JPH05314706A - 光ディスク検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 光ディスクとスタンパの信号面の焦点を補正
する補正板の着脱を不要として取付精度を確保し、信号
面の損傷の発生を防止して、安定した検査を行なえるよ
うにする。 【構成】 光ディスク１用の光学ピックアップ１０とス
タンパ２用の光学ピックアップ１１とを回転テーブル５
の下部に設け、光ディスク１またはスタンパ２を信号面
を下側にして回転テーブル５の下面に装着するととも
に、補正板を光学ピックアップ１１の対物レンズ２４に
接着する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は光ディスク及び前記光デ
ィスクの信号面を成形する型（以下、スタンパと称す
る）のそれぞれの信号特性を検査する光ディスク検査装
置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、光ディスク及びスタンパのそれぞ
れの信号面を検査する場合、スピンドルモータで回転駆
動される回転テーブル上に、光ディスクまたはスタンパ
を信号面を上にして装着し、上部に光学ピックアップを
取り付けて信号面上にレーザ光を走査し、反射光による
信号を解析して検査を行なっていた。この場合、光ディ
スクは光学ピックアップと信号面との間にディスク材料
である樹脂などが存在するが、スタンパの場合は光学ピ
ックアップと信号面との間には空気しか存在しない。こ
のため、レーザ光の焦点を光ディスクの信号面上に結ぶ
ように光学ピックアップを設定すると、スタンパの信号
面上に焦点を結ぶことはできない。

【０００３】上記の問題を解決するために、通常光学ピ
ックアップの対物レンズとスタンパの信号面との間に、
光ディスクの材料であるポリカーボネートなどの樹脂と
同等の屈折率と厚みを有する補正板を挿入している。こ
の補正板としては、複屈折を有する樹脂を用いるより
も、無複屈折材料であるガラスを用いる方がよく、複屈
折の影響を受けていない再生信号を得ることができ、検
査精度を向上することができる。この補正板は、従来は
光学ピックアップとスタンパ信号面との間に固定されて
いた。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】上記のように構成され
た従来の光ディスク検査装置では、光ピックアップが１
個しかないため、光ディスクを検査する場合は補正板を
取り外し、スタンパを検査する場合は補正板を取り付け
なければならない。このため、補正板の着脱を繰り返し
て長期間使用するに従って、補正板の取付角度の精度が
低下するという問題があった。また補正板は光学ピック
アップとスタンパ信号面との間に固定されているため、
スタンパが面振れしたり、対物レンズが動いた場合に補
正板が動かず、追従できない。この結果、スタンパ面と
補正板との平行がずれて屈折率が変り、再生したＲＦ信
号特性が低下する欠点があった。またスタンパの面振れ
や対物レンズの移動を防ぐためには、機構が複雑にな
り、高価になる問題があった。

【０００５】一方、スタンパが回転テーブルの上面に信
号面を上側にして装着されており、スタンパの上部に光
学ピックアップが取り付けられているため、光学ピック
アップの駆動系から発生する塵埃や浮遊する塵埃がスタ
ンパの信号面に落ち、信号面を傷付けたり、汚したりす
る恐れがあった。また検査中に電源電圧が低下した場合
に、光学ピックアップのレンズが自重により回転中のス
タンパの信号面に接触して傷付けるおそれもあった。

【０００６】本発明はこのような状況に鑑みてなされた
もので、補正板の着脱を不要として取付け精度を確保
し、スタンパの信号面の損傷の発生を防止し、しかも安
定した検査を行なうことのできる光ディスク検査装置を
提供することを目的とする。

【０００７】

【課題を解決するための手段】請求項１に記載の光ディ
スク検査装置は、光ディスク１及び光ディスク１を成形
する型としてのスタンパ２の信号特性を検査する光ディ
スク検査装置において、光ディスク１またはスタンパ２
を保持し、モータ７により回転駆動される回転テーブル
５と、回転テーブル５に保持された光ディスク１または
スタンパ２にそれぞれレーザ光を照射し、反射光による
信号を出力する１対の光学ピックアップ１０、１１と、
光学ピックアップ１０、１１がそれぞれ出力する信号を
処理して、光ディスク１及びスタンパ２の信号特性を評
価する信号処理部１５とを備えたことを特徴とする。

【０００８】請求項２に記載の光ディスク検査装置は、
信号面２ａを下側にしてスタンパ２を回転テーブル５の
下面に保持し、光学ピックアップ１１をスタンパ２の下
側に設けたことを特徴とする。

【０００９】請求項３に記載の光ディスク検査装置は、
スタンパ２を磁力により吸着する保持部材としてのスタ
ンパホルダ３２を介して回転テーブル５の下面に保持し
たことを特徴とする。

【００１０】請求項４に記載の光ディスク検査装置は、
スタンパ２の信号面２ａに光学ピックアップ１１を合焦
するための補正板を、光学ピックアップ１１の対物レン
ズ２４に直接装着したことを特徴とする。

