点がある。
で切断(カットバック)し、この切断部における検査光
の出力P2 を再度前記パワーメータ等で測定する。次い
で、前記測定結果に基づき、10log(P2/P1)を算出し、こ
の値を被測定ファイバの残存長で割ることにより伝送損
失(dB/km) を求めるものであり、このカットバック法に
よればダミーファイバとの接続損失の影響を除いた正確
な損失を測定することができるという利点がある。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、かかる光フ
ァイバの損失測定においては、被測定ファイバの端末処
理、ダミーファイバとの突合わせ接続、被測定ファイバ
の切断、ダミーファイバ側の被測定ファイバの切断部に
おける端末処理及びパワーメータとの接続等、測定に伴
う被測定ファイバの各種処理は、作業者が手作業で行っ
ていた。
ァイバの損失測定においては、被測定ファイバの端末処
理、ダミーファイバとの突合わせ接続、被測定ファイバ
の切断、ダミーファイバ側の被測定ファイバの切断部に
おける端末処理及びパワーメータとの接続等、測定に伴
う被測定ファイバの各種処理は、作業者が手作業で行っ
ていた。
【0005】このため、例えば、多数の光ファイバから
構成される光ファイバケーブル等のように、多数の光フ
ァイバを短時間で測定処理する場合には、個々の光ファ
イバ毎に手作業で上記処理をしなければならず、損失測
定における被測定ファイバの処理作業が煩雑で、多大の
時間が掛かることから、損失測定における自動化が望ま
れていた。
構成される光ファイバケーブル等のように、多数の光フ
ァイバを短時間で測定処理する場合には、個々の光ファ
イバ毎に手作業で上記処理をしなければならず、損失測
定における被測定ファイバの処理作業が煩雑で、多大の
時間が掛かることから、損失測定における自動化が望ま
れていた。
【0006】本発明は上記の点に鑑みてなされたもの
で、光ファイバの伝送損失に関する測定を自動化したカ
ットバック法による光ファイバの自動測定方法を提供す
ることを目的とする。
で、光ファイバの伝送損失に関する測定を自動化したカ
ットバック法による光ファイバの自動測定方法を提供す
ることを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明によれば上記目的
を達成するため、被測定ファイバの各端部を第1及び第
2のハンドリング部で取り扱うことにより、該被測定フ
ァイバの一端を受光手段側に、他端を光源側に夫々光接
続して、光源から出射された検査光を受光手段で測定
し、次に、第3のハンドリング部により、前記被測定フ
ァイバを光源側で所定長さ手繰り寄せて切断し、当該切
断された光源側の被測定ファイバの切断部を受光手段に
光接続することにより、前記光源から出射された検査光
を受光手段で測定し、前記被測定ファイバにおける検査
光の測定強度に基づいて、当該被測定ファイバにおける
伝送損失の測定を自動的に行う構成としたものである。
を達成するため、被測定ファイバの各端部を第1及び第
2のハンドリング部で取り扱うことにより、該被測定フ
ァイバの一端を受光手段側に、他端を光源側に夫々光接
続して、光源から出射された検査光を受光手段で測定
し、次に、第3のハンドリング部により、前記被測定フ
ァイバを光源側で所定長さ手繰り寄せて切断し、当該切
断された光源側の被測定ファイバの切断部を受光手段に
光接続することにより、前記光源から出射された検査光
を受光手段で測定し、前記被測定ファイバにおける検査
光の測定強度に基づいて、当該被測定ファイバにおける
伝送損失の測定を自動的に行う構成としたものである。
【0008】
【作用】被測定ファイバは、カットバック法による測定
に際し、第1乃至第3のハンドリング部によって各端部
が機械的に取り扱われ、被測定ファイバを伝送される検
査光が人手を煩わせることなく自動的に測定され、伝送
損失が求められる。
に際し、第1乃至第3のハンドリング部によって各端部
が機械的に取り扱われ、被測定ファイバを伝送される検
