JPH0528535Y2 - - Google Patents
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- JPH0528535Y2 JPH0528535Y2 JP10703186U JP10703186U JPH0528535Y2 JP H0528535 Y2 JPH0528535 Y2 JP H0528535Y2 JP 10703186 U JP10703186 U JP 10703186U JP 10703186 U JP10703186 U JP 10703186U JP H0528535 Y2 JPH0528535 Y2 JP H0528535Y2
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- slice
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- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 産業上の利用分野 この考案は、ポジトロンCT装置に関する。[Detailed explanation of the idea] Industrial applications This invention relates to a positron CT device.
従来の技術
ポジトロンCT装置では、検出器リングの中に、
ポジトロン放出性核種のRI(放射性同位体)が投
与された被検者を入れ、この被検者の体内RIか
らの放射線を検出する。ポジトロンが消滅すると
きに180°方向に2つのγ線が放出されるので、こ
れらが検出器リングの各部に同時に入射する。そ
こで、これの同時計数を行なえば、その2つの入
射位置を結ぶ線上にRIを存在することが分る。
このようにしてRIに位置情報を集積していつて、
コンピユータにより画像再構成アルゴリズムで処
理することによつて1つのスライス面内でのRI
分布像(断層像)を再構成する。Conventional technology In a positron CT device, inside the detector ring,
A subject who has been administered positron-emitting nuclide RI (radioisotope) is placed in the test, and radiation from the RI in the subject's body is detected. When the positron disappears, two gamma rays are emitted in a 180° direction, so they simultaneously enter each part of the detector ring. Therefore, by performing coincidence counting, it can be seen that RI exists on the line connecting the two incident positions.
In this way, location information is accumulated in RI,
RI within one slice plane is processed by a computer using an image reconstruction algorithm.
Reconstruct the distribution image (tomographic image).
ところで、近年、ポジトロンCR装置の高空間
分解能化が要求されている。これはスライス面内
方向のみならず、スライス厚さ方向(軸方向)に
も要求されている。すなわち、検出器リングを何
層にも形成して多スライス同時撮影する場合の軸
方向に異なる位置の各スライス間での空間分解能
を高めることが要求されているのである。 Incidentally, in recent years, there has been a demand for higher spatial resolution of positron CR devices. This is required not only in the slice in-plane direction but also in the slice thickness direction (axial direction). That is, it is required to increase the spatial resolution between slices at different positions in the axial direction when multiple slices are simultaneously imaged by forming the detector ring in multiple layers.
第3図のように3層の検出器リング11,1
2,13を有する場合、その軸Z上での感度分布
は1〜5のようになる。Aで示すような経路を通
つて、180°方向に放出された2つのγ線が1つの
検出器リング内に入射したことを同時係数してダ
イレクトスライスの感度分布1,3,5が得ら
れ、経路Bのように2つのγ線が隣接する2層の
検出器リングの各々に入射したことを同時計数し
てクロススライスの感度分布2,4が得られる。
このように、3層の検出器リング11〜13によ
り5スライスの画像が同時に得られるが、クロス
スライス2,4の場合の方がZ軸上でスライスの
中央から検出器リングを見る立体角がダイレクト
スライス1,3,5の2倍になつているた、2倍
のピークとなり、スライス全体の感度(各分布の
面積に相当する)はダイレクトスライス1,3,
5の2倍になる。 As shown in Fig. 3, the three-layer detector ring 11,1
2,13, the sensitivity distribution on the axis Z will be 1 to 5. Sensitivity distributions 1, 3, and 5 of the direct slice can be obtained by calculating the simultaneous coefficient that two gamma rays emitted in the 180° direction enter one detector ring through the path shown in A. , the cross-slice sensitivity distributions 2 and 4 are obtained by simultaneously counting the incidence of two γ-rays into each of the two adjacent detector rings as shown in path B.
In this way, images of five slices can be obtained simultaneously by the three layers of detector rings 11 to 13, but in the case of cross slices 2 and 4, the solid angle at which the detector ring is viewed from the center of the slice on the Z axis is smaller. The sensitivity of the entire slice (corresponding to the area of each distribution) is twice that of direct slices 1, 3, and 5, and the peak is twice that of direct slices 1, 3, and 5.
It's twice as many as 5.
