JPH05307780A - 光磁気記録媒体 - Google Patents
光磁気記録媒体Info
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- JPH05307780A JPH05307780A JP13429192A JP13429192A JPH05307780A JP H05307780 A JPH05307780 A JP H05307780A JP 13429192 A JP13429192 A JP 13429192A JP 13429192 A JP13429192 A JP 13429192A JP H05307780 A JPH05307780 A JP H05307780A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】磁気ヘッドにより印加される光照射領域におけ
る磁界垂直成分の増加を図れ、また、磁気ヘッドの消費
電力および発熱量の低減を図れ、信頼性の向上を図れる
光磁気記録媒体を実現する。 【構成】 透明基板上1に、誘電膜31、記録膜32、
高透磁率層35、保護層4を順次積層し、あるいは透明
基板1上に、光硬化性樹脂層2、第1の誘電膜31、記
録膜32、第2の誘電膜33、高透磁率層35、保護層
4を順次積層して、高透磁率層35により、記録膜32
あるいは第2の誘電膜33を透過した光を反射させて多
重干渉などを促進させるとともに、レーザ光の照射領域
における磁界の垂直成分を増加させる。
る磁界垂直成分の増加を図れ、また、磁気ヘッドの消費
電力および発熱量の低減を図れ、信頼性の向上を図れる
光磁気記録媒体を実現する。 【構成】 透明基板上1に、誘電膜31、記録膜32、
高透磁率層35、保護層4を順次積層し、あるいは透明
基板1上に、光硬化性樹脂層2、第1の誘電膜31、記
録膜32、第2の誘電膜33、高透磁率層35、保護層
4を順次積層して、高透磁率層35により、記録膜32
あるいは第2の誘電膜33を透過した光を反射させて多
重干渉などを促進させるとともに、レーザ光の照射領域
における磁界の垂直成分を増加させる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、磁気光学効果を利用し
て情報を記録再生する光磁気記録媒体に関するものであ
る。
て情報を記録再生する光磁気記録媒体に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】光磁気記録媒体は、レーザ光を磁性薄膜
に照射することにより局所的に温度を上昇させて、磁性
体としての保磁力を減少させた状態で外部磁界を与え、
その局所領域の磁化を磁界の方向に向かせることにより
情報の記録が行われ、情報記録領域にレーザ光を照射し
て、いわゆる記録ビットの磁化方向を読み出すことによ
り記録情報の再生が行われる。したがって、光磁気記録
媒体用の記録再生装置には、光学ヘッドと磁気ヘッドと
が併設され、両者は、たとえば光磁気記録システムの大
型化や装置構成の複雑化を防止するため、光磁気記録媒
体の一面側に配置される。
に照射することにより局所的に温度を上昇させて、磁性
体としての保磁力を減少させた状態で外部磁界を与え、
その局所領域の磁化を磁界の方向に向かせることにより
情報の記録が行われ、情報記録領域にレーザ光を照射し
て、いわゆる記録ビットの磁化方向を読み出すことによ
り記録情報の再生が行われる。したがって、光磁気記録
媒体用の記録再生装置には、光学ヘッドと磁気ヘッドと
が併設され、両者は、たとえば光磁気記録システムの大
型化や装置構成の複雑化を防止するため、光磁気記録媒
体の一面側に配置される。
【0003】図8は、光磁気記録媒体としての光磁気デ
ィスクの従来の構成例を示す図で、図中、1はガラスや
ポリカーボネートなどからなる読み出し用透明基板、2
はガイド溝やID用の信号ピット(図示せず)が形成さ
れた光硬化性樹脂層、3は情報が記録される記録層、4
は保護コート層、5は光学ヘッド、6は磁気ヘッドをそ
れぞれ示している。この光磁気ディスクは、透明基板
1、光硬化性樹脂層2、記録層3、保護コート層4を順
次積層して構成されている。
ィスクの従来の構成例を示す図で、図中、1はガラスや
ポリカーボネートなどからなる読み出し用透明基板、2
はガイド溝やID用の信号ピット(図示せず)が形成さ
れた光硬化性樹脂層、3は情報が記録される記録層、4
は保護コート層、5は光学ヘッド、6は磁気ヘッドをそ
れぞれ示している。この光磁気ディスクは、透明基板
1、光硬化性樹脂層2、記録層3、保護コート層4を順
次積層して構成されている。
【0004】光硬化性樹脂層2は、透明基板1上に紫外
線硬化樹脂を塗布し、この樹脂層にガイド溝などの反転
パターンを形成したスタンパを密着させた状態で透明基
板1側から紫外線を照射してパターンを転写する、いわ
ゆる2P法により形成される。なお、2P法によらず、
上記したスタンパを使用して射出成形により透明基板1
の成形と同時にガイド溝などを形成する場合には、光硬
化性樹脂層を設ける必要はない。
線硬化樹脂を塗布し、この樹脂層にガイド溝などの反転
パターンを形成したスタンパを密着させた状態で透明基
板1側から紫外線を照射してパターンを転写する、いわ
ゆる2P法により形成される。なお、2P法によらず、
上記したスタンパを使用して射出成形により透明基板1
の成形と同時にガイド溝などを形成する場合には、光硬
化性樹脂層を設ける必要はない。
【0005】記録層3は、図8の(b) に示すように、光
硬化性樹脂層2側から、たとえばSiNからなる第1の
誘電膜31、磁性材料たとえばTbFeCoからなる記
録膜32、SiNからなる第2の誘電膜33、Alなど
の金属からなる反射膜34を順に積層して構成されてい
る。すなわち、記録層3は、記録膜32の酸化による劣
化を防止するとともに、光の多重反射による干渉作用を
利用して再生能力を向上させる(カー効果エンハスメン
ト)ために、第1の誘電膜31および第2の誘電膜33
により記録膜32を挟んだ、いわゆるサンドイッチ構造
とし、かつ、第2の誘電膜33を透過した光も反射させ
て多重干渉を促進するために、反射膜34が第2の誘電
膜33の記録膜32との接触面とは逆の面側に設けられ
ている。
硬化性樹脂層2側から、たとえばSiNからなる第1の
誘電膜31、磁性材料たとえばTbFeCoからなる記
録膜32、SiNからなる第2の誘電膜33、Alなど
の金属からなる反射膜34を順に積層して構成されてい
る。すなわち、記録層3は、記録膜32の酸化による劣
化を防止するとともに、光の多重反射による干渉作用を
利用して再生能力を向上させる(カー効果エンハスメン
ト)ために、第1の誘電膜31および第2の誘電膜33
により記録膜32を挟んだ、いわゆるサンドイッチ構造
とし、かつ、第2の誘電膜33を透過した光も反射させ
て多重干渉を促進するために、反射膜34が第2の誘電
膜33の記録膜32との接触面とは逆の面側に設けられ
ている。
【0006】このような構成の光磁気ディスクに対し
て、光学ヘッド5および磁気ヘッド6は、両者とも透明
基板1側に配置されて、情報の記録再生が行われる。実
際には、光学ヘッド5と磁気ヘッド6は一体化され、フ
ライングヘッドタイプやアクチュエータによって、光学
磁気ヘッドと光磁気ディスクとの間は一定の距離に保持
される。光磁気ディスクに対する情報の記録は、光学ヘ
ッド5によりディスクの記録層3上にレーザ光を集光さ
せた状態で、磁気ヘッド6によってデータに応じて磁界
を高速反転させることにより行われる。
