JPH0532060A

JPH0532060A - 光記録媒体

Info

Publication number: JPH0532060A
Application number: JP3210187A
Authority: JP
Inventors: Kenji Uchiyama; 謙治内山; Koji Yasukawa; 浩司安川
Original assignee: TDK Corp
Current assignee: TDK Corp
Priority date: 1991-07-26
Filing date: 1991-07-26
Publication date: 1993-02-09

Abstract

(57)【要約】【目的】反射率が高くかつ耐食性がよい反射層を有
し、しかも記録層が経時劣化しないため良好なアイパタ
ーンを有し、ジッターが少ない密着型の光記録媒体を提
供する。【構成】基板上に、色素を含有し、塩素を含まない記
録層を有し、記録層上に密着してＣｕと、Ａｇ、Ａｕ、
Ｚｎ、ＮｉおよびＣｄから選ばれる１〜５種の金属とを
含有する反射層を設層した構成とする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、光記録媒体、特にコン
パクトディスク対応のライト・ワンス型の光記録ディス
クに関する。

【０００２】

【従来の技術】基板上に反射層を有する光記録媒体とし
て、例えば、コンパクトディスク（以下、ＣＤと略称す
る）規格に対応して追記ないし記録を行なうことのでき
る光記録ディスクが提案されている（日経エレクトロニ
クス１９８９年１月２３日号，Ｎｏ．４６５，Ｐ１０
７、社団法人近畿化学協会機能性色素部会，１９８９年
３月３日，大阪科学技術センター、SPIE vol 1078 Optic
al Data Storage TopicalMeeting,80 1989等）。

【０００３】このものは、透明樹脂基板上に、色素層、
Ａｕ反射層および保護膜をこの順に設層して形成され
る。すなわち、反射層を色素層に密着して設けるもので
ある。

【０００４】従来は、色素層にピットを形成するために
色素層上に空気層を設けていたが、この提案では、反射
層を色素層に密着して設ける密着型であるので、ＣＤ規
格のディスク全厚１．２mmの構成が可能となっている。

【０００５】このような反射層と色素を含有する記録層
とを密着して設ける密着型の媒体の場合には、特に、記
録層の記録光および再生光に対し、６０％以上、特にＣ
Ｄ規格では７０％以上の反射率をもつ必要がある。この
ため、特開平２−７９２３５号公報等に開示されている
とおり、反射層には、反射率が高く、しかも耐食性が良
いＡｕ薄膜が使用されている。

【０００６】しかし、Ａｕは、やわらかいため、記録光
を記録層に照射してピット部を形成すると、記録層の熱
膨張によってピット部上のＡｕ薄膜が変形することがあ
る。このため、再生出力波形であるアイパターンが乱れ
たり、ジッターの増加を招いてしまう。

【０００７】また、Ａｕは高価であるため、反射層とし
て、Ａｇ、Ｃｕ等の比較的安価な金属薄膜を使用する提
案がされている。例えば、特開平２−７９２３５号、同
２−８７３４１号公報等には、反射層としてＡｇ薄膜や
Ｃｕ薄膜等を使用する具体例が記載されている。

【０００８】しかし、Ｃｕ薄膜やＡｇ薄膜の場合、成膜
当初は７０％程度の反射率が得られるが、耐食性が不十
分である。

【０００９】また、Ａｕ、ＡｇおよびＣｕ以外の金属薄
膜、例えばＡl 薄膜では、十分な反射率が得られない。
このように、Ａｕ以外の金属薄膜を反射層に適用した光
記録ディスクは、耐食性と反射率とが両立せず、実用が
困難である。

【００１０】

【発明が解決しようとする課題】本発明者らは、前記の
問題を解決するため、特願平２−２８４０８５号により
反射層をＣｕ−Ａｕ合金薄膜、同２−２８４０８６号に
より反射層をＣｕ−Ａｇ合金薄膜で構成する旨の提案を
行なっている。

【００１１】しかし、色素を記録層として使用し、この
記録層に、パークロレートイオンやクロルイオン等を対
イオンとするシアニン色素等のカチオン色素が含まれて
いる場合、塩素を置換基として有する色素や、クエンチ
ャー、さらには色素カチオンとクエンチャーアニオンと
のイオン結合体等が含まれている場合、記録層上に、密
着してＣｕを含有する反射層を積層すると、Ｃｕが記録
層内の塩素と反応し、色素が経時劣化することが判明し
た。

