JPH05307718A - 磁気ヘッドの再生効率測定方法および再生効率測定装置 - Google Patents

磁気ヘッドの再生効率測定方法および再生効率測定装置

Info

Publication number
JPH05307718A
JPH05307718A JP4109470A JP10947092A JPH05307718A JP H05307718 A JPH05307718 A JP H05307718A JP 4109470 A JP4109470 A JP 4109470A JP 10947092 A JP10947092 A JP 10947092A JP H05307718 A JPH05307718 A JP H05307718A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
magnetic head
transparent conductor
magnetic
head
gap
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP4109470A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroyuki Hasegawa
博幸 長谷川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP4109470A priority Critical patent/JPH05307718A/ja
Publication of JPH05307718A publication Critical patent/JPH05307718A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は磁気ヘッドの再生効率を短時間で効
率よくかつ精度良く測定する方法及びその装置を提供す
ることを目的とする。 【構成】 透明基板4上に形成した透明導体3を磁気ヘ
ッド6のギャップ上方にギャップに平行に配置し、透明
導体3と磁気ヘッド6間の間隔を、透明基板4と磁気ヘ
ッド6の間に生じる干渉縞を用いて光学的に測定し、磁
気ヘッドの高さを調整して磁気ヘッド6と透明導体3を
所定の間隔にしながら、透明導体3に一定の電流を流し
て、磁気ヘッド6にギャップ面から磁界を印加し、この
磁界により磁気ヘッドに誘導する電圧を測定する。 【効果】 上記の磁気ヘッドに誘導する電圧を測定する
ことで、短時間で効率よくしかも高精度に再生効率の測
定ができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は磁気記録再生装置に用い
る磁気ヘッドの再生効率測定方法および再生効率測定装
置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、磁気ヘッドの再生効率の測定方法
及び測定装置は、(図2)に示すように記録ヘッド10
と再生ヘッド11を分離した磁気記録再生装置を用い
て、実際に回転ドラム15に巻き付けた磁気テープ14
に磁気記録再生を行い、同一の記録ヘッド10で記録し
た場合の再生ヘッド11の出力をそれぞれ測定し、他の
基準となる標準再生ヘッドとの再生出力の差として相対
的に求めてきた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記従来の技
術では記録再生分離による磁気記録再生特性測定のため
記録ヘッド10と再生ヘッド11のトラック高さ、アジ
マス、接触状態をそれぞれ独立して最適状態になるまで
ヘッド位置調整装置15を用いて調整する必要があり、
極めて測定時間がかかるうえに、再生特性がヘッド・テ
ープ間のスペーシングなどによる影響を受け易いため、
精度の良い測定が非常に困難である。
【0004】本発明は、上記の従来の問題を解決するも
ので、短時間で効率よく、しかも高い精度で再生効率を
測定する方法及び装置の提供を目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明の磁気ヘッドの再生効率の測定方法は透明
基板上に形成した透明導体からなる励磁装置を磁気ヘッ
ドの磁気ギャップ上方に磁気ギャップに平行に配置し、
上記透明導体と磁気ヘッド間の間隔を測定しながら、上
記透明導体に電流を流して、磁気ヘッドに磁界を印加し
ヘッドに誘導する電圧を測定する。
【0006】
【作用】上記構成によれば、磁気ヘッドの再生効率は透
明導体と磁気ヘッド間の距離を一定となるように磁気ヘ
ッドの位置を調整し、透明導体に一定の電流を流したと
きの、磁気ヘッドに誘導する電圧をトラック幅で規格化
した値で表される。
【0007】
【実施例】本発明の実施例を(図1)、(図3)及び
(図4)にしたがって説明する。
【0008】(図1)において、ガラス基板等の透明基
板4内には透明導体3が形成されている。透明基板4の
上方には顕微鏡1があり、透明基板4を通して透明導体
3と磁気ヘッド6のギャップ面をモニター2上で観察す
ることができる。ヘッド位置調整装置7上に固定した磁
気ヘッド6を、ヘッド位置調整装置7を用いて、透明導
体3がギャップに平行で、かつ、磁気ヘッド6の磁気ギ
ャップの中心にくるように調整する。
【0009】ここで、磁気ヘッド6の磁気ギャップ面と
透明基板4の間隔が狭くなると、顕微鏡1から投射した
光は一部が磁気ヘッドギャップ面で反射し、一部が透明
基板4の下面で反射するために、ふたつの光は干渉しあ
い、透明基板4の下面に干渉縞を生じさせる。この干渉
縞を顕微鏡1を介してモニター2に写し、モニター2上
の干渉縞の輝度分布を微小間隔測定装置9で間隔分布に
変換することで、磁気ヘッドギャップと透明導体3間の
距離を測定する。
【0010】次に、磁気ヘッド6のギャップ面と透明導
体3の間隔が10nm以下の所定値になるようにヘッド
位置調整装置7を調整した後に、励磁装置5を用いて透
明導体3に10mA程度の交流の定電流を流す。この透
明導体3を流れる電流により、透明導体3の周囲にはビ
オサバールの法則に従う磁界が発生する。この磁束の一
部は磁気ヘッド6の磁路を通り磁気ヘッド6のコイルと
鎖交するために、磁気ヘッド6のコイルには誘導電圧を
生じる。この磁気ヘッド6に生じた誘導電圧を検出装置
6により検出し、トラック幅で規格化したものが、磁気
ヘッド6の再生効率に相当するものである。
【0011】(図3)は透明基板内に形成した透明導体
を示している。透明基板4にはフォトリソグラフィーに
より1μm以下の幅に加工した溝パターンがあり、その
溝内に蒸着法などにより被着したITOなどの透明導体
が形成されている。透明導体3の両側には外部より透明
導体3に電流を流すための電極18を形成する。
【0012】(図4)はモニター上に写るヘッドギャッ
プ19及び透明導体3と透明基板4とヘッドギャップ面
間に生じる干渉縞20を示している。顕微鏡に用いる光
の波長と干渉縞20の輝度分布からヘッドギャップと透
明導体間の間隔は計算により算出される。
【0013】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、透明基板上に形成した透明導体を磁気ヘッド
のギャップ上方にギャップに平行に配置し、透明導体と
磁気ヘッド間の間隔を、透明基板と磁気ヘッドの間に生
じる干渉縞を用いて光学的に測定し、磁気ヘッドの高さ
を調整して磁気ヘッドと透明導体を所定の間隔にしなが
ら、透明導体に一定の電流を流して、磁気ヘッドにギャ
ップ面から磁界を印加し、この磁界により磁気ヘッドに
誘導する電圧を測定することで、短時間で効率よくしか
も高精度に再生効率の測定ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例における磁気ヘッドの再生効率
測定装置の構成図
【図2】従来の磁気ヘッドの再生効率測定装置の構成図
【図3】本発明の実施例における透明導体の斜視図
【図4】本発明の実施例におけるギャップ面と透明導体
の観察例
【符号の説明】
1 顕微鏡 2 モニター 3 透明導体 4 透明基板 5 励磁装置 6 磁気ヘッド 7 磁気ヘッド位置調整装置 8 検出装置 9 微小間隔測定装置 10 記録ヘッド 11 再生ヘッド 12 再生出力測定装置 13 記録信号発生装置 14 磁気テープ 15 回転ドラム 16 磁気ヘッド位置調整装置 17 支持台 18 電極 19 ヘッドギャップ 20 干渉縞

