JPH05290783A - Scanning electron microscope - Google Patents
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- JPH05290783A JPH05290783A JP4112135A JP11213592A JPH05290783A JP H05290783 A JPH05290783 A JP H05290783A JP 4112135 A JP4112135 A JP 4112135A JP 11213592 A JP11213592 A JP 11213592A JP H05290783 A JPH05290783 A JP H05290783A
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- signal
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- control characteristic
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 短時間で精度よくコントラスト補正ができる
走査電子顕微鏡を提供すること。
【構成】 像信号ピークホールド回路9は現状の像コン
トラストを求め、求めた像コントラストを減算回路14
に送る。減算回路14は、最適像コントラストと求めた
現状の像コントラストの差を演算する。この差分は制御
特性記憶部15に送られる。制御特性記憶部15には、
加速電圧信号V1が制御装置(図示せず)から送られて
おり、この場合、加速電圧V1における制御特性が用い
られる。ゲイン可変手段16は制御特性記憶部15から
の信号により可変ゲイン増幅器8のゲインを変化させ
る。この結果、陰極線管12のスクリーンに最適なコン
トラストを有する像が直ちに表示される。
(57) [Abstract] [Purpose] To provide a scanning electron microscope capable of accurately performing contrast correction in a short time. The image signal peak hold circuit 9 obtains the current image contrast, and the obtained image contrast is subtracted by a subtraction circuit 14
Send to. The subtraction circuit 14 calculates the difference between the optimum image contrast and the obtained current image contrast. This difference is sent to the control characteristic storage unit 15. In the control characteristic storage unit 15,
An acceleration voltage signal V1 is sent from a control device (not shown), and in this case, the control characteristic at the acceleration voltage V1 is used. The gain changing means 16 changes the gain of the variable gain amplifier 8 according to the signal from the control characteristic storage unit 15. As a result, an image with optimum contrast is immediately displayed on the screen of the cathode ray tube 12.
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】 本発明はコントラスト補正や輝
度補正の機能を備えた走査電子顕微鏡に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a scanning electron microscope having functions of contrast correction and brightness correction.
【0002】[0002]
【従来の技術】 走査電子顕微鏡は、試料に電子線を2
次元的に走査して照射し、試料から放出される信号を検
出して表示画面に試料像を表示する装置である。2. Description of the Related Art A scanning electron microscope uses an electron beam to a sample.
It is a device that dimensionally scans and irradiates, detects a signal emitted from a sample, and displays a sample image on a display screen.
【0003】図3は走査電子顕微鏡の概略図を示したも
のである。電子銃1から射出された電子線は、集束レン
ズ2および対物レンズ4により集束されて試料5を照射
する。また、走査信号発生回路13から偏向器3に走査
信号が送られてるので、電子線は試料5上を2次元的に
走査する。電子線の照射により試料5から2次電子が放
出し、この2次電子はシンチレータ6で光に変換され、
この光は光電子増倍管7で映像信号に変換される。この
映像信号は可変ゲイン増幅器8を介して陰極線管12に
送られる。前記走査信号発生回路13は、偏向器3に送
る走査信号に同期した走査信号を陰極線管12に送るの
で、陰極線管12のスクリーンには試料走査領域の像が
表示される。FIG. 3 is a schematic view of a scanning electron microscope. The electron beam emitted from the electron gun 1 is focused by the focusing lens 2 and the objective lens 4 and irradiates the sample 5. Further, since the scanning signal is sent from the scanning signal generating circuit 13 to the deflector 3, the electron beam scans the sample 5 two-dimensionally. Secondary electrons are emitted from the sample 5 by irradiation with an electron beam, and the secondary electrons are converted into light by the scintillator 6,
This light is converted into a video signal by the photomultiplier tube 7. This video signal is sent to the cathode ray tube 12 via the variable gain amplifier 8. Since the scanning signal generating circuit 13 sends a scanning signal synchronized with the scanning signal sent to the deflector 3 to the cathode ray tube 12, an image of the sample scanning area is displayed on the screen of the cathode ray tube 12.