【００１２】このため、ディスクを長期間保存したり、
高温・高湿下で使用したりすると、反射層自体にはほと
んど影響はないが、記録層が劣化し、この結果アイパタ
ーンが乱れ、ジッターが増加し、エラーレートが増大し
てしまう。

【００１３】本発明の目的は、反射率が高く、しかも耐
食性が良い反射層を有し、記録層が経時劣化せず、アイ
パターンの乱れやジッターの増加がなく、しかもエラー
レートが小さく、良好な記録や再生を行なうことができ
る光記録媒体を提供することにある。

【００１４】

【課題を解決するための手段】このような目的は、下記
（１）〜（３）の本発明により達成される。

【００１５】（１）基板上に色素を含有する記録層を有
し、この記録層上に密着して反射層を設層した光記録媒
体であって、前記記録層には実質的に塩素元素が含有さ
れておらず、前記反射層は、Ｃｕと、Ａｇ、Ａｕ、Ｚ
ｎ、ＮｉおよびＣｄからなる群より選ばれる１〜５種の
金属とを含有する合金薄膜であることを特徴とする光記
録媒体。

【００１６】（２）基板側から再生光を照射したとき、
未記録部分の反射率が６０％以上であり、記録部分の反
射率が未記録部分の反射率の６０％以下であり、記録光
および再生光の波長における前記記録層の消衰係数ｋが
０．０３〜０．２５であり、記録光および再生光の波長
における前記記録層の屈折率ｎが１．８〜４．０であ
り、記録光および再生光の波長が６００〜９００nmであ
る上記（１）に記載の光記録媒体。

【００１７】（３）前記反射層上に保護膜を有し、この
保護膜の２５℃における鉛筆硬度がＨ〜８Ｈである上記
（１）または（２）に記載の光記録媒体。

【００１８】

【作用】本発明では反射層としてＣｕと所定の金属とを
含有するＣｕ合金薄膜を用いる。このため、反射率が高
く、耐食性が良く、しかもＡｕ薄膜に比べて硬い反射層
を形成できる。

【００１９】また、色素を含有し、塩素を実質的に含ま
ない記録層を基板上に形成し、この記録層上に、密着し
て前記Ｃｕ合金薄膜の反射層を積層する。このため塩素
との反応による記録層中へのＣｕの拡散が防止され、記
録層の経時劣化を防止できる。

【００２０】この結果、良好なアイパターンを有し、ジ
ッターが少なく、しかもエラーレートが小さく、良好な
記録や再生を行なうことができる光記録媒体が実現す
る。

【００２１】

【具体的構成】以下、本発明の具体的構成について詳細
に説明する。

【００２２】図１には本発明の光記録媒体の好適例が示
される。

【００２３】本発明の光記録媒体１は、基板２上に、記
録層３を有し、記録層３に密着して、反射層４、保護膜
５を順次積層した密着型のものである。

【００２４】基板２は、記録光および再生光（６００〜
９００nm程度、特に７００〜８００nm程度の半導体レー
ザー光、特に７８０nm）に対し、実質的に透明（好まし
くは透過率８０％以上）な樹脂あるいはガラスから形成
される。これにより、基板裏面側からの記録および再生
が可能となる。

【００２５】基板２は、通常のサイズのディスク状であ
って、ＣＤとして用いる場合、厚さは１．２mm程度、直
径は８０ないし１２０mm程度とする。

【００２６】この場合、基板材質としては、樹脂を用い
ることが好ましく、ポリカーボネート樹脂、アクリル樹
脂、アモルファスポリオレフィン、ＴＰＸ等の各種熱可
塑性樹脂が好適である。

【００２７】なお、必要に応じ、基板２の外表面、内表
面の少なくとも一方と、さらに必要に応じ、内・外周面
に酸素遮断性の被膜を形成してもよい。

【００２８】基板２の記録層３形成面には、トラッキン
グ用のグルーブが形成されることが好ましい。グルーブ
は、スパイラル状の連続型グルーブであることが好まし
く、深さは２５０〜１８００A 、幅は０．２〜１．１μ
m 、特に０．３〜０．６μm、ランド（隣り合うグルー
ブ同士の間の部分）幅は０．５〜１．４μm 、特に１．
０〜１．３μm であることが好ましい。グルーブをこの
ような構成とすることにより、グルーブ部の反射レベル
を下げることなく良好なトラッキング信号を得ることが
できる。なお、グルーブには、アドレス信号用の凹凸を
設けることもできる。