査光が人手を煩わせることなく自動的に測定され、伝送
損失が求められる。
【0009】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図1乃至図14に
基づいて詳細に説明する。先ず、本発明方法の説明に先
立って、本発明方法の実施に用いる測定システムについ
て説明しておく。図1乃至図5は、本発明方法の実施に
用いる測定システム1の概略構成を示すもので、測定シ
ステム1は、第1ハンドリング部10、第2ハンドリン
グ部20及び第3ハンドリング部30を備えている。
基づいて詳細に説明する。先ず、本発明方法の説明に先
立って、本発明方法の実施に用いる測定システムについ
て説明しておく。図1乃至図5は、本発明方法の実施に
用いる測定システム1の概略構成を示すもので、測定シ
ステム1は、第1ハンドリング部10、第2ハンドリン
グ部20及び第3ハンドリング部30を備えている。
【0010】第1ハンドリング部10は、複数の光ファ
イバ心線に被覆を施した多心ファイバである被測定ファ
イバ2の一端を、受光装置と光接続させるべく取り扱う
部分で、図1及び図4に示すように、ホルダパレット1
1、端末処理装置12、搬送装置13、引出し装置1
4、受光装置15及び押上手段16を備えており、ホル
ダパレット11には被測定ファイバ2の一端側を保持し
た複数のホルダ11aが配列されている。ホルダ11a
は、2個の磁性金属板材を蝶番状に連結したもので、磁
性金属の磁力により被測定ファイバ2を保持する。
イバ心線に被覆を施した多心ファイバである被測定ファ
イバ2の一端を、受光装置と光接続させるべく取り扱う
部分で、図1及び図4に示すように、ホルダパレット1
1、端末処理装置12、搬送装置13、引出し装置1
4、受光装置15及び押上手段16を備えており、ホル
ダパレット11には被測定ファイバ2の一端側を保持し
た複数のホルダ11aが配列されている。ホルダ11a
は、2個の磁性金属板材を蝶番状に連結したもので、磁
性金属の磁力により被測定ファイバ2を保持する。
【0011】ここで、被測定ファイバ2の他端には検査
光が入射される。また、端末処理装置12は、被測定フ
ァイバ2の一端における被覆の除去、クリーニング及び
被覆の除去によって露出した複数の光ファイバ心線を所
定長さに切り揃える等の端末処理を行う。搬送装置13
は、ホルダパレット11上に配列された複数のホルダ1
1aを順次把持して上下及び平面方向に移動し、ホルダ
11aを端末処理装置12→受光装置15→ホルダパレ
ット11と順次搬送する。
光が入射される。また、端末処理装置12は、被測定フ
ァイバ2の一端における被覆の除去、クリーニング及び
被覆の除去によって露出した複数の光ファイバ心線を所
定長さに切り揃える等の端末処理を行う。搬送装置13
は、ホルダパレット11上に配列された複数のホルダ1
1aを順次把持して上下及び平面方向に移動し、ホルダ
11aを端末処理装置12→受光装置15→ホルダパレ
ット11と順次搬送する。
【0012】引出し装置14は、端末処理装置12によ
る被測定ファイバ2の端末処理が不良の場合に、再度端
末処理が可能なように被測定ファイバ2の端部をホルダ
11aから所定長さ引き出す。受光装置15は、被測定
ファイバ2を伝送されてくる検査光の光強度を測定する
もので、例えば、パワーメータ等を使用する。
る被測定ファイバ2の端末処理が不良の場合に、再度端
末処理が可能なように被測定ファイバ2の端部をホルダ
11aから所定長さ引き出す。受光装置15は、被測定
ファイバ2を伝送されてくる検査光の光強度を測定する
もので、例えば、パワーメータ等を使用する。
【0013】押上手段16は、検査対象の被測定ファイ
バ2を保持したホルダ11aを、搬送装置13による把
持が容易なように、ホルダパレット11から順次上方へ
押し上げる。第2ハンドリング部20は、被測定ファイ
バ2の他端を光源と光接続させるべく取り扱う部分で、
図2及び図5に示すように、ホルダパレット21、端末
