JPH0530148U - 非接触ストリツプ矯正装置 - Google Patents
非接触ストリツプ矯正装置Info
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- JPH0530148U JPH0530148U JP7745491U JP7745491U JPH0530148U JP H0530148 U JPH0530148 U JP H0530148U JP 7745491 U JP7745491 U JP 7745491U JP 7745491 U JP7745491 U JP 7745491U JP H0530148 U JPH0530148 U JP H0530148U
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Landscapes
- Straightening Metal Sheet-Like Bodies (AREA)
- Coating With Molten Metal (AREA)
- Control Of Heat Treatment Processes (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 搬送時にストリップが蛇行しても、ストリッ
プの板幅内から電磁石が外れず、確実にC反りを矯正す
ることができ、これにより、亜鉛めっきの厚さのむらを
なくすることにある。 【構成】 ストリップの板幅エッジを測定する位置検出
器を設けると共に電磁石を板幅方向に移動させる移動装
置を設け、前記検出器により検出された値に基づいて前
記移動装置により電磁石を移動させるので、電磁石を常
にストリップの板幅内に位置させることが可能となる。
プの板幅内から電磁石が外れず、確実にC反りを矯正す
ることができ、これにより、亜鉛めっきの厚さのむらを
なくすることにある。 【構成】 ストリップの板幅エッジを測定する位置検出
器を設けると共に電磁石を板幅方向に移動させる移動装
置を設け、前記検出器により検出された値に基づいて前
記移動装置により電磁石を移動させるので、電磁石を常
にストリップの板幅内に位置させることが可能となる。
Description
【0001】
本考案は、製鉄プロセスラインのストリップのC反り制御に適用される非接触 ストリップ矯正装置に関する。
【0002】
製鉄プロセスラインにおいては、ストリップの鋼板を搬送させながら、溶融亜 鉛めっきや焼鈍等の加工を行い製品化するのが一般的である。ここで、ストリッ プは搬送される際に、C反りを矯正され、溶融亜鉛メッキの厚さを均一にしてい る。
【0003】 そのC反り矯正の従来技術を図4〜図6に示す。 図4に示すように、ストリップ1は、二つのフロータ2a,2bを介して搬送 され、二つのフロータ2a,2b間には電磁石4が配置されている。この電磁石 4と同じ位置に、ストリップ1の変位を測定する非接触式変位計3が配置されて いる。電磁石4は、図5(a)(b)に示すようにストリップ1の板幅方向に3箇所配 置され、それぞれに非接触式変位計3が配置されている。三つの非接触式変位計 3は、ストリップ1の変位を非接触で計測し、その信号a1,a2,a3は、減算 器7へ出力される。
【0004】 減算器7は、その信号a1,a2,a3からストリップ位置設定値を減算して、 制御回路8へそれぞれ入力する。制御回路8は、図6に示すようにストリップ1 の位置がストリップ位置設定値となるように、電磁石駆動回路9を介して、三つ の電磁石4に対して、それぞれ励磁電流b1,b2,b3を出力する。三つの電磁 石4は、励磁電流b1,b2,b3により電磁力をストリップ1に作用させ、スト リップ1のC反りを矯正する。更に、この装置は、ストリップ1のC反りを矯正 するのみならず、その振動に対しても積極的に作用し、振動を抑える効果がある 。
【0005】 この装置では、ストリップ1のC反りを矯正する電磁石4の位置は固定されて いるため、搬送されるストリップ1が蛇行した時、ストリップ1が電磁石4の位 置から外れ、C反りが矯正できず、制振もできない場合があった。この結果、亜 鉛めっきの厚さむらを生じ、製品の品質低下を招いていた。
【0006】
前述した従来の装置では、電磁石の位置が固定されているため、搬送されてい るストリップが蛇行した際には、ストリップの位置が電磁石の位置を外れ、C反 りを矯正できず、制振もできないという問題があった。
【0007】 本考案は、上記従来技術に鑑みてなされたものであり、ストリップの板幅のエ ッジの位置を測定する計測器を設け、これにより、電磁石を板幅方向に移動させ ることにより、ストリップ1が蛇行した場合でも、電磁石をストリップの板幅内 に移動させて、ストリップ1に対して確実に電磁力を作用させてC反りを矯正す ることのできる非接触ストリップ矯正装置を提供することを目的とするものであ る。
