JPH05347045A

JPH05347045A - 光変調オーバーライト記録装置

Info

Publication number: JPH05347045A
Application number: JP520393A
Authority: JP
Inventors: Masaya Ito; 正也伊藤; Osamu Ito; 修伊藤; Koichi Yamada; 康一山田; Masami Shimamoto; 昌美島元; Yoshiki Nakajima; 良喜中島; Koichi Takeuchi; 浩一竹内; Kyosuke Yoshimoto; 恭輔吉本
Original assignee: Mitsubishi Electric Corp
Current assignee: Mitsubishi Electric Corp
Priority date: 1992-03-04
Filing date: 1993-01-14
Publication date: 1993-12-27
Anticipated expiration: 2014-02-17
Also published as: JP2859503B2

Abstract

(57)【要約】【目的】情報記録媒体の感度分散や周囲温度変化に対
応して常に最適な記録パワーを高精度にかつ短時間に設
定できる光変調オーバーライト記録装置を得る。【構成】制御装置にて高及び低レベルのレーザパワー
に初期値をセットする（Ｓ１０１，Ｓ１０２）。外部磁
界印加回路にて磁界を反転させ、高レベルのレーザパワ
ーをＰ_H1に設定しＤＣの“１”を光磁気記録媒体１の所
定トラックに記録する（Ｓ１０３）。磁界を元の極性に
戻して、設定したパワーでＤＣ“１”を記録したトラッ
クにテストパターンを記録し（Ｓ１０４）、記録トラッ
クを再生して再生信号振幅を測定し、メモリに記録する
（Ｓ１０５）。低及び高レベルのレーザパワーがそれぞ
れ最大値になるまで所定量ずつ増加させて記録再生を繰
り返して再生信号振幅の２次元マップを作成し（Ｓ１１
０）、そのマップからレーザパワーの振幅が閾値Ｖ_thを
越す領域のほぼ中心に最適記録パワーを設定する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、情報記録媒体として
の光磁気記録媒体上の旧情報の上に新情報をダイレクト
に書き込める光変調オーバーライト機能を有する光変調
オーバーライト記録装置に関し、特に、光磁気記録媒体
に最適な記録パワーを求めるものである。

【０００２】

【従来の技術】特願平１−１５４９１８号明細書に示し
た従来の光変調オーバーライト媒体は、記録と同時に古
い情報を消去するオーバーライトが可能な媒体である。
この媒体は、図３６の安定記録温度領域に示すように、
２つの閾値を持ち、記録時に記録時に高レベルのレーザ
パワーと低レベルのレーザパワーの２値変調することに
より、閾値Ｔ_C2を越す高レベルのレーザパワーにて
“１”の記録を、閾値Ｔ_C1とＴ_C2との間の低レベルのレ
ーザパワーにて“０”の記録をすることにより、新しい
情報の記録と同時に古い情報の消去も行っている。

【０００３】非オーバーライト媒体は、磁界を反転させ
て、記録に先立って消去するため、“０”の記録パワー
が“１”の記録パワーと基本的に同じにできており、広
いパワーマージンを有しているが、光変調オーバーライ
ト媒体は“１”の記録パワーと再生パワーとの間に
“０”を記録する、いわゆる消去パワーを持つため、
“１”の記録パワー、“０”の記録パワーの双方ともに
記録パワーマージンが狭い。

【０００４】この様子を図３７に示す。図３７（ａ）は
非オーバーライト媒体の場合を示す。記録パワーの許容
値は感度バラツキにより媒体毎に異なり、また、温度で
も変化するが、非オーバーライト媒体は、一枚の媒体の
記録パワーの許容幅は広く、すべての媒体、すべての使
用温度範囲で許容可能な記録パワーの範囲は、図中白抜
きの線で示されるように広い。

【０００５】このため、特に、光変調オーバーライト記
録装置のパワー設定に問題はない。しかし、図３７
（ｂ）に示されるように、オーバーライトが可能な媒体
では“１”の記録パワーと非記録の記録パワーとの間に
“０”の記録パワーが入るため、一枚の媒体の記録パワ
ーの許容幅が狭く、すべての媒体及び温度範囲で許容可
能なパワー範囲は極めて狭い。

【０００６】また、オーバーライトが可能な媒体の最適
な記録パワーを測定・決定するためには、高価なスペク
トラムアナライザが必要である。すなわち、オーバーラ
イトが可能な媒体の閾値Ｔ_C2は記録特性の良否から決ま
り、特に、キャリアレベルＣとノイズレベルＮとの比Ｃ
／Ｎが基準値を越す高レベルのレーザパワーと低レベル
のレーザパワーの範囲として得られる。

【０００７】また、閾値Ｔ_C1は消去特性の良否から決ま
り、例えば信号ｆ₁ を記録後、信号ｆ₂ をオーバーライ
ト記録したときの信号ｆ₁ の消し残り量が基準値以下の
高レベルのレーザパワーと低レベルのレーザパワーの範
囲として得られる。この両方の範囲を満足する共通の領
域が媒体に適切な記録パワーである。

【０００８】キャリアレベルＣとノイズレベルＮとの比
Ｃ／Ｎの測定には、一般に、スペクトラムアナライザが
必要である。取り消し量の基準値は、例えば−４０ｄＢ
または−２５ｄＢ程度であり、他の信号ｆ₂ の中に埋も
れた微小な信号ｆ₁ の量を測定するためには、スペクト
ラムアナライザが必要である。このように、オーバーラ
イトが可能な媒体の最適な記録パワーを決定するために
は、高価なスペクトラムアナライザが必要であった。

【０００９】また、この種の光変調オーバーライト機能
に係る記録再生制御技術を開示したものとして、例えば
特開平３ー１１６５６６号公報に示すものがある。この
技術は、記録と同時に古い情報を消去するオーバーライ
トが可能な光磁気記録媒体に照射するレーザパワーとし
て、高レベルのレーザパワーと低レベルのレーザパワー
をパラメータとし、１）データ記録エラー率評価、２）
ＤＣ記録レベル評価、３）テスト信号記録レベル評価に
より、あるいはこれらの組み合せにより、記録、再生、
消去に最適なパワーを求める技術を開示したものであ
る。

【００１０】すなわち、この公報技術は、オーバーライ
ト特性を記録と消去という概念でとらえ、高レベルのレ
ーザパワーと低レベルのレーザパワーを一次元的に変化
させ最適パワーを求めるものであるが、光磁気記録媒体
の感度分散や周囲温度変化に対応して常に最適な記録パ
ワーを高精度に得ることは困難なものであった。

【００１１】例えば、エラー率評価は一般に時間がかか
り、１０^-6のビットエラーレートを得るために、上記公
報技術によっては１０⁷ 個のデータをモニタする必要が
あり、装置立ち上げ時や記録媒体の変換時または非動作
時等準実時間内で処理するには不向きである。また、テ
スト信号の記録に対して、消去特性の評価は消去レベル
をモニタする方法を取っているが、測定精度の点で問題
がある。

【００１２】

【発明が解決しようとする課題】上述したように、光変
調オーバーライト記録装置の記録パワーの設定において
は、調整誤差、温度によるパワー変化等がある光変調オ
ーバーライト媒体の狭い記録パワー許容範囲に、光変調
オーバーライト記録装置のパワーを設定することは困難
で、高価なスペクトラムアナライザが必要となったり、
更には設定が不可能な場合もあった。

【００１３】この発明は、上述した従来例における問題
点を解消するためになされたもので、情報記録媒体の感
度分散や周囲温度変化に対応して媒体の狭い記録パワー
許容範囲の中に常に最適な記録パワーを高精度にかつ短
時間に検知、設定できる光変調オーバーライト記録装置
を提供するものである。

【００１４】

【課題を解決するための手段】この発明の請求項１に係
る光変調オーバーライト記録装置は、光変調オーバーラ
イト可能な情報記録媒体を用いた光変調オーバーライト
記録装置において、外部磁界を反転させて、ＤＣ（dire
ct current）の高レベルのレーザパワーを記録後、上記
外部磁界を元に戻して、同一場所にテストパターンを記
録・再生し、得られた再生信号から上記情報記録媒体に
適切な記録パワーを決定する制御装置を備えたことを特
徴とするものである。

【００１５】また、請求項２に係る光変調オーバーライ
ト記録装置は、高レベル及び低レベルのレーザパワーと
より低レベルのレーザパワーとの値が設定され出力する
レーザ強度を３値制御するレーザ駆動回路と、上記レー
ザ駆動回路により光変調オーバーライト可能な情報記録
媒体へ照射されるレーザパワーの再生信号レベルを検出
するレベル検出器と、上記レーザ駆動回路へレーザパワ
ーの設定値と記録用データ信号を与える制御装置とを備
え、この制御装置は、上記高レベル及び低レベルのレー
ザパワーによる“１”及び“０”の記録特性を、記録用
データ信号として所定のテスト信号を用い再生信号レベ
ルをモニタし、高レベル及び低レベルのレーザパワーを
２次元走査して高レベルのレーザパワー対高レベルと低
レベルのレーザパワーの比率に応じた２次元座標の線形
勾配等高線で表現し、この２次元座標上の線形勾配特性
を使って座標上の領域を分割する各境界線を越えるのに
必要な域値交差を線形演算で求めることにより上記２次
元座標上の許容領域を求め、この許容領域内の代表点を
上記情報記録媒体に対する最適な高レベル及び低レベル
のレーザパワーとすることを特徴とするものである。

【００１６】また、請求項３に係る光変調オーバーライ
ト記録装置は、高レベル及び低レベルのレーザパワーの
設定値に基づいて所定のテスト信号を２値に変調した情
報のレーザパワーをオーバーライト記録が可能な情報記
録媒体に照射して情報の記録を行う記録手段と、上記情
報記録媒体に記録された情報を再生し誤り量を測定する
誤り量測定手段と、上記記録手段に与える高レベル及び
低レベルのレーザパワーの設定値を順次変えて上記誤り
量が所定値を下回る高レベル及び低レベルのレーザパワ
ーの組み合わせの中で最も低いレーザパワーの組み合わ
せを最適な記録パワーとする制御装置とを備えたことを
特徴とするものである。

【００１７】また、請求項４に係る光変調オーバーライ
ト記録装置は、請求項３に係る制御装置により、誤り量
を求める際、誤り量測定手段による再生データの検出ウ
インドウを狭めるべく制御することを特徴とするもので
ある。

【００１８】また、請求項５に係る光変調オーバーライ
ト記録装置は、請求項３または４記載の光変調オーバー
ライト記録装置において、上記制御装置により、誤り量
が所定値を下回る高レベル及び低レベルのレーザパワー
の組み合わせの中で最も低いレーザパワーの組み合わせ
の各パワーにそれぞれ一定係数を掛けたレーザパワーの
組み合わせを最適な記録パワーとすることを特徴とする
ものである。

【００１９】また、請求項６に係る光変調オーバーライ
ト記録装置は、請求項３ないし５のいずれかに記載の光
変調オーバーライト記録装置において、上記制御装置に
より、最も低いレーザパワーの組み合わせとして、高レ
ベルと低レベルのレーザパワーの積が最も小さいものを
選定することを特徴とするものである。

【００２０】また、請求項７に係る光変調オーバーライ
ト記録装置は、請求項３ないし５のいずれかに記載の光
変調オーバーライト記録装置において、上記制御装置に
より、最も低いレーザパワーの組み合わせとして、高レ
ベルと低レベルのレーザパワーの加算値が最も小さいも
のを選定することを特徴とするものである。

【００２１】また、請求項８に係る光変調オーバーライ
ト記録装置は、高レベル及び低レベルのレーザパワーと
より低レベルのレーザパワーとの値が設定され出力する
レーザ強度を３値制御するレーザ駆動回路と、上記レー
ザ駆動回路により光変調オーバーライト可能な情報記録
媒体へ照射されるレーザパワーの再生信号レベルを検出
するレベル検出器と、上記レーザ駆動回路へレーザパワ
ーの設定値と記録用データ信号を与える制御装置とを備
え、この制御装置は、上記高レベル及び低レベルのレー
ザパワーによる“１”及び“０”の記録特性を、記録用
データ信号として単一のテスト信号を用い再生信号レベ
ルをモニタし、高レベル及び低レベルのレーザパワーを
２次元走査して２次元座標についての等高線領域表現の
記録特性として求め、線形結合される３点の記録パワー
の組み合せから３点とも再生信号レベルが許容値を越え
た場合の３点のうちの中央点を求めることにより、上記
情報記録媒体に対する最適な高レベル及び低レベルのレ
ーザパワーとすることを特徴とするものである。

【００２２】また、請求項９に係る光変調オーバーライ
ト記録装置は、高レベル及び低レベルのレーザパワーの
設定値に基づいて所定のテスト信号を変調した情報のレ
ーザパワーをオーバーライト記録が可能な情報記録媒体
に照射して情報の記録を行う記録手段と、再生信号の検
出ウインドウを遅れおよび進み方向にそれぞれ所定量シ
フトして上記情報記録媒体に記録された情報を再生し第
１と第２の誤り量を測定する誤り量測定手段と、上記記
録手段に与える高レベル及び低レベルのレーザパワーの
設定値を順次変えて２次元走査し上記第１と第２の誤り
量に基づく誤り率がともに所定値を下回る高レベル及び
低レベルのレーザパワーの組み合わせデータに基づいて
それぞれパワー値の最も高い値と最も低い値の平均値で
求まるレーザパワーの組み合わせを最適な記録パワーと
する制御装置とを備えたことを特徴とするものである。

【００２３】また、請求項１０に係る光変調オーバーラ
イト記録装置は、高レベル及び低レベルのレーザパワー
の設定値に基づいて所定のテスト信号を変調した情報の
レーザパワーをオーバーライト記録が可能な情報記録媒
体に照射して情報の記録を行う記録手段と、再生信号の
検出ウインドウを遅れおよび進み方向にそれぞれ設定量
シフトして上記情報記録媒体に記録された情報を再生し
第１と第２の誤り量を測定する誤り量測定手段と、この
誤り量測定手段に与える検出ウインドウのシフト設定量
を変えて上記第１と第２の誤り量に基づく誤り率がとも
に所定値を下回る検出ウインドウをウインドウマージン
として求め、上記記録手段に与える高レベル及び低レベ
ルのレーザパワーの設定値を順次変えて２次元走査し、
上記ウインドウマージンの最も広い領域の中心値となる
高レベル及び低レベルのレーザパワーの組み合わせを最
適な記録パワーとする制御装置とを備えたことを特徴と
するものである。

【００２４】また、請求項１１に係る光変調オーバーラ
イト記録装置は、高レベル及び低レベルのレーザパワー
とより低レベルのレーザパワーとの値が設定され出力す
るレーザ強度を３値制御するレーザ駆動回路と、上記レ
ーザ駆動回路により光変調オーバーライト可能な情報記
録媒体へ照射されるレーザパワーの再生信号レベルを検
出するレベル検出器と、上記レーザ駆動回路へレーザパ
ワーの設定値と記録用データ信号を与える制御装置とを
備え、この制御装置は、上記高レベル及び低レベルのレ
ーザパワーによる“１”及び“０”の記録特性を求める
のに、一定のパワーでＤＣ“１”を記録した後、記録用
データ信号として所定の単一のテスト信号を用い上記記
録信号の反転符号を記録するようにして再生信号レベル
をモニタし、高レベル及び低レベルのレーザパワーを２
次元走査して２次元座標についての等高線領域表現の記
録特性として求め、上記再生信号レベルに基づいて上記
情報記録媒体に対する最適な高レベル及び低レベルのレ
ーザパワーを得ることを特徴とするものである。

【００２５】さらに、請求項１２に係る光変調オーバー
ライト記録装置は、高レベル及び低レベルのレーザパワ
ーとより低レベルのレーザパワーとの値が設定され出力
するレーザ強度を３値制御するレーザ駆動回路と、上記
レーザ駆動回路により光変調オーバーライト可能な情報
記録媒体へ照射されるレーザパワーの再生信号レベルを
検出するレベル検出器と、上記レーザ駆動回路へレーザ
パワーの設定値と記録用データ信号を与える制御装置と
を備え、この制御装置は、上記高レベル及び低レベルの
レーザパワーによる“１”及び“０”の記録特性を求め
るのに、一定のパワーでＤＣ“１”またはＤＣ“０”を
記録した後、記録用データ信号として所定の単一のテス
ト信号を用い上記記録信号の反転符号を記録し、さらに
上記テスト信号とはコンプリメントパターンでなり、か
つ位相同期したテスト信号を用いて上記記録信号の反転
符号の反転符号を記録するようにして再生信号レベルを
モニタし、高レベル及び低レベルのレーザパワーを２次
元走査して２次元座標についての等高線領域表現の記録
特性として求め、上記再生信号レベルに基づいて上記情
報記録媒体に対する最適な高レベル及び低レベルのレー
ザパワーを得ることを特徴とするものである。

