JPH05340999A - Ｉｃソケット、ｉｃ装着機構及びｉｃ測定装置 - Google Patents
Ｉｃソケット、ｉｃ装着機構及びｉｃ測定装置Info
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- JPH05340999A JPH05340999A JP4177531A JP17753192A JPH05340999A JP H05340999 A JPH05340999 A JP H05340999A JP 4177531 A JP4177531 A JP 4177531A JP 17753192 A JP17753192 A JP 17753192A JP H05340999 A JPH05340999 A JP H05340999A
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- lever
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ＩＣソケットの測子にＩＣのリードを接触さ
せるときにリードに負荷がかかって曲がるのを防止す
る。 【構成】 ＩＣソケット１として受片３と押圧片４との
間６が開いた測子２と、一端７ａを押されて回動して他
端７ｂにて上記押圧片４を上記受片３側に押圧するプッ
シュレバー７とからなるものを用い、測子２の開いた上
記間６にＩＣリードを挿し込んだ後ＩＣ装着機構により
プッシュレバー７の上記一端７ａを押して押圧片４によ
りリードを受片３に押した状態になるようにする。
せるときにリードに負荷がかかって曲がるのを防止す
る。 【構成】 ＩＣソケット１として受片３と押圧片４との
間６が開いた測子２と、一端７ａを押されて回動して他
端７ｂにて上記押圧片４を上記受片３側に押圧するプッ
シュレバー７とからなるものを用い、測子２の開いた上
記間６にＩＣリードを挿し込んだ後ＩＣ装着機構により
プッシュレバー７の上記一端７ａを押して押圧片４によ
りリードを受片３に押した状態になるようにする。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ＩＣソケット、特にＩ
Ｃのリードを測定回路に接続するＩＣソケットと、該Ｉ
ＣソケットにＩＣを装着するＩＣ装着機構と、該ＩＣ装
着機構及びＩＣソケットからなるＩＣ測定装置に関す
る。
Ｃのリードを測定回路に接続するＩＣソケットと、該Ｉ
ＣソケットにＩＣを装着するＩＣ装着機構と、該ＩＣ装
着機構及びＩＣソケットからなるＩＣ測定装置に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】ＩＣの電気的特性を測定する場合にはＩ
ＣソケットにＩＣを装着することによりＩＣの各リード
と、測定回路の端子とをＩＣソケットを介して接続する
状態にする必要がある
ＣソケットにＩＣを装着することによりＩＣの各リード
と、測定回路の端子とをＩＣソケットを介して接続する
状態にする必要がある
【０００３】ところで、従来においてＩＣソケットはＩ
Ｃの各リードと対応した測子を有し、各測子は弾性材料
からなり、閉じた口を有していた。
Ｃの各リードと対応した測子を有し、各測子は弾性材料
からなり、閉じた口を有していた。
【０００４】そして、ＩＣの各リードを各測子の閉じた
口に測子の弾性に抗して挿し込むことによりＩＣのＩＣ
ソケットへの装着を行うようになっていた。従って、そ
の挿し込まれた各リードは測子の弾性力によって測子と
弾接せしめられる。
口に測子の弾性に抗して挿し込むことによりＩＣのＩＣ
ソケットへの装着を行うようになっていた。従って、そ
の挿し込まれた各リードは測子の弾性力によって測子と
弾接せしめられる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ところで、ＩＣの高集