処理装置22、搬送装置23、引出し装置24、押上手
段26及び突合せ接続装置27を備えている。ここで、
図中、第1ハンドリング部10と同一の構成部分には対
応する符号を付し、以下の説明において詳細な説明を省
略する。
バ2を保持したホルダ11aを、搬送装置13による把
持が容易なように、ホルダパレット11から順次上方へ
押し上げる。第2ハンドリング部20は、被測定ファイ
バ2の他端を光源と光接続させるべく取り扱う部分で、
図2及び図5に示すように、ホルダパレット21、端末
処理装置22、搬送装置23、引出し装置24、押上手
段26及び突合せ接続装置27を備えている。ここで、
図中、第1ハンドリング部10と同一の構成部分には対
応する符号を付し、以下の説明において詳細な説明を省
略する。
【0014】ここにおいて、突合せ接続装置27は、被
測定ファイバ2の他端をダミーファイバ(図示せず)の
一端と突合せ接続するもので、ダミーファイバの他端
は、LED、半導体レーザあるいはハロゲンランプ等の
光源と光接続されている。第3ハンドリング部30は、
被測定ファイバ2を前記光源側で手繰り寄せて所定位置
で切断(カットバック)した後、光源側に位置する被測
定ファイバ2の切断部を受光装置と光接続する部分で、
図3及び図5に示すように、ホルダパレット31、端末
処理装置32、搬送装置33、引出し装置34、受光装
置35、押上手段36、手繰り装置38、掴み替装置3
9及びチャック装置40を備えている。ここで、図にお
いては、第1ハンドリング部10と同一の構成部分には
対応する符号を付し、以下の説明において詳細な説明を
省略する。
測定ファイバ2の他端をダミーファイバ(図示せず)の
一端と突合せ接続するもので、ダミーファイバの他端
は、LED、半導体レーザあるいはハロゲンランプ等の
光源と光接続されている。第3ハンドリング部30は、
被測定ファイバ2を前記光源側で手繰り寄せて所定位置
で切断(カットバック)した後、光源側に位置する被測
定ファイバ2の切断部を受光装置と光接続する部分で、
図3及び図5に示すように、ホルダパレット31、端末
処理装置32、搬送装置33、引出し装置34、受光装
置35、押上手段36、手繰り装置38、掴み替装置3
9及びチャック装置40を備えている。ここで、図にお
いては、第1ハンドリング部10と同一の構成部分には
対応する符号を付し、以下の説明において詳細な説明を
省略する。
【0015】ここにおいて、手繰り装置38は、図5に
示すように、手繰りシリンダ38a、手繰りシリンダ3
8aと連結された昇降シリンダ38b、一組のチャック
38c、ファイバカッタ38dを備えており、一組のチ
ャック38cとファイバカッタ38dは昇降シリンダ3
8bによって昇降される昇降テーブル38e上に設置さ
れている。
示すように、手繰りシリンダ38a、手繰りシリンダ3
8aと連結された昇降シリンダ38b、一組のチャック
38c、ファイバカッタ38dを備えており、一組のチ
ャック38cとファイバカッタ38dは昇降シリンダ3
8bによって昇降される昇降テーブル38e上に設置さ
れている。
【0016】掴み替装置39は、第2ハンドリング部2
0において切断された被測定ファイバ2の光源側の切断
部近傍を、一組のチャック38cから掴み替えてくる装
置であり、図5に示すように、昇降シリンダ39a、昇
降シリンダ39aによって昇降されるロータリーアクチ
ュエータ(以下、単に「アクチュエータ」という)39
b、アクチュエータ39bに垂設される装着シリンダ3
9c及び装着シリンダ39cによって昇降される設置台
39dを有しており、設置台39dの下部には一組のチ
ャック39eが垂設されている。
0において切断された被測定ファイバ2の光源側の切断
部近傍を、一組のチャック38cから掴み替えてくる装
置であり、図5に示すように、昇降シリンダ39a、昇
降シリンダ39aによって昇降されるロータリーアクチ
ュエータ(以下、単に「アクチュエータ」という)39
b、アクチュエータ39bに垂設される装着シリンダ3
9c及び装着シリンダ39cによって昇降される設置台