【００２６】

【作用】この発明の請求項１による光変調オーバーライ
ト記録装置においては、簡単な回路構成で信頼性良く、
媒体の最適な記録パワーを見つけだすことができ、パワ
ーマージンの狭い媒体を使っても、また、各社、各種の
媒体に対しても、精度良く記録パワーを設定でき、従っ
て、光変調オーバーライト記録装置の組立出荷時のパワ
ーの絶対精度が精密である必要がなく、パワーの調整精
度を緩和させる。

【００２７】また、請求項２による光変調オーバーライ
ト記録装置においては、情報記録媒体に対する高レベル
及び低レベルのレーザパワーによる“１”及び“０”の
記録特性を、記録用データ信号として単一のテスト信号
を用いて高レベル及び低レベルのレーザパワーを２次元
走査して再生信号レベルをモニタし高レベルのレーザパ
ワー対高レベルと低レベルのレーザパワーの比率に応じ
た２次元座標の線形勾配等高線で表現し、この２次元座
標上の線形勾配特性を使って座標上の領域を分割する各
境界線を越えるのに必要な域値交差を線形演算で求める
ことにより、上記２次元座標上の許容領域を求め、この
許容領域内の代表点を情報記録媒体に対する最適な高レ
ベル及び低レベルのレーザパワーとする。

【００２８】また、請求項３に係る光変調オーバーライ
ト記録装置においては、制御装置から与えられる高レベ
ル及び低レベルのレーザパワーの設定値に基づき記録手
段により、テスト信号を２値に変調した情報をオーバー
ライト記録が可能な情報記録媒体に記録し、再生時に、
誤り量測定手段により、記録された情報の誤り量が測定
される。上記制御装置は上記設定値を順次変えて誤り量
が所定値を下回るレーザパワーの組み合わせの中で最も
低いレーザパワーの組み合わせを最適値とする。

【００２９】また、請求項４に係る光変調オーバーライ
ト記録装置においては、制御装置により、誤り量測定手
段による再生データの検出ウインドウを誤り量を求める
際に狭めるべく制御することによって、誤り率を増大さ
せ、誤り率を測定する際の必要なトラック数を低減させ
る。

【００３０】また、請求項５に係る光変調オーバーライ
ト記録装置においては、制御装置により、最も低いレー
ザパワーの組み合わせの各パワーに一定係数を掛けたも
のを最適値とすることにより、ドライブのパワー変動を
考慮する。

【００３１】また、請求項６に係る光変調オーバーライ
ト記録装置においては、制御装置により、最も低いレー
ザパワーの組み合わせとして、高レベルと低レベルのレ
ーザパワーの積が最も小さいものを選定することによ
り、選定処理を正確、かつ短時間に行う。

【００３２】また、請求項７に係る光変調オーバーライ
ト記録装置においては、制御装置により、最も低いレー
ザパワーの組み合わせとして、高レベルと低レベルのレ
ーザパワーの加算値が最も小さいものを選定することに
より、選定処理を正確、かつ短時間に行う。

【００３３】また、請求項８に係る光変調オーバーライ
ト記録装置においては、記録用データ信号として単一の
テスト信号を用いて高レベル及び低レベルのレーザパワ
ーを２次元走査して記録特性と消去特性を求めるように
し、再生信号レベルをモニタして線形結合される３点の
記録パワーの組み合せから３点とも許容値を越えた場合
の中央点の再生信号レベルに対応する高レベル及び低レ
ベルのレーザパワーを情報記録媒体に対する最適記録パ
ワーとする。

【００３４】また、請求項９に係る光変調オーバーライ
ト記録装置においては、制御装置から与えられる高レベ
ル及び低レベルのレーザパワーの設定値に基づき記録手
段により、テスト信号を変調した情報をオーバーライト
記録が可能な情報記録媒体に記録し、再生時に、制御装
置によって再生信号の検出ウインドウが遅れおよび進み
方向にそれぞれ所定量シフトされて、誤り量測定手段に
よりそれぞれ検出ウインドウがシフトされた再生信号の
第１と第２の誤り量が測定される。上記制御装置は上記
高レベル及び低レベルのレーザパワーの設定値を順次変
えて上記第１と第２の誤り量に基づく誤り率がともに所
定値を下回るレーザパワーに基づきそれぞれパワー値の
最も高い値と最も低い値の平均値で求まるレーザパワー
の組み合わせを最適な記録パワーとする。

【００３５】また、請求項１０に係る光変調オーバーラ
イト記録装置においては、制御装置から与えられる高レ
ベル及び低レベルのレーザパワーの設定値に基づき記録
手段により、テスト信号を変調した情報をオーバーライ
ト記録が可能な情報記録媒体に記録し、再生時に、制御
装置によって再生信号の検出ウインドウが遅れおよび進
み方向にそれぞれ所定量シフトされて、誤り量測定手段
によりそれぞれ検出ウインドウがシフトされた再生信号
の第１と第２の誤り量が測定される。上記制御装置は、
誤り量測定手段に与える検出ウインドウのシフト設定量
を変えて上記第１と第２の誤り量に基づく誤り率がとも
に所定値を下回る検出ウインドウをウインドウマージン
として求め、上記記録手段に与える高レベル及び低レベ
ルのレーザパワーの設定値を順次変えて２次元走査し、
上記ウインドウマージンの最も広い領域の中心値となる
高レベル及び低レベルのレーザパワーの組み合わせを最
適な記録パワーとする。

【００３６】また、請求項１１による光変調オーバーラ
イト記録装置においては、一定のパワーでＤＣ“１”を
記録した後、記録用データ信号として所定の単一のテス
ト信号を用い上記記録信号の反転符号を記録するように
して再生信号レベルをモニタし、高レベル及び低レベル
のレーザパワーを２次元走査して、得られる再生信号レ
ベルに基づいて情報記録媒体に対する最適な高レベル及
び低レベルのレーザパワーを得る。

【００３７】また、請求項１２による光変調オーバーラ
イト記録装置においては、一定のパワーでＤＣ“１”ま
たはＤＣ“０”を記録した後、記録用データ信号として
所定の単一のテスト信号を用い上記記録信号の反転符号
を記録し、さらに上記テスト信号とはコンプリメントパ
ターンでなり、かつ位相同期したテスト信号を用いて上
記記録信号の反転符号の反転符号を記録するようにして
再生信号レベルをモニタし、高レベル及び低レベルのレ
ーザパワーを２次元走査して、得られる再生信号レベル
に基づいて情報記録媒体に対する最適な高レベル及び低
レベルのレーザパワーを得る。

【００３８】

【実施例】実施例１．以下、この発明の実施例１を図に
基づいて説明する。図１は光変調オーバーライト可能な
光磁気記録媒体の構成図を示す。図１に示すように、光
変調オーバーライト可能な光磁気記録媒体１は、例えば
ガラスでなる基板２上にスパッター法等で、誘電体層
３、メモリ層としての第１磁性層４、記録層としての第
２磁性層５、スイッチ層としての第３磁性層６、初期化
層としての第４磁性層７、及び保護層８を形成して構成
される。

【００３９】ここで、これらの各磁性層の特性は次のよ
うに特徴付けられる。先ず、隣接する磁性層は交換力で
結合している。そして、第１磁性層４は情報の保持を行
うメモリ層であり、第２磁性層５は記録を実際に行う記
録層、第３磁性層６及び第４磁性層７は情報媒体の役割
を有せず、光変調ダイレクトオーバーライトを可能にし
た付加層で、第３磁性層６は第４磁性層７からの交換力
を高温で遮断するためのスイッチ層、第４磁性層７はレ
ーザ照射による温度上昇に対し動作範囲で副格子磁化の
反転はせずバイアス磁界と拮抗する作用を有する初期化
層である。

【００４０】上記構成の光磁気記録媒体１は次のように
磁化動作する。（低温動作）図２に示す如く、再生時よりレーザ出力を
上昇させ集光スポット内の磁性層が第１磁性層４のキュ
リー温度Ｔ_C1近傍にまで上昇したときは、第２磁性層５
の磁化方向は変化せず、第２磁性層５の磁化が第１磁性
層４に転写され、第１磁性層４の磁化は下向きになる。
このとき、第４磁性層７は動作に対する寄与は特にな
く、第３磁性層６の磁化が消失しても第４磁性層７との
交換力で再び同方向に磁化され、初期状態「０」にな
る。また、第３磁性層６は常温では必ず第４磁性層７と
の交換力で「０」の状態になる。なお、図中、Ｔ_ci（ｉ
＝正の整数）は第ｉ磁性層のキュリー温度を示す。

【００４１】（高温動作）図３に示す如く、第２磁性層
５のキュリー温度Ｔ_C2近傍にまで上昇したときは、第１
磁性層４、第３磁性層６の磁化は消失するが、第４磁性
層７の磁化方向は変化しない。第１磁性層４、第３磁性
層６からの交換力を受けず外部磁界により第２磁性層５
の磁化は上向きになる。第１磁性層４のキュリー温度Ｔ
_C1の時に第２磁性層５の磁化が第１磁性層４に転写さ
れ、キュリー温度Ｔ_C1とＴ_C3の間で固定されて、第１磁
性層４の磁化は上向きになる。

【００４２】また、第３磁性層６のキュリー温度Ｔ_C3よ
り降温したとき、第３磁性層６の磁化は第４磁性層７と
揃い下向きになり、さらに、温度が下がり第２磁性層５
の磁化は第３磁性層６を介して第４磁性層７の磁化と揃
い下向きになって、初期状態「１」になる。高温動作で
Ｔ_C3より降温したときの第２磁性層５の磁化配向につい
ては状態１への状態遷移が必要となる。

【００４３】図４は上述した磁化特性を模式化したもの
であり、キュリー温度Ｔ_C2より高くキュリー温度Ｔ_C4よ
り低い範囲の高レベルのレーザパワーと、キュリー温度
Ｔ_C1より高くキュリー温度Ｔ_C2より低い範囲の低レベル
のレーザパワーとの印加時における磁性層上の温度時間
経過特性（図示実線）と、これに伴う各磁性層の磁化時
間経過特性を示している。なお、いずれの特性も各レー
ザパワーの中心位置からビーム走査方向とは逆方向に時
間経過特性を取っている。

【００４４】図４から明らかなように、上記の如く４層
構造の光磁気記録媒体１を用いてオーバーライトを可能
にするには、外部磁界方向と初期化磁化方向が逆方向
で、外部磁界方向と同方向を“１”に、初期化磁化方向
を“０”に対応させれば良く、記録時に、キュリー温度
Ｔ_C1より高くキュリー温度Ｔ_C2より低くする低レベルの
レーザパワーを照射すると共に、キュリー温度Ｔ_C2より
高くキュリー温度Ｔ_C4より低くする高レベルのレーザパ
ワーを照射し、また、再生時にはキュリー温度Ｔ_C3より
低くするより低レベルのレーザパワーを照射する３値制
御が必要となる。

【００４５】図５は上述した光磁気記録媒体１のテスト
記録方式を説明する実施例１に係る光変調オーバーライ
ト記録装置の構成図で、テスト記録を行い再生信号レベ
ルから最適記録パワーを求めるものである。図におい
て、１は上述した４層構造の光磁気記録媒体、１００は
ドライブ内蔵ＣＰＵ１００ａと図示しないメモリ及び上
述した高レベルのレーザパワーＰ_Ｈと低レベルのレーザ
パワーＰ_Ｌ及びより低レベルのレーザパワーＰ_r が設定
されるレーザ強度の３値制御可能なレーザ駆動回路等を
備える制御装置、１３は検出器ＰＩＮを介してレーザパ
ワーの再生信号レベルを検出するレベル検出器、１５は
外部磁界印加回路、１６はモード制御のための切換スイ
ッチである。

【００４６】上記構成においては、制御装置１００によ
る制御によりテスト信号が与えられて、これに応じレー
ザパワーを出力すべくレーザ光源ＬＤを駆動し、上記レ
ーザ光源ＬＤから出力されるテスト信号によって光磁気
記録媒体１には“１”と“０”の記録がなされ、検出器
ＰＩＮを介してレベル検出器１３によりそのときのレー
ザパワーの再生信号レベルが検出されて、制御装置１０
０内のメモリに一時記憶される。

【００４７】図６はテスト記録時の動作シーケンス図を
示すものである。以下、この図６を参照して動作を説明
する。まず、制御装置１００のドライブ内蔵ＣＰＵ１０
０ａにて、図５における切換スイッチ１６を上側に設定
してテスト記録モードに設定し、テスト記録すべき高レ
ベルのレーザパワーＰ_H および低レベルのレーザパワー
Ｐ_L （以後、パワーの組み合わせを（Ｐ_H 、Ｐ_L ）と表
し、これに（Ｐ_H0、Ｐ_L0）をセットする（Ｓ１０１，Ｓ
１０２）。

【００４８】また、外部磁界印加回路１１にて、磁界を
反転させ、高レベルのレーザパワーをＰ_H1に設定して、
ＤＣの“１”を光磁気記録媒体１の所定のトラックに記
録する（Ｓ１０３）。このパワーＰ_H1は記録前がどのよ
うな状態でも“１”に記録できるかなり高いパワーにあ
らかじめ設定する。この値は光磁気記録媒体１に最適な
パワーである必要はない。

【００４９】その後、磁界を元の極性に戻して、先程設
定したパワー（Ｐ_H 、Ｐ_L)にて、ＤＣ“１”を記録した
トラックにテストパターンを記録する（Ｓ１０４）。こ
のテストパターンは何でも良いが、再生振幅が測定し易
く、かつ記録パワーの変化に対して振幅変化の大きい信
号が良く、最高記録周波数を選ぶと良い。

【００５０】次に、記録されたトラックを再生して再生
信号振幅Ｖ（Ｐ_H 、Ｐ_L)を測定し、測定データをメモリ
に記録する（Ｓ１０５）。そして、低レベルのレーザパ
ワーＰ_L がＰ_LMAXになるまで、低レベルのレーザパワー
Ｐ_L をΔＰ_L ずつ増加させて同一の記録再生を繰り返す
（Ｓ１０６，Ｓ１０７，Ｓ１０３〜Ｓ１０６）。

【００５１】次いで、高レベルのレーザパワーＰ_H をΔ
Ｐ_H ずつ増加させて記録再生を繰り返し（Ｓ１０８，Ｓ
１０９，Ｓ１０２〜Ｓ１０８）、再生信号振幅Ｖ（Ｐ
_H 、Ｐ_L)の２次元マップを作成する（Ｓ１１０）。得ら
れたマップからレーザパワーの振幅が閾値Ｖ_th（温度の
閾値Ｔ_C1とＴ_C2）を越す特性図を図７に示す。この図か
ら、閾値Ｖ_thを越す領域のほぼ中心に最適記録パワーを
設定する。

【００５２】これは、ドライブ内蔵ＣＰＵ１００ａを使
って容易に見つけることができる。媒体には、通常、デ
ータを記録するユーザ領域のさらに内周と外周の２箇所
にテスト記録領域（MANUFACTURER ZONE）があり、この
両方の領域でテスト記録を行うことにより、ユーザ領域
の記録パワーを半径位置から内挿して決定し、半径に応
じた記録パワーをメモリに記録する。テスト記録が終了
すると、ドライブ内蔵ＣＰＵ１００ａは切換スイッチ１
６を下側に切り換えて、通常の記録モードに切り換える
と同時に、先程決定した記録パワーで記録を行う。

【００５３】再生信号振幅の変化はキャリアとノイズの
比Ｃ／ＮのキャリアレベルＣの変化そのものであり、Ｃ
／Ｎが基準値近傍では、ノイズレベルＮはほぼ一定値で
あることから、Ｃ／Ｎの変化は再生信号振幅の変化にほ
ぼ一致する。また、ここで述べた磁界を反転させたＤＣ
“１”記録後の正規の磁界特性の信号記録では、記録特
性と同時に消去特性も判定可能である。

【００５４】即ち、閾値Ｔ_C1に対応する記録パワーを高
レベルのレーザパワーが越えると、“１”が“０”に反
転して、“１”が消去されると同時に、“０”が記録さ
れて、大きな信号振幅が得られることになる。これによ
り、微小な消し残りを測定することなく、大振幅の信号
振幅を測定すれば良く、測定回路が簡単になるばかりで
なく、測定精度が向上する。

【００５５】したがって、上記実施例１に係る光変調オ
ーバーライト記録装置によれば、媒体毎にテスト記録を
行うことにより、記録パワーマージンの低下したオーバ
ーライトが可能な媒体を使用可能にすることができる。
また、磁界を反転させてＤＣ“１”記録を行った後に、
磁界を元に戻してテストパターン記録を行うため、記録
特性と同時に消去特性も判定可能になり、高価なスペク
トラムアナライザを使うことなく、光変調オーバーライ
ト記録装置で最適な記録パワーを決定できるという効果
を有する。