積化に伴って端子数が著しく多くなっているが、ＩＣの
大型化は許されない。従って、各リードは非常に微小に
なる傾向にあり、必然的に各リードの強度は非常に微弱
になる傾向にある。従って、測子の閉じた口にＩＣのリ
ードを測子の弾性力に抗して挿し込もうとするとリード
に曲がりが生じ、測子とリードとを良好に接触させるこ
とができないことが多発する。また、測子の閉じた口に
リードを測子の持つ弾性に抗して挿し込むことが繰返し
行なわれると測子の摩耗が生じるのでＩＣソケットの寿
命が短いという問題もあった。
積化に伴って端子数が著しく多くなっているが、ＩＣの
大型化は許されない。従って、各リードは非常に微小に
なる傾向にあり、必然的に各リードの強度は非常に微弱
になる傾向にある。従って、測子の閉じた口にＩＣのリ
ードを測子の弾性力に抗して挿し込もうとするとリード
に曲がりが生じ、測子とリードとを良好に接触させるこ
とができないことが多発する。また、測子の閉じた口に
リードを測子の持つ弾性に抗して挿し込むことが繰返し
行なわれると測子の摩耗が生じるのでＩＣソケットの寿
命が短いという問題もあった。
【０００６】本発明はこのような問題を解決すべく為さ
れたもので、ＩＣのリードを、測子にこれから大きな負
荷を受けることなく良好に接触させることができ、リー
ド曲りをなくすことができるようにし、そしてＩＣソケ
ットの高寿命化を図ることを目的とする。
れたもので、ＩＣのリードを、測子にこれから大きな負
荷を受けることなく良好に接触させることができ、リー
ド曲りをなくすことができるようにし、そしてＩＣソケ
ットの高寿命化を図ることを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明ＩＣソケットは、
受片とそれとの間が開いた押圧片を有した測子と、プッ
シュレバーからなり、該プッシュレバーが一端を押され
ると他端にて押圧片を受片側に押すようにしたことを特
徴とする。本発明ＩＣ装着機構は、ＩＣソケットにＩＣ
を装着するＩＣ装着機構において、チャック支持シャフ
トの下端に設けたＩＣチャックと、該シャフトに摺動自
在に取付けられたレバー駆動部材と、該レバー駆動部材
を下方向に駆動する駆動源とからなることを特徴とす
る。本発明ＩＣ測定装置は、上記ＩＣソケットと、上記
ＩＣ装着機構からなることを特徴とする。
受片とそれとの間が開いた押圧片を有した測子と、プッ
シュレバーからなり、該プッシュレバーが一端を押され
ると他端にて押圧片を受片側に押すようにしたことを特
徴とする。本発明ＩＣ装着機構は、ＩＣソケットにＩＣ
を装着するＩＣ装着機構において、チャック支持シャフ
トの下端に設けたＩＣチャックと、該シャフトに摺動自
在に取付けられたレバー駆動部材と、該レバー駆動部材
を下方向に駆動する駆動源とからなることを特徴とす
る。本発明ＩＣ測定装置は、上記ＩＣソケットと、上記
ＩＣ装着機構からなることを特徴とする。
【０００８】
【作用】本発明ＩＣソケットによれば、測子は受片と押
圧片との間が開いており、プッシュレバーを回動させる
ことにより押圧片で受片を押圧することができるので、
受片と押圧片との間が開いているときにその間にＩＣの
リードを挿し込み、その後プッシュレバーを回動させる
ことによりＩＣのリードと測子を良好に接触させた状態
にすることができる。従って、リードには受片・押圧片
間に挿し込むとき負荷をほとんどかけなくて済む。従っ
て、リード曲りの生じる虞れをなくすことができ、ま
た、リードと測子との摩耗もほとんどなくすことがで
き、ＩＣソケットの高寿命化を図ることができる。本発
明ＩＣ装着機構によれば、ＩＣを保持したＩＣチャック
を下端に有したチャック支持シャフトを動かすことによ
りＩＣを搬送し、該ＩＣの各リードがＩＣソケットの各
測子の受片と押圧片との間に挿入された状態にしたとき
駆動源によりレバー駆動部材を下降させることによりＩ