て、光学ヘッド5および磁気ヘッド6は、両者とも透明
基板1側に配置されて、情報の記録再生が行われる。実
際には、光学ヘッド5と磁気ヘッド6は一体化され、フ
ライングヘッドタイプやアクチュエータによって、光学
磁気ヘッドと光磁気ディスクとの間は一定の距離に保持
される。光磁気ディスクに対する情報の記録は、光学ヘ
ッド5によりディスクの記録層3上にレーザ光を集光さ
せた状態で、磁気ヘッド6によってデータに応じて磁界
を高速反転させることにより行われる。
【0007】以上のような記録方式を磁界変調方式とい
い、磁気記録と同様に磁気ヘッド6で記録し、光学ヘッ
ド5によるレーザ光は記録領域を限定するために使われ
ることから、古い情報の上にいきなり新しい情報を記録
する、いわゆるオーバライトが可能である。
い、磁気記録と同様に磁気ヘッド6で記録し、光学ヘッ
ド5によるレーザ光は記録領域を限定するために使われ
ることから、古い情報の上にいきなり新しい情報を記録
する、いわゆるオーバライトが可能である。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】ところで、図8に示す
ような光磁気ディスクでは、読み出し用透明基板1の厚
さが、ディスク自体に実用的な強度を与え、また塵埃や
傷対策のために1mm程度と、数100nm程度の記録膜3
2などに比べて大きな値に設定される。その結果、磁気
ヘッド6と記録層3との距離が大きくなり、また、図9
に示すように、磁気ヘッド5によって発生される記録膜
32上での磁界垂直成分は、磁力線Mが大きなループを
形成するため、記録領域においては少なくなることか
ら、記録膜32に対し情報の記録を確実に行うために
は、磁気ヘッド6の磁気コイルに大きな電流を流して磁
化の高速反転を行わなければならない。このため、従来
の光磁気ディスク装置では、磁気ヘッド6の消費電力が
大きく、発熱量も大きくなるという欠点があった。
ような光磁気ディスクでは、読み出し用透明基板1の厚
さが、ディスク自体に実用的な強度を与え、また塵埃や
傷対策のために1mm程度と、数100nm程度の記録膜3
2などに比べて大きな値に設定される。その結果、磁気
ヘッド6と記録層3との距離が大きくなり、また、図9
に示すように、磁気ヘッド5によって発生される記録膜
32上での磁界垂直成分は、磁力線Mが大きなループを
形成するため、記録領域においては少なくなることか
ら、記録膜32に対し情報の記録を確実に行うために
は、磁気ヘッド6の磁気コイルに大きな電流を流して磁
化の高速反転を行わなければならない。このため、従来
の光磁気ディスク装置では、磁気ヘッド6の消費電力が
大きく、発熱量も大きくなるという欠点があった。
【0009】本発明は、かかる事情に鑑みてなされたも
のであり、その目的は、磁気ヘッドにより印加される光
照射領域における磁界垂直成分の増加を図れ、また、磁
気ヘッドの消費電力および発熱量の低減を図れ、信頼性
の向上を図れる光磁気記録媒体を提供することにある。
のであり、その目的は、磁気ヘッドにより印加される光
照射領域における磁界垂直成分の増加を図れ、また、磁
気ヘッドの消費電力および発熱量の低減を図れ、信頼性
の向上を図れる光磁気記録媒体を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の光磁気記録媒体では、透明基板上に、誘電
膜、記録膜、高透磁率層、保護層を順次積層した。
め、本発明の光磁気記録媒体では、透明基板上に、誘電
膜、記録膜、高透磁率層、保護層を順次積層した。
【0011】本発明の光磁気記録媒体では、記録膜と高
透磁率層との間に、放熱機能を有する反射膜を設けた。
透磁率層との間に、放熱機能を有する反射膜を設けた。
【0012】本発明の光磁気記録媒体では、反射膜と高
透磁率層との間に、透磁性を有する熱絶縁層を設けた。
透磁率層との間に、透磁性を有する熱絶縁層を設けた。
【0013】本発明の光磁気記録媒体では、透明基板上
に、光硬化性樹脂層、第1の誘電膜、記録膜、第2の誘
電膜、高透磁率層、保護層を順次積層した。
に、光硬化性樹脂層、第1の誘電膜、記録膜、第2の誘
電膜、高透磁率層、保護層を順次積層した。
【0014】本発明の光磁気記録媒体では、第2の誘電
膜と高透磁率層との間に、放熱機能を有する反射膜を設
けた。
膜と高透磁率層との間に、放熱機能を有する反射膜を設
けた。
【0015】本発明の光磁気記録媒体では、反射膜と高
透磁率層との間に、透磁性を有する熱絶縁層を設けた。
透磁率層との間に、透磁性を有する熱絶縁層を設けた。
【0016】本発明の光磁気記録媒体では、支持基板上
に、光硬化性樹脂層、高透磁率層、記録膜、誘電膜、透
明基板を順次積層した。
に、光硬化性樹脂層、高透磁率層、記録膜、誘電膜、透
明基板を順次積層した。
【0017】本発明の光磁気記録媒体では、高透磁率層
と記録膜との間に、放熱機能を有する反射膜を設けた。
と記録膜との間に、放熱機能を有する反射膜を設けた。
【0018】本発明の光磁気記録媒体では、高透磁率層
と反射膜との間に、透磁性を有する熱絶縁層を設けた。
と反射膜との間に、透磁性を有する熱絶縁層を設けた。
【0019】本発明の光磁気記録媒体では、支持基板上
に、光硬化性樹脂層、高透磁率層、第2の誘電膜、記録
膜、第1の誘電膜、透明基板を順次積層した。
に、光硬化性樹脂層、高透磁率層、第2の誘電膜、記録
膜、第1の誘電膜、透明基板を順次積層した。
【0020】本発明の光磁気記録媒体では、高透磁率層
と第2の誘電膜との間に、放熱機能を有する反射膜を設
けた。
と第2の誘電膜との間に、放熱機能を有する反射膜を設
けた。
【0021】本発明の光磁気記録媒体では、高透磁率層
と反射膜との間に、透磁性を有する熱絶縁層を設けた。
と反射膜との間に、透磁性を有する熱絶縁層を設けた。
【0022】
【作用】本発明の光磁気記録媒体によれば、光学ヘッド
から出射されたレーザ光は、透明基板、誘電膜、記録膜
に入射され、記録膜を透過した光は高透磁率層で反射さ
れる。この反射光によりカー効果にファラデ効果が相乗
され、回転角が拡大される。一方、磁気ヘッドにより発
生された磁束は、透明基板、誘電膜および記録膜を各面
に対してほぼ垂直に透過した後、高透磁率層に到達す
る。高透磁率層に到達した磁束は、この高透磁率層を透
過せず高透磁率層中を面内方向に磁界強度に応じた距離
だけ進行し、再び記録膜、誘電膜および透明基板を透過
して磁気ヘッドに戻るという小さな閉磁ループを描く。
その結果、レーザ光の照射領域における磁界の垂直成分
が増加する。
から出射されたレーザ光は、透明基板、誘電膜、記録膜
に入射され、記録膜を透過した光は高透磁率層で反射さ
れる。この反射光によりカー効果にファラデ効果が相乗
され、回転角が拡大される。一方、磁気ヘッドにより発
生された磁束は、透明基板、誘電膜および記録膜を各面
に対してほぼ垂直に透過した後、高透磁率層に到達す
る。高透磁率層に到達した磁束は、この高透磁率層を透
過せず高透磁率層中を面内方向に磁界強度に応じた距離
だけ進行し、再び記録膜、誘電膜および透明基板を透過
して磁気ヘッドに戻るという小さな閉磁ループを描く。
その結果、レーザ光の照射領域における磁界の垂直成分
が増加する。
【0023】また、本発明の光磁気記録媒体によれば、
光学ヘッドから出射されたレーザ光は、透明基板、誘電
膜、記録膜に入射され、記録膜を透過した光は反射膜で
反射される。この反射光によりカー効果にファラデ効果
が相乗され、回転角が拡大される。このときレーザ光の
照射により高温となった領域の熱は、反射膜により放熱
