JPH05342638A - 光ディスクの検査装置及びその検査方法 - Google Patents
光ディスクの検査装置及びその検査方法Info
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- JPH05342638A JPH05342638A JP14913592A JP14913592A JPH05342638A JP H05342638 A JPH05342638 A JP H05342638A JP 14913592 A JP14913592 A JP 14913592A JP 14913592 A JP14913592 A JP 14913592A JP H05342638 A JPH05342638 A JP H05342638A
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- groove
- optical disc
- optical disk
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 連続溝方式光ディスクのグルーブ欠陥検査に
おいて、簡単な構成で、しかも欠陥位置の正確な情報を
得ることができる光ディスクの検査装置及びその検査方
法を提供する。 【構成】 ディスク再生装置２０で光ディスクをグルー
ブトラッキングで再生し、欠陥場所の再生信号があるし
きい値２３を越えたものを欠陥として検出する。検出し
た欠陥は、大きさ検出回路３０、ゲート回路３１により
ディスクの記録・再生上問題となる大きな欠陥だけ取り
出し、メモリ２９に記憶する。このときの欠陥位置は、
ディスク再生装置２０の回転信号２２を利用しトラック
位置と角度位置を検出する。
おいて、簡単な構成で、しかも欠陥位置の正確な情報を
得ることができる光ディスクの検査装置及びその検査方
法を提供する。 【構成】 ディスク再生装置２０で光ディスクをグルー
ブトラッキングで再生し、欠陥場所の再生信号があるし
きい値２３を越えたものを欠陥として検出する。検出し
た欠陥は、大きさ検出回路３０、ゲート回路３１により
ディスクの記録・再生上問題となる大きな欠陥だけ取り
出し、メモリ２９に記憶する。このときの欠陥位置は、
ディスク再生装置２０の回転信号２２を利用しトラック
位置と角度位置を検出する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、連続溝方式光ディスク
のグルーブ欠陥を検出する光ディスクの検査装置及びそ
の検査方法に関する。
のグルーブ欠陥を検出する光ディスクの検査装置及びそ
の検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】図４は、例えば、特開平２−１２３５３
７号公報に示された従来の光ディスクの検査装置の光学
系の構成を示す図である。また、図５は、従来の光ディ
スクの検査装置における２個のレーザスポットに対する
グルーブ欠陥の位置関係を示す図である。さらに、図６
は、従来の光ディスクの検査装置における２個の検出信
号の波形図である。
７号公報に示された従来の光ディスクの検査装置の光学
系の構成を示す図である。また、図５は、従来の光ディ
スクの検査装置における２個のレーザスポットに対する
グルーブ欠陥の位置関係を示す図である。さらに、図６
は、従来の光ディスクの検査装置における２個の検出信
号の波形図である。
【０００３】図４において、１は光ディスク、２はスピ
ンドル、３ａ及び３ｂは投光レンズ、４ａ及び４ｂは受
光器、５はハーフミラー、６はミラーである。
ンドル、３ａ及び３ｂは投光レンズ、４ａ及び４ｂは受
光器、５はハーフミラー、６はミラーである。
【０００４】従来のグルーブ欠陥の検出は上記のように
構成されている検査装置により行われていた。図４、図
５及び図６を参照しながら従来例の説明をする。スピン
ドル２により回転する被検査光ディスク１に対して、１
個の光源よりのレーザビームＴを、ハーフミラー５とミ
ラー６とにより２本のビームＴ１，Ｔ２として、それぞ
れを投光レンズ３ａ，３ｂにより集光して照射する。照
射位置ｐａ，ｐｂは、図５に示すように光ディスク１の
半径方向（矢印ｒ方向）で、互いに干渉しない範囲の近
接した位置とし、それぞれが光ディスク表面にスポット
Ｓａ，Ｓｂを形成する。各スポットの１次回折光Ｒ１
ａ，Ｒ１ｂに対する受光器４ａ，４ｂを設けそれぞれの
信号をＡ信号、Ｂ信号とする。ただし、１次以上の適当
な複数の回折光を受光するように、受光器４ａ，４ｂを
配置してもよいが、その場合は受光器４ａ，４ｂが回折
