JPH0541580A - 多層回路基板 - Google Patents
多層回路基板Info
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- JPH0541580A JPH0541580A JP22113691A JP22113691A JPH0541580A JP H0541580 A JPH0541580 A JP H0541580A JP 22113691 A JP22113691 A JP 22113691A JP 22113691 A JP22113691 A JP 22113691A JP H0541580 A JPH0541580 A JP H0541580A
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- Japan
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- circuit board
- circuit
- outer layer
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 絶縁体にリジツド基材とフレキシブル基材と
を組み合わせることにより、多層回路基板の総厚の減少
と厚みの均一化を図り、さらに絶縁抵抗やインピーダン
スコントロール等の信頼性の向上を図る。 【構成】 両面に回路形成されたガラスエポキシ両面銅
張積層板2からなる内層材と、片面に回路形成された片
面銅張ポリイミド基材14,15からなる外層材とが、
接着シート9,10を介して、上記外層材14,15の
回路面を外側に向けた状態で積層され、上記積層体の各
層にまたがるスルーホールメツキ部17が設けられてい
る。
を組み合わせることにより、多層回路基板の総厚の減少
と厚みの均一化を図り、さらに絶縁抵抗やインピーダン
スコントロール等の信頼性の向上を図る。 【構成】 両面に回路形成されたガラスエポキシ両面銅
張積層板2からなる内層材と、片面に回路形成された片
面銅張ポリイミド基材14,15からなる外層材とが、
接着シート9,10を介して、上記外層材14,15の
回路面を外側に向けた状態で積層され、上記積層体の各
層にまたがるスルーホールメツキ部17が設けられてい
る。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、電子機器等の部品と
して用いられる多層回路基板に関するものである。
して用いられる多層回路基板に関するものである。
【0002】
【従来の技術】ビデオカメラ等の民生電子機器のメイン
回路基板やコンピユータのマザーボード用,ICカード
用等の回路基板としては、一般に多層リジツド回路基板
が使用されている。このような多層リジツド回路基板
は、例えば図10に示すように、内層材として両面に回
路形成されたリジツド両面銅張基材21に、外層材とし
て片面に回路形成されたリジツド片面銅張基材24,2
5が、プリプレグ22,23を介して、上記両リジツド
片面銅張基材24,25の回路面を外側に向けた状態で
積層されている。
回路基板やコンピユータのマザーボード用,ICカード
用等の回路基板としては、一般に多層リジツド回路基板
が使用されている。このような多層リジツド回路基板
は、例えば図10に示すように、内層材として両面に回
路形成されたリジツド両面銅張基材21に、外層材とし
て片面に回路形成されたリジツド片面銅張基材24,2
5が、プリプレグ22,23を介して、上記両リジツド
片面銅張基材24,25の回路面を外側に向けた状態で
積層されている。
【0003】また、最近では、精密電子機器等の回路基
板に多層フレキシブル回路基板が使用されるようになつ
てきている。このような多層フレキシブル回路基板は、
例えば図11に示すように、内層材として両面に回路形
成された両面銅張フレキシブル基材27に、外層材とし
て片面に回路形成された片面銅張フレキシブル基材3
0,31が、接着剤28,29を介して、上記両片面銅
張フレキシブル基材30,31の回路面を外側に向けた
状態で積層されている。
板に多層フレキシブル回路基板が使用されるようになつ
てきている。このような多層フレキシブル回路基板は、
例えば図11に示すように、内層材として両面に回路形
成された両面銅張フレキシブル基材27に、外層材とし
て片面に回路形成された片面銅張フレキシブル基材3
0,31が、接着剤28,29を介して、上記両片面銅
張フレキシブル基材30,31の回路面を外側に向けた
状態で積層されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】このような回路基板が
用いられる電子機器等は、年々、小形化,高密度化が進
んでおり、これに伴い回路基板もその薄形化が望まれて
いる。この要望に応えるためには、多層リジツド回路基
