JPH05340968A - Automatic detecting method of type of probe - Google Patents

Automatic detecting method of type of probe

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JPH05340968A
JPH05340968A JP15336792A JP15336792A JPH05340968A JP H05340968 A JPH05340968 A JP H05340968A JP 15336792 A JP15336792 A JP 15336792A JP 15336792 A JP15336792 A JP 15336792A JP H05340968 A JPH05340968 A JP H05340968A
Authority
JP
Japan
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probe
oscilloscope
probe device
connector
protrusion
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP15336792A
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Japanese (ja)
Inventor
憲一朗 ▲はが▼
Kenichirou Haga
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Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】周囲が電気的あるいは機械的に不安定な状態で
も確実にプローブ装置の減衰比を検出する方法を提供す
ること。 【構成】プローブ装置とオシロスコープ本体との接続部
分に相当し、定められた場所に嵌着し、かつオシロスコ
ープに接触する面に突起を設けたプローブ接続用コネク
タを有したプローブ装置と、プローブ装置とオシロスコ
ープ本体との接続部分に相当し、前記接続用コネクタを
定められた場所に嵌着するためのオシロスコープ接続用
コネクタのプローブに接触する面の円の外枠に前記突起
の位置検出するためのスイッチを有したオシロスコープ
本体とを設け、コネクタ接続の際プローブ装置における
突起とオシロスコープ本体におけるスイッチとの位置関
係でプローブの種類を検出するための自動検出方法。
(57) [Abstract] [Purpose] To provide a method for reliably detecting the damping ratio of a probe device even when the surroundings are electrically or mechanically unstable. [Problem] A probe device, which corresponds to a connecting portion between a probe device and an oscilloscope main body, has a probe connecting connector that is fitted in a predetermined place, and has a protrusion on a surface that contacts the oscilloscope, A switch for detecting the position of the protrusion on the outer frame of the circle of the surface of the oscilloscope connection connector that is in contact with the probe for fitting the connection connector at a predetermined location, which corresponds to the connection portion with the oscilloscope body. An automatic detection method for detecting the type of probe based on the positional relationship between the protrusion on the probe device and the switch on the oscilloscope body when the connector is connected.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、オシロスコープに用い
るプローブ装置の種類の自動検出に関する。
FIELD OF THE INVENTION The present invention relates to automatic detection of the type of probe device used in an oscilloscope.

【0002】[0002]

