JPH08203079A - ライトテスト方法及び光情報記録装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 多値制御による記録パワーの制御であって
も、簡便で精度よく記録パワーを最適値に設定できるよ
うにする。 【構成】 光磁気ディスク１にテスト記録を行って光ビ
ームの記録パワーを最適値に設定するライトテスト方法
であって、ディスク１に予め記録されているロープロセ
スのパワーレベルＰＬ、ハイプロセスのパワーレベルＰ
Ｈ、及び熱干渉度の度合Ｏｔｈを読み取る工程と、この
読み取られた情報に基づいて光ビームの多値制御信号の
レベルを求め、かつこれらの多値制御信号の比を算出す
る工程と、この比を一定に保ったままで光ビームの記録
パワーを変化させて所定の試し書きパターンをディスク
１に記録し、試し書きパターンを記録するごとに試し書
きパターンを再生して再生信号のアシンメトリーを検出
し、アシンメトリーの検出結果に基づいて光ビームの最
適パワーを決定する工程とを具備する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、光学的情報記録媒体に
テスト記録を行って光ビームの記録パワーを最適値に調
整するライトテスト方法及び光情報記録装置に関するも
のである。

【０００２】

【従来の技術】従来、記録情報の消去可能な光メモリと
して光磁気メモリが知られており、現在光磁気メモリを
用いた情報記録再生装置が実用化されるに至っている。
このような光磁気メモリに情報を記録する場合、磁気メ
モリへの記録方法に比べて高密度記録が可能であるばか
りでなく、情報記録面に非接触で情報の記録、再生が可
能であるという長所を持っている。しかし、その反面光
ビームを照射して記録媒体の記録層を加熱し、加熱部分
の磁化を変化させることで情報を記録するため、記録に
先立って媒体上の以前の情報を消去、つまり媒体の磁化
方向を一方向に一様に着磁させる必要がある。そのた
め、光磁気メモリに情報を記録するには、消去過程と記
録過程の２つのプロセスが必要であり、記録速度が遅く
なるという問題があった。

【０００３】このような問題点を解決するために、消去
と記録を別々の光ヘッドで分担して同時に行う方法もあ
るが、この方法では装置の規模が大がかりになり、コス
ト高になってしまう。そこで、以前に記録された旧情報
の上に消去過程を経ずに新たな情報を重ね書きするとい
う、いわゆる重ね書き記録方法がある。この重ね書き方
法の一つとして、交換結合積層膜からなる光磁気記録媒
体を用い、照射する光ビームのパワーを記録情報に応じ
て変化させて重ね書きを行う光変調オーバーライト法が
知られている。このような光変調オーバーライト法で
は、重ね書き記録時に２種類のレーザパワーＰ_H 、Ｐ_L
が使用され、比較的低い方のレーザパワーＰ_L によって
消去のプロセス、比較的高い方のレーザパワーＰ_H によ
って記録のプロセス（磁壁の形成）が行われる。

【０００４】また、最近では、このような情報記録速度
の高速化に加え、情報量をアップさせる高密度化の要求
も大きい。そこで、こうした要求に応えるためには、記
録媒体のトラックピッチを狭くしたり、記録ピットを短
くしたり、更には情報の記録方式としてピットエッジ記
録方法が考えられている。しかし、そのためには、光源
として用いる半導体レーザを高精度で制御するレーザ制
御技術が必要であり、現在では３値及び４値のレーザパ
ワー制御によって記録パワーを制御している。また、装
置温度の変動や媒体感度のバラツキによって記録ピット
の安定度が変化し、装置の記録性能が変化するので、ラ
イトテスト（試し書き）を行ってレーザパワーの調整を
行う必要がある。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】前述のようにピットエ
ッジ記録などにより高密度で情報を記録する場合、記録
性能を確保するにはライトテストによる記録パワーの調
整が重要である。しかしながら、現在有効とされている
３値及び４値のレーザパワー制御では、３値及び４値の
レーザパワーを調整する場合、それぞれ独立して調整し
ているので、ライトテストが複雑になるという問題があ
った。

