JPH05275408A - 平面状基板の洗浄装置 - Google Patents
平面状基板の洗浄装置Info
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- JPH05275408A JPH05275408A JP9720592A JP9720592A JPH05275408A JP H05275408 A JPH05275408 A JP H05275408A JP 9720592 A JP9720592 A JP 9720592A JP 9720592 A JP9720592 A JP 9720592A JP H05275408 A JPH05275408 A JP H05275408A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 例えばウエハ等の平面状基板を回転させなが
ら洗浄液を噴射してその基板を洗浄する際に、基板の表
面全体を均一にかつ効率よく洗浄することができるよう
にする。 【構成】 スピンチャック12によってウエハ1を保持
して回転させ、噴射ノズル20をウエハ1の半径方向を
スキャンするように移動させながら、その噴射ノズル2
0によってウエハ1の表面に洗浄液4を噴射する。ウエ
ハ1の回転速度と噴射ノズル20の移動速度とを制御部
40によって互いに関連させて制御する。また、噴射ノ
ズル20に供給する洗浄液4に超音波ジェネレータ34
によって超音波振動を付与する。ウエハ1の表面全体が
均一にかつ効率よく洗浄される。
ら洗浄液を噴射してその基板を洗浄する際に、基板の表
面全体を均一にかつ効率よく洗浄することができるよう
にする。 【構成】 スピンチャック12によってウエハ1を保持
して回転させ、噴射ノズル20をウエハ1の半径方向を
スキャンするように移動させながら、その噴射ノズル2
0によってウエハ1の表面に洗浄液4を噴射する。ウエ
ハ1の回転速度と噴射ノズル20の移動速度とを制御部
40によって互いに関連させて制御する。また、噴射ノ
ズル20に供給する洗浄液4に超音波ジェネレータ34
によって超音波振動を付与する。ウエハ1の表面全体が
均一にかつ効率よく洗浄される。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、各種の平面状基板を回
転させながら洗浄液を噴射してその基板を洗浄する洗浄
装置に係り、例えば半導体基板であるウエハを洗浄する
のに最適な洗浄装置に関する。
転させながら洗浄液を噴射してその基板を洗浄する洗浄
装置に係り、例えば半導体基板であるウエハを洗浄する
のに最適な洗浄装置に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体装置の製品歩留りは、各処理工程
におけるウエハへの塵埃等の付着によって左右されると
いっても過言ではない。このため、各処理工程の前後に
ウエハを各種の薬液や純水等の洗浄液によって充分に洗
浄する必要がある。このようなウエハ洗浄装置の一つと
して、従来から、ウエハを一枚ずつ洗浄する枚葉式の洗
浄装置が知られている。この枚葉式の洗浄装置は、洗浄
液が満たされた洗浄槽の中にウエハを一枚ずつ没入さ
せ、ウエハを洗浄液の中で浸漬や揺動させることによっ
て洗浄するものである。しかしながら、上記枚葉式の洗
浄装置においては、ウエハを洗浄液の中で浸漬や揺動さ
せるだけなので、洗浄効果が必ずしも充分ではなかっ
た。
におけるウエハへの塵埃等の付着によって左右されると
いっても過言ではない。このため、各処理工程の前後に
ウエハを各種の薬液や純水等の洗浄液によって充分に洗
浄する必要がある。このようなウエハ洗浄装置の一つと
して、従来から、ウエハを一枚ずつ洗浄する枚葉式の洗
浄装置が知られている。この枚葉式の洗浄装置は、洗浄
液が満たされた洗浄槽の中にウエハを一枚ずつ没入さ
せ、ウエハを洗浄液の中で浸漬や揺動させることによっ
て洗浄するものである。しかしながら、上記枚葉式の洗
浄装置においては、ウエハを洗浄液の中で浸漬や揺動さ
せるだけなので、洗浄効果が必ずしも充分ではなかっ
た。