【0004】さて、可変ゲイン増幅器8からの映像信号
は像信号ピークホールド回路9にも送られる。像信号ピ
ークホールド回路9は、1試料走査領域分の映像信号を
保持し、それらの信号から現状の像コントラストを表わ
す信号を求め、この信号を減算回路10に送る。減算回
路10は最適像コントラストを表わす信号を保持してお
り、この最適像コントラストを表わす信号と求めた現状
の像コントラストを表わす信号との差を演算する。この
差を表わす信号は制御特性記憶部11に送られる。図4
は制御特性記憶部11に記憶されているゲイン補正信号
を説明するために示したものである。図において、横軸
は、最適像コントラストと現状の像コントラストの差分
を表わし、縦軸は、可変ゲイン増幅器8のゲイン補正分
を表わす。すなわち、制御特性記憶部11には、コント
ラストが最適でない場合に、最適なコントラストを有す
る像を得るために必要なゲイン補正量を表わす情報が記
憶されている。例えば、減算回路10から送られてくる
差分がΔC1であれば、制御特性記憶部11からはΔG
1の出力信号が可変ゲイン増幅器8に送られる。そし
て、可変ゲイン増幅器8のゲインはΔG1に対応した分
だけ変化する。この結果、陰極線管12のスクリーンに
最適なコントラストを有する像が直ちに表示される。The video signal from the variable gain amplifier 8 is also sent to the image signal peak hold circuit 9. The image signal peak hold circuit 9 holds a video signal for one sample scanning area, obtains a signal representing the current image contrast from these signals, and sends this signal to the subtraction circuit 10. The subtraction circuit 10 holds a signal representing the optimum image contrast, and calculates the difference between the signal representing the optimum image contrast and the obtained signal representing the current image contrast. A signal representing this difference is sent to the control characteristic storage unit 11. Figure 4
Are shown for explaining the gain correction signal stored in the control characteristic storage unit 11. In the figure, the horizontal axis represents the difference between the optimum image contrast and the current image contrast, and the vertical axis represents the gain correction amount of the variable gain amplifier 8. That is, the control characteristic storage unit 11 stores information indicating the amount of gain correction necessary to obtain an image having the optimum contrast when the contrast is not optimum. For example, if the difference sent from the subtraction circuit 10 is ΔC1, the difference is ΔG from the control characteristic storage unit 11.
The output signal of 1 is sent to the variable gain amplifier 8. Then, the gain of the variable gain amplifier 8 changes by an amount corresponding to ΔG1. As a result, an image with optimum contrast is immediately displayed on the screen of the cathode ray tube 12.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】 しかしながら、観察
条件、例えば加速電圧や試料の種類によっては前記制御
特性が最適でない場合があり、コントラスト補正に時間
がかかったり、また、コントラスト補正の精度が低下す
ることがある。 また、このような問題は輝度補正につ
いても同様に起こる。However, the control characteristics may not be optimum depending on the observation conditions, for example, the acceleration voltage and the type of the sample, and the contrast correction may take a long time, or the accuracy of the contrast correction may decrease. Sometimes. Further, such a problem similarly occurs in the brightness correction.
【0006】本発明はこのような点に鑑みて成されたも
ので、その目的は、短時間で精度よくコントラスト補正
または輝度補正ができる走査電子顕微鏡を提供すること
である。The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object thereof is to provide a scanning electron microscope capable of accurately performing contrast correction or brightness correction in a short time.