【０００６】本発明は、上記従来の問題点に鑑みなされ
たもので、その目的は、多値制御による記録パワーの制
御であっても、簡便で精度よく記録パワーを最適値に設
定することができるライトテスト方法及び光情報記録装
置を提供することにある。

【０００７】

【課題を解決するための手段】本発明の目的は、光学的
情報記録媒体にテスト記録を行って光ビームの記録パワ
ーを最適値に設定するライトテスト方法であって、前記
記録媒体に予め記録されているロープロセスのパワーレ
ベル、ハイプロセスのパワーレベル、及び熱干渉度の度
合を読み取る工程と、この読み取られた情報に基づいて
光ビームの多値制御信号のレベルを求め、かつこれらの
多値制御信号の比を算出する工程と、この比を一定に保
ったままで光ビームの記録パワーを変化させて所定の試
し書きパターンを前記記録媒体に記録すると共に、試し
書きパターンを記録するごとに試し書きパターンを再生
して再生信号のアシンメトリーを検出し、アシンメトリ
ーの検出結果に基づいて光ビームの最適パワーを決定す
る工程とを有することを特徴とするライトテスト方法に
よって達成される。

【０００８】また、本発明の目的は、光学的情報記録媒
体に多値制御により光ビームの記録パワーを制御して情
報を記録する光情報記録装置において、前記情報記録媒
体に予め記録されているロープロセスのパワーレベル、
ハイプロセスのパワーレベル及び熱干渉度の度合に基づ
いて光ビームの多値制御信号のレベル値を求め、かつこ
の多値レベル制御信号の比を算出する手段と、この比を
一定に保ったままで光ビームの記録パワーを変化させて
前記記録媒体に所定の試し書きパターンを記録する手段
と、記録された試し書きパターンの再生信号のアシンメ
トリーを検出する手段と、このアシンメトリーの検出結
果に基づいて光ビームの最適パワーを設定する手段とを
有することを特徴とする光情報記録装置によって達成さ
れる。

【０００９】

【実施例】以下、本発明の実施例について図面を参照し
て詳細に説明する。図１は本発明の光情報記録装置の一
実施例を示した構成図である。図１において、１は情報
記録媒体であるところの光磁気ディスクであり、スピン
ドルモータ２の駆動によって所定の速度で回転する。光
磁気ディスク１の上面にはバイアス磁界を印加するため
のバイアスマグネット３が配設され、下面にはバイアス
マグネット３に対向して光磁気ディスク１に光ビームを
照射したり、光磁気ディスク１からの反射光を検出する
ための光ヘッド４が配設されている。

【００１０】光ヘッド４内には光源の半導体レーザ５が
設けられ、このレーザ５から射出された光ビームは偏光
ビームスプリッタ６で反射されて対物レンズ７に入射す
る。そして、光ビームは対物レンズ７によって絞られ、
微小光スポットとして光磁気ディスク１上に結像され
る。光磁気ディスク１に照射された光の一部はディスク
面で反射され、再び対物レンズ７を通り、偏光ビームス
プリッタ６を透過して偏光ビームスプリッタ９へ入射す
る。この入射光は偏光ビームスプリッタ９でＳ偏光成分
とＰ偏光成分に分けられ、この分けられた光は光センサ
１０、１１でそれぞれ検出される。光センサ１０、１１
の検出信号は差動アンプ１２で差動検出され、光磁気信
号として再生される。

【００１１】また、光ヘッド４内には対物レンズ７をト
ラッキング方向及びフォーカス方向に駆動するためのア
クチュエータ８が設けられている。更に、本実施例で
は、図１には図示していないが、光ビームのトラッキン
グエラー信号、フォーカスエラー信号を検出するための
誤差信号生成回路、トラッキング制御とフォーカス制御
を行うためのサーボ制御回路が設けられている。誤差信
号生成回路では、光磁気ディスク１からの反射光をもと
にトラッキングエラー信号及びフォーカスエラー信号を
生成し、サーボ制御回路では得られたトラッキングエラ
ー信号、フォーカスエラー信号をもとにアクチュエータ
８を駆動する。これにより、対物レンズ７はトラッキン
グ方向及びフォーカス方向に駆動され、光磁気ディスク
１に照射された半導体レーザ５からの光ビームは情報ト
ラックに追従して走査するように、かつディスク面に焦
点が合うように制御される。こうしてトラッキング制御
とフォーカス制御を行う。

