JPH0533111U - 共焦点用光スキヤナ - Google Patents

共焦点用光スキヤナ

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JPH0533111U
JPH0533111U JP8310391U JP8310391U JPH0533111U JP H0533111 U JPH0533111 U JP H0533111U JP 8310391 U JP8310391 U JP 8310391U JP 8310391 U JP8310391 U JP 8310391U JP H0533111 U JPH0533111 U JP H0533111U
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JP
Japan
Prior art keywords
pinhole
substrate
confocal optical
optical scanner
pinholes
Prior art date
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Pending
Application number
JP8310391U
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English (en)
Inventor
健雄 田名網
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
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Publication date
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Publication of JPH0533111U publication Critical patent/JPH0533111U/ja
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】 回転摺動部の要らない小型の共焦点用光スキ
ャナを実現する。 【構成】 複数のピンホ−ルが形成されたピンホ−ル基
板11を走査させピンホ−ル基板を通過したレ−ザ光を
試料に照射する共焦点用光スキャナにおいて、ピンホ−
ル基板は正方または六方に配置形成された複数のピンホ
−ルを有し、このピンホ−ル基板をXおよびY方向に動
作させるための2次元アクチュエ−タ23,25を備え
たことを特徴とする。また、前記共焦点用光スキャナに
おいて、その焦点位置にピンホ−ル基板が配置されるよ
うに一体化されると共に、ピンホ−ル基板に正方または
六方に配置形成された複数のピンホ−ルとは光軸に対し
て同位置となるように配置形成された複数のマイクロレ
ンズを有する集光基板21を備えたことを特徴とする。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は、共焦点顕微鏡などに用いるピンホ−ル基板を走査する共焦点用光ス キャナの走査手段に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
図3は共焦点用光スキャナを用いた共焦点顕微鏡の従来例を示す構成図である 。図3において、図示しない光源からの出射光は、偏向子1a、ビ−ムスプリッ タ2を通って、基板3aに複数のピンホ−ル3bが螺旋状に形成されているピン ホ−ル基板3に照射される。この照射光の内、ピンホ−ル基板3に螺旋状に配置 された多数のピンホ−ル3bの幾つかを通過した光は、1/4波長板5、対物レ ンズ6を経て試料7に集光される。試料7からの反射光は、同一の光路を通って 、ピンホ−ル基板3のピンホ−ル3bの1つに集光され、ピンホ−ル3bを通っ て、ビ−ムスプリッタ2、偏向子1bを経て、接眼レンズ8を介して、試料7の 像を目で捕らえることができる。この装置では、ピンホ−ル基板3をモ−タ4で 一定速度で回転させており、ピンホ−ル基板3の回転に伴うピンホ−ル3bの移 動により、試料7への集束光点を走査している。
【0003】
【考案が解決しようとする課題】
しかしながら、上記従来技術に示す共焦点用光スキャナにおいて、光の走査手 段は、螺旋状に配置形成された複数のピンホ−ル3bを有するピンホ−ル基板3 をモ−タ4で一定速度で回転させることにより、ピンホ−ル基板3を通過した光 を試料7に対して走査させている。したがって、走査手段として、ピンホ−ル基 板3を回転させるためにモ−タ4を用いており、大型で、また、回転摺動部があ るため、耐久性も弱く、振動も大きいという課題があった。
【0004】 本考案は上記従来技術の課題を踏まえて成されたものであり、回転摺動部の要 らない小型の共焦点用光スキャナを提供することを目的としたものである。
【0005】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するための本考案の構成は、 複数のピンホ−ルが形成されたピンホ−ル基板を走査させ、このピンホ−ル基 板を通過したレ−ザ光を試料に照射する共焦点用光スキャナにおいて、 前記ピンホ−ル基板は正方または六方に配置形成された前記複数のピンホ−ル を有し、このピンホ−ル基板をXおよびY方向に動作させるための2次元アクチ ュエ−タを備えた構成としたことを特徴とするものである。 また、前記共焦点用光スキャナにおいて、 その焦点位置に前記ピンホ−ル基板が配置されるように一体化されると共に、 前記ピンホ−ル基板に正方または六方に配置形成された前記複数のピンホ−ルと は光軸に対して同位置となるように配置形成された複数のマイクロレンズを有す る集光基板を備えた構成としたことを特徴とするものである。
【0006】
【作用】
本考案によれば、正方または六方に配置形成された複数のピンホ−ルを有する ピンホ−ル基板をアクチュエ−タによりXおよびY方向に駆動させて試料への照 射光を走査している。したがって、モ−タではなく、2次元アクチュエ−タを用 いて走査を行う構成であり、回転摺動部の要らない小型の装置にできる。
