JPH05322748A - 検量線による定量分析方法 - Google Patents
検量線による定量分析方法Info
- Publication number
- JPH05322748A JPH05322748A JP12917692A JP12917692A JPH05322748A JP H05322748 A JPH05322748 A JP H05322748A JP 12917692 A JP12917692 A JP 12917692A JP 12917692 A JP12917692 A JP 12917692A JP H05322748 A JPH05322748 A JP H05322748A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- calibration curve
- quantification
- program
- information
- curve information
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Management, Administration, Business Operations System, And Electronic Commerce (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 ２つ以上の検量線を用いて定量を行なうプロ
グラムでは、従来は他の検量線情報による定量結果を手
入力する必要があったが、このような作業を不要として
プログラムの作成を容易にする。 【構成】 ２つ以上の検量線を用いて定量を行なうプロ
グラムに対応するプログラムメモリまたはテーブルＭの
所定アドレス、例えば図１（イ）のアドレスＡ２に参照
すべき他の検量線情報を定義するだけで、自動的に実行
し得るようにして手入力作業を不要とし、プログラムの
作成を簡略化する。テーブルＭに定義された内容に応じ
た処理を実行することにより、図１（ロ）に示すような
目的とする検量線Ｌを得ることができる。
グラムでは、従来は他の検量線情報による定量結果を手
入力する必要があったが、このような作業を不要として
プログラムの作成を容易にする。 【構成】 ２つ以上の検量線を用いて定量を行なうプロ
グラムに対応するプログラムメモリまたはテーブルＭの
所定アドレス、例えば図１（イ）のアドレスＡ２に参照
すべき他の検量線情報を定義するだけで、自動的に実行
し得るようにして手入力作業を不要とし、プログラムの
作成を簡略化する。テーブルＭに定義された内容に応じ
た処理を実行することにより、図１（ロ）に示すような
目的とする検量線Ｌを得ることができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、例えば光分析装置に
より測定したスペクトルから得られる情報と、定量対象
となる定量値との関係を検量線回帰式により表現し、定
量を行なう定量分析方法に関する。
より測定したスペクトルから得られる情報と、定量対象
となる定量値との関係を検量線回帰式により表現し、定
量を行なう定量分析方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、例えば光分析装置により測定した
スペクトルから得られる情報と、定量対象となる定量値
との関係が１つの検量線回帰式により表現できる場合
は、以下のような手順により定量を行なう。図２は検量
線を用いた定量方法を説明するための説明図で、同図
（イ）は光分析装置で測定したスペクトル例、同図
（ロ）はスペクトルから得られる情報の定義、同図
（ハ）は検量線の例をそれぞれ示している。なお、情報
の定義によってその内容に応じた処理が実行される。し
たがって、同図（ロ）はそれを記憶したプログラムメモ
リまたはテーブル（以下、単にテーブルという）Ｍとい
うことができ、Ａ１〜Ａ３はそのアドレスを示している
ことになる。また、定義の項目としては、ａ）指定波数
のピーク強度、ｂ）指定波数間の面積強度、ｃ）演算結
果を用いた四則演算、ｄ）ユーザ入力値などがある。
スペクトルから得られる情報と、定量対象となる定量値
との関係が１つの検量線回帰式により表現できる場合
は、以下のような手順により定量を行なう。図２は検量
線を用いた定量方法を説明するための説明図で、同図
（イ）は光分析装置で測定したスペクトル例、同図
（ロ）はスペクトルから得られる情報の定義、同図