光のみを受光し、回折光の角度以外の方向の散乱光を受
光しないように設定することが必要である。
構成されている検査装置により行われていた。図４、図
５及び図６を参照しながら従来例の説明をする。スピン
ドル２により回転する被検査光ディスク１に対して、１
個の光源よりのレーザビームＴを、ハーフミラー５とミ
ラー６とにより２本のビームＴ１，Ｔ２として、それぞ
れを投光レンズ３ａ，３ｂにより集光して照射する。照
射位置ｐａ，ｐｂは、図５に示すように光ディスク１の
半径方向（矢印ｒ方向）で、互いに干渉しない範囲の近
接した位置とし、それぞれが光ディスク表面にスポット
Ｓａ，Ｓｂを形成する。各スポットの１次回折光Ｒ１
ａ，Ｒ１ｂに対する受光器４ａ，４ｂを設けそれぞれの
信号をＡ信号、Ｂ信号とする。ただし、１次以上の適当
な複数の回折光を受光するように、受光器４ａ，４ｂを
配置してもよいが、その場合は受光器４ａ，４ｂが回折
光のみを受光し、回折光の角度以外の方向の散乱光を受
光しないように設定することが必要である。
【０００５】さて、スポットＳａ，Ｓｂは、その中に図
５に示すように多数のＩＤピット１ｂが含まれる直径と
する。ＩＤピット１ｂにより、スポットＳａ，Ｓｂの反
射光は散乱光となって受光器４ａ，４ｂの受光量が減少
し、Ａ信号、Ｂ信号のレベルは図６に示す信号（ロ）の
ようにそれぞれ低下する。いま、一方のスポットＳａの
位置にグルーブ欠陥（イ）があるときは、これに対する
回折光が失われ、時点ｔ0においてＡ信号レベルを更に
低下させる。これを図６におけるＡ信号の（ロ）に付加
した（イ）で示す。この点をさらに詳細に述べるとグル
ーブ欠陥がないＩＤ部においては、ＩＤピット１ｂによ
る散乱光のために、信号レベルは低下するが、しかしグ
ルーブによる回折光は依然として存在するはずである。
これに対してグルーブ欠陥があるときは、その回折光が
真に消失して、その分が信号レベルをさらに低下させる
わけである。
５に示すように多数のＩＤピット１ｂが含まれる直径と
する。ＩＤピット１ｂにより、スポットＳａ，Ｓｂの反
射光は散乱光となって受光器４ａ，４ｂの受光量が減少
し、Ａ信号、Ｂ信号のレベルは図６に示す信号（ロ）の
ようにそれぞれ低下する。いま、一方のスポットＳａの
位置にグルーブ欠陥（イ）があるときは、これに対する
回折光が失われ、時点ｔ0においてＡ信号レベルを更に
低下させる。これを図６におけるＡ信号の（ロ）に付加
した（イ）で示す。この点をさらに詳細に述べるとグル
ーブ欠陥がないＩＤ部においては、ＩＤピット１ｂによ
る散乱光のために、信号レベルは低下するが、しかしグ
ルーブによる回折光は依然として存在するはずである。
これに対してグルーブ欠陥があるときは、その回折光が
真に消失して、その分が信号レベルをさらに低下させる
わけである。
【０００６】以上のＡ信号とＢ信号をコンパレータによ
り比較して、それらの差信号を作れば、ＩＤピット１ｂ
の信号（ロ）は消去されて望むところのグルーブ欠陥信
号（イ）が検出される。
り比較して、それらの差信号を作れば、ＩＤピット１ｂ
の信号（ロ）は消去されて望むところのグルーブ欠陥信
号（イ）が検出される。
【０００７】次に、図５において、未書き込みのデータ
部にグルーブ欠陥（イ）’があるときには、これに対応
して図６のＡ信号に時点ｔ1に（イ）’が検出され、上
記の差信号においてもその波形はそのまま得られる。す
なわち、データ部に対しても同様にグルーブ欠陥が検出
され、したがってＩＤピット１ｂの有無に無関係にグル
ーブ欠陥が検出されるものである。
部にグルーブ欠陥（イ）’があるときには、これに対応
して図６のＡ信号に時点ｔ1に（イ）’が検出され、上
記の差信号においてもその波形はそのまま得られる。す
なわち、データ部に対しても同様にグルーブ欠陥が検出
され、したがってＩＤピット１ｂの有無に無関係にグル
ーブ欠陥が検出されるものである。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】従来の光ディスクの検
査装置におけるグルーブ欠陥の検出は、レーザビームを
２本使い、受光器も複数個必要としているので、通常の
ディスク再生装置に比べ光学系が複雑になるという問題
点があった。
査装置におけるグルーブ欠陥の検出は、レーザビームを
２本使い、受光器も複数個必要としているので、通常の
ディスク再生装置に比べ光学系が複雑になるという問題
点があった。
【０００９】また、トラックピッチに比較して十分大き
なビームスポットを２個照射して欠陥の検出をしている
ので、光ディスク面上の欠陥の正確なトラック位置、基