【0003】そこで、図3に示すようなスピン枚葉式の
洗浄装置が提案されている。即ち、ウエハ1をスピンチ
ャック2によって保持して回転させ、そのウエハ1の表
面の中心部に向けて噴射ノズル3から洗浄液4を噴射す
るものである。これによれば、噴射された洗浄液4によ
ってウエハ1の表面が洗浄されるので、ウエハ1を洗浄
液の中で浸漬や揺動させる一般的な枚葉式洗浄に比較し
て、より効果的な洗浄を行うことができる。
洗浄装置が提案されている。即ち、ウエハ1をスピンチ
ャック2によって保持して回転させ、そのウエハ1の表
面の中心部に向けて噴射ノズル3から洗浄液4を噴射す
るものである。これによれば、噴射された洗浄液4によ
ってウエハ1の表面が洗浄されるので、ウエハ1を洗浄
液の中で浸漬や揺動させる一般的な枚葉式洗浄に比較し
て、より効果的な洗浄を行うことができる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
たような従来のスピン枚葉式の洗浄装置においては、洗
浄液4がウエハ1の表面の中心部のみに噴射され、外周
部では洗浄液4がウエハ1の回転の遠心力によって流動
するだけなので、半径方向の各位置で洗浄ムラが生じ易
いという問題があった。即ち、ウエハ1の回転によって
外周部ほど回転速度が大きくなるので、中心部へ噴射さ
れた洗浄液4は急激に外方へ飛散してしまう。しかも近
年はウエハ1が大径化する傾向にあるので、中心部と外
周部との回転速度差が大きくなり、洗浄ムラの発生がよ
り顕著になる。
たような従来のスピン枚葉式の洗浄装置においては、洗
浄液4がウエハ1の表面の中心部のみに噴射され、外周
部では洗浄液4がウエハ1の回転の遠心力によって流動
するだけなので、半径方向の各位置で洗浄ムラが生じ易
いという問題があった。即ち、ウエハ1の回転によって
外周部ほど回転速度が大きくなるので、中心部へ噴射さ
れた洗浄液4は急激に外方へ飛散してしまう。しかも近
年はウエハ1が大径化する傾向にあるので、中心部と外
周部との回転速度差が大きくなり、洗浄ムラの発生がよ
り顕著になる。
【0005】なお、ウエハ1の外周部も充分に洗浄され
るように、洗浄液4の噴射時間を長くすると、洗浄時間
が長くなって作業効率が大幅に低下するという問題が生
じる。また、洗浄液4の噴射圧力を高くするには、噴射
ポンプとして高圧で大型のものが必要になるので、装置
全体の大型化並びにコスト高の原因となるという問題が
生じる。
るように、洗浄液4の噴射時間を長くすると、洗浄時間
が長くなって作業効率が大幅に低下するという問題が生
じる。また、洗浄液4の噴射圧力を高くするには、噴射
ポンプとして高圧で大型のものが必要になるので、装置
全体の大型化並びにコスト高の原因となるという問題が
生じる。
【0006】そこで本発明は、例えばウエハ等の平面状
基板を回転させながら洗浄液を噴射してその基板を洗浄
する際に、基板の表面全体を均一にかつ効率よく洗浄す
ることができるようにした平面状基板の洗浄装置を提供
することを目的とする。
基板を回転させながら洗浄液を噴射してその基板を洗浄
する際に、基板の表面全体を均一にかつ効率よく洗浄す
ることができるようにした平面状基板の洗浄装置を提供
することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明による平面状基板の洗浄装置は、洗浄すべき
平面状基板をその面内において回転させる回転駆動手段
と、前記基板の表面に洗浄液を噴射する噴射ノズルと、
この噴射ノズルに洗浄液を所定の圧力で供給する洗浄液
供給手段と、前記噴射ノズルを前記基板の回転による半
径方向に沿って移動させる噴射ノズル移動手段とを具備
するものである。
に、本発明による平面状基板の洗浄装置は、洗浄すべき
平面状基板をその面内において回転させる回転駆動手段
と、前記基板の表面に洗浄液を噴射する噴射ノズルと、
この噴射ノズルに洗浄液を所定の圧力で供給する洗浄液
供給手段と、前記噴射ノズルを前記基板の回転による半
径方向に沿って移動させる噴射ノズル移動手段とを具備
するものである。
【0008】
【作用】上記のように構成された本発明によれば、回転
