JPH0537200A - 実装部品検査用データの作成方法 - Google Patents

実装部品検査用データの作成方法

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JPH0537200A
JPH0537200A JP3216383A JP21638391A JPH0537200A JP H0537200 A JPH0537200 A JP H0537200A JP 3216383 A JP3216383 A JP 3216383A JP 21638391 A JP21638391 A JP 21638391A JP H0537200 A JPH0537200 A JP H0537200A
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mounting
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JP3216383A
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Yoshio Tsunoda
良夫 角田
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Omron Corp
Original Assignee
Omron Corp
Omron Tateisi Electronics Co
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Abstract

(57)【要約】 【目的】実装部品検査装置へ教示するためのデータを容
易かつ効率的に作成可能とする。 【構成】ライブラリ28は個別の部品に関する基本デー
タを格納する基本データ部37と、基本データを合成し
て編集された拡張データを格納する拡張データ部38と
を有する。編集部36は基本データを合成して拡張デー
タを作成し、これを前記拡張データ部38へ登録する。
制御部26はライブラリ28内に格納された基本データ
および拡張データを用いて実装部品検査用データを作成
し、これを検査用データ記憶部29に保存する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、例えばプリント配線
基板(以下単に「基板」という)に実装された電子部品
につき、はんだ付け前は電子部品の有無や姿勢などを、
はんだ付け後ははんだ付けの良否などを、それぞれ検査
するのに用いられる実装部品検査装置に関連し、殊にこ
の発明は、被検査基板上の各実装部品につき、それぞれ
の実装状態の良否(以下「実装品質」という)を自動検
査するのに必要な実装部品検査装置へ教示するためのデ
ータを作成するのに用いられる実装部品検査用データの
生成方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、被検査基板上の実装部品(はんだ
付け前のものとはんだ付け後のものとを総称して「実
装」という)について実装品質を検査するのに、目視に
よる検査が行われている。ところがこの種目視検査で
は、検査ミスの発生が避けられず、検査結果も検査する
者によりまちまちであり、また検査処理能力にも限界が
ある。
【0003】そこで近年、多数の部品が実装された基板
につき、実装品質を画像処理技術を用いて自動的に検査
する実装部品検査装置が実用化された。この実装部品検
査装置を使用する場合、検査に先立ち、被検査基板上の
どの位置に、どのような部品が、どのように実装される
かにつき、基板の種別毎に実装部品検査装置に教示する
必要がある。この教示作業は一般に「ティーチング」と
呼ばれる。
【0004】従来のティーチング作業では、実装部品検
査装置における観測位置に基準となる基板を導入した
後、この基板を撮像して各部品の画像を表示部に順次表
示させ、オペレータが各部品の画像を見ながら部品デー
タ、すなわち部品の実装位置,実装方向,部品種,ラン
ドの位置および形状などの基板に関する情報と、検査領
域,特徴パラメータ,検査基準などの検査に関する情報
とをキーボードにより手入力している。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながらこのよう
な方法では、ティーチングに多大の労力と時間とを必要
とし、またティーチング作業中はその実装部品検査装置
を検査のために使用できないという問題がある。