準位置からの角度位置を特定できないという問題点があ
った。
なビームスポットを２個照射して欠陥の検出をしている
ので、光ディスク面上の欠陥の正確なトラック位置、基
準位置からの角度位置を特定できないという問題点があ
った。
【００１０】さらに、特開平３−７３４４０号公報は、
光ディスクのランド部をトラッキングさせてその再生信
号を処理することにより、光ディスク上の欠陥を検査す
る装置を提案している。この装置によれば、１組の光学
系で欠陥の検査が可能であり、その位置も正確に求める
ことができるが、グルーブ欠陥等の欠陥に対しては、再
生信号上の変化が少ないため検査が非常に困難であり、
さらに現在広く採用されているセクター毎にグルーブの
一部をミラー面とした連続サーボ・フォーマットではグ
ルーブ欠陥と、前記ミラー面との区別がつかないという
問題点があった。
光ディスクのランド部をトラッキングさせてその再生信
号を処理することにより、光ディスク上の欠陥を検査す
る装置を提案している。この装置によれば、１組の光学
系で欠陥の検査が可能であり、その位置も正確に求める
ことができるが、グルーブ欠陥等の欠陥に対しては、再
生信号上の変化が少ないため検査が非常に困難であり、
さらに現在広く採用されているセクター毎にグルーブの
一部をミラー面とした連続サーボ・フォーマットではグ
ルーブ欠陥と、前記ミラー面との区別がつかないという
問題点があった。
【００１１】本発明はこのような問題点を解決するため
になされたもので、特殊なディスク再生装置を用いずに
簡単な構成でグルーブ欠陥検査ができ、光ディスク面上
の欠陥の正確な大きさ、トラック位置、角度位置を得る
ことができる光ディスクの検査装置及びその検査方法を
提供することを目的としている。
になされたもので、特殊なディスク再生装置を用いずに
簡単な構成でグルーブ欠陥検査ができ、光ディスク面上
の欠陥の正確な大きさ、トラック位置、角度位置を得る
ことができる光ディスクの検査装置及びその検査方法を
提供することを目的としている。
【００１２】
【課題を解決するための手段】請求項１に係る光ディス
クの検査装置は、次に掲げる手段を備えたものである。 〔１〕 光ディスクをグルーブトラッキングで再生させ
る再生手段。 〔２〕 その再生信号の反射率の変化が所定のしきい値
を越えたものを欠陥として検出する検出手段。 〔３〕 その欠陥のうち設定した大きさ以上の欠陥だけ
を取り出してグルーブ欠陥としてメモリに記憶する欠陥
記憶手段。 〔４〕 このときの前記光ディスク面上での欠陥位置を
前記光ディスクの回転信号を利用してトラック位置及び
角度位置で特定する欠陥位置検出手段。
クの検査装置は、次に掲げる手段を備えたものである。 〔１〕 光ディスクをグルーブトラッキングで再生させ
る再生手段。 〔２〕 その再生信号の反射率の変化が所定のしきい値
を越えたものを欠陥として検出する検出手段。 〔３〕 その欠陥のうち設定した大きさ以上の欠陥だけ
を取り出してグルーブ欠陥としてメモリに記憶する欠陥
記憶手段。 〔４〕 このときの前記光ディスク面上での欠陥位置を
前記光ディスクの回転信号を利用してトラック位置及び
角度位置で特定する欠陥位置検出手段。
【００１３】請求項２に係る光ディスクの検査方法は、
次に掲げるステップを含むものである。 〔１〕 光ディスクをグルーブトラッキングで再生させ
る再生ステップ。 〔２〕 その再生信号の反射率の変化が所定のしきい値
を越えたものを欠陥として検出する検出ステップ。 〔３〕 その欠陥のうち設定した大きさ以上の欠陥だけ
を取り出してグルーブ欠陥としてメモリに記憶する欠陥
記憶ステップ。 〔４〕 このときの前記光ディスク面上での欠陥位置を
前記光ディスクの回転信号を利用してトラック位置及び
角度位置で特定する欠陥位置検出ステップ。
次に掲げるステップを含むものである。 〔１〕 光ディスクをグルーブトラッキングで再生させ
る再生ステップ。 〔２〕 その再生信号の反射率の変化が所定のしきい値
を越えたものを欠陥として検出する検出ステップ。 〔３〕 その欠陥のうち設定した大きさ以上の欠陥だけ
を取り出してグルーブ欠陥としてメモリに記憶する欠陥
記憶ステップ。 〔４〕 このときの前記光ディスク面上での欠陥位置を
前記光ディスクの回転信号を利用してトラック位置及び
角度位置で特定する欠陥位置検出ステップ。
【００１４】
【作用】請求項１に係る光ディスクの検査装置において
は、再生手段によって、光ディスクがグルーブトラッキ
ングで再生させられる。また、検出手段によって、その
再生信号の反射率の変化が所定のしきい値を越えたもの
が欠陥として検出される。さらに、欠陥記憶手段によっ
