JPH0535302Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0535302Y2 JPH0535302Y2 JP1986118640U JP11864086U JPH0535302Y2 JP H0535302 Y2 JPH0535302 Y2 JP H0535302Y2 JP 1986118640 U JP1986118640 U JP 1986118640U JP 11864086 U JP11864086 U JP 11864086U JP H0535302 Y2 JPH0535302 Y2 JP H0535302Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- force
- receiving seat
- spring
- rod
- gauge
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L1/00—Measuring force or stress, in general
- G01L1/24—Measuring force or stress, in general by measuring variations of optical properties of material when it is stressed, e.g. by photoelastic stress analysis using infrared, visible light, ultraviolet
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Force Measurement Appropriate To Specific Purposes (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
産業上の利用分野：
本案は、ハンドタイプのフオースゲージに特に
好適なものとして設けられる力の検出部に関す
る。
好適なものとして設けられる力の検出部に関す
る。
従来の技術：
ハンドタイプのフオースゲージの力の検出部に
は、ばねに生じる歪の量を純機械的に検出する形
式のものと、ばね作用を要素に生じる歪の量を歪
ゲージまたはイメージセンサを使用して電気的に
検出する形式のものとが実用に供されている。
は、ばねに生じる歪の量を純機械的に検出する形
式のものと、ばね作用を要素に生じる歪の量を歪
ゲージまたはイメージセンサを使用して電気的に
検出する形式のものとが実用に供されている。
考案が解決しようとする問題点：
前者、すなわち、純機械的形式のものは構造が
簡単で故障が少なく、製作費も低いが、測定精度
が比較的低い。一方、後者、すなわち電気的形式
のものは測定精度が前者に較べて高いものとされ
ているが、回路構成が可成り複雑なものとされる
ため、前者に比し可成り高価なものとなつてい
る。
簡単で故障が少なく、製作費も低いが、測定精度
が比較的低い。一方、後者、すなわち電気的形式
のものは測定精度が前者に較べて高いものとされ
ているが、回路構成が可成り複雑なものとされる
ため、前者に比し可成り高価なものとなつてい
る。
問題点を解決するための手段：
本案によるものは、力の導入杆と力の受け座と
をリング状ばねを介して連結し、上記力の導入杆
に固着された支持圧の一部と上記力の受け座に固
着された支持片の一部とを上記ばねが囲む空間内
において対向させ、これらの支持片のうちの一方
の支持片に取付けられた光源と他方の支持片に取
り付けられた位置検出用半導体素子とにより力の
受け座と力の導入杆との間に生じる正負両方向の
相対的変位を検出する光学的センサを構成させた
ことを特徴とする。
をリング状ばねを介して連結し、上記力の導入杆
に固着された支持圧の一部と上記力の受け座に固
着された支持片の一部とを上記ばねが囲む空間内
において対向させ、これらの支持片のうちの一方
の支持片に取付けられた光源と他方の支持片に取
り付けられた位置検出用半導体素子とにより力の
受け座と力の導入杆との間に生じる正負両方向の
相対的変位を検出する光学的センサを構成させた
ことを特徴とする。
リング状ばねは円形または楕円状輪郭のもの
で、パイプを適当幅に切断することにより製造さ
れ、また、上記の光源およびそれに組合う位置検
出用半導体素子はP.S.Dなる商品名の下に低価格
のものとして市場より供給される。このため、上
記本案によるものの製造に使用される部品は形状
が極めて単純なものとされるばかりでなく、その
数も極めて少ない。
で、パイプを適当幅に切断することにより製造さ
れ、また、上記の光源およびそれに組合う位置検
出用半導体素子はP.S.Dなる商品名の下に低価格
のものとして市場より供給される。このため、上
記本案によるものの製造に使用される部品は形状
が極めて単純なものとされるばかりでなく、その
数も極めて少ない。
作用：
力の導入杆は、押し方向および引き方向の力を
ヒステレシスを伴うことなくリング状ばねを歪ま
せ、リング状ばねに生じる歪は光学的の変位セン
サにより測定される。このセンサは変位センサで
あるため、光源および位置検出用半導体素子に若
干の劣化を生じても測定精度に殆んど影響されな
いし、新品への交換も容易なものである。
ヒステレシスを伴うことなくリング状ばねを歪ま
せ、リング状ばねに生じる歪は光学的の変位セン
サにより測定される。このセンサは変位センサで
あるため、光源および位置検出用半導体素子に若
干の劣化を生じても測定精度に殆んど影響されな
いし、新品への交換も容易なものである。
実施例：
第１図および第２図は本案による力の検出部の
１例を、第３図および第４図は第１図および第２
図に示す検出部を使用して作られたフオースゲー
ジの１例を示す。
１例を、第３図および第４図は第１図および第２
図に示す検出部を使用して作られたフオースゲー
ジの１例を示す。
これらの図において、１は力の導入杆、２は力
の受座で、導入杆１と受座２との間にはリング状
ばね３が介在させられる。
の受座で、導入杆１と受座２との間にはリング状
ばね３が介在させられる。
力の導入杆１の側には該導入杆に一体化された
支持片４か設けられ、力の受座２の側には該受座
２に一体化された支持片５とが設けられる。支持
片４，５はそれらの一部が対向させられていて、
対向し合う部位のうちの一方の部位上に光源６
が、他方の部位上に位置検出用半導体素子７が取
付けられる。光源６と半導体素子７とはそれらが
共働して光学的の変位センサ８を構成する。半導
体素子７としては比較的小形のもの（例えば３mm
×１mmのもの）が使用され、それに関連して、リ
ング状ばね３のばね定数が、フオースゲージの用
途に応じ、例えば３Kgｆ／0.1mm，１Kgｆ／0.1
mm，0.5Kgｆ／0.1mmと云うような値に選定され
る。
支持片４か設けられ、力の受座２の側には該受座
２に一体化された支持片５とが設けられる。支持
片４，５はそれらの一部が対向させられていて、
対向し合う部位のうちの一方の部位上に光源６
が、他方の部位上に位置検出用半導体素子７が取
付けられる。光源６と半導体素子７とはそれらが