39dを有しており、設置台39dの下部には一組のチ
ャック39eが垂設されている。
【0017】チャック装置40は、掴み替装置39が第
2ハンドリング部20から掴み替えてきた被測定ファイ
バ2の切断部を把持し、一組のチャック39eと協働し
て被測定ファイバ2をパレットホルダ31に配列された
ホルダ31aに保持させるもので、図示のように、昇降
シリンダ40a、昇降シリンダ40aによって押し出さ
れる押出しシリンダ40b及び押出しシリンダ40bの
先端に設けられるチャック40cを有している。
2ハンドリング部20から掴み替えてきた被測定ファイ
バ2の切断部を把持し、一組のチャック39eと協働し
て被測定ファイバ2をパレットホルダ31に配列された
ホルダ31aに保持させるもので、図示のように、昇降
シリンダ40a、昇降シリンダ40aによって押し出さ
れる押出しシリンダ40b及び押出しシリンダ40bの
先端に設けられるチャック40cを有している。
【0018】本発明のカットバック法による光ファイバ
の自動測定方法は、上記測定システム1を用いて以下の
ようにして実行される。ここにおいて、測定システム1
においては、予め測定すべき複数の被測定ファイバ2の
各端部を夫々ホルダ11a,21aに保持させて、各ホ
ルダパレット11,21に配列させておく。また、ホル
ダ31aは、被測定ファイバ2を保持することなくホル
ダパレット31に配列させておく。そして、測定システ
ム1の作動を開始すると、各ハンドリング部10〜30
がシーケンシャルに作動して、各部のホルダがハンドリ
ングされ、各被測定ファイバ2を伝送されてくる検査光
の光強度に関する測定が自動的に実行され、検査光の伝
送損失が求められる。以下、かかる作動によってカット
バック法により被測定ファイバ2の伝送損失を測定する
方法を詳細に説明する。
の自動測定方法は、上記測定システム1を用いて以下の
ようにして実行される。ここにおいて、測定システム1
においては、予め測定すべき複数の被測定ファイバ2の
各端部を夫々ホルダ11a,21aに保持させて、各ホ
ルダパレット11,21に配列させておく。また、ホル
ダ31aは、被測定ファイバ2を保持することなくホル
ダパレット31に配列させておく。そして、測定システ
ム1の作動を開始すると、各ハンドリング部10〜30
がシーケンシャルに作動して、各部のホルダがハンドリ
ングされ、各被測定ファイバ2を伝送されてくる検査光
の光強度に関する測定が自動的に実行され、検査光の伝
送損失が求められる。以下、かかる作動によってカット
バック法により被測定ファイバ2の伝送損失を測定する
方法を詳細に説明する。
【0019】先ず、第1ハンドリング部10では、ホル
ダパレット11に配列された各ホルダ11aを搬送装置
13によって順次把持し、端末処理装置12に搬送す
る。端末処理装置12では、ホルダ11aに保持された
被測定ファイバ2の一端が端末処理され、搬送装置10
は端末処理が終了すると、そのホルダ11aを把持して
受光装置15に搬送し、ホルダ11aに保持された被測
定ファイバ2の一端を受光装置15に突合わせる。
ダパレット11に配列された各ホルダ11aを搬送装置
13によって順次把持し、端末処理装置12に搬送す
る。端末処理装置12では、ホルダ11aに保持された
被測定ファイバ2の一端が端末処理され、搬送装置10
は端末処理が終了すると、そのホルダ11aを把持して
受光装置15に搬送し、ホルダ11aに保持された被測
定ファイバ2の一端を受光装置15に突合わせる。
【0020】ここで、端末処理装置12による被測定フ
ァイバ2の端末処理が不良の場合には、このファイバ2
を保持したホルダ11aは搬送装置13によって引出し
装置14に搬送され、端末処理装置12による再処理が
可能なように、被測定ファイバ2の端部がホルダ11a
から所定長さ引き出された後、再度端末処理装置12に
搬送される。
ァイバ2の端末処理が不良の場合には、このファイバ2
を保持したホルダ11aは搬送装置13によって引出し