そこで、第4図のようにZ方向の厚さが1/2の
6層の検出器リング11〜16を用いれば、Z軸
上において11個の感度分布1〜11が得られ、同時
に11スライスの撮影が可能となる。 Therefore, by using six layers of detector rings 11 to 16 whose thickness in the Z direction is 1/2 as shown in Fig. 4, 11 sensitivity distributions 1 to 11 can be obtained on the Z axis, and 11 slices can be obtained simultaneously. It becomes possible to take pictures of
すなわち、軸方向に空間分解能を高めるため、
検出器リングの厚さを薄くするようにしている。 In other words, in order to increase the spatial resolution in the axial direction,
The thickness of the detector ring is made thinner.
考案が解決しようとする問題点
しかし、このように単に検出器リングの厚さを
薄くするだけでは軸方向の空間分解能は高まるの
ものの、感度が大幅に劣化してしまう。たとえ
ば、上記第4図の例で言えば、スライス1〜11
の各々の中央位置(Z軸方向の)においてZ軸上
から見た検出器リングの立体角が第3図の場合の
1/2になつているためピークは1/2になり、感度が
0になるまでの幅も1/2であるから、スライス全
体の感度は第3図の場合の1/4になつてしまうの
である。これはダイレクトスライスでもクロスス
ライスでも同じである。そこで、第3図の場合と
同じ画質を得るには、投与するRI量が同じ場合、
時間を4倍かける必要が生じる。Problems that the invention aims to solve However, although simply reducing the thickness of the detector ring increases the spatial resolution in the axial direction, the sensitivity deteriorates significantly. For example, in the example of FIG. 4 above, slices 1 to 11
At each center position (in the Z-axis direction), the solid angle of the detector ring seen from the Z-axis is 1/2 of that in Figure 3, so the peak is 1/2, and the sensitivity is 0. Since the width of the slice is also 1/2, the sensitivity of the entire slice is 1/4 of that shown in Figure 3. This is the same for direct slicing and cross slicing. Therefore, in order to obtain the same image quality as in the case of Figure 3, if the amount of RI to be administered is the same,
This will require four times as much time.
そのため、軸方向の空間分解能を上げるための
構成をとると、従来では感度が大幅に劣化し、そ
れをおぎなうには測定時間を増加しなければなら
ず、ダイナミツク測定等の測定時間が限定されて
いる測定では、1スライス当りの計数が多くとれ
ず、S/N比の良い画像が得られないという問題
が生じる。 Therefore, when a configuration is adopted to increase the spatial resolution in the axial direction, the sensitivity deteriorates significantly in the conventional method, and to compensate for this, the measurement time must be increased, and the measurement time for dynamic measurements etc. is limited. In this measurement, a problem arises in that it is not possible to obtain a large number of counts per slice, and an image with a good S/N ratio cannot be obtained.
この考案は、軸方向の空間分解能を高めた構成
をとる場合でも必要に応じて感度を高めることが
できるよう改善したポジトロンCT装置を提供す
ることを目的とする。 The purpose of this invention is to provide an improved positron CT device that can increase sensitivity as necessary even when a configuration with increased spatial resolution in the axial direction is adopted.
問題点を解決するための手段
この考案によるポジトロンCT装置は、複数層
の検出器リングと、該検出器リングの1つの層内
および隣接する2つの層内への放射線の同時入射
を検出する同時計数回路と、ダイレクトスライス
およびクロススライスに関するデータを同時に収
集するメモリと、隣接する少なくとも2つのスラ
イスに関するデータを加算する加算器とを有す
る。Means for Solving the Problems The positron CT device according to this invention has a multi-layered detector ring and a simultaneous detection system for detecting simultaneous incidence of radiation into one layer and two adjacent layers of the detector ring. It has a counting circuit, a memory that simultaneously collects data regarding the direct slice and the cross slice, and an adder that adds the data regarding at least two adjacent slices.
作 用
隣接する少なくとも2つのスライスに関するデ
ータが加算されるので、この加算されたデータを
1つのスライスのデータとすれば、1つのスライ
スに関するデータ量が増大することになる。この
とき、軸方向に異なる位置の複数のスライスのデ
ータを加算するので、軸方向の空間分解能は多少
劣化しスライス数も少なくなる。Effect Since data regarding at least two adjacent slices are added, if this added data is used as data for one slice, the amount of data regarding one slice will increase. At this time, since data of a plurality of slices at different positions in the axial direction are added, the spatial resolution in the axial direction is somewhat degraded and the number of slices is also reduced.