駆動手段によって平面状基板が回転され、噴射ノズル移
動手段によって噴射ノズルが基板の回転による半径方向
へ移動されながら、洗浄液供給手段によって供給された
洗浄液が噴射ノズルから基板の表面に噴射される。これ
によって、回転する基板の半径方向をスキャンするよう
に洗浄液が噴射されるので、その基板の表面全体が均一
にかつ効率よく洗浄される。
駆動手段によって平面状基板が回転され、噴射ノズル移
動手段によって噴射ノズルが基板の回転による半径方向
へ移動されながら、洗浄液供給手段によって供給された
洗浄液が噴射ノズルから基板の表面に噴射される。これ
によって、回転する基板の半径方向をスキャンするよう
に洗浄液が噴射されるので、その基板の表面全体が均一
にかつ効率よく洗浄される。
【0009】
【実施例】以下、本発明をウエハ洗浄装置に適用した一
実施例を図1及び図2を参照して説明する。図1は装置
全体の概略構成図、図2は噴射ノズル移動手段の概略斜
視図である。
実施例を図1及び図2を参照して説明する。図1は装置
全体の概略構成図、図2は噴射ノズル移動手段の概略斜
視図である。
【0010】まず、図1に示すように、この洗浄装置1
0は、ウエハ1を洗浄カツプ11内において回転させな
がら、そのウエハ1の表面に洗浄液4を噴射して洗浄す
るように構成されている。洗浄カップ11は偏平円形状
に形成され、その内部にスピンチャック12が配置され
ている。スピンチャック12は、ウエハ1を真空吸着或
いは機械的に水平状に保持するものであり、洗浄カップ
11の下部を挿通する回転軸13の上端に固定されてい
る。そして、回転軸13即ちスピンチャック12は、モ
ータ14によって例えば200〜300rpm程度で回
転駆動される。
0は、ウエハ1を洗浄カツプ11内において回転させな
がら、そのウエハ1の表面に洗浄液4を噴射して洗浄す
るように構成されている。洗浄カップ11は偏平円形状
に形成され、その内部にスピンチャック12が配置され
ている。スピンチャック12は、ウエハ1を真空吸着或
いは機械的に水平状に保持するものであり、洗浄カップ
11の下部を挿通する回転軸13の上端に固定されてい
る。そして、回転軸13即ちスピンチャック12は、モ
ータ14によって例えば200〜300rpm程度で回
転駆動される。
【0011】次に、洗浄カップ11の上部にはウエハ着
脱用の円形状の開口部15が設けられ、この開口部15
内に噴射ノズル20が挿入されて、ウエハ1の半径方向
である矢印a、b方向に往復移動自在に構成されてい
る。図2に示すように、噴射ノズル20はクランプ21
によって移動部材22の一端に垂直状に固定され、その
移動部材22はガイド部23によって長手方向(ウエハ
1の半径方向)に移動自在に支持されている。移動部材
22の上面にはラック24が形成され、このラック24
にモータ25によって回転駆動されるピニオン26が噛
合されている。従って、モータ25の正逆回転によっ
て、移動部材22即ち噴射ノズル20がウエハ1の半径
方向に沿って往復移動される。
脱用の円形状の開口部15が設けられ、この開口部15
内に噴射ノズル20が挿入されて、ウエハ1の半径方向
である矢印a、b方向に往復移動自在に構成されてい
る。図2に示すように、噴射ノズル20はクランプ21
によって移動部材22の一端に垂直状に固定され、その
移動部材22はガイド部23によって長手方向(ウエハ
1の半径方向)に移動自在に支持されている。移動部材
22の上面にはラック24が形成され、このラック24
にモータ25によって回転駆動されるピニオン26が噛
合されている。従って、モータ25の正逆回転によっ
て、移動部材22即ち噴射ノズル20がウエハ1の半径
方向に沿って往復移動される。
【0012】そして、図1に示すように、上記噴射ノズ
ル20に洗浄液4を供給する洗浄液供給手段は、洗浄液
4を貯留するタンク31と、洗浄液4を加圧して配管3
2を介して噴射ノズル20に供給する噴射ポンプ33
と、その配管32の途中で洗浄液4に超音波振動を付与
する(乗せる)超音波ジェネレータ34とによって構成
されている。噴射ポンプ33は洗浄液4を例えば1〜2