【0006】また、被検査基板上に実装状態の類似する
部品が複数個存在する場合に、それらの部品についても
ひとつひとつ同様の方法で教示する作業が必要であり、
オペレータの作業負担が軽減されず、ティーチング作業
の効率も著しく悪いものとなっている。
【0007】この発明は、上記問題に着目してなされた
もので、実装部品検査装置へ教示するためのデータを容
易かつ効率的に作成できる実装部品検査用データの作成
方法を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】この発明は、被検査基板
上の各実装部品につき、それぞれの実装品質を検査する
のに必要な実装部品検査装置へ教示するためのデータを
作成するための方法であって、複数種の部品に関する部
品データが登録された記憶手段より任意の部品データを
読み出して合成することにより新たな部品に関する部品
データを編集して前記記憶手段に登録した後、前記記憶
手段より任意の部品データを読み出して実装部品検査装
置へ教示するための実装部品検査用データを作成するよ
うにしたものである。
【0009】
【作用】複数種の部品に関する部品データを合成して新
たな部品に関する部品データを編集した後、前記基本と
なる部品データや合成された部品データを用いて実装部
品検査用データを作成するので、教示に要する労力と時
間とが大幅に節減されることになる。
【0010】
【実施例】図1は、この発明を実施して作成された実装
部品検査用データが教示される実装部品検査装置の全体
構成を示す。この実装部品検査装置は、被検査基板1上
の各実装部品2の実装品質を検査するためのもので、X
軸テーブル部3,Y軸テーブル部4,投光部5,撮像部
6,制御処理部7などをその構成として含んでいる。
【0011】前記X軸テーブル部3およびY軸テーブル
部4は、それぞれ制御処理部7からの制御信号に基づい
て動作するモータ(図示せず)を備えており、これらモ
ータの駆動によりX軸テーブル部3が撮像部6をX方向
へ移動させ、またY軸テーブル部4が被検査基板1を支
持するコンベヤ8をY方向へ移動させる。
【0012】前記投光部5は、異なる径を有しかつ制御
処理部7からの制御信号に基づき赤色光,緑色光,青色
光を同時に照射する3個の円環状光源9,10,11に
より構成されており、各光源9,10,11を観測位置
の真上位置に中心を合わせかつ観測位置から見て異なる
仰角に対応する方向に位置させている。
【0013】前記撮像部6は、カラーテレビカメラが用
いられ、観測位置の真上位置に下方に向けて位置決めし
てある。これにより観測対象である被検査基板1の表面
の反射光が撮像部6により撮像され、三原色のカラー信
号R,G,Bに変換されて制御処理部7へ供給される。
【0014】前記制御処理部7は、A/D変換部12,
メモリ13,ティーチングテーブル14,画像処理部1
5,判定部16,XYテーブルコントローラ17,撮像
コントローラ18,制御部19,表示部20,プリンタ
21,キーボード22,フロッピディスク装置23など
で構成されるもので、被検査基板1についてのカラー信
号R,G,Bを処理し、被検査基板1上の各実装部品2
の検査領域につき赤,緑,青の各色相パターンを検出し
て特徴パラメータを生成し、被検査データファイルを作
成する。そしてこの被検査データファイルと判定データ
ファイルとを比較して、この比較結果から被検査基板1
上の各実装部品2につきはんだ付けの良否などの実装品
質を自動的に判定する。
【0015】図2は、はんだ付けが良好であるとき、部
品が欠落しているとき、はんだ不足の状態にあるときの
はんだ25の断面形態と、各場合の撮像部6による撮像
パターン,赤色バターン,緑色パターン,青色パターン
との関係を一覧表で例示したもので、いずれかの色相パ
ターン間には明確な差異が現れるため、部品の有無やは
んだ付けの良否を判定することが可能となる。
【0016】図1に戻って、A/D変換部12は前記撮
像部6からのカラー信号R,G,Bをディジタル信号に
変換して制御部19へ出力する。メモリ13はRAMな
どを備え、制御部19の作業エリアとして使用される。
画像処理部15は制御部19を介して供給された画像デ
ータを画像処理して被検査データファイルを作成し、こ
れらを制御部19や判定部16へ供給する。
【0017】ティーチングテーブル14は制御部19か
ら判定データファイルが供給されたとき、これを記憶す
る部分であり、また検査時に制御部19が転送要求を出
力したとき、この要求に応じて判定データファイルが読