【００２９】本発明では、基板がグルーブを有する場
合、記録光はグルーブ内の記録層に照射されるよう構成
されることが好ましい。すなわち、本発明の光記録媒体
は、グルーブ記録の光記録媒体として用いられることが
好ましい。グルーブ記録とすることにより、記録層の有
効厚さを大きくすることができる。

【００３０】また、基板２上に図示しない樹脂層を例え
ば２Ｐ法により設層して、樹脂層にトラッキング用の溝
やアドレス信号用の凹凸を設けてもよい。

【００３１】樹脂層を構成する樹脂材質に特に制限はな
く、いわゆる２Ｐ法に用いられる公知の樹脂から適宜に
選択すればよいが、通常、放射線硬化型化合物が用いら
れる。

【００３２】記録層３は、１種あるいは２種以上の色素
を相溶して形成される。この場合、光吸収色素にクエン
チャーを混合してもよく、さらに、色素カチオンとクエ
ンチャーアニオンとのイオン結合体を光吸収色素として
用いてもよい。

【００３３】また、記録層３には、実質的にパークロレ
ートイオン等の塩素を含有させない。記録層３中に塩素
元素が、塩素イオン、塩素を含む原子団ないしそのイオ
ン、あるいは置換基として含まれていると、反射層４の
Ｃｕが塩素と反応し、記録層ないし色素が経時劣化して
しまう。ここに、実質的に塩素元素を含まないとは、塩
素が不可避的不純物として含まれる場合まで排除するも
のではない。

【００３４】記録層３の記録光および再生光波長におけ
る消衰係数（複素屈折率の虚部）ｋは、０．０３〜０．
２５であることが好ましい。ｋが０．０３未満となると
記録層の吸収率が低下し、通常の記録パワーで記録を行
うことが困難である。また、ｋが０．２５をこえると、
反射率が６０％を下回ってしまい、ＣＤ規格による再生
を行うことが困難である。この場合、ｋが０．０４〜
０．２０、特に０．０５〜０．１５であると、きわめて
好ましい結果をうる。

【００３５】また、屈折率（複素屈折率の実部）ｎは、
１．８〜４．０、より好ましくは、２．２〜３．３であ
ることが好ましい。ｎ＜１．８では反射率が低下し、Ｃ
Ｄ規格による再生が困難となる傾向にある。また、ｎ＞
４．０とするためには、原料色素の入手が難しい。

【００３６】ｎおよびｋの測定に際しては、所定の透明
基板上に記録層を例えば４００〜１０００A 程度の厚さ
に実際の条件にて設層して、測定サンプルを作製する。
次いで、基板を通しての、あるいは記録層側からの反射
率を測定する。反射率は記録再生光波長を用いて鏡面反
射（５°程度）にて測定する。また、サンプルの透過率
を測定する。これらの測定値から、例えば、共立全書
「光学」石黒浩三Ｐ１６８〜１７８に準じ、ｎ、ｋを算
出すればよい。

【００３７】用いる光吸収性の色素としては、塩素元素
を実質的に含有せず、吸収極大が６００〜９００nm、好
ましくは６００〜８００nm、より好ましくは６５０〜７
５０nmであれば、他に特に制限はないが、シアニン系、
フタロシアニン系、ナフタロシアニン系、アントラキノ
ン系、アゾ系、トリフェニルメタン系、ピリリウムない
しチアピリリウム塩系、スクワリリウム系、クロコニウ
ム系、金属錯体色素系等の１種ないし２種以上が好まし
い。

【００３８】シアニン色素としては、縮合環を有してい
てもよいインドレニン環、特にベンゾインドレニン環を
有するシアニン色素であることが好ましい。

【００３９】クエンチャーとしては、実質的に塩素を含
まないものを用いる。例えばビスフェニレンジチオー
ル、ジチオジケトン系、ニトロソジフェニルアミン系等
の遷移金属錯体が好ましい。

【００４０】結合体としては、実質的に塩素元素を含ま
ないものを用いる。この場合、結合体を構成する色素カ
チオンとしては、縮合環を有していてもよいインドレニ
ン環を有するシアニン色素カチオン、また、クエンチャ
ーとしては上記の遷移金属錯体が好ましい。例えば、具
体的好適例としては、下記化１で表わされる光安定化シ
アニン色素、すなわちシアニン色素カチオンとクエンチ
ャーアニオンとのイオン結合体が挙げられる。