て、その欠陥のうち設定した大きさ以上の欠陥だけが取
り出されてグルーブ欠陥としてメモリに記憶される。そ
して、欠陥位置検出手段によって、このときの前記光デ
ィスク面上での欠陥位置が前記光ディスクの回転信号を
利用してトラック位置及び角度位置で特定される。
は、再生手段によって、光ディスクがグルーブトラッキ
ングで再生させられる。また、検出手段によって、その
再生信号の反射率の変化が所定のしきい値を越えたもの
が欠陥として検出される。さらに、欠陥記憶手段によっ
て、その欠陥のうち設定した大きさ以上の欠陥だけが取
り出されてグルーブ欠陥としてメモリに記憶される。そ
して、欠陥位置検出手段によって、このときの前記光デ
ィスク面上での欠陥位置が前記光ディスクの回転信号を
利用してトラック位置及び角度位置で特定される。
【００１５】請求項２に係る光ディスクの検査方法にお
いては、再生ステップにおいて、光ディスクをグルーブ
トラッキングで再生させる。また、検出ステップにおい
て、その再生信号の反射率の変化が所定のしきい値を越
えたものを欠陥として検出する。さらに、欠陥記憶ステ
ップにおいて、その欠陥のうち設定した大きさ以上の欠
陥だけを取り出してグルーブ欠陥としてメモリに記憶す
る。そして、欠陥位置検出ステップにおいて、このとき
の前記光ディスク面上での欠陥位置を前記光ディスクの
回転信号を利用してトラック位置及び角度位置で特定す
る。
いては、再生ステップにおいて、光ディスクをグルーブ
トラッキングで再生させる。また、検出ステップにおい
て、その再生信号の反射率の変化が所定のしきい値を越
えたものを欠陥として検出する。さらに、欠陥記憶ステ
ップにおいて、その欠陥のうち設定した大きさ以上の欠
陥だけを取り出してグルーブ欠陥としてメモリに記憶す
る。そして、欠陥位置検出ステップにおいて、このとき
の前記光ディスク面上での欠陥位置を前記光ディスクの
回転信号を利用してトラック位置及び角度位置で特定す
る。
【００１６】
実施例１．図１により、この発明のグルーブ欠陥の検出
の検査方法を説明する。連続溝方式の光ディスクは、内
周から外周へとスパイラルな溝がきざまれている。この
溝のことをグルーブ部１２と呼び、グルーブ部１２とグ
ルーブ部１２の間をランド部１１と呼ぶ。光ディスクへ
書き込まれるデータは、ランド部１１をトラッキング
し、このランド部１１に記録されピット１０を形成す
る。また、再生もランド部１１をトラッキングしてデー
タを読み出す。
の検査方法を説明する。連続溝方式の光ディスクは、内
周から外周へとスパイラルな溝がきざまれている。この
溝のことをグルーブ部１２と呼び、グルーブ部１２とグ
ルーブ部１２の間をランド部１１と呼ぶ。光ディスクへ
書き込まれるデータは、ランド部１１をトラッキング
し、このランド部１１に記録されピット１０を形成す
る。また、再生もランド部１１をトラッキングしてデー
タを読み出す。
【００１７】さて、通常のランドトラッキング時、グル
ーブ欠陥１３があったときの再生信号の反射率は、光デ
ィスク面上の何も記録されていない部分とほぼ同じレベ
ルまで大きくなる。しかし、この波形の変化は他の欠陥
のない部分に比べてごくわずかなものであり、この微小
な波形の変化でのグルーブ欠陥検査は適していない。
ーブ欠陥１３があったときの再生信号の反射率は、光デ
ィスク面上の何も記録されていない部分とほぼ同じレベ
ルまで大きくなる。しかし、この波形の変化は他の欠陥
のない部分に比べてごくわずかなものであり、この微小
な波形の変化でのグルーブ欠陥検査は適していない。
【００１８】そこで、グルーブトラッキングにより欠陥
を検出する。グルーブトラッキング時の欠陥場所での反
射率はランドトラッキングと同様に、ミラー面まで大き
くなる。この場合は、欠陥のない部分の反射率が低いた
め波形の変化が大きく、この波形の変化を利用し、ある
しきい値を越えたものを欠陥として検出する。この検出
方法では、ピットにより再生信号が影響を受けないの
で、ピットの有無にかかわらず検査をすることができ
る。
を検出する。グルーブトラッキング時の欠陥場所での反
射率はランドトラッキングと同様に、ミラー面まで大き
くなる。この場合は、欠陥のない部分の反射率が低いた
め波形の変化が大きく、この波形の変化を利用し、ある
しきい値を越えたものを欠陥として検出する。この検出
方法では、ピットにより再生信号が影響を受けないの
で、ピットの有無にかかわらず検査をすることができ
る。
【００１９】図３は、この発明の実施例１の構成を示す
ブロック図である。図３において、２０は光ディスクを
グルーブトラッキングで再生することが可能なディスク