【従来の技術】プローブ装置における種類のうちもっと
もポピュラーなものは減衰比である。従来よりこの減衰
比の検出方法には以下のような方法が挙げられる。第1
の方法としては、コモン(共通電位を示す場所)と信号
を本体に入力する場所との間の抵抗値を検出するための
接続点をプローブ装置におけるBNCコネクタに設け、
その抵抗値をオシロスコープ本体で読み取ることでプロ
ーブ装置における減衰比を読み取るものである。この方
法では、抵抗値を検出するための接続点となるピンの構
造が複雑なため、耐久性がなく、しばしば接続不良が発
生する。第2の方法としては、プローブ装置側のBNC
コネクタの縁が通常のものより幅が広くなっており、デ
ジタルオシロスコープ本体側のBNCコネクタの縁の周
辺には電気的接触点を設けるものである。このときは、
BNCコネクタが嵌着する際に、上記の縁と電気的接触
点との導通を検知することで、プローブ装置が接続され
ているか否かを判断する。
The most popular type of probe device is the damping ratio. Conventionally, the following method has been mentioned as a method of detecting this damping ratio. First
As a method of, the BNC connector in the probe device is provided with a connection point for detecting the resistance value between the common (where the common potential is shown) and the place where the signal is input to the main body
By reading the resistance value with the oscilloscope body, the attenuation ratio in the probe device is read. In this method, since the structure of the pin that serves as a connection point for detecting the resistance value is complicated, there is no durability and a connection failure often occurs. The second method is BNC on the probe device side.
The edge of the connector is wider than usual, and an electrical contact point is provided around the edge of the BNC connector on the main body side of the digital oscilloscope. At this time,
When the BNC connector is fitted, it is determined whether or not the probe device is connected by detecting the conduction between the edge and the electrical contact point.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】このため、第1の方法
では接続不良のため正確な減衰比を検出できないため、
トラブルがしばしば発生する。また第2の方法では、プ
ローブ装置が接続されたいるか否かしか検知しないか
ら、その減衰比が1/10であるかまた1/100であ
るか等を判断ができない。また、第1および第2の方法
はどちらも電気的接触によって減衰比等を検出するた
め、その接触面での汚れ、あるいは、周囲が電気的に不
安定な状態(フィールド)で使用した場合の検出結果が
不安定なものであるという問題があった。本発明はこの
ような点に着目してなされたものであり、その目的は接
触面での汚れ、あるいは、周囲が電気的あるいは機械的
に不安定な状態でも確実にプローブ装置の減衰比(種
類)を検出する方法を提供することにある。
Therefore, the first method cannot detect an accurate damping ratio due to a poor connection.
Trouble often occurs. Further, in the second method, since it is detected only whether or not the probe device is connected, it is impossible to judge whether the attenuation ratio is 1/10 or 1/100. In addition, both the first and second methods detect the attenuation ratio and the like by electrical contact, so that the contact surface may become dirty or the surroundings may be electrically unstable (field). There is a problem that the detection result is unstable. The present invention has been made paying attention to such a point, and its purpose is to reliably reduce the attenuation ratio (type) of the probe device even if the contact surface is dirty or the surroundings are electrically or mechanically unstable. ) Is to provide a method of detecting.

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】本発明は、プローブ装置
とオシロスコープ本体との接続部分に相当し、定められ
た場所に嵌着し、かつオシロスコープに接触する面に突
起を設けた第1のコネクタを有したプローブ装置と、プ
ローブ装置とオシロスコープ本体との接続部分に相当
し、前記コネクタを定められた場所に嵌着するための第
2のコネクタのプローブに接触する面の円の外枠に前記
突起の位置を検出するための複数のスイッチを有したオ
シロスコープ本体とを設け、コネクタ接続の際プローブ
装置における突起とオシロスコープ本体におけるスイッ
チとの位置関係でプローブの減衰比が自動的に検出され
ることを特徴としたプローブの種類の自動検出方法であ
る。
The present invention corresponds to a connecting portion between a probe device and an oscilloscope main body, and is a first connector fitted to a predetermined place and provided with a projection on a surface contacting the oscilloscope. Corresponding to a connecting portion between the probe device and the oscilloscope main body having a probe, and a circular outer frame of a surface of the second connector for contacting the probe of the second connector for fitting the connector at a predetermined location. An oscilloscope main body having a plurality of switches for detecting the position of the protrusion is provided, and when the connector is connected, the attenuation ratio of the probe is automatically detected by the positional relationship between the protrusion on the probe device and the switch on the oscilloscope main body. Is a method for automatically detecting the type of probe.

【0005】[0005]

【作用】本発明において、プローブ装置側のBNCコネ
クタの端部に突起を設け、そのの位置をオシロスコープ
本体に設けた検出スイッチで機械的に検出する、あるい
はプローブとオシロスコープ間に前記の原理と同様の光
学的な検出スイッチで検出するから、安定した動作でプ
ローブ装置の減衰比(種類)を検出することが可能とな
る。
In the present invention, a protrusion is provided at the end of the BNC connector on the probe device side, and the position of the protrusion is mechanically detected by a detection switch provided in the oscilloscope body, or between the probe and the oscilloscope the same as the above-mentioned principle. Since it is detected by the optical detection switch of, the attenuation ratio (type) of the probe device can be detected in a stable operation.