【0008】
斯かる目的を達成する本考案の非接触ストリップ矯正装置に係る構成は、スト リップを搬送するラインに沿って配置されたフロータ間に設けられた電磁石及び 該電磁石と同位置に設けられる非接触変位計、該非接触変位計からの変位量を振 動として入力してストリップの位置設定値から減算する減算器、該減算器からの 信号を入力し電磁石駆動回路へ励磁電流を出力する制御回路、該制御回路からの 励磁電流を入力し電磁石を駆動させるための電磁石駆動回路を設け、更に、電磁 石に近接して設けられた板エッジ検出器、該板エッジ検出器からの信号を入力し 電磁石位置を演算する演算回路、該演算回路からの信号を入力し電磁石移動装置 に電流を出力する駆動回路、該駆動回路からの電流を入力し電磁石を移動する電 磁石移動装置を設けたことにより、ストリップの板エッジの位置に応じて、スト リップの板幅の内側の位置へ電磁石を移動させ、確実にストリップに対して電磁 力を作用させるることを特徴とするものである。
【0009】
ストリップの板エッジは、板エッジ計測器で測定され、板エッジ計測器へ電磁 石の位置を決める演算回路に信号が出力される。演算回路は、電磁石がストリッ プの板幅から外れない位置を算出し、駆動回路へ出力する。駆動回路は、その位 置を示す駆動電流を電磁石移動回路へ出力する。電磁石移動装置は、その信号に 基づいき、電磁石を板エッジの位置に応じて、板エッジの内側へ電磁石及び非接 触式変位計を移動させる。非接触式変位計は、ストリップの変位を測定し、その 変位信号を減算器に出力する。
【0010】 減算器は、ストリップの位置設定値から変位信号を減算し、制御回路へ出力す る。制御回路は、ストリップの位置が設定位置となるように、即ち、C反りが矯 正されるように、電磁石駆動回路を介して、電磁石へ励磁信号を出力する。同時 に、制振を行うことも可能である。これにより、ストリップが搬送時に蛇行して も、電磁石はストリップの板幅内に常に移動されるので、電磁石により電磁力を ストリップに作用させて、確実にC反りを矯正し、且つ、制振をおこなうことが できる。
【0011】
本発明の一実施例を図1〜図3に示す。同図に示すように、ストリップ1は、 二つのフロータ2a,2bを介して搬送され、二つのフロータ2a,2b間には 電磁石4が配置されている。この電磁石4と同じ位置に、ストリップ1の変位を 測定する非接触式変位計3が配置されている。電磁石4は、図2(a)(b)(c) に示 すようにストリップ1の板幅方向に3箇所配置され、それぞれに非接触式変位計 3が配置されている。三つの非接触式変位計3は、ストリップ1の変位を非接触 で計測し、その信号a1,a2,a3は、減算器7へ出力される。減算器7は、そ の信号a1,a2,a3からストリップ位置設定値を減算して、制御回路8へそれ ぞれ入力する。
【0012】 制御回路8は、図3(a) に示すように ストリップ1の位置がストリップ位置 設定値となるように、電磁石駆動回路9を介して、三つの電磁石4に対して、そ れぞれ励磁電流b1,b2,b3を出力する。三つの電磁石4は、励磁電流b1,b 2 ,b3により電磁力をストリップ1に作用させ、ストリップ1のC反りを矯正す る。更に、この装置は、ストリップ1のC反りを矯正するのみならず、その振動 に対しても積極的に作用し、振動を抑える効果がある。
【0013】 更に、本考案では、上記非接触式変位計3及び電磁石4を載置する電磁石移動 装置6が設けられている。この電磁石移動装置6は、ストリップ1の板幅方向に 移動可能になっている。この電磁石移動装置6は、電磁石位置演算回路10によ り電磁石移動用駆動回路11を介して出力された駆動電流dにより、ストリップ 1の板幅方向に移動させられるようになっている。
【0014】 また、ストリップ1の左右両側には、板エッジ検出器5がそれぞれ設けられて いる。この板エッジ検出器5は、ストリップ1を挟んで対向する投光部5a,5 bとから構成され、投光部5aからストリップ1のエッジに対して光を投光して 、ストリップ1により遮られた光を受光部5bで検出することにより、ストリッ プの板エッジ位置を測定することが可能である。二つの板エッジ検出器5により 検出された信号c1,c2は、電磁石位置演算回路10に入力される。この電磁石 位置演算回路10は、図3(b) に示すようにこの信号c1,c2に基づき、ストリ ップ1の位置を演算し、電磁石移動用駆動回路11を介して電磁石移動装置6へ 駆動電流dを出力する。