再生装置、２１はディスク再生装置２０から得られる再
生信号、２２はディスク１回転に１パルスの回転信号、
２３は欠陥を検出するためのしきい値、２４は欠陥検出
回路、２５はトラック・角度位置検出回路、３０は欠陥
の大きさを検出する大きさ検出回路、３１は設定値以上
の欠陥をメモリに記憶させるためのゲート回路、２６は
欠陥の大きさ情報、２７は欠陥のトラック位置情報、２
８は欠陥の基準位置からの角度位置情報、２９は欠陥情
報を記憶するメモリである。
ブロック図である。図３において、２０は光ディスクを
グルーブトラッキングで再生することが可能なディスク
再生装置、２１はディスク再生装置２０から得られる再
生信号、２２はディスク１回転に１パルスの回転信号、
２３は欠陥を検出するためのしきい値、２４は欠陥検出
回路、２５はトラック・角度位置検出回路、３０は欠陥
の大きさを検出する大きさ検出回路、３１は設定値以上
の欠陥をメモリに記憶させるためのゲート回路、２６は
欠陥の大きさ情報、２７は欠陥のトラック位置情報、２
８は欠陥の基準位置からの角度位置情報、２９は欠陥情
報を記憶するメモリである。
【００２０】次に、上述した光ディスクの検査装置の動
作について説明する。まず、ディスク再生装置２０で、
光ディスクをグルーブトラッキングで再生させる。図１
に示すグルーブ欠陥１３があったとき、再生信号の波形
は図２に示すグルーブ欠陥波形１７のように変化する。
このとき、あらかじめ設定した図２に示すしきい値１５
を越えたものをグルーブ欠陥として検出する。
作について説明する。まず、ディスク再生装置２０で、
光ディスクをグルーブトラッキングで再生させる。図１
に示すグルーブ欠陥１３があったとき、再生信号の波形
は図２に示すグルーブ欠陥波形１７のように変化する。
このとき、あらかじめ設定した図２に示すしきい値１５
を越えたものをグルーブ欠陥として検出する。
【００２１】検出された欠陥は、図３に示す大きさ検出
回路３０で設定された大きさ以上の欠陥であるかどうか
を判断し、その情報でゲート回路３１を動作させ大きな
ものだけをメモリ２９に、欠陥の大きさ２６、トラック
位置２７、角度位置２８を記憶する。欠陥のトラック位
置、角度位置は、回転信号２２を利用しトラック・角度
位置検出回路２５により検出する。
回路３０で設定された大きさ以上の欠陥であるかどうか
を判断し、その情報でゲート回路３１を動作させ大きな
ものだけをメモリ２９に、欠陥の大きさ２６、トラック
位置２７、角度位置２８を記憶する。欠陥のトラック位
置、角度位置は、回転信号２２を利用しトラック・角度
位置検出回路２５により検出する。
【００２２】本発明の実施例１は、前述したように、光
ディスクのグルーブ部をトラッキングさせたときの反射
率変化をとらえ、かつドライブにおけるトラッキングサ
ーボ上問題となる大きさ以上の欠陥を検出するようにし
たものである。
ディスクのグルーブ部をトラッキングさせたときの反射
率変化をとらえ、かつドライブにおけるトラッキングサ
ーボ上問題となる大きさ以上の欠陥を検出するようにし
たものである。
【００２３】グルーブに欠陥があってもそれが集光ビー
ム径の端に位置するためデータ等の再生信号に与える影
響は微小である。しかし、集光ビームをトラックに沿っ
て走らせるためのトラッキングサーボ信号には大きく影
響し、場合によってはビームがトラックを逸脱するいわ
ゆるトラック外れの原因となる。
ム径の端に位置するためデータ等の再生信号に与える影
響は微小である。しかし、集光ビームをトラックに沿っ
て走らせるためのトラッキングサーボ信号には大きく影
響し、場合によってはビームがトラックを逸脱するいわ
ゆるトラック外れの原因となる。
【００２４】しかし、一般にトラッキングサーボの周波
数はそう高くはなく、通常は数１０ＫＨｚであり、この
周波数に相当する大きさ以下のグルーブ欠陥は存在して
も問題とはならない。したがって、あらかじめ設定した
大きさ以上の欠陥だけを検出するために、大きさ検出回
路３０とゲート回路３１を設け、ミラー面による反射率
の変動をカウントしないようにする。
数はそう高くはなく、通常は数１０ＫＨｚであり、この
周波数に相当する大きさ以下のグルーブ欠陥は存在して
も問題とはならない。したがって、あらかじめ設定した
大きさ以上の欠陥だけを検出するために、大きさ検出回
路３０とゲート回路３１を設け、ミラー面による反射率
の変動をカウントしないようにする。
【００２５】欠陥位置の特定は、グルーブトラッキング
で全てのトラックのグルーブをトレースし、ディスク１
回転に１パルスの回転信号を用いて欠陥のトラック位
置、角度位置を検出することにより、光ディスク面上で