【0007】[0007]
【課題を解決するための手段】 この目的を達成する本
発明の走査電子顕微鏡は、電子線の試料への照射に基づ
く映像信号を増幅する手段と、該増幅手段からの映像信
号が供給される表示手段と、前記増幅手段からの映像信
号に基づいて現状の像情報信号を求める情報検出手段
と、該情報検出手段で求められた現状の像情報信号と最
適像情報信号の差を演算する手段と、該像情報信号の差
および観察条件に対応して前記増幅手段のゲイン補正分
が記憶された制御特性記憶部と、前記像情報信号の差お
よび観察条件の信号の入力により制御特性記憶部から出
力されるゲイン補正信号に基づいて前記増幅手段のゲイ
ンを制御するゲイン可変手段とを備えた。Means for Solving the Problems A scanning electron microscope of the present invention that achieves this object is provided with a means for amplifying a video signal based on irradiation of a sample with an electron beam, and a video signal from the amplification means. Display means, information detecting means for obtaining the current image information signal based on the video signal from the amplifying means, and means for calculating the difference between the current image information signal obtained by the information detecting means and the optimum image information signal. And a control characteristic storage unit in which the gain correction amount of the amplification means is stored corresponding to the difference in the image information signal and the observation condition, and the control characteristic storage unit by inputting the signal in the difference between the image information signal and the observation condition And a gain varying means for controlling the gain of the amplifying means based on the gain correction signal output from the.
【0008】[0008]
【実施例】 以下、本発明を図面を参照して説明する。The present invention will be described below with reference to the drawings.
【0009】図1は本発明の実施例として示した走査電
子顕微鏡の概略図である。図において、前記図3と同一
番号を付したものは同一構成要素を示す。14は減算回
路、15は制御特性記憶部、16はゲイン可変手段であ
る。このような装置におけるコントラスト補正を以下に
説明する。FIG. 1 is a schematic view of a scanning electron microscope shown as an embodiment of the present invention. In the figure, the same reference numerals as those in FIG. 3 indicate the same components. Reference numeral 14 is a subtraction circuit, 15 is a control characteristic storage unit, and 16 is a gain varying means. The contrast correction in such an apparatus will be described below.
【0010】本発明の特徴は、各々の加速電圧または試
料における前記制御特性を求めて記憶することである。
まず、加速電圧V1における制御特性を求めることにつ
いて説明する。A feature of the present invention is that the control characteristic for each acceleration voltage or sample is determined and stored.
First, obtaining the control characteristic at the acceleration voltage V1 will be described.
【0011】まず、ゲイン可変手段16は、可変ゲイン
増幅器8のゲインをある値G2に設定する。この値はゲ
イン可変手段16に保持される。光電子増倍管7で映像
信号に変換された映像信号は可変ゲイン増幅器8を介し
て陰極線管12に送られる。同時に、可変ゲイン増幅器
8からの映像信号は像信号ピークホールド回路9にも送
られる。像信号ピークホールド回路9は、1試料走査領
域分の映像信号を保持し、それらの信号から現状の像コ
ントラストを表わす信号を求め、求めた信号を減算回路
14に送る。減算回路14は最適像コントラストを表わ
す信号を保持しており、この最適像コントラストを表わ
す信号と求めた現状の像コントラストを表わす信号の差
を演算する。この差分は制御特性記憶部15に送られ
る。図2は制御特性記憶部15に記憶されるゲイン補正
信号を説明するために示したものである。図において、
横軸は、最適像コントラストと現状の像コントラストの
差分を表わし、縦軸は、可変ゲイン増幅器8のゲイン補
正分を表わす。ところで、減算回路14から制御特性記
憶部15に、差分ΔC2が送られたとする。減算回路1
4は、コントラストに差がある事を示す信号を前記ゲイ
ン可変手段16に送る。この信号を受けたゲイン可変手
段16は、可変ゲイン増幅器8のゲインを所定量だけ変
化させる。可変ゲイン増幅器8のゲインの変化により、
像信号ピークホールド回路9が求める像コントラストは
ゲイン変化前とは異なる。減算回路14は、最適像コン
トラストと現状の像コントラストの差を演算し、差があ
る場合はゲイン可変手段16に信号を送る。なお、減算
回路14は、1回目の演算の結果ΔC2だけを前記制御
特性記憶部15に送り、2回目以降の演算結果は制御特
性記憶部15には送らない。減算回路14から信号を受
けたゲイン可変手段16は前記同様、可変ゲイン増幅器
8のゲインを所定量だけ変化させる。このような動作は
減算回路14の演算で差が零になるまで行われ、差が零
になると、減算回路14はゲイン可変手段16に終了信
号を送る。この信号を受けたゲイン可変手段16は、現
在の可変ゲイン増幅器8のゲインと保持しているゲイン
G2の差を求め、この差ΔG2を前記制御特性記憶部1
5に送る。制御特性記憶部15は、減算回路14から送
られた像コントラストの差分ΔC2に対応してこのゲイ
ンの差分ΔG2を記憶する。図2において、A点がこの