【００５６】実施例２．次に、実施例２について図面を
参照して説明する。図８は上記光磁気記録媒体１を用い
て自己最適記録パワーを自己検知する実施例２に係る光
変調オーバーライト記録装置の構成図を示すもので、テ
スト記録を行い再生信号レベルから統計処理により最適
記録パワーを求める最適値探査法に係るものである。

【００５７】図８において、図５と同一部分は同一符号
を示しその説明は省略する。この図８では、説明の都合
上、図５における制御装置１００を、ＣＰＵを主体とす
る制御装置１０と、記録用データ信号として用いるコー
ド中、最も繰返しの短い３Ｔ（“１００”、Ｔは周期）
のテスト信号Ｔ１を備えるテスト信号発生器１１と、制
御装置１０によって高レベルのレーザパワーＰ_Ｈと低レ
ベルのレーザパワーＰ_Ｌ及びより低レベルのレーザパワ
ーＰ_r が設定されるレーザ強度の３値制御可能なレーザ
駆動回路１２と、メモリ１４とに分割して説明する。

【００５８】上記構成においては、制御装置１０の制御
によって切換スイッチ１６はテストモード位置に切り換
えられ、レーザ駆動回路１２にはテスト信号発生器１１
からのテスト信号Ｔ１が与えられてこれに応じレーザパ
ワーを出力すべくレーザ光源ＬＤを駆動する。そして、
このレーザ光源ＬＤから出力されるテスト信号Ｔ１によ
って光磁気記録媒体１には“１”と“０”の記録がなさ
れ、検出器ＰＩＮを介してレベル検出器１３によりその
ときのレーザパワーの再生信号レベルが検出され、メモ
リ１４に一時記憶されて再び制御装置１０に取り込まれ
る。

【００５９】ここで、光磁気記録媒体１には高レベルの
レーザパワーＰ_Ｈがデータ“１”、低レベルのレーザパ
ワーＰ_Ｌがデータ“０”に対応して記憶される。しか
し、安定記憶のためのＰ_Ｈ，Ｐ_Ｌの許容範囲は、より低
レベルのレーザパワーＰ_r と３値競合のため狭くなる。
そこで、本実施例においては、単一のテスト信号Ｔ１を
用いて、ＤＣ“０”の記録を行い初期化した状態で、テ
スト信号Ｔ１により“１”の記録特性を、ＤＣ“１”の
記録を行い初期化した状態で、テスト信号Ｔ１により
“０”の記録特性（“１”の消去特性）をそれぞれ探
り、高レベルのレーザパワーＰ_Ｈ、低レベルのレーザパ
ワーＰ_Ｌを２次元走査して求めるようにする。

【００６０】このとき、再生信号レベルをモニタし、高
レベルのレーザパワー対高レベルと低レベルのレーザパ
ワーの比率に応じた２次元座標の線形勾配等高線で表現
し、この２次元座標上の線形勾配特性を使って座標上の
領域を分割する各境界線を越えるのに必要な域値交差を
線形演算で求めることにより、上記２次元座標上の許容
領域を求め、この許容領域内の代表点を情報記録媒体に
対する最適な高レベル及び低レベルのレーザパワーとす
る。

【００６１】すなわち、オーバーライト特性を記録及び
消去特性として捕らえると、記録特性は特性の指標とし
て容易かつ高精度に実行できる再生信号レベル値が採用
できる。一方、消去特性は高精度に測定しようとする
と、雑音レベルと同じ程度の量を取り扱うことになり、
専用の測定器（例えばスペクトラムアナライザ）を使う
必要がある。これは、ドライブ自身で自律自動で行えな
い。

【００６２】そこで、テスト信号に単一のパターンを選
び、ＤＣ“０”ーテスト信号Ｔ１、ＤＣ“１”ーテスト
信号Ｔ１の記録というように、“１”の記録と“０”の
記録の両者の記録特性を考えてオーバーライト特性を定
義し直す。このことにより、両特性は、レベル値の高い
ところで測定できるようになり、高精度でかつ容易に実
行できる。

【００６３】例えば、測定回路は、８ビット程度の量子
化数をもつＡＤコンバータで実現でき、したがって、高
価な専用測定器は不要になり、ドライブ自身で測定が実
行できる。また、テスト信号は単一のパターンであるた
め、テスト信号Ｔ１を抜き取るフィルタ回路のみでレベ
ル検出器が構成でき、テスト信号発生器も一種類で良く
回路規模は小さくなる。

【００６４】そして、記録するテスト信号として、記録
用データ信号として用いるコード中、最も繰返しの短い
３Ｔ（“１００”、Ｔは周期）のテスト信号Ｔ１を用意
して再生信号レベルをモニタして特性を取り、記録に最
適な高レベル及び低レベルのレーザパワーを求める。こ
の時、高レベルのレーザパワーと低レベルのレーザパワ
ーを２次元座標にし、特性を２次元領域として求める。

【００６５】このようにすることにより、高レベルのレ
ーザパワーによる“１”の記録特性と低レベルのレーザ
パワーによる“０”の記録特性の独立性または従属性が
評価でき、より的確な最適記録パワーの索定が可能にな
る。

【００６６】一般に、レーザパワーは正値一次元量であ
るから、２次元プロットによりその従属性が明確にな
り、レーザパワーを走査して“１”と“０”の記録特性
を取る時にその走査ステップが簡単になる。つまり、テ
スト記録時間が短縮できる。また、消去特性という概念
を有しないからそのレベル測定が高精度で行うことがで
き、従って、ドライブ自己測定が可能となる。

【００６７】次に、上記レーザパワーの２次元走査に基
づいて最適なレーザパワーの値を高速に求める最適値探
査法について述べる。ところで、光磁気記録媒体１に照
射されたレーザパワーＰ_HとＰ_Lは、熱に変換され“１”
または“０”を記録する。光変調オーバーライト可能な
光磁気記録媒体１は、それぞれ異なったキュリー温度を
有する４磁性層から成る。

【００６８】図４に示す第２磁性層（記録層）５のキュ
リー温度Ｔ_C2が“１”か“０”のスピン方向を決める高
閾値となり、読み出し層である第１磁性層（メモリ層）
４への転写が行われるキュリー温度Ｔ_C1が低閾値とな
る。第４磁性層（初期化層）７のキュリー温度Ｔ_C4は、
最適値を決めるパラメータには成らず、高域の絶対定格
を与える。高レベルのレーザパワーＰ_H の閾値はキュリ
ー温度Ｔ_C2で決まるレーザパワーＰ_th2 、低レーザパワ
ーＰ_L 側はキュリー温度Ｔ_C1で決まるレーザパワーＰ
_th1 となる。

【００６９】今、図９に示す如く、光磁気記録媒体１上
のトラックに沿った螺旋軸上に１次元座標ｘ（半径方向
にはランド部中心）を採り、テスト信号の高レベルのレ
ーザパワーＰ_H の期間長をＬ＝ｖτ（ｖ：線速度、τ：
Ｐ_H 時間）、低レベルのレーザパワーＰ_L の期間長を
Ｓ、再生ビームの強度分布がｅ^-1となるスポット径を
σ、β＝１／（√２・σ）、トラック方向座標（距離）
ｘについての誤差函数をｅｒｆ（ｘ）とする。

【００７０】すると、高レベルと低レベルのレーザパワ
ーＰ_H ，Ｐ_L の照射による光磁気記録媒体１上の座標ｘ
をパラメータとした温度分布は、“１”の記録特性とな
るマーク側をＴｍ（ｘ）、“０”の記録特性となるスペ
ース側をＴｓ（ｘ）で表すと次式のものとなる（文献１
と文献２参照）。

【００７１】 Tm(x)={(A√π)/(βv)}[P_L+(1/2)(P_H-P_L){erf(βx)+erfβ(L-x)}] ・・（１） Ts(x)={(A√π)/(βv)}[P_H+(1/2)(P_L-P_H){erf(βx)+erfβ(S-x)}] ・・（２）ここで、Ａは定数である。

【００７２】文献１．B.Barthoolomeusz,P.Bowers,and
D.Genova,“Simple predictive models for the therma
l response of optical data storage media",pp.4635-
4639,J.Appl,Phys.66(10),15 November 1989. 文献２．Brian J.Bartholomeusz,David J.Genova,and D
ouglas G.Stinson,“Influence of laser read and bia
s power levels on the performance of thermomagneto
optic recording media",pp.3030-3039,APPLIED OPTICS
Vol.29,No.20,10 July 1990.

【００７３】図９において、マーク“１”側に対して、
Ｔ_C2＝Ｔｍ（０）＝Ｔｍ（Ｌ）であるから（Ｔ_C2は媒体
によって定まる定数）、Ｔ_C2＝{(A√π)/(βv)}{P_L+(1/2)(P_H-P_L)・{erf(βL)} となり、これを変形すると、 [{βv/(A√π}T_C2-P_L]/(P_H-P_L)=erf(βL)/2 となる。ここで、P_th2=T_C2・βV/(A√π}，k=P_L/P_H と
おくと、 {1-(P_th2/P_H)}/{1-erf(βL)/2}+k=1 ・・（３）の関係式が成り立つ。

【００７４】また、スペース“０”側に対しては、温度
が最も低い点がＴ_C1（Ｔ_C1は媒体によって定まる定数）
となるので、 T_C1=Ts(S/2) ={A√π/(βv)}{P_H+(P_L-P_H)erf(βS/2)} となる。ここで、P_th1=T_C1・βv/(A√π) とおくと、 {1-(P_th1/P_H)}/erf(βS/2)+k=1 ・・（４）の関係式が成り立つ。

【００７５】また、マーク側とスペース側の境界におい
ては温度分布が連続しているから式（３）と（４）から {1-(P_th1/P_H)}/{1-erf(βL)/2}+k=1 ・・（５） {1-(P_th2/P_H)}/erf(βS/2)+k=1 ・・（６）の関係式が成り立つ。

【００７６】このことから、再生信号レベルの輪郭線
（等高線）群は式（３）〜（６）で表されるα（＝１−
η／Ｐ_H ，ηは表示上の原点）ーｋ平面上の直線群にな
る。ここで、αは高レベルのレーザパワーＰ_H に比例
し、ｋは低レベルのレーザパワーＰ_L に比例する関係を
有する。レーザパワーは元々一次元正値の量であるが、
高レベルと低レベルのレーザパワーＰ_H ，Ｐ_L の２次元
パワーと把握することにより、αーｋ平面で特性が得ら
れる。

【００７７】図１０はこのαーｋ平面を示すものであ
る。図中、直線Ｌ₁ 〜Ｌ₄ は上記式（３）〜（６）によ
り求まるもので、再生信号レベルをその特性指標に選ん
だときレベルが０となる４本の境界線を示している。こ
の４本の直線Ｌ₁ 〜Ｌ₄ と、第４磁性層のキュリー温度
Ｔ_C4で決まるレーザパワーの上限値及び変調境界Ｋ＝１
とにより、図中丸１〜丸６の６つの領域が区分けされ、
各領域は次の記録領域を示している。

【００７８】丸１：“１”記録かつ“０”記録、丸
２：高レベルのレーザパワーＰ_H で“０”記録、丸３：
“１”記録かつ高レベルのレーザパワーＰ_H 周辺部
“０”記録、丸４：全“１”記録、丸５：全“０”記
録、丸６：非記録

【００７９】また、前述した図３６は温度と記録パワー
及びキュリー温度の関係を概念的に説明するもので、こ
の図３６において、記録が安定に行われ、規定再生閾値
を越える再生レベルが得られる場合は、図１０の丸１〜
６に対応して示すケース丸１で、ケース丸２〜丸６でな
いことを満足する高レベルと低レベルのレーザパワーＰ
_H ，Ｐ_L の組み合せである。

【００８０】この最適な領域を図１０に示すαーｋの平
面領域で求めると、丸１の太線内領域Ａとなる。すなわ
ち、最適な領域としては、回路定数や媒体定数から決ま
る丸１内の領域であり、これに所定のエラーレート以下
のレベルを確保する領域としては丸１の太線内領域Ａと
なる。

【００８１】ところで、レーザパワーは元々一次元正値
の量であるが、高レベルと低レベルのレーザパワーＰ_H
とＰ_L を２次元パワーと把握することにより、上述した
ように、α＝１ーη／Ｐ_H ，ｋ＝Ｐ_L ／Ｐ_H で与えられ
るαーｋ平面で特性が得られ、最適なレーザパワーを決
定する特徴のある領域が情報記録媒体によって決まる定
数と回路定数で先験的に分かる。

【００８２】そして、この領域を決定する境界線は先験
的に分かるからドライブでレーザパワーを走査して境界
線を見い出せば、逆に最適な領域を決定しているレーザ
パワーは見い出すことができる。

【００８３】すなわち、上述したように、高レベルと低
レベルのレーザパワーＰ_H とＰ_L という２次元量で走査
することにより最適なパワー領域が把握でき、テスト記
録により最適パワーが決定できる。また、αーｋ平面で
は再生信号レベルをその特性指標に選んだとき、再生信
号レベルが０となる境界線は図１０に示す４本の直線Ｌ
₁ 〜Ｌ₄ で表現され、最適な領域に達するには、高レベ
ルと低レベルのレーザパワーＰ_H とＰ_L をいずれもリー
ドパワーというより低レベルのレーザパワーＰ_r から走
査を開始するとして、最低図１０に示す直線Ｌ₃ ，Ｌ
₄ ，Ｌ₁ の３本の直線を横切れば良いから３×２＝６点
の走査で最適パワー、つまり領域Ａ内の代表値が決定で
きる。

【００８４】以下、最適パワーを求める高速探査法につ
いて具体的に述べる。先ず、図１０に示すα−Ｋ平面上
の臨界点については後述する値を取り得る。上述したよ
うに、α−Ｋ平面上の領域は、Ｐ_H 、Ｐ_L のとる値によ
って特徴ある６つの領域丸１〜丸６に分割される。

【００８５】これら領域の境界線は４本存在するが、メ
モリ層としての第１磁性層４のキュリー温度Ｔ_C1から決
まるスレッショルドパワーＰ_th1 、低レベルのレーザパ
ワーＰ_L が要因となる境界線Ｌ₄ と記録層としての第２
磁性層５のキュリー温度Ｔ_C2から決まるスレッショルド
パワーＰ_th2 、高レベルのレーザパワーＰ_H が主要因の
境界線Ｌ₁ との交点が、４層磁性体の臨界点となる。す
なわち、この点を境にして、図中、丸１で示す安定記録
領域、丸２で示す反転記録領域、丸３で示す自己反転記
録領域、丸５で示す非記録領域に分離する。

【００８６】境界線の式から、図９に示すレーザ点灯時
間長Ｌ、オフ時間長Ｓに対して、前述した式（３），
（４）を変形すると、 α₂／｛１-ｅｒｆ(βＬ)/２｝＋Ｋ＝１，α₂＝１-(Ｐ_th2／Ｐ_H) （７） α₁／｛ｅｒｆ(βＳ／２)｝＋Ｋ＝１， α₁＝１-(Ｐ_th1／Ｐ_H) （８）となる。

【００８７】この２式をα，Ｋについて解くと、Ａ＝｛１−ｅｒｆ（βＬ）／２｝／ｅｒｆ（βＳ／
２），ｂ＝ｅｒｆ（βＬ）／２，Ｓ＝ｅｒｆ（βＳ／２）とし
て表わしたとき、 α₁ ＝（Ｐ_th2−Ｐ_th1）／（Ｐ_th2−Ａ・Ｐ_th1） α₂ ＝Ａ・α₁ Ｋ＝｛ｂ・Ｐ_th1−（１−Ｓ）・Ｐ_th2｝／｛ｂ・Ｐ_th1−（１−Ｓ）・Ｐ_th2 ＋（Ｐ_th2−Ｐ_th1）｝となる。

【００８８】ここで、典型的なＫの値は、最密記録時記
録用データ信号として３Ｔパターンに対して、Ｌ：Ｓ＝
１：４でレーザパワーの半値幅ＦＷＨＭで“１”が記録
されるから β＝１／（√２σ），βＬ＝√２×0.598 ＝0.846，β
Ｓ＝４×βＬ＝1.69×2 となり、誤差函数値を求めると、ｅｒｆ(βＬ)／２≒0.385，１−ｅｒｆ(βＳ／２)≒0.0
17 となる。