Ｃソケットのプッシュレバーを回動させて押圧片により
リードを受片に押圧して良好な装着状態にできる。本発
明ＩＣ測定装置によれば、ＩＣソケットにＩＣをＩＣ装
着機構によってリード曲りを伴うことなく装着すること
ができ、延いてはＩＣにリード曲り不良が発生する虞れ
を伴うことなくＩＣの電気的特性の測定を行うことがで
きる。
圧片との間が開いており、プッシュレバーを回動させる
ことにより押圧片で受片を押圧することができるので、
受片と押圧片との間が開いているときにその間にＩＣの
リードを挿し込み、その後プッシュレバーを回動させる
ことによりＩＣのリードと測子を良好に接触させた状態
にすることができる。従って、リードには受片・押圧片
間に挿し込むとき負荷をほとんどかけなくて済む。従っ
て、リード曲りの生じる虞れをなくすことができ、ま
た、リードと測子との摩耗もほとんどなくすことがで
き、ＩＣソケットの高寿命化を図ることができる。本発
明ＩＣ装着機構によれば、ＩＣを保持したＩＣチャック
を下端に有したチャック支持シャフトを動かすことによ
りＩＣを搬送し、該ＩＣの各リードがＩＣソケットの各
測子の受片と押圧片との間に挿入された状態にしたとき
駆動源によりレバー駆動部材を下降させることによりＩ
Ｃソケットのプッシュレバーを回動させて押圧片により
リードを受片に押圧して良好な装着状態にできる。本発
明ＩＣ測定装置によれば、ＩＣソケットにＩＣをＩＣ装
着機構によってリード曲りを伴うことなく装着すること
ができ、延いてはＩＣにリード曲り不良が発生する虞れ
を伴うことなくＩＣの電気的特性の測定を行うことがで
きる。
【０００９】
【実施例】以下、本発明ＩＣソケット、ＩＣ装着機構及
びＩＣ測定装置を図示実施例に従って詳細に説明する。
図１（Ａ）乃至（Ｄ）は本発明ＩＣソケットの一つの実
施例を示すもので、（Ａ）は斜視図、（Ｂ）は平面図、
（Ｃ）は側面図、（Ｄ）は測子とプッシュレバーを示す
斜視図である。図面において、１はＩＣソケット、２、
２、…は測子で、それぞれ金属からなり、受片３と、押
圧片４と、図示しない測定回路に接続される端子５が一
体に形成されている。
びＩＣ測定装置を図示実施例に従って詳細に説明する。
図１（Ａ）乃至（Ｄ）は本発明ＩＣソケットの一つの実
施例を示すもので、（Ａ）は斜視図、（Ｂ）は平面図、
（Ｃ）は側面図、（Ｄ）は測子とプッシュレバーを示す
斜視図である。図面において、１はＩＣソケット、２、
２、…は測子で、それぞれ金属からなり、受片３と、押
圧片４と、図示しない測定回路に接続される端子５が一
体に形成されている。
【００１０】６は測子２の受片３と押圧片４との間の部
分（便宜上 以後「開口」という。）で、通常時には測
子２自身の弾性によりＩＣのリードが通り得る間隔を有
して開いている。尚、押圧片４は受片３の上端と対応す
るところでく字状に曲折している。７はプッシュレバー
で、例えば樹脂あるいは金属からなり、中間部にてレバ
ー支持軸８により回動自在に支持されている。そして、
プッシュレバー７の端部７ｂは押圧片４の上記曲折部に
外側から接している。
分（便宜上 以後「開口」という。）で、通常時には測
子２自身の弾性によりＩＣのリードが通り得る間隔を有
して開いている。尚、押圧片４は受片３の上端と対応す
るところでく字状に曲折している。７はプッシュレバー
で、例えば樹脂あるいは金属からなり、中間部にてレバ
ー支持軸８により回動自在に支持されている。そして、
プッシュレバー７の端部７ｂは押圧片４の上記曲折部に
外側から接している。
【００１１】９は例えば樹脂からなるＩＣソケットボデ
ィであり、これには測子２とプッシュレバー７の組み合
わせがＩＣのリードに対応して設けられている。図面で
は、測子２とプッシュレバーの組み合わせが１０である
が、実際には数十から数百あることになる。図２
（Ａ）、（Ｂ）はＩＣソケット１の動作を示す測子２及