【００１２】差動アンプ１２で得られた再生信号は信号
処理回路１７に送られ、所定の信号処理を行うことで再
生データが生成される。また、アシンメトリー検出回路
１３は再生信号の非対称性を検出するための回路であ
り、詳しく後述するようにライトテスト時に試し書きパ
ターンの再生信号の非対称性の度合を検出し、それをも
とに半導体レーザ５の最適パワーの調整が行われる。Ｃ
ＰＵ１６は本実施例の光情報記録装置の主制御回路をな
すもので、半導体レーザ駆動回路１４の制御、バイアス
マグネット駆動回路１５の制御を行う。半導体レーザ駆
動回路１４ではＣＰＵ１６の制御に基づいて半導体レー
ザ５に駆動電流を供給し、バイアスマグネット駆動回路
１５ではＣＰＵ１６の制御に基づいてバイアスマグネッ
ト３に駆動電流を供給する。このようにＣＰＵ１６は各
部を制御することによって情報の記録、再生を制御す
る。また、ＣＰＵ１６では詳しく後述するように、光磁
気ディスク１が交換されたときなどに各部を制御してラ
イトテストを行い、半導体レーザ５の記録パワーを最適
パワーに設定する制御を行う。

【００１３】次に、本発明のライトテスト方法の一実施
例について説明する。まず、本実施例ではライトテスト
を行う場合、図２に示すような波形で半導体レーザ５を
点灯するものとする。図２（ａ）は記録信号、図２
（ｂ）はＰＨ１制御信号、図２（ｃ）はＰＨ２制御信
号、図２（ｄ）は遮断レベル制御信号である。図２
（ａ）の記録信号はＣＰＵ１６から半導体レーザ駆動回
路１４に供給される信号である。半導体レーザ駆動回路
１４では記録信号が供給されると、図２（ｂ）、
（ｃ）、（ｄ）のようなＰＨ１、ＰＨ２、及び遮断レベ
ル制御信号を半導体レーザ５に供給し、半導体レーザ５
は図２（ｅ）のようなパワーで点灯する。従って、本実
施例では、ＰＨ１、ＰＨ２、ＰＬ１、Ｐｒの４値で半導
体レーザ５を制御するものとする。なお、Ｐｒの値は一
定である。

【００１４】ここで、光磁気ディスク１上でＰＬ１、Ｐ
Ｈ１、ＰＨ２の値が各々独立して変化することは、半導
体レーザ駆動回路１４の制御誤差以外には考えにくく、
またこの駆動回路の制御誤差は無視できる程度である。
従って、光磁気ディスク１上での半導体レーザ５のパワ
ーの変化は、装置内温度変化、対物レンズの汚れなどに
よるもので、ＰＬ１、ＰＨ１、ＰＨ２は一定の比（ＰＬ
１：ＰＨ１：ＰＨ２）を保ちながら連動して変化すると
考えてよい。

【００１５】そこで、本願発明者がＰＬ１：ＰＨ１：Ｐ
Ｈ２の比を一定に保ったまま半導体レーザ５の記録パワ
ー（Ｐｗ）を全体的に変化させてウインドウマージンと
アシンメトリーの度合を測定する実験を行ったところ、
図３に示すような結果が得られた。図３において、アシ
ンメトリーは再生信号の対称性を示すもので、アシンメ
トリーが０のときを最適パワーとしている。また、記録
パワーを変化させた場合、ウインドウマージンは図３の
ように変化し、ウインドウマージンが最も大きくなる記
録パワーがアシンメトリーが０になる記録パワーに一致
していることがわかる。つまり、再生信号のアシンメト
リーを測定することによって、記録パワーの最適値を見
つけることが可能である。従って、本実施例では、この
ような考え方をもとに、再生信号のアシンメトリーに基
づいて半導体レーザ５の記録パワーを最適パワーに設定
するものである。