板20の総厚を薄くする必要があり、例えばプリプレグ
22,23の厚みを薄くすることが考えられる。しかし
ながら、通常、プリプレグ22,23は、ガラスクロス
にエポキシ樹脂等の熱硬化性樹脂を含浸したものを用い
ているため、厚みを薄くするには製造技術面において限
界がある。しかも、プリプレグ22,23の厚みを薄く
することに伴い、絶縁抵抗や耐マイグレーシヨン性等の
電気特性が低下する。また、上記プリプレグ22,23
を用いると、厚みが不均一になりやすい。
用いられる電子機器等は、年々、小形化,高密度化が進
んでおり、これに伴い回路基板もその薄形化が望まれて
いる。この要望に応えるためには、多層リジツド回路基
板20の総厚を薄くする必要があり、例えばプリプレグ
22,23の厚みを薄くすることが考えられる。しかし
ながら、通常、プリプレグ22,23は、ガラスクロス
にエポキシ樹脂等の熱硬化性樹脂を含浸したものを用い
ているため、厚みを薄くするには製造技術面において限
界がある。しかも、プリプレグ22,23の厚みを薄く
することに伴い、絶縁抵抗や耐マイグレーシヨン性等の
電気特性が低下する。また、上記プリプレグ22,23
を用いると、厚みが不均一になりやすい。
【0005】一方、上記多層フレキシブル回路基板26
は、絶縁層にフイルムを使用しているため上記総厚を多
少薄くすることは可能である。しかしながら、多層フレ
キシブル回路基板26は、基材に腰がなく、柔軟すぎる
ため、総厚を薄くすると部品の実装工程においてカール
等の問題が発生し、使用しにくいという欠点を有してい
る。また、コネクターに挿入したり、電子機器のシヤー
シの溝に組み込んだりするのが困難となるという問題が
生じる。
は、絶縁層にフイルムを使用しているため上記総厚を多
少薄くすることは可能である。しかしながら、多層フレ
キシブル回路基板26は、基材に腰がなく、柔軟すぎる
ため、総厚を薄くすると部品の実装工程においてカール
等の問題が発生し、使用しにくいという欠点を有してい
る。また、コネクターに挿入したり、電子機器のシヤー
シの溝に組み込んだりするのが困難となるという問題が
生じる。
【0006】この発明は、このような事情に鑑みなされ
たもので、絶縁体にリジツド基材とフレキシブル基材と
を組み合わせることにより、多層回路基板の総厚の減少
と厚みの均一化を図り、さらに絶縁抵抗やインピーダン
スコントロール等の信頼性の向上を図ることのできる多
層回路基板の提供をその目的とする。
たもので、絶縁体にリジツド基材とフレキシブル基材と
を組み合わせることにより、多層回路基板の総厚の減少
と厚みの均一化を図り、さらに絶縁抵抗やインピーダン
スコントロール等の信頼性の向上を図ることのできる多
層回路基板の提供をその目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、この発明の多層回路基板は、両面に回路形成された
リジツド基材からなる内層材に、片面に回路形成された
フレキシブル基材からなる外層材が、接着剤を介して、
上記外層材の回路面を外側に向けた状態で積層され、上
記積層体の各層にまたがるスルーホールメツキ部が設け
られているという構成をとる。
め、この発明の多層回路基板は、両面に回路形成された
リジツド基材からなる内層材に、片面に回路形成された
フレキシブル基材からなる外層材が、接着剤を介して、
上記外層材の回路面を外側に向けた状態で積層され、上
記積層体の各層にまたがるスルーホールメツキ部が設け
られているという構成をとる。
【0008】
【作用】すなわち、この発明の多層回路基板は、リジツ
ド基材からなる内層材にフレキシブル基材からなる外層
材を、接着剤を介して積層するため、内層材としてリジ
ツド基材を用いることにより全体として剛性を持たせな
がらも、従来用いていたプリプレグに代えて接着剤を用
いることにより、その厚みを薄くすることができ、その
結果、全体の薄形化が可能となる。しかも、接着剤を用
いるため、その厚みの均一化が図れる。したがつて、部
品の実装工程においてカール等の問題が発生せず、また
コネクターに挿入したり、電子機器のシヤーシの溝に組
み込んだりするのが容易になる。さらに、回路のインピ
ーダンスのばらつきを抑えることができて、そのコント
ロールが容易になるという利点もある。しかも、フレキ
シブル基材(例えば、ポリイミドフイルム)はリジツド
基材(例えば、ガラスエポキシ)よりも耐電圧が大きい
ため、絶縁層(接着剤層)の厚みを薄くしてもリジツド
基材と同等、もしくはそれ以上の耐電圧が得られる。
ド基材からなる内層材にフレキシブル基材からなる外層
材を、接着剤を介して積層するため、内層材としてリジ
ツド基材を用いることにより全体として剛性を持たせな
がらも、従来用いていたプリプレグに代えて接着剤を用
いることにより、その厚みを薄くすることができ、その