びプッシュレバー７の拡大正面図である。
ィであり、これには測子２とプッシュレバー７の組み合
わせがＩＣのリードに対応して設けられている。図面で
は、測子２とプッシュレバーの組み合わせが１０である
が、実際には数十から数百あることになる。図２
（Ａ）、（Ｂ）はＩＣソケット１の動作を示す測子２及
びプッシュレバー７の拡大正面図である。
【００１２】通常時は各測子２は自身が持つ弾性力によ
り図２（Ａ）に示すように開口６が開いている。１０は
その弾性力の作用する方向を示す矢印である。次に、図
２（Ｂ）に示すように、プッシュレバー７の一端７ａを
矢印１１に示すように上側から押すと、該プッシュレバ
ー７は矢印１２に示すように回動し、押圧片４のプッシ
ュレバー７の端部７ｂと接する位置がく字状に曲折した
部分から上側に移動し、押圧片４は矢印１３に示す方向
に、即ち受片３側に移動せしめられ、開口６が閉じる。
り図２（Ａ）に示すように開口６が開いている。１０は
その弾性力の作用する方向を示す矢印である。次に、図
２（Ｂ）に示すように、プッシュレバー７の一端７ａを
矢印１１に示すように上側から押すと、該プッシュレバ
ー７は矢印１２に示すように回動し、押圧片４のプッシ
ュレバー７の端部７ｂと接する位置がく字状に曲折した
部分から上側に移動し、押圧片４は矢印１３に示す方向
に、即ち受片３側に移動せしめられ、開口６が閉じる。
【００１３】そして、実際にＩＣをＩＣソケット１に装
着する動作を示すのが図３（Ａ）乃至（Ｃ）である。図
３（Ａ）に示すように測子２の上記開口６を開いた状態
でそこへのＩＣ１４のリード１５の挿入を待つ。次に、
図３（Ｂ）に示すように、ＩＣ１４を各リード１５がそ
れと対応する測子２の開口６に挿入される位置に搬送す
る。
着する動作を示すのが図３（Ａ）乃至（Ｃ）である。図
３（Ａ）に示すように測子２の上記開口６を開いた状態
でそこへのＩＣ１４のリード１５の挿入を待つ。次に、
図３（Ｂ）に示すように、ＩＣ１４を各リード１５がそ
れと対応する測子２の開口６に挿入される位置に搬送す
る。
【００１４】次に、図３（Ｃ）に示すように、プッシュ
レバー７の端部（特許請求の範囲における一端に相当）
７ａに矢印１１に示す方向の力を加える。すると、それ
によってプッシュレバー７が回動し、押圧片４がＩＣ１
４のリード１５を受片３に押圧し、測子２とリード１５
とが接触する状態になる。そして、この状態で測定が可
能になる。
レバー７の端部（特許請求の範囲における一端に相当）
７ａに矢印１１に示す方向の力を加える。すると、それ
によってプッシュレバー７が回動し、押圧片４がＩＣ１
４のリード１５を受片３に押圧し、測子２とリード１５
とが接触する状態になる。そして、この状態で測定が可
能になる。
【００１５】図１に示すＩＣソケット１によれば、測子
２の受片３と押圧片４との間の開いた状態の開口６にＩ
Ｃ１４のリード１５を挿し込み、その後、プッシュレバ
ー７によって押圧片４を押すことにより押圧片４により
リード１５を受片３に押圧することにより測子２とリー
ド１５とを良好に接触せしめることができる。従って、
リード１５を無理やり測子の閉じた開口に通すというこ
とが必要でなくなり、リード曲りの発生する虞れがなく
なる。また、ＩＣソケット１を繰返し使用しても測子２
がリード１５との摩擦により、摩耗する虞れがなくな
り、ＩＣソケット１の寿命が永くなる。
２の受片３と押圧片４との間の開いた状態の開口６にＩ
Ｃ１４のリード１５を挿し込み、その後、プッシュレバ
ー７によって押圧片４を押すことにより押圧片４により
リード１５を受片３に押圧することにより測子２とリー
ド１５とを良好に接触せしめることができる。従って、
リード１５を無理やり測子の閉じた開口に通すというこ
とが必要でなくなり、リード曲りの発生する虞れがなく
なる。また、ＩＣソケット１を繰返し使用しても測子２