kg/cm2 程度に加圧する。また、超音波ジェネレー
タ34は例えば30〜60kHzの超音波を発生して洗
浄液4に高周波振動を付与する。
ル20に洗浄液4を供給する洗浄液供給手段は、洗浄液
4を貯留するタンク31と、洗浄液4を加圧して配管3
2を介して噴射ノズル20に供給する噴射ポンプ33
と、その配管32の途中で洗浄液4に超音波振動を付与
する(乗せる)超音波ジェネレータ34とによって構成
されている。噴射ポンプ33は洗浄液4を例えば1〜2
kg/cm2 程度に加圧する。また、超音波ジェネレー
タ34は例えば30〜60kHzの超音波を発生して洗
浄液4に高周波振動を付与する。
【0013】さらに、スピンチャック12を回転させる
モータ14と、噴射ノズル20を移動させるモータ25
とは、制御部40によって互いに関連して制御されるよ
うに構成されている。即ち、ウエハ1の回転速度は外周
部へ行くほど大きくなるので、その外周部へ行くほど噴
射ノズル20の移動速度が小さくなるように設定されて
いる。なお、制御部40は装置全体を統括制御するもの
でよく、上記噴射ポンプ33や超音波ジェネレータ34
等の作動制御もこの制御部40によって行うことができ
る。
モータ14と、噴射ノズル20を移動させるモータ25
とは、制御部40によって互いに関連して制御されるよ
うに構成されている。即ち、ウエハ1の回転速度は外周
部へ行くほど大きくなるので、その外周部へ行くほど噴
射ノズル20の移動速度が小さくなるように設定されて
いる。なお、制御部40は装置全体を統括制御するもの
でよく、上記噴射ポンプ33や超音波ジェネレータ34
等の作動制御もこの制御部40によって行うことができ
る。
【0014】上記のように構成された洗浄装置において
は、ウエハ1が図示しない把持手段によって把持されて
開口部15から洗浄カップ11内に挿入され、そのウエ
ハ1がスピンチャック12上に保持される。このとき噴
射ノズル移動手段は、ウエハ1と干渉しないように洗浄
カップ11の上方に退避されている。なお、スピンチャ
ック12に対するウエハ1の着脱は洗浄カップ11を上
下或いは左右に分割して行ってもよく、この場合には洗
浄カップ11の上部にスリット状の開口部を設けて噴射
ノズル20を挿通させるとよい。
は、ウエハ1が図示しない把持手段によって把持されて
開口部15から洗浄カップ11内に挿入され、そのウエ
ハ1がスピンチャック12上に保持される。このとき噴
射ノズル移動手段は、ウエハ1と干渉しないように洗浄
カップ11の上方に退避されている。なお、スピンチャ
ック12に対するウエハ1の着脱は洗浄カップ11を上
下或いは左右に分割して行ってもよく、この場合には洗
浄カップ11の上部にスリット状の開口部を設けて噴射
ノズル20を挿通させるとよい。
【0015】ウエハ1がスピンチャック12上に保持さ
れた後、モータ14が回転されて、スピンチャック12
即ちウエハ1が回転駆動される。その回転が一定になる
と、噴射ポンプ33と超音波ジェネレータ34とが作動
されて、加圧されかつ超音波振動が付与された洗浄液4
が噴射ノズル20に供給されると共に、モータ25が回
転されて、噴射ノズル20が矢印a、b方向に往復移動
される。これによって、回転するウエハ1の半径方向を
スキャンするように噴射ノズル20が往復移動されなが
ら、超音波振動が付与された洗浄液4が噴射ノズル20
からウエハ1の表面に向かって噴射され、ウエハ1が洗
浄される。なお、洗浄後の洗浄液4は、洗浄カップ11
の下部に設けられた適宜個数の排出口16から洗浄カッ
プ11外に排出される。
れた後、モータ14が回転されて、スピンチャック12
即ちウエハ1が回転駆動される。その回転が一定になる
と、噴射ポンプ33と超音波ジェネレータ34とが作動
されて、加圧されかつ超音波振動が付与された洗浄液4
が噴射ノズル20に供給されると共に、モータ25が回
転されて、噴射ノズル20が矢印a、b方向に往復移動
される。これによって、回転するウエハ1の半径方向を
スキャンするように噴射ノズル20が往復移動されなが
ら、超音波振動が付与された洗浄液4が噴射ノズル20