【００１６】次に、ライトテストにおける記録パワーを
最適値に設定する具体的な方法について説明する。図４
はライトテスト時の処理の流れを示したフローチャート
である。なお、このライトテストは光磁気ディスク１が
交換されるごとに行ってもよいし、情報の記録前に必ず
行ってもよく、あるいは一定時間ごとに定期的に行って
もよい。図４において、まずライトテストを行う場合、
ＣＰＵ１６は光ヘッド４を光磁気ディスク１の媒体情報
領域（媒体制御情報が記録されたトラック）にアクセス
し（Ｓ１）、媒体情報領域に予め記録されているローレ
ベルのパワー（ＰＬ）、ハイレベルのパワー（ＰＨ）、
熱干渉の程度（Ｏｔｈ）の値を読み取る（Ｓ２）。これ
らの情報は信号処理回路１７で再生され、ＣＰＵ１６に
取り込まれる。

【００１７】ここで、以上のＰＬ、ＰＨ、Ｏｔｈの値は
ディスクごとに予め各媒体情報領域に記録されているの
であるが、これらの値については次のように決めるのが
望ましい。まず、ＰＬについては、そのディスクの感度
曲線から求めた最適記録パワーで２Ｔ連続信号を記録
し、その後にレーザ光をＤＣ的に照射して２Ｔ信号が完
全に消去されるパワーをＰＬとして決定する。完全に消
去されたかどうかはスペクトルアナライザーで観測すれ
ばよい。

【００１８】また、ＰＨについては、通常記録信号に対
して十分に遅い周波数、例えば５００ＫＨｚ程度の周波
数でデューティーが９０％程度の信号（ほとんどＤＣ照
射）をディスクに記録し、キャリアが立ち始めた、ある
いは記録ノイズが増加し始めたパワーをＰＨとして決定
する。

【００１９】最後に、Ｏｔｈ（熱干渉度）については、
規格書で決められている次の式で決定する。

【００２０】 Ｏｔｈ＝１００・（｜Ｌ₈ −Ｌ₄ −４Ｔ｜）／Ｔ（％） …（１） （１）式のＬ₈ は再生信号の８Ｔの長さ、Ｌ₄ は再生信
号の４Ｔの長さ、４Ｔは理想的な４Ｔの長さである。こ
のように８Ｔ、４Ｔの信号を記録し、その再生信号の８
Ｔ、４Ｔの長さを測定し、得られた結果から（１）式を
用いて計算することによってＯｔｈを決定する。

【００２１】また、このときのテストパターンとして
は、２Ｔ（Ｍ）、２Ｔ（Ｓ）、２Ｔ（Ｍ）、２Ｔ
（Ｓ）、２Ｔ（Ｍ）、２Ｔ（Ｓ）、２Ｔ（Ｍ）、２Ｔ
（Ｓ）、２Ｔ（Ｍ）、８Ｔ（Ｓ）、４Ｔ（Ｍ）、８Ｔ
（Ｓ）、８Ｔ（Ｍ）、８Ｔ（Ｓ）を用いればよい。Ｍは
マーク、Ｓはスペースである。但し、マークを記録する
場合は、全て０．５Ｔ分短く記録するものとし、具体的
には２Ｔは１．５Ｔ、４Ｔは３．５Ｔ、８Ｔは７．５Ｔ
というように記録する。更に、このテストパターンを再
生して再生信号の４Ｔ、８Ｔの長さを測定する場合は、
スライスレベルを再生信号のピークレベルとボトムレベ
ルの中間値とし、また、テストパターンを記録する場合
は、４Ｔの長さが理想的な長さになるパワーを記録パワ
ーとして設定する。こうしてディスクごとにＰＬ、Ｐ
Ｈ、Ｏｔｈの値を求めてそれぞれの媒体情報領域に記録
しておくものとする。