【００８９】従って、メモリ層としての第１磁性層４の
スレッショルドパワーＰ_th1 と記録層としての第２磁性
層５のスレッショルドパワーＰ_th2 の比を用いて表す
と、Ｋ＝｛0.385 ×（Ｐ_th1／Ｐ_th2）−0.017｝／｛0.983−0.615×（Ｐ_th1／Ｐ_th2）｝となり、比Ｐ_th1／Ｐ_th2は通常１／２程度にとるから、Ｋ ≒ ０．２６となる。

【００９０】また、リターンゼロ（ＲＺ）記録方式の最
長の８Ｔパターンに対しては βＳ＝ ∞ と見做されるから、Ｋ＝｛ｅｒｆ（βＬ）／２｝／｛（Ｐ_th2／Ｐ_th1）−１＋ｅｒｆ（βＬ）／２｝≒０．２８となる。

【００９１】そして、外周部に対しては、線速が２倍に
なるから、 βＬ＝２×√２×０．５９８＝１．６９，ｅｒｆ（１．６９）／２＝０．４９≒０．５ ∴Ｋ≒０．５／１．５＝１／３となる。

【００９２】また、誤差函数は、変数値が１．８３のと
き０．９９となるから、βＬがこの値を超える場合（即
ち、ＮＲＺ記録）にも上式は成立し、Ｋの値は、Ｐ_th2
／Ｐ_th1 が１／２のときの上限値１／３を持つことにな
る。

【００９３】一方、臨界点のＫ値の下限値は、ＲＺ記録
層方式においては、仮にレーザ波長あるいはレンズＮ．
Ａ．を２倍にしてβＬ〜１／２としたとしても、βＳ＞
＞１となるから、ｅｒｆ(βＬ)／２≒βＬ／√π，１−
ｅｒｆ(βＳ)≒１とするときＫ＝｛０．５６４×βＬ｝／｛(Ｐ_th2 ／Ｐ_th1)−１＋０．５６４×βＬ｝ ≒０．２２となる。結論として、臨界点のＫの値は次の値をとり得
る。０．２２＜Ｋ＜１／３あるいは１／４＜Ｋ＜１／３

【００９４】高速探査法において、最適パワーを決める
ためのパワー走査シーケンスは、最適な領域が図１０に
おける臨界点の右上側（Ｐ_H ，Ｐ_L とも大）に広がって
いるから臨界点が存在するＫ（＝Ｐ_L／Ｐ_H）に沿ってパ
ワーをステップ状に増加させれば良い。一般に、臨界点
のパワーはドライブＡＬＰＣ回路などの設定精度誤差に
よりどこにあるかわからない。しかし、物質定数と線速
および媒体反射率で決定されるＰ_th1、Ｐ_th2は既知であ
り、特に、その比は線速の影響を受けなく、かつ種々の
誤差要因の影響を受けない安定な定数である。

【００９５】また、図１０におけるＫのとり得る走査右
端限界△は次の様にして求められる。Ｐ_th1 を頂点とす
る領域に依存する境界線の方程式はα−Ｋ平面で、前述
した｛１−η／Ｐ_th1｝／ｅｒｆ（βＳ／２）＋Ｋ＝１の関係と、Ｋ＝１／３を用い、さらに、最初の初期パワ
ーＰ₁ はリードパワーＰｒからスタートするから、Ｋ＝３・Ｐｒ−｛１／ｅｒｆ（βＳ／２）｝・（３・Ｐｒ−Ｐ_th1）＝△ となり、この値は、図１０においてＰ_th1 からＫ＝０側
へある正の値分入ったところにある。

【００９６】次に、図１１と図１２は図８の制御装置１
０による動作フローチャートで、図１０において、前述
したＫのとり得る値を参照して６点のパワー走査Ｐ₁ →
Ｐ₂→・・・・→Ｐ₆ で最適な領域である丸１内の領域
Ａ内での代表値を求める際、高レベルのレーザパワー対
高レベルと低レベルのレーザパワーの比率に応じた２次
元座標であるα−Ｋ平面上の線形勾配特性を使って座標
上の領域を分割する各境界線を越えるのに必要な域値交
差を線形演算で求めることにより、α−Ｋ平面上の許容
領域丸１を求め、この許容領域内の代表点を情報記録媒
体に対する最適記録パワーを高速に求めるものである。

【００９７】図１１において、初期パワーＰ₁ として、
高レベル及び低レベルのレーザパワーＰ_H1，Ｐ_L1ともに
リードパワーＰｒに１ステップ分例えば△Ｐ＝０．５ｍ
ｗ加えた値に設定し、光磁気記録媒体１の予め定められ
た領域にＤＣ“０”の記録を行い初期化した状態で、３
Ｔでなるテスト信号を用いて記録パワーを走査してその
時の再生信号レベルＬ_EV1 をレベル検出器１３により測
定する（Ｓ２０１，Ｓ２０２）。

【００９８】次に、境界線Ｌ₃ を越えるＫの臨界点（Ｋ
＝１／３）上の走査パワーＰ₂ として、上記高レベルの
レーザパワーＰ_H1に２ステップ分例えば△Ｐ＝１ｍｗ加
えた値を走査パワーＰ₂ の高レベルのレーザパワーＰ_H2
とし、低レベルのレーザパワーＰ_L2はＰ_L1に固定し、パ
ワー走査時の再生信号レベルＬ_EV2 を測定する（Ｓ２０
３，Ｓ２０４）。

【００９９】この時、再生信号レベルＬ_EV2 がメモリ層
としての第１磁性層４のキュリー温度Ｔ_C1によって先験
的に決まり、かつ再生信号レベルＬ_EV2 が所定値以下の
エラーレートを確保するスレッショルドレベルＣ_th以上
か否かを判定し、Ｃ_th以上の時はＣ_thとなるレベルを決
定する高レベルのレーザパワーＰ_H2を内挿する。

【０１００】Ｃ_th以上でない時は、再生信号レベルＬ
_EV1，Ｌ_EV2からＣ_thを越える高レベルのレーザパワーＰ
_H2′を線形補間で外挿して求め、この高レベルのレーザ
パワーＰ_H2′に対してこれに対応するＫ＝１／３上の低
レベルのレーザパワーＰ_L2は、図１０においてＫ＝１／
３上にあるから、これに△方向に１ステップ分例えば△
Ｐ＝０．５ｍｗ加えた値、すなわちＰ_L2′＝(１／３)Ｐ
_H2′＋０．５ｍｗとする（Ｓ２０５〜Ｓ２０８）。

【０１０１】上述した如く、内挿点または外挿点Ｐ₂ ′
に対して、次の走査パワーＰ₃ は、高レベルのレーザパ
ワーＰ_H3をＰ_H2′に固定し、低レベルのレーザパワーＰ
_L3の増分を図１０に示すＫ＝１／３とＫ＝１に近い△と
の間の値、例えば１／２を選定して、Ｐ_L3＝Ｐ_L2′＋
(１／２)Ｐ_H2′に設定し、この走査パワーＰ₃ のパワー
走査時の再生信号レベルＬ_EV3 を測定する（Ｓ２０９，
Ｓ２１０）。

【０１０２】次に、走査パワーＰ₄ としては、図１０に
おいて領域分割する境界線Ｌ₄ を越える値を設定すれば
良く、Ｋ＝△線上の走査パワーに設定する。すなわち、
高レベルのレーザパワーＰ_H4＝Ｐ_H3とし、低レベルのレ
ーザパワーＰ_L4は、Ｋ＝△方向に移動すべくＰ_L3に増加
分（△−１／２）Ｐ_H2′を加えた値に設定し、この走査
パワーＰ₄ のパワー走査時の再生信号レベルＬ_EV4 を測
定する（Ｓ２１１，Ｓ２１２）。

【０１０３】その後、図１２において、再生信号レベル
Ｌ_EV4 が０となるか否かを判定し、０となるときは上記
低レベルのレーザパワーＰ_L4より低い低レベルのレーザ
パワーでＬ_EV4＝０となる点を求め、０でないときは再
生信号レベルＬ_EV3，Ｌ_EV4から０となる点を外挿し、こ
れを内挿／外挿点Ｐ₄′とする（Ｓ２１３，Ｓ２１
６）。

【０１０４】次に、走査パワーＰ₅ としては、高レベル
のレーザパワーＰ_H5をＰ_H4′に対して２ステップ分例え
ば１ｍｗ差し引いた値を設定するとともに、低レベルの
レーザパワーＰ_L5をＰ_L4′に対して（１／４）Ｐ_H2だけ
差し引いた値を設定し、また、ステップＳ１〜Ｓ４と同
様にして走査パワーＰ₆ を設定し、それぞれの再生信号
レベルを測定する（Ｓ２１７，Ｓ２１８）。

【０１０５】そして、内挿値からメモリ層としての第１
磁性層４のキュリー温度Ｔ_C1によって先験的に決まり、
かつ再生信号レベルＬ_EV6 が所定値以下のエラーレート
を確保するスレッショルドレベルＣ_th相当の領域、すな
わち図１０における領域Ａの境界線を求め、これに内接
する多角形（四角形）の代表値を最適パワーＰ_HoPt，Ｐ
_LoPtとして求める（Ｓ２１９〜Ｓ２２１）。

【０１０６】従って、上記実施例２によれば、記録特性
をとるためにパワー走査する際、高レベルと低レベルの
レーザパワーの２次元線形座標で線順序走査すると、走
査ステップ数の２乗オーダの時間がかかりテスト記録時
間は莫大となるが、高レベルのレーザパワーに応じた軸
と高低レベルのパワー比率軸でなり、その特性が線形の
勾配を有するα−Ｋ平面座標を選ぶことによって、許容
領域を求める域値判定に必要な走査点数がα−Ｋ平面上
で分割された領域を越えるのに最低限２点だけ必要であ
り、さらに、許容値との交差値はこの２点から線形外挿
で求められ、また、線形演算はルックアップテーブル参
照法で実行できるのでファームウエア化でき、そのステ
ップ数も極端に減少させることができ、テスト記録時間
の減少とハードウェア規模の削減が実現できる。

【０１０７】すなわち、上述したように、高レベルと低
レベルのレーザパワーＰ_H とＰ_L という２次元量で走査
することにより最適なパワー領域が把握でき、テスト記
録により最適パワーが決定できる。そして、αーｋ平面
では再生信号レベルをその特性指標に選んだとき、再生
信号レベルが０となる境界線は４本の直線で表現され、
最適な領域に達するには高レベルと低レベルのレーザパ
ワーＰ_H とＰ_L をいずれもリードパワーというより低レ
ベルのレーザパワーＰ_r から走査を開始するとして、最
低図１０に示す直線Ｌ₃，Ｌ₄，Ｌ₁ の３本の直線を横切
れば良いから３×２＝６点の走査で最適パワー、つまり
領域Ａ内の代表値が決定できる。

【０１０８】これら一連の動作は、ディスク装置自身で
自律自動により、媒体挿入時などの準実時間内に高速に
行い得、記録パワーマージンの狭い媒体に対しても信頼
性の高い記録が行い得られると共に、タイプの異なる媒
体、相変化媒体にも対応でき、種々の媒体感度に対応で
きる。

【０１０９】実施例３．次に、実施例３について図面を
参照して説明する。ところで、前述した特開平３ー１１
６５６６号公報に示す光変調オーバーライト記録装置に
おいては、記録した信号の再生振幅の関係から最適なレ
ーザパワーを決定しているが、最終的な信号品質は誤り
率で決まることから、信号振幅から得られたパワーが最
適でない場合がある。例えば、反射率が変化すると振幅
は変化し、誤り率は反射率に依存しないことからも言え
る。また、レーザパワーを１次元的に変化させているた
め、熱干渉の効果が検知できずレーザパワーの決定精度
が悪いという問題がある。

【０１１０】実施例３は、このような点に鑑みなされた
もので、情報記録媒体の反射率の変化に拘わらず所定の
誤り率以下の最適な記録パワーを、常に高精度にかつ短
時間に検知するための統計処理による最適値探査法に係
るもので、最適な記録パワー決定の条件に誤り率を用い
ると共に、誤り率を測定する方法として検出ウインドウ
をシフトする方法を採用する。すなわち、図１３はこの
実施例３に係る光変調オーバーライト記録装置の構成図
で、検出ウインドウをシフトして所定の誤り率以下にす
べく最適な高レベルと低レベルのレーザパワーの組み合
わせを求めるようしたものである。

【０１１１】同図において、図５及び図８と同一部分は
同一符号を付し、その説明は省略する。１０はマイクロ
コンピュータでなる制御装置で、この実施例では、後述
するＰＬＬ回路２４からのリードデータとデータエラー
判定回路２５からの誤り量のデータに基づいてビット誤
り率を算出し、所定の誤り率以下の高レベル及び低レベ
ルのレーザパワーの組み合わせを求めるべく高レベル及
び低レベルのレーザパワーの組み合わせ設定値を順次後
述するパワーコントロール回路２６に与え２次元走査に
よるテスト記録を制御するとともに、誤り率を測定する
際にＰＬＬ回路２４に再生データの検出ウインドウを狭
めるべく制御信号を送出する。

【０１１２】また、２１は光磁気記録媒体１に所定のレ
ーザパワーを照射して信号を記録し、記録した信号を再
生するための光ヘッド、２２はヘッドアンプ、２３はヘ
ッドアンプ２２を介して記録した信号を検波しデジタル
データに２値化変換して元のデータ情報を復調しディス
ク再生データＲＤを得るデータ検出回路である。

【０１１３】さらに、２４は基準クロックとリードゲー
ト及びディスク再生データＲＤに基づいて再生クロック
ＶＣＯＣＫを生成すると共に復調誤りがあれば誤り信号
を出力しつつ再生クロックに同期した同期データＳＤを
得るＰＬＬ回路、２５は光磁気ディスク装置内のＩＣ内
にあるデータエラー判定回路で、上記ＰＬＬ回路２４か
らの再生クロックに同期した同期データに基づいてデー
タエラーを判定し誤り量を制御装置１０に送出する。２
６は制御装置１０から与えられる高レベル及び低レベル
のレーザパワーの設定値に応じたテスト信号を光ヘッド
２１に与えるパワーコントロール回路である。

【０１１４】ここで、上記ＰＬＬ回路２４としては図１
４に示す構成を備える。ディスク再生データＲＤと再生
クロックＶＣＯＣＫとを比較しその位相差に応じたパル
ス幅の差信号ＰＣを出力する位相比較器２４ａ、その差
信号のパルス幅の時間、電流をドライブし、ループフィ
ルタ２４ｃを充放電するチャージポンプ２４ｂ、チャー
ジポンプ２４ｂの充放電の電流信号ＣＰを電圧変換して
平滑した信号ＬＦを電圧制御発振器(Voltage Control O
scillator;VCO) ２４ｄに与えるループフィルタ２４ｃ
を備えている。

【０１１５】また、入力される電圧信号ＬＦに応じた周
波数の再生クロックＶＣＯＣＫを出力する電圧制御発振
器２４ｄ、遅延回路２４ｆを介して上記再生クロックを
入力しディスク再生データＲＤのパルスの略中心が再生
クロックＶＣＯＣＫの立上りエッジとなるようにディス
ク再生データ波形を整形し同期データＳＤとして出力す
る同期発生回路２４ｅを備えている。

【０１１６】さらに、上記電圧制御発振器２４ｄと同期
データ発生回路２４ｅとの間に設けられて、制御装置１
０からの制御信号に基づいて、通常は遅延オフ制御され
て再生クロックＶＣＯＣＫをそのまま同期データ発生回
路２４ｅに供給し、テスト記録時には遅延オン制御され
て再生クロックＶＣＯＣＫを遅延させ遅延した再生クロ
ックＶＣＯＣＫを同期データ発生回路２４ｅに供給する
ことにより、テスト記録時における再生データの検出ウ
インドウを狭める遅延回路２４ｆを備えている。

【０１１７】図１５は上記ＰＬＬ回路２４による再生デ
ータの検出ウインドウを狭めたときの動作例を示す。こ
こでは、特定の情報、例えば記録用データ信号として用
いるコード中、最も繰返しの短い記録最高周波数３Ｔ
（“１００”）のテスト信号Ｔ１を用いて光磁気記録媒
体１にテスト記録を行ったものとする。

【０１１８】データ再生時、光磁気記録媒体１に感度分
散や欠陥があると、再生データの立上りや立下りがず
れ、図１５（ａ）に示す如く、点線で示す理想的な再生
データ（本来の記録時データ）に対し、実際の再生デー
タＲＤは実線のようにゆらぎ立下り点がずれる。

【０１１９】図１５（ａ），（ｂ）に示す再生データＲ
Ｄと再生クロックＶＣＯＣＫにより同期データ発生回路
２４ｅから送出される同期データＳＤは図１５（ｃ）に
示すようになり、誤りは検出されない。今、理想的な再
生データの立下り点を中心にして再生クロックの立上り
と次の立上り間のウインドウ幅Ｔ_W 内で実際の再生デー
タにゆらぎがあれば、同期データＳＤは“１００”とな
り、誤りが生じないことになる。

