JPH0459193A - レーザ加工装置 - Google Patents

レーザ加工装置

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JPH0459193A
JPH0459193A JP2170649A JP17064990A JPH0459193A JP H0459193 A JPH0459193 A JP H0459193A JP 2170649 A JP2170649 A JP 2170649A JP 17064990 A JP17064990 A JP 17064990A JP H0459193 A JPH0459193 A JP H0459193A
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JP
Japan
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output
laser beam
laser
peak
peak hold
Prior art date
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Pending
Application number
JP2170649A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuya Onoma
尾野間 一也
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH0459193A publication Critical patent/JPH0459193A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明はレーザ加工装置に関し、特にQスイッチレーザ
によるレーザ加工装置に関する。
従来技術 従来、この種のレーザ加工装置においては、レザ出力を
モニタするレーザ出力モニタ部と、レーザ出力モニタ部
の出力を増幅する増幅部と、Qスイッチパルスを制御す
る制御部とから構成されている。
このレーザ加工装置でレーザ加工を行う場合、レーザ加
工の直前に制御部から指定のQスイッチパルスを出力し
、そのQスイッチ周波数てのレーザ出力をレーザ出力モ
ニタ部で検出し、増幅部で増幅した後にレーザ平均出力
表示部にて表示し、この表示値を見なからレーザ出力が
所定値となるように入力電力あるいは減衰器を調整して
いた。
このような従来のレーザ加工装置ては、レーザ加工直前
にレーザ出力を設定し、レーザ加工中はレーザ出力のチ
エツクができないため、特に−度に多数の被加工物を加
工する場合や自動機と組合せて無人運転を行う場合など
、レーザ出力のチエツク間隔が長いときに目視検査によ
り加工不良とわかるまでレーザ出力が変化するか、ある
いはし−ザトリミングのように目標値に対するエラーか
出るまてレーザ出力か変化しないと、レーザ出力異常に
よる加工不良を検知することができなかった。
また、若干のレーザ出力の異常による加工不良に対して
は次工程以後の総合検査で不良とわかるまで検知できず
、結果として大量の不良品を生産してしまうという欠点
かある。
発明の目的 本発明は上記のような従来のものの欠点を除去すべくな
されたもので、若干のレーザ出力の異常による加工不良
を検知することができ、大量の不良品の生産を防止する
ことかてきるレーザ加工装置の提供を目的とする。
発明の構成 本発明によるレーザ加工装置は、Qスイッチレーザのレ
ーザ出力を検出する検出手段と、前記検出手段により検
出された前記レーザ出力の最大値を前記Qスイッチレー
ザへのQスイッチパルスに同期して保持するピークホー
ルド手段と、前記Qスイッチレーザのレーザ出力による
加工時に前記ピークホールド手段により保持された最大
値と予め設定された所定値とを比較する比較手段と、前
記比較手段の比較結果に応じて前記Qスイッチレーザか
らのレーザ出力の出力および停止を制御する制御手段と
を有することを特徴とする。
実施例 次に、本発明の一実施例について図面を参照して説明す
る。
第1図は本発明の一実施例の構成を示すプロ・ンク図で
ある。図において、制御部1はQスイ・ソチレーザ2を
Qスイッチパルス101により制御することで被加工物
3に照射するレーザ光102を制御している。
レーザ出力モニタ部4はQスイッチレーザ2から出射さ
れるレーザ出力をモニタしており、レーザ出力モニタ部
4て電圧として検出されたレーザ出力103は出力増幅
部5で増幅され、ピークホールド部6に入力される。
ピークホールド部6ては制御部1からのQスイッチパル
ス101に同期して出力増幅部5て増幅されたレーザ出
力104の最大値(ピーク値)を保持し、制御部1から
の制御信号107に応じて制御部1または比較部8にピ
ークホールド出力105,106を出力する。
制御部1は外部からの入力データ100とピークホール
ド部6からのピークホールド出力105とから基準電圧
の上限および下限を決定してから制御信号108により
基準電圧発生部7を制御し、基準電圧発生部7から比較
部8に基準電圧の上限109と基準電圧の下限110と
を出力させる。
比較部8てはピークホールド部6からのピークホールド
出力106と基準電圧発生部7からの基準電圧の上限1
09および基準電圧の下限110とを比較し、ピークホ
ールド出力106が基準電圧の上限109と基準電圧の
下限110との間にないことを検出すると、アラーム信
