JPH053103A - サーミスタ磁器 - Google Patents

サーミスタ磁器

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JPH053103A
JPH053103A JP3154429A JP15442991A JPH053103A JP H053103 A JPH053103 A JP H053103A JP 3154429 A JP3154429 A JP 3154429A JP 15442991 A JP15442991 A JP 15442991A JP H053103 A JPH053103 A JP H053103A
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JP
Japan
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glass
added
mol
thermistor
thermistor porcelain
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Pending
Application number
JP3154429A
Other languages
English (en)
Inventor
Masayuki Takahashi
雅幸 高橋
Takuoki Hata
拓興 畑
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 回路の温度補償用、温度センサに使用される
Cuを添加した3d遷移金属の酸化物を主成分とするサ
ーミスタ磁器において、150℃などの高温長時間放置
下での電気抵抗,B定数等の電気特性の変動を解決し、
高安定なサーミスタ磁器を提供することを目的とする。 【構成】 Cuを添加している3d遷移金属酸化物を主
成分とする酸化物に、V25を30〜95モル%、また
はMoO3を55〜80モル%、またはWO3を30〜8
0モル%含有するガラス粉末を、酸化物に対し0.1〜
10.0重量%添加することにより、結晶中の酸素や吸
着した水分の粒界拡散が阻止されるため、高温で長時間
放置しても特性の変化が小さい安定なサーミスタ磁器を
得ることができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は温度センサ,パワーサー
ミスタあるいは回路の温度補償用に用いられるサーミス
タ磁器に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の3d遷移金属酸化物から
なるサーミスタ磁器は、各々の元素比率を変えることに
よって、比抵抗及びサーミスタ定数(B定数)を広範囲
に制御することができる。特に、Cuを添加することに
よって比抵抗が10〜1000Ω・cmの抵抗素子を得る
ことができ、パワーサーミスタ,チップサーミスタ,ガ
ラス封入サーミスタ等に用いられている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、Cuを
添加したサーミスタ磁器は、無添加のサーミスタ磁器と
比較して高温での電気抵抗の経時変化が大きく、例えば
酸素以外の元素がMn75原子%,Ni20原子%,C
u5原子%のサーミスタ磁器で作られた直径5mm,厚さ
1mmのディスク型サーミスタを85℃で1000時間放
置すると、25℃における比抵抗が初期値に比べて10
%以上も変化し、高精度化する上で困難であるという問
題点を有していた。
【0004】このような特性の経時変化の原因は伝導形
態が複雑なため明確になっていないが、結晶中の酸素欠
陥濃度の変化や水分の吸着によるものと考えられてい
る。
【0005】本発明は上記従来の問題点を解決するもの
で、経時変化が小さく、高安定なサーミスタ素子を得る
ことができるサーミスタ磁器を提供するものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明のサーミスタ磁器は、Cuを含有している3d
遷移金属を主成分とする酸化物に、V25を30〜95
モル%またはMoO3を55〜80モル%,あるいはW
3を30〜80モル%含有するガラスを酸化物に対し
0.1〜10.0重量%添加したものである。
【0007】
【作用】この構成により、上記成分のガラスを添加した
ことによって、焼結後ガラス成分が粒界に析出し、比抵
抗,B定数等の特性変化の要因と考えられる結晶中の酸
素及び吸着した水分の粒界拡散を阻止することができ
る。
【0008】また、上記成分のガラスは、比抵抗が10
3〜1010Ω・cmで通常のガラスより比抵抗が小さく、
これらを添加してもサーミスタの主成分の電気特性に影
響を与えない。以上のように比抵抗の小さなガラスを添
加し、粒界に析出させることによって、経時変化が小さ
く高安定なサーミスタ磁器を得ることができる。
