JPH05346455A - インサーキットテスタ治具 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 ポゴピン間接続の自動化を図り、治具製造の
作業性、コスト、信頼性を改善する。 【構成】 治具の上段と下段に被測定系側ピンホルダ４
に保持されたポゴピン９、測定系側ピンホルダ７に保持
されたポゴピン１０が多数立設して配列される。上段と
下段との間に、対応ピン９、１０間を接続する中継基板
６が設けられる。中継基板６には相互接続したい対応ピ
ン間を電気的に接続する配線１８が形成される。配線１
８に被測定系側ポゴピン９及び測定系側ポゴピン１０が
それぞれ押し当てられたとき、接続されるべきポゴピン
間は配線１８を介して電気的につながる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、プリント基板に実装し
たまま電子部品の電気的検査を行うインサーキットテス
タ治具に係り、特に測定系と被測定系との間に介在する
接続治具の改良に関する。

【０００２】

【従来の技術】一般に、プリント基板に実装されたＩＣ
の電気的検査には、インサーキットテスタが使われる。
このインサーキットテスタは、被測定プリント基板のノ
ードにポゴピンを押し当てて測定系との電気的接続を行
い、ＩＣの有無を確認する欠品検査、異同を確認する異
部品検査、向きを確認する方向検査、チップ抵抗などの
特性値検査等の各種検査を行うものである。

【０００３】ところで、図２に示すようにインサーキッ
トテスタでは汎用性をもたせるために、ピンホルダ４、
７に保持されたポゴピン９、１０を上下２段に使用した
接続治具を用いている。上段のポゴピン９は、ＩＣ１を
実装した被測定プリント基板２のノードに合せたピン配
列をもつ被測定系用のポゴピンで、被測定プリント基板
２の種類毎に個別に用意する必要がある。下段のポゴピ
ン１０は、電極基板８の電極１１に対応した固定ピン配
列をもつ測定系用のポゴピンである。

【０００４】このように上段のポゴピン配列と下段のポ
ゴピン配列とは物理的位置が対応していない。このた
め、ポゴピン９、１０を通して被測定プリント基板２の
電気的検査を行うためには、互に食違う上下段の対応す
るポゴピン９、１０間を電気的に接続する必要がある。
従来、このポゴピン９、１０間の電気的接続には、人手
によるワイヤラッピング１４が用いられていた。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかし、上記したワイ
ヤラッピングに頼る従来技術では、次のような種々の問
題があった。

【０００６】（１）被測定プリント基板のノード数は非
常に多く、検査にはこの全部にピンを立てる必要があ
り、ピン数は多いものでは２５００〜３０００本近くに
達することから、これら上下段のピン間接続をワイヤラ
ッピングで行うと、治具製作の作業性が極めて悪く時間
もかかり、納期に要する期間も長くなり、製作した治具
も非常に高価となる。

【０００７】（２）このように治具が高価になっても同
種のプリント基板が大量に生産されるのであれば、ピン
ホルダ等を含めた全体のコストが下がるため、それ程重
要視されることはないが、多品種、少量化の傾向にある
最近では、高価格化は非常に重要な問題となる。例え
ば、プリント基板よりもこれを測定する治具の方が高く
なることすらある。このような状況はプリント基板価格
とのバランス上、是が非でも改善されなければならな
い。

【０００８】（３）また、接続作業が人手によるため間
違ったピン間を接続する危険があり、そのため信頼性に
欠ける。

【０００９】本発明の目的は、ピン間に中継基板を介在
させることによって、上述した従来技術の欠点を解消し
て、短時間で容易、かつ安価に製造でき、しかも信頼性
の高いインサーキットテスタ治具を提供することにあ
る。

【００１０】

【課題を解決するための手段】本発明のインサーキット
テスタ治具は、ＩＣ等の電子部品の実装された被測定プ
リント基板のノードに対応して配列され、各ノードに一
端が押し当てられるテストピンを保持する被測定系側ピ
ンホルダと、被測定プリント基板に実装された電子部品
の電気的検査を行う測定系に接続される電極基板上の電
極に対応して配列され、各電極に一端が押し当てられる
テストピンを保持する測定系側ピンホルダとを備え、被
測定系側ピンホルダに保持されたテストピンと測定系側
ピンホルダに保持されたテストピンとの間に、被測定系
側テストピン及び測定系側テストピンの他端がそれぞれ
押し当てられて、相互接続すべき対応ピン間を電気的に
接続する配線が形成された中継基板を設けたものであ
る。

【００１１】電子部品はＩＣなどの集積ないし複合部品
の他にトランジスタ、コンデンサ、抵抗などの個別部品
等である。被測定プリント基板は単層、多層を問わな
い。テストピンは基板のノードへバネなどで押し当て
て、電気的接続を行うポゴピンである。被測定系側テス
トピンは、被測定プリント基板に応じてピン配列が異な
るもので、測定系側テストピンは、被測定プリント基板
に関係なくシステムによりピン配列が固定されているも
のである。そして、中継基板の配線は印刷配線により形
成され、その配線は単層、多層を問わない。