される。これにより、高透磁率層が熱の影響を受け難く
なり、高透磁率層の透磁率、飽和磁束密度の低下が防止
される。一方、磁気ヘッドにより発生された磁束は、透
明基板、誘電膜、記録膜および反射膜を各面に対してほ
ぼ垂直に透過した後、高透磁率層に到達する。高透磁率
層に到達した磁束は、この高透磁率層を透過せず高透磁
率層中を面内方向に磁界強度に応じた距離だけ進行し、
再び反射膜、記録膜、誘電膜および透明基板を透過して
磁気ヘッドに戻るという小さな閉磁ループを描く。その
結果、レーザ光の照射領域における磁界の垂直成分が増
加する。
光学ヘッドから出射されたレーザ光は、透明基板、誘電
膜、記録膜に入射され、記録膜を透過した光は反射膜で
反射される。この反射光によりカー効果にファラデ効果
が相乗され、回転角が拡大される。このときレーザ光の
照射により高温となった領域の熱は、反射膜により放熱
される。これにより、高透磁率層が熱の影響を受け難く
なり、高透磁率層の透磁率、飽和磁束密度の低下が防止
される。一方、磁気ヘッドにより発生された磁束は、透
明基板、誘電膜、記録膜および反射膜を各面に対してほ
ぼ垂直に透過した後、高透磁率層に到達する。高透磁率
層に到達した磁束は、この高透磁率層を透過せず高透磁
率層中を面内方向に磁界強度に応じた距離だけ進行し、
再び反射膜、記録膜、誘電膜および透明基板を透過して
磁気ヘッドに戻るという小さな閉磁ループを描く。その
結果、レーザ光の照射領域における磁界の垂直成分が増
加する。
【0024】また、本発明の光磁気記録媒体によれば、
光学ヘッドから出射されたレーザ光は、透明基板、誘電
膜、記録膜に入射され、記録膜を透過した光は反射膜で
反射される。この反射光によりカー効果にファラデ効果
が相乗され、回転角が拡大される。このときレーザ光の
照射により高温となった領域の熱は、反射膜により放熱
される。これにより、高透磁率層が熱の影響を受け難く
なり、高透磁率層の透磁率、飽和磁束密度の低下が防止
される。また、反射膜と高透磁率層との間には、熱絶縁
性層が設けてあることから、レーザ光照射に伴い発生す
る熱は、高透磁率層にはほとんど伝わらない。一方、磁
気ヘッドにより発生された磁束は、透明基板、誘電膜、
記録膜、反射膜および熱絶縁層を各面に対してほぼ垂直
に透過した後、高透磁率層に到達する。高透磁率層に到
達した磁束は、この高透磁率層を透過せず高透磁率層中
を面内方向に磁界強度に応じた距離だけ進行し、再び熱
絶縁層、反射膜、記録膜、誘電膜および透明基板を透過
して磁気ヘッドに戻るという小さな閉磁ループを描く。
その結果、レーザ光の照射領域における磁界の垂直成分
が増加する。
光学ヘッドから出射されたレーザ光は、透明基板、誘電
膜、記録膜に入射され、記録膜を透過した光は反射膜で
反射される。この反射光によりカー効果にファラデ効果
が相乗され、回転角が拡大される。このときレーザ光の
照射により高温となった領域の熱は、反射膜により放熱
される。これにより、高透磁率層が熱の影響を受け難く
なり、高透磁率層の透磁率、飽和磁束密度の低下が防止
される。また、反射膜と高透磁率層との間には、熱絶縁
性層が設けてあることから、レーザ光照射に伴い発生す
る熱は、高透磁率層にはほとんど伝わらない。一方、磁
気ヘッドにより発生された磁束は、透明基板、誘電膜、
記録膜、反射膜および熱絶縁層を各面に対してほぼ垂直
に透過した後、高透磁率層に到達する。高透磁率層に到
達した磁束は、この高透磁率層を透過せず高透磁率層中
を面内方向に磁界強度に応じた距離だけ進行し、再び熱
絶縁層、反射膜、記録膜、誘電膜および透明基板を透過
して磁気ヘッドに戻るという小さな閉磁ループを描く。
その結果、レーザ光の照射領域における磁界の垂直成分
が増加する。
【0025】また、本発明の光磁気記録媒体によれば、
光学ヘッドから出射されたレーザ光は、透明基板、光硬
化性樹脂層、第1の誘電膜、記録膜および第2の誘電膜
に入射され、第2の誘電膜を透過した光は、高透磁率層
で反射され、その反射光は多重干渉に供される。一方、
磁気ヘッドにより発生された磁束は、透明基板、光硬化
性樹脂層、第1の誘電膜、記録膜および第2の誘電膜を
各面に対してほぼ垂直に透過した後、高透磁率層に到達
する。高透磁率層に到達した磁束は、この高透磁率層を
透過せず高透磁率層中を面内方向に磁界強度に応じた距
離だけ進行し、再び第2の誘電膜、記録膜、第1の誘電
膜、光硬化性樹脂層および透明基板を透過して磁気ヘッ
ドに戻るという小さな閉磁ループを描く。その結果、レ
ーザ光の照射領域における磁界の垂直成分が増加する。
光学ヘッドから出射されたレーザ光は、透明基板、光硬
化性樹脂層、第1の誘電膜、記録膜および第2の誘電膜
に入射され、第2の誘電膜を透過した光は、高透磁率層
で反射され、その反射光は多重干渉に供される。一方、
磁気ヘッドにより発生された磁束は、透明基板、光硬化
性樹脂層、第1の誘電膜、記録膜および第2の誘電膜を
各面に対してほぼ垂直に透過した後、高透磁率層に到達
する。高透磁率層に到達した磁束は、この高透磁率層を
透過せず高透磁率層中を面内方向に磁界強度に応じた距
離だけ進行し、再び第2の誘電膜、記録膜、第1の誘電
膜、光硬化性樹脂層および透明基板を透過して磁気ヘッ
ドに戻るという小さな閉磁ループを描く。その結果、レ
ーザ光の照射領域における磁界の垂直成分が増加する。
【0026】また、本発明の光磁気記録媒体によれば、
光学ヘッドから出射されたレーザ光は、透明基板、光硬
化性樹脂層、第1の誘電膜、記録膜および第2の誘電膜
に入射され、第2の誘電膜を透過した光は、反射膜で反
射されその反射光は多重干渉に供される。このときレー
ザ光の照射により高温となった領域の熱は、反射膜によ
り放熱される。これにより、高透磁率層が熱の影響を受
け難くなり、高透磁率層の透磁率、飽和磁束密度の低下
が防止される。一方、磁気ヘッドにより発生された磁束
は、透明基板、光硬化性樹脂層、第1の誘電膜、記録
膜、第2の誘電膜および反射膜を各面に対してほぼ垂直
に透過した後、高透磁率層に到達する。高透磁率層に到
達した磁束は、この高透磁率層を透過せず高透磁率層中
を面内方向に磁界強度に応じた距離だけ進行し、再び反
射膜、第2の誘電膜、記録膜、第1の誘電膜、光硬化性
樹脂層および透明基板を透過して磁気ヘッドに戻るとい
う小さな閉磁ループを描く。その結果、レーザ光の照射
領域における磁界の垂直成分が増加する。
光学ヘッドから出射されたレーザ光は、透明基板、光硬
化性樹脂層、第1の誘電膜、記録膜および第2の誘電膜
に入射され、第2の誘電膜を透過した光は、反射膜で反
射されその反射光は多重干渉に供される。このときレー
ザ光の照射により高温となった領域の熱は、反射膜によ
り放熱される。これにより、高透磁率層が熱の影響を受
け難くなり、高透磁率層の透磁率、飽和磁束密度の低下
が防止される。一方、磁気ヘッドにより発生された磁束
は、透明基板、光硬化性樹脂層、第1の誘電膜、記録
膜、第2の誘電膜および反射膜を各面に対してほぼ垂直
に透過した後、高透磁率層に到達する。高透磁率層に到
達した磁束は、この高透磁率層を透過せず高透磁率層中
を面内方向に磁界強度に応じた距離だけ進行し、再び反
射膜、第2の誘電膜、記録膜、第1の誘電膜、光硬化性
樹脂層および透明基板を透過して磁気ヘッドに戻るとい
う小さな閉磁ループを描く。その結果、レーザ光の照射
領域における磁界の垂直成分が増加する。
【0027】また、本発明の光磁気記録媒体によれば、
光学ヘッドから出射されたレーザ光は、透明基板、光硬
化性樹脂層、第1の誘電膜、記録膜および第2の誘電膜