【0009】
【実施例】(実施例1)以下、本発明の第1の実施例に
ついて説明する。
【0010】Cuを初めとする3d遷移金属酸化物を酸
素以外の組成比が(表1)に示す組成となるように所定
量配合し、ボールミルにて16時間混合を行い、乾燥し
た後、800℃で2時間仮焼を行った。仮焼を行った
後、(表2)に示すV25を主成分とするガラス粉末を
添加し、ボールミルにて18時間粉砕を行い、乾燥した
後、10重量%のPVA(ポリビニルアルコール)の水
溶液を粉砕粉に対して8重量%添加し、造粒を行った。
さらに、直径5mm,厚さ1mmのディスク形状に加圧成形
した後、1100℃で2時間焼成して焼結体を得、その
両面に銀電極を焼き付けてディスク型試料を作成した。
【0011】ここで添加したガラス粉末は、V25,P
25,BaO,Na2Oを(表2)に示すように所定量
配合し、例えばボールミルにて混合,粉砕した後、白金
るつぼにて1100℃で溶融,急冷してガラス化させ
た。このときの25℃におけるガラスの比抵抗は104
〜107Ω・cmであった。このガラスを粗粉砕した後、
ボールミルにて微粉砕を行い、ガラス粉末を得た。
【0012】
【表1】
【0013】
【表2】
【0014】(表3)に上記の工程を経て得られた金属
酸化物の組成を示す番号、ガラスの組成を示す番号、ガ
ラスの添加量とディスク型試料の比抵抗、B定数及び1
50℃で1000時間放置後の比抵抗及びB定数の初期
値に対する変化率を示す。比較のため、ガラス無添加の
試料の特性も*印付きで示す。
【0015】
【表3】
【0016】(表3)に示すようにガラスを添加しない
試料の150℃,1000時間放置後における抵抗変化
率が全て10%以上であるのに対し、ガラスを添加した
試料は10%以下に改善されている。また、B定数の変
化率もガラスを添加した試料はガラス無添加の試料より
も極めて小さい。
【0017】以上のようにこの第1の実施例によれば、
25を30〜95%含有するガラス粉末を0.1〜1
0.0重量%添加したことにより、高温で長時間放置し
た後でも特性の変化が小さい安定なサーミスタ磁器を提
供することができる。
【0018】(実施例2)以下本発明の第2の実施例に
ついて説明する。
【0019】実施例1とはガラスの成分が異なるディス
ク型試料を実施例1と同様の方法で作成した。ここで、
検討した組成は実施例1と同様に(表1)に示す3d遷
移金属元素の酸化物を主成分としており、MoO3を主
成分とするガラスを添加したものである。
【0020】ここで添加したガラスは、MoO3,P2
5,BaOを(表4)に示すように所定量配合し、実施
例1と同様に例えばボールミルにて混合,粉砕した後、
白金るつぼにて1050℃で溶融,急冷してガラス化さ
せた。このときの25℃におけるガラスの比抵抗は10
9Ω・cm〜1010Ω・cmであった。このガラスを粗粉砕
した後、ボールミルにて微粉砕を行い、ガラス粉末を得
た。
【0021】
【表4】
【0022】(表5)に金属酸化物及びガラスの組成を
示す番号、ガラスの添加量、ディスク型試料の比抵抗、
B定数及び150℃で1000時間放置後の比抵抗及び
B定数の初期値に対する変化率を示す。比較のため、実
施例1でも示したガラス無添加の試料の特性も*印付き
で示す。
【0023】
【表5】
【0024】(表5)に示すようにMoO3ガラスの比
抵抗は、V25ガラスと比較して大きいため、ガラス無
添加の試料と比較して試料の比抵抗が10%程度増加し
ているが、ガラスを添加しない試料の150℃,100
0時間放置後における抵抗変化率が全て10%以上であ
るのに対し、実施例1と同様にMoO3ガラスを添加し
た試料は10%以下に改善されている。また、B定数も
改善されている。
【0025】以上のようにこの第2の実施例によれば、
MoO3を30〜80%含有するガラス粉末を0.1〜
10.0重量%添加することにより、高温で長時間放置
後でも特性の変化が小さい安定なサーミスタ磁器を提供
することができる。
【0026】(実施例3)以下本発明の第3の実施例に
ついて説明する。
【0027】実施例1とはガラスの成分が異なるディス
ク型試料を実施例1と同様の方法で作成した。ここで、
検討した組成は実施例1及び2と同様に(表1)に示す
3d遷移金属元素の酸化物を主成分としており、WO3
を主成分とするガラスを添加したものである。
【0028】ここで添加したガラスは、WO3,P
25,BaO,Na2Oを(表6)に示すように所定量
配合し、例えばボールミルにて混合,粉砕した後、白金
るつぼにて1250℃で溶融,急冷してガラス化させ
た。このときの25℃におけるガラスの比抵抗は105
Ω・cm〜108Ω・cmであった。このガラスを粗粉砕し
た後、ボールミルにて微粉砕を行い、ガラス粉末を得
た。
【0029】
【表6】
【0030】(表7)に金属酸化物及びガラスの組成を
示す番号、ガラスの添加量、ディスク型試料の比抵抗、