【００１２】

【作用】被測定プリント基板のノードに対応して被測定
系側テストピンの配列を予め決めて、これを保持した被
測定系側ピンホルダを形成する。また、被測定系側テス
トピンと、電極に対応して配列される測定系側テストピ
ン間に設けられる中継基板に、被測定系側テストピン
と、この被測定系側テストピンを接続すべき測定系側テ
ストピンとが、ピンを押し当てるだけで電気的に相互接
続されるように、対応ピン間をつなぐ配線を予め形成し
ておく。

【００１３】その上で、被測定系側テストピンの一端を
被測定プリント基板のノードに、測定系側テストピンの
一端を電極基板の電極に押し当てる。また被測定系側テ
ストピン及び測定系側テストピンの他端を中継基板上に
形成した配線にそれぞれの面から押し当てると、ワイヤ
ラッピングをすることなしに、測定系の電極と被測定プ
リント基板のノードとが電気的に接続され、測定系によ
る電気的検査が行える。

【００１４】

【実施例】以下、本発明の実施例を図１を用いて説明す
る。図１は本実施例によるインサーキットテスタの接続
治具の断面構造を示す。治具は被測定系側となる上段
と、測定系側となる下段とから構成され、その中間に本
発明の要部となる中継基板６が介設される。

【００１５】上段は、一番上に電子部品である多数のＩ
Ｃ１の実装された測定対象となる被測定プリント基板２
が取り付けられ、二番目に被測定プリント基板２の裏面
に補強板３が当てがわれる。補強板３は、必要に応じて
設けられるものであるが、ポゴピン９を押しつけるとき
に被測定プリント基板２に加えられる押圧力に十分耐え
るように、被測定プリント基板２の強度を補強するもの
である。補強板３には、被測定プリント基板２の裏面に
形成されているノードの全数に対応する箇所に穴が明け
られており、その穴を介してポゴピン９の一端が挿通さ
れて、ポゴピン９のその一端がノードに押し付けられる
ようになっている。ポゴピン９は、三番目の被測定系側
ピンホルダ（ポゴピンホルダ）４に保持され、ピンホル
ダ４に明けた貫通孔内にピンの中間部を埋め込み、上下
端を突出した格好で垂直に固定されている。被測定系側
ピンホルダ４に保持されたポゴピン９の両端にはバネ１
５が設けられ、そのバネ１５の弾発力を利用して押し付
けるようになっている。なお、バネ１５は必ずしも両端
に設ける必要はなく、いずれか一端でもよい。

【００１６】下段は、一番下に治具と測定系１３とをリ
ード線１２を介して接続するための電極基板８が配設さ
れる。測定系１３は、被測定プリント基板２に実装され
たＩＣ１の電気的検査を行うインサーキットテスタの本
体であり、被測定プリント基板２へ検査信号を送り出す
とともに、被測定プリント基板２からの被検査信号を受
信するようになっている。電極基板８にはその配置が規
格化されて固定の電極１１が多数設けられ、電極１１は
バネ１７により弾持されて埋め込まれており、ポゴピン
１０が押し付けられたとき、その弾性によりピン１０と
の接触性を高めている。電極基板８の電極１１に対応し
て配列され、電極１１にその一端を押し付けられるポゴ
ピン１０は、二番面の測定系側ピンホルダ（ポゴピンホ
ルダ）７に保持され、ピンホルダ７に明けた貫通孔内に
中間部を埋め込んだ格好でその上下端を突出した格好で
垂直に固定されている。測定系側ピンホルダ７に保持さ
れたポゴピン１０の他端（上端）にはバネ１６が設けら
れ、そのバネ１６の弾発力を利用して押し付けるように
なっている。

【００１７】このように、治具の上段と下段にはポゴピ
ン９、１０が多数立設され、その軸方向が揃うように配
列されている。ただし、下段の電極１１の位置に対応し
て立設されたポゴピン１０と、上段の被測定プリント基
板２のノード位置に対応して立設されたポゴピン９と
は、ピン間の物理的位置が互にずれて対応していないこ
とは既述した通りである。

【００１８】このような上段と下段との間、すなわち被
測定系側ピンホルダ４に保持されたポゴピン９と、測定
系側ピンホルダ７に保持されたポゴピン１０との間に、
これらの対応ピン間を接続するための中継基板６が設け
られている。この中継基板６には、相互に接続したい対
応ピン間を電気的に接続する配線１８が形成されてお
り、この配線１８に被測定系側ポゴピン９及び測定系側
ポゴピン１０の他端がそれぞれ押し当てられたとき、接
続されるべきポゴピン間は配線１８を介して電気的につ
ながるようになっている。なお、中継基板５には、その
表面または裏面に必要に応じて中継基板６を補強する補
強板５を当てがう。

