JPH05340968A - プローブの種類の自動検出方法 - Google Patents
プローブの種類の自動検出方法Info
- Publication number
- JPH05340968A JPH05340968A JP15336792A JP15336792A JPH05340968A JP H05340968 A JPH05340968 A JP H05340968A JP 15336792 A JP15336792 A JP 15336792A JP 15336792 A JP15336792 A JP 15336792A JP H05340968 A JPH05340968 A JP H05340968A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- probe
- oscilloscope
- probe device
- connector
- protrusion
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
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- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】周囲が電気的あるいは機械的に不安定な状態で
も確実にプローブ装置の減衰比を検出する方法を提供す
ること。 【構成】プローブ装置とオシロスコープ本体との接続部
分に相当し、定められた場所に嵌着し、かつオシロスコ
ープに接触する面に突起を設けたプローブ接続用コネク
タを有したプローブ装置と、プローブ装置とオシロスコ
ープ本体との接続部分に相当し、前記接続用コネクタを
定められた場所に嵌着するためのオシロスコープ接続用
コネクタのプローブに接触する面の円の外枠に前記突起
の位置検出するためのスイッチを有したオシロスコープ
本体とを設け、コネクタ接続の際プローブ装置における
突起とオシロスコープ本体におけるスイッチとの位置関
係でプローブの種類を検出するための自動検出方法。
も確実にプローブ装置の減衰比を検出する方法を提供す
ること。 【構成】プローブ装置とオシロスコープ本体との接続部
分に相当し、定められた場所に嵌着し、かつオシロスコ
ープに接触する面に突起を設けたプローブ接続用コネク
タを有したプローブ装置と、プローブ装置とオシロスコ
ープ本体との接続部分に相当し、前記接続用コネクタを
定められた場所に嵌着するためのオシロスコープ接続用
コネクタのプローブに接触する面の円の外枠に前記突起
の位置検出するためのスイッチを有したオシロスコープ
本体とを設け、コネクタ接続の際プローブ装置における
突起とオシロスコープ本体におけるスイッチとの位置関
係でプローブの種類を検出するための自動検出方法。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、オシロスコープに用い
るプローブ装置の種類の自動検出に関する。
るプローブ装置の種類の自動検出に関する。
【0002】
【従来の技術】プローブ装置における種類のうちもっと
もポピュラーなものは減衰比である。従来よりこの減衰
比の検出方法には以下のような方法が挙げられる。第1
の方法としては、コモン(共通電位を示す場所)と信号
を本体に入力する場所との間の抵抗値を検出するための
接続点をプローブ装置におけるBNCコネクタに設け、
その抵抗値をオシロスコープ本体で読み取ることでプロ
ーブ装置における減衰比を読み取るものである。この方
法では、抵抗値を検出するための接続点となるピンの構
造が複雑なため、耐久性がなく、しばしば接続不良が発
生する。第2の方法としては、プローブ装置側のBNC
コネクタの縁が通常のものより幅が広くなっており、デ
ジタルオシロスコープ本体側のBNCコネクタの縁の周
辺には電気的接触点を設けるものである。このときは、
BNCコネクタが嵌着する際に、上記の縁と電気的接触
点との導通を検知することで、プローブ装置が接続され
ているか否かを判断する。
もポピュラーなものは減衰比である。従来よりこの減衰
比の検出方法には以下のような方法が挙げられる。第1
の方法としては、コモン(共通電位を示す場所)と信号
を本体に入力する場所との間の抵抗値を検出するための
接続点をプローブ装置におけるBNCコネクタに設け、
その抵抗値をオシロスコープ本体で読み取ることでプロ
ーブ装置における減衰比を読み取るものである。この方
法では、抵抗値を検出するための接続点となるピンの構
造が複雑なため、耐久性がなく、しばしば接続不良が発
生する。第2の方法としては、プローブ装置側のBNC
コネクタの縁が通常のものより幅が広くなっており、デ
ジタルオシロスコープ本体側のBNCコネクタの縁の周
辺には電気的接触点を設けるものである。このときは、
BNCコネクタが嵌着する際に、上記の縁と電気的接触
点との導通を検知することで、プローブ装置が接続され
ているか否かを判断する。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】このため、第1の方法
では接続不良のため正確な減衰比を検出できないため、
トラブルがしばしば発生する。また第2の方法では、プ
ローブ装置が接続されたいるか否かしか検知しないか
ら、その減衰比が1/10であるかまた1/100であ
るか等を判断ができない。また、第1および第2の方法
はどちらも電気的接触によって減衰比等を検出するた
め、その接触面での汚れ、あるいは、周囲が電気的に不
安定な状態(フィールド)で使用した場合の検出結果が
不安定なものであるという問題があった。本発明はこの
ような点に着目してなされたものであり、その目的は接
触面での汚れ、あるいは、周囲が電気的あるいは機械的
に不安定な状態でも確実にプローブ装置の減衰比(種
類)を検出する方法を提供することにある。