からウエハ1の表面に向かって噴射され、ウエハ1が洗
浄される。なお、洗浄後の洗浄液4は、洗浄カップ11
の下部に設けられた適宜個数の排出口16から洗浄カッ
プ11外に排出される。
【0016】このように、回転されるウエハ1の半径方
向をスキャンするように洗浄液4が噴射されるので、ウ
エハ1の半径方向の各位置に洗浄液4を直接当てること
ができ、ウエハ1の表面全体を極めて均一にかつ効率よ
く洗浄することができる。なお、噴射ノズル20の移動
は、ウエハ1や洗浄の種類に応じて、片道移動、往復移
動、さらに往復移動を繰り返してもよい。そして、ウエ
ハ1の中心部のみに洗浄液4を噴射する場合のように、
噴射時間を長くしたり噴射圧力を高くしたりする必要が
ないので、洗浄時間を大幅に短縮することができると共
に、噴射ポンプ33として低圧で小型のものを用いるこ
とができる。
向をスキャンするように洗浄液4が噴射されるので、ウ
エハ1の半径方向の各位置に洗浄液4を直接当てること
ができ、ウエハ1の表面全体を極めて均一にかつ効率よ
く洗浄することができる。なお、噴射ノズル20の移動
は、ウエハ1や洗浄の種類に応じて、片道移動、往復移
動、さらに往復移動を繰り返してもよい。そして、ウエ
ハ1の中心部のみに洗浄液4を噴射する場合のように、
噴射時間を長くしたり噴射圧力を高くしたりする必要が
ないので、洗浄時間を大幅に短縮することができると共
に、噴射ポンプ33として低圧で小型のものを用いるこ
とができる。
【0017】また、ウエハ1の回転速度は外周部へ行く
ほど大きくなるので、噴射ノズル20の移動速度が一定
であると、外周部へ行くほど単位面積当りの洗浄液4の
被射量が少なくなる。そこで、制御部40によってウエ
ハ1の回転速度に関連させて噴射ノズル20の移動速度
を外周部へ行くほど遅くすることによって、ウエハ1の
半径方向の各位置において単位面積当りの洗浄液4の被
射量を一定にすることができる。
ほど大きくなるので、噴射ノズル20の移動速度が一定
であると、外周部へ行くほど単位面積当りの洗浄液4の
被射量が少なくなる。そこで、制御部40によってウエ
ハ1の回転速度に関連させて噴射ノズル20の移動速度
を外周部へ行くほど遅くすることによって、ウエハ1の
半径方向の各位置において単位面積当りの洗浄液4の被
射量を一定にすることができる。
【0018】さらに、噴射される洗浄液4に超音波振動
が付与されているので、その高周波振動によって、単な
る洗浄液4の噴射だけでは除去できないような微小粒子
まで除去することができると共に、洗浄液4のキャビテ
ーション発生も防止することができる。従って、ウエハ
1を不測に損傷させることなく極めて効果的な洗浄を行
うことができる。
が付与されているので、その高周波振動によって、単な
る洗浄液4の噴射だけでは除去できないような微小粒子
まで除去することができると共に、洗浄液4のキャビテ
ーション発生も防止することができる。従って、ウエハ
1を不測に損傷させることなく極めて効果的な洗浄を行
うことができる。
【0019】なお、噴射ノズル20をウエハ1の半径方
向へ移動させる場合、噴射ノズル20をその上端部また
は中央部を中心として揺動させてもよいが、上記実施例
のように噴射ノズル20を垂直状態で移動させると、噴
射ノズル20とウエハ1との間の距離及びウエハ1に対
する噴射角度が常に一定になるので、洗浄液4を常に一
定の圧力及び量でウエハ1に当てることができ、より均
一な洗浄を行うことができる。
向へ移動させる場合、噴射ノズル20をその上端部また
は中央部を中心として揺動させてもよいが、上記実施例
のように噴射ノズル20を垂直状態で移動させると、噴
射ノズル20とウエハ1との間の距離及びウエハ1に対
する噴射角度が常に一定になるので、洗浄液4を常に一
定の圧力及び量でウエハ1に当てることができ、より均
一な洗浄を行うことができる。
【0020】以上、本発明の一実施例に付き説明した
が、本発明は上記実施例に限定されることなく、本発明
の技術的思想に基づいて各種の有効な変更並びに応用が
可能である。例えば、噴射ノズル移動手段の構成は実施
例以外に各種の構成を用いることができる。また本発明