【００１９】さて、上記のような構成において、治具の
上段と下段とを上下から押しつけるか、上段を下段に押
しつけるかすると、上段ではポゴピン９の一端（上端）
がそのバネ１５により被測定波プリント基板２の裏面の
ノードに押し付けられて電気的に接続される。また、下
段ではポゴピン１０の一端（下端）がそのバネ１６で電
極基板８の電極１１の表面に押し付けられて電気的に接
続される。そして、中段ではポゴピン９の他端（下端）
がそのバネ１５で中継基板６の配線１８の表面側に押し
付けられるとともに、ポゴピン１０の他端（上端）がそ
のバネ１６で中継基板６の配線１８の裏面側に押し付け
られて、ポゴピン間は電気的に接続される。このよう
に、本実施例では、被測定プリント基板２に応じた配線
１８をもつ中継基板６を予め用意しておけば、ワイヤラ
ッピング作業なしに接続したいポゴピン間を押し付けに
より電気的に接続できる。

【００２０】ところで、配線１８を形成した中継基板６
の作製は、次のように行う。中継基板６の何処にポゴピ
ン９あるいは１０を立てるかは、被測定プリント基板２
のノードに基づいて作られた被測定系側ピンホルダ４を
設計したときのＣＡＤデータ及び、電極１１の位置に対
応して予め決められている測定系ピンホルダを設計した
ときのＣＡＤデータにより既知であるから、そのデータ
にもとづいて配線を設計することができる。作製された
中継基板６は、素子や部品等一切実装されていない配線
のみからなる専用基板であるから、非常に安価に製造で
きる。この場合、特に公知の自動配線システム、すなわ
ちオートルータを使うことができる。中継基板６上に求
められる配線数は、通常の被測定対象となるようなプリ
ント基板に比して少なく、凡そ１／１０くらいで済むか
ら、オートルータによる設計製造に最適となるからであ
る。中継基板６の配線をオートルータにより自動設計す
るようにすれば、パターン設計の労力が大幅に軽減で
き、治具作製効率を一層向上させ、治具製造コストの低
減を図ることができる。

【００２１】このように本実施例によれば、予め準備し
た中継基板６を介在させるだけで、上下のポゴピンをワ
イヤラッピングなしに自動接続でき、しかも中継基板の
製作が容易なので、次のような効果がある。

【００２２】（１）プリント基板のノード数が多くなっ
ても、上下の治具を押しつけるだけでピン間は自動的に
接続されるので、作業性が極めて良好で短時間で済み、
納期に要する期間も短くなるため、治具が非常に安価に
なる。

【００２３】（２）このように治具が安価になると、多
品種、少量化の傾向にあるプリント基板の基板価格との
バランスの適正化が図れる。

【００２４】（３）また、中継基板の作製、及び中継基
板を介しての接続は、自動的に行えるので、接続ミス等
のトラブルがなくなり、信頼性が向上する。

【００２５】

【発明の効果】本発明によれば、被測定系側テストピン
と測定系側テストピンとの間に、対応ピン間を電気的に
接続する配線を形成した中継基板を介設するようにした
ので、被測定系側テストピンと測定系側テストピントと
を押し当てるだけで、対応させたいテストピン間が電気
的に接続できる。従って、ワイヤラッピングによる人的
作業によっていた従来方法に比べ、接続の自動化が図れ
るため作業性が飛躍的に向上し、接続ミスもなくなるの
で信頼性も高く、しかも安価に製造できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施例によるインサーキットテスタ治
具の主要部の構成図。

【図２】従来例によるインサーキットテスタ治具の主要
部の構成図。

【符号の説明】

１ ＩＣ（電子部品） ２ 被測定プリント基板 ４ 被測定系側テストピンホルダ（ポゴピンホルダ） ６ 中継基板 ７ 測定系側テストピンホルダ（ポゴピンホルダ） ８ 電極基板 ９ ポゴピン（被測定系側テストピン） １０ ポゴピン（測定系側テストピン） １１ 電極 １２ リード線 １３ 測定系 １８ 配線

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 電子部品の実装された被測定プリント基
   板のノードに対応して配列され、各ノードに一端が押し
   当てられるテストピンを保持する被測定系側ピンホルダ
   と、 被測定プリント基板に実装された電子部品の電気的検査
   を行う測定系に接続される電極基板上の電極に対応して
   配列され、各電極に一端が押し当てられるテストピンを
   保持する測定系側ピンホルダとを備え、 被測定系側ピンホルダに保持されたテストピンと測定系
   側ピンホルダに保持されたテストピンとの間に、被測定
   系側テストピン及び測定系側テストピンの他端がそれぞ
   れ押し当てられて、相互接続すべき対応ピン間を電気的
   に接続する配線が形成された中継基板を設けたことを特
   徴とするインサーキットテスタ治具。