に入射され、第2の誘電膜を透過した光は、反射膜で反
射されその反射光は多重干渉に供される。このときレー
ザ光の照射により高温となった領域の熱は、反射膜によ
り放熱される。これにより、高透磁率層が熱の影響を受
け難くなり、高透磁率層の透磁率、飽和磁束密度の低下
が防止される。また、反射膜と高透磁率層との間には、
熱絶縁性層が設けてあることから、レーザ光照射に伴い
発生する熱は、高透磁率層にはほとんど伝わらない。一
方、磁気ヘッドにより発生された磁束は、透明基板、光
硬化性樹脂層、第1の誘電膜、記録膜、第2の誘電膜、
反射膜および熱絶縁層を各面に対してほぼ垂直に透過し
た後、高透磁率層に到達する。高透磁率層に到達した磁
束は、この高透磁率層を透過せず高透磁率層中を面内方
向に磁界強度に応じた距離だけ進行し、再び熱絶縁層、
反射膜、第2の誘電膜、記録膜、第1の誘電膜、光硬化
性樹脂層および透明基板を透過して磁気ヘッドに戻ると
いう小さな閉磁ループを描く。その結果、レーザ光の照
射領域における磁界の垂直成分が増加する。
光学ヘッドから出射されたレーザ光は、透明基板、光硬
化性樹脂層、第1の誘電膜、記録膜および第2の誘電膜
に入射され、第2の誘電膜を透過した光は、反射膜で反
射されその反射光は多重干渉に供される。このときレー
ザ光の照射により高温となった領域の熱は、反射膜によ
り放熱される。これにより、高透磁率層が熱の影響を受
け難くなり、高透磁率層の透磁率、飽和磁束密度の低下
が防止される。また、反射膜と高透磁率層との間には、
熱絶縁性層が設けてあることから、レーザ光照射に伴い
発生する熱は、高透磁率層にはほとんど伝わらない。一
方、磁気ヘッドにより発生された磁束は、透明基板、光
硬化性樹脂層、第1の誘電膜、記録膜、第2の誘電膜、
反射膜および熱絶縁層を各面に対してほぼ垂直に透過し
た後、高透磁率層に到達する。高透磁率層に到達した磁
束は、この高透磁率層を透過せず高透磁率層中を面内方
向に磁界強度に応じた距離だけ進行し、再び熱絶縁層、
反射膜、第2の誘電膜、記録膜、第1の誘電膜、光硬化
性樹脂層および透明基板を透過して磁気ヘッドに戻ると
いう小さな閉磁ループを描く。その結果、レーザ光の照
射領域における磁界の垂直成分が増加する。
【0028】支持基板を用いた本発明の光磁気記録媒体
においても、上記した同様の作用を有する。
においても、上記した同様の作用を有する。
【0029】
【実施例1】図1の(a) は、本発明に係る光磁気ディス
クの第1の実施例を示す要部概略断面図、同図の(b) は
(a) における記録層の一部拡大断面図であって、従来例
を示す図8と同一構成部分は同一符号をもって表す。す
なわち、1は読み出し用透明基板、2はガイド溝やID
用の信号ピット(図示せず)が形成された光硬化性樹脂
層、3aは情報が記録される記録層、4は保護コート
層、5は光学ヘッド、6は磁気ヘッドをそれぞれ示して
おり、この光磁気ディスクは、透明基板1、光硬化性樹
脂層2、記録層3a、保護コート層4を順次積層して構
成されている。
クの第1の実施例を示す要部概略断面図、同図の(b) は
(a) における記録層の一部拡大断面図であって、従来例
を示す図8と同一構成部分は同一符号をもって表す。す
なわち、1は読み出し用透明基板、2はガイド溝やID
用の信号ピット(図示せず)が形成された光硬化性樹脂
層、3aは情報が記録される記録層、4は保護コート
層、5は光学ヘッド、6は磁気ヘッドをそれぞれ示して
おり、この光磁気ディスクは、透明基板1、光硬化性樹
脂層2、記録層3a、保護コート層4を順次積層して構
成されている。
【0030】透明基板1は、ガラスやポリカーボネート
などから構成され、厚さは実用的な強度を考慮して、た
とえば1.2mmに設定される。特に、材料としてガラ
スを用いた場合には、外力により湾曲し難く、傷を受け
難く、また帯電し難いため塵埃の付着の少ない光磁気デ
ィスクを実現できる。
などから構成され、厚さは実用的な強度を考慮して、た
とえば1.2mmに設定される。特に、材料としてガラ
スを用いた場合には、外力により湾曲し難く、傷を受け
難く、また帯電し難いため塵埃の付着の少ない光磁気デ
ィスクを実現できる。
【0031】光硬化性樹脂層2は、透明基板1上に紫外
線硬化樹脂を塗布し、この樹脂層にガイド溝などの反転
パターンを形成したスタンパを密着させて透明基板1側
から紫外線を照射してパターンを転写する、いわゆる2
P法により5〜数10μm程度の厚さに形成される。な
お、2P法によらず、上記したスタンパを使用して射出
成形により透明基板1の成形と同時にガイド溝などを形
成する場合には、光硬化性樹脂層を設ける必要はない。
線硬化樹脂を塗布し、この樹脂層にガイド溝などの反転
パターンを形成したスタンパを密着させて透明基板1側
から紫外線を照射してパターンを転写する、いわゆる2
P法により5〜数10μm程度の厚さに形成される。な
お、2P法によらず、上記したスタンパを使用して射出
成形により透明基板1の成形と同時にガイド溝などを形
成する場合には、光硬化性樹脂層を設ける必要はない。
【0032】記録層3aは、図1の(b) に示すように、
光硬化性樹脂層2側から、第1の誘電膜31、記録膜3
2、第2の誘電膜33、高透磁率層35を順に積層して
構成されている。第1の誘電膜31は、SiN(窒化シ
リコン)やAlN(窒化アルミニウム)などの窒化物、
SiOなどの酸化物により構成され、光硬化性樹脂層2
上に、たとえばスパッタリングなどの真空成膜形成技術
により数100nmの厚さに形成される。記録膜32は、
垂直異法性エネルギーが大きく、高密度記録に必要な垂
直磁化膜となり易く、また、カー回転角が比較的大き
く、さらにキューリ点が低く(150〜200°C)、
記録・消去パワーを市販の半導体レーザ(出力20〜4
0mW)で実現できることなどの要請から、たとえばC
d,Tbなどの希土類元素(RE;Rare Earth)とF
e,Coなどの遷移元素(TM;Transition Metal)と
の合金、たとえばTbFeCo膜などにより構成され、
第1の誘電膜31上にたとえばスパッタリングなどの真
空成膜形成技術により数100nmの厚さに形成される。
第2の誘電膜33は、第1の誘電膜31と同様に、Si
NやAlNなどの窒化物、SiOなどの酸化物により構
成され、記録膜32上に、たとえばスパッタリングなど
の真空成膜形成技術により数100nmの厚さに形成され
る。高透磁率層35は、たとえばFe,Co,Niなど
の遷移金属の合金などの高透磁率を有する軟磁性材料に
より構成され、第2の誘電膜33上にたとえばスパッタ
リングなどの真空成膜形成技術により数100nmの厚さ
に形成される。この高透磁率層35は、従来の反射膜の
機能を果たすとともに、図2に示すように、磁気ヘッド
6による磁力線Mのループを小さくさせ、レーザ光が照
射されている記録領域における磁界の垂直成分を増加さ
せる機能を有している。
光硬化性樹脂層2側から、第1の誘電膜31、記録膜3
2、第2の誘電膜33、高透磁率層35を順に積層して
構成されている。第1の誘電膜31は、SiN(窒化シ
リコン)やAlN(窒化アルミニウム)などの窒化物、
SiOなどの酸化物により構成され、光硬化性樹脂層2
上に、たとえばスパッタリングなどの真空成膜形成技術
により数100nmの厚さに形成される。記録膜32は、
垂直異法性エネルギーが大きく、高密度記録に必要な垂
直磁化膜となり易く、また、カー回転角が比較的大き
く、さらにキューリ点が低く(150〜200°C)、
記録・消去パワーを市販の半導体レーザ(出力20〜4
