JPH05285U - レーザマーキング装置 - Google Patents

レーザマーキング装置

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Publication number
JPH05285U
JPH05285U JP046205U JP4620591U JPH05285U JP H05285 U JPH05285 U JP H05285U JP 046205 U JP046205 U JP 046205U JP 4620591 U JP4620591 U JP 4620591U JP H05285 U JPH05285 U JP H05285U
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JP
Japan
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ultrasonic
laser
laser marking
workpiece
marking device
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Pending
Application number
JP046205U
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English (en)
Inventor
励治 町田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH05285U publication Critical patent/JPH05285U/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 比較的簡単な構成で確実な検査を行うことの
できるレーザマーキング装置を提供する。 【構成】 超音波Qスイッチレーザ11と、超音波Qス
イッチレーザ11から射出された超音波Qスイッチレー
ザ光を被加工物13に照射するとき、これに応じてこの
被加工物13の内部で発生する超音波を検出する超音波
センサ14と、超音波センサ14の出力レベルを必要に
より増幅した後、所定のスレッショルドレベルと比較す
る比較器16とを備えたレーザマーキング装置である。
超音波センサ14の出力レベルが所定のスレッショルド
レベルを越えない場合には、マーキングが良好に行われ
なかったものと判別する。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は文字や記号等をレーザ光によってマーキングを行うレーザマーキング 装置に係わり、特にレーザマーキングの加工状態の検査を可能にしたレーザマー キング装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
レーザマーキング装置を用いて製品に文字や記号のマーキングを行った場合に は、そのマーキングの良否を調べるための検査が行われる。従来から行われてい る検査の代表的なものは、加工された製品の全数または抜き取った一部に対する 顕微鏡等の光学機器を用いた目視検査である。また、例えば自動化されたライン の場合にはレーザマーキングの後工程でパターン認識装置を使用し、検査を行う 方法も採用されている。この方法では、パターン認識装置にレーザマーキングの パターンを登録しておき、被加工物にマーキングされたパターンと比較すること によって良否の判定を行っている。
【0003】
【考案が解決しようとする課題】
このような従来の検査方法のうち、目視によるものは、検査を行う作業者の熟 練度等によって検査結果に差異が生じるといった問題があった。また、パターン 認識装置を使用する検査の場合には、パターン認識装置や被加工物の位置決め機 構のような検査に必要な諸装置の構成が複雑であり、これらの諸装置の設置にか なりのスペースを要するといった問題があった。
【0004】 そこで本考案の目的は、比較的簡単な構成で確実な検査を行うことのできるレ ーザマーキング装置を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】
本考案では、超音波Qスイッチレーザと、この超音波Qスイッチレーザから射 出された超音波Qスイッチレーザ光をマーキングのために被加工物に照射すると きにこれに応じてこの被加工物の内部で発生する超音波を検出する超音波センサ と、この超音波センサの出力レベルを必要に応じて増幅した後、所定のスレッシ ョルドレベルと比較する比較手段と、この比較手段の比較結果からレーザマーキ ングにおける被加工物の加工の良否を判別する判別手段とをレーザマーキング装 置に具備させる。
【0006】 すなわち本考案では、超音波Qスイッチレーザ光をマーキングのために被加工 物に照射するときにこれに応じてこの被加工物の内部で発生する超音波をセンサ で測定し、その出力レベルが所定の値よりも小さいときにはマーキングが正常に 行われなかったものと判別して、レーザマーキング装置の動作停止等の所定の制 御を可能にする。
【0007】
【実施例】
以下実施例につき本考案を詳細に説明する。
【0008】 図1は本考案の一実施例におけるレーザマーキング装置の構成を表わしたもの である。このレーザマーキング装置は、超音波Qスイッチレーザ11を備えてい る。超音波Qスイッチレーザ11から射出されるレーザ光は光学系12を通過し て被加工物13の所望の位置に照射され、レーザマーキングが行われる。被加工 物13の近傍には超音波センサ14が配置されており、超音波Qスイッチレーザ 光の照射によって被加工物13内部に発生した超音波の検出が行われるようにな っている。
【0009】 超音波センサ14の検出信号は増幅器15に入力され、所定のレベルまで増幅 される。増幅器15の出力は比較器16に入力される。比較器16は、超音波Q スイッチレーザ11および光学系12の制御を行うための制御ユニット17から 超音波Qスイッチレーザ11に入力される制御信号と同期して、増幅器15の出 力を所定のスレッショルドレベルと比較し、その比較結果を制御ユニット17に 入力させるようになっている。
【0010】 図2は、このような構成のレーザマーキング装置の各部の動作を説明するため のものである。この図と併せて、レーザマーキング装置のマーキング時の動作を 説明する。
【0011】 まず、制御ユニット17は図2(a)に示したように所定の周期で制御信号2 1を発生させる。この制御信号21は超音波Qスイッチレーザ11と比較器16 の双方に入力される。超音波Qスイッチレーザ11はこの制御信号21に同期し て超音波Qスイッチレーザ光を出力する。図2(b)は、光学系12から出力さ れる超音波Qスイッチレーザ光22の波形を表わしたものである。被加工物13 は、この超音波Qスイッチレーザ光22によって次々と加工されるが、これらの 加工の程度に応じて図2(c)に示したように超音波23が発生する。この超音 波23は超音波センサ14によって検出されて増幅器15で増幅される。この結 果、図2(d)に示したようにそれぞれの加工時に対応した超音波の検出信号2 4が比較器16入力されることになる。
