JPH0534359A - 自動化学分析装置 - Google Patents
自動化学分析装置Info
- Publication number
- JPH0534359A JPH0534359A JP20985791A JP20985791A JPH0534359A JP H0534359 A JPH0534359 A JP H0534359A JP 20985791 A JP20985791 A JP 20985791A JP 20985791 A JP20985791 A JP 20985791A JP H0534359 A JPH0534359 A JP H0534359A
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- JP
- Japan
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- reaction
- disk
- reaction disk
- main
- container
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- Pending
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- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 大型化させないで、洗浄過程を増やし、かつ
反応時間を短縮しなくてもすむようにする。 【構成】 チェーン状に連結され屈曲可能な柔軟性をも
つホルダ１４に反応容器１２が一列に配列されて保持さ
れている。ホルダ１４のチェーンは主反応ディスク１８
と副反応ディスク２０にわたってかけられ、両反応ディ
スクの回転とともに移動する。主反応ディスク１８の周
囲には試料サンプリング機構２４、試薬注入機構２６
ａ，２６ｂ、撹拌機構２８ａ，２８ｂ、吸光光度計が配
置されており、副反応ディスク２０の周囲には洗浄機構
３０ａ，３０ｂが配置されている。
反応時間を短縮しなくてもすむようにする。 【構成】 チェーン状に連結され屈曲可能な柔軟性をも
つホルダ１４に反応容器１２が一列に配列されて保持さ
れている。ホルダ１４のチェーンは主反応ディスク１８
と副反応ディスク２０にわたってかけられ、両反応ディ
スクの回転とともに移動する。主反応ディスク１８の周
囲には試料サンプリング機構２４、試薬注入機構２６
ａ，２６ｂ、撹拌機構２８ａ，２８ｂ、吸光光度計が配
置されており、副反応ディスク２０の周囲には洗浄機構
３０ａ，３０ｂが配置されている。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は血清や尿などの多成分を
含む試料中の目的成分濃度又は活性値を測定するのに用
いられる自動化学分析装置に関し、特にシングルマルチ
方式の自動化学分析装置に関するものである。
含む試料中の目的成分濃度又は活性値を測定するのに用
いられる自動化学分析装置に関し、特にシングルマルチ
方式の自動化学分析装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】自動化学分析装置では試料と試薬が反応
容器に注入されて反応が行なわれ、反応容器中の反応は
吸光光度計により吸光度が測定されて目的成分の濃度や
活性値が測定される。反応容器は円盤状の反応ディスク
の円周に配列され、反応ディスクが回転することにより
反応容器が移動する。反応容器に試料を注入する試料サ
ンプリング機構、試料注入後の反応容器に試薬を注入す
る試薬注入機構、反応容器内の反応液の吸光度を測定す
る吸光光度計、試薬注入後の反応容器内の反応液を撹拌
する反応液撹拌機構、測定終了後の反応容器を洗浄する
洗浄機構など、必要な全ての機構が反応ディスクに沿っ
て配置されている。
容器に注入されて反応が行なわれ、反応容器中の反応は
吸光光度計により吸光度が測定されて目的成分の濃度や
活性値が測定される。反応容器は円盤状の反応ディスク
の円周に配列され、反応ディスクが回転することにより
反応容器が移動する。反応容器に試料を注入する試料サ