がリード１５との摩擦により、摩耗する虞れがなくな
り、ＩＣソケット１の寿命が永くなる。
【００１６】図４は本発明ＩＣ測定装置の一つの実施例
を示す断面図である。本ＩＣ測定装置は、図１に示した
ＩＣソケット１に本発明ＩＣ装着機構の一つの実施例１
６を組み合せたものである。ＩＣ装着機構１６は、チャ
ック支持シャフト１７の下端にＩＣ１４をそのボディに
て真空吸着するＩＣチャック１８と、上記チャック支持
シャフト１７に摺動自在に外嵌状に取付けられたレバー
駆動部材１９と、該レバー駆動部材１９を下降せしめる
駆動源たるエアーシリンダ２０からなる。
を示す断面図である。本ＩＣ測定装置は、図１に示した
ＩＣソケット１に本発明ＩＣ装着機構の一つの実施例１
６を組み合せたものである。ＩＣ装着機構１６は、チャ
ック支持シャフト１７の下端にＩＣ１４をそのボディに
て真空吸着するＩＣチャック１８と、上記チャック支持
シャフト１７に摺動自在に外嵌状に取付けられたレバー
駆動部材１９と、該レバー駆動部材１９を下降せしめる
駆動源たるエアーシリンダ２０からなる。
【００１７】上記チャック支持シャフト１７は板２１と
固定され、該板２１にブラケット２２を介して上記エア
ーシリンダ２０が取付けられている。２３は上記チャッ
ク支持シャフト１７に固定されたストッパで、上記レバ
ー駆動部材１９の上側限界点を規定する。２４はベアリ
ングで、該ベアリング２４を介してレバー駆動部材１９
がチャック支持シャフト１７に摺動自在に取付けられて
いる。２５は上記レバー駆動部材１９と、ＩＣチャック
１８との間に縮設されたスプリングで、チャック支持シ
ャフト１７に外嵌された状態で縮設されている。
固定され、該板２１にブラケット２２を介して上記エア
ーシリンダ２０が取付けられている。２３は上記チャッ
ク支持シャフト１７に固定されたストッパで、上記レバ
ー駆動部材１９の上側限界点を規定する。２４はベアリ
ングで、該ベアリング２４を介してレバー駆動部材１９
がチャック支持シャフト１７に摺動自在に取付けられて
いる。２５は上記レバー駆動部材１９と、ＩＣチャック
１８との間に縮設されたスプリングで、チャック支持シ
ャフト１７に外嵌された状態で縮設されている。
【００１８】ＩＣ装着機構１６は通常状態では図４に示
すようにエアシリンダ２０がロッド２６によってレバー
駆動部材１９を下側に押す動作をしておらず、従って、
レバー駆動部材１９はスプリング２５の弾力によってス
トッパ２３に当接してそれ以上の上方向への移動を阻ま
れた状態にある。２７、２７はレバー駆動部材１９の両
端のレバープッシュ部である。次に、図５（Ａ）、
（Ｂ）に従ってＩＣ測定装置の動作を説明する。
すようにエアシリンダ２０がロッド２６によってレバー
駆動部材１９を下側に押す動作をしておらず、従って、
レバー駆動部材１９はスプリング２５の弾力によってス
トッパ２３に当接してそれ以上の上方向への移動を阻ま
れた状態にある。２７、２７はレバー駆動部材１９の両
端のレバープッシュ部である。次に、図５（Ａ）、
（Ｂ）に従ってＩＣ測定装置の動作を説明する。
【００１９】板２１、チャック支持シャフト１７、ＩＣ
チャック１８を一体に移動して該ＩＣチャック１８に真
空吸着されたＩＣ１４を、その各リード１５、１５、…
がＩＣソケット１の各測子２、２、…の開口６、６、…
上方に位置するようにＸ、Ｙ方向に位置決めし、次に、
各リード１５、１５、…が開口６、６、…内に入るよう
にＩＣソケット１を下降してＺ方向における位置決めを
する。図５（Ａ）はかかる位置決めが終了した状態を示
す。
チャック１８を一体に移動して該ＩＣチャック１８に真
空吸着されたＩＣ１４を、その各リード１５、１５、…
がＩＣソケット１の各測子２、２、…の開口６、６、…
上方に位置するようにＸ、Ｙ方向に位置決めし、次に、
各リード１５、１５、…が開口６、６、…内に入るよう
にＩＣソケット１を下降してＺ方向における位置決めを