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】透明基板上に形成した透明導体を磁気ヘッ
    ドの磁気ギャップ上方に磁気ギャップと平行に配置し、
    上記透明導体と磁気ヘッド間の間隔を測定しながら、上
    記透明導体に電流を流して磁気ヘッドに磁界を印加し、
    磁気ヘッドに誘導する電圧を測定する磁気ヘッドの再生
    効率測定方法。
  2. 【請求項2】磁気ヘッドの位置調整装置と、透明基板上
    に形成した透明導体からなり、磁気ヘッドに磁界を印加
    するための励磁装置と、磁気ヘッドに誘導する電圧の検
    出装置と、磁気ヘッドと上記透明導体の間隔を測定し、
    かつ、磁気ヘッドと透明導体の位置関係を観察するため
    の光学装置を備えたことを特徴とする磁気ヘッドの再生
    効率測定装置。
JP4109470A 1992-04-28 1992-04-28 磁気ヘッドの再生効率測定方法および再生効率測定装置 Pending JPH05307718A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4109470A JPH05307718A (ja) 1992-04-28 1992-04-28 磁気ヘッドの再生効率測定方法および再生効率測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4109470A JPH05307718A (ja) 1992-04-28 1992-04-28 磁気ヘッドの再生効率測定方法および再生効率測定装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH05307718A true JPH05307718A (ja) 1993-11-19

Family

ID=14511054

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4109470A Pending JPH05307718A (ja) 1992-04-28 1992-04-28 磁気ヘッドの再生効率測定方法および再生効率測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH05307718A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8553512B2 (en) 2010-04-06 2013-10-08 Hitachi, Ltd. Magnetic head slider inspection device

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8553512B2 (en) 2010-04-06 2013-10-08 Hitachi, Ltd. Magnetic head slider inspection device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5557399A (en) Optical gap measuring apparatus and method
US6631047B2 (en) Interference device, position detecting device, positioning device and information recording apparatus using the same
US5600441A (en) Interferometer and method for measuring the distance of an object surface with respect to the surface of a rotating disk
JP2746446B2 (ja) 光学計測装置
JPS5814616B2 (ja) ジキキロクタンタイトクニジキエンバンノ ザンリユウジソクミツドノヒハカイソクテイソウチ
JPS62175605A (ja) 復号化装置
JP5154098B2 (ja) スペーシング計測装置及び計測方法
JPH0569161B2 (ja)
JP4593768B2 (ja) 光干渉装置及び位置検出装置
JP4003371B2 (ja) 回路基板の検査装置及び回路基板の検査方法
JP3244158B2 (ja) トロリ線の高さ測定光学系
JP2779189B2 (ja) 磁気ヘッドの斉合性を試験し調整する方法
JPS60246068A (ja) 微小間隙測定装置
US20080123102A1 (en) Apparatus and method for measuring spacing
JPH0556572B2 (ja)
JPS6231281B2 (ja)
JPH0648176B2 (ja) 微小間隔測定方法
JP3353589B2 (ja) 磁気ヘッドの検査方法及びその装置
JP2869589B2 (ja) 光磁気信号を用いた集光ビ−ム径測定方法及びそれを利用した光ディスク装置の光学系検査方法
JPH0348111A (ja) エッジ検出装置
Staudenmann et al. A new laser interferometer system for investigation of the dynamics at the head/disk interface
SU1727170A1 (ru) Способ определени распределени остаточной намагниченности носителей магнитной записи
JPS6266Y2 (ja)
JPS60143423A (ja) トラツキングサ−ボ方法および装置
JPH05242437A (ja) 薄膜磁気ヘッドの磁区および磁化の測定方法および測定装置