【００２２】図４に戻る。ＣＰＵ１６は光磁気ディクス
１から読み取ったＰＬ、ＰＨ、Ｏｔｈの値に基づいてＰ
Ｌ１、ＰＨ１、ＰＨ２を算出する（Ｓ３）。これらの値
はディスクの熱構造、線速、記録レーザ点灯パターンに
よって一義的に求めることができる。即ち、 ＰＬ１＝ｆ₁ （ＰＬ、ＰＨ、Ｏｔｈ） ＰＨ１＝ｇ₁ （ＰＬ、ＰＨ、Ｏｔｈ） ＰＨ２＝ｈ₁ （ＰＬ、ＰＨ、Ｏｔｈ） というように関数として得ることができる。この関数を
もう少し具体的に表わすと、 ＰＬ１＝ｍ（ＰＨ−ＰＬ） ＰＨ１＝ｎＰＨ−ＰＬ１ ＰＨ２＝（１＋Ｌ・Ｏｔｈ）ＰＨ１ となる。但し、０＜ｍ＜１である。また、ｎ、Ｌはレー
ザ点灯パターンによって異なる。従って、この関数を装
置の設計時に求めておくことによって、ＰＬ、ＰＨ及び
Ｏｔｈの情報から装置とディスクの組み合せに応じた適
切なＰＬ１、ＰＨ１、ＰＨ２の値を得ることができる。

【００２３】次に、ＣＰＵ１６ではＰＬ１、ＰＨ１、Ｐ
Ｈ２の比を算出し、ライトテストを開始するときのＰＬ
１、ＰＨ１、ＰＨ２の初期値を設定する（Ｓ４）。この
初期値は例えば低いパワーに設定しておき、それから所
定量ずつ段階的に上げていくものとする。以上でライト
テストの前準備が終了し、引き続いて最適パワーを検索
する処理を行う。最適パワーを検索するには、先に設定
したＰＬ１、ＰＨ１、ＰＨ２の初期値で光磁気ディスク
１の所定領域に試し書きパターンを記録し（Ｓ５）、そ
の後試し書きパターンを再生して再生信号のアシンメト
リーの度合によって記録パワーが最適パワーか否かの判
定を行う（Ｓ６）。即ち、アシンメトリー検出回路１３
で再生信号のアシンメトリーを検出し、検出結果をＣＰ
Ｕ１６に出力する。

【００２４】ＣＰＵ１６はアシンメトリーの度合が０で
あるかどうかを判断し、アシンメトリーが０でなけれ
ば、記録パワーは最適値でないと判断し、ＰＬ１、ＰＨ
１、ＰＨ２の比を一定に保ったまま、記録パワーを一段
階高くして記録パワーを更新する（Ｓ７）。そして、こ
の更新された記録パワーで再度光磁気ディスク１の所定
領域に試し書きパターンを記録し（Ｓ５）、その後試し
書きパターンを再生して再生信号のアシンメトリーによ
って記録パワーが最適か否かの判定を行う（Ｓ６）。こ
うしてＳ５〜Ｓ７の処理を繰り返し行い、ＰＬ１、ＰＨ
１、ＰＨ２の比を一定に保ちながら記録パワーを段階的
に高くしていく。そして、アシンメトリー検出回路１３
の検出結果が０となったときのＰＬ１、ＰＨ１、ＰＨ２
の値を最適パワーとして決定する（Ｓ８）。以上でライ
トテストによる最適パワーが決定し以後そのディスクに
は得られた記録パワーで情報の記録を行う。

【００２５】ここで、ライトテストを行う場合、試し書
きパターンとしては、例えば図７に示すようなｎ×（８
Ｔ−２Ｔ）−８Ｔ−８Ｔ−ｎ×（２Ｔ−８Ｔ）パターン
を用いるとアシンメトリーを測定しやすい。図５はこの
ような試し書きパターンを再生したときの再生信号であ
り、図５（ａ）は記録パワーが最適値よりもアンダーパ
ワーである場合の再生信号、図５（ｂ）は記録パワーが
最適パワーである場合の再生信号、図５（ｃ）は記録パ
ワーが最適値よりもオーバーパワーである場合の再生信
号を示している。また、図中の２Ｔ信号に注目すると、
図７との対比でも明らかなように、中心線よりも下側が
レーザを点灯して媒体上に２Ｔのピットが記録されてい
る状態である。