結果、全体の薄形化が可能となる。しかも、接着剤を用
いるため、その厚みの均一化が図れる。したがつて、部
品の実装工程においてカール等の問題が発生せず、また
コネクターに挿入したり、電子機器のシヤーシの溝に組
み込んだりするのが容易になる。さらに、回路のインピ
ーダンスのばらつきを抑えることができて、そのコント
ロールが容易になるという利点もある。しかも、フレキ
シブル基材(例えば、ポリイミドフイルム)はリジツド
基材(例えば、ガラスエポキシ)よりも耐電圧が大きい
ため、絶縁層(接着剤層)の厚みを薄くしてもリジツド
基材と同等、もしくはそれ以上の耐電圧が得られる。
【0009】この発明の多層回路基板は、例えばつぎの
ようにして製造することができる。すなわち、まず内層
材としてリジツド両面銅張積層板(リジツド基材)を、
また外層材として片面銅張フレキシブル基材をそれぞれ
準備する。そして、上記リジツド両面銅張積層板の両面
に通常のフオトエツチング法またはスクリーン印刷法に
よつて導体回路を形成し、この回路形成されたリジツド
両面銅張積層板の少なくとも片面に、接着シートをラミ
ネートすることによつて接着剤層を形成する。ついで、
上記片面銅張フレキシブル基材のベースフイルム面を上
記接着剤層にラミネートする。このとき、上記接着剤層
の硬化促進と脱泡のために、フラツトラミネーシヨンプ
レスまたはオートクレーブによつて積層を行う。そし
て、ドリリングまたはパンチングによりスルーホール穴
あけを施した後、通常の無電解銅メツキおよび電解銅メ
ツキによりプレイテイツドスルーホールを形成して各層
の導通を可能にする。その後、テンテイング法または穴
埋め印刷法によつて、上記片面銅張フレキシブル基材の
回路形成とエツチングを行つてから、ソルダーレジスト
処理またはフイルムカバーレイラミネーシヨンによつて
表面の保護層を形成する。
ようにして製造することができる。すなわち、まず内層
材としてリジツド両面銅張積層板(リジツド基材)を、
また外層材として片面銅張フレキシブル基材をそれぞれ
準備する。そして、上記リジツド両面銅張積層板の両面
に通常のフオトエツチング法またはスクリーン印刷法に
よつて導体回路を形成し、この回路形成されたリジツド
両面銅張積層板の少なくとも片面に、接着シートをラミ
ネートすることによつて接着剤層を形成する。ついで、
上記片面銅張フレキシブル基材のベースフイルム面を上
記接着剤層にラミネートする。このとき、上記接着剤層
の硬化促進と脱泡のために、フラツトラミネーシヨンプ
レスまたはオートクレーブによつて積層を行う。そし
て、ドリリングまたはパンチングによりスルーホール穴
あけを施した後、通常の無電解銅メツキおよび電解銅メ
ツキによりプレイテイツドスルーホールを形成して各層
の導通を可能にする。その後、テンテイング法または穴
埋め印刷法によつて、上記片面銅張フレキシブル基材の
回路形成とエツチングを行つてから、ソルダーレジスト
処理またはフイルムカバーレイラミネーシヨンによつて
表面の保護層を形成する。
【0010】つぎに、この発明を実施例にもとづいて詳
しく説明する。
しく説明する。
【0011】
【実施例】図1はこの発明の一実施例を示すICカード
用の4層回路基板1の断面図である。図において、2は
両面に回路形成されたガラスエポキシ両面銅張積層板で
あり、このガラスエポキシ両面銅張積層板2の両面に、
接着シート9,10を用いて、片面に回路形成された片
面銅張ポリイミド基材14,15が積層されている。図
において、17はスルーホールメツキ部で、18はカバ
ー層である。
用の4層回路基板1の断面図である。図において、2は
両面に回路形成されたガラスエポキシ両面銅張積層板で
あり、このガラスエポキシ両面銅張積層板2の両面に、
接着シート9,10を用いて、片面に回路形成された片
面銅張ポリイミド基材14,15が積層されている。図
において、17はスルーホールメツキ部で、18はカバ
ー層である。
【0012】上記4層回路基板1は、例えばつぎのよう
にして製造することができる。
にして製造することができる。
【0013】(1)内層材の形成 内層材としては、ガラスエポキシ両面銅張積層板2(図
2参照)が用いられる。しかも、4層回路基板1として
の総厚を薄くするため、この実施例では、内層材の材料
として板厚が0.1mmのガラスエポキシ両面銅張積層板
(松下電工社製,R1766)が用いられる。また、こ
のように板厚が薄いため銅箔3,4表面の研磨は化学的
に行われ、例えば過硫酸アンモニウム水溶液(240g
/L)が用いられる。研磨後、銅箔3,4表面(両面)
にドライフイルムタイプフオトレジスト5(ダイナケム
社製,ラミナー)をラミネーターでラミネートし、通常
の写真フイルムを使つた露光と現像によつて回路パター
ンを形成する(図3参照)。その後、エツチングとフオ
トレジスト剥離によつて導体回路を形成する(図4参