み出されて制御部19や判定部16へ供給される。
【0018】判定部16は、検査時に制御部19から供
給された判定データファイルと、前記画像処理部15か
ら転送された被検査データファイルとを比較して、被検
査基板1の各実装部品2につきはんだ付け状態の良否な
どを判定し、その判定結果を制御部19へ出力する。
【0019】撮像コントローラ18は、制御部19と投
光部5および撮像部6とを接続するインターフェイスな
どを備え、制御部19の出力に基づき投光部5の各光源
9〜11の光量を調整したり、撮像部6の各色相光出力
の相互バランスを保つなどの制御を行う。
【0020】XYテーブルコントローラ17は制御部1
9と前記X軸テーブル部3およびY軸テーブル部4とを
接続するインターフェイスなどを備え、制御部19の出
力に基づきX軸テーブル部3およびY軸テーブル部4を
制御する。
【0021】表示部20は、制御部19から画像デー
タ、検査結果、キー入力データなどが供給されたとき、
これを表示画面上に表示し、またプリンタ21は、制御
部19から検査結果などが供給されたとき、これをあら
かじめ決められた書式(フォーマット)でプリントアウ
トする。
【0022】キーボード22は、操作情報や被検査基板
1に関するデータなどを入力するのに必要な各種キーを
備えており、キー入力データは前記制御部19へ供給さ
れる。フロッピディスク装置23には実装部品検査用デ
ータが貯蔵されたフロッピディスクが挿入され、制御部
19は実装部品検査用データより判定データファイルを
作成してティーチングテーブル14へ供給する。
【0023】制御部19は、マイクロプロセッサなどを
備えており、メモリ13に対するデータの読み書きを行
い、また入出力各部の動作を制御し、検査における実装
部品検査装置の動作を一連に制御する。
【0024】図3は、この発明にかかる実装部品検査用
データの作成を実行するための回路構成例の一部を具体
的に示している。制御部26はマイクロプロセッサで構
成され、この制御部26にバス30を介してライブラリ
28,検査用データ記憶部29,編集部36などが接続
されている。
【0025】前記ライブラリ28には、あらかじめ用意
された個別の部品に関する基本となる部品データ(以下
「基本データ」という)が格納される基本データ部37
と、任意の基本データを合成して編集された新たな部品
に関する部品データ(以下「拡張データ」という)が格
納される拡張データ部38の2種類の部品データ格納エ
リアが存在する。前記基本データや拡張データには、各
部品の実装位置,実装方向,部品種名,ランドの位置お
よび形状,部品サイズ,部品色,総合検査基準,検査領
域数,ウィンドウ内検査基準などの各情報が含まれてお
り、図4〜図7に各情報の概念が示してある。
【0026】図4において、31は検査対象である基
板、32はこの基板31上に実装されたチップ部品であ
って、このチップ部品31はXY座標上の所定の位置P
(Xi,Yi)に、電極33がX方向に向けて実装され
ている。
【0027】また図5において、34,35は前記チッ
プ部品32がはんだ付けされるランドであって、各ラン
ド34,35はX方向の長さがLx1,Lx2、Y方向
の長さがLy1,Ly2の矩形状をなし、各ランド3
4,35間の距離はDに設定されている。
【0028】従って上記チップ部品32については、実
装位置を示すデータとしてXi,Yiが、ランド34,
35の位置および形状を示すデータとしてD,Lx1,
Lx2,Ly1,Ly2が、前記部品データに含まれ
る。なお部品の実装方向は例えば部品のX軸に対する向
きを90度単位で表したデータである。
【0029】また部品サイズとは、前記チップ部品32
の場合、図6に示すように、部品の長さL,幅W,高さ
Hおよび,電極33の長さeなどの各データを含むもの
である。
【0030】部品色は、部品のボディ(パッケージ)の
色であって、白さの程度,明度,赤色相値,緑色相値,
青色相値などを表す各データを含んでいる。総合検査基
準は、各検査領域(ウィンドウ)内における検査結果を
総合して検査の良否を判定するための基準値である。
【0031】検査領域数は、各部品について設定される
ウィンドウの総数であって、例えば前記のチップ部品3
2の場合、図7に示すように、第1〜第3の各ウィンド
ウW1〜W3と、必要に応じて第4〜第9の各ウィンド
ウW4〜W9とが設定される。このうち第1,第2の各
ウィンドウW1,W2ははんだ付け状態の良否を判別す
るためのもので、各ランド34,35の位置にランドの