【0007】
【実施例】
以下、本考案を図面に基づいて説明する。 図1は本考案の共焦点用光スキャナに用いられるピンホ−ル基板部分の一実施 例を示す構成図およびそれを用いた場合のピンホ−ルの走査図である。 図1(イ)において、11はピンホ−ル基板であり、このピンホ−ル基板11 には、複数のピンホ−ルが正方に配置されて形成してある。12はピンホ−ル基 板11を支持する支持板である。13はピンホ−ル基板11を支持板12を介し てX方向に駆動させるX方向アクチュエ−タであり、例えば、PZTを用いてい る。14はX方向アクチュエ−タ13を支持する支持板である。15はピンホ− ル基板11を支持板14を介してY方向に駆動させるY方向アクチュエ−タであ り、例えば、PZTを用いており、他端は固定部に固定されている。このような 構成のピンホ−ル基板11は、X方向およびY方向に直交した2つのアクチュエ −タ13,15により2次元に駆動される。この時、ピンホ−ル基板11に正方 に配置形成された複数のピンホ−ルそれぞれが図1(ロ)に示すようにラスタ走 査される。なお、このピンホ−ル基板部分を用いた共焦点用光スキャナとしての 動作は、図3装置と同様であるため、その説明は省略するが、このピンホ−ル基 板部分により共焦点効果を得ることができる。したがって、モ−タではなく、2 次元アクチュエ−タを用いて光走査を行うため、小型化が可能となり、また、回 転摺動部が要らないため、耐久性も向上できる。
【0008】 なお、上記実施例において、ピンホ−ル基板11に形成された複数のピンホ− ルの配置は正方に限るものではなく、六方でも良い。また、ピンホ−ル基板11 を2次元方向に動作させるためのアクチュエ−タは、PZTに限らず、静電場を 用いたものであっても良い。
【0009】 図2は本考案の共焦点用光スキャナに用いられるピンホ−ル基板部分の他の実 施例を示す構成図である。なお、図2において図1と同一要素には同一符号を付 して重複する説明は省略する。 図2(イ)および(ロ)において、21は複数のマイクロレンズが正方または 六方に配置されて形成された集光基板であり、この集光基板6に形成された複数 のマイクロレンズは、ピンホ−ル基板11に形成された複数のピンホ−ルと光軸 に対して同一配置とされている。また、集光基板21に形成されたマイクロレン ズの焦点位置にピンホ−ル基板11に形成されたピンホ−ルがそれぞれ配置され るように、支持板22により支持されている。23は集光基板21およびピンホ −ル基板11を支持板22を介してX方向に駆動させるX方向アクチュエ−タで ある。24はX方向アクチュエ−タ23を支持する支持板である。25は集光基 板21およびピンホ−ル基板11を支持板24を介してY方向に駆動させるY方 向アクチュエ−タであり、他端は固定部に固定されている。このような構成の集 光基板21およびピンホ−ル基板11は、X方向およびY方向に直交した2つの アクチュエ−タ23,25により2次元に同時に駆動されると共に、ピンホ−ル 基板11の前に一体で配置した集光基板21により、図1の装置より、光利用効 率を向上でき、ピンホ−ル基板11からの表面反射も低減できる効果がある。な お、図示はしないが、図2のピンホ−ル基板部分を用いた共焦点用光スキャナに おいても、ピンホ−ル基板部分により共焦点効果を得ることができる。
【0010】
【考案の効果】
以上、実施例と共に具体的に説明したように、本考案によれば、モ−タではな く、2次元アクチュエ−タを用いて、光走査を行うため、ピンホ−ル基板の面積 は光束径程度で良く、アクチュエ−タも小さいため、小型化が可能となり、また 、回転摺動部が要らないため、耐久性も向上できる共焦点用光スキャナを実現で きる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案の共焦点用光スキャナに用いられるピン
ホ−ル基板部分の一実施例を示す構成図およびそれを用
いた場合のピンホ−ルの走査図である。
【図2】本考案の共焦点用光スキャナに用いられるピン
ホ−ル基板部分の他の実施例を示す構成図である。
【図3】共焦点用光スキャナを用いた共焦点顕微鏡の一
例を示す構成図である。
【符号の説明】
11 ピンホ−ル基板 12、14、22、24 支持板 13、15、23、25 アクチュエ−タ 21 集光基板

Claims (2)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数のピンホ−ルが形成されたピンホ−
    ル基板を走査させ、このピンホ−ル基板を通過したレ−
    ザ光を試料に照射する共焦点用光スキャナにおいて、 前記ピンホ−ル基板は正方または六方に配置形成された
    前記複数のピンホ−ルを有し、このピンホ−ル基板をX
    およびY方向に動作させるための2次元アクチュエ−タ
    を備えた構成としたことを特徴とする共焦点用光スキャ
    ナ。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の共焦点用光スキャナにお
    いて、 その焦点位置に前記ピンホ−ル基板が配置されるように
    一体化されると共に、前記ピンホ−ル基板に正方または
    六方に配置形成された前記複数のピンホ−ルとは光軸に
    対して同位置となるように配置形成された複数のマイク
    ロレンズを有する集光基板を備えた構成としたことを特
    徴とする共焦点用光スキャナ。
JP8310391U 1991-10-14 1991-10-14 共焦点用光スキヤナ Pending JPH0533111U (ja)

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JP8310391U JPH0533111U (ja) 1991-10-14 1991-10-14 共焦点用光スキヤナ

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Cited By (1)

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