装置14に搬送され、端末処理装置12による再処理が
可能なように、被測定ファイバ2の端部がホルダ11a
から所定長さ引き出された後、再度端末処理装置12に
搬送される。
【0021】一方、第3ハンドリング部30では、手繰
り装置38が作動して昇降シリンダ38bが被測定ファ
イバ2の高さまで上昇し、一組のチャック38cを開放
した状態で手繰りシリンダ38aが所定位置まで繰り出
される。次に、手繰りシリンダ38aの繰出し位置にお
いて一組のチャック38cが被測定ファイバ2を把持し
た後、手繰りシリンダ38aが図6に示すように元の位
置まで引き戻され、被測定ファイバ2が所定長さ(1〜
2m)手繰り寄せられる。
り装置38が作動して昇降シリンダ38bが被測定ファ
イバ2の高さまで上昇し、一組のチャック38cを開放
した状態で手繰りシリンダ38aが所定位置まで繰り出
される。次に、手繰りシリンダ38aの繰出し位置にお
いて一組のチャック38cが被測定ファイバ2を把持し
た後、手繰りシリンダ38aが図6に示すように元の位
置まで引き戻され、被測定ファイバ2が所定長さ(1〜
2m)手繰り寄せられる。
【0022】第2ハンドリング部20では、ホルダパレ
ット21に配列された各ホルダ21aを搬送装置23に
よって順次把持し、第1ハンドリング部10と同様にし
て、端末処理装置22によりホルダ21aに保持された
被測定ファイバ2の他端を端末処理した後、突合せ接続
装置27に搬送し、被測定ファイバ2の他端を前記ダミ
ーファイバに突合せ接続する。これにより、被測定ファ
イバ2は、一端が受光装置15に、他端が前記ダミーフ
ァイバを介して前記光源に夫々光接続され、前記光源か
ら伝送されてくる検査光の強度が受光装置15で測定さ
れる。
ット21に配列された各ホルダ21aを搬送装置23に
よって順次把持し、第1ハンドリング部10と同様にし
て、端末処理装置22によりホルダ21aに保持された
被測定ファイバ2の他端を端末処理した後、突合せ接続
装置27に搬送し、被測定ファイバ2の他端を前記ダミ
ーファイバに突合せ接続する。これにより、被測定ファ
イバ2は、一端が受光装置15に、他端が前記ダミーフ
ァイバを介して前記光源に夫々光接続され、前記光源か
ら伝送されてくる検査光の強度が受光装置15で測定さ
れる。
【0023】ここで、前記第1ハンドリング部10の場
合と同様に、端末処理装置22による被測定ファイバ2
の端末処理が不良の場合には、このファイバ2を保持し
たホルダ21aは引出し装置24に搬送され、被測定フ
ァイバ2の端部がホルダ21aから所定長さ引き出され
た後、再度端末処理装置22に搬送される。かかる被測
定ファイバ2の全長における測定が終了すると、第1ハ
ンドリング部10においては、ホルダ11aがホルダパ
レット11上の元の位置に戻され、各被測定ファイバ2
に関するカットバック法による測定が開始され、光源側
でファイバカッタ38dにより被測定ファイバ2が切断
される。
合と同様に、端末処理装置22による被測定ファイバ2
の端末処理が不良の場合には、このファイバ2を保持し
たホルダ21aは引出し装置24に搬送され、被測定フ
ァイバ2の端部がホルダ21aから所定長さ引き出され
た後、再度端末処理装置22に搬送される。かかる被測
定ファイバ2の全長における測定が終了すると、第1ハ
ンドリング部10においては、ホルダ11aがホルダパ
レット11上の元の位置に戻され、各被測定ファイバ2
に関するカットバック法による測定が開始され、光源側
でファイバカッタ38dにより被測定ファイバ2が切断
される。
【0024】次いで、第3ハンドリング部30の掴み替
装置39が作動し、昇降シリンダ39aにより一組のチ
ャック39eがアクチュエータ39bと共に下降し、被
測定ファイバ2が、一組のチャック38cから一組のチ
ャック39eに掴み替えられる。しかる後、昇降シリン
ダ39aにより、一組のチャック39eが、図8に示す
ように、被測定ファイバ2を把持した状態でアクチュエ
ータ39bと共に元の位置まで上昇する。これと並行し