【0012】 比較器16では、これら検出信号24の信号レベルが予め設定してある所定の スレッショルドレベルTHと比較し、各制御信号21に同期して検出信号24が スレッショルドレベルTHを越えた場合にはその比較出力25(図2e)をL( ロー)レベルに保持する。比較出力25がLレベルに保持されているときには、 それまでに行われたそれぞれのマーキングが正常に行われていることを示してい る。
【0013】 一方、被加工物13に対するマーキングが正常に行われなかったときには、超 音波23が正常に発生せずそのレベルが低下する。この場合には、検出信号24 の波高値がスレッショルドレベルTHを越えない。図2(d)の左から3番目の 波形はこのような状態を表わしている。このように検出信号24がスレッショル ドレベルTHを越えない場合、比較器16は比較出力25をH(ハイ)レベルに 変化させる。制御ユニット17は比較出力25のこのような変化を受けてレーザ マーキング装置の動作を停止させる。図2(a)の破線で示した波形は、レーザ マーキング装置の動作停止によって、本来所定のタイミングで出力されるべき制 御信号21が出力されなかった状態を表わしている。
【0014】 このように本実施例のレーザマーキング装置では、マーキングの際に被加工物 が発生させる超音波のレベルを所定の閾値と比較することで、マーキングが正常 に行われたかどうかを判別することになる。
【0015】 図3は、本考案の変形例を表わしたものである。この変形例のレーザマーキン グ装置で図1と同一部分には同一の符号を付しており、これらの説明を適宜省略 する。
【0016】 この変形例のレーザマーキング装置では、増幅器15の出力する検出信号24 を比較器31に入力する。比較器31では、制御ユニット32から出力される制 御信号21を超音波Qスイッチレーザ11に供給すると共に、比較器31にも供 給している。制御信号21は、先の実施例と同様にマーキングの行われるタイミ ングを知らせるためのものである。
【0017】 この変形例では、制御ユニット32からディジタル値としての閾値設定情報3 3が出力され、D/A変換器34に供給されるようになっている。D/A変換器 34では、これをアナログ値に変換し、スレッショルドレベル35として比較器 31に供給する。すなわち、この変形例のレーザマーキング装置では比較器31 にスレッショルドレベルが固定的に設定されているわけではなく、制御ユニット 32から与えられた閾値設定情報33によって任意のスレッショルドレベルTH ′が設定されるようになっている。比較器31では、このスレッショルドレベル TH′と検出信号24の信号レベルとを比較し、閾値を越えないような場合には 、先の実施例と同様に被加工物のマーキングが正常に行われなかったものとして レーザマーキング装置の動作を停止させることになる。
【0018】 ただし、この変形例のレーザマーキング装置ではスレッショルドレベルTH′ を制御ユニット32側で自在に調整することができるので、製品の種類等によっ てこれを適正な値に変更することができ、レーザマーキング装置の検査対象を広 範囲に拡大することができる。
【0019】
【考案の効果】
以上説明したように本考案によれば、マーキングの際に被加工物の内部で発生 する超音波をセンサで測定し、その出力レベルによってマーキングが正常に行わ れたかどうかを判別することにしたので、マーキングと同時にその良否を判別す ることができるという効果がある。また、従来のように目視に頼ったり、複雑な 検査装置を使用する必要がないので、安定かつ信頼性の高い検査を行うことがで き、しかも省力化や設備の小型化を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案の一実施例におけるレーザマーキング装
置の回路構成を示すブロック図である。
【図2】このレーザマーキング装置の動作を示すタイミ
ング図である。
【図3】変形例におけるレーザマーキング装置の回路構
成を示すブロック図である。
【符号の説明】
11 超音波Qスイッチレーザ 13 被加工物 14 超音波センサ 16、31 比較器 17、32 制御ユニット 23 超音波 24 検出信 34 D/A変換器 35 スレッショルドレベル

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 【請求項1】 超音波Qスイッチレーザと、この超音波
    Qスイッチレーザから射出された超音波Qスイッチレー
    ザ光を被加工物に照射するとき、これに応じてこの被加
    工物の内部で発生する超音波を検出する超音波センサ
    と、この超音波センサの出力レベルを所定のスレッショ
    ルドレベルと比較する比較手段と、この比較手段の比較
    結果からレーザマーキングにおける被加工物の加工の良
    否を判別する判別手段とを具備することを特徴とするレ
    ーザマーキング装置。
JP046205U 1991-06-19 1991-06-19 レーザマーキング装置 Pending JPH05285U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP046205U JPH05285U (ja) 1991-06-19 1991-06-19 レーザマーキング装置

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP046205U JPH05285U (ja) 1991-06-19 1991-06-19 レーザマーキング装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH05285U true JPH05285U (ja) 1993-01-08

Family

ID=12740589

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP046205U Pending JPH05285U (ja) 1991-06-19 1991-06-19 レーザマーキング装置

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JP (1) JPH05285U (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006287104A (ja) * 2005-04-04 2006-10-19 Denso Corp マーク認識システム

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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