【００２６】記録パワーが最適値よりもアンダパワーで
ある場合は、２Ｔの振幅を比較すると、図５（ａ）のよ
うに２Ｔピットが存在する側（記録側）の振幅が大き
く、２Ｔピットが存在しない側の振幅が小さくなる。ま
た、記録パワーが最適値であれば、図５（ｂ）のように
ピットが存在する側と存在しない側の２Ｔの振幅は等し
くなる。更に、記録パワーが最適パワーよりもオーバー
パワーである場合は、図５（ｃ）のようにピットが存在
する側の２Ｔの振幅が小さく、ピットの存在しない側の
２Ｔの振幅が大きくなる。従って、このような試し書き
パターンをディスク上に記録し、その再生信号の２Ｔピ
ットの存在しない側の２Ｔの振幅、２Ｔピットの存在す
る側の２Ｔの振幅をそれぞれ検出し、それを比較するこ
とによって再生信号のアシンメトリーを検出することが
できる。

【００２７】図６に以上のような試し書きパターンを用
いた場合に適用しうるアシンメトリー検出回路１３の具
体例を示している。図６において、ＡＧＣ（オートゲイ
ンコントローラ）２０は再生信号の振幅レベルを一定レ
ベルにするための回路、ピークホールド回路２１は再生
信号のピークレベルを検出する回路、ボトムホールド回
路２２は再生信号のボトムレベルを検出する回路であ
る。このピークホールド回路２１とボトムホールド回路
２２の出力信号を差動増幅器２３に入力して差動検出す
ると、再生信号の振幅値を得ることができる。また、差
動増幅器２３の出力信号はＡ／Ｄコンバータ２４に出力
され、Ａ／Ｄコンバータ２４ではサンプリングクロック
のタイミングで再生信号の振幅値をデジタル化するよう
に構成されている。

【００２８】図７に試し書きパターンとサンプリングク
ロックのタイミングを示しており、試し書きパターンは
前述のようなアシンメトリーを測定しやすいパターンと
して説明したｎ×（８Ｔ−２Ｔ）−８Ｔ−８Ｔ−ｎ×
（２Ｔ−８Ｔ）のパターンである。これは、図５に対応
し、先頭の８Ｔから２Ｔ、８Ｔ、２Ｔ、８Ｔまで図５の
２Ｔピットの存在しない側に対応し、それ以後の８Ｔ、
２Ｔ、８Ｔ、２Ｔ、８Ｔが図５の２Ｔピットの存在する
側に対応している。このような試し書きパターンを用い
た場合、２Ｔピットの存在する側と存在しない側で２Ｔ
の振幅を検出すればよいので、１０Ｔ×ｎ＋８Ｔのタイ
ミングでサンプリングクロックを出力すればよい。従っ
て、図７のようにサンプリングクロックを出力すれば、
Ａ／Ｄコンバータ２４から２Ｔピットが存在する側の２
Ｔの振幅、２Ｔピットが存在しない側の２Ｔの振幅を得
ることができ、得られた振幅の比によって再生信号のア
シンメトリーを検出することができる。

【００２９】本願発明者が図２で説明したような４値に
よるレーザ制御信号を用い、かつ図４の方法で得られた
最適パワーで情報の記録を行う実験を行ったところ、良
好な結果を得ることができた。即ち、光磁気ディスクの
回転数が３６００ｒｐｍ、記録位置が最内周（ｒ＝２
４．０ｍｍ）において、ＰＬ１＝４．５ｍＷ、ＰＨ１＝
１１．０ｍＷ、ＰＨ２＝１２．０ｍＷの記録パワーで記
録を行ったところ、最小ピット長が０．７５μｍの安定
した記録を行うことができた。半導体レーザの波長は７
８０ｎｍ、対物レンズのＮＡは０．５５とした。また、
このときのウインドウマージンは１０^-5のエラーレート
想定で５０％以上が得られ、良好な結果が得られた。

【００３０】なお、記録パワーの値や遮断パルスの幅は
光磁気ディスクの媒体構造によって決まるので、試験的
に記録することによりパラメータを決定するなどしてや
れば媒体間の互換性を確保することができる。