関係を示している。First, the gain varying means 16 sets the gain of the variable gain amplifier 8 to a certain value G2. This value is held in the gain changing means 16. The video signal converted into the video signal by the photomultiplier tube 7 is sent to the cathode ray tube 12 via the variable gain amplifier 8. At the same time, the video signal from the variable gain amplifier 8 is also sent to the image signal peak hold circuit 9. The image signal peak hold circuit 9 holds a video signal for one sample scanning area, obtains a signal representing the current image contrast from these signals, and sends the obtained signal to the subtraction circuit 14. The subtracting circuit 14 holds a signal representing the optimum image contrast, and calculates the difference between the signal representing the optimum image contrast and the signal representing the current image contrast obtained. This difference is sent to the control characteristic storage unit 15. FIG. 2 is shown for explaining the gain correction signal stored in the control characteristic storage unit 15. In the figure,
The horizontal axis represents the difference between the optimum image contrast and the current image contrast, and the vertical axis represents the gain correction amount of the variable gain amplifier 8. By the way, it is assumed that the difference ΔC2 is sent from the subtraction circuit 14 to the control characteristic storage unit 15. Subtraction circuit 1
4 sends a signal indicating that there is a difference in contrast to the gain varying means 16. Receiving this signal, the gain changing means 16 changes the gain of the variable gain amplifier 8 by a predetermined amount. By changing the gain of the variable gain amplifier 8,
The image contrast obtained by the image signal peak hold circuit 9 is different from that before the gain change. The subtraction circuit 14 calculates the difference between the optimum image contrast and the current image contrast, and if there is a difference, sends a signal to the gain varying means 16. The subtraction circuit 14 sends only the result ΔC2 of the first calculation to the control characteristic storage unit 15 and does not send the second and subsequent calculation results to the control characteristic storage unit 15. The gain changing means 16 which has received the signal from the subtraction circuit 14 changes the gain of the variable gain amplifier 8 by a predetermined amount as described above. Such an operation is performed until the difference becomes zero by the calculation of the subtraction circuit 14, and when the difference becomes zero, the subtraction circuit 14 sends an end signal to the gain varying means 16. Upon receiving this signal, the gain varying means 16 obtains the difference between the current gain of the variable gain amplifier 8 and the held gain G2, and this difference ΔG2 is used as the control characteristic storage unit 1
Send to 5. The control characteristic storage unit 15 stores the gain difference ΔG2 corresponding to the image contrast difference ΔC2 sent from the subtraction circuit 14. In FIG. 2, point A shows this relationship.
【0012】次に、可変ゲイン増幅器8のゲインを前記
設定した値G2と異なる値、例えばG3に設定する。減
算回路14の1回目の演算の結果がΔC3であれば、そ
の差分ΔC3は制御特性記憶部15に記憶される。そし
て、前記同様な動作が、減算回路14の演算結果が零に
なるまで行われる。この時の可変ゲイン増幅器8のゲイ
ンと、ゲイン可変手段16の保持しているゲインG3と
の差分ΔG3は制御特性記憶部15に送られる。図2に
おいて、B点がこの関係を示している。Next, the gain of the variable gain amplifier 8 is set to a value different from the set value G2, for example, G3. If the result of the first operation of the subtraction circuit 14 is ΔC3, the difference ΔC3 is stored in the control characteristic storage unit 15. Then, the same operation as described above is performed until the calculation result of the subtraction circuit 14 becomes zero. The difference ΔG3 between the gain of the variable gain amplifier 8 and the gain G3 held by the gain changing means 16 at this time is sent to the control characteristic storage unit 15. In FIG. 2, point B shows this relationship.