【0006】[0006]

【実施例】以下、図面を参照して本発明の機械的な場合
の実施例を詳細に説明する。図1〜図5は本発明による
減衰比を検出するための構成装置を示すものである。図
1はプローブ装置における構成を示すものである。10
はプローブ装置そのものを示し、11は突起部、12は
嵌着凹部である。図2は図1のプローブ装置10を正面
から見たものである。図3はオシロスコープ本体におけ
る、減衰比の検出部分の構成装置を示すものである。2
0はオシロスコープ本体、21は検出のためのスイッ
チ、22は嵌着凸部である。図4は図3のオシロスコー
プ本体を側面から見たものである。図5はプローブ装置
とオシロスコープ本体が嵌着している状態を示したもの
である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENT A mechanical embodiment of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. 1 to 5 show a component device for detecting the damping ratio according to the present invention. FIG. 1 shows the configuration of the probe device. 10
Indicates the probe device itself, 11 is a protrusion, and 12 is a fitting recess. FIG. 2 is a front view of the probe device 10 shown in FIG. FIG. 3 shows a constituent device of the attenuation ratio detecting portion in the oscilloscope body. Two
Reference numeral 0 is an oscilloscope body, 21 is a switch for detection, and 22 is a fitting convex portion. FIG. 4 is a side view of the oscilloscope body of FIG. FIG. 5 shows a state in which the probe device and the oscilloscope body are fitted together.

【0007】上記の構成を用いたプローブの自動検出方
法を説明する。プローブ装置10においては、図2
(a)および(b)に示すように、減衰比によって突起
部11は、嵌着凹部12に対して違った位置に存在す
る。また、オシロスコープ本体20にあっては、図3に
示すように、複数のスイッチ21がは、嵌着凸部22に
対して違った位置に存在する。
An automatic probe detection method using the above configuration will be described. In the probe device 10, FIG.
As shown in (a) and (b), the protrusion 11 is present at a different position with respect to the fitting recess 12 depending on the damping ratio. Further, in the oscilloscope main body 20, as shown in FIG. 3, the plurality of switches 21 are present at different positions with respect to the fitting convex portion 22.

【0008】また、プローブ装置10とオシロスコープ
本体20が嵌着している場合は、嵌着する位置が、図5
に示すように嵌着凹部12と嵌着凸部22とによって固
定されている。従って、突起部11の位置によって、お
されるスイッチ21が違ってくることになる。また、こ
のスイッチ21にはプッシュスイッチを用いるものとす
る。このため、スイッチ21において、押されたスイッ
チを検出することで、嵌着凹部12にたいする突起部1
1の位置が図2(a)に示すようなものであるのかもし
くは、図2(b)に示すものであるのかがオシロスコー
プ本体において検知できる。突起部11の位置が、図2
(a)であるか(b)は、すなわち減衰比の違いを表し
ているので、自動的にプローブの減衰比を検出できるこ
とになる。
Further, when the probe device 10 and the oscilloscope body 20 are fitted, the fitting position is as shown in FIG.
As shown in (4), they are fixed by the fitting concave portion 12 and the fitting convex portion 22. Therefore, the switch 21 to be pushed differs depending on the position of the protrusion 11. A push switch is used as the switch 21. Therefore, by detecting the pressed switch in the switch 21, the protrusion 1 corresponding to the fitting recess 12 is formed.
The oscilloscope main body can detect whether the position of 1 is as shown in FIG. 2 (a) or as shown in FIG. 2 (b). The position of the protrusion 11 is shown in FIG.
Since (a) or (b) represents the difference in the attenuation ratio, the attenuation ratio of the probe can be automatically detected.