（ハ）は検量線の例をそれぞれ示している。なお、情報
の定義によってその内容に応じた処理が実行される。し
たがって、同図（ロ）はそれを記憶したプログラムメモ
リまたはテーブル（以下、単にテーブルという）Ｍとい
うことができ、Ａ１〜Ａ３はそのアドレスを示している
ことになる。また、定義の項目としては、ａ）指定波数
のピーク強度、ｂ）指定波数間の面積強度、ｃ）演算結
果を用いた四則演算、ｄ）ユーザ入力値などがある。
【０００３】定量に当たっては、まず定量値が既知の測
定試料を複数用意し、同一測定条件により各スペクトル
を測定する。こうして得られるスペクトルの１つを示す
のが同図（イ）である。Ｗ１，Ｗ２は波数を示すが、そ
の各々が或る特定の物質と対応していることになる。次
に、各スペクトルから得られる情報を定義する。この例
では、波数Ｗ１，Ｗ２における吸光度のピーク強度、四
則演算によるピーク強度比が定義されているので、テー
ブルＭのアドレスＡ１で定義される波数Ｗ１における吸
光度のピーク強度Ｐ１、アドレスＡ２で定義される波数
Ｗ２における吸光度のピーク強度Ｐ２の各演算が行なわ
れ、最終的にはアドレスＡ３のＰ１÷Ｐ２で定義される
ピーク強度比Ｃ１が求められる。このピーク強度比Ｃ１
と既知の定量値との関係を複数の標準試料についてプロ
ットしたのが検量線Ｌであり、これを示すのが同図
（ハ）である。
定試料を複数用意し、同一測定条件により各スペクトル
を測定する。こうして得られるスペクトルの１つを示す
のが同図（イ）である。Ｗ１，Ｗ２は波数を示すが、そ
の各々が或る特定の物質と対応していることになる。次
に、各スペクトルから得られる情報を定義する。この例
では、波数Ｗ１，Ｗ２における吸光度のピーク強度、四
則演算によるピーク強度比が定義されているので、テー
ブルＭのアドレスＡ１で定義される波数Ｗ１における吸
光度のピーク強度Ｐ１、アドレスＡ２で定義される波数
Ｗ２における吸光度のピーク強度Ｐ２の各演算が行なわ
れ、最終的にはアドレスＡ３のＰ１÷Ｐ２で定義される
ピーク強度比Ｃ１が求められる。このピーク強度比Ｃ１
と既知の定量値との関係を複数の標準試料についてプロ
ットしたのが検量線Ｌであり、これを示すのが同図
（ハ）である。
【０００４】検量線Ｌは例えば１次の回帰式、 Ｘ＝α×Ｙ＋β のように表現できるので、図２（ハ）の如き検量線Ｌか
らその係数α，βを求めることができる。なお、検量線
は１次の回帰式に限らず他の関数で表現することも可能
である。そして、未知の測定試料について、検量線回帰
式Ｌを求めたときと同じ条件でスペクトルを測定し、こ
のスペクトルから得られる情報を回帰式Ｌを用いて変換
する、つまり未知の測定試料のピーク強度比Ｃ１から回
帰式Ｌを参照して、未知試料の定量値（Ｘ）を求めるわ
けである。
らその係数α，βを求めることができる。なお、検量線
は１次の回帰式に限らず他の関数で表現することも可能
である。そして、未知の測定試料について、検量線回帰
式Ｌを求めたときと同じ条件でスペクトルを測定し、こ
のスペクトルから得られる情報を回帰式Ｌを用いて変換
する、つまり未知の測定試料のピーク強度比Ｃ１から回
帰式Ｌを参照して、未知試料の定量値（Ｘ）を求めるわ
けである。
【０００５】次に、１つの検量線回帰式で表現できない
場合の例について説明する。図３，図４はかかる場合の
例を示すもので、図３（イ）は光分析装置で測定したス
ペクトル例である。ここで、スペクトル上の波数Ｗ３の
ピークと試料の厚さとの関係が或る検量線回帰式で表現
されると同時に、波数Ｗ４のピーク強度を単位厚さ当た
りに補正したピーク強度と濃度との関係が別の検量線回
帰式で表現されるものとする。すなわち、ここでは２つ
の検量線回帰式が必要で、最終的に求める定量値が後者
の検量線回帰式により算出できる濃度とする例を示す。
場合の例について説明する。図３，図４はかかる場合の
例を示すもので、図３（イ）は光分析装置で測定したス
ペクトル例である。ここで、スペクトル上の波数Ｗ３の
ピークと試料の厚さとの関係が或る検量線回帰式で表現
されると同時に、波数Ｗ４のピーク強度を単位厚さ当た
りに補正したピーク強度と濃度との関係が別の検量線回
帰式で表現されるものとする。すなわち、ここでは２つ
の検量線回帰式が必要で、最終的に求める定量値が後者
の検量線回帰式により算出できる濃度とする例を示す。
【０００６】そこで、厚さを求めるための検量線情報の
名称をｔｈｉｃｋ、濃度を求めるための検量線情報の名
称をｃｏｎｃと呼ぶことにすると、図３（ロ）はｔｈｉ