て、図示したように、押上手段36がホルダパレット3
1上の所定のホルダ31aを上昇させる。
装置39が作動し、昇降シリンダ39aにより一組のチ
ャック39eがアクチュエータ39bと共に下降し、被
測定ファイバ2が、一組のチャック38cから一組のチ
ャック39eに掴み替えられる。しかる後、昇降シリン
ダ39aにより、一組のチャック39eが、図8に示す
ように、被測定ファイバ2を把持した状態でアクチュエ
ータ39bと共に元の位置まで上昇する。これと並行し
て、図示したように、押上手段36がホルダパレット3
1上の所定のホルダ31aを上昇させる。
【0025】次に、図9に示すように、搬送装置33が
作動して昇降シリンダ33aが下降し、図10に示すよ
うに、ホルダパレット31上の所定のホルダ31aを開
放楔33bにより開く。次いで、昇降シリンダ33aが
上昇すると共に、アクチュエータ39bが作動して、装
着シリンダ39cを設置台39dと共に180度回転さ
せ、図11に示すように、把持している被測定ファイバ
2の切断部をチャック装置40側に向ける。このとき、
アクチュエータ39bの作動と並行してチャック装置4
0が作動し、図示のように、昇降シリンダ40aが押出
しシリンダ40bを被測定ファイバ2と対応する高さま
で上昇させる。
作動して昇降シリンダ33aが下降し、図10に示すよ
うに、ホルダパレット31上の所定のホルダ31aを開
放楔33bにより開く。次いで、昇降シリンダ33aが
上昇すると共に、アクチュエータ39bが作動して、装
着シリンダ39cを設置台39dと共に180度回転さ
せ、図11に示すように、把持している被測定ファイバ
2の切断部をチャック装置40側に向ける。このとき、
アクチュエータ39bの作動と並行してチャック装置4
0が作動し、図示のように、昇降シリンダ40aが押出
しシリンダ40bを被測定ファイバ2と対応する高さま
で上昇させる。
【0026】しかる後、チャック装置40は、押出しシ
リンダ40bを繰り出し、チャック40cで被測定ファ
イバ2の切断部を把持した後、図12に示すように、被
測定ファイバ2をホルダ31aの直上まで引き出してく
る。次に、掴み替装置39の装着シリンダ39cとチャ
ック装置40の昇降シリンダ40aが、夫々設置台39
dと押出しシリンダ40bを下降させ、図13に示すよ
うに、一組のチャック39eとチャック40cに把持さ
れた被測定ファイバ2を前記開かれたホルダ31a間に
装着する。
リンダ40bを繰り出し、チャック40cで被測定ファ
イバ2の切断部を把持した後、図12に示すように、被
測定ファイバ2をホルダ31aの直上まで引き出してく
る。次に、掴み替装置39の装着シリンダ39cとチャ
ック装置40の昇降シリンダ40aが、夫々設置台39
dと押出しシリンダ40bを下降させ、図13に示すよ
うに、一組のチャック39eとチャック40cに把持さ
れた被測定ファイバ2を前記開かれたホルダ31a間に
装着する。
【0027】次いで、搬送装置33が作動して昇降シリ
ンダ33aが下降し、図14に示すように、一組のチャ
ック33cで開いているホルダ31aを閉じ、被測定フ
ァイバ2の切断部側を保持させる。しかる後、搬送装置
33が、ホルダ31aを把持して端末処理装置32から
受光装置35へと順次搬送し、前記ダミーファイバを介
して被測定ファイバ2の切断部から出射される前記光源
からの検査光を受光装置35で測定する。かくして、測
定が終了すると、ホルダ31aは、搬送装置33により
ホルダパレット31上の元の位置へ戻される。
ンダ33aが下降し、図14に示すように、一組のチャ
ック33cで開いているホルダ31aを閉じ、被測定フ
ァイバ2の切断部側を保持させる。しかる後、搬送装置
33が、ホルダ31aを把持して端末処理装置32から
受光装置35へと順次搬送し、前記ダミーファイバを介
して被測定ファイバ2の切断部から出射される前記光源
からの検査光を受光装置35で測定する。かくして、測
定が終了すると、ホルダ31aは、搬送装置33により
ホルダパレット31上の元の位置へ戻される。