照)。なお、内層材の材料としては、ガラスエポキシに
限るものではなく、ガラスポリイミドやガラスフツ素等
の複合材料を用いることもできる。
2参照)が用いられる。しかも、4層回路基板1として
の総厚を薄くするため、この実施例では、内層材の材料
として板厚が0.1mmのガラスエポキシ両面銅張積層板
(松下電工社製,R1766)が用いられる。また、こ
のように板厚が薄いため銅箔3,4表面の研磨は化学的
に行われ、例えば過硫酸アンモニウム水溶液(240g
/L)が用いられる。研磨後、銅箔3,4表面(両面)
にドライフイルムタイプフオトレジスト5(ダイナケム
社製,ラミナー)をラミネーターでラミネートし、通常
の写真フイルムを使つた露光と現像によつて回路パター
ンを形成する(図3参照)。その後、エツチングとフオ
トレジスト剥離によつて導体回路を形成する(図4参
照)。なお、内層材の材料としては、ガラスエポキシに
限るものではなく、ガラスポリイミドやガラスフツ素等
の複合材料を用いることもできる。
【0014】(2)外層材の積層 外層材としては、ポリイミドフイルム6,11と銅箔
7,12を接着剤8,13で積層した片面銅張フレキシ
ブル基材14,15が用いられる(図5参照)。上記ポ
リイミドフイルム6,11の厚みは12.5μmまたは
25μmのものが好ましく、銅箔7,12の厚みは18
〜35μmのものが好ましい。また、両者を接着する接
着剤8,13は耐熱性,耐薬品性に優れた変性エポキシ
樹脂系接着剤またはアクリル樹脂系接着剤等が用いら
れ、その厚みは15〜35μmのものが好ましい。
7,12を接着剤8,13で積層した片面銅張フレキシ
ブル基材14,15が用いられる(図5参照)。上記ポ
リイミドフイルム6,11の厚みは12.5μmまたは
25μmのものが好ましく、銅箔7,12の厚みは18
〜35μmのものが好ましい。また、両者を接着する接
着剤8,13は耐熱性,耐薬品性に優れた変性エポキシ
樹脂系接着剤またはアクリル樹脂系接着剤等が用いら
れ、その厚みは15〜35μmのものが好ましい。
【0015】内層材と外層材の積層には、通常、Bステ
ージ状エポキシ樹脂系またはアクリル樹脂系の接着シー
ト9,10(日東電工社製 KX−35)が用いられ
(図5参照)、その厚みは25〜50μmのものが望ま
しい。積層方法としては、まず外層材である片面銅張フ
レキシブル基材14,15のベースフイルムとなるポリ
イミドフイルム6,11面にロールラミネーター等で接
着シート9,10をラミネートする。ついで、上記2枚
の外層材を内層材に仮止めする。その後、フラツトラミ
ネーシヨンプレスまたはオートクレーブによつて接着シ
ート9,10の硬化促進と脱泡を行う。積層条件として
は、温度が150〜170℃,圧力が20〜40Kg/cm
2 ,積層時間は60〜120分が好ましい。
ージ状エポキシ樹脂系またはアクリル樹脂系の接着シー
ト9,10(日東電工社製 KX−35)が用いられ
(図5参照)、その厚みは25〜50μmのものが望ま
しい。積層方法としては、まず外層材である片面銅張フ
レキシブル基材14,15のベースフイルムとなるポリ
イミドフイルム6,11面にロールラミネーター等で接
着シート9,10をラミネートする。ついで、上記2枚
の外層材を内層材に仮止めする。その後、フラツトラミ
ネーシヨンプレスまたはオートクレーブによつて接着シ
ート9,10の硬化促進と脱泡を行う。積層条件として
は、温度が150〜170℃,圧力が20〜40Kg/cm
2 ,積層時間は60〜120分が好ましい。
【0016】(3)穴あけとスルーホールメツキ 両外層材を内層材に積層した積層体に、NCドリリング
マシーンまたは金型により所望のスルーホール16の穴
あけを行う(図6参照)。この際、上記積層体の表面は
全面が銅箔7,12で被覆されていて表面から穴あけ位
置が確認できないため、穴あけ前後のランドと穴あけ位
置の検査はX線で行われる。ついで、図7に示すよう
に、上記スルーホール16が形成された積層体に通常の
無電解銅メツキと電解銅メツキによつてスルーホールメ
ツキ処理を行い、スルーホールメツキ部17を形成す
る。なお、スルーホール16の信頼性を向上させるた
め、スルーホールメツキの前処理として予めスミア除去
工程を行うことが好ましい。このスミア除去工程として
はプラズマエツチング等の物理的方法とクロム酸浸漬等
の化学的方法がある。
マシーンまたは金型により所望のスルーホール16の穴
あけを行う(図6参照)。この際、上記積層体の表面は
全面が銅箔7,12で被覆されていて表面から穴あけ位
置が確認できないため、穴あけ前後のランドと穴あけ位
置の検査はX線で行われる。ついで、図7に示すよう
に、上記スルーホール16が形成された積層体に通常の
無電解銅メツキと電解銅メツキによつてスルーホールメ
ツキ処理を行い、スルーホールメツキ部17を形成す