する。図５（Ａ）はかかる位置決めが終了した状態を示
す。
【００２０】次に、エアーシリンダ２０を駆動すること
によって、ロッド２６によってレバー駆動部材１９を下
側に押す。すると、レバー駆動部材１９はスプリング２
５の弾性力に抗して下降せしめられる。すると、レバー
駆動部材１９の両端のレバープッシュ部２７、２７がプ
ッシュレバー７、７、…の端部（一端）７ａ、７ａ、…
を下側へ押す。すると、前述したことから明らかなよう
に、ＩＣソケット１の各測子２、２、…にＩＣ１４のリ
ード１５、１５、…が接触せしめられた状態になる。従
って、本ＩＣ測定装置によれば、ＩＣ１４の各リード１
５、１５、…をＩＣ装着機構１６によりＩＣソケット１
に良好に接続した状態にすることができ、延いてはＩＣ
ソケット１の測子２、２、…の端子に接続された図示し
ない測定回路に接続することができ、正確なＩＣ測定が
可能になる。
によって、ロッド２６によってレバー駆動部材１９を下
側に押す。すると、レバー駆動部材１９はスプリング２
５の弾性力に抗して下降せしめられる。すると、レバー
駆動部材１９の両端のレバープッシュ部２７、２７がプ
ッシュレバー７、７、…の端部（一端）７ａ、７ａ、…
を下側へ押す。すると、前述したことから明らかなよう
に、ＩＣソケット１の各測子２、２、…にＩＣ１４のリ
ード１５、１５、…が接触せしめられた状態になる。従
って、本ＩＣ測定装置によれば、ＩＣ１４の各リード１
５、１５、…をＩＣ装着機構１６によりＩＣソケット１
に良好に接続した状態にすることができ、延いてはＩＣ
ソケット１の測子２、２、…の端子に接続された図示し
ない測定回路に接続することができ、正確なＩＣ測定が
可能になる。
【００２１】
【発明の効果】本発明ＩＣソケットは、受片とそれとの
間が開いた押圧片を有した測子と、プッシュレバーから
なり、該プッシュレバーが一端を押されると他端にて押
圧片を受片側に押すようにしたことを特徴とする。従っ
て、本発明ＩＣソケットによれば、測子は受片と押圧片
との間が開いており、プッシュレバーを回動させること
により押圧片で受片を押圧することができるので、受片
と押圧片との間が開いているときにその間にＩＣのリー
ドを挿し込み、その後プッシュレバーを回動させること
によりＩＣのリードと測子を良好に接触させた状態にす
ることができ、リードには受片・押圧片間に挿し込むと
き負荷をほとんどかけなくて済む。従って、リード曲り
を防止することができる。
間が開いた押圧片を有した測子と、プッシュレバーから
なり、該プッシュレバーが一端を押されると他端にて押
圧片を受片側に押すようにしたことを特徴とする。従っ
て、本発明ＩＣソケットによれば、測子は受片と押圧片
との間が開いており、プッシュレバーを回動させること
により押圧片で受片を押圧することができるので、受片
と押圧片との間が開いているときにその間にＩＣのリー
ドを挿し込み、その後プッシュレバーを回動させること
によりＩＣのリードと測子を良好に接触させた状態にす
ることができ、リードには受片・押圧片間に挿し込むと
き負荷をほとんどかけなくて済む。従って、リード曲り
を防止することができる。
【００２２】本発明ＩＣ装着機構は、ＩＣソケットにＩ
Ｃを装着するＩＣ装着機構において、チャック支持シャ
フトの下端に設けたＩＣチャックと、該シャフトに摺動
自在に取付けられたレバー駆動部材と、該レバー駆動部
材を下方向に駆動する駆動源とからなることを特徴とす
る。従って、本発明ＩＣ装着機構によれば、ＩＣを保持
したＩＣチャックを下端に有したチャック支持シャフト
を動かすことによりＩＣを搬送し、ＩＣの各リードがＩ
Ｃソケットの各測子の受片と押圧片との間に挿入された
状態にしたとき駆動源によりレバー駆動部材を下降させ
ることによりＩＣソケットのプッシュレバーを回動させ
て押圧片によりリードを受片に押圧して良好な装着状態