の欠陥の位置情報を得る。
で全てのトラックのグルーブをトレースし、ディスク１
回転に１パルスの回転信号を用いて欠陥のトラック位
置、角度位置を検出することにより、光ディスク面上で
の欠陥の位置情報を得る。
【００２６】
【発明の効果】以上のようにこの発明によれば、複雑な
光学系を用いず通常のディスク再生装置で検査ができる
ので、簡単な構成で光ディスクの検査装置及びその検査
方法を提供できるという効果を奏する。また、欠陥の正
確な位置情報も得ることができるという効果を奏する。
光学系を用いず通常のディスク再生装置で検査ができる
ので、簡単な構成で光ディスクの検査装置及びその検査
方法を提供できるという効果を奏する。また、欠陥の正
確な位置情報も得ることができるという効果を奏する。
【図１】この発明の実施例１におけるグルーブトラッキ
ングとグルーブ欠陥を説明するための図である。
ングとグルーブ欠陥を説明するための図である。
【図２】この発明の実施例１のグルーブ欠陥を示す波形
図である。
図である。
【図３】この発明の実施例１の検査装置を示すブロック
図である。
図である。
【図４】従来の光ディスクの検査装置を示す図である。
【図５】従来の光ディスクの検査装置の動作を示す図で
ある。
ある。
【図６】従来の光ディスクの検査装置の動作を示す波形
図である。
図である。
１ 光ディスク １０ ピット １１ ランド部 １２ グルーブ部 １３ グルーブ欠陥 １５ しきい値 １７ グルーブ欠陥波形 ２０ ディスク再生装置 ２１ 再生信号 ２２ 回転信号 ２３ しきい値 ２４ 欠陥検出回路 ２５ トラック・角度位置検出回路 ２６ 大きさ情報 ２７ トラック位置情報 ２８ 角度位置情報 ２９ メモリ ３０ 大きさ検出回路 ３１ ゲート回路
Claims (2)
- 【請求項１】 光ディスクのグルーブの欠陥を検出する
検査装置において、前記光ディスクをグルーブトラッキ
ングで再生させる再生手段と、その再生信号の反射率の
変化が所定のしきい値を越えたものを欠陥として検出す
る検出手段と、その欠陥のうち設定した大きさ以上の欠
陥だけを取り出してグルーブ欠陥としてメモリに記憶す
る欠陥記憶手段と、このときの前記光ディスク面上での
欠陥位置を前記光ディスクの回転信号を利用してトラッ
ク位置及び角度位置で特定する欠陥位置検出手段とを備
えたことを特徴とする光ディスクの検査装置。 - 【請求項２】 光ディスクのグルーブの欠陥を検出する
検査方法において、前記光ディスクをグルーブトラッキ
ングで再生させる再生ステップと、その再生信号の反射
率の変化が所定のしきい値を越えたものを欠陥として検
出する検出ステップと、その欠陥のうち設定した大きさ
以上の欠陥だけを取り出してグルーブ欠陥としてメモリ
に記憶する欠陥記憶ステップと、このときの前記光ディ
スク面上での欠陥位置を前記光ディスクの回転信号を利
用してトラック位置及び角度位置で特定する欠陥位置検
出ステップとを含むことを特徴とする光ディスクの検査
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14913592A JPH05342638A (ja) | 1992-06-09 | 1992-06-09 | 光ディスクの検査装置及びその検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14913592A JPH05342638A (ja) | 1992-06-09 | 1992-06-09 | 光ディスクの検査装置及びその検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05342638A true JPH05342638A (ja) | 1993-12-24 |
Family
ID=15468514
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14913592A Pending JPH05342638A (ja) | 1992-06-09 | 1992-06-09 | 光ディスクの検査装置及びその検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05342638A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001006510A1 (en) * | 1999-07-15 | 2001-01-25 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Method of scanning a recording disc for defects, and recording device for recording information on a disc-shaped recording medium |