【００４１】

【化１】

【００４２】前記化１において、シアニン色素カチオン
は、ペンタメチン鎖を有するインドレニン系のものであ
るが、一方の核は４，５−ベンゾインドレニン環であ
り、他方の核はインドレニン環であり、左右非対称の異
核構造をもつ。そして、４，５−ベンゾインドレニン環
の窒素原子に結合するアルキル基Ｃ_nＨ_2n+1と、インド
レニン環の窒素原子に結合するアルキル基Ｃ_m Ｈ_2m+1と
は、ともに直鎖のものであることが好ましいが、両者は
互いに異なるものであり、ｍ＞ｎとする。この場合、ｍ
は２以上であり、好ましくは２〜１０、特に２〜５の整
数である。また、ｎは、ｍより小さければよいが、特に
１〜３であることが好ましい。

【００４３】さらに、インドレニン環のベンゼン環に
は、アルキル基Ｃ_lＨ_2l+1が結合してもよい。Ｃ_l Ｈ
_2l+1は好ましくは、インドレニン環の５位に結合する
が、ｌは０（すなわちＨ）、あるいは１〜１０、好まし
くは１〜３の整数である。

【００４４】これに対し、クエンチャーアニオンは、ビ
ス−１，２−フェニレンジチオールの銅錯体である。そ
して、フェニレンジチオールの好ましくは４位には、ア
ルキル基Ｃ_p Ｈ_2p+1が結合する。ｐは、１〜１０の整
数、特にｔ−ブチル基（ｔＢｕ）であることが好まし
い。

【００４５】以下に、前記光安定化シアニン色素の好ま
しい具体例を挙げる。

【００４６】

【化２】

【００４７】

【化３】

【００４８】このような光安定化色素は、ｎおよびｋの
波長依存性が少なく、７７０〜８１０nmにてｎおよびｋ
の変化がきわめて少ない。そして、きわめて高い耐光性
を示す。

【００４９】記録層３の設層方法には特に制限がなく、
例えば、各種溶媒等を用いて塗布によって設層したり、
蒸着等公知の方法を用いればよい。

【００５０】記録層３の厚さは、５００〜２０００A と
することが好ましい。この範囲外では反射率が低下し
て、ＣＤ規格の再生を行うことが難しくなる。

【００５１】記録層３上には直接反射４が設層される。

【００５２】記録層３と反射層間に、樹脂や薄膜の特に
厚い中間層を形成すると、記録層３との光学的バランス
が悪くなり、感度、モジューレーション等記録後の特性
が悪化する。

【００５３】反射層４は、Ｃｕと、Ａｇ、Ａｕ、Ｚｎ、
ＮｉおよびＣｄからなる群より選ばれる１〜５種の金属
とを含有する合金薄膜で構成される。

【００５４】このような薄膜を用いることにより、Ｃｕ
薄膜、Ａｇ薄膜、Ａｌ薄膜等に比べ、膜の耐食性が格段
と向上し、Ａｕ薄膜に比べ、膜の硬度が格段と増加す
る。

【００５５】この場合、Ｃｕへの添加量と反射率低下の
関係等の理由から、反射層４は、Ｃｕと、Ａｇ、Ａｕお
よびＣｄからなる群より選ばれる１〜３種の金属とを含
有する合金薄膜で構成されることが好ましい。そして、
とくにＣｕに添加した場合の耐食性向上効果の程度等の
理由から反射層４は、Ｃｕと、Ａｇおよび／またはＡｕ
とを含有する合金薄膜で構成されることが好ましい。

【００５６】反射層４中の各金属元素の好適含有量は元
素により異なるため、以下場合分けする。

【００５７】Ｚｎ、Ｎｉおよび／またはＣｄの反射層４
中の含有量は、合計で４０at% 以下が好ましい。

【００５８】含有量が４０at% を超えると反射率が不十
分となる。

【００５９】ただし、含有量があまり少ないと耐食性が
不十分となるため、５〜３０at% 、さらに好ましくは８
〜２５at% 、特に好ましくは１０〜２０at% が好まし
い。