0mW)で実現できることなどの要請から、たとえばC
d,Tbなどの希土類元素(RE;Rare Earth)とF
e,Coなどの遷移元素(TM;Transition Metal)と
の合金、たとえばTbFeCo膜などにより構成され、
第1の誘電膜31上にたとえばスパッタリングなどの真
空成膜形成技術により数100nmの厚さに形成される。
第2の誘電膜33は、第1の誘電膜31と同様に、Si
NやAlNなどの窒化物、SiOなどの酸化物により構
成され、記録膜32上に、たとえばスパッタリングなど
の真空成膜形成技術により数100nmの厚さに形成され
る。高透磁率層35は、たとえばFe,Co,Niなど
の遷移金属の合金などの高透磁率を有する軟磁性材料に
より構成され、第2の誘電膜33上にたとえばスパッタ
リングなどの真空成膜形成技術により数100nmの厚さ
に形成される。この高透磁率層35は、従来の反射膜の
機能を果たすとともに、図2に示すように、磁気ヘッド
6による磁力線Mのループを小さくさせ、レーザ光が照
射されている記録領域における磁界の垂直成分を増加さ
せる機能を有している。
【0033】すなわち、記録層3aは、記録膜32の酸
化による劣化を防止するとともに、光の多重反射による
干渉作用を利用して再生能力を向上させる(カー効果エ
ンハスメント)ために、第1の誘電膜31および第2の
誘電膜33により記録膜32をサンドイッチ構造とし、
かつ、第2の誘電膜33を透過した光も反射させて多重
干渉を促進し、かつ、記録領域における磁界の垂直成分
を増加させるために、高透磁率層35が第2の誘電膜3
3の記録膜32との接触面とは逆の面側に設けられてい
る。
化による劣化を防止するとともに、光の多重反射による
干渉作用を利用して再生能力を向上させる(カー効果エ
ンハスメント)ために、第1の誘電膜31および第2の
誘電膜33により記録膜32をサンドイッチ構造とし、
かつ、第2の誘電膜33を透過した光も反射させて多重
干渉を促進し、かつ、記録領域における磁界の垂直成分
を増加させるために、高透磁率層35が第2の誘電膜3
3の記録膜32との接触面とは逆の面側に設けられてい
る。
【0034】保護コート層4は、記録層3aを成膜した
後に、第2の誘電膜33上にたとえばスピンコート法な
どにより数100μm程度の厚さに形成される。この保
護コート層4は、レーザ光を透過させる必要がないの
で、不透明なものでもよい。また、読み出し用透明基板
1が、たとえば0.3mmなど薄く形成され十分な強度が
ない場合には、ガラスあるいはポリカーボネートあるい
は金属などによる構成し、接着剤によって記録層3aに
対して接着される。
後に、第2の誘電膜33上にたとえばスピンコート法な
どにより数100μm程度の厚さに形成される。この保
護コート層4は、レーザ光を透過させる必要がないの
で、不透明なものでもよい。また、読み出し用透明基板
1が、たとえば0.3mmなど薄く形成され十分な強度が
ない場合には、ガラスあるいはポリカーボネートあるい
は金属などによる構成し、接着剤によって記録層3aに
対して接着される。
【0035】このような構成の光磁気ディスクに対し
て、光学ヘッド5および磁気ヘッド6は、両者とも透明
基板1側に配置されて、情報の記録再生が行われる。実
際には、光学ヘッド5と磁気ヘッド6は一体化され、フ
ライングヘッドタイプやアクチュエータによって、光学
磁気ヘッドと光磁気ディスクとの間は一定の距離に保持
される。
て、光学ヘッド5および磁気ヘッド6は、両者とも透明
基板1側に配置されて、情報の記録再生が行われる。実
際には、光学ヘッド5と磁気ヘッド6は一体化され、フ
ライングヘッドタイプやアクチュエータによって、光学
磁気ヘッドと光磁気ディスクとの間は一定の距離に保持
される。
【0036】本光磁気ディスクに対する情報の記録は、
光学ヘッド5によりディスクの記録層3a上にレーザ光
を集光させた状態で、磁気ヘッド6によってデータに応
じて磁界を高速反転させることにより行われる。このと
き、磁気ヘッド6により発生された磁束は、読み出し用
透明基板1、光硬化性樹脂層2、第1の誘電膜31、記
録膜32および第2の誘電膜33を各面に対してほぼ垂
直に透過した後、高透磁率層35に到達するが、磁束は
この高透磁率層35を透過せず高透磁率層35中を面内
方向に磁界強度に応じた距離だけ進行し、再び第2の誘
電膜33、記録膜32、第1の誘電膜31、光硬化性樹
脂層2および読み出し用透明基板1を透過して磁気ヘッ
ド6に戻るという小さな閉磁ループを描く。その結果、
レーザ光が照射されている記録領域における磁界の垂直
成分が、従来のように高透磁率層35を設けていない従
来の光磁気ディスクに比較して増加することになる。し
たがって、磁気ヘッド6に流す電流Iを従来より小さく
できる。
光学ヘッド5によりディスクの記録層3a上にレーザ光
を集光させた状態で、磁気ヘッド6によってデータに応
じて磁界を高速反転させることにより行われる。このと
き、磁気ヘッド6により発生された磁束は、読み出し用
透明基板1、光硬化性樹脂層2、第1の誘電膜31、記
録膜32および第2の誘電膜33を各面に対してほぼ垂
直に透過した後、高透磁率層35に到達するが、磁束は
この高透磁率層35を透過せず高透磁率層35中を面内
方向に磁界強度に応じた距離だけ進行し、再び第2の誘
電膜33、記録膜32、第1の誘電膜31、光硬化性樹
脂層2および読み出し用透明基板1を透過して磁気ヘッ
ド6に戻るという小さな閉磁ループを描く。その結果、
レーザ光が照射されている記録領域における磁界の垂直
成分が、従来のように高透磁率層35を設けていない従
来の光磁気ディスクに比較して増加することになる。し
たがって、磁気ヘッド6に流す電流Iを従来より小さく
できる。
【0037】図3は、図1の光磁気ディスク(本発明
品)に対する駆動電流Iおよび図8に示す従来に光磁気
ディスク(従来品)に対する駆動電流IとCNとの関係
を示す図である。図3に示すように、本発明品によれ
ば、磁気ヘッド6の駆動電流Iを従来のほぼ50%に設
定したとしても、従来品に比べて良好なCN比を得るこ
とができる。
品)に対する駆動電流Iおよび図8に示す従来に光磁気
ディスク(従来品)に対する駆動電流IとCNとの関係
を示す図である。図3に示すように、本発明品によれ
ば、磁気ヘッド6の駆動電流Iを従来のほぼ50%に設
定したとしても、従来品に比べて良好なCN比を得るこ
とができる。
【0038】以上説明したように、本実施例によれば、
記録層3aにおいて、Alなどからなる反射膜の代わり
に、Fe,Co,Niなどの遷移金属の合金などの高透
磁率を有する軟磁性材料により構成したので、反射膜と
同様に、第2の誘電膜33を透過した光も反射させて多
重干渉を促進できることはもとより、レーザ光が照射さ
れた記録領域における磁界の垂直成分を増加させること
ができる。これにより、磁気ヘッド6に流す電流Iを小
さくでき、ひいては磁気ヘッド6の消費電力および発熱
量の低減を図ることができる。また、高透磁率層35
は、図8に示す従来の記録層3における反射膜34の代
わりに形成することから、製造工程においても、同様の
成膜工程により製造することができ、光磁気ディスク自
体の厚さも従来品と同等の厚さを保持できる。
記録層3aにおいて、Alなどからなる反射膜の代わり
に、Fe,Co,Niなどの遷移金属の合金などの高透
磁率を有する軟磁性材料により構成したので、反射膜と
同様に、第2の誘電膜33を透過した光も反射させて多
重干渉を促進できることはもとより、レーザ光が照射さ
れた記録領域における磁界の垂直成分を増加させること