では接続不良のため正確な減衰比を検出できないため、
トラブルがしばしば発生する。また第2の方法では、プ
ローブ装置が接続されたいるか否かしか検知しないか
ら、その減衰比が1/10であるかまた1/100であ
るか等を判断ができない。また、第1および第2の方法
はどちらも電気的接触によって減衰比等を検出するた
め、その接触面での汚れ、あるいは、周囲が電気的に不
安定な状態(フィールド)で使用した場合の検出結果が
不安定なものであるという問題があった。本発明はこの
ような点に着目してなされたものであり、その目的は接
触面での汚れ、あるいは、周囲が電気的あるいは機械的
に不安定な状態でも確実にプローブ装置の減衰比(種
類)を検出する方法を提供することにある。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明は、プローブ装置
とオシロスコープ本体との接続部分に相当し、定められ
た場所に嵌着し、かつオシロスコープに接触する面に突
起を設けた第1のコネクタを有したプローブ装置と、プ
ローブ装置とオシロスコープ本体との接続部分に相当
し、前記コネクタを定められた場所に嵌着するための第
2のコネクタのプローブに接触する面の円の外枠に前記
突起の位置を検出するための複数のスイッチを有したオ
シロスコープ本体とを設け、コネクタ接続の際プローブ
装置における突起とオシロスコープ本体におけるスイッ
チとの位置関係でプローブの減衰比が自動的に検出され
ることを特徴としたプローブの種類の自動検出方法であ
る。
とオシロスコープ本体との接続部分に相当し、定められ
た場所に嵌着し、かつオシロスコープに接触する面に突
起を設けた第1のコネクタを有したプローブ装置と、プ
ローブ装置とオシロスコープ本体との接続部分に相当
し、前記コネクタを定められた場所に嵌着するための第
2のコネクタのプローブに接触する面の円の外枠に前記
突起の位置を検出するための複数のスイッチを有したオ
シロスコープ本体とを設け、コネクタ接続の際プローブ
装置における突起とオシロスコープ本体におけるスイッ
チとの位置関係でプローブの減衰比が自動的に検出され
ることを特徴としたプローブの種類の自動検出方法であ
る。
【0005】
【作用】本発明において、プローブ装置側のBNCコネ
クタの端部に突起を設け、そのの位置をオシロスコープ
本体に設けた検出スイッチで機械的に検出する、あるい
はプローブとオシロスコープ間に前記の原理と同様の光
学的な検出スイッチで検出するから、安定した動作でプ
ローブ装置の減衰比(種類)を検出することが可能とな
る。
クタの端部に突起を設け、そのの位置をオシロスコープ
本体に設けた検出スイッチで機械的に検出する、あるい
はプローブとオシロスコープ間に前記の原理と同様の光
学的な検出スイッチで検出するから、安定した動作でプ
ローブ装置の減衰比(種類)を検出することが可能とな
る。
【0006】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の機械的な場合
の実施例を詳細に説明する。図1〜図5は本発明による
減衰比を検出するための構成装置を示すものである。図
1はプローブ装置における構成を示すものである。10
はプローブ装置そのものを示し、11は突起部、12は
嵌着凹部である。図2は図1のプローブ装置10を正面
から見たものである。図3はオシロスコープ本体におけ
る、減衰比の検出部分の構成装置を示すものである。2
0はオシロスコープ本体、21は検出のためのスイッ
チ、22は嵌着凸部である。図4は図3のオシロスコー
プ本体を側面から見たものである。図5はプローブ装置
とオシロスコープ本体が嵌着している状態を示したもの
である。
の実施例を詳細に説明する。図1〜図5は本発明による
減衰比を検出するための構成装置を示すものである。図
1はプローブ装置における構成を示すものである。10
はプローブ装置そのものを示し、11は突起部、12は
嵌着凹部である。図2は図1のプローブ装置10を正面
から見たものである。図3はオシロスコープ本体におけ
る、減衰比の検出部分の構成装置を示すものである。2
0はオシロスコープ本体、21は検出のためのスイッ
チ、22は嵌着凸部である。図4は図3のオシロスコー
プ本体を側面から見たものである。図5はプローブ装置
とオシロスコープ本体が嵌着している状態を示したもの
である。
【0007】上記の構成を用いたプローブの自動検出方
法を説明する。プローブ装置10においては、図2
(a)および(b)に示すように、減衰比によって突起
部11は、嵌着凹部12に対して違った位置に存在す
る。また、オシロスコープ本体20にあっては、図3に
示すように、複数のスイッチ21がは、嵌着凸部22に
対して違った位置に存在する。
法を説明する。プローブ装置10においては、図2
(a)および(b)に示すように、減衰比によって突起
部11は、嵌着凹部12に対して違った位置に存在す
る。また、オシロスコープ本体20にあっては、図3に
示すように、複数のスイッチ21がは、嵌着凸部22に
対して違った位置に存在する。
【0008】また、プローブ装置10とオシロスコープ
本体20が嵌着している場合は、嵌着する位置が、図5
に示すように嵌着凹部12と嵌着凸部22とによって固
定されている。従って、突起部11の位置によって、お
されるスイッチ21が違ってくることになる。また、こ
のスイッチ21にはプッシュスイッチを用いるものとす
る。このため、スイッチ21において、押されたスイッ
チを検出することで、嵌着凹部12にたいする突起部1
1の位置が図2(a)に示すようなものであるのかもし
くは、図2(b)に示すものであるのかがオシロスコー
プ本体において検知できる。突起部11の位置が、図2
(a)であるか(b)は、すなわち減衰比の違いを表し
ているので、自動的にプローブの減衰比を検出できるこ
とになる。