【００６０】また、Ａｇおよび／またはＡｕの反射層４
中の含有量は、合計で５〜９９at%が好ましい。

【００６１】前記範囲をこえると、膜の硬さが不十分で
あるため、記録光を記録層３に照射してピット部６を形
成する際、記録層３の熱膨張により、ピット部６上の反
射層４が変形してしまう。このため、アイパターンが乱
れたり、ジッターが増加する。前記範囲未満では、耐食
性が不十分である。例えば、高温・高湿下で長期間保存
あるいは使用すると、膜の反射率が低下し、エラーが増
加する。

【００６２】前記の理由から、反射層４中のＡｇおよび
Ａｕの含有量の上限は、より好ましくは９０at% 、さら
に好ましくは８０at% 、特に好ましくは７０at% であ
り、特に反射層４中のＡｕの含有量の上限は６０at% 、
Ａｇの含有量は４０at% 未満、特に３５at% が好まし
い。また、下限は、より好ましくは６at% 、さらに好ま
しくは８at% 、特に好ましくは１０at% が好ましい。

【００６３】反射層４を形成するには、スパッタリン
グ、蒸着等の各種気相成膜法を用いればよい。

【００６４】反射層４の厚さは５００A 以上であること
が好ましい。また、厚さの上限に特に制限はないが、コ
スト、生産作業時間等を考慮すると、１２００A 程度以
下であることが好ましい。

【００６５】これにより、反射層４単独での反射率は、
８５％以上、特に９０％以上、媒体の未記録部の基板を
とおしての反射率は、６０％以上、特に７０％以上がえ
られる。

【００６６】反射層４上には、保護膜５が設層される。

【００６７】保護膜５は、例えば紫外線硬化樹脂等の各
種樹脂材質から、通常は、０．１〜１００μm 程度の厚
さに設層すればよい。保護膜５は、層状であってもシー
ト状であってもよい。

【００６８】保護膜５は、特に放射線硬化型化合物およ
び光重合増感剤を含有する塗膜を放射線硬化したもので
あることが好ましい。そして、保護膜５の硬度が、２５
℃における鉛筆硬度（ＪＩＳＫ−５４００）で、Ｈ〜
８Ｈ、特に２Ｈ〜７Ｈであるように構成されることが好
ましい。

【００６９】このように構成することにより、アイパタ
ーンがより一層良好になり、ジッターが格段と減少す
る。また、高温・高湿あるいは温湿度変化条件下の保存
においても、保護膜と反射層との剥離が生じない。より
具体的には、保護膜の硬度がＨより軟らかいとアイパタ
ーンが乱れ、ジッターが増大し、８Ｈより硬くなると塗
膜がもろくなり膜形成能が低下する他、反射層との接着
力が低下する。

【００７０】このような保護膜形成に用いる放射線硬化
型化合物には、オリゴエステルアクリレートが含まれる
ことが好ましい。

【００７１】オリゴエステルアクリレートは、アクリレ
ート基またはメタクリレート基を複数有するオリゴエス
テル化合物である。そして好ましいオリゴステルアクリ
レートとしては、分子量１０００〜１００００、好まし
くは２０００〜７０００であって、重合度２〜１０、好
ましくは、３〜５のものが挙げられる。また、これらの
うちアクリレート基またはメタクリレート基を２〜６
個、好ましくは３〜６個有する多官能オリゴエステルア
クリレートが好ましい。

【００７２】また、上記の化合物に加えて、あるいはこ
れにかえて熱可塑性樹脂を放射線感応変性することによ
って得られる放射線硬化型化合物を用いてもよい。

【００７３】このような放射線硬化型化合物の保護膜の
膜厚は０．１〜３０μm 、より好ましくは１〜１０μm
が好ましい。

【００７４】この膜厚が０．１μm 未満になると、一様
な膜を形成しにくく、湿度が高い雰囲気中での防湿効果
が十分でなく、記録層の耐久性が下がる。しかも、ジッ
ター防止効果が低下する。また、３０μm をこえると、
樹脂膜の硬化の際に伴う収縮により記録媒体の反りや保
護膜中のクラックが生じやすい。

【００７５】このような塗膜は、通常、スピンナーコー
ト、グラビア塗布、スプレーコート、ディッピング等、
種々の公知の方法を組み合わせて設層すればよい。この
時の塗膜の設層条件は、塗膜組成の混合物の粘度、目的
とする塗膜厚さ等を考慮して適宜決定すればよい。