【０１２０】しかし、この時、制御装置１０により遅延
回路２４ｆを遅延動作させることによって、図１５
（ｄ）に示す如く、再生クロックＶＣＯＣＫは所定の遅
延量τだけ遅延し再生データＳＤの検出ウインドウがＴ
_W／２から（Ｔ_W／２）−τに狭まることになる。

【０１２１】すなわち、再生のジッタマージンが低下し
てわずかな再生データＲＤの立上り及び立下りの時間的
ゆらぎが再生クロックＶＣＯＣＫを遅延させることによ
り同期データとしては“０００”の誤ったデータを生じ
させることになる。従って、誤り量が増え、これによ
り、誤り率を測定する際の必要なトラック数が低減さ
れ、測定時間が短縮される。

【０１２２】図１６は上記構成に係る光変調オーバーラ
イト記録装置の制御装置１０による制御動作を示すフロ
ーチャートであり、また、図１７は図１６の制御動作に
基づく誤り率のパワー依存性を示した特性図である。以
下、図１６と図１７を参照して説明する。

【０１２３】図１７に示す如く、１サイクル（１１点）
のテスト記録を行うのに際し、先ず、光磁気記録媒体１
のテスト記録領域のトラックに一定パワーを照射して過
去の履歴を消去する。その後、図１６に示すステップＳ
３０１において、図１７に示すＰ₁ での高レベル及び低
レベルのレーザパワーＰ_H1，Ｐ_L1を設定し、特定の情
報、例えば記録用データ信号として用いるコード中、最
も繰返しの短い記録最高周波数３Ｔ（“１００”）のテ
スト信号Ｔ１を用いてテスト記録を行う（図１６のＳ３
０１，Ｓ３０２）。

【０１２４】次いで、記録された光磁気記録媒体１のト
ラックを光ヘッド２１によりリード再生し、ヘッドアン
プ２２を介してデータ検出回路２３により２値化信号に
変換し、元のデータ情報に復調する。このデータ検出回
路２３から出力されるディスク再生データＲＤはＰＬＬ
回路２４に入力されて復調誤りがあれば誤りを含んだ同
期データを出力する。

【０１２５】上記誤りを含んだ同期データに基づきデー
タエラー判定回路２５はエラー量を求め制御装置１０に
出力し（Ｓ３０３）、制御装置１０はエラー量に基づく
誤り率を算出し所定の誤り率以下になるべく高レベル及
び低レベルのレーザパワーの設定値を順次変えて（図６
のＰ₁ 〜Ｐ₁₁）、パワーコントロール回路１６に与え、
一連の２次元走査によるテスト記録を行うことにより、
最適な記録パワーを導出する（Ｓ３０４〜Ｓ３０６）。

【０１２６】ここで、上記制御装置１０には、図１７の
誤り率限界線に示す如く、記録条件として誤り率の設定
値、例えば１０^-6が設定されており、図１７に示すＰ₁
でのテスト記録の後は、同一トラックを一定パワーにて
消去し、次に、Ｐ₂ での高レベル及び低レベルのレーザ
パワーＰ_H2，Ｐ_L2の組み合わせを設定してテスト記録を
行い、同様に再生して誤り率を測定し、これを図１７に
示すＰ₁₁まで２次元走査を繰り返す。

【０１２７】図１７において、×印は測定された誤り率
が訂正の限界、すなわち誤り率限界線（誤り率の設定
値）を下回った場合であり、○印は上回った場合を示し
ており、ここで、制御装置１０は、上記記録条件を満足
する測定結果の○印のついたパワーの組み合わの中か
ら、最もパワーの小さいもの（図１７ではＰ₆ ）を選択
して、これに一定係数Ｋ_H，Ｋ_Lを掛けた高レベル及び低
レベルのレーザパワーＫ_HＰ_H6，Ｋ_LＰ_L6を最適な記録パ
ワーとする。

【０１２８】これは、ドライブのパワー変動を約１０％
と見込み、係数Ｋ_H，Ｋ_Lとも１．１０以上に設定すれ
ば、ドライブのパワー変動があっても限界パワーＰ_H6，
Ｐ_L6を下回ることがないからである。

【０１２９】上記テスト記録において、高レベル及び低
レベルの設定値は、図１７に示す如く、低パワーＰ₁ 側
から順次高パワー側へ２次元走査するように変えてお
り、ここで、各パワーの設定変え時に消去動作を不要に
することができる。

【０１３０】また、上記実施例３においては、誤り量測
定手段により、再生検出時のウインドウ幅が記録再生時
より狭められることによって、誤り率が増大し、誤り率
を測定する際の必要なトラック数が低減され、従って、
測定時間を短縮できる。

【０１３１】また、上記実施例３においては、制御装置
により、最も低いレーザパワーの組み合わせの各パワー
に一定係数を掛けたものを最適値とすることにより、ド
ライブのパワー変動を考慮して精度の高いレーザーパワ
ーの組み合わせを求めることができる。

【０１３２】すなわち、上記実施例３によれば、制御装
置から与えられる高レベル及び低レベルのレーザパワー
の設定値に基づき記録手段により、テスト信号を２値に
変調した情報をオーバーライト記録が可能な情報記録媒
体に記録し、記録された情報の再生時に誤り量測定手段
により誤り量を測定し、上記制御装置により上記設定値
を順次変えて誤り量が所定値を下回るレーザパワーの組
み合わせの中で最も低いレーザパワーの組み合わせを最
適値とするので、高レベル及び低レベルのレーザパワー
によりテスト信号を変調してオーバーライト記録を行う
際の２次元走査方法において、所定の誤り率以下のパワ
ーの組み合わせを短時間に、かつ高精度に探索すること
ができる。

【０１３３】実施例４．最適な記録パワーを選定する
際、所定の誤り率以下の記録パワーとして最も低いパワ
ーの組み合わの決定は、例えば図１８に示す如く、高レ
ベル及び低レベルのレーザパワーＰ_HとＰ_Lの積の値が最
も低いものを最適値とすることができる。図７ではＰ_H
×Ｐ_L＝３６ｍｗ²，２５ｍｗ²，１６ｍｗ²，９ｍｗ²の
等高線があり、ここで、最適値としては、Ｐ_AとＰ_Bを比
較する時、等高線Ｐ_H×Ｐ_L＝３６ｍｗ² 以下のＰ_A が最
適な記録パワーとすることができる。

【０１３４】したがって、上記実施例４によれば、制御
装置により、最も低いレーザパワーの組み合わせとし
て、高レベルと低レベルのレーザパワーの積が最も小さ
いものを選定するので、パワーの組み合わせを高精度
に、かつ高速に選択できる。

【０１３５】実施例５．また、図１９に示す如く、高レ
ベル及び低レベルのレーザパワーＰ_H，Ｐ_Lの加算値の等
高線を描き、パワーの組み合わせＰ_CとＰ_Dを比較する
時、等高線Ｐ_H＋Ｐ_L＝１２ｍｗ以下のＰ_C を最適値とす
ることができる。すなわち、最適値として、高レベル及
び低レベルのレーザパワーの加算値Ｐ_H＋Ｐ_Lの低いもの
を選定することができる。

【０１３６】上記実施例５によれば、制御装置により、
最も低いレーザパワーの組み合わせとして、高レベルと
低レベルのレーザパワーの加算値が最も小さいものが選
定するので、実施例４と同様な効果が期待できる。

【０１３７】実施例６．次に、実施例６について図面を
参照して説明する。この実施例６は、実施例３〜５にお
けるオーバーライト特性を求めるテスト記録用テストパ
ターンを最小限に限定することによりテスト時間を短縮
して高速化するための最適値探査法に係るものである。
この実施例６に係る光変調オーバーライト記録装置の基
本構成は図８に示す実施例２のものと同様であるが、制
御装置１０による制御動作が異なる。

【０１３８】図２０は実施例６に係るもので、図８にお
ける制御装置１０の制御により単一のテスト信号Ｔ１の
記録に基づき最適なレーザパワーＰ_H とＰ_L を求めるフ
ローチャートを示している。以下、図２１に示す波形図
を参照して説明する。先ず、高レベルのレーザパワーＰ
_Ｈと低レベルのレーザパワーＰ_Ｌを共者とも低レベルの
レーザパワーの値に設定して光磁気記録媒体１の予め定
められた領域にＤＣ“０”の記録を行い初期化する（Ｓ
６０１，Ｓ６０２）（図２１（ａ）参照）。

【０１３９】次に、高レベルのレーザパワーＰ_Ｈと低レ
ベルのレーザパワーＰ_Ｌの値Ｐ₁ とＰ₂ を設定し、
“１”の記録特性を得るために、テスト信号として記録
用データ信号として用いるコード中最も繰り返しの短い
“１００”の３Ｔでなるテスト信号Ｔ１を用いて光磁気
記録媒体１の予め定められた領域に記録パワーを走査し
てその時の再生信号レベルをレベル検出器１３により測
定する（Ｓ６０３〜Ｓ６０５）（図２１（ｂ）参照）。

【０１４０】そして、その後、同様のテスト信号Ｔ１を
用いて、前述したステップＳ６０１〜Ｓ６０５とは逆
に、“０”の記録特性を得る。すなわち、高レベルのレ
ーザパワーＰ_Ｈと低レベルのレーザパワーＰ_Ｌを共者と
も高レベルのレーザパワーの値に設定して光磁気記録媒
体１の予め定められた領域にＤＣ“１”の記録を行い初
期化する（Ｓ６０６，Ｓ６０７）（図２１（ｃ）参
照）。

【０１４１】次に、高レベルのレーザパワーＰ_Ｈと低レ
ベルのレーザパワーＰ_Ｌの値Ｐ₁ とＰ₂ を設定し、
“０”の記録特性を得るために、テスト信号としてテス
ト信号Ｔ１を用いて光磁気記録媒体１の予め定められた
領域に記録パワーを走査してその時の再生信号レベルを
レベル検出器１３により測定する（Ｓ６０８〜Ｓ６１
０）（図２１（ｄ）参照）。

【０１４２】このようにして得られる所定の高レベルと
低レベルのレーザパワーＰ_ＨとＰ_Ｌに対応する再生信号
レベルはメモリ１４に記憶され、後の最適パワー値を索
定する際のデータ値となる。そして、上記ステップを一
巡した後は、高レベル及び低レベルのレーザパワーＰ_Ｈ
及びＰ_Ｌを新たに設定し、上記ステップＳ６０１〜Ｓ６
１０を繰り返しその時の再生信号レベルを測定してメモ
リ１４に記憶し、この繰り返しを３回繰り返してレーザ
パワーＰ_H ，Ｐ_L の２次元走査を終了する（Ｓ６１
１）。

【０１４３】図２２は上述した２次元走査による測定結
果から最適パワーを求める方法を説明する特性図であ
る。最適パワーとしては再生信号レベルの最大点である
から、高レベル及び低レベルのレーザパワーＰ_H ，Ｐ_L
の線形結合上を探索すれば良く、３点の組み合せから決
定できる。

【０１４４】すなわち、図６と図７に示す２次元走査に
よる測定結果から、図２２（ａ）に示す如く再生信号レ
ベルの等高線が得られるが、３点Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３の記
録パワー（Ｐ_H ，Ｐ_L ）の組み合せは記録パワーＰ_H ，
Ｐ_L の線形結合で決定する。そして、３点の測定結果の
うち、３点とも再生信号レベルの許容値を越えた場合
は、３点のうちの中央の点を最適パワーとする。

【０１４５】図２２（ｂ）〜（ｅ）は図２２（ａ）で線
形結合される直線Ａ上でパワーを変化させた時の再生信
号レベルの変化を示しており、図２２（ｂ）と（ｃ）は
３点Ｓ１〜Ｓ３とも許容値以上の再生信号レベルを有
し、その中央点が最適パワーとなる再生信号レベルを示
している。

【０１４６】他方、図２２（ｄ）と（ｅ）は３点とも許
容値を越えない場合を示しており、この場合は最適値無
しとなる。すなわち、３点の測定結果を直線または曲線
近似して許容値を越える点を推定し、その点で実測定を
行い許容値を越えれば採用できることになる。

【０１４７】上述したようにして、“１”と“０”の記
録特性は高レベルの領域で求めるため、測定精度が向上
する。また、テスト信号は単一のパターンであるため、
テスト信号Ｔ１を抜き取るフィルタ回路のみでレベル検
出器が構成でき、テスト信号発生器も一種類で良く回路
規模は小さくなる。

【０１４８】また、高レベル及び低レベルのレーザパワ
ーＰ_H ，Ｐ_L の走査については次の方法を採用できる。（１）図２３（ａ）に示す如く、光磁気記録媒体１の
テスト領域１トラックの半周毎に記録特性（“１”）と
消去特性（“０”）を調べることにより、トラックを１
周する毎に１つの高レベルと低レベルのレーザパワーＰ
_H とＰ_L の組み合せについて評価できる。

【０１４９】（２）図２３（ｂ）に示す如く、セクタ
ー交互に記録特性と消去特性を評価する。各セクターで
高レベルと低レベルのレーザパワーを変化させて記録す
ることにより、テスト記録の時間を短縮できる。

【０１５０】すなわち、高レベルと低レベルのレーザパ
ワーＰ_H とＰ_L に対して、テスト領域１トラック内に
“１”の記録特性と“０”の消去特性を１対にして空間
的にインターリーブし、その対単位でパワー値を振り、
１トラック即ち１回転で必要な走査、例えば条件１〜条
件７の複数のパワー走査を行うことにより、最適値探索
時間が短縮できる。

【０１５１】上述したように、上記実施例６によれば、
テスト記録による最適記録パワーを求める際、単一のテ
スト信号を用いて行うので、索定時間の短縮及びハード
ウェアの簡単化が図れると共に、最適記録パワーは再生
信号レベルの最大点であるから、高レベル及び低レベル
のレーザパワーＰ_H ，Ｐ_L の線形結合上を探索すれば良
く３点の組み合せから決定でき、一回転以内に判明でき
る。

【０１５２】ところで、上記レーザパワーの２次元走査
に基づいて最適なレーザパワーの値を高速に求める探査
方法については、前述した実施例２と同様にして図１０
に示すαーｋの平面領域における丸１の太線内領域Ａが
最適な領域となるが、この領域Ａ内の代表点を決定する
ために次の指標を設定する。

【０１５３】（ａ）高レベルのレーザパワーＰ_H はでき
るだけ低い値が良い。なぜなら、レーザダイオードＬＤ
の寿命は最高出力値に依存し、また、回路の消費電力は
低い方が良く、情報記録媒体の特性から例えば４層膜磁
性体であれば、初期化層のキュリー温度Ｔ_C4（上限値）
より低い方に離れた方が良いからである。

【０１５４】（ｂ）低レベルのレーザパワーＰ_L 側のマ
ージン（許容領域の幅）はできるだけ広い方が良い。な
ぜなら、情報記録媒体の特性から低温記録は、周囲温度
との比率が近くなり、その特性が制御不能の環境温度に
左右される率が高い。したがって、マージンをできるだ
け広く取っておくのが原則である。

【０１５５】（ｃ）高レベルのレーザパワーＰ_H のマー
ジンは低レベルのレーザパワーＰ_L側で取られたマージ
ン以上に取る必要はない。

【０１５６】上記の如く指標を前提として、図１０に示
す説明図の領域Ａ内において、記録用データ信号として
単一のテスト信号を用いて高レベル及び低レベルのレー
ザパワーをＰ_H 及びＰ_L を２次元走査して記録特性と消
去特性を求める。

【０１５７】そして、再生信号レベルをモニタして線形
結合される３点の記録パワーの組み合せから３点とも許
容値を越えた場合の中央点の再生信号レベルに対応する
高レベル及び低レベルのレーザパワーを光磁気記録媒体
に対する最適記録パワーとすることにより、最適なレー
ザパワー値を高速に求めることができる。なお、図１０
に示す領域Ａは図２１に示すテスト信号Ｔ１に基づく高
レベルと低レベルのレーザパワーＰ_H ，Ｐ_L を２次元座
標にして求めた再生信号レベルの等高線領域に対応す
る。

【０１５８】ところで、レーザパワーは元々一次元正値
の量であるが、高レベルと低レベルのレーザパワーＰ_H
とＰ_L を２次元パワーと把握することにより、上述した
ように、α＝１ーη／Ｐ_H ，ｋ＝Ｐ_L／Ｐ_Hで与えられる
αーｋ平面で特性が得られ、最適なレーザパワーを決定
する特徴のある領域が情報記録媒体によって決まる定数
と回路定数で先験的に分かる。そして、この領域を決定
する境界線は先験的に分かるからドライブでレーザパワ
ーを走査して境界線を見い出せば、逆に最適な領域を決
定しているレーザパワーは見い出すことができる。