本体20が嵌着している場合は、嵌着する位置が、図5
に示すように嵌着凹部12と嵌着凸部22とによって固
定されている。従って、突起部11の位置によって、お
されるスイッチ21が違ってくることになる。また、こ
のスイッチ21にはプッシュスイッチを用いるものとす
る。このため、スイッチ21において、押されたスイッ
チを検出することで、嵌着凹部12にたいする突起部1
1の位置が図2(a)に示すようなものであるのかもし
くは、図2(b)に示すものであるのかがオシロスコー
プ本体において検知できる。突起部11の位置が、図2
(a)であるか(b)は、すなわち減衰比の違いを表し
ているので、自動的にプローブの減衰比を検出できるこ
とになる。
【0009】前記の方法を具体的な動作で記載する。プ
ローブ装置10をオシロスコープ本体20のBNCコネ
クタ(嵌着凹部12および嵌着凸部22)に差し込み、
時計周りに90度ひねることで、BNCコネクタはロッ
クされる。このロックされる動作と同時にプローブ装置
10に備えられた突起部11の位置も固定される。この
固定される状態でのオシロスコープ本体20のパネル面
における突起部11の位置に下にスイッチ21を押し込
むためのピンを設けておくとする。すると、プローブ装
置が完全に固定すなわちロックされた状態では、ピンが
押し込まれスイッチ21がオンになる。このため第1の
効果として、プローブが接続されたことが検出できる。
また第2の効果として、図2(a)はプローブ装置の減
衰比が1/10、(b)はプローブの減衰比が1/10
0とした場合、その突起部11に対応したオシロスコー
プ本体20のパネル面の位置にスイッチ21を押し込む
ためのピンを設けておくことで、プローブ装置の減衰比
が検出できる。なお、前述の機械的スイッチを、光スイ
ッチを用い突起の位置を検出することも可能である。
ローブ装置10をオシロスコープ本体20のBNCコネ
クタ(嵌着凹部12および嵌着凸部22)に差し込み、
時計周りに90度ひねることで、BNCコネクタはロッ
クされる。このロックされる動作と同時にプローブ装置
10に備えられた突起部11の位置も固定される。この
固定される状態でのオシロスコープ本体20のパネル面
における突起部11の位置に下にスイッチ21を押し込
むためのピンを設けておくとする。すると、プローブ装
置が完全に固定すなわちロックされた状態では、ピンが
押し込まれスイッチ21がオンになる。このため第1の
効果として、プローブが接続されたことが検出できる。
また第2の効果として、図2(a)はプローブ装置の減
衰比が1/10、(b)はプローブの減衰比が1/10
0とした場合、その突起部11に対応したオシロスコー
プ本体20のパネル面の位置にスイッチ21を押し込む
ためのピンを設けておくことで、プローブ装置の減衰比
が検出できる。なお、前述の機械的スイッチを、光スイ
ッチを用い突起の位置を検出することも可能である。
【0010】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明によ
れば、電気的接続に頼ることなしにプローブ装置におけ
る減衰比が検出される。
れば、電気的接続に頼ることなしにプローブ装置におけ
る減衰比が検出される。
【図1】本発明の実施例の外観図である。
【図2】本発明の実施例の外観図である。
【図3】本発明の実施例の外観図である。
【図4】本発明の実施例の外観図である。
【図5】本発明の実施例の外観図である。
10 プローブ装置 11 突起部 12 嵌着凹部 20 オシロスコープ本体 21 スイッチ 22 嵌着凸部
Claims (1)
- 【請求項1】プローブ装置とオシロスコープ本体との接
続部分に相当し、定められた場所に嵌着し、かつオシロ
スコープに接触する面に突起を設けた第1のコネクタを
有したプローブ装置と、 プローブ装置とオシロスコープ本体との接続部分に相当
し、前記コネクタを定められた場所に嵌着するための第
2のコネクタのプローブに接触する面の円の外枠に前記
突起の位置を検出するための複数のスイッチを有したオ
シロスコープ本体とを設け、コネクタ接続の際プローブ
装置における突起とオシロスコープ本体におけるスイッ
チとの位置関係でプローブの減衰比が自動的に検出され
ることを特徴としたプローブの種類の自動検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15336792A JPH05340968A (ja) | 1992-06-12 | 1992-06-12 | プローブの種類の自動検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15336792A JPH05340968A (ja) | 1992-06-12 | 1992-06-12 | プローブの種類の自動検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05340968A true JPH05340968A (ja) | 1993-12-24 |
Family
ID=15560908
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15336792A Withdrawn JPH05340968A (ja) | 1992-06-12 | 1992-06-12 | プローブの種類の自動検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05340968A (ja) |
-
1992
- 1992-06-12 JP JP15336792A patent/JPH05340968A/ja not_active Withdrawn
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19990831 |