【００７６】本発明において塗膜に照射する放射線とし
ては、紫外線、電子線等が挙げられるが、紫外線が好ま
しい。

【００７７】紫外線を用いる場合には、前述したような
放射線硬化型化合物の中には、通常、光重合増感剤が加
えられる。

【００７８】光重合増感剤としては、例えば、ベンゾイ
ンメチルエーテル、ベンゾインエチルエーテル、α−メ
チルベンゾイン、α−クロルデオキシベンゾイン等のベ
ンゾイン系、ベンゾフェノン、アセトフェノン、モルホ
リノジメチルメチル−４−メチルチオフェニルケトン、
ビスジアルキルアミノベンゾフェノン等のケトン類、ア
セトラキノン、フェナントラキノン等のキノン類、ベン
ジルジスルフィド、テトラメチルチウラムモノスルフィ
ド等のスルフィド類等を挙げることができる。

【００７９】そして、このような光重合増感剤と放射線
硬化型化合物を含有する塗膜を紫外線によって硬化させ
るには、公知の種々の方法に従えばよい。たとえば、キ
セノン放電管、水銀放電管などの紫外線電球等を用いれ
ばよい。また、場合によっては電子線を用いることもで
きる。

【００８０】このような構成の光記録媒体１に記録ない
し追記を行なうには、例えば７８０nmの記録光を、基板
２をとおしてパルス状に照射する。

【００８１】これにより、記録層３が光を吸収して発熱
し、同時に基板２も加熱される。この結果、基板２と記
録層３との界面近傍において、色素等の記録層材質の融
解や分解が生じ、記録層３と基板２との界面に圧力が加
わり、グルーブの底壁や側壁を変形させることがある。

【００８２】この場合記録層３の融解物や分解物を含有
する分解物層６１が、通常グルーブ２３の底部および境
界を覆うような形状に残存する。分解物層６１の材質
は、実質的に基板材質を含まない材質であり、記録層材
質の分解物あるいは記録層材質の分解物と、記録層材質
との混合物によって構成される。分解物層６１は、記録
層３の厚さの通常３０〜９０％程度の厚さである。

【００８３】そして、通常、分解物層６１上には、空隙
６３が形成され、分解物層６１と、空隙６３とがピット
部６に形成される。空隙６３は、記録層３の厚さの通常
１０〜７０％程度の厚さである。

【００８４】また、このような記録過程において、基板
２は変形しない場合もあるが、通常、基板２のピット部
６は、加熱時の圧力によって凹状にへこむことになる。
基板２のへこみ量は、ピット部６の寸法が大きい程大き
く、通常０〜３００A 程度の深さである。

【００８５】また、空隙６３上には、反射層４に密着し
て微少膜厚にて記録層３ないしその分解物等が残存する
こともある。

【００８６】このように、ピット部６の基板２と記録層
３との界面部には、実質的に基板材質を含有しない層が
形成される。

【００８７】記録光のパワーは、通常、５〜９mW程度、
基板回転線速度は１．２〜１．４m/s 程度とすればよ
い。

【００８８】このようにしてピット部６を形成したの
ち、例えば７８０nmの再生光を、基板２をとおして照射
すると、ピット部６により光の位相差を生じ、反射率が
未記録部分の６０％以下、特に５０％以下、さらには４
０％以下に低下する。一方、未記録部では、６０％以
上、特に７０％以上の高反射率を示しているので、ＣＤ
規格による再生が可能となる。なお、再生光のパワー
は、０．１〜１０mW程度とする。

【００８９】

【実施例】以下、本発明の具体的実施例を挙げ本発明を
さらに詳細に説明する。

【００９０】実施例１連続グルーブを有する１２０mmφ、厚さ１．２mmのポリ
オレフィン基板上に色素を含有し、塩素を含有しない記
録層を設層した。次いで記録層上に、スパッタリングに
よりＣｕ−Ａｇ合金薄膜を１０００A 厚に設層して反射
層とし、さらに、オリゴエステルアクリレートを含有す
る紫外線硬化型樹脂を塗布した後紫外線硬化して５μm
厚の保護膜とし、光記録ディスクサンプルNo. １を得
た。

【００９１】サンプルNo. １の記録層は、下記化４に示
される色素Ｄ１を９０wt% 、塩素を含まない一重項酸素
クエンチャーを１０wt% 用いて形成した。

【００９２】

【化４】

【００９３】記録層の設層は、基板を５００〜３０００
rpm で回転させながらスピンコート塗布により行なっ
た。塗布溶液としては、５．０シクロヘキサノンを用い
た。記録層の厚さはグルーブ部で２９００A 、ランド部
で１９００A であった。また、記録層の屈折率（ｎ）は
２．３、消衰係数（ｋ）は、０．０３であった。