そこで、測定時間を長くとれないダイナミツク
測定等の場合にこのような加算を行なつてS/N
比の高い優れた画質の画像を得るようにし、測定
時間が長くとれるような場合にはこのような加算
を行なわず高い軸方向分解能を生かして多数のス
ライスの画像を得る、という使い分けが1つのポ
ジトロンCT装置によつて行なえる。 Therefore, in cases such as dynamic measurements where the measurement time cannot be long, such addition is performed to improve the S/N.
One way to use this method is to obtain images of high image quality with a high ratio, and if the measurement time can be long, do not perform such addition and take advantage of the high axial resolution to obtain images of many slices. It can be performed using a positron CT device.
実施例
第1図において、厚さの薄い6層の検出器リン
グ11〜16が積層されており、これらは同時計
数回路21に接続されて、同一層での同時計数お
よび隣接する2つの層の間での同時計数がなされ
る。そしてダイレクトスライスおよびクロススラ
イス(第4図と同様である)の位置情報がメモリ
23にスライス毎に蓄積されていく。一定時間後
にはダイレクトスライス1,3,5,7,9,1
1、クロススライス2,4,6,8,10(第4
図参照)の合計11のスライスについてのデータが
メモリ23に収集される。Embodiment In FIG. 1, six thin layers of detector rings 11 to 16 are stacked, and these are connected to a coincidence circuit 21 to calculate coincidence in the same layer and in two adjacent layers. A simultaneous count is made between the two. Then, position information of direct slices and cross slices (same as in FIG. 4) is accumulated in the memory 23 for each slice. After a certain period of time, direct slice 1, 3, 5, 7, 9, 1
1, cross slice 2, 4, 6, 8, 10 (4th
Data for a total of 11 slices (see figure) are collected in the memory 23.
そこで、ダイナミツク測定時にはCPU22の
制御の下に加算器25により、隣接する2つのダ
イレクトスライス1,3とその間のクロススライ
ス2のデータを加算する。他のダイレクトスライ
ス、クロススライスについても同様に加算を行な
う。すなわち、スライス3,4,5の加算、スラ
イス5,6,7の加算、スライス7,8,9の加
算、スライス9,10,11の加算をそれぞれ行
なう。これにより第1図で示す5つのスライス1
〜5のデータが得られたことになり、感度はそれ
ぞれ第3図のダイレクトスライス1,3,5と同
じになり、第4図のダイレクトスライス1,3,
5,…の4倍になる。 Therefore, during dynamic measurement, an adder 25 adds data of two adjacent direct slices 1 and 3 and a cross slice 2 between them under the control of the CPU 22. Addition is performed similarly for other direct slices and cross slices. That is, addition of slices 3, 4, and 5, addition of slices 5, 6, and 7, addition of slices 7, 8, and 9, and addition of slices 9, 10, and 11 are performed, respectively. This results in five slices 1 shown in Figure 1.
~5 data are obtained, and the sensitivities are the same as direct slices 1, 3, and 5 in Figure 3, respectively, and direct slices 1, 3, and 5 in Figure 4, respectively.
5, it will be four times as much as...
こうしてもとの3スライス分のデータがまとめ
られて1スライスのデータとされ、画像演算装置
24によつて逆投影法などの画像再構成アルゴリ
ズムで処理され、5スライス分の画像が得られ
る。この画像データは外部記憶装置26に記憶さ
れ、あるいは表示装置27によつて表示される。 In this way, the original three slices of data are combined into one slice of data, which is processed by the image processing unit 24 using an image reconstruction algorithm such as a back projection method to obtain five slices of images. This image data is stored in the external storage device 26 or displayed on the display device 27.
この場合、加算前には11スライスであつたのが
加算後には5スライスであるから、スライス数は
半減し、Z軸方向の空間分解能も半分になるが、
感度を4倍にできるので、測定時間を長くとれな
いダイナミツク測定等においてもS/N比の高い
優れた画質の画像を得ることができ、このような
場合に有効である。 In this case, there were 11 slices before addition, but there are 5 slices after addition, so the number of slices is halved and the spatial resolution in the Z-axis direction is also halved.
Since the sensitivity can be quadrupled, it is possible to obtain images of excellent image quality with a high S/N ratio even in dynamic measurements where a long measurement time cannot be taken, and this is effective in such cases.