ンプリング機構、試料注入後の反応容器に試薬を注入す
る試薬注入機構、反応容器内の反応液の吸光度を測定す
る吸光光度計、試薬注入後の反応容器内の反応液を撹拌
する反応液撹拌機構、測定終了後の反応容器を洗浄する
洗浄機構など、必要な全ての機構が反応ディスクに沿っ
て配置されている。
【０００３】図３は従来の反応ディスクを概略的に表わ
したものである。反応ディスク２の円周に沿って吸光度
測定用キュベットを兼ねる反応容器４が一列に配列され
ている。反応ディスク２の周囲には試料サンプリング機
構、試薬注入機構、撹拌機構、洗浄機構などが配列さ
れ、吸光光度計は反応ディスク２の周囲のいずれかの位
置に固定されているか、反応ディスク２の円周に沿って
移動できるように設けられている。位置ａは試料注入位
置、位置ｂは試薬注入位置、位置ｃは撹拌位置、位置ｄ
は洗浄位置、位置ｅはブランク測定位置、位置ｆは反応
容器を乾燥させる位置である。ｇは吸光光度計の移動範
囲を表わしている。指定された反応容器は、洗浄ｄ→ブ
ランク測定ｅ→試料注入ａ→試薬注入ｂ→撹拌ｃ→……
→洗浄ｄ→ブランク測定ｅ→というように繰り返し使用
される。
したものである。反応ディスク２の円周に沿って吸光度
測定用キュベットを兼ねる反応容器４が一列に配列され
ている。反応ディスク２の周囲には試料サンプリング機
構、試薬注入機構、撹拌機構、洗浄機構などが配列さ
れ、吸光光度計は反応ディスク２の周囲のいずれかの位
置に固定されているか、反応ディスク２の円周に沿って
移動できるように設けられている。位置ａは試料注入位
置、位置ｂは試薬注入位置、位置ｃは撹拌位置、位置ｄ
は洗浄位置、位置ｅはブランク測定位置、位置ｆは反応
容器を乾燥させる位置である。ｇは吸光光度計の移動範
囲を表わしている。指定された反応容器は、洗浄ｄ→ブ
ランク測定ｅ→試料注入ａ→試薬注入ｂ→撹拌ｃ→……
→洗浄ｄ→ブランク測定ｅ→というように繰り返し使用
される。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】図３のような反応ディ
スク２を備えた反応部では、反応容器４が反応ディスク
２によって１周する時間が固定されているので、例えば
洗浄過程を増そうとすれば測定できる位置が減り、最大
反応時間が短かくなる。また、全ての反応容器について
同じ条件の洗浄が行なわれるので、例えば反応容器に残
りやすい試薬を十分に洗浄するといった操作が困難であ
る。もし、洗浄過程を増やすために反応管４の数を増や
すようにすれば、反応ディスク２が大型化してしまい、
装置全体が大型化する。そこで、本発明は大型化するこ
となく、例えば洗浄過程を増やしてもそのことによって
反応時間を短縮しなければならなくなることのない反応
部を備えた自動化学分析装置を提供することを目的とす
るものである。
スク２を備えた反応部では、反応容器４が反応ディスク
２によって１周する時間が固定されているので、例えば
洗浄過程を増そうとすれば測定できる位置が減り、最大
反応時間が短かくなる。また、全ての反応容器について
同じ条件の洗浄が行なわれるので、例えば反応容器に残
りやすい試薬を十分に洗浄するといった操作が困難であ
る。もし、洗浄過程を増やすために反応管４の数を増や
すようにすれば、反応ディスク２が大型化してしまい、
装置全体が大型化する。そこで、本発明は大型化するこ
となく、例えば洗浄過程を増やしてもそのことによって
反応時間を短縮しなければならなくなることのない反応
部を備えた自動化学分析装置を提供することを目的とす
るものである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明では、反応部の反
応ディスクを主反応ディスクと副反応ディスクに分け、
反応ラインには反応容器を一列に保持して屈曲可能な柔
軟性をもたせる。反応ラインを両反応ディスクにわたっ
てかけ、両反応ディスクの回転により反応ラインを移動
させる。主反応ディスクの周囲には試料サンプリング機
構、試薬注入機構及び吸光光度計を少なくとも配置する
が、洗浄機構は配置しない。洗浄機構は配置するとすれ
ば、副反応ディスクの周囲に配置する。
応ディスクを主反応ディスクと副反応ディスクに分け、