ｃｋの定義、同（ハ）はｔｈｉｃｋの検量線、図４
（イ）はｃｏｎｃの定義、同（ロ）はｃｏｎｃの検量線
をそれぞれ示している。従来は、検量線情報ｔｈｉｃｋ
によって厚さを求めた後、検量線ｃｏｎｃの定義を示す
アドレスＡ２の「ユーザ入力」において、オペレータが
厚さ情報を入力する必要がある。しかも、この入力は検
量線情報ｃｏｎｃの作成時と、作成された検量線情報ｃ
ｏｎｃにもとづく定量時のそれぞれで必要となる。
名称をｔｈｉｃｋ、濃度を求めるための検量線情報の名
称をｃｏｎｃと呼ぶことにすると、図３（ロ）はｔｈｉ
ｃｋの定義、同（ハ）はｔｈｉｃｋの検量線、図４
（イ）はｃｏｎｃの定義、同（ロ）はｃｏｎｃの検量線
をそれぞれ示している。従来は、検量線情報ｔｈｉｃｋ
によって厚さを求めた後、検量線ｃｏｎｃの定義を示す
アドレスＡ２の「ユーザ入力」において、オペレータが
厚さ情報を入力する必要がある。しかも、この入力は検
量線情報ｃｏｎｃの作成時と、作成された検量線情報ｃ
ｏｎｃにもとづく定量時のそれぞれで必要となる。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】図２で説明したような
方法は、定量対象の定量値とスペクトルから得られる情
報との関係が１つの検量線回帰式で表現できる場合には
有効である。しかしながら、スペクトルから得られる情
報を検量線回帰式により変換して最終的な定量値を得る
に当たり、スペクトルから得られる情報を別の検量線回
帰式により変換して得られる定量結果を用いて補正する
必要のある例えば上記図３，図４の場合には、２つの検
量線回帰式による定量を別々に行ない、一方の検量線回
帰式による定量結果を他方の検量線回帰式による定量時
に受け渡すために、オペレータによる手入力が必要にな
るという問題が生じる。つまり、別の検量線情報による
定量結果を入力しなければならない、というのでは操作
性も悪く、入力時にミスを生じるおそれがあるからであ
る。したがって、この発明の課題は２つ以上の検量線回
帰式を必要とする場合にも手入力を不要にすることにあ
る。
方法は、定量対象の定量値とスペクトルから得られる情
報との関係が１つの検量線回帰式で表現できる場合には
有効である。しかしながら、スペクトルから得られる情
報を検量線回帰式により変換して最終的な定量値を得る
に当たり、スペクトルから得られる情報を別の検量線回
帰式により変換して得られる定量結果を用いて補正する
必要のある例えば上記図３，図４の場合には、２つの検
量線回帰式による定量を別々に行ない、一方の検量線回
帰式による定量結果を他方の検量線回帰式による定量時
に受け渡すために、オペレータによる手入力が必要にな
るという問題が生じる。つまり、別の検量線情報による
定量結果を入力しなければならない、というのでは操作
性も悪く、入力時にミスを生じるおそれがあるからであ
る。したがって、この発明の課題は２つ以上の検量線回
帰式を必要とする場合にも手入力を不要にすることにあ
る。
【０００８】
【課題を解決するための手段】このような課題を解決す
るため、この発明では、分析装置を介して得た分析結果
から定量値を得るために２つ以上の検量線が必要となる
定量分析を、所定のプログラムによって実行するに当た
り、最終的に求める定量値を算出するための検量線情報
内で別の検量線情報により定量を行なってその定量結果
を参照するステップを、１ステップで記述したプログラ
ムを用いて実行することを特徴としている。
るため、この発明では、分析装置を介して得た分析結果
から定量値を得るために２つ以上の検量線が必要となる
定量分析を、所定のプログラムによって実行するに当た
り、最終的に求める定量値を算出するための検量線情報
内で別の検量線情報により定量を行なってその定量結果
を参照するステップを、１ステップで記述したプログラ
ムを用いて実行することを特徴としている。
【０００９】
【作用】最終的な定量値を得るための検量線情報内で他
の検量線情報による定量結果を自動的に参照可能とする
ことにより、手入力を不要にしプログラム作成を容易に
する。
の検量線情報による定量結果を自動的に参照可能とする
ことにより、手入力を不要にしプログラム作成を容易に
する。
【００１０】
【実施例】図１はこの発明の実施例を説明するための説
明図である。これは、図３，図４と同じく２つの検量線
回帰式を必要とする場合の例で、図１（イ）は検量線情
報の定義、同（ロ）は検量線を示す。すなわち、図４の
アドレスＡ２に示すようなユーザ入力を定義する代わり