【０１５９】これら一連の動作はディスク装置自身で自
律自動により、媒体挿入時などの準実時間内に高速に行
い得、記録パワーマージンの狭い媒体に対しても信頼性
の高い記録が行い得られると共に、タイプの異なる媒
体、相変化媒体にも対応でき、種々の媒体感度に対応で
きる。

【０１６０】したがって、上記実施例６によれば、記録
用データ信号として単一のテスト信号を用いて高レベル
及び低レベルのレーザパワーをＰ_H 及びＰ_L を２次元走
査して記録特性と消去特性を求め、再生信号レベルをモ
ニタして線形結合される３点の記録パワーの組み合せか
ら３点とも許容値を越えた場合の中央点の再生信号レベ
ルに対応する高レベル及び低レベルのレーザパワーを光
磁気記録媒体に対する最適記録パワーとするので、１ト
ラックで必要な走査を終了でき、従って、記録パワーの
最適値探索時間を大幅に短縮できると共に、単一のテス
ト信号に基づき記録特性と消去特性を求めるのでこれに
伴うハードウェアを簡単化できる。

【０１６１】実施例７．次に、実施例７について図面を
参照して説明する。この実施例７は、テスト記録のシー
ケンスの簡略化（標本点数の削減）を行って高速化する
ための最適値探査法に係るものである。この実施例７に
係る光変調オーバーライト記録装置の基本構成は図１３
に示す実施例３のものと同様であるが、以下の点で異な
る。

【０１６２】すなわち、制御装置１０は、ＰＬＬ回路２
４からのリードデータとデータエラー判定回路２５から
の誤り量のデータに基づいてビット誤り率を算出し、所
定の誤り率以下の高レベル及び低レベルのレーザパワー
の組み合わせを求めるべく高レベル及び低レベルのレー
ザパワーの組み合わせ設定値を順次後述するパワーコン
トロール回路２６に与え２次元走査によるテスト記録を
制御するとともに、誤り率を測定する際にＰＬＬ回路２
４に再生データの検出ウインドウのシフト量の設定値を
与える。

【０１６３】また、ここで、上記ＰＬＬ回路２４として
は図２４に示す構成を備える。この図２４に示されるＰ
ＬＬ回路は、図１４に示すＰＬＬ回路に対して、遅延回
路２４ｆが削除されると共に、テスト記録時に、制御装
置１０からの制御信号に基づいて、ディスク再生データ
ＲＤの検出ウインドウを遅れおよび進み方向にそれぞれ
所定量シフトするウインドウシフト回路２４ｇが追加さ
れている。

【０１６４】そして、位相比較器２４ａから、上記ウイ
ンドウシフト回路２４ｇを介してウインドウシフトされ
たディスク再生データＲＤと再生クロックＶＣＯＣＫと
が比較されその位相差に応じたパルス幅の差信号ＰＣが
出力されるようになされ、その差信号のパルス幅の時
間、チャージポンプ２４ｂは、電流をドライブし、ルー
プフィルタ２４ｃを充放電し、ループフィルタ２４ｃ
は、チャージポンプ２４ｂの充放電の電流信号ＣＰを電
圧変換して平滑した信号ＬＦを電圧制御発振器２４ｄに
与える。

【０１６５】また、同期発生回路２４ｅは、入力される
電圧信号ＬＦに応じた周波数の再生クロックＶＣＯＣＫ
を出力する電圧制御発振器２４ｄを介して上記再生クロ
ックを入力しディスク再生データＲＤのパルスの略中心
が再生クロックＶＣＯＣＫの立上りエッジとなるように
ディスク再生データ波形を整形し同期データＳＤとして
出力する。

【０１６６】図２５は図２４に示す上記ＰＬＬ回路２４
による再生データの検出ウインドウをシフトしたときの
動作例を示す。ここでは、特定の情報、例えば記録用デ
ータ信号として用いるコード中、最も繰り返しの短い記
録最高周波数３Ｔ（“１００”）のテスト信号Ｔ１を用
いて光磁気記録媒体１にテスト記録を行ったものとす
る。

【０１６７】データ再生時、光磁気記録媒体１に感度分
散や欠陥があって、波形干渉やノイズ、ディスクの回転
むらによって、図２５（ｂ）に示すディスク再生データ
ＲＤにジッタをもつと、図２５（ａ）に示す記録データ
に対して、実際のディスク再生データＲＤはゆらぎ立上
がり点や立下り点がずれる。

【０１６８】このとき、再生クロックＶＣＯＣＫにより
作られる図２５（ｃ）に示す検出ウインドウの中にディ
スク再生データＲＤの立上がり点があれば、その検出ウ
インドウに対する再生データは“１”と認識され同期デ
ータＳＤは“１００”となり、記録データを正しく復号
したことになる。

【０１６９】しかし、このとき、制御装置１０の制御信
号によりウインドウシフト回路２４ｇは、図２５（ｅ）
に示すように、検出ウインドウを図示右方向に所定量シ
フトすることによって、再生クロックＶＣＯＣＫは所定
量シフトされ、その結果、図２５（ｆ）に示すように、
同期データＳＤとしては元の記録データとは異なり、
“０００”の誤ったデータを生じさせることになる。

【０１７０】図２６は上記構成に係る光変調オーバーラ
イト記録装置の制御装置１０による制御動作を示すフロ
ーチャートである。また、図２７と図２８は図２６の制
御動作に基づき最適な記録パワーを導出するための説明
図で、図２７において、縦軸は誤り率を、横軸はウイン
ドウＴ_W としたときのＴ_W ／２に対するウインドウマー
ジンを、ウインドウの中心に対してマイナス方向を遅れ
方向とし、プラス方向を進み方向としたときの位相シフ
ト量を百分率で表しており、図２８において、縦軸と横
軸は２次元走査量の高レベル及び低レベルのレーザパワ
ーの値を表している。以下、図２７と図２８を参照して
図２６に示すフローチャートにしたがって説明する。

【０１７１】テスト記録を行うのに際し、先ず、光磁気
記録媒体１のテスト記録領域のトラックに一定パワーを
照射して過去の履歴を消去する。その後、図２６に示す
ステップＳ７０１において、記録パワーとして高レベル
及び低レベルのレーザパワーＰ_H、Ｐ_Lの値を設定し、特
定の情報、例えば記録用データ信号として用いるコード
中、最も繰り返しの短い記録最高周波数３Ｔ（“１０
０”）のテスト信号Ｔ１を用いてテスト記録を行う（Ｓ
７０２）。

【０１７２】次いで、再生時に、制御装置１０は制御信
号によりウインドウシフト回路２４ｇの検出ウインドウ
を、図２７に示すように、プラス方向に所定量（固定値
ＷＭ）シフト制御する（Ｓ７０３）。そして、記録され
た光磁気記録媒体１のトラックを光ヘッド２１によりリ
ード再生し、ヘッドアンプ２２を介してデータ検出回路
２３により２値化信号に変換し、元のデータ情報に復調
する。

【０１７３】このデータ検出回路２３から出力されるデ
ィスク再生データＲＤはＰＬＬ回路２４に入力されて復
調誤りがあれば誤りを含んだ同期データＳＤを出力す
る。この誤りを含んだ同期データＳＤに基づきデータエ
ラー判定回路２５はエラー量を求め制御装置１０に出力
することになり、制御装置１０はこのエラー量に基づく
第１の誤り率を計測し（Ｓ７０４）、内蔵するメモリに
格納する。

【０１７４】また、同様にして、制御装置１０は制御信
号によりウインドウシフト回路２４ｇの検出ウインドウ
を、図２７に示すように、逆にマイナス方向に所定量
（固定値）シフト制御することにより（Ｓ７０５）、こ
のとき、復調されたデータに復調誤りがあれば誤りを含
んだ同期データＳＤに基づきデータエラー判定回路２５
から出力されるエラー量を入力する制御装置１０はこの
エラー量に基づく第２の誤り率を計測し（Ｓ７０６）、
内蔵するメモリに格納する。

【０１７５】そして、上記ステップＳ７０１ないしＳ７
０６での２次元走査量Ｐ_H 、Ｐ_L によるテスト記録の後
は、同一トラックを一定パワーにて消去し、上記制御装
置１０は、図２７に丸と四角及ぶ三角で示す記録条件
Ａ，Ｂ，Ｃのように、記録パワーとして高レベル及び低
レベルのレーザパワーＰ_H 、Ｐ_L の設定値を変えること
により記録条件を変更し、上記ステップＳ７０１ないし
Ｓ７０６を繰り返して記録パワーとして高レベル及び低
レベルのレーザパワーＰ_H 、Ｐ_L を２次元走査する（Ｓ
７０７）。

【０１７６】その後、上記制御装置１０は、次のように
して最適な記録パワーＰ_HOPT、Ｐ_LO _PTを導出する。ま
ず、上記２次元走査によって求めたデータに基づき上記
第１と第２の誤り率がともに所定値を下回るレーザパワ
ー、例えば図２７に示すように、誤り率が１０^-6で与え
られる判定条件以下の記録条件のレーザパワーを求め
る。

【０１７７】その後、図２８に示すように、これら記録
条件のレーザパワーに基づきそれぞれ高レベル及び低レ
ベルのレーザパワーの値が最も高い値（Ｐ_HH、Ｐ_LH）と
最も低い値（Ｐ_HL，Ｐ_LL）の平均値で求まるレーザパワ
ーの組み合わせを最適な記録パワーとする（Ｓ７０
８）。すなわち、最適な記録パワーＰ_HOPT、Ｐ_LOPTとし
て、Ｐ_HOPT＝（Ｐ_HH＋Ｐ_HL）／２、Ｐ_LOPT＝（Ｐ_LH＋Ｐ
_LL）／２を算出する。

【０１７８】従って、上述した実施例７によれば、制御
装置１０から与えられる高レベル及び低レベルのレーザ
パワーの設定値に基づきテスト信号を変調した情報をオ
ーバーライト記録が可能な光磁気記録媒体１に記録し、
再生時に、制御装置１０によって再生信号の検出ウイン
ドウを遅れおよび進み方向にそれぞれ所定量シフトして
シフトされた再生信号の第１と第２の誤り量を測定する
ようにし、上記高レベル及び低レベルのレーザパワーの
設定値を順次変えて２次元走査して、上記第１と第２の
誤り量に基づく誤り率がともに所定値を下回るレーザパ
ワーに基づきそれぞれパワー値の最も高い値と最も低い
値の平均値で求まるレーザパワーの組み合わせを最適な
記録パワーとするので、高レベル及び低レベルのレーザ
パワーによりテスト信号を変調してオーバーライト記録
を行う際の２次元走査方法において、所定の誤り率以下
のパワーの組み合わせを短時間にかつ高精度に探索する
ことができる。

【０１７９】実施例８．次に、図２９は図２６に対応す
る実施例８にかかる動作フローチャートを示すものであ
る。また、図３０と図３１は図２９の制御動作に基づき
最適な記録パワーを導出するための説明図で、図３０に
おいて、縦軸は誤り率を、横軸はウインドウＴ_W とした
ときのＴ_W ／２に対するウインドウマージンを、ウイン
ドウの中心に対してマイナス方向（遅れ方向）からプラ
ス方向（進み方向）に位相シフトしたときの値で表して
おり、図３１において、縦軸と横軸は２次元走査量の高
レベル及び低レベルのレーザパワーの値を表している。
以下、図３０と図３１を参照して図２９に示すフローチ
ャートにしたがって説明する。

【０１８０】テスト記録を行うのに際し、先ず、光磁気
記録媒体１のテスト記録領域のトラックに一定パワーを
照射して過去の履歴を消去する。その後、図２９に示す
ステップＳ８０１において、記録パワーとして高レベル
及び低レベルのレーザパワーＰ_H 、Ｐ_L の値を設定し、
特定の情報、例えば記録用データ信号として用いるコー
ド中、最も繰り返しの短い記録最高周波数３Ｔ（“１０
０”）のテスト信号Ｔ１を用いてテスト記録を行う（Ｓ
８０２）。

【０１８１】次いで、再生時に、制御装置１０は制御信
号によりウインドウシフト回路２４ｇの検出ウインドウ
を、図３０に示すように、ウインドウの中心０に対して
マイナス方向（遅れ方向）とプラス方向（進み方向）に
位相シフトすべく位相シフト量を設定して（Ｓ８０
３），ステップＳ８０４において、図２９のステップＳ
８０３ないしＳ８０６を繰り返すことにより、所定の位
相シフト量に対するプラス方向とマイナス方向の第１と
第２の誤り率を求める。

【０１８２】そして、このとき、例えば誤り率が１０^-6
で与えられる判定条件以下の検出ウインドウ幅をウイン
ドウマージンとし（Ｓ８０４，Ｓ８０５）、内蔵するメ
モリに格納する。ここで、ウインドウマージンＸは、ウ
インドウをＴ_W とし、判定条件を満足するウインドウ幅
をＷＭとするとき、Ｘ＝｛ＷＭ／（Ｔ_W ／２）｝×１００で与えられる。

【０１８３】なお、実際のテスト記録時には諸条件によ
り、必ずしも検出ウインドウの中心が検出データの中心
に位置しないので、図３０に示すウインドウマージンは
左右対称にならないから、マイナス方向（遅れ方向）と
プラス方向（進み方向）のウインドウ幅ＷＭ_- とＷＭ₊
のうちいずれか小さい方を選択する。

【０１８４】その後は、検出ウインドウのシフト量を所
定回変更することにより、図３０に示すように、上記ウ
インドウ幅をＷＭ_1-、ＷＭ₁₊からＷＭ_3-、ＷＭ₃₊へと変
更し、その都度、ステップＳ８０３ないしＳ８０５での
誤り率計測及びウインドウマージンの導出を行う（Ｓ８
０６）。

【０１８５】次に、上記ステップＳ８０１ないしＳ８０
６での２次元走査量Ｐ_H 、Ｐ_L によるテスト記録の後
は、同一トラックを一定パワーにて消去し、上記制御装
置１０は、図３０に示す記録条件Ａ，Ｂ，Ｃのように、
記録パワーとして高レベル及び低レベルのレーザパワー
Ｐ_H 、Ｐ_L の設定値を変えることにより記録条件を変更
し、上記ステップＳ８０１ないしＳ８０６を繰り返して
記録パワーとして高レベル及び低レベルのレーザパワー
Ｐ_H 、Ｐ_L を２次元走査して、誤り率計測及びウインド
ウマージンの導出を行う（Ｓ８０７）。

【０１８６】その後は、記録条件を変えてステップＳ８
０３ないしＳ８０５を繰り返し計測することにより、そ
の都度、ウインドウマージンの導出を行う（Ｓ８０
６）。その結果、図３０に示すように、ウインドウ幅Ｗ
Ｍ_1-、ＷＭ₁₊からＷＭ_3-、ＷＭ₃₊が求まる。

【０１８７】従って、上述した実施例８によれば、制御
装置１０から与えられる高レベル及び低レベルのレーザ
パワーの設定値に基づきテスト信号を変調した情報をオ
ーバーライト記録が可能な光磁気記録媒体に記録し、再
生時に、制御装置１０によって再生信号の検出ウインド
ウを遅れおよび進み方向にそれぞれ所定量シフトし、シ
フトされた再生信号の第１と第２の誤り量を測定し、そ
の後、検出ウインドウのシフト設定量を変えて上記第１
と第２の誤り量に基づく誤り率がともに所定値を下回る
検出ウインドウをウインドウマージンとして求め、上記
記録手段に与える高レベル及び低レベルのレーザパワー
の設定値を順次変えて２次元走査し、上記ウインドウマ
ージンの最も広い領域の中心値となる高レベル及び低レ
ベルのレーザパワーの組み合わせを最適な記録パワーと
するので、高レベル及び低レベルのレーザパワーにより
テスト信号を変調してオーバーライト記録を行う際の２
次元走査方法において、所定の誤り率以下のパワーの組
み合わせを短時間にかつ高精度に探索することができ
る。

【０１８８】上記実施例７と８のテスト記録において、
高レベル及び低レベルの設定値は、低パワーＰ₁ 側から
順次高パワー側へ２次元走査するように変えることによ
り、各パワーの設定変え時に消去動作を不要にすること
ができる。また、上記各実施例において、オーバーライ
ト記録可能な記録媒体としては４層構造の光磁気効果を
使った記録媒体の他に、相変化型の記録媒体を用いても
良く、同様な効果を期待し得る。また、記録方式とし
て、セクター毎に記録パワーの組み合わせを変更すれば
さらに処理時間を短縮できる。