| WO2003017268A1 (fr) * | 2001-08-10 | 2003-02-27 | Tdk Corporation | Support d'enregistrement optique et procede de fabrication de ce support |
| NL1033998C2 (nl) * | 2004-12-07 | 2008-07-29 | Samsung Electronics Co Ltd | Inrichting en werkwijze voor het bepalen van een defectief gebied op een optisch medium. |
| JP2011181181A (ja) * | 2011-06-20 | 2011-09-15 | Hitachi Ltd | 光ディスク装置 |
-
1992
- 1992-06-09 JP JP14913592A patent/JPH05342638A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001006510A1 (en) * | 1999-07-15 | 2001-01-25 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Method of scanning a recording disc for defects, and recording device for recording information on a disc-shaped recording medium |
| US7215619B1 (en) * | 1999-07-15 | 2007-05-08 | Koninklijke Philips Electronics, N.V. | Method of scanning a recording disc for defects, and recording device for recording information on a disc-shaped recording medium |
| CN1328725C (zh) * | 1999-07-15 | 2007-07-25 | 皇家菲利浦电子有限公司 | 扫描记录盘发现缺陷的方法和在盘形记录媒体上记录信息的记录设备 |
| EP2178088A3 (en) * | 1999-07-15 | 2011-10-26 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Method of scanning a recording disc for defects, and recording device for recording information on a disc-shaped recording medium |
| WO2003017268A1 (fr) * | 2001-08-10 | 2003-02-27 | Tdk Corporation | Support d'enregistrement optique et procede de fabrication de ce support |
| NL1033998C2 (nl) * | 2004-12-07 | 2008-07-29 | Samsung Electronics Co Ltd | Inrichting en werkwijze voor het bepalen van een defectief gebied op een optisch medium. |
| US7849379B2 (en) | 2004-12-07 | 2010-12-07 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Device and method for determining a defective area on an optical media |
| JP2011181181A (ja) * | 2011-06-20 | 2011-09-15 | Hitachi Ltd | 光ディスク装置 |
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