にできる。
Ｃを装着するＩＣ装着機構において、チャック支持シャ
フトの下端に設けたＩＣチャックと、該シャフトに摺動
自在に取付けられたレバー駆動部材と、該レバー駆動部
材を下方向に駆動する駆動源とからなることを特徴とす
る。従って、本発明ＩＣ装着機構によれば、ＩＣを保持
したＩＣチャックを下端に有したチャック支持シャフト
を動かすことによりＩＣを搬送し、ＩＣの各リードがＩ
Ｃソケットの各測子の受片と押圧片との間に挿入された
状態にしたとき駆動源によりレバー駆動部材を下降させ
ることによりＩＣソケットのプッシュレバーを回動させ
て押圧片によりリードを受片に押圧して良好な装着状態
にできる。
【００２３】本発明ＩＣ測定装置は、請求項１のＩＣソ
ケットと、請求項２のＩＣ装着機構からなることを特徴
とする。従って、本発明ＩＣ測定装置によれば、ＩＣソ
ケットにＩＣリードをＩＣ装着機構によってリード曲り
を伴うことなく装着することができ、延いてはＩＣにリ
ード曲り不良が発生する虞れを伴うことなくＩＣの電気
的特性の測定をスムーズに行うことができる。
ケットと、請求項２のＩＣ装着機構からなることを特徴
とする。従って、本発明ＩＣ測定装置によれば、ＩＣソ
ケットにＩＣリードをＩＣ装着機構によってリード曲り
を伴うことなく装着することができ、延いてはＩＣにリ
ード曲り不良が発生する虞れを伴うことなくＩＣの電気
的特性の測定をスムーズに行うことができる。
【図１】（Ａ）乃至（Ｄ）は本発明のＩＣソケットの一
つの実施例を示すもので、（Ａ）は斜視図、（Ｂ）は平
面図、（Ｃ）は側面図、（Ｄ）は測子とプッシュレバー
を示す斜視図である。
つの実施例を示すもので、（Ａ）は斜視図、（Ｂ）は平
面図、（Ｃ）は側面図、（Ｄ）は測子とプッシュレバー
を示す斜視図である。
【図２】（Ａ）、（Ｂ）はＩＣソケットの動作を示す測
子とプッシュレバーの拡大正面図で、（Ａ）は受片と押
圧片の間が開いたときの状態を示し、（Ｂ）は同じく閉
じた時の状態を示す。
子とプッシュレバーの拡大正面図で、（Ａ）は受片と押
圧片の間が開いたときの状態を示し、（Ｂ）は同じく閉
じた時の状態を示す。
【図３】（Ａ）乃至（Ｃ）はＩＣソケットの動作を示す
断面図で、（Ａ）はＩＣをＩＣソケット上に位置させた
状態を示し、（Ｂ）はＩＣのリードを受片と押圧片との
間に挿し込んだ状態を示し、（Ｃ）は押圧片でＩＣのリ
ードを受片に押圧した状態を示す
断面図で、（Ａ）はＩＣをＩＣソケット上に位置させた
状態を示し、（Ｂ）はＩＣのリードを受片と押圧片との
間に挿し込んだ状態を示し、（Ｃ）は押圧片でＩＣのリ
ードを受片に押圧した状態を示す
【図４】本発明ＩＣ測定装置の一つの実施例を示す断面
図である。
図である。
【図５】（Ａ）、（Ｂ）は図４に示したＩＣ測定装置の
動作を示す断面図で、（Ａ）はＩＣのリードを受片と押
圧片との間に挿し込んだ状態を示し、（Ｂ）は押圧片で
ＩＣのリードを受片に押圧した状態を示す。
動作を示す断面図で、（Ａ）はＩＣのリードを受片と押
圧片との間に挿し込んだ状態を示し、（Ｂ）は押圧片で
ＩＣのリードを受片に押圧した状態を示す。
１ ＩＣソケット ２ 測子 ３ 受片 ４ 押圧片 ６ 受片と押圧片との間 ７ プッシュレバー １４ ＩＣ １５ ＩＣのリード １６ ＩＣ装着機構 １７ チャック支持シャフト １８ ＩＣチャック １９ レバー駆動部材 ２０ 駆動源
Claims (3)
- 【請求項１】 ＩＣの各リードに対応して設けられた測
子と、該各測子と対応して設けられたプッシュレバーか
らなり、 上記各測子は受片とそれとの間が開いた押圧片を有し、 上記各プッシュレバーは一端を上側から押されると回動
して他端にて上記各押圧片を各受片側に押圧するように
されてなることを特徴とするＩＣソケット - 【請求項２】 チャック支持シャフトの下端に設けら
れ、ＩＣをそのパッケージにて保持するＩＣチャック