【0013】以後、同様な動作が行なわれ、C,D……
の点が求められる。そして、制御特性記憶部15は最小
二乗法により、加速電圧V1におけるゲイン補正信号を
求める。Thereafter, the same operation is performed, and C, D ...
Point is required. Then, the control characteristic storage unit 15 obtains the gain correction signal at the acceleration voltage V1 by the least square method.
【0014】以上説明したような制御特性を求める動作
を、各加速電圧および試料を変えて行なう。The operation for obtaining the control characteristics as described above is performed by changing each accelerating voltage and sample.
【0015】次に、例えば加速電圧V1で試料を観察す
る場合について図1に示した装置の動作を説明する。Next, the operation of the apparatus shown in FIG. 1 will be described for the case of observing a sample with the acceleration voltage V1.
【0016】光電子増倍管7で映像信号に変換された映
像信号は可変ゲイン増幅器8を介して陰極線管12に送
られる。同時に、可変ゲイン増幅器8からの映像信号は
像信号ピークホールド回路9にも送られる。像信号ピー
クホールド回路9は、1試料走査領域分の映像信号を保
持し、それらの信号から現状の像コントラストを表わす
信号を求め、この信号を減算回路14に送る。減算回路
14は最適像コントラストを表わす信号を保持してお
り、この最適像コントラストを表わす信号と求めた現状
の像コントラストを表わす信号の差を演算する。この差
分は制御特性記憶部15に送られる。なお、この時、コ
ントラストに差があることを示す信号が前記ゲイン可変
手段16に送られないように制御する。制御特性記憶部
15には、加速電圧信号V1が制御装置(図示せず)か
ら送られており、この場合、加速電圧V1における制御
特性が用いられる。例えば、減算回路14から送られて
くる差分がΔC2であれば、制御特性記憶部15からは
ΔG2の出力信号がゲイン可変手段16に送られる。ゲ
イン可変手段16はこの信号により可変ゲイン増幅器8
のゲインをΔG2に対応した分だけ変化させる。この結
果、陰極線管12のスクリーンに最適なコントラストを
有する像が直ちに表示される。The video signal converted into the video signal by the photomultiplier tube 7 is sent to the cathode ray tube 12 through the variable gain amplifier 8. At the same time, the video signal from the variable gain amplifier 8 is also sent to the image signal peak hold circuit 9. The image signal peak hold circuit 9 holds the video signals for one sample scanning area, obtains a signal representing the current image contrast from these signals, and sends this signal to the subtraction circuit 14. The subtracting circuit 14 holds a signal representing the optimum image contrast, and calculates the difference between the signal representing the optimum image contrast and the signal representing the current image contrast obtained. This difference is sent to the control characteristic storage unit 15. At this time, a signal indicating that there is a difference in contrast is controlled so as not to be sent to the gain varying means 16. An acceleration voltage signal V1 is sent to the control characteristic storage unit 15 from a control device (not shown), and in this case, the control characteristic at the acceleration voltage V1 is used. For example, if the difference sent from the subtraction circuit 14 is ΔC2, the output signal of ΔG2 is sent from the control characteristic storage unit 15 to the gain changing means 16. The gain changing means 16 uses this signal to make the variable gain amplifier 8
The gain of is changed by an amount corresponding to ΔG2. As a result, an image with optimum contrast is immediately displayed on the screen of the cathode ray tube 12.
【0017】なお、可変ゲイン増幅器8のゲインを変化
させるかわりに、光電子増倍管7のゲインを変化させて
もよい。Instead of changing the gain of the variable gain amplifier 8, the gain of the photomultiplier tube 7 may be changed.