B定数及び150℃で1000時間放置後の比抵抗及び
B定数の初期値に対する変化率を示す。比較のため、実
施例1,2でも示したガラス無添加の試料の特性も*印
付きで示す。
【0031】
【表7】
【0032】(表7)に示すようにガラスを添加しない
試料の150℃,1000時間放置後における抵抗変化
率が全て10%以上であるのに対し、実施例1,2と同
様、WO3ガラスを添加した試料は10%以下に改善さ
れている。また、B定数も改善されている。
【0033】以上のようにこの第3の実施例によれば、
WO3を30〜80%含有するガラス粉末を0.1〜1
0.0重量%添加したことにより、高温で長時間放置後
でも特性の変化が小さい安定なサーミスタ磁器を提供す
ることができる。
【0034】以上、本実施例のガラスではガラス形成物
質としてP25,ガラス調整物質としてBaO,Na2
Oを使用したが、その他ガラス形成物質としてB23
SiO2,ガラス調整物質としてCaO,Al23,G
eO2,Bi23,TeO2,Li2O,K2O,Ag
2O,PbO,SrO,CdO,ZnO,BeO等を使
用しても同様の効果を得ることができる。また、ガラス
の主成分であるV25は95モル%、MoO3は80モ
ル%、WO3は80モル%を超えると、ガラス化せず、
一方V25が30モル%、MoO3が55モル%、WO3
が30モル%未満では、ガラスの比抵抗が急激に大きく
なり、サーミスタ主成分に添加すると電気特性の制御が
困難になり、そのばらつきも急激に大きくなるため、本
発明の範囲外とした。さらに、ガラスの添加量に関し
て、0.1重量%未満では、経時変化を少なくし、高安
定のサーミスタ磁器を得るという効果はなく、一方1
0.0重量%を超えると主成分である酸化物の抵抗が急
激に大きくなり、電気特性のばらつきも急激に大きくな
るため実用的でなく、本発明の範囲外とした。
【0035】また、以上の実施例では、ガラスの主成分
としてV25,MoO3,WO3をそれぞれ1種類用いた
場合について説明したが、これは1つの主成分に対し、
他の1種類あるいは2種類を微量に添加したガラスを使
用しても同様な効果を得ることができる。
【0036】
【発明の効果】以上のように本発明は、Cuを含有して
いる3d遷移金属を主成分とする酸化物に、V25を3
0〜95モル%、またはMoO3を55〜80モル%、
あるいはWO3を30〜80モル%含有するガラス粉末
を、酸化物に対し0.1〜10.0重量%添加したこと
により、経時変化の少ない、高安定なサーミスタ磁器を
実現できるもので、工業的価値の大なるものである。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】金属元素としてCr,Mn,Fe,Co,
    Niのうち少なくとも1成分とCuとを含有する酸化物
    に、V25を30〜95モル%含有するガラスを0.1
    〜10.0重量%添加したことを特徴とするサーミスタ
    磁器。
  2. 【請求項2】金属元素としてCr,Mn,Fe,Co,
    Niのうち少なくとも1成分とCuとを含有する酸化物
    に、MoO3を55〜80モル%含有するガラスを0.
    1〜10.0重量%添加したことを特徴とするサーミス
    タ磁器。
  3. 【請求項3】金属元素としてCr,Mn,Fe,Co,
    Niのうち少なくとも1成分とCuとを含有する酸化物
    に、WO3を30〜80モル%含有するガラスを0.1
    〜10.0重量%添加したことを特徴とするサーミスタ
    磁器。
JP3154429A 1991-06-26 1991-06-26 サーミスタ磁器 Pending JPH053103A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6773634B2 (en) 2000-02-01 2004-08-10 Ube Industries, Ltd. Conductive polymer composition and PTC element
JP2008177611A (ja) * 2005-02-08 2008-07-31 Murata Mfg Co Ltd 表面実装型負特性サーミスタ
JP2013012583A (ja) * 2011-06-29 2013-01-17 Nichicon Corp 臨界温度サーミスタ、該サーミスタ用のサーミスタ素子、およびその製造方法

Cited By (4)

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JP2013012583A (ja) * 2011-06-29 2013-01-17 Nichicon Corp 臨界温度サーミスタ、該サーミスタ用のサーミスタ素子、およびその製造方法

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