【0028】このようにして第1及び第3ハンドリング
部10,30の受光装置15,35で測定した検査光の
光強度に基づき、被測定ファイバ2自体の伝送損失が求
められる。以下、上記と同様にして他の被測定ファイバ
2に関する測定が自動的に実行され、各被測定ファイバ
2の伝送損失が求められてゆく。
部10,30の受光装置15,35で測定した検査光の
光強度に基づき、被測定ファイバ2自体の伝送損失が求
められる。以下、上記と同様にして他の被測定ファイバ
2に関する測定が自動的に実行され、各被測定ファイバ
2の伝送損失が求められてゆく。
【0029】尚、上記実施例は、被測定ファイバが複数
の光ファイバからなる多心ファイバの場合について説明
したが、単心の光ファイバであっても使用可能なことは
言うまでもない。また、光源側ファイバの、光源への接
続作業と所定長さ手繰る作業はどちらを先に実施して
も、あるいは同時に実施しても良い。更に、被測定ファ
イバを手繰り寄せる手繰り装置としては、上記実施例に
記載したものの他、摩擦ローラ等を用いたものでも良
い。
の光ファイバからなる多心ファイバの場合について説明
したが、単心の光ファイバであっても使用可能なことは
言うまでもない。また、光源側ファイバの、光源への接
続作業と所定長さ手繰る作業はどちらを先に実施して
も、あるいは同時に実施しても良い。更に、被測定ファ
イバを手繰り寄せる手繰り装置としては、上記実施例に
記載したものの他、摩擦ローラ等を用いたものでも良
い。
【0030】
【発明の効果】以上の説明で明らかなように、本発明の
カットバック法による光ファイバの自動測定方法によれ
ば、被測定ファイバの両端末のみを第1及び第2のハン
ドリング部にセットしておけば、以後の各種処理を自動
的に行って、被測定ファイバの損失測定が人手を煩わせ
ることなく実行されるため、短時間で多数の被測定ファ
イバを連続して測定処理することができ、作業時間が飛
躍的に短縮されると共に、測定作業に要する人手を大幅
に削減することができるという優れた効果を奏する。
カットバック法による光ファイバの自動測定方法によれ
ば、被測定ファイバの両端末のみを第1及び第2のハン
ドリング部にセットしておけば、以後の各種処理を自動
的に行って、被測定ファイバの損失測定が人手を煩わせ
ることなく実行されるため、短時間で多数の被測定ファ
イバを連続して測定処理することができ、作業時間が飛
躍的に短縮されると共に、測定作業に要する人手を大幅
に削減することができるという優れた効果を奏する。
【図1】本発明方法に用いた測定システムの一例を示す
もので、第1ハンドリング部の概略構成図である。
もので、第1ハンドリング部の概略構成図である。
【図2】本発明方法に用いた測定システムの第2ハンド
リング部に関する概略構成図である。
リング部に関する概略構成図である。
【図3】本発明方法に用いた測定システムの第3ハンド
リング部に関する概略構成図である。
リング部に関する概略構成図である。
【図4】図1に示す第1ハンドリング部の断面正面図で
ある。
ある。
【図5】図2及び図3に示す第2及び第3ハンドリング
部の断面正面図である。
部の断面正面図である。
【図6】図5の第3ハンドリング部における被測定ファ
イバの手繰り寄せを説明する断面正面図である。
イバの手繰り寄せを説明する断面正面図である。
【図7】被測定ファイバを第2ハンドリング部の突合せ
接続装置と接続すると共に、所定位置で切断した状態を
示す断面正面図である。
接続装置と接続すると共に、所定位置で切断した状態を
示す断面正面図である。
【図8】切断した被測定ファイバの掴み替えを示す断面
正面図である。
正面図である。
【図9】掴み替えた被測定ファイバを保持させるホルダ
を開く状態を示す断面正面図である。
を開く状態を示す断面正面図である。
【図10】図9のX−X矢視図である。
【図11】掴み替えた被測定ファイバの向きを変えた状
態を示す断面正面図である。
態を示す断面正面図である。
【図12】向きを変えた被測定ファイバの引き出した状
態を示す断面正面図である。