は、ウエハ洗浄装置以外に各種の平面状基板の洗浄装置
に適用可能であり、その基板の形状も円形以外に矩形状
なども可能である。なお本発明でいう洗浄とは、必ずし
も基板に付着した塵埃等を除去するものに限らず、例え
ばエッチング処理等のような種々の薬液洗浄も含むもの
である。
が、本発明は上記実施例に限定されることなく、本発明
の技術的思想に基づいて各種の有効な変更並びに応用が
可能である。例えば、噴射ノズル移動手段の構成は実施
例以外に各種の構成を用いることができる。また本発明
は、ウエハ洗浄装置以外に各種の平面状基板の洗浄装置
に適用可能であり、その基板の形状も円形以外に矩形状
なども可能である。なお本発明でいう洗浄とは、必ずし
も基板に付着した塵埃等を除去するものに限らず、例え
ばエッチング処理等のような種々の薬液洗浄も含むもの
である。
【0021】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
平面状基板を回転させながら噴射ノズルから洗浄液を噴
射してその基板を洗浄する際に、噴射ノズルを基板の回
転による半径方向をスキャンするように移動させること
によって、その基板の表面全体を極めて均一にかつ効率
よく洗浄することができる。また、洗浄時間を大幅に短
縮することができると共に、洗浄液の噴射ポンプとして
低圧で小型のものを用いることができるので、洗浄効率
の大幅な向上と共に、装置全体の小型化並びに低コスト
化を図ることができる。
平面状基板を回転させながら噴射ノズルから洗浄液を噴
射してその基板を洗浄する際に、噴射ノズルを基板の回
転による半径方向をスキャンするように移動させること
によって、その基板の表面全体を極めて均一にかつ効率
よく洗浄することができる。また、洗浄時間を大幅に短
縮することができると共に、洗浄液の噴射ポンプとして
低圧で小型のものを用いることができるので、洗浄効率
の大幅な向上と共に、装置全体の小型化並びに低コスト
化を図ることができる。
【図1】本発明をウエハ洗浄装置に適用した一実施例に
おける装置全体の概略構成図である。
おける装置全体の概略構成図である。
【図2】上記実施例における噴射ノズル移動手段の概略
斜視図である。
斜視図である。
【図3】従来のスピン枚葉式のウエハ洗浄装置における
概略図である。
概略図である。
1 ウエハ 4 洗浄液 10 洗浄装置 11 洗浄カップ 12 スピンチャック 14 ウエハ回転用モータ 15 開口部 20 噴射ノズル 22 移動部材 25 ノズル移動用モータ 33 噴射ポンプ 34 超音波ジェネレータ 40 制御部
Claims (3)
- 【請求項1】 洗浄すべき平面状基板をその面内におい
て回転させる回転駆動手段と、前記基板の表面に洗浄液
を噴射する噴射ノズルと、この噴射ノズルに洗浄液を所
定の圧力で供給する洗浄液供給手段と、前記噴射ノズル
を前記基板の回転による半径方向に沿って移動させる噴
射ノズル移動手段とを具備する平面状基板の洗浄装置。 - 【請求項2】 前記回転駆動手段による前記基板の回転
速度と、前記噴射ノズル移動手段による前記噴射ノズル
の移動速度とを、互いに関連させて制御する制御手段を
設けたことを特徴とする請求項1記載の平面状基板の洗
浄装置。 - 【請求項3】 前記洗浄液供給手段が、前記洗浄液に超
音波振動を付与するための超音波ジェネレータを有する
ことを特徴とする請求項1または2記載の平面状基板の
洗浄装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9720592A JPH05275408A (ja) | 1992-03-24 | 1992-03-24 | 平面状基板の洗浄装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9720592A JPH05275408A (ja) | 1992-03-24 | 1992-03-24 | 平面状基板の洗浄装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05275408A true JPH05275408A (ja) | 1993-10-22 |