ができる。これにより、磁気ヘッド6に流す電流Iを小
さくでき、ひいては磁気ヘッド6の消費電力および発熱
量の低減を図ることができる。また、高透磁率層35
は、図8に示す従来の記録層3における反射膜34の代
わりに形成することから、製造工程においても、同様の
成膜工程により製造することができ、光磁気ディスク自
体の厚さも従来品と同等の厚さを保持できる。
【0039】なお、上述の説明では、高透磁率層35の
形成法として、スパッタリングなどの真空成膜形成技術
によるものを例に説明したが、これに限定されるもので
はなく、たとえば真空蒸着やメッキなどの方法を用いて
形成できることはいうまでもない。
形成法として、スパッタリングなどの真空成膜形成技術
によるものを例に説明したが、これに限定されるもので
はなく、たとえば真空蒸着やメッキなどの方法を用いて
形成できることはいうまでもない。
【0040】
【実施例2】図4は、本発明に係る光磁気ディスクの第
2の実施例を示す要部概略断面図であって、具体的には
記録層の一部拡大断面図である。本実施例が前記実施例
1と異なる点は、記録層3aの第2の誘電膜33と高透
磁率層35との間に、Alなどの金属からなる反射膜3
6を設けたことにある。したがって、本例の記録層3a
は、第2の誘電膜33上にスパッタリングなどにより反
射膜36を形成した後に、同じくスパッタリングなどに
より高透磁率層35を形成することにより記録層3aが
構成される。
2の実施例を示す要部概略断面図であって、具体的には
記録層の一部拡大断面図である。本実施例が前記実施例
1と異なる点は、記録層3aの第2の誘電膜33と高透
磁率層35との間に、Alなどの金属からなる反射膜3
6を設けたことにある。したがって、本例の記録層3a
は、第2の誘電膜33上にスパッタリングなどにより反
射膜36を形成した後に、同じくスパッタリングなどに
より高透磁率層35を形成することにより記録層3aが
構成される。
【0041】高透磁率層35は、上述したように、反射
膜と同様に第2の誘電膜33を透過した光も反射させて
多重干渉を促進させる機能は有するものの、Alなどの
金属のように、レーザ光の照射により高温となった領域
の熱をすばやく放熱させるいわゆるヒートシンクとして
の機能に劣る。また、高透磁率層35は、熱の影響を受
け易いため、透磁率、飽和磁束密度の低下が心配され
る。そこで、本実施例では、第2の誘電膜33と高透磁
率層35との間に、Alなどの金属からなる反射膜36
を設けている。
膜と同様に第2の誘電膜33を透過した光も反射させて
多重干渉を促進させる機能は有するものの、Alなどの
金属のように、レーザ光の照射により高温となった領域
の熱をすばやく放熱させるいわゆるヒートシンクとして
の機能に劣る。また、高透磁率層35は、熱の影響を受
け易いため、透磁率、飽和磁束密度の低下が心配され
る。そこで、本実施例では、第2の誘電膜33と高透磁
率層35との間に、Alなどの金属からなる反射膜36
を設けている。
【0042】このように、本実施例の光磁気ディスクで
は、図示しない光学ヘッドから出射されたレーザ光は、
図示しない読み出し用透明基板、光硬化性樹脂層を透過
して記録層3aに入射するが、これらの光うち第1の誘
電膜31、記録膜32および第2の誘電膜33を透過し
た光は、反射膜36で反射され多重干渉に供される。ま
た、レーザ光による熱は、反射膜36により放熱され
る。
は、図示しない光学ヘッドから出射されたレーザ光は、
図示しない読み出し用透明基板、光硬化性樹脂層を透過
して記録層3aに入射するが、これらの光うち第1の誘
電膜31、記録膜32および第2の誘電膜33を透過し
た光は、反射膜36で反射され多重干渉に供される。ま
た、レーザ光による熱は、反射膜36により放熱され
る。
【0043】一方、図示しない磁気ヘッドにより発生さ
れた磁束は、読み出し用透明基板、光硬化性樹脂層、第
1の誘電膜31、記録膜32、第2の誘電膜33および
反射膜36を各面に対してほぼ垂直に透過した後、高透
磁率層35に到達する。高透磁率層35に到達した磁束
は、この高透磁率層35を透過せず高透磁率層35中を
面内方向に磁界強度に応じた距離だけ進行し、再び反射
膜36、第2の誘電膜33、記録膜32、第1の誘電膜
31、光硬化性樹脂層および読み出し用透明基板を透過
して磁気ヘッドに戻るという小さな閉磁ループを描く。
その結果、レーザ光が照射されている記録領域における
磁界の垂直成分が、従来のように高透磁率層35を設け
ていない従来の光磁気ディスクに比較して増加すること
になる。したがって、磁気ヘッド6に流す電流Iを従来
より小さくできる。また、反射膜36の放熱作用により
高透磁率層35はレーザ光照射に伴う熱の影響を受け難
い。
れた磁束は、読み出し用透明基板、光硬化性樹脂層、第
1の誘電膜31、記録膜32、第2の誘電膜33および
反射膜36を各面に対してほぼ垂直に透過した後、高透
磁率層35に到達する。高透磁率層35に到達した磁束
は、この高透磁率層35を透過せず高透磁率層35中を
面内方向に磁界強度に応じた距離だけ進行し、再び反射
膜36、第2の誘電膜33、記録膜32、第1の誘電膜
31、光硬化性樹脂層および読み出し用透明基板を透過
して磁気ヘッドに戻るという小さな閉磁ループを描く。
その結果、レーザ光が照射されている記録領域における
磁界の垂直成分が、従来のように高透磁率層35を設け
ていない従来の光磁気ディスクに比較して増加すること
になる。したがって、磁気ヘッド6に流す電流Iを従来
より小さくできる。また、反射膜36の放熱作用により
高透磁率層35はレーザ光照射に伴う熱の影響を受け難
い。
【0044】以上説明したように、本実施例によれば、
磁気ヘッドに流す電流Iを小さくでき、ひいては磁気ヘ
ッドの消費電力および発熱量の低減を図ることができる
ことはもとより、高透磁率層35はレーザ光照射に伴う
熱の影響を受け難いことから、透磁率、飽和磁束密度の
低下を防止でき、光磁気ディスクの信頼性の向上を図る
ことができる。
磁気ヘッドに流す電流Iを小さくでき、ひいては磁気ヘ
ッドの消費電力および発熱量の低減を図ることができる
ことはもとより、高透磁率層35はレーザ光照射に伴う
熱の影響を受け難いことから、透磁率、飽和磁束密度の
低下を防止でき、光磁気ディスクの信頼性の向上を図る
ことができる。
【0045】
【実施例3】図5は、本発明に係る光磁気ディスクの第
3の実施例を示す要部概略断面図であって、具体的には
記録層の一部拡大断面図である。本実施例が前記実施例
2と異なる点は、記録層3aの反射膜36と高透磁率層
35との間に、熱的絶縁性が高く、かつ、透磁性の材料
からなる第3の誘電膜37を設けたことにある。この第
3の誘電膜37は、たとえば第1および第2の誘電膜3
1,33と同様の材料により構成される。本例の記録層
3aは、反射膜36上にスパッタリングなどにより第3
の誘電膜37を形成した後に、同じくスパッタリングな
どにより高透磁率層35を形成することにより記録層3
aが構成される。
3の実施例を示す要部概略断面図であって、具体的には
記録層の一部拡大断面図である。本実施例が前記実施例
2と異なる点は、記録層3aの反射膜36と高透磁率層
35との間に、熱的絶縁性が高く、かつ、透磁性の材料
からなる第3の誘電膜37を設けたことにある。この第
3の誘電膜37は、たとえば第1および第2の誘電膜3
1,33と同様の材料により構成される。本例の記録層
3aは、反射膜36上にスパッタリングなどにより第3
の誘電膜37を形成した後に、同じくスパッタリングな