【0009】前記の方法を具体的な動作で記載する。プ
ローブ装置10をオシロスコープ本体20のBNCコネ
クタ(嵌着凹部12および嵌着凸部22)に差し込み、
時計周りに90度ひねることで、BNCコネクタはロッ
クされる。このロックされる動作と同時にプローブ装置
10に備えられた突起部11の位置も固定される。この
固定される状態でのオシロスコープ本体20のパネル面
における突起部11の位置に下にスイッチ21を押し込
むためのピンを設けておくとする。すると、プローブ装
置が完全に固定すなわちロックされた状態では、ピンが
押し込まれスイッチ21がオンになる。このため第1の
効果として、プローブが接続されたことが検出できる。
また第2の効果として、図2(a)はプローブ装置の減
衰比が1/10、(b)はプローブの減衰比が1/10
0とした場合、その突起部11に対応したオシロスコー
プ本体20のパネル面の位置にスイッチ21を押し込む
ためのピンを設けておくことで、プローブ装置の減衰比
が検出できる。なお、前述の機械的スイッチを、光スイ
ッチを用い突起の位置を検出することも可能である。
The above method will be described with a specific operation. Insert the probe device 10 into the BNC connector (fitting concave portion 12 and fitting convex portion 22) of the oscilloscope body 20,
The BNC connector is locked by twisting 90 degrees clockwise. At the same time as this locking operation, the position of the protrusion 11 provided on the probe device 10 is also fixed. It is assumed that a pin for pushing the switch 21 is provided below the protruding portion 11 on the panel surface of the oscilloscope body 20 in this fixed state. Then, when the probe device is completely fixed or locked, the pin is pushed in and the switch 21 is turned on. Therefore, as a first effect, it can be detected that the probe is connected.
As a second effect, the attenuation ratio of the probe device is 1/10 in FIG. 2A, and the attenuation ratio of the probe is 1/10 in FIG. 2B.
When it is set to 0, a pin for pushing the switch 21 is provided at a position on the panel surface of the oscilloscope main body 20 corresponding to the protrusion 11, so that the attenuation ratio of the probe device can be detected. It is also possible to detect the position of the protrusion by using an optical switch as the mechanical switch described above.

【0010】[0010]

【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明によ
れば、電気的接続に頼ることなしにプローブ装置におけ
る減衰比が検出される。
As described in detail above, according to the present invention, the damping ratio in the probe device can be detected without depending on the electrical connection.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の実施例の外観図である。FIG. 1 is an external view of an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の実施例の外観図である。FIG. 2 is an external view of an embodiment of the present invention.

【図3】本発明の実施例の外観図である。FIG. 3 is an external view of an embodiment of the present invention.

【図4】本発明の実施例の外観図である。FIG. 4 is an external view of an embodiment of the present invention.

【図5】本発明の実施例の外観図である。FIG. 5 is an external view of an embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 プローブ装置 11 突起部 12 嵌着凹部 20 オシロスコープ本体 21 スイッチ 22 嵌着凸部 10 probe device 11 protrusion 12 fitting recess 20 oscilloscope body 21 switch 22 fitting protrusion

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】プローブ装置とオシロスコープ本体との接
続部分に相当し、定められた場所に嵌着し、かつオシロ
スコープに接触する面に突起を設けた第1のコネクタを
有したプローブ装置と、 プローブ装置とオシロスコープ本体との接続部分に相当
し、前記コネクタを定められた場所に嵌着するための第
2のコネクタのプローブに接触する面の円の外枠に前記
突起の位置を検出するための複数のスイッチを有したオ
シロスコープ本体とを設け、コネクタ接続の際プローブ
装置における突起とオシロスコープ本体におけるスイッ
チとの位置関係でプローブの減衰比が自動的に検出され
ることを特徴としたプローブの種類の自動検出方法。
1. A probe device, which corresponds to a connecting portion between a probe device and an oscilloscope main body, has a first connector which is fitted in a predetermined place, and has a projection on a surface which comes into contact with the oscilloscope, A portion corresponding to a connecting portion between the device and the oscilloscope main body, for detecting the position of the protrusion on an outer frame of a circle of a surface of the second connector for fitting the connector at a predetermined position, which is in contact with the probe. An oscilloscope main body having a plurality of switches is provided, and when the connector is connected, the attenuation ratio of the probe is automatically detected by the positional relationship between the protrusion on the probe device and the switch on the oscilloscope main body. Automatic detection method.
JP15336792A 1992-06-12 1992-06-12 Automatic detecting method of type of probe Withdrawn JPH05340968A (en)

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