【0018】また、本発明は、輝度の補正にも適用する
ことができる。The present invention can also be applied to brightness correction.
【0019】[0019]
【発明の効果】 本発明の装置は、観察条件毎に制御特
性を記憶しているので、観察条件がかわってもコントラ
スト補正または輝度補正を短時間で精度よく行なう事が
できる。Since the apparatus of the present invention stores the control characteristic for each observation condition, it is possible to accurately perform contrast correction or brightness correction in a short time even when the observation condition is changed.
【図1】本発明の実施例として示した走査電子顕微鏡の
概略図。FIG. 1 is a schematic view of a scanning electron microscope shown as an embodiment of the present invention.
【図2】制御特性を示したもの。FIG. 2 shows control characteristics.
【図3】従来の走査電子顕微鏡の概略図。FIG. 3 is a schematic view of a conventional scanning electron microscope.
【図4】制御特性を示したもの。FIG. 4 shows control characteristics.
1 電子銃 2 集束レンズ 3 偏向器 4 対物レンズ 5 試料 6 シンチレータ 7 光電子増倍管 8 可変ゲイン増幅器 9 像信号ピークホールド回路 10、14 減算回路 11、15 制御特性記憶部 12 陰極線管 13 走査信号発生回路 16 ゲイン可変手段 1 electron gun 2 focusing lens 3 deflector 4 objective lens 5 sample 6 scintillator 7 photomultiplier tube 8 variable gain amplifier 9 image signal peak hold circuit 10, 14 subtraction circuit 11, 15 control characteristic storage unit 12 cathode ray tube 13 scanning signal generation Circuit 16 Gain varying means
Claims (1)
を増幅する手段と、該増幅手段からの映像信号が供給さ
れる表示手段と、前記増幅手段からの映像信号に基づい
て現状の像情報信号を求める情報検出手段と、該情報検
出手段で求められた現状の像情報信号と最適像情報信号
の差を演算する手段と、該像情報信号の差および観察条
件に対応して前記増幅手段のゲイン補正分が記憶された
制御特性記憶部と、前記像情報信号の差および観察条件
の信号の入力により制御特性記憶部から出力されるゲイ
ン補正信号に基づいて前記増幅手段のゲインを制御する
ゲイン可変手段とを備えた走査電子顕微鏡。1. A means for amplifying a video signal based on irradiation of a sample with an electron beam, a display means to which the video signal from the amplification means is supplied, and a current image based on the video signal from the amplification means. Information detecting means for obtaining an information signal, means for calculating a difference between the current image information signal and the optimum image information signal obtained by the information detecting means, and the amplification corresponding to the difference between the image information signals and the observation condition. The gain of the amplification means is controlled on the basis of a control characteristic storage section in which the gain correction amount of the means is stored, and a gain correction signal output from the control characteristic storage section by the input of the signal of the difference between the image information signals and the observation condition signal. And a scanning electron microscope provided with a gain varying means.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4112135A JPH05290783A (en) | 1992-04-03 | 1992-04-03 | Scanning electron microscope |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4112135A JPH05290783A (en) | 1992-04-03 | 1992-04-03 | Scanning electron microscope |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05290783A true JPH05290783A (en) | 1993-11-05 |
Family
ID=14579092
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4112135A Withdrawn JPH05290783A (en) | 1992-04-03 | 1992-04-03 | Scanning electron microscope |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05290783A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007192741A (en) * | 2006-01-20 | 2007-08-02 | Sharp Corp | Elemental analysis method and elemental analysis apparatus |
| DE102008038216A1 (en) * | 2008-08-18 | 2010-03-11 | Carl Zeiss Nts Gmbh | A method of generating corpuscular beam images with a corpuscular beam apparatus |
-
1992
- 1992-04-03 JP JP4112135A patent/JPH05290783A/en not_active Withdrawn
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US8153967B2 (en) | 2008-08-18 | 2012-04-10 | Carl Zeiss Nts Gmbh | Method of generating particle beam images using a particle beam apparatus |
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