どにより高透磁率層35を形成することにより記録層3
aが構成される。
【0046】このように、本実施例の光磁気ディスクで
は、図示しない光学ヘッドから出射されたレーザ光は、
図示しない読み出し用透明基板、光硬化性樹脂層を透過
して記録層3aに入射するが、これらの光うち第1の誘
電膜31、記録膜32および第2の誘電膜33を透過し
た光は、反射膜36で反射され多重干渉に供される。ま
た、レーザ光による熱は、反射膜36により放熱され
る。このとき、反射膜36と高透磁率層35との間に
は、熱絶縁性の高い第3の誘電膜37が設けてあること
から、レーザ光照射に伴い発生する熱は、高透磁率層3
5にはほとんど伝わらない。
は、図示しない光学ヘッドから出射されたレーザ光は、
図示しない読み出し用透明基板、光硬化性樹脂層を透過
して記録層3aに入射するが、これらの光うち第1の誘
電膜31、記録膜32および第2の誘電膜33を透過し
た光は、反射膜36で反射され多重干渉に供される。ま
た、レーザ光による熱は、反射膜36により放熱され
る。このとき、反射膜36と高透磁率層35との間に
は、熱絶縁性の高い第3の誘電膜37が設けてあること
から、レーザ光照射に伴い発生する熱は、高透磁率層3
5にはほとんど伝わらない。
【0047】一方、図示しない磁気ヘッドにより発生さ
れた磁束は、読み出し用透明基板、光硬化性樹脂層、第
1の誘電膜31、記録膜32、第2の誘電膜33、反射
膜36および第3の誘電膜37を各面に対してほぼ垂直
に透過した後、高透磁率層35に到達する。高透磁率層
35に到達した磁束は、この高透磁率層35を透過せず
高透磁率層35中を面内方向に磁界強度に応じた距離だ
け進行し、再び第3の誘電膜37、反射膜36、第2の
誘電膜33、記録膜32、第1の誘電膜31、光硬化性
樹脂層および読み出し用透明基板を透過して磁気ヘッド
に戻るという小さな閉磁ループを描く。その結果、レー
ザ光が照射されている記録領域における磁界の垂直成分
が、従来のように高透磁率層35を設けていない従来の
光磁気ディスクに比較して増加することになる。したが
って、磁気ヘッド6に流す電流Iを従来より小さくで
き、また、反射膜36の放熱作用および第3の誘電膜3
7の熱絶縁性により高透磁率層35はレーザ光照射に伴
う熱の影響をほとんど受けない。
れた磁束は、読み出し用透明基板、光硬化性樹脂層、第
1の誘電膜31、記録膜32、第2の誘電膜33、反射
膜36および第3の誘電膜37を各面に対してほぼ垂直
に透過した後、高透磁率層35に到達する。高透磁率層
35に到達した磁束は、この高透磁率層35を透過せず
高透磁率層35中を面内方向に磁界強度に応じた距離だ
け進行し、再び第3の誘電膜37、反射膜36、第2の
誘電膜33、記録膜32、第1の誘電膜31、光硬化性
樹脂層および読み出し用透明基板を透過して磁気ヘッド
に戻るという小さな閉磁ループを描く。その結果、レー
ザ光が照射されている記録領域における磁界の垂直成分
が、従来のように高透磁率層35を設けていない従来の
光磁気ディスクに比較して増加することになる。したが
って、磁気ヘッド6に流す電流Iを従来より小さくで
き、また、反射膜36の放熱作用および第3の誘電膜3
7の熱絶縁性により高透磁率層35はレーザ光照射に伴
う熱の影響をほとんど受けない。
【0048】以上説明したように、本実施例によれば、
実施例2の場合に比べて、さらに高透磁率層35はレー
ザ光照射に伴う熱の影響を受け難いことから、透磁率、
飽和磁束密度の低下を確実に防止でき、光磁気ディスク
の信頼性の一層の向上を図ることができる。
実施例2の場合に比べて、さらに高透磁率層35はレー
ザ光照射に伴う熱の影響を受け難いことから、透磁率、
飽和磁束密度の低下を確実に防止でき、光磁気ディスク
の信頼性の一層の向上を図ることができる。
【0049】
【実施例4】図6は、本発明に係る光磁気ディスクの第
4の実施例を示す要部概略断面図である。本実施例で
は、たとえばガラスあるいはポリカーボネートあるいは
金属などからなる支持基板38を用意し、この支持基板
38上に2P法による光硬化性樹脂層2を形成し、光硬
化性樹脂層2上に記録層3aを成膜し、この記録層3a
と読み出し用透明基板1とを光透過性のよい接着剤39
により接着することにより構成さしている。
4の実施例を示す要部概略断面図である。本実施例で
は、たとえばガラスあるいはポリカーボネートあるいは
金属などからなる支持基板38を用意し、この支持基板
38上に2P法による光硬化性樹脂層2を形成し、光硬
化性樹脂層2上に記録層3aを成膜し、この記録層3a
と読み出し用透明基板1とを光透過性のよい接着剤39
により接着することにより構成さしている。
【0050】この光磁気ディスクにおいては、製造工程
が若干異なるものの、他の構成、特に記録層3aの構成
は、図1、図4および図5と同様に構成され、このよう
な構成の光磁気ディスクに対して、光学ヘッド5および
磁気ヘッド6は、上記した各実施例1,2および3と同
様に、両者とも読み出し用透明基板1側に配置されて、
情報の記録再生が行われる。
が若干異なるものの、他の構成、特に記録層3aの構成
は、図1、図4および図5と同様に構成され、このよう
な構成の光磁気ディスクに対して、光学ヘッド5および
磁気ヘッド6は、上記した各実施例1,2および3と同
様に、両者とも読み出し用透明基板1側に配置されて、
情報の記録再生が行われる。
【0051】本実施例においても、上記した各実施例と
同様の効果を得ることができる。
同様の効果を得ることができる。
【0052】
【実施例5】図6は、本発明に係る光磁気ディスクの第
5の実施例を示す要部概略断面図である。本実施例で
は、前述した各実施例が片面ディスクを前提として構成
されていたのに対し、本発明を両面ディスクに適用して
いる。図7の構成の両面ディスクは、図1の(a) に示す
片面ディスクの保護コート層4,4’同士を接着剤によ
り張り合わせて構成されている。なお、図6に示す片面
ディスクを用いる場合には、支持基板38同士を接着剤
により張り合わせて両面ディスクが構成される。
5の実施例を示す要部概略断面図である。本実施例で
は、前述した各実施例が片面ディスクを前提として構成
されていたのに対し、本発明を両面ディスクに適用して
いる。図7の構成の両面ディスクは、図1の(a) に示す
片面ディスクの保護コート層4,4’同士を接着剤によ
り張り合わせて構成されている。なお、図6に示す片面
ディスクを用いる場合には、支持基板38同士を接着剤
により張り合わせて両面ディスクが構成される。
【0053】本実施例においては、上記した各実施例の
効果に加えて、両面を同時にアクセスすることができ
る。
効果に加えて、両面を同時にアクセスすることができ
る。
【0054】なお、以上の各実施例においては、本発明
が適用される光磁気記録媒体の形態としてディスクを例
に説明したが、これに限定されるものではなく、たとえ
ばカード、テープ、ドラムなどにも適用可能であること
は勿論である。
が適用される光磁気記録媒体の形態としてディスクを例
に説明したが、これに限定されるものではなく、たとえ
ばカード、テープ、ドラムなどにも適用可能であること
は勿論である。
【0055】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
高透磁率層により、記録膜あるいは第2の誘電膜を透過
した光を反射させて多重干渉などを促進できるととも
に、レーザ光の照射領域における磁界の垂直成分を増加
させることができる。これにより、磁気ヘッドに流す電
流を小さくでき、ひいては磁気ヘッドの消費電力および
