JPH0533975Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この考案は、電子部品の電気特性を測定するの
に用いる試験用電極装置に関するものである。

〔従来の技術〕

第４図は従来の試験用電極装置の断面図、第５
図はその平面図である。図において、１は電極棒
で、その先端に接触端１ａが形成されている。２
は印刷配線中継基板で、この基板２は、電極棒１
を半田などでろう付けするランド２ａと、印刷配
線２ｂと、印刷配線２ｂを覆う電気絶縁層２ｃと
を有する。３は電極棒１をランド２ａに固着する
ろう付け剤、４は被測定物である電子部品を取付
けた印刷配線基板で、４ａは電子部品、４ｂはそ
の電極である。

この試験用電極装置は、各電極棒１の接触端１
ａを、電子部品４ａの電極４ｂに接触させて試験
信号をとり出し、印刷配線２ｂを介して外部の測
定器（図示省略）に入力して必要な試験を行なう
もので、電極棒１は、その接触端１ａが電子部品
４ａの電極４ｂにそれぞれ当接するように、位置
決めされて基板２に固着されている。

〔考案が解決しようとする問題点〕

この種の装置は、試験をする電子部品が変るた
びに、電極棒の接触端の位置を調節する必要があ
る。従来の装置では、電極棒の固定を、半田など
のろう付けによつているため、まず、電極棒を取
り外し、電極棒の接触端の上下位置を正確に位置
決めするために、ランドに付着しているろう付け
剤を取り除いたのち、電極棒を１本づつ、位置決
めしてろう付けを行ない、ろう付け剤が凝固する
まで電極棒を保持する、といつた作業が必要であ
る。このように、このろう付け作業は煩雑で、し
かも、長時間を必要とするなどの問題点があつ
た。

また、上記のように電子部品の種類を変更する
度にろう付け剤の除去作業、ろう付け作業を繰り
返し行なつた場合、基板の銅箔剥離などが生じて
基板の使用可能な期間が短くなるなどの問題があ
つた。

この考案は、上記のような問題点を解消するた
めになされたもので、基板に対し電極棒を半田な
どのろう付け作業を行なうことなく、かつ、隙間
なく圧接固定できるようにして、基板に対する電
極棒の取り付け取り外しおよび位置変更を容易
に、かつ精度よく行なうことができ、多種多様な
電子部品にスピーデイに対応できるとともに、基
板を長期間に亘つて使用可能とすることができる
電子部品試験用電極装置を提供することを目的と
している。

〔問題点を解決するための手段〕

この考案に係る電子部品試験用電極装置は、透
孔が形成されている基板と、一端に接触端が形成
されている電極棒と、上記基板の透孔に挿入され
るボルトと、このボルトに螺合可能なナツトとを
備え、かつ、上記ボルトのねじ軸に、該軸と直交
する方向へ上記電極棒が進退可能に挿通される凹
部を形成し、上記ナツトのボルトへの螺合締め付
けにより、上記電極棒を基板に着脱可能な形態で
圧接固定するように構成したことを特徴とするも
のである。

〔作用〕

上記の構成によれば、基板に電極棒をボルト・
ナツトにより圧接固定するものであるから、電子
部品の種類を変更するとき、基板に残つたろう付
け剤を除去した状態で再度、電極棒を基板にろう
付けするといつた煩雑な作業を必要とせず、電極
棒の取り付け取り外しが非常に簡単に、スピーデ
イーに行なえるとともに、基板の銅箔剥離などが
生じにくくて、該基板を長期間に亘つて再使用可
能な状態に維持することができる。

また、上記ボルトに螺合のナツトを緩めた状態
では、基板の透孔に挿入されたボルトは回転可能
であるとともに、このボルトの挿通凹部に挿入さ
れた電極棒は、その長手方向へ進退可能であり、
したがつて、電極棒の接触端の基板面と平行な面
内での位置変更は、ナツトを緩めることにより容
易になし得る。また、ナツトを締め付けた状態で
は、電極棒が基板に隙間なく圧接されて固定され
るから、電極棒の接触端の基板面に対する上下位
置が電極棒の先端形状によつて定まるので、上下
位置の変動が生じない。

〔考案の実施例〕

第１図は、この考案の一実施例の断面図、第２
図は、その中継基板の平面図、第３図はこの実施
例で用いるボルトの斜視図である。図において、
２は基板で、この実施例では中継基板である。２
ｄはランド２ａに形成されている透孔、５は透孔
２ｄに挿入されるボルトで、そのねじ軸には、軸
線に沿つたすりわり溝５ａが形成されている。６
はナツトである。

この実施例において、電極棒１は、ボルト５の
すりわり溝５ａに挿入され、ナツト６が緩められ
ている状態で、その長手方向へ進退でき、また、
ボルト５と共に回転可能あでる。そのため、電極
棒の接触端１ａの位置を、中継基板２と平行な平
面内で所望の位置に設定することができる。

また、ナツト６を締付けると、中継基板２と電
極棒１とは、密着した状態で固着されるので、電
極棒の接触端１ａの上下位置は、電極棒１の位置
変更によつて変動しない。そのため、複数の電極
棒の接触端１ａの上下位置が常に一定するので、
電子部品４ａの電極４ｂとの接触不良の問題が生
じない。

また、電極棒１は、ボルト５を介して中継基板
２のランド２ａと接継され、印刷配線２ｂを介し
て外部にとり出される。

なお、上記実施例では、基板に、ランド２ａお
よび印刷配線２ｂを形成した中継基板２を用いた
が、基板の印刷配線を廃し、電極棒１に直接導線
を接続して測定信号を引き出す構成としてもよ
い。

また、上記実施例では、すりわり溝を形成した
ボルトを用いたが、電極棒を通す透孔などの他の
挿通凹部を形成したものでもよい。

〔考案の効果〕

以上のように、この考案によれば、基板の透孔
に挿入されるボルトのねじ軸に挿通凹部を形成す
るとともに、この挿通凹部に電極棒を挿通した状
態で上記ボルトに螺合させたナツトを締め付ける
ことで、上記電極棒を基板に隙間なく、かつ、着
脱可能な形態で圧接固定することができるので電
極棒の接触端の位置変更を、簡易に、かつ、精度
よく行なうことができる。また、基板に対して電
極棒をろう付けすることなく着脱可能としたの
で、多種多様な電子部品にスピーデイに対応可能
であり、しかも、基板の銅板剥離などを発生しに
くいので、基板を長期間に亘つて使用することが
できるといつた経済的効果を併せ有することがで
きる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの考案の一実施例の断面図、第２図
はその中継基板の平面図、第３図はこの実施例で
使用するボルトの斜視図、第４図は従来装置の断
面図、第５図はその平面図である。 １……電極棒、１ａ……接触端、２……中継基
板、２ｄ……透孔、５……ボルト、５ａ……すり
わり溝、６……ナツト。なお、図中、同一符号は
それぞれ同一、または、相当部分を示す。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 透孔が形成されている基板と、一端に接触端が
   形成されている電極棒と、上記基板の透孔に挿入
   されるボルトと、このボルトに螺合可能なナツト
   とを備え、かつ、上記ボルトのねじ軸に、該軸と
   直交する方向へ上記電極棒が進退可能に挿通され
   る凹部を形成し、上記ナツトのボルトへの螺合締
   め付けにより上記電極棒を基板に着脱可能な形態
   で圧接固定するように構成したことを特徴とする
   電子部品試験用電極装置。