形状および大きさとほぼ一致させて設定される。第3ウ
ィンドウW3は部品の欠落を判別するためのもので、チ
ップ部品32の実装位置にその外形より小さな矩形状に
設定される。第4〜第9の各ウィンドウW4〜W9はブ
リッジ検査のためのもので、各ランド34,35の周囲
に隣接する部品の有無に応じて必要個数設定される。
【0032】前記ウィンドウ内検査基準は、前記ウィン
ドウの設定個数に応じた数だけ存在し、各ウィンドウW
1〜W9の設定位置,サイズ,ウィンドウ内領域抽出し
きい値,検査基準などに関するデータなどを含んでい
る。
【0033】図3に戻って、編集部36はライブラリ2
8に格納された任意の部品に関する基本データまたは拡
張データを読み出して合成することにより、新たな部品
に関する拡張データを編集し、それをライブラリ28の
拡張データ部38に格納する。制御部26は、ライブラ
リ28に格納された基本データまたは拡張データを読み
出して実装部品検査装置に教示するための実装部品検査
用データを作成して検査用データ記憶部29に記憶させ
る。
【0034】図8は、実装部品検査用データの作成手順
を示す。まずステップ1(図中「ST1」で示す)にお
いて、被検査基板上のすべての実装部品につき部品デー
タが前記ライブラリ28に登録されているかどうかをチ
ェックする。この判定が「NO」であれば、つぎにステ
ップ2で、合成により各実装部品の部品データを得るこ
とのできる部品データがライブラリ28内に存在してい
るか否かを判断する。
【0035】前記ステップ2の判定が「YES」であれ
ば、編集部36はライブラリ28内の該当する部品デー
タを読み出して合成し、拡張データを編集する(ステッ
プ3)。前記ステップ2の判定が「NO」の場合、すな
わちライブラリ28内に合成に利用できる部品データが
存在しなかった場合は、制御部26は新たに部品データ
を作成する(ステップ4)。前記ステップ3または4で
作成された部品データはステップ5でライブラリ28に
登録される。
【0036】新たな部品データの登録後、または前記ス
テップ1の判定が「YES」であるとき、制御部26は
ライブラリ28内の部品データを用いて実装部品検査用
データを作成し、検査用データ記憶部29に保存する
(ステップ6)。
【0037】
【発明の効果】この発明は上記の如く、あらかじめ登録
された部品データを合成して、新たな部品に関する部品
データを編集して登録した後、登録された任意の部品デ
ータを用いて、前記実装部品検査装置へ教示するための
実装部品検査用データを作成するようにしたから、教示
に要する労力と時間とを大幅に節減でき、その間、実装
部品検査装置を本来の検査に使用できるという顕著な効
果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】実装部品検査装置の全体構成を示すブロック図
である。
【図2】はんだ付けの良否とパターンとの関係を示す説
明図である。
【図3】この発明の方法を実施するための回路構成を示
すブロック図である。
【図4】基板上の実装部品の位置を示す説明図である。
【図5】ランドの位置および形状を示す説明図である。
【図6】チップ部品のサイズを説明するための斜面図で
ある。
【図7】ウィンドウの設定例を示す説明図である。
【図8】この発明にかかる実装部品検査用データ作成方
法の手順を示すフローチャートである。
【符号の説明】
1 被検査基板 2 部品 26 制御部 28 ライブラリ 36 編集部

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被検査基板上の各実装部品につき、それ
    ぞれの実装品質を検査するのに必要な実装部品検査装置
    へ教示するためのデータを作成するための方法であっ
    て、 複数種の部品に関する部品データが登録された記憶手段
    より任意の部品データを読み出して合成することにより
    新たな部品に関する部品データを編集して前記記憶手段
    に登録した後、前記記憶手段より任意の部品データを読
    み出して実装部品検査装置へ教示するための実装部品検
    査用データを作成することを特徴とする実装部品検査用
    データの作成方法。
JP3216383A 1991-08-01 1991-08-01 実装部品検査用データの作成方法 Pending JPH0537200A (ja)

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