発熱量の低減を図ることができる。
高透磁率層により、記録膜あるいは第2の誘電膜を透過
した光を反射させて多重干渉などを促進できるととも
に、レーザ光の照射領域における磁界の垂直成分を増加
させることができる。これにより、磁気ヘッドに流す電
流を小さくでき、ひいては磁気ヘッドの消費電力および
発熱量の低減を図ることができる。
【0056】また、記録膜と高透磁率層との間、あるい
は第2の誘電膜と高透磁率層との間に放熱性を有する反
射膜を設けたので、反射膜によりレーザ光照射に伴う熱
を放熱することができるため、高透磁率層はレーザ光照
射に伴う熱の影響を受け難くくなる。その結果、高透磁
率層の透磁率、飽和磁束密度の低下を防止でき、光磁気
記録媒体の信頼性の向上を図ることができる。
は第2の誘電膜と高透磁率層との間に放熱性を有する反
射膜を設けたので、反射膜によりレーザ光照射に伴う熱
を放熱することができるため、高透磁率層はレーザ光照
射に伴う熱の影響を受け難くくなる。その結果、高透磁
率層の透磁率、飽和磁束密度の低下を防止でき、光磁気
記録媒体の信頼性の向上を図ることができる。
【0057】また、反射膜と高透磁率層との間に、透磁
性を有する熱絶縁層を設けたので、高透磁率層はレーザ
光照射に伴う熱の影響を一層受け難くくなる。したがっ
て、高透磁率層の透磁率、飽和磁束密度の低下を確実に
防止でき、光磁気ディスクの信頼性の一層の向上を図る
ことができる。
性を有する熱絶縁層を設けたので、高透磁率層はレーザ
光照射に伴う熱の影響を一層受け難くくなる。したがっ
て、高透磁率層の透磁率、飽和磁束密度の低下を確実に
防止でき、光磁気ディスクの信頼性の一層の向上を図る
ことができる。
【図1】本発明に係る光磁気ディスクの第1の実施例を
示す要部概略断面図である。
示す要部概略断面図である。
【図2】本発明に係る光磁気ディスクの磁束の軌跡の説
明図である。
明図である。
【図3】図1の光磁気ディスク(本発明品)に対する駆
動電流および図8に示す従来の光磁気ディスク(従来
品)に対する駆動電流とCNとの関係を示す図である。
動電流および図8に示す従来の光磁気ディスク(従来
品)に対する駆動電流とCNとの関係を示す図である。
【図4】本発明に係る光磁気ディスクの第2の実施例を
示す要部概略断面図である。
示す要部概略断面図である。
【図5】本発明に係る光磁気ディスクの第3の実施例を
示す要部概略断面図である。
示す要部概略断面図である。
【図6】本発明に係る光磁気ディスクの第4の実施例を
示す要部概略断面図である。
示す要部概略断面図である。
【図7】本発明に係る光磁気ディスクの第5の実施例を
示す要部概略断面図である。
示す要部概略断面図である。
【図8】従来の光磁気ディスクの要部概略断面図であ
る。
る。
【図9】従来の光磁気ディスクの磁束軌跡の説明図であ
る。
る。
1,1’…読み出し用透明基板 2,2’…光硬化性樹脂層 3a,3a’…記録層 31…第1の誘電膜 32…記録膜 33…第2の誘電膜 35…高透磁率層 36…反射膜 37…第3の誘電膜 38…支持基板 4,4’…保護コート層 5,5’…光学ヘッド 6,6’…磁気ヘッド
Claims (12)
- 【請求項1】 透明基板上に、順次誘電膜、記録膜、高
透磁率層、保護層が積層されていることを特徴とする光
磁気記録媒体。 - 【請求項2】 記録膜と高透磁率層との間に、放熱機能
を有する反射膜を設けた請求項1記載の光磁気記録媒
体。 - 【請求項3】 反射膜と高透磁率層との間に、透磁性を
有する熱絶縁層を設けた請求項2記載の光磁気記録媒
体。 - 【請求項4】 透明基板上に、順次光硬化性樹脂層、第
1の誘電膜、記録膜、第2の誘電膜、高透磁率層、保護
層が積層されていることを特徴とする光磁気記録媒体。 - 【請求項5】 第2の誘電膜と高透磁率層との間に、放
熱機能を有する反射膜を設けた請求項4記載の光磁気記
録媒体。 - 【請求項6】 反射膜と高透磁率層との間に、透磁性を
有する熱絶縁層を設けた請求項5記載の光磁気記録媒
体。 - 【請求項7】 支持基板上に、順次光硬化性樹脂層、高
透磁率層、記録膜、誘電膜、透明基板が積層されている
ことを特徴とする光磁気記録媒体。 - 【請求項8】 高透磁率層と記録膜との間に、放熱機能
を有する反射膜を設けた請求項7記載の光磁気記録媒
体。 - 【請求項9】 高透磁率層と反射膜との間に、透磁性を
有する熱絶縁層を設けた請求項8記載の光磁気記録媒
体。 - 【請求項10】 支持基板上に、順次光硬化性樹脂層、
高透磁率層、第2の誘電膜、記録膜、第1の誘電膜、透
明基板が積層されていることを特徴とする光磁気記録媒
体。 - 【請求項11】 高透磁率層と第2の誘電膜との間に、
放熱機能を有する反射膜を設けた請求項10記載の光磁
気記録媒体。 - 【請求項12】 高透磁率層と反射膜との間に、透磁性
を有する熱絶縁層を設けた請求項11記載の光磁気記録
媒体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13429192A JPH05307780A (ja) | 1992-04-27 | 1992-04-27 | 光磁気記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13429192A JPH05307780A (ja) | 1992-04-27 | 1992-04-27 | 光磁気記録媒体 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05307780A true JPH05307780A (ja) | 1993-11-19 |
Family
ID=15124852
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13429192A Pending JPH05307780A (ja) | 1992-04-27 | 1992-04-27 | 光磁気記録媒体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05307780A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003056555A1 (fr) * | 2001-12-25 | 2003-07-10 | Fujitsu Limited | Support d'enregistrement magneto- optique |
-
1992
- 1992-04-27 JP JP13429192A patent/JPH05307780A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003056555A1 (fr) * | 2001-12-25 | 2003-07-10 | Fujitsu Limited | Support d'enregistrement magneto- optique |
| US7090933B2 (en) | 2001-12-25 | 2006-08-15 | Fujitsu Limited | Magneto-optical recording medium including a soft magnetic layer, a protective layer and a silane coupling agent layer, in this order |
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