【００３１】次に、本発明の第２実施例について説明す
る。図８に本実施例のレーザ制御パターンを示してい
る。第１実施例とは図８（ｂ）のＰＨ１制御信号のレベ
ル、図８（ｃ）のＰＨ２制御信号のパターンが異なって
おり、それに対応して半導体レーザ５の光出力は図８
（ｅ）のような記録パワーとなっている。本実施例にお
いては、レーザ点灯パターンが変わるので、ＰＬ１、Ｐ
Ｈ１、ＰＨ２の値も当然変わってくる。具体的には、デ
ィスクから読み取られたＰＬ、ＰＨ、Ｏｔｈの値から関
数、 ＰＬ１＝ｆ₂ （ＰＬ、ＰＨ、Ｏｔｈ） ＰＨ１＝ｇ₂ （ＰＬ、ＰＨ、Ｏｔｈ） ＰＨ２＝ｈ₂ （ＰＬ、ＰＨ、Ｏｔｈ） を求めればよい。後は第１実施例と同じで図４のフロー
チャートで最適パワーを見つければよい。

【００３２】本実施例においても、本願発明者が先のラ
イトテストによる最適パワーで記録実験を行ったところ
良好な結果を得ることができた。即ち、ディスクの回転
数が３６００ｒｐｍで、最内周（ｒ＝２４．０ｍｍ）の
記録位置において、ＰＬ１＝４．５ｍＷ、ＰＨ１＝１
１．０ｍＷ、ＰＨ２＝１０．０ｍＷの記録パワーで記録
を行ったところ、最小ピット長が０．７５μｍの安定し
た記録を行うことができた。なお、本実施例では、第１
実施例よりも若干記録パワーが小さくて済む。

【００３３】次に、本発明の第３実施例について説明す
る。図９は本実施例のレーザ点灯パターンを示した図で
ある。第１実施例とは図９（ｄ）の遮断レベル制御信号
が異なっており、それに応じて図９（ｅ）のように半導
体レーザの記録パワーが異なっている。本実施例では、
図９（ｄ）から明らかなように記録信号の前後に遮断パ
ルスを入れているために、ロープロセスのパワーレベル
が上げられ、それによって記録パワーを下げることがで
きる。

【００３４】本実施例では、ディスクに記録されたＰ
Ｌ、ＰＨ、Ｏｔｈの値から関数、 ＰＬ１＝ｆ₃ （ＰＬ、ＰＨ、Ｏｔｈ） ＰＨ１＝ｇ₃ （ＰＬ、ＰＨ、Ｏｔｈ） ＰＨ２＝ｈ₃ （ＰＬ、ＰＨ、Ｏｔｈ） を求めればよい。後は第１、第２実施例と同じで、図４
のフローチャートで最適パワーを見つければよい。

【００３５】本実施例においても、本願発明者の実験結
果によれば、ライトテストによる最適パワー（ＰＬ１＝
６．０ｍＷ、ＰＨ１＝１０．０ｍＷ、ＰＨ２＝１０．５
ｍＷ）、ディスク回転数が３６００ｒｐｍ、記録位置が
ディスクの最内周（ｒ＝２４．０ｍｍ）の条件で、最小
ピット長が０．７５μｍの安定した記録を行えることを
確認できた。

【００３６】次に、本発明の第４実施例について説明す
る。図１０は本実施例のレーザ点灯パターンを示した図
である。第１実施例とは図１０（ｃ）のようにＰＨ２制
御信号のパターン及び遮断レベル制御信号のパターンが
異なっており、それに応じて図１０（ｅ）のように半導
体レーザの記録パワーが異なっている。本実施例ではデ
ィスクから読み取られたＰＬ、ＰＨ、Ｏｔｈの値から関
数、 ＰＬ１＝ｆ₄ （ＰＬ、ＰＨ、Ｏｔｈ） ＰＨ１＝ｇ₄ （ＰＬ、ＰＨ、Ｏｔｈ） ＰＨ２＝ｈ₄ （ＰＬ、ＰＨ、Ｏｔｈ） を求める。そして、後は先の実施例と同様に図４のフロ
ーチャートに従って最適パワーを見つければよい。