に、検量線情報の名称を定義するだけで図３と同様の処
理を行ない、検量線情報ｔｈｉｃｋの定量結果である厚
さ情報Ｔをプログラム処理だけで求めるられるようにし
てオペレータによる手入力を不要にするとともに、プロ
グラムステップ数が増えないようにしたものである。
明図である。これは、図３，図４と同じく２つの検量線
回帰式を必要とする場合の例で、図１（イ）は検量線情
報の定義、同（ロ）は検量線を示す。すなわち、図４の
アドレスＡ２に示すようなユーザ入力を定義する代わり
に、検量線情報の名称を定義するだけで図３と同様の処
理を行ない、検量線情報ｔｈｉｃｋの定量結果である厚
さ情報Ｔをプログラム処理だけで求めるられるようにし
てオペレータによる手入力を不要にするとともに、プロ
グラムステップ数が増えないようにしたものである。
【００１１】つまり、ユーザ入力をしなくても済むよう
にするためには、それと同様の動作を行なう専用のプロ
グラムを作成することが考えられるが、その作業は必ず
しも容易ではなく、ステップ数も多くなるのが一般的で
ある。これに対し、この発明ではステップＳ２のよう
に、検量線情報の名称を定義する１ステップだけで済ま
せることができるので、プログラムの作成も著しく簡略
化されるというわけである。また、専用のプログラムで
は参照すべき検量線情報が変わった場合の対応が煩雑と
なるが、この発明によれば該当する１箇所だけを変更す
れば良いので、このような変更についても容易に対処す
ることが可能となる。さらには、検量線情報の名称を定
義するだけであるので、これを再帰的に使用することも
可能で、プログラムの作成がより簡単になるという利点
もある。なお、上記では参照する検量線情報は１つであ
ったが、この発明は、２つ以上の場合にも同様にして適
用することができる。
にするためには、それと同様の動作を行なう専用のプロ
グラムを作成することが考えられるが、その作業は必ず
しも容易ではなく、ステップ数も多くなるのが一般的で
ある。これに対し、この発明ではステップＳ２のよう
に、検量線情報の名称を定義する１ステップだけで済ま
せることができるので、プログラムの作成も著しく簡略
化されるというわけである。また、専用のプログラムで
は参照すべき検量線情報が変わった場合の対応が煩雑と
なるが、この発明によれば該当する１箇所だけを変更す
れば良いので、このような変更についても容易に対処す
ることが可能となる。さらには、検量線情報の名称を定
義するだけであるので、これを再帰的に使用することも
可能で、プログラムの作成がより簡単になるという利点
もある。なお、上記では参照する検量線情報は１つであ
ったが、この発明は、２つ以上の場合にも同様にして適
用することができる。
【００１２】
【発明の効果】この発明によれば、最終的な定量値を得
るための検量線情報内で別の検量線情報による定量結果
を自動的に参照し得るようにしたので、オペレータによ
る手入力が不要となり、プログラムの作成も容易になる
という利点がもたらされる。
るための検量線情報内で別の検量線情報による定量結果
を自動的に参照し得るようにしたので、オペレータによ
る手入力が不要となり、プログラムの作成も容易になる
という利点がもたらされる。
【図１】この発明の実施例を説明するための説明図であ
る。
る。
【図２】１つの検量線情報による定量方式の従来例を説
明するための説明図である。
明するための説明図である。
【図３】２つの検量線情報による一方の定量方式の従来
例を説明するための説明図である。
例を説明するための説明図である。
【図４】２つの検量線情報による他方の定量方式の従来
例を説明するための説明図である。
例を説明するための説明図である。
Ｗ１〜Ｗ４…波数、Ｐ１〜Ｐ４…ピーク値、Ｃ１，Ｃ２
…ピーク強度比、Ｌ…検量線、Ｍ…テーブル、Ａ１〜Ａ
３…アドレス。
…ピーク強度比、Ｌ…検量線、Ｍ…テーブル、Ａ１〜Ａ
３…アドレス。
Claims (1)
- 【請求項１】 分析装置を介して得た分析結果から定量
値を得るために２つ以上の検量線が必要となる定量分析
を、所定のプログラムによって実行するに当たり、 最終的に求める定量値を算出するための検量線情報内で
別の検量線情報により定量を行なってその定量結果を参
照するステップを、１ステップで記述したプログラムを
用いて実行することを特徴とする検量線による定量分析