【０１８９】実施例９．次に、実施例９について図面を
参照して説明する。この実施例９は、テスト記録用パタ
ーンを１種類にしてテスト記録のための記録領域とテス
ト時間の短縮を図ることにより高速化する最適値探査法
に係るものである。この実施例に係る光変調オーバーラ
イト記録装置の基本構成は図１３に示す実施例３のもの
と同様であるが、制御装置１０による制御動作が異な
る。

【０１９０】図３２は実施例９に係るもので、制御装置
１０の制御により単一のテスト信号Ｔ１の記録に基づき
最適なレーザパワーＰ_H とＰ_L を求めるフローチャート
を示している。以下、図３３に示す波形図を参照して説
明する。先ず、高レベルのレーザパワーＰ_Ｈと低レベル
のレーザパワーＰ_Ｌを共者とも高レベルのレーザパワー
の値に設定して光磁気記録媒体１の予め定められた領域
にＤＣ“１”の記録を行い初期化する（Ｓ９０１，Ｓ９
０２）（図３３（ａ）参照）。

【０１９１】次に、高レベルのレーザパワーＰ_Ｈと低レ
ベルのレーザパワーＰ_Ｌの値Ｐ_HiとＰ_Ljを設定し、
“０”の記録特性を得るために、テスト信号として記録
用データ信号として用いるコード中最も繰り返しの短い
“１００”の３Ｔでなるテスト信号Ｔ１を用いて光磁気
記録媒体１の予め定められた領域に記録パワーを走査し
てその時の再生信号レベルをレベル検出器１３により測
定する（Ｓ９０３〜Ｓ９０５）（図３３（ｂ）参照）。

【０１９２】このようにして得られる所定の高レベルと
低レベルのレーザパワーＰ_ＨとＰ_Ｌに対応する再生信号
レベルはメモリ１４に記憶され、後の最適パワー値を索
定する際のデータ値となる。そして、上記ステップを一
巡した後は、高レベル及び低レベルのレーザパワーＰ_Hi
及びＰ_Ljを新たに設定し、上記ステップＳ９０１〜Ｓ９
０６を繰り返しその時の再生信号レベルを測定してメモ
リ１４に記憶し、この繰り返しをｉ，ｊが所定回に達す
るまで行いレーザパワーＰ_H ，Ｐ_Lの２次元走査を終了
する（Ｓ９０６）。

【０１９３】そして、その後はこの２次元走査による測
定結果から線形勾配法により最適パワーを求める（Ｓ９
０７）。２次元走査による測定結果から線形勾配法によ
り最適パワーを求める際、最適パワーとしては、図２２
に示すように、再生信号レベルの最大点であるから、高
レベル及び低レベルのレーザパワーＰ_H ，Ｐ_L の線形結
合上を探索すれば良く、例えば３点の組み合せから決定
できる。

【０１９４】すなわち、図３２と図３３に示す２次元走
査による測定結果から、図２２（ａ）に示す如く再生信
号レベルの等高線が得られるが、３点Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３
の記録パワー（Ｐ_H ，Ｐ_L ）の組み合せは記録パワーＰ
_H ，Ｐ_L の線形結合で決定する。そして、３点の測定結
果のうち、３点とも再生信号レベルの許容値を越えた場
合は、３点のうちの中央の点を最適パワーとする。

【０１９５】また、図３４は上述した走査結果に基づく
記録パターンの説明図である。光磁気記録媒体１に照射
されたレーザパワーＰ_H とＰ_L は、熱に変換され“１”
または“０”を記録する。光変調オーバーライト可能な
光磁気記録媒体１は、それぞれ異なったキュリー温度を
有する４磁性層から成り、図４に示す第２磁性層（記録
層）５のキュリー温度Ｔ_C2が“１”か“０”のスピン方
向を決める高閾値となり、読み出し層である第１磁性層
（メモリ層）４への転写が行われるキュリー温度Ｔ_C1が
低閾値となる。第４磁性層（初期化層）７のキュリー温
度Ｔ_C4は、最適値を決めるパラメータには成らず、高域
の絶対定格を与える。即ち、高レベルのレーザパワーＰ
_H の閾値はキュリー温度Ｔ_C2で決まるレーザパワーＰ
_th2、低レーザパワーＰ_L 側はキュリー温度Ｔ_C1で決ま
るレーザパワーＰ_th1 となる。

【０１９６】図３４に示すように、光磁気記録媒体１に
最適な記録パワーを得るのに、上記閾値Ｐ_th2とＰ_th1を
求めるためには、ＤＣ“０”を記録した後にテスト信号
Ｔ１を用いて“１”を記録することにより上記閾値Ｐ
_th2を求め、その後、ＤＣ“１”を記録した後にテスト
信号Ｔ１を用いて“０”を記録することにより点線の組
み合わせで示す閾値Ｐ_th1 を求めることができる。

【０１９７】しかしながら、本実施例では、ＤＣ“０”
記録とＴ１“１”記録を省略しても図３４中一点鎖線で
示す組み合わせが記録されていれば閾値Ｐ_th2を求める
ことができるので、ＤＣ“１”記録の後にテスト信号Ｔ
１を用いて“０”を記録するようにして、２回の記録工
程とこれに伴う１回の再生信号レベルの測定を省略し、
高レベル及び低レベルのレーザパワーＰ_H、Ｐ_Lを２次元
走査して上記閾値Ｐ_th ₂とＰ_th1の前後で記録信号を符号
が反転する組み合わせを求めることができ、テスト記録
の大幅な時間短縮が可能となる。

【０１９８】すなわち、上記実施例９によれば、一定の
パワーでＤＣ“１”を記録した後、記録用データ信号と
して所定の単一のテスト信号を用い上記記録信号の反転
符号を記録するようにして、高レベル及び低レベルのレ
ーザパワーを２次元走査して再生信号レベルをモニタ
し、得られる再生信号レベルに基づいて情報記録媒体に
最適な記録パワーを求めるようにしたので、光変調オー
バーライトにおけるテスト記録を迅速かつ正確に行うこ
とができる。

【０１９９】実施例１０．次に、図３５は図３２に対応
して示す実施例１０に係る制御装置１０の制御に基づく
フローチャートである。この実施例１０においては、一
定のパワーでＤＣ“０”またはＤＣ“１”を記録した後
（Ｓ１００１，Ｓ１００２、図３３（ｃ）参照）、記録
用データ信号として単一のテスト信号Ｔ１またはその反
転符号で与えられるコンプリメントパターンのバーＴ１
を用い高レベル及び低レベルのレーザパワーＰ_H ，Ｐ_L
を設定して上記記録信号の反転符号を記録する（Ｓ１０
０３、Ｓ１００４、図３３（ｄ）参照）。

【０２００】さらに、その状態で上記テスト信号Ｔ１ま
たはバーＴ１とはコンプリメントパターンでなり、かつ
位相同期したテスト信号バーＴ１またはＴ１を用いて上
記記録信号の反転符号の反転符号を記録するようにして
（Ｓ１００５、図３３（ｅ）参照），再生信号レベルを
モニタし（Ｓ１００６）、高レベル及び低レベルのレー
ザパワーを２次元走査することにより（Ｓ１００３ない
しＳ１００７）、得られる再生信号レベルに基づいて線
形勾配法により実施例９と同様にして最適な記録パワー
を求める（Ｓ１００８）ようになされている。

【０２０１】このようにすることにより、初期記録とし
てはステップＳ１００１で１回行うだけで良く、実施例
９と同様に、図３４に示すように、閾値Ｐ_th2とＰ_th1の
前後で記録信号の符号が反転する高レベル及び低レベル
のレーザパワーＰ_H、Ｐ_Lを求めることができ、光変調オ
ーバーライト記録におけるテスト記録を迅速かつ正確に
行うことができる。

【０２０２】なお、上記実施例９と実施例１０におい
て、図３２と図３５に示す高レベル及び低レベルのレー
ザパワーＰ_H、Ｐ_Lのパワー走査のステップを光変調記録
媒体１のテスト領域１トラック、半トラック、１セクタ
毎に行うことができ、テスト記録時間の短縮を図ること
ができる。また、記録用データ信号年手は、３Ｔのテス
ト信号の他に、記録用データ信号として用いるコード中
最も繰り返しの長い８Ｔ（“１０００００００”）のテ
スト信号Ｔ０またはその他の記録パターンを用いること
ができる。

【０２０３】上述のようにして、“１”と“０”の記録
特性は高レベルの領域で求めるため、測定精度が向上す
る。また、テスト信号は単一のパターンであるため、テ
スト信号Ｔ１を抜き取るフィルタ回路のみでレベル検出
器が構成でき、テスト信号発生器も一種類で良く回路規
模は小さくなる。

【０２０４】上述したように、上記実施例によれば、テ
スト記録による最適記録パワーを求める際、単一のテス
ト信号を用いて行うので、索定時間の短縮及びハードウ
ェアの簡単化が図れると共に、最適記録パワーは再生信
号レベルの最大点であるから、高レベル及び低レベルの
レーザパワーＰ_H ，Ｐ_L の線形結合上を探索すれば良く
３点の組み合せから決定でき、一回転以内に判明でき
る。

【０２０５】次に、上記レーザパワーの２次元走査に基
づいて最適なレーザパワーの値を高速に求める探査方法
については、実施例６と同様に、図１２に示すαーｋの
平面領域で丸１の太線内領域Ａ内の代表点を、前述した
（ａ）〜（ｃ）を指標を前提として、領域Ａ内におい
て、記録用データ信号として，単一のテスト信号を用い
て高レベル及び低レベルのレーザパワーをＰ_H 及びＰ_L
を２次元走査して記録特性と消去特性を求め、再生信号
レベルをモニタして線形結合される３点の記録パワーの
組み合せから３点とも許容値を越えた場合の中央点の再
生信号レベルに対応する高レベル及び低レベルのレーザ
パワーを光磁気記録媒体に対する最適記録パワーとする
ことにより、最適なレーザパワー値を高速に求めること
ができる。なお、図１２に示す領域Ａは図３３に示すテ
スト信号Ｔ１に基づく高レベルと低レベルのレーザパワ
ーＰ_H ，Ｐ_L を２次元座標にして求めた再生信号レベル
の等高線領域に対応する。

【０２０６】ところで、レーザパワーは元々一次元正値
の量であるが、高レベルと低レベルのレーザパワーＰ_H
とＰ_L を２次元パワーと把握することにより、上述した
ように、α＝１ーη／Ｐ_H ，ｋ＝Ｐ_L／Ｐ_Hで与えられる
αーｋ平面で特性が得られ、最適なレーザパワーを決定
する特徴のある領域が情報記録媒体によって決まる定数
と回路定数で先験的に分かる。そして、この領域を決定
する境界線は先験的に分かるからドライブでレーザパワ
ーを走査して境界線を見い出せば、逆に最適な領域を決
定しているレーザパワーは見い出すことができる。

【０２０７】これら一連の動作はディスク装置自身で自
律自動により、媒体挿入時などの準実時間内に高速に行
い得、記録パワーマージンの狭い媒体に対しても信頼性
の高い記録が行い得られると共に、タイプの異なる媒
体、相変化媒体にも対応でき、種々の媒体感度に対応で
きる。

【０２０８】上述したように、上記実施例１０によれ
ば、一定のパワーでＤＣ“１”またはＤＣ“０”を記録
した後、記録用データ信号として所定の単一のテスト信
号を用い上記記録信号の反転符号を記録し、さらに上記
テスト信号とはコンプリメントパターンでなり、かつ位
相同期したテスト信号を用いて上記記録信号の反転符号
の反転符号を記録するようにして、高レベル及び低レベ
ルのレーザパワーを２次元走査して再生信号レベルをモ
ニタし、得られる再生信号レベルに基づいて情報記録媒
体に最適な記録パワーを求めるようにしたので、請求項
１と同様に光変調オーバーライトにおけるテスト記録を
迅速かつ正確に行うことができる。

【０２０９】なお、上記各実施例において、オーバーラ
イト記録可能な記録媒体として４層構造の光磁気効果を
使った記録媒体の他に、相変化型の記録媒体を用いても
良く、同様な効果を期待し得る。

【０２１０】

【発明の効果】以上のように、この発明の請求項１に係
る光変調オーバーライト記録装置によれば、媒体毎にテ
スト記録を行うことにより、記録パワーマージンの低下
したオーバーライトが可能な媒体を使用可能にすること
ができると共に、磁界を反転させてＤＣ“１”記録を行
った後に、磁界を元に戻してテストパターン記録を行う
ため、記録特性と同時に消去特性も判定可能になり、高
価なスペクトラムアナライザを使うことなく、光変調オ
ーバーライト記録装置で最適な記録パワーを決定できる
という効果を有する。

【０２１１】また、請求項２に係る光変調オーバーライ
ト記録装置によれば、情報記録媒体に対し記録特性をと
るためにパワー走査する際に、記録特性を、高レベルの
レーザパワー対高レベルと低レベルのレーザパワーの比
率に応じた２次元座標の線形勾配等高線で表現し、この
２次元座標上の線形勾配特性を使って座標上の領域を分
割する各境界線を越えるのに必要な域値交差を線形演算
で求めることにより、上記２次元座標上の許容領域を求
め、この許容領域内の代表点を情報記録媒体に対する最
適な高レベル及び低レベルのレーザパワーとするので、
走査ステップ数を６点にしてテスト記録時の最適値探査
時間を大幅に短縮することができ、また、これに伴いハ
ードウェアを簡単化できる。

【０２１２】また、請求項３に係る光変調オーバーライ
ト記録装置によれば、制御装置から与えられる高レベル
及び低レベルのレーザパワーの設定値に基づき記録手段
により、テスト信号を２値に変調した情報をオーバーラ
イト記録が可能な情報記録媒体に記録し、記録された情
報の再生時に誤り量測定手段により誤り量を測定し、上
記制御装置により上記設定値を順次変えて誤り量が所定
値を下回るレーザパワーの組み合わせの中で最も低いレ
ーザパワーの組み合わせを最適値とするので、高レベル
及び低レベルのレーザパワーによりテスト信号を変調し
てオーバーライト記録を行う際の２次元走査方法におい
て、所定の誤り率以下のパワーの組み合わせを短時間
に、かつ高精度に探索することができる。

【０２１３】また、請求項４に係る光変調オーバーライ
ト記録装置によれば、誤り量測定手段により、再生検出
時のウインドウ幅が記録再生時より狭められることによ
って、誤り率が増大し、誤り率を測定する際の必要なト
ラック数が低減され、従って、測定時間を短縮できる。

【０２１４】また、請求項５に係る光変調オーバーライ
ト記録装置によれば、制御装置により、最も低いレーザ
パワーの組み合わせの各パワーに一定係数を掛けたもの
を最適値とすることにより、ドライブのパワー変動を考
慮して精度の高いレーザーパワーの組み合わせを求める
ことができる。

【０２１５】また、請求項６に係る光変調オーバーライ
ト記録装置によれば、制御装置により、最も低いレーザ
パワーの組み合わせとして、高レベルと低レベルのレー
ザパワーの積が最も小さいものを選定するので、パワー
の組み合わせを高精度に、かつ高速に選択できる。

【０２１６】また、請求項７に係る光変調オーバーライ
ト記録装置によれば、制御装置により、最も低いレーザ
パワーの組み合わせとして、高レベルと低レベルのレー
ザパワーの加算値が最も小さいものが選定するので、請
求項４と同様な効果が期待できる。

【０２１７】また、請求項８に係る光変調オーバーライ
ト記録装置によれば、記録用データ信号として単一のテ
スト信号を用いて高レベル及び低レベルのレーザパワー
をＰ_H 及びＰ_L を２次元走査して記録特性と消去特性を
求め、再生信号レベルをモニタして線形結合される３点
の記録パワーの組み合せから３点とも許容値を越えた場
合の中央点の再生信号レベルに対応する高レベル及び低
レベルのレーザパワーを光磁気記録媒体に対する最適記
録パワーとするので、１トラックで必要な走査を終了で
き、従って、記録パワーの最適値探索時間を大幅に短縮
できると共に、単一のテスト信号に基づき記録特性と消
去特性を求めるのでこれに伴うハードウェアを簡単化で
きる。

【０２１８】また、請求項９に係る光変調オーバーライ
ト記録装置によれば、制御装置から与えられる高レベル
及び低レベルのレーザパワーの設定値に基づき記録手段
により、テスト信号を変調した情報をオーバーライト記
録が可能な情報記録媒体に記録し、再生時に、制御装置
によって再生信号の検出ウインドウを遅れおよび進み方
向にそれぞれ所定量シフトするように制御して、誤り量
測定手段によりそれぞれ検出ウインドウがシフトされた
再生信号の第１と第２の誤り量を測定するようにして、
上記制御装置により、上記高レベル及び低レベルのレー
ザパワーの設定値を順次変えて上記第１と第２の誤り量
に基づく誤り率がともに所定値を下回るレーザパワーに
基づきそれぞれパワー値の最も高い値と最も低い値の平
均値で求まるレーザパワーの組み合わせを最適な記録パ
ワーとするので、高レベル及び低レベルのレーザパワー
によりテスト信号を変調してオーバーライト記録を行う
際の２次元走査方法において、所定の誤り率以下のパワ
ーの組み合わせを短時間にかつ高精度に探索することが
できる。