したがつて、測定時間が長くとれる場合には、
上記のような加算を行なわないことにより、Z軸
方向に高い空間分可能を有する構成を生かして高
い軸方向分解能で且つスライス数の多いモードで
の画像再構成ができ、ダイナミツク測定等の測定
時間を長くとれない測定時には軸方向分解能を多
少落としスライス数も少ないものとし、その代り
感度を高めS/N比の高い画像を得ることができ
る、というような使い分けが可能である。 Therefore, if the measurement time can be longer,
By not performing the above addition, image reconstruction can be performed in a mode with high axial resolution and a large number of slices by taking advantage of the configuration that has high spatial separation in the Z-axis direction, and the measurement time for dynamic measurements etc. can be reduced. For measurements that cannot be made for a long time, it is possible to reduce the axial resolution to some extent and reduce the number of slices, while increasing the sensitivity and obtaining an image with a high S/N ratio.
なお、第2図に示すようなスライス間のデータ
加算も可能である。まず、第2図Aに示すよう
に、もともと得られている11スライス分のデータ
の感度をそろえる。これには感度の高いクロスス
ライスに関するデータを減少させて補正する。そ
して、第2図Aのスライス1,2のデータを加算
して新たなスライス1のデータとする。このよう
に第2図Aの隣接するもの同士を順次加算してい
くことにより第2図Bのような新たな10のスライ
ス1〜10を得る。この場合、Z軸方向の応答は
台形となり、感度はもとの2倍となりスライス数
はほとんど変らず10となる。 Note that data addition between slices as shown in FIG. 2 is also possible. First, as shown in FIG. 2A, the sensitivities of the 11 slices of data originally obtained are made equal. This is corrected by reducing data related to highly sensitive cross slices. Then, the data of slices 1 and 2 in FIG. 2A are added to obtain new slice 1 data. By sequentially adding adjacent slices in FIG. 2A in this way, ten new slices 1 to 10 as shown in FIG. 2B are obtained. In this case, the response in the Z-axis direction becomes trapezoidal, the sensitivity is twice the original value, and the number of slices remains almost unchanged at 10.
考案の効果
この考案のポジトロンCT装置によれば、検出
器リングの軸方向厚さを薄くして軸方向の空間分
解能を高めた構成をとる場合でも必要に応じて感
度を高めることができ、ダイナミツク測定が可能
となり、測定に応じて使い分けができるので便利
である。Effects of the invention According to the positron CT device of this invention, even when the axial thickness of the detector ring is made thinner and the axial spatial resolution is increased, the sensitivity can be increased as necessary, and the dynamic It is convenient because it enables measurement and can be used differently depending on the measurement.
第1図はこの考案の一実施例のブロツク図、第
2図A,Bは他の実施例に関するZ軸方向感度分
布を示す図、第3図および第4図は検出器リング
の配列とZ軸方向感度分布との関係をそれぞれ示
す模式図である。
11〜16……検出器リング、21……同時計
数回路、22……CPU、23……メモリ、24
……画像演算装置、25……加算器、26……外
部記憶装置、27……表示装置。
FIG. 1 is a block diagram of one embodiment of this invention, FIGS. 2A and B are diagrams showing the Z-axis direction sensitivity distribution for other embodiments, and FIGS. 3 and 4 are diagrams showing the detector ring arrangement and Z-axis direction. FIG. 6 is a schematic diagram showing the relationship with the axial sensitivity distribution. 11-16...Detector ring, 21...Coincidence circuit, 22...CPU, 23...Memory, 24
...image processing device, 25...adder, 26...external storage device, 27...display device.
Claims (1)
つの層内および隣接する2つの層内への放射線の
同時入射を検出する同時計数回路と、ダイレクト
スライスおよびクロススライスに関するデータを
同時に収集するメモリと、隣接する少なくとも2
つのスライスに関するデータを加算する加算器と
を有するポジトロンCT装置。 a plurality of layers of detector rings and one of the detector rings;
a coincidence circuit for detecting simultaneous incidence of radiation in one layer and in two adjacent layers; a memory for simultaneously collecting data regarding the direct slice and the cross slice;
A positron CT device having an adder that adds data regarding two slices.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10703186U JPH0528535Y2 (en) | 1986-07-12 | 1986-07-12 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10703186U JPH0528535Y2 (en) | 1986-07-12 | 1986-07-12 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6314177U JPS6314177U (en) | 1988-01-29 |
| JPH0528535Y2 true JPH0528535Y2 (en) | 1993-07-22 |
Family
ID=30982931
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10703186U Expired - Lifetime JPH0528535Y2 (en) | 1986-07-12 | 1986-07-12 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0528535Y2 (en) |
-
1986
- 1986-07-12 JP JP10703186U patent/JPH0528535Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6314177U (en) | 1988-01-29 |
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