と、 上記チャック支持シャフトに摺動自在に取付けられＩＣ
ソケットのプッシュレバーの一端を押圧するレバー駆動
部材と、 上記レバー駆動部材を下方向に移動させる駆動源と、 からなることを特徴とするＩＣ装着機構 - 【請求項３】 ＩＣの各リードに対応して設けられた測
子と該測子と対応して設けられＩＣリードを測子に接触
せしめるプッシュレバーを有するＩＣソケットと、該Ｉ
ＣソケットにＩＣを装着するＩＣ装着機構からなり、 上記ＩＣソケットの各測子は受片とそれとの間が開いた
押圧片を有し、 上記ＩＣソケットの各プッシュレバーは一端を上側から
押されると回動して他端にて上記押圧片を受片側に押圧
するようにされ、 上記ＩＣ装着機構は、チャック支持シャフトの下端に設
けられＩＣをそのパッケージにて保持するＩＣチャック
と、上記チャック支持シャフトに摺動自在に取付けら
れ、上記プッシュレバーの上記一端を押圧するレバー駆
動部材と、該レバー駆動部材を下方向に移動させる駆動
源と、からなり、 通常時は上記ＩＣソケットの各測子の受片と押圧片との
間が開いた状態に保たれ、 上記ＩＣ装着機構によりそのＩＣチャックに保持された
ＩＣが各リードを各測子の受片と押圧片との間に挿入さ
れた位置に搬送されたとき、上記駆動源により上記レバ
ー駆動部材が下降せしめられて上記各プッシュレバーの
上記一端が下側に押され、それによって回動したプッシ
ュレバーの他端によって各測子の押圧片がＩＣのリード
を受片に押圧するようにしてなることを特徴とするＩＣ
測定装置
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4177531A JPH05340999A (ja) | 1992-06-11 | 1992-06-11 | Ｉｃソケット、ｉｃ装着機構及びｉｃ測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4177531A JPH05340999A (ja) | 1992-06-11 | 1992-06-11 | Ｉｃソケット、ｉｃ装着機構及びｉｃ測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05340999A true JPH05340999A (ja) | 1993-12-24 |
Family
ID=16032562
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4177531A Pending JPH05340999A (ja) | 1992-06-11 | 1992-06-11 | Ｉｃソケット、ｉｃ装着機構及びｉｃ測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05340999A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101477446B1 (ko) * | 2010-12-13 | 2014-12-29 | 쇼와 덴코 가부시키가이샤 | 연결 소켓, 상기 연결 소켓을 사용한 콘덴서 소자 제조용 지그, 콘덴서 소자의 제조 방법, 및 콘덴서의 제조 방법 |
-
1992
- 1992-06-11 JP JP4177531A patent/JPH05340999A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101477446B1 (ko) * | 2010-12-13 | 2014-12-29 | 쇼와 덴코 가부시키가이샤 | 연결 소켓, 상기 연결 소켓을 사용한 콘덴서 소자 제조용 지그, 콘덴서 소자의 제조 방법, 및 콘덴서의 제조 방법 |
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