【００１１】請求項５に記載の光ディスク検査装置は、
補正板がガラスで形成されたことを特徴とする。

【００１２】

【作用】請求項１に記載の光ディスク検査装置において
は、光ディスク用とスタンパ用の光学ピックアップ１
０、１１を別個に設けたので、補正板をスタンパ用の光
学ピックアップ１１に固定することができ、補正板の着
脱が不要となって、取付精度を安定して維持することが
できる。

【００１３】請求項２及び３に記載の光ディスク検査装
置においては、スタンパ２を回転テーブル５の下面に信
号面２ａを下側にして保持し、スタンパ用の光学ピック
アップ１１をスタンパ２の下側に設けたので、光学ピッ
クアップ１１の駆動系から発生する塵埃や浮遊する塵埃
がスタンパ２の信号面２ａに落ちて、信号面２ａを傷付
けたり汚したりすることを防止できる。

【００１４】請求項４に記載の光ディスク検査装置にお
いては、補正板を光学ピックアップ１１の対物レンズ２
４に直接装着したので、補正板は対物レンズ２４と連動
して動き、スタンパ２の信号面２ａの面振れが発生して
も補正板がレンズ２４の追従移動とともに移動する。こ
の結果、補正板の角度補正も同時に行なわれ、安定した
ＲＦ信号が得られる。

【００１５】請求項５に記載の光ディスク装置は、補正
板をガラスで形成したので、複屈折の影響を受けない再
生信号を得ることができ、検査特性を向上させることが
できる。

【００１６】

【実施例】以下、本発明の光ディスク検査装置の一実施
例を図面を参照して説明する。

【００１７】図１乃至図４に本発明の一実施例の構成を
示す。図１は、本実施例による光ディスク検査装置の構
成を示すブロック図である。本装置は、光ディスク１ま
たはスタンパ２の検査信号を発生させるプレーヤ部３
と、信号を処理する制御部４とからなっている。プレー
ヤ部３には光ディスク１またはスタンパ２を下面に保持
する回転テーブル５が設けられており、回転テーブル５
は回転軸６を介してスピンドルモータ７により回転駆動
される。スピンドルモータ７はメカニカルコントローラ
８により制御されるスピンドルサーボ９により駆動され
る。

【００１８】回転ディスク５の下部には回転軸６の両側
に光ディスク用光学ピックアップ１０とスタンパ用光学
ピックアップ１１とが設けられており、各光学ピックア
ップ１０、１１は、それぞれフォーカス・トラッキング
サーボ１２、１３によりフォーカス方向及びトラッキン
グ方向に駆動される。また各フォーカス・トラッキング
サーボ１２、１３は、それぞれメカニカルコントローラ
８により制御される。そして各光学ピックアップ１０、
１１は、それぞれ光ディスク１を検査するかスタンパ２
を検査するかを選択し、選択された方の光学ピックアッ
プ１０または１１を駆動してレーザ光を発射し、反射光
によりそれぞれの信号面の信号特性を検査するための信
号を再生する。

【００１９】前記信号はインタフェイス１４を介して制
御部４の信号処理ユニット１５に送られ、信号処理ユニ
ット１５において信号を解析して信号特性を測定、検査
する。すなわち、ブロックエラーレイト、バーストエラ
ー、トラッキングエラーノイズ、ドロップアウト、アシ
ンメトリ、クロストーク、プッシュブル、ＴＯＣ情報チ
ェックなどの項目に関して検査を行ない、あらかじめ設
定されたしきい値と比較して合否を判定し、この検査結
果をホストコンピュータ１６を介してＣＲＴ１７やプリ
ンタ１８などの出力装置に表示する。

【００２０】図２に光学ピックアップ１０、１１の取付
構造を示す。光学ピックアップ１０、１１は、それぞれ
装置本体に回転テーブル５に平行に設けられた１対のガ
イドレール２１、２２に移動可能に取り付けられてい
る。また光学ピックアップ１０、１１にそれぞれ設けら
れた対物レンズ２３、２４は、回転テーブル５の下面に
装着された光ディスク１またはスタンパ２に対向してお
り、それぞれの半径方向に移動するようになっている。
さらにスタンパ用の光学ピックアップ１１の対物レンズ
２４には、対物レンズ２４の直径より小さい、図示しな
い円板状の補正板が接着されている。補正板は、光学ピ
ックアップ１１の半導体レーザの波長である７８０nmに
おいて、ポリカーボネートの屈折率に近い屈折率を有す
るガラスＳＫ−５で構成されている。

【００２１】上記のように構成された光ディスク検査装
置において、光ディスク１を検査する場合は、光ディス
ク１を回転テーブル５の下面に信号面１ａを下向きにし
てそのまま取り付ける。またスタンパ２を検査する場合
は、図３、４に示すような下面にマグネットシート３１
が接着された円板状のスタンパホルダ３２の下面に、ス
タンパ２を信号面２ａを下向きにして吸着させ、スタン
パ２とともに、スタンパホルダ３２を回転テーブル５に
ネジなどで取り付ける。