【００９４】ｎおよびｋは、上記色素を含有する溶液を
測定用基板上に乾燥膜厚１０００Aに成膜して被検記録
層とし、この被検記録層のｎおよびｋを測定することに
より求めた。なお、この測定は、「光学」（石黒浩三
著、共立全書）第１６８〜１７８ページの記載に準じて
行なった。また、上記化４に示される色素を含有する記
録層の測定に際しては、溶媒にシクロヘキサノン、測定
用基板にポリオレフィン基板を用いた。

【００９５】反射層のＣｕ−Ａｇ合金薄膜の組成は、Ｃ
ｕ₆₅Ａｇ₃₅（at% ）であり、成膜条件は、下記のとおり
であった。

【００９６】スパッタ圧力：１．０Pa 投入パワー：１１．０W/cm²

【００９７】なお、Ｃｕ−Ａｇ合金薄膜の組成は、誘導
結合高周波プラズマ分光分析にて求めた。

【００９８】また、保護膜は、下記の放射線硬化型化合
物および光重合増感剤を含む塗布組成物をスピンナーコ
ートで設層した。

【００９９】（塗布組成物）多官能オリゴエステルアク
リレート［オリゴエステルアクリレート（３官能以上）
３０重量％、トリメチルプロパンアクリレート７０重量
％、商品名アロニックスＭ−８０３０；東亜合成社製］
１００重量部光重合増感剤（商品名：ＩＲＧＡＣＵＲＥ907;日本チバ
ガイギー社製）５重量部

【０１００】このような塗布組成物を設層後、１２０W/
cmの紫外線を１５sec 照射し架橋硬化させ、硬化膜とし
た。

【０１０１】この膜の鉛筆硬度は２Ｈであった。

【０１０２】また、サンプルNo. １において、記録層中
の色素Ｄ１を下記化５に示される色素Ｄ７に換えたほか
は同様として、比較用サンプルNo.２、サンプルNo. １
において反射層をＣｕ薄膜、Ａｇ薄膜に換えたほかは同
様として、比較用サンプルNo. ３、No. ４を製造した。

【０１０３】得られたサンプルNo. １に対し、波長７８
０nm、７mWのレーザーにてコンパクトディスク信号の記
録を行ない、次いで市販のコンパクトディスクプレーヤ
で再生を行なった。

【０１０４】この結果、Ｓ／Ｎ比が高く、良好な再生を
行なうことができた。なお、未記録部で７０％以上の反
射率が得られ、記録部の反射率は未記録部の反射率の４
０％以下であった。

【０１０５】次に、各サンプルに対し、下記の評価を行
なった。

【０１０６】１）反射率サンプルに対し、波長７８０nm、７mWのレーザーにてコ
ンパクトディスク信号の記録を行なった後、市販のコン
パクトディスクプレーヤで再生を行なって記録部のＲto
p レベルを測定した。

【０１０７】次いで、サンプルを温度８０℃、湿度８０
％ＲＨの環境中に２００時間放置した後、同様に記録部
のＲtop レベルを測定した。

【０１０８】そして、各サンプルの初期の反射率を基準
（１．００）とし、サンプルNo. １〜No. ４それぞれに
ついて規格化された反射率を算出した。

【０１０９】評価基準 ○…規格化した反射率が０．９３超 ×…規格化した反射率が０．９３未満

【０１１０】２）Ｃ１エラー市販のコンパクトディスクプレーヤで再生を行なって、
初期および２００時間（８０℃、８０％ＲＨ）後のＣ１
エラーを測定した。この場合、Ｃ１エラーのＣＤ規格
は、２２０（カウント／秒）以内である。

【０１１１】評価基準 ○…Ｃ１エラー２２０（カウント／秒）以内 ×…Ｃ１エラー２２０（カウント／秒）超

【０１１２】３）ジッター市販のコンパクトディスクプレーヤで再生を行なって、
２００時間（８０℃、８０％ＲＨ）後のジッターを測定
した。評価装置は、ＭＥＧＵＲＯ社製ＣＤジッターメー
ターＭＪＭ−６３１を使用した。