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12917692A JPH05322748A (ja) | 1992-05-22 | 1992-05-22 | 検量線による定量分析方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12917692A JPH05322748A (ja) | 1992-05-22 | 1992-05-22 | 検量線による定量分析方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05322748A true JPH05322748A (ja) | 1993-12-07 |
Family
ID=15003027
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12917692A Pending JPH05322748A (ja) | 1992-05-22 | 1992-05-22 | 検量線による定量分析方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05322748A (ja) |
-
1992
- 1992-05-22 JP JP12917692A patent/JPH05322748A/ja active Pending
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Zhang et al. | Iso-Compass: New freeware software for isotopic data reduction of LA-MC-ICP-MS | |
| CN102621339B (zh) | 自动分析装置 | |
| US4587624A (en) | Method and apparatus for correcting a curve relating an absorbance to a concentration | |
| JPH05322748A (ja) | 検量線による定量分析方法 | |
| Rousseau | Concepts of influence coefficients in XRF analysis and calibration | |
| JPH09318599A (ja) | クロマトグラフ／質量分析装置のデータ処理装置 | |
| US6710872B1 (en) | System for spectrometry | |
| JP3279756B2 (ja) | 定量計算装置 | |
| JPH08129002A (ja) | Ｓｉｍ法を用いたクロマトグラフ質量分析装置 | |
| JPH0750042B2 (ja) | スペクトル分析装置における状態分析方法 | |
| JP3422646B2 (ja) | 分析装置 | |
| JPS635266A (ja) | 分析装置 | |
| Dungs et al. | Analysis of urine samples by electrothermal atomisation-atomic-absorption spectrometry: a comparison of natural and control material | |
| JPH07104298B2 (ja) | Ｘ線分光分析におけるデータ処理方法 | |
| JPH04144051A (ja) | ガスクロマトグラフ質量分析計のデータ処理装置 | |
| JPH04190158A (ja) | クロマトグラフによる定量分析方法および装置 | |
| JP2745953B2 (ja) | Ｘ線分析装置 | |
| JPH07146258A (ja) | 蛍光ｘ線分析装置 | |
| Malakoff et al. | Advances in the use of computer techniques in flame photometry | |
| JPH11118708A (ja) | 計測情報処理装置 | |
| JPH10122962A (ja) | 分光光度計 | |
| JP2742490B2 (ja) | 部品の品質検査方案作成システムにおけるデータ解析方案作成装置 | |
| JP2000310602A (ja) | 蛍光ｘ線分析装置およびこれに使用する記録媒体 | |
| JP2560730B2 (ja) | カルシウムイオン濃度を算出する分光蛍光光度計 | |
| JPH07120381A (ja) | 検量線作成方法および自動分析装置 |