Family
ID=14186122
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9720592A Withdrawn JPH05275408A (ja) | 1992-03-24 | 1992-03-24 | 平面状基板の洗浄装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05275408A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH10163153A (ja) * | 1996-11-29 | 1998-06-19 | Tadahiro Omi | 洗浄やエッチング、現像、剥離等を含むウエット処理に用いる省液型の液体供給ノズル、ウエット処理装置及びウエット処理方法 |
| JP2001319902A (ja) * | 2000-05-09 | 2001-11-16 | Fujikoshi Mach Corp | ウェーハの研磨装置 |
| KR100396955B1 (ko) * | 1995-11-30 | 2003-11-10 | 오르가노 코포레이션 | 습식처리방법 |
| KR100464118B1 (ko) * | 1997-08-05 | 2005-06-17 | 동경 엘렉트론 주식회사 | 기판세정장치및기판세정방법 |
| WO2006040850A1 (ja) * | 2004-10-08 | 2006-04-20 | Japan Science And Technology Agency | 多価イオン発生源およびこの発生源を用いた荷電粒子ビーム装置 |
| JP2007289807A (ja) * | 2006-04-21 | 2007-11-08 | Kaijo Corp | 超音波洗浄装置 |
| KR100835516B1 (ko) * | 2003-12-23 | 2008-06-04 | 동부일렉트로닉스 주식회사 | 화학 기계적 연마공정의 메가소닉 세척장치 및 이를이용한 세척방법 |
-
1992
- 1992-03-24 JP JP9720592A patent/JPH05275408A/ja not_active Withdrawn
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100396955B1 (ko) * | 1995-11-30 | 2003-11-10 | 오르가노 코포레이션 | 습식처리방법 |
| JPH10163153A (ja) * | 1996-11-29 | 1998-06-19 | Tadahiro Omi | 洗浄やエッチング、現像、剥離等を含むウエット処理に用いる省液型の液体供給ノズル、ウエット処理装置及びウエット処理方法 |
| KR100464118B1 (ko) * | 1997-08-05 | 2005-06-17 | 동경 엘렉트론 주식회사 | 기판세정장치및기판세정방법 |
| JP2001319902A (ja) * | 2000-05-09 | 2001-11-16 | Fujikoshi Mach Corp | ウェーハの研磨装置 |
| KR100835516B1 (ko) * | 2003-12-23 | 2008-06-04 | 동부일렉트로닉스 주식회사 | 화학 기계적 연마공정의 메가소닉 세척장치 및 이를이용한 세척방법 |
| WO2006040850A1 (ja) * | 2004-10-08 | 2006-04-20 | Japan Science And Technology Agency | 多価イオン発生源およびこの発生源を用いた荷電粒子ビーム装置 |
| JP2007289807A (ja) * | 2006-04-21 | 2007-11-08 | Kaijo Corp | 超音波洗浄装置 |
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