【０２１９】また、請求項１０に係る光変調オーバーラ
イト記録装置によれば、制御装置から与えられる高レベ
ル及び低レベルのレーザパワーの設定値に基づき記録手
段により、テスト信号を変調した情報をオーバーライト
記録が可能な情報記録媒体に記録し、再生時に、制御装
置によって再生信号の検出ウインドウを遅れおよび進み
方向にそれぞれ所定量シフトするように制御し、誤り量
測定手段によりそれぞれ検出ウインドウがシフトされた
再生信号の第１と第２の誤り量を測定するようにして、
上記制御装置により、誤り量測定手段に与える検出ウイ
ンドウのシフト設定量を変えて上記第１と第２の誤り量
に基づく誤り率がともに所定値を下回る検出ウインドウ
をウインドウマージンとして求め、上記記録手段に与え
る高レベル及び低レベルのレーザパワーの設定値を順次
変えて２次元走査し、上記ウインドウマージンの最も広
い領域の中心値となる高レベル及び低レベルのレーザパ
ワーの組み合わせを最適な記録パワーとするので、高レ
ベル及び低レベルのレーザパワーによりテスト信号を変
調してオーバーライト記録を行う際の２次元走査方法に
おいて、所定の誤り率以下のパワーの組み合わせを短時
間にかつ高精度に探索することができる。

【０２２０】また、請求項１１に係る光変調オーバーラ
イト記録装置によれば、一定のパワーでＤＣ“１”を記
録した後、記録用データ信号として所定の単一のテスト
信号を用い上記記録信号の反転符号を記録するようにし
て、高レベル及び低レベルのレーザパワーを２次元走査
して再生信号レベルをモニタし、得られる再生信号レベ
ルに基づいて情報記録媒体に最適な記録パワーを求める
ようにしたので、光変調オーバーライトにおけるテスト
記録を迅速かつ正確に行うことができる。

【０２２１】さらに、請求項１２に係る光変調オーバー
ライト記録装置によれば、一定のパワーでＤＣ“１”ま
たはＤＣ“０”を記録した後、記録用データ信号として
所定の単一のテスト信号を用い上記記録信号の反転符号
を記録し、さらに上記テスト信号とはコンプリメントパ
ターンでなり、かつ位相同期したテスト信号を用いて上
記記録信号の反転符号の反転符号を記録するようにし
て、高レベル及び低レベルのレーザパワーを２次元走査
して再生信号レベルをモニタし、得られる再生信号レベ
ルに基づいて情報記録媒体に最適な記録パワーを求める
ようにしたので、請求項１と同様に光変調オーバーライ
トにおけるテスト記録を迅速かつ正確に行うことができ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明で用いる光磁気記録媒体の構成図であ
る。

【図２】図１の光磁気記録媒体の磁化特性説明図であ
る。

【図３】図１の光磁気記録媒体の磁化特性説明図であ
る。

【図４】図１の光磁気記録媒体の磁化特性模式図であ
る。

【図５】この発明の実施例１に係る構成図である。

【図６】この発明の実施例１に係るもので、図５の制御
装置１００による動作フローチャトである。

【図７】実施例１に係るもので、最適な記録パワーを求
める際の特性図である。

【図８】この発明の実施例２に係る構成図である。

【図９】線形勾配記録特性の説明図である。

【図１０】実施例２に係るもので、最適な領域Ａを求め
るためのαーｋ平面特性図である。

【図１１】この発明の実施例２に係るもので、図８の制
御装置１０による動作フローチャトである。

【図１２】図１１に続く動作フローチャトである。

【図１３】この発明の実施例３に係る構成図である。

【図１４】図１３のＰＬＬ回路の構成図である。

【図１５】図１４の動作波形図である。

【図１６】この発明の実施例３に係るもので、図１３の
制御装置１０による動作フローチャトである。

【図１７】誤り率のパワー依存性及び最適なレーザーパ
ワーの組み合わせを求める方法を説明する説明図であ
る。

【図１８】この発明の実施例４に係るもので、図１３の
制御装置１０により最適値として最も低いレーザーパワ
ーの組み合わせを求める方法を説明する等高線図であ
る。

【図１９】この発明の実施例５に係るもので、図１３の
制御装置１０により最適値として最も低いレーザーパワ
ーの組み合わせを求める方法を説明する等高線図であ
る。

【図２０】この発明の実施例６に係るもので、図８の制
御装置１０による動作フローチャトである。

【図２１】テスト記録時の記録特性と消去特性に係る波
形説明図である。

【図２２】線形結合される３点の記録パワーの組み合せ
から最適パワーを求める深査方法の説明図である。

【図２３】光磁気記録媒体上でのテスト記録時の走査方
法の説明図である。

【図２４】この発明の実施例７に係るもので、図１３の
ＰＬＬ回路の構成図である。

【図２５】図２４の動作波形図である。

【図２６】この発明の実施例７に係るもので、図１３の
制御装置１０の動作フローチャートである。

【図２７】実施例７に係る誤り率と検出ウインドウのシ
フト量との関係説明図である。

【図２８】実施例７に係る制御装置１０による最適な記
録パワーの探索法説明図である。

【図２９】この発明の実施例８に係るもので、図１３の
制御装置１０の動作フローチャートである。

【図３０】実施例８に係る誤り率と検出ウインドウ幅と
の関係説明図である。

【図３１】実施例８に係る制御装置１０による最適な記
録パワーの探索法説明図である。

【図３２】この発明の実施例９に係るもので、図８の制
御装置１０の動作フローチャートである。

【図３３】この発明の実施例９と１０に係るもので、図
８におけるテスト記録時の波形説明図である。

【図３４】光磁気記録媒体上でのテスト記録時の走査方
法の説明図である。

【図３５】この発明の実施例１０に係るもので、図８の
制御装置１０の動作フローチャートである。

【図３６】オーバーライト可能な媒体の安定記録温度領
域の説明図である。

【図３７】非オーバーライト媒体とオーバーライト可能
な媒体の記録パワーの許容範囲の説明図である。

【符号の説明】

１光磁気記録媒体１０制御装置１１テスト信号発生器１２レーザ駆動回路１３レベル検出器１４メモリ２１光ヘッド２２ヘッドアンプ２３データ検出回路２４ＰＬＬ回路２５データエラー判定回路２６パワーコントロール回路１００制御装置Ｐ_Ｈ高レベルのレーザパワーＰ_Ｌ低レベルのレーザパワーＴ１テスト信号

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (31)優先権主張番号特願平4−87051 (32)優先日平４(1992)４月８日 (33)優先権主張国日本（ＪＰ） (31)優先権主張番号特願平4−91139 (32)優先日平４(1992)４月10日 (33)優先権主張国日本（ＪＰ） (31)優先権主張番号特願平4−96385 (32)優先日平４(1992)４月16日 (33)優先権主張国日本（ＪＰ） (72)発明者島元昌美尼崎市塚口本町８丁目１番１号三菱電機株式会社産業システム研究所内 (72)発明者中島良喜尼崎市塚口本町８丁目１番１号三菱電機株式会社産業システム研究所内 (72)発明者竹内浩一尼崎市塚口本町８丁目１番１号三菱電機株式会社産業システム研究所内 (72)発明者吉本恭輔尼崎市塚口本町８丁目１番１号三菱電機株式会社産業システム研究所内

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】光変調オーバーライト可能な情報記録媒
体を用いた光変調オーバーライト記録装置において、外
部磁界を反転させて、ＤＣ（direct current）の高レベ
ルのレーザパワーを記録後、上記外部磁界を元に戻し
て、同一場所にテストパターンを記録・再生し、得られ
た再生信号から上記情報記録媒体に適切な記録パワーを
決定する制御装置を備えたことを特徴とする光変調オー
バーライト記録装置。
【請求項２】高レベル及び低レベルのレーザパワーと
より低レベルのレーザパワーとの値が設定され出力する
レーザ強度を３値制御するレーザ駆動回路と、上記レー
ザ駆動回路により光変調オーバーライト可能な情報記録
媒体へ照射されるレーザパワーの再生信号レベルを検出
するレベル検出器と、上記レーザ駆動回路へレーザパワ
ーの設定値と記録用データ信号を与える制御装置とを備
え、この制御装置は、上記高レベル及び低レベルのレー
ザパワーによる“１”及び“０”の記録特性を、記録用
データ信号として所定のテスト信号を用い再生信号レベ
ルをモニタし、高レベル及び低レベルのレーザパワーを
２次元走査して高レベルのレーザパワー対高レベルと低
レベルのレーザパワーの比率に応じた２次元座標の線形
勾配等高線で表現し、この２次元座標上の線形勾配特性
を使って座標上の領域を分割する各境界線を越えるのに
必要な域値交差を線形演算で求めることにより上記２次
元座標上の許容領域を求め、この許容領域内の代表点を
上記情報記録媒体に対する最適な高レベル及び低レベル
のレーザパワーとすることを特徴とする光変調オーバー
ライト記録装置。
【請求項３】高レベル及び低レベルのレーザパワーの
設定値に基づいて所定のテスト信号を２値に変調した情
報のレーザパワーをオーバーライト記録が可能な情報記
録媒体に照射して情報の記録を行う記録手段と、上記情
報記録媒体に記録された情報を再生し誤り量を測定する
誤り量測定手段と、上記記録手段に与える高レベル及び
低レベルのレーザパワーの設定値を順次変えて上記誤り
量が所定値を下回る高レベル及び低レベルのレーザパワ
ーの組み合わせの中で最も低いレーザパワーの組み合わ
せを最適な記録パワーとする制御装置とを備えたことを
特徴とする光変調オーバーライト記録装置。
【請求項４】請求項３記載の光変調オーバーライト記
録装置において、上記制御装置は、誤り量を求める際、
上記誤り量測定手段による再生データの検出ウインドウ
を狭めるべく制御することを特徴とする光変調オーバー
ライト記録装置。
【請求項５】請求項３または４記載の光変調オーバー
ライト記録装置において、上記制御装置は、誤り量が所
定値を下回る高レベル及び低レベルのレーザパワーの組
み合わせの中で最も低いレーザパワーの組み合わせの各
パワーにそれぞれ一定係数を掛けたレーザパワーの組み
合わせを最適な記録パワーとすることを特徴とする光変
調オーバーライト記録装置。
【請求項６】請求項３ないし５のいずれかに記載の光
変調オーバーライト記録装置において、上記制御装置
は、最も低いレーザパワーの組み合わせとして、高レベ
ルと低レベルのレーザパワーの積が最も小さいレーザパ
ワーの組み合わせを最適な記録パワーとすることを特徴
とする光変調オーバーライト記録装置。
【請求項７】請求項３ないし５のいずれかに記載の光
変調オーバーライト記録装置において、上記制御装置
は、最も低いレーザパワーの組み合わせとして、高レベ
ルと低レベルのレーザパワーの加算値が最も小さいレー
ザパワーの組み合わせを最適な記録パワーとすることを
特徴とする光変調オーバーライト記録装置。
【請求項８】高レベル及び低レベルのレーザパワーと
より低レベルのレーザパワーとの値が設定され出力する
レーザ強度を３値制御するレーザ駆動回路と、上記レー
ザ駆動回路により光変調オーバーライト可能な情報記録
媒体へ照射されるレーザパワーの再生信号レベルを検出
するレベル検出器と、上記レーザ駆動回路へレーザパワ
ーの設定値と記録用データ信号を与える制御装置とを備
え、この制御装置は、上記高レベル及び低レベルのレー
ザパワーによる“１”及び“０”の記録特性を、記録用
データ信号として単一のテスト信号を用い再生信号レベ
ルをモニタし、高レベル及び低レベルのレーザパワーを
２次元走査して２次元座標についての等高線領域表現の
記録特性として求め、線形結合される３点の記録パワー
の組み合せから３点とも再生信号レベルが許容値を越え
た場合の３点のうちの中央点を求めることにより、上記
情報記録媒体に対する最適な高レベル及び低レベルのレ
ーザパワーとすることを特徴とする光変調オーバーライ
ト記録装置。
【請求項９】高レベル及び低レベルのレーザパワーの
設定値に基づいて所定のテスト信号を変調した情報のレ
ーザパワーをオーバーライト記録が可能な情報記録媒体
に照射して情報の記録を行う記録手段と、再生信号の検
出ウインドウを遅れおよび進み方向にそれぞれ所定量シ
フトして上記情報記録媒体に記録された情報を再生し第
１と第２の誤り量を測定する誤り量測定手段と、上記記
録手段に与える高レベル及び低レベルのレーザパワーの
設定値を順次変えて２次元走査し上記第１と第２の誤り
量に基づく誤り率がともに所定値を下回る高レベル及び
低レベルのレーザパワーの組み合わせデータに基づいて
それぞれパワー値の最も高い値と最も低い値の平均値で
求まるレーザパワーの組み合わせを最適な記録パワーと
する制御装置とを備えたことを特徴とする光変調オーバ
ーライト記録装置。
【請求項１０】高レベル及び低レベルのレーザパワー
の設定値に基づいて所定のテスト信号を変調した情報の
レーザパワーをオーバーライト記録が可能な情報記録媒
体に照射して情報の記録を行う記録手段と、再生信号の
検出ウインドウを遅れおよび進み方向にそれぞれ設定量
シフトして上記情報記録媒体に記録された情報を再生し
第１と第２の誤り量を測定する誤り量測定手段と、この
誤り量測定手段に与える検出ウインドウのシフト設定量
を変えて上記第１と第２の誤り量に基づく誤り率がとも
に所定値を下回る検出ウインドウをウインドウマージン
として求め、上記記録手段に与える高レベル及び低レベ
ルのレーザパワーの設定値を順次変えて２次元走査し、
上記ウインドウマージンの最も広い領域の中心値となる
高レベル及び低レベルのレーザパワーの組み合わせを最
適な記録パワーとする制御装置とを備えたことを特徴と
する光変調オーバーライト記録装置。
【請求項１１】高レベル及び低レベルのレーザパワー
とより低レベルのレーザパワーとの値が設定され出力す
るレーザ強度を３値制御するレーザ駆動回路と、上記レ
ーザ駆動回路により光変調オーバーライト可能な情報記
録媒体へ照射されるレーザパワーの再生信号レベルを検
出するレベル検出器と、上記レーザ駆動回路へレーザパ
ワーの設定値と記録用データ信号を与える制御装置とを
備え、この制御装置は、上記高レベル及び低レベルのレ
ーザパワーによる“１”及び“０”の記録特性を求める
のに、一定のパワーでＤＣ“１”を記録した後、記録用
データ信号として所定の単一のテスト信号を用い上記記
録信号の反転符号を記録するようにして再生信号レベル
をモニタし、高レベル及び低レベルのレーザパワーを２
次元走査して２次元座標についての等高線領域表現の記
録特性として求め、上記再生信号レベルに基づいて上記
情報記録媒体に対する最適な高レベル及び低レベルのレ
ーザパワーを得ることを特徴とする光変調オーバーライ
ト記録装置。
【請求項１２】高レベル及び低レベルのレーザパワー
とより低レベルのレーザパワーとの値が設定され出力す
るレーザ強度を３値制御するレーザ駆動回路と、上記レ
ーザ駆動回路により光変調オーバーライト可能な情報記
録媒体へ照射されるレーザパワーの再生信号レベルを検
出するレベル検出器と、上記レーザ駆動回路へレーザパ
ワーの設定値と記録用データ信号を与える制御装置とを
備え、この制御装置は、上記高レベル及び低レベルのレ
ーザパワーによる“１”及び“０”の記録特性を求める
のに、一定のパワーでＤＣ“１”またはＤＣ“０”を記
録した後、記録用データ信号として所定の単一のテスト
信号を用い上記記録信号の反転符号を記録し、さらに上
記テスト信号とはコンプリメントパターンでなり、かつ
位相同期したテスト信号を用いて上記記録信号の反転符
号の反転符号を記録するようにして再生信号レベルをモ
ニタし、高レベル及び低レベルのレーザパワーを２次元
走査して２次元座標についての等高線領域表現の記録特
性として求め、上記再生信号レベルに基づいて上記情報
記録媒体に対する最適な高レベル及び低レベルのレーザ
パワーを得ることを特徴とする光変調オーバーライト記
録装置。