号111を制御部1に出力する。
第2図は本発明の一実施例の動作を示すタイムチャート
である。これら第1図および第2図を用いて本発明の一
実施例の動作について説明する。
まず、ピークホールド部6はレーザ加工前のレザ出力設
定時に、出力増幅部5で増幅されたレーザ出力104の
最大値(第2図の基準ピークaの値)を制御部1からの
Qスイッチパルス101に同期して保持し、このピーク
ホールド出力105を制御部1に出力する。
制御部1では入力データ100として与えられているレ
ーザ出力の許容範囲とピークホールド部6からのピーク
ホールド出力105(基準ピークaの値)とから基準電
圧の上限および下限を決定し、制御信号10gにより基
準電圧発生部7を制御して比較部8に基準電圧の上限1
09と基準電圧の下限110とを出力させる。
次に、レーザ加工が開始されると、レーザ加工時に出力
増幅部5て増幅されたレーザ出力104の最大値(第2
図の各ピークb−dの値)がピークホールド部6に制御
部1からのQスイッチパルス101に同期して保持され
、制御部1からの制御信号107によりピークホールド
部6から比較部8にピークホールド出力106として出
力される。
この場合、ピークホールド部6からのピークホールド出
力106は制御部1からのQスイッチパルス101の立
上りでクリアする。
比較部8はレーザ出力の各ピークb−dに対応するピー
クホールド出力106が基準電圧発生部7からの基準電
圧の上限109と基準電圧の下限110との間にあるか
どうか判定し、レーザ出力のピークCに対応するピーク
ホールド出力106のように基準電圧の上限109と基
準電圧の下限110との間になければ、アラーム信号1
11を制御部1に出力する。
制御部1では比較部8からのアラーム信号111が入力
されると、レーザ出力異常としてQスイッチパルス10
1の出力を停止し、レーザ加工を中止する。
尚、レーザ出力検出については一般的にQスイッチ周波
数に比べてかなり応答が遅いため、し〜ザ出力モニタ部
3から出力されるレーザ出力103が実際の加工に使用
しているレーザ出力と同じ数値とはならないが、すなわ
ちレーザ出力103が実際の加工に使用しているレーザ
出力よりも低い数値となるが、本発明の一実施例では基
準値のサンプリングをレーザ加工時のサンプリングと同
じ条件で行っているので、比較部8において比較判定を
行うときに問題とはならない。
このように、レーザ加工前のレーザ出力設定時に制御部
1からのQスイッチパルス101に同期してピークホー
ルド部6によりレーザ出力の基準ピク値をサンプリング
し、レーザ加工時にQスイッチパルス101に同期して
サンプリングされたレザ出力の各ピーク値を比較部8で
基準ピーク値と比較するようにすることによって、レー
ザ加工中にリアルタイムで加工に用いられるレーザ出力
のチエツクを行うことができるため、レーザ加工時の目
視検査やトリミングエラーとして表れないような若干の
レーザ出力の異常による加工不良を検知することができ
る。
また、−度に多数の被加工物3を加工したり、自動機と
組合せて無人運転する場合のように、若干のレーザ出力
の異常により大量の不良品を生産してしまうのを防止す
ることができる。
尚、本発明の一実施例ではレーザ出力設定時に制御部1
からのQスイッチパルス101に同期してサンプリング
された基準ピーク値とレーザ加工時のレーザ出力の各ピ
ーク値とを比較しているが、予め設定された基準ピーク
値を入力データ100として制御部1に入力し、この基
準ピーク値とレーザ加工時のレーザ出力の各ピーク値と
を比較してもよく、これに限定されない。
発明の詳細 な説明したように本発明によれば、レーザ加工時にQス
イッチパルスに同期してサンプリングされたレーザ出力
の各ピーク値を予め設定された所定値と比較し、その比
較結果に応じてレーザ出力の出力および停止を制御する
ようにすることによって、若干のレーザ出力の異常によ
る加工不良を検知することができ、大量の不良品の生産
を防止することができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図、第
2図は本発明の一実施例の動作を示すタイムチャートで
ある。 主要部分の符号の説明 1・・・・・・制御部 2・・・・・・Qスイッチレーザ 4・・・・・・レーザ出力モニタ部 6・・・・・・ピークホールド部 7・・・・・・基準電圧発生部 8・・・・・・比較部

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)Qスイッチレーザのレーザ出力を検出する検出手
    段と、前記検出手段により検出された前記レーザ出力の
    最大値を前記QスイッチレーザへのQスイッチパルスに
    同期して保持するピークホールド手段と、前記Qスイッ
    チレーザのレーザ出力による加工時に前記ピークホール
    ド手段により保持された最大値と予め設定された所定値
    とを比較する比較手段と、前記比較手段の比較結果に応
    じて前記Qスイッチレーザからのレーザ出力の出力およ
    び停止を制御する制御手段とを有することを特徴とする
    レーザ加工装置。
JP2170649A 1990-06-28 1990-06-28 レーザ加工装置 Pending JPH0459193A (ja)

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