【００３７】本実施例においても、本願発明者の実験結
果によれば、ライトテストで得られた最適パワー（ＰＬ
１＝６．０ｍＷ、ＰＨ１＝９．５ｍＷ、ＰＨ２＝１０．
０ｍＷ）、ディスクの回転数が３６００ｒｐｍ、記録位
置がディスクの最内周（ｒ＝２４．０ｍｍ）の条件で、
最小ピット長が０．７５μｍの安定した記録を行えるこ
とを確認できた。

【００３８】なお、第２〜第４実施例においても、記録
パワーの値や遮断パルスの幅は光磁気ディスクの媒体構
造によって決まるので、試験的に記録することによりパ
ラメータを決定するなどしてやれば、媒体間の互換性を
確保することができる。

【００３９】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、多
値制御信号の比を一定に保ったままで記録パワーを変化
させて試し書きを行い、その再生信号のアシンメトリー
に基づいて最適パワーを決定するようにしたので、光ビ
ームの記録パワーを多値制御によって制御する情報の記
録であっても、簡便かつ高精度で最適パワーを決定でき
るという効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の光情報記録装置の一実施例を示した構
成図である。

【図２】図１の実施例のレーザ制御信号及び記録パワー
を示した図である。

【図３】レーザ記録パワーとウインドウマージン及び再
生信号のアシンメトリーの関係を示した図である。

【図４】本発明のライトテスト方法の一実施例を示した
フローチャートである。

【図５】ライトテストに用いる試し書きパターンを説明
するための図である。

【図６】アシンメトリー検出回路の具体例を示したブロ
ック図である。

【図７】図６のアシンメトリー検出回路の動作を説明す
るための図である。

【図８】本発明の第２実施例のレーザ制御信号及び記録
パワーを示した図である。

【図９】本発明の第３実施例のレーザ制御信号及び記録
パワーを示した図である。

【図１０】本発明の第４実施例のレーザ制御信号及び記
録パワーを示した図である。

【符号の説明】 １ 光磁気ディスク ２ スピンドルモータ ３ バイアスマグネット ４ 光ヘッド ５ 半導体レーザ ７ 対物レンズ １０、１１ 光センサ １２ 差動アンプ １３ アシンメトリー検出回路 １４ 半導体レーザ駆動回路 １６ ＣＰＵ １７ 信号処理回路 ２１ ピークホールド回路 ２２ ボトムホールド回路 ２４ Ａ／Ｄコンバータ

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光学的情報記録媒体にテスト記録を行っ
   て光ビームの記録パワーを最適値に設定するライトテス
   ト方法であって、前記記録媒体に予め記録されているロ
   ープロセスのパワーレベル、ハイプロセスのパワーレベ
   ル、及び熱干渉度の度合を読み取る工程と、この読み取
   られた情報に基づいて光ビームの多値制御信号のレベル
   を求め、かつこれらの多値制御信号の比を算出する工程
   と、この比を一定に保ったままで光ビームの記録パワー
   を変化させて所定の試し書きパターンを前記記録媒体に
   記録すると共に、試し書きパターンを記録するごとに試
   し書きパターンを再生して再生信号のアシンメトリーを
   検出し、アシンメトリーの検出結果に基づいて光ビーム
   の最適パワーを決定する工程とを有することを特徴とす
   るライトテスト方法。
2. 【請求項２】 光学的情報記録媒体に多値制御により光
   ビームの記録パワーを制御して情報を記録する光情報記
   録装置において、前記情報記録媒体に予め記録されてい
   るロープロセスのパワーレベル、ハイプロセスのパワー
   レベル及び熱干渉度の度合に基づいて光ビームの多値制
   御信号のレベル値を求め、かつこの多値レベル制御信号
   の比を算出する手段と、この比を一定に保ったままで光
   ビームの記録パワーを変化させて前記記録媒体に所定の
   試し書きパターンを記録する手段と、記録された試し書
   きパターンの再生信号のアシンメトリーを検出する手段
   と、このアシンメトリーの検出結果に基づいて光ビーム
   の最適パワーを設定する手段とを有することを特徴とす
   る光情報記録装置。