【0015】 上記構成を有する非接触ストリップ矯正装置の作用について説明する。 先ず、左右の板エッジ検出器5において、投光部5aからストリップ1へ投光 し、ストリップ1が遮る幅を受光部5bで測定し、ストリップ1の板エッジの位 置を計測する。 次いで、板エッジ検出器5から出力された信号c1 ,c2 は、電磁石位置演算 回路10に入力され、この電磁石位置演算回路10は、ストリップ1の板幅内へ 電磁石4を移動させるべき位置を算出する。この電磁石位置演算回路10からの 信号は電磁石移動用駆動回路11へ出力され、電磁石4を電磁石位置演算回路1 0で算出した位置まで移動する駆動電流dを電磁石移動装置6へ出力する。電磁 石移動装置6には、全ての電磁石4が固定されており、上記電磁石位置演算回路 10で演算された位置まで全ての電磁石4と共に移動する。電磁石移動装置6で 、電磁石4を板幅方向に移動させることにより、ストリップ1が搬送時に蛇行し ても、電磁石4は、常にストリップ1の板幅内に移動させることになる。
【0016】 従って、電磁石4による電磁力をストリップ1に常に作用させて、ストリップ 1のC反りを確実に矯正することができる。即ち、非接触変位計3でストリップ 1の変位を測定し、減算器7でストリップ1の設定位置から減算し、その信号を 制御回路8へ出力する。制御回路8から上記ストリップ1の位置設定値からの変 位が零になるようにな信号を電磁石駆動回路9へ出力する。電磁石駆動回路9は 、電磁石4へストリップ1を吸引するための電磁力を発生させる励磁電流を出力 する。電磁石4の吸引力で、ストリップ1は設定位置まで移動し、変位は零とな る、即ち、C反りが矯正される。
【0017】 尚、上記実施例では、ストリップ1の搬送ラインにフロータ2a,2bも設け てストリップ1を浮上させ、非接触状態で搬送するものとしているが、本発明は 、このような実施例に限られないものである。 このように本実施例では、ストリップ1が搬送時に蛇行した際に絶えず電磁石 4を板エッジ内側で移動させ、C反りを矯正することができ、電磁石4がストリ ップ1の板幅から外れ、C反りが矯正不能になり製品の亜鉛めっきむらが生じる 従来装置に比較し、品質を向上させることが可能となった。 また、本装置は、ストリップを設定位置に保持する効果があり、振動を抑える ことができ、このことからストリップの振動による製品の亜鉛めっきむちもなく なり、更に製品の品質を向上させることができる。
【0018】
以上、実施例に基づいて具体的に説明したように、本考案は、ストリップをフ ロータにより浮上させて搬送ラインを走行させ、ストリップの板エッジ検出器を 設けて板の幅方向のエッジ位置を測定し、そのエッジ位置の信号を電磁石位置演 算回路に出力して電磁石がストリップの板幅から外れないような板エッジ内側の 位置を算出し、この電磁石位置演算回路から出力された位置の信号は駆動回路を 介して電磁石移動装置を動かし、電磁石移動装置に固定した電磁石をC反り矯正 の為に板エッジの内側へ移動させる。この為、ストリップは搬送時に蛇行しても 電磁石が板幅から外れることはなく、板エッジの内側に設定できる。
【0019】 更に、ストリップの変位を非接触変位計で測定し、その信号を基に減算器、制 御回路及び電磁石駆動回路を介して電磁石を駆動させストリップを設定位置まで 移動させC反りを矯正させることができる。 このように、本考案はストリップをフロータで浮上搬送させ、ストリップのC 反りを非接触で矯正した為に、従来の装置における亜鉛めっきの厚さむらが提言 でき、品質を向上させることが可能となった。 また、本考案は振動を抑制する効果もあり、ストリップが振動することによる 製品の亜鉛めっきの厚さむらが低減でき、更に製品品質を向上させることが可能 となる。
【図1】本考案の一実施例に係る非接触ストリップ矯正
装置の説明図である。
装置の説明図である。
【図2】本考案の一実施例に係る非接触ストリップ矯正
装置の要部を示す拡大図であり、同図(a) は同図(c) 中
のA−A断面図、同図(b)は同図(c) 中のB−B断面
図、同図(c) は電磁石及び非接触変位計の配置を示す正
面図である。
装置の要部を示す拡大図であり、同図(a) は同図(c) 中
のA−A断面図、同図(b)は同図(c) 中のB−B断面
図、同図(c) は電磁石及び非接触変位計の配置を示す正
面図である。
【図3】本考案の一実施例に係る非接触ストリップ矯正
装置の制御に関するブロック図であり、同図(a) はスト
リップのC反り矯正のための制御を示し、同図(b) は電
磁石の移動のための制御を示す。
装置の制御に関するブロック図であり、同図(a) はスト
リップのC反り矯正のための制御を示し、同図(b) は電
磁石の移動のための制御を示す。
【図4】従来のストリップ矯正装置の説明図である。
【図5】従来のストリップ矯正装置の要部を示す拡大図
であり、同図(a) はその側面図、同図(b) はその正面図
である。
であり、同図(a) はその側面図、同図(b) はその正面図
である。
【図6】従来のストリップ矯正装置の制御回路の説明図
である。
である。