【０１１３】評価基準 ○…３０ｎｓ未満 ×…３０ｎｓ以上

【０１１４】４）感度市販のコンパクトディスクプレーヤーで再生し、そのア
イパターンからそれぞれのディスクの最適記録感度（パ
ワー）を算出した。

【０１１５】評価基準 ○…８ｍＷ未満 ×…８ｍＷ以上

【０１１６】なお、サンプルNo. １の２００時間後のア
イパターンのオシロ波形の写真を図２、No. ２の２００
時間後のアイパターンのオシロ波形の写真を図３に示
す。両者のアイパターンを対比するとNo. ２はエラー、
ジッターが極端に劣化しており、本発明の塩素を含まな
い記録層の効果が判る。

【０１１７】上記１）〜４）の結果は表１に示されると
おりである。

【０１１８】

【表１】

【０１１９】表１に示される結果から本発明の効果が明
らかである。

【０１２０】なお、各サンプルの保護膜の鉛筆硬度を下
げたところ、アイパターンが少し乱れ、ジッターの増加
がみられた。

【０１２１】また、サンプルNo. １において、記録層中
の色素をＤ２〜Ｄ６に示される色素に換えた各サンプル
や、反射層をＣｕ−Ａｕ、Ｃｕ−Ｚｎ、Ｃｕ−Ｃｄ等の
Ｃｕ合金薄膜に換えた各サンプルを作製し、前記と同様
の評価を行なったところ比較サンプルより良好な結果が
得られた。

【０１２２】

【発明の効果】本発明の光記録媒体では、反射層の、耐
食性、耐湿性が良いため、高温、高湿下での使用や長期
保存を行なっても高反射率が維持される。

【０１２３】また記録層に塩素が含まれていないため、
Ｃｕの拡散等による記録層の経時劣化が生じない。

【０１２４】このため、アイパターンの乱れがなく、ジ
ッターが少なく、エラーレートが小さく、良好な記録や
再生を行なうことができる光記録媒体が実現する。そし
て、高反射率で、しかもピット部での大きな反射率低下
を示すので、ＣＤ規格による再生を行なうことのできる
良好な光記録が可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の光記録媒体を示す部分断面図である。

【図２】オシロ波形を示す図面代用写真であって、本発
明の光記録媒体のアイパターンが示される写真である。

【図３】オシロ波形を示す図面代用写真であって、比較
用の光記録媒体のアイパターンが示される写真である。

【符号の説明】１…光記録媒体２…基板２１…ランド部２３…グルーブ３…記録層４…反射層５…保護膜６…ピット部６１…分解物層６３…空隙

【化５】

【手続補正書】

【提出日】平成３年９月３日

【手続補正１】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】０１０３

【補正方法】変更

【補正内容】

【０１０３】

【化５】

【手続補正２】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】０１０４

【補正方法】変更

【補正内容】

【０１０４】得られたサンプルＮｏ．１に対し、波長７
８０ｎｍ、７ｍＷのレーザーにてコンパクトディスク信
号の記録を行ない、次いで市販のコンパクトディスクプ
レーヤで再生を行なった。この結果、Ｓ／Ｎ比が高く、
良好な再生を行なうことができた。なお、未記録部で７
０％以上の反射率が得られ、記録部の反射率は未記録部
の反射率の４０％以下であった。

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】基板上に色素を含有する記録層を有し、
この記録層上に密着して反射層を設層した光記録媒体で
あって、前記記録層には実質的に塩素元素が含有されておらず、
前記反射層は、Ｃｕと、Ａｇ、Ａｕ、Ｚｎ、Ｎｉおよび
Ｃｄからなる群より選ばれる１〜５種の金属とを含有す
る合金薄膜であることを特徴とする光記録媒体。
【請求項２】基板側から再生光を照射したとき、未記
録部分の反射率が６０％以上であり、記録部分の反射率
が未記録部分の反射率の６０％以下であり、記録光およ
び再生光の波長における前記記録層の消衰係数ｋが０．
０３〜０．２５であり、記録光および再生光の波長にお
ける前記記録層の屈折率ｎが１．８〜４．０であり、記
録光および再生光の波長が６００〜９００nmである請求
項１に記載の光記録媒体。
【請求項３】前記反射層上に保護膜を有し、この保護
膜の２５℃における鉛筆硬度がＨ〜８Ｈである請求項１
または２に記載の光記録媒体。