【００２２】本実施例によれば、光ディスク用とスタン
パ用の光学ピックアップ１０、１１を別個に設けたの
で、補正板をスタンパ用の光学ピックアップ１１に固定
することができ、補正板の着脱が不要となって取付精度
を安定して維持することができる。またスタンパ２を信
号面２ａを下側にして回転テーブル５の下面に保持した
ので、塵埃などによる信号面２ａの損傷の発生を防ぐこ
とができる。さらに補正板を対物レンズ２４に装着した
ので、補正板は対物レンズ２４とともに移動し、補正板
の角度補正も同時に行なわれて安定したＲＦ信号が得ら
れる。また補正板を対物レンズ２４よりも直径の小さい
ガラスで形成したので、フォーカスサーボ時に補正板に
よる空気的抵抗を小さくし、フォーカスサーボへの負担
を軽減させることができる。しかも複屈折の影響を受け
ない再生信号を得ることができ、検査特性を向上させる
ことができる。

【００２３】上記実施例では光ディスク用の光学ピック
アップ１０とスタンパ用の光学ピックアップ１１とを、
それぞれ分離されたガイドレール２１、２２により案内
し、半径上の移動させる場合について説明したが、図５
に示すようにガイドレール２１、２２を接続して１対の
ガイドレール４１とし、光学ピックアップ１０、１１を
直径上で移動できるようにしてもよい。

【００２４】また図６に示すように、光学ピックアップ
を２個とも光ディスク用またはスタンパ用のものを搭載
し、片方が最内周から半径方向の半分までを検査し、他
の片方が半分から最外周まで検査するようにしてもよ
い。このように検査範囲を分割すれば、制御系などをこ
の仕様に合うように改造することにより、検査時間を半
減させることのできる光ディスク検査機またはスタンパ
検査機をつくることができる。なお、この場合も図７に
示すようにガイドレールを１対としてもよい。

【００２５】

【発明の効果】以上説明したように、請求項１に記載の
光ディスク検査装置によれば、光ディスク用光学ピック
アップとスタンパ用光学ピックアップとを併設したの
で、スタンパ用光学ピックアップに補正板を固定するこ
とができ、補正板の取付精度を安定して維持することが
できる。

【００２６】請求項２及び３に記載の光ディスク検査装
置によれば、スタンパを回転テーブルの下面に信号面を
下側にして保持したので、スタンパの信号面の塵埃など
による損傷の発生を防止することができる。

【００２７】請求項４及び５に記載の光ディスク検査装
置によれば、補正板をガラスで形成し光学ピックアップ
の対物レンズに直接装着したので、スタンパの信号面の
面振れや複屈折の影響を受けずに、安定した再生信号を
得ることができ、検査特性を向上させることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の光ディスク検査装置の一実施例の構成
を示すブロック図である。

【図２】図１の光学ピックアップの取付構造を示す平面
図である。

【図３】図１のスタンパを保持するスタンパホルダの構
成を示す平面図である。

【図４】図３の縦断面図である。

【図５】本発明の第２の実施例による光学ピックアップ
の取付構造を示す平面図である。

【図６】本発明の第３の実施例による光学ピックアップ
の取付構造を示す平面図である。

【図７】本発明の第１の実施例による光学ピックアップ
の取付構造を示す平面図である。

【符号の説明】

１ 光ディスク ２ スタンパ（型） １ａ、２ａ 信号面 ５ 回転テーブル ７ モータ １０、１１ 光学ピックアップ １５ 信号処理部 ２４ 対物レンズ ３２ スタンパホルダ（支持部材）

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光ディスク及び前記光ディスクを成形す
   る型の信号特性を検査する光ディスク検査装置におい
   て、 前記光ディスクまたは前記型を保持し、モータにより回
   転駆動される回転テーブルと、 前記回転テーブルに保持された光ディスクまたは型にそ
   れぞれレーザ光を照射し、反射光による信号を出力する
   １対の光学ピックアップと、 前記光学ピックアップがそれぞれ出力する信号を処理し
   て、前記光ディスク及び型の信号特性を評価する信号処
   理部とを備えたことを特徴とする光ディスク検査装置。
2. 【請求項２】 信号面を下側にして型を回転テーブルの
   下面に保持し、光学ピックアップを型の下側に設けたこ
   とを特徴とする請求項１記載の光ディスク検査装置。
3. 【請求項３】 型を磁力により吸着する保持部材を介し
   て回転テーブルの下面に保持したことを特徴とする請求
   項１または２記載の光ディスク検査装置。
4. 【請求項４】 型の信号面に光学ピックアップを合焦す
   るための補正板を、光学ピックアップの対物レンズに直
   接装着したことを特徴とする請求項１または２または３
   記載の光ディスク検査装置。
5. 【請求項５】 補正板はガラスで形成されたことを特徴
   とする請求項１乃至４のいずれかに記載の光ディスク検
   査装置。