1 ストリップ 2a,2b フロータ 3 非接触変位計 4 電磁石 5 板エッジ検出器 5a 投光部 5b 受光部 6 電磁石移動装置 7 減算器 8 制御回路 9 電磁石駆動回路 10 電磁石位置演算回路 11 駆動回路
フロントページの続き (72)考案者 時安 孝一 広島県広島市西区観音新町四丁目6番22号 三菱重工業株式会社広島研究所内 (72)考案者 三原 一正 広島県広島市西区観音新町四丁目6番22号 三菱重工業株式会社広島製作所内
Claims (1)
- 【請求項1】 ストリップを搬送する製鉄プロセスライ
ンに沿って、前記ストリップの変位を非接触で計測する
非接触変位計及び前記ストリップに対して電磁力を作用
させる電磁石を配置し、前記非接触変位計からの変位信
号に基づいた励磁電流を前記電磁石に通電してその電磁
力により前記ストリップの反りを矯正する装置におい
て、前記ストリップの板エッジ位置を検出する板エッジ
検出器を設けると共に前記非接触式変位計及び前記電磁
石をストリップの幅方向に移動させる移動装置を設け、
前記板エッジ検出器の信号に基づいて前記移動装置を制
御して、前記非接触式変位計及び電磁石をストリップの
板幅内に常に移動させることを特徴とする非接触ストリ
ップ矯正装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7745491U JPH0530148U (ja) | 1991-09-25 | 1991-09-25 | 非接触ストリツプ矯正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7745491U JPH0530148U (ja) | 1991-09-25 | 1991-09-25 | 非接触ストリツプ矯正装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0530148U true JPH0530148U (ja) | 1993-04-20 |
Family
ID=13634463
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7745491U Withdrawn JPH0530148U (ja) | 1991-09-25 | 1991-09-25 | 非接触ストリツプ矯正装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0530148U (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003293111A (ja) * | 2002-04-02 | 2003-10-15 | Jfe Steel Kk | 金属帯非接触制御装置 |
| JP2005232568A (ja) * | 2004-02-23 | 2005-09-02 | Jfe Steel Kk | 金属帯の制御装置および溶融めっき金属帯の製造方法 |
| JP2007237193A (ja) * | 2006-03-06 | 2007-09-20 | Jfe Steel Kk | 非接触式鋼板矯正装置 |
| JP2019525008A (ja) * | 2016-08-26 | 2019-09-05 | フォンテーン エンジニーアリング ウント マシーネン ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングFontaine Engineering und Maschinen GmbH | 金属ストリップの被覆のための方法および被覆装置 |
| US11549168B2 (en) | 2017-05-04 | 2023-01-10 | Fontaine Engineering Und Maschinen Gmbh | Apparatus for treating a metal strip including an electromagnetic stabilizer utilizing pot magnets |
| US12163230B2 (en) | 2014-11-21 | 2024-12-10 | Fontaine Engineering Und Maschinen Gmbh | Device for coating a metal strip with separately movable electromagnetic stabilizing device and blowing device |
-
1991
- 1991-09-25 JP JP7745491U patent/JPH0530148U/ja not_active Withdrawn
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19951130 |