共働して光学的の変位センサ８を構成する。半導
体素子７としては比較的小形のもの（例えば３mm
×１mmのもの）が使用され、それに関連して、リ
ング状ばね３のばね定数が、フオースゲージの用
途に応じ、例えば３Kgｆ／0.1mm，１Kgｆ／0.1
mm，0.5Kgｆ／0.1mmと云うような値に選定され
る。
第３図および第４図は第１図および第２図に示
すものを使用して作られたフオースゲージの外穀
ケース９，用途に応じて交換されて力の導入杆１
に取付けられる部品１０，プリント基板１１，表
示器１２，電源１３計測スイツチ１４，メモリス
イツチ１５，単位スイツチ１６等を示す。
すものを使用して作られたフオースゲージの外穀
ケース９，用途に応じて交換されて力の導入杆１
に取付けられる部品１０，プリント基板１１，表
示器１２，電源１３計測スイツチ１４，メモリス
イツチ１５，単位スイツチ１６等を示す。
考案の効果：
本案は、フオースゲージにおける力の検出部
を、形状が極めて単純で製造し易い部品を使用し
て構成させ、それによつて、電気的形式のフオー
スゲージが従来のものより!?かに低い価格の下に
供給され得るようにするものである。
を、形状が極めて単純で製造し易い部品を使用し
て構成させ、それによつて、電気的形式のフオー
スゲージが従来のものより!?かに低い価格の下に
供給され得るようにするものである。
第１図は本案による力の検出部の１例を示す正
面図、第２図は第１図に示すものの側断面図、第
３図は第１図および第２図に示すものを使用して
作られたフオースゲージの正面図、第４図は第３
図のフオースゲージの一部を拡大して示す側断面
図である。
面図、第２図は第１図に示すものの側断面図、第
３図は第１図および第２図に示すものを使用して
作られたフオースゲージの正面図、第４図は第３
図のフオースゲージの一部を拡大して示す側断面
図である。
Claims (1)
- 力の導入杆と力の受け座とをリング状ばねを介
して連結し、上記力の導入杆に固着された支持片
の一部と上記力の受け座に固着された支持片の一
部とを上記ばねが囲む空間内において対向させ、
これらの支持片のうちの一方の支持片に取付けら
れた光源と他方の支持片に取付けられた位置検出
用半導体素子とにより力の受け座と力の導入杆と
の間に生じる正負両方向の相対的変位を検出する
光学的センサを構成させたことを特徴とする、フ
オースゲージにおける力の検出部。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1986118640U JPH0535302Y2 (ja) | 1986-08-01 | 1986-08-01 | |
| DE19873725535 DE3725535A1 (de) | 1986-08-01 | 1987-07-31 | Kraftmesseinrichtung eines kraftmessgeraetes |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1986118640U JPH0535302Y2 (ja) | 1986-08-01 | 1986-08-01 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6325342U JPS6325342U (ja) | 1988-02-19 |
| JPH0535302Y2 true JPH0535302Y2 (ja) | 1993-09-08 |
Family
ID=14741546
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1986118640U Expired - Lifetime JPH0535302Y2 (ja) | 1986-08-01 | 1986-08-01 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0535302Y2 (ja) |
| DE (1) | DE3725535A1 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4316044A1 (de) * | 1993-05-13 | 1994-11-24 | Elektra Gmbh | Optoelektronisches Kraftmeßsystem |
| GB9414299D0 (en) * | 1994-07-15 | 1994-09-07 | March Adrian A C | Force measuring device |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE1204420B (de) * | 1961-09-08 | 1965-11-04 | Siemens Ag | Grob- und Feinwaage |
| US3520183A (en) * | 1967-10-12 | 1970-07-14 | Plas Tech Equipment Corp | Apparatus for measuring changes in displacement in a body |
| JPS4834581U (ja) * | 1971-08-26 | 1973-04-25 | ||
| JPS4873682U (ja) * | 1971-12-20 | 1973-09-13 | ||
| DE2606434C2 (de) * | 1976-02-18 | 1985-11-28 | Wolfgang Dipl.-Phys.Dr.-Ing. 5413 Bendorf Schulz | Vorrichtung zur Messung von Kräften durch optoelektronische Bestimmung der Verformung von Prüfkörpern |
| JPS5918339Y2 (ja) * | 1978-08-29 | 1984-05-28 | 株式会社小野測器 | 力検出器 |
| DD232114A1 (de) * | 1984-12-21 | 1986-01-15 | Univ Berlin Humboldt | Verfahren und anordnung zur optoelektronischen messwandlung an einem kraftsensor |
-
1986
- 1986-08-01 JP JP1986118640U patent/JPH0535302Y2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1987
- 1987-07-31 DE DE19873725535 patent/DE3725535A1/de not_active Ceased
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6325342U (ja) | 1988-02-19 |
| DE3725535A1 (de) | 1988-03-10 |
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