反応ラインには反応容器を一列に保持して屈曲可能な柔
軟性をもたせる。反応ラインを両反応ディスクにわたっ
てかけ、両反応ディスクの回転により反応ラインを移動
させる。主反応ディスクの周囲には試料サンプリング機
構、試薬注入機構及び吸光光度計を少なくとも配置する
が、洗浄機構は配置しない。洗浄機構は配置するとすれ
ば、副反応ディスクの周囲に配置する。
【０００６】
【作用】例えば洗浄過程を増やす場合は、副反応ディス
クでの反応容器の数を増やす。主反応ディスクでの反応
容器の数は変化しない。
クでの反応容器の数を増やす。主反応ディスクでの反応
容器の数は変化しない。
【０００７】
【実施例】図１は一実施例を表わす。反応部で、吸光度
が測定できるキュベットを兼ねる角形の反応容器１２は
チェーン状に連結された反応容器ホルダ１４により一列
に配列されて保持されている。ホルダ１４は図２に示さ
れるようにピン１６によって連結されて屈曲可能な柔軟
性を有し、各ホルダ１４には１個ずつの反応容器１２が
保持される。
が測定できるキュベットを兼ねる角形の反応容器１２は
チェーン状に連結された反応容器ホルダ１４により一列
に配列されて保持されている。ホルダ１４は図２に示さ
れるようにピン１６によって連結されて屈曲可能な柔軟
性を有し、各ホルダ１４には１個ずつの反応容器１２が
保持される。
【０００８】円盤状の主反応ディスク１８の円周にはホ
ルダ１４のチェーンを保持し、円周に沿って移動させる
ためにスプロケットが形成されている。円盤状の副反応
ディスク２０は主反応ディスク１８よりも小さい直径を
もち、主反応ディスク１８に接近して配置されている。
副反応ディスク２０もその円周にはホルダ４のチェーン
を保持し、円周に沿って移動させるためにスプロケット
が形成されている。主反応ディスク１８と副反応ディス
ク２０の間にはホルダ４のチェーンを案内するスプロケ
ット２２が配置されている。主反応ディスク１８はモー
タを含む駆動機構（図示略）により回転させられ、副反
応ディスク２０とスプロケット２２は駆動機構を備え
ず、回転可能に支持されている。ホルダ４のチェーンは
主反応ディスク１８と副反応ディスク２０にわたってか
けられ、主反応ディスク１８が駆動されて回転すること
により移動する。
ルダ１４のチェーンを保持し、円周に沿って移動させる
ためにスプロケットが形成されている。円盤状の副反応
ディスク２０は主反応ディスク１８よりも小さい直径を
もち、主反応ディスク１８に接近して配置されている。
副反応ディスク２０もその円周にはホルダ４のチェーン
を保持し、円周に沿って移動させるためにスプロケット
が形成されている。主反応ディスク１８と副反応ディス
ク２０の間にはホルダ４のチェーンを案内するスプロケ
ット２２が配置されている。主反応ディスク１８はモー
タを含む駆動機構（図示略）により回転させられ、副反
応ディスク２０とスプロケット２２は駆動機構を備え
ず、回転可能に支持されている。ホルダ４のチェーンは
主反応ディスク１８と副反応ディスク２０にわたってか
けられ、主反応ディスク１８が駆動されて回転すること
により移動する。
【０００９】主反応ディスク１８の周囲には試料サンプ
リング機構２４、試薬注入機構２６ａ，２６ｂ、撹拌機
構２８ａ，２８ｂが配置されており、主反応ディスク１
８の円周方向でｇで示される範囲に移動可能な吸光光度
計が配置されている。副反応ディスク２０の周囲には、
洗浄機構３０ａ，３０ｂが配置されている。主反応ディ
スク１８の周囲を移動する反応容器１２は、位置ａで試
料サンプリング機構２４によって試料が注入され、位置
ｂで試薬注入機構２６ａ又は２６ｂによって試薬が注入
され、位置ｃで撹拌機構２８ａ又は２８ｂにより反応液
の撹拌がなされ、位置ｅではブランク測定がなされ、位
置ｆでは反応容器が乾燥させられる。副反応ディスク２
０では洗浄機構３０ａ又は３０ｂのいずれか又は両方に
よって洗浄がなされる。図には示されていないが、恒温
水槽が設けられており、反応容器４はその恒温水槽に浸
されて一定温度に保温されている。
リング機構２４、試薬注入機構２６ａ，２６ｂ、撹拌機
構２８ａ，２８ｂが配置されており、主反応ディスク１