態を示す断面正面図である。
【図13】被測定ファイバを前記開いたホルダに装着し
た状態を示す断面正面図である。
た状態を示す断面正面図である。
【図14】被測定ファイバを装着した前記ホルダの閉じ
た状態を示す断面正面図である。
た状態を示す断面正面図である。
1 測定システム 2 被測定ファイバ 10 第1のハンドリング部 15 受光装置 20 第2のハンドリング部 30 第3のハンドリング部 35 受光装置
フロントページの続き (72)発明者 福岡 敏 東京都千代田区丸の内2丁目6番1号 古 河電気工業株式会社内
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 【請求項1】 被測定ファイバの各端部を第1及び第2
のハンドリング部で機械的に取り扱い、該被測定ファイ
バの一端を受光手段側と、他端を光源側と、夫々光接続
することにより、前記光源から出射された検査光を前記
受光手段で測定し、 次に、機械的に作動する第3のハンドリング部により、
前記被測定ファイバを前記光源側で所定長さ手繰り寄せ
て切断し、当該切断された被測定ファイバの前記光源側
における切断部を前記受光手段に光接続することによ
り、前記光源から出射された検査光を前記受光手段で測
定し、 当該検査光の両測定結果に基づいて、前記被測定ファイ
バにおける伝送損失を自動的に求めることを特徴とする
カットバック法による光ファイバの自動測定方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17793091A JPH0526770A (ja) | 1991-07-18 | 1991-07-18 | カツトバツク法による光フアイバの自動測定方法 |
| US07/866,801 US5253035A (en) | 1991-04-12 | 1992-04-08 | Automatic optical measuring apparatus for optical fibers |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17793091A JPH0526770A (ja) | 1991-07-18 | 1991-07-18 | カツトバツク法による光フアイバの自動測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0526770A true JPH0526770A (ja) | 1993-02-02 |
Family
ID=16039559
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17793091A Pending JPH0526770A (ja) | 1991-04-12 | 1991-07-18 | カツトバツク法による光フアイバの自動測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0526770A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01281403A (ja) * | 1988-05-09 | 1989-11-13 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 被覆光ファイバの被覆除去装置 |
-
1991
- 1991-07-18 JP JP17793091A patent/JPH0526770A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01281403A (ja) * | 1988-05-09 | 1989-11-13 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 被覆光ファイバの被覆除去装置 |
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