８の円周方向でｇで示される範囲に移動可能な吸光光度
計が配置されている。副反応ディスク２０の周囲には、
洗浄機構３０ａ，３０ｂが配置されている。主反応ディ
スク１８の周囲を移動する反応容器１２は、位置ａで試
料サンプリング機構２４によって試料が注入され、位置
ｂで試薬注入機構２６ａ又は２６ｂによって試薬が注入
され、位置ｃで撹拌機構２８ａ又は２８ｂにより反応液
の撹拌がなされ、位置ｅではブランク測定がなされ、位
置ｆでは反応容器が乾燥させられる。副反応ディスク２
０では洗浄機構３０ａ又は３０ｂのいずれか又は両方に
よって洗浄がなされる。図には示されていないが、恒温
水槽が設けられており、反応容器４はその恒温水槽に浸
されて一定温度に保温されている。
【００１０】次に、本実施例の動作について説明する。
主反応ディスク１８は一定の速度で回転する。反応容器
１２には位置ａで試料が注入され、位置ｂで試薬が注入
され、位置ｃで撹拌される。その後、吸光光度計によっ
て一定時間ごとに吸光度が測定されていく。測光後、反
応容器１２は副反応ディスク２０へ移動し、ここで洗浄
機構３０ａ，３０ｂにより洗浄される。洗浄過程終了
後、位置ｅで反応容器１２に水を充填した状態で次にそ
の反応容器で測定するテスト項目の波長でブランク測定
が行なわれ、位置ｆで水が排出される。
主反応ディスク１８は一定の速度で回転する。反応容器
１２には位置ａで試料が注入され、位置ｂで試薬が注入
され、位置ｃで撹拌される。その後、吸光光度計によっ
て一定時間ごとに吸光度が測定されていく。測光後、反
応容器１２は副反応ディスク２０へ移動し、ここで洗浄
機構３０ａ，３０ｂにより洗浄される。洗浄過程終了
後、位置ｅで反応容器１２に水を充填した状態で次にそ
の反応容器で測定するテスト項目の波長でブランク測定
が行なわれ、位置ｆで水が排出される。
【００１１】副反応ディスク２０の大きさ及びその周囲
の反応容器の数はいくらでも長くすることができるの
で、洗浄過程を増やすことができる。反応容器に残りや
すい試薬の場合は水洗いだけでは洗浄し切れないことが
多いので、水洗浄過程に代えて洗剤による洗浄過程をそ
の測定項目のときだけ追加することができる。副反応デ
ィスク２０における反応容器の数を増やすことができる
ので、一度に分析するテスト数が反応容器の個数以下で
あれば、分析中は洗浄をせず、分析後にまとめて洗浄す
るようにすることができる。それにより洗浄水の使用量
を減らすことができる。副反応ディスク２０の周囲に配
置される機構は洗浄機構に限らない。例えば洗浄機構を
配置せずに、反応容器を交換する機構を配置してもよ
い。また、洗浄機構と反応容器交換機構をともに備えて
両方の機能を備えたものとしてもよい。
の反応容器の数はいくらでも長くすることができるの
で、洗浄過程を増やすことができる。反応容器に残りや
すい試薬の場合は水洗いだけでは洗浄し切れないことが
多いので、水洗浄過程に代えて洗剤による洗浄過程をそ
の測定項目のときだけ追加することができる。副反応デ
ィスク２０における反応容器の数を増やすことができる
ので、一度に分析するテスト数が反応容器の個数以下で
あれば、分析中は洗浄をせず、分析後にまとめて洗浄す
るようにすることができる。それにより洗浄水の使用量
を減らすことができる。副反応ディスク２０の周囲に配
置される機構は洗浄機構に限らない。例えば洗浄機構を
配置せずに、反応容器を交換する機構を配置してもよ
い。また、洗浄機構と反応容器交換機構をともに備えて
両方の機能を備えたものとしてもよい。
【００１２】
【発明の効果】本発明では副反応ディスクを設けること
により、反応時間を減らすことなく例えば洗浄の時間を
増やすことができるので、コンタミネーションを起こし
やすい項目を測定するときは、大きな副反応ディスクに
変えて反応容器の数を増やし、洗浄を十分に行なうよう
にすることにより、クロスコンタミネーションの低減を
図ることができる。反応容器の数を変えることができる
ので、反応容器に残りやすい試薬を使用しない施設で
は、逆に反応容器の数を少なくすることにより、保守の
手間を減らすなど、施設に応じた使い方をすることがで
きる。
により、反応時間を減らすことなく例えば洗浄の時間を
増やすことができるので、コンタミネーションを起こし
やすい項目を測定するときは、大きな副反応ディスクに
変えて反応容器の数を増やし、洗浄を十分に行なうよう
にすることにより、クロスコンタミネーションの低減を
図ることができる。反応容器の数を変えることができる
ので、反応容器に残りやすい試薬を使用しない施設で
は、逆に反応容器の数を少なくすることにより、保守の
手間を減らすなど、施設に応じた使い方をすることがで
きる。
【図１】一実施例を示す概略平面図である。
【図２】反応ラインの一部を示す断面図である。
【図３】従来の反応ディスクを示す概略構成図である。
１２ 反応容器 １４ 反応容器ホルダ １８ 主反応ディスク ２０ 副反応ディスク ２４ 試料サンプリング機構 ２６ａ，２６ｂ 試薬注入機構 ２８ａ，２８ｂ 撹拌機構 ３０ａ，３０ｂ 洗浄機構
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 【請求項１】 反応容器に試料を注入する試料サンプリ
ング機構と、試料注入後の反応容器に試薬を注入する試
薬注入機構と、反応容器内の反応液の吸光度を測定する
吸光光度計と、前記反応容器を保持する反応部とを少な
くとも備えた自動化学分析装置において、前記反応部は
反応容器を一列に保持し屈曲可能な柔軟性をもつ反応ラ
インと、前記試料サンプリング機構、試薬注入機構及び
吸光光度計が少なくとも配置され、円周に沿って前記反
応ラインを保持する主反応ディスクと、この主反応ディ
スクを回転させる回転駆動機構と、前記主反応ディスク
に接近して設けられ、円周に沿って前記反応ラインを保
持する副反応ディスクとを備え、前記反応ラインが前記
両反応ディスクにわたってかけられていることを特徴と
する自動化学分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20985791A JPH0534359A (ja) | 1991-07-26 | 1991-07-26 | 自動化学分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20985791A JPH0534359A (ja) | 1991-07-26 | 1991-07-26 | 自動化学分析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0534359A true JPH0534359A (ja) | 1993-02-09 |
Family
ID=16579778
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20985791A Pending JPH0534359A (ja) | 1991-07-26 | 1991-07-26 | 自動化学分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0534359A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001289864A (ja) * | 2000-04-04 | 2001-10-19 | Toshiba Corp | 自動分析装置及び反応管の洗浄方法 |
| JP2010204048A (ja) * | 2009-03-05 | 2010-09-16 | Toshiba Corp | 自動分析装置 |
-
1991
- 1991-07-26 JP JP20985791A patent/JPH0534359A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001289864A (ja) * | 2000-04-04 | 2001-10-19 | Toshiba Corp | 自動分析装置及び反応管の洗浄方法 |
| JP2010204048A (ja) * | 2009-03-05 | 2010-09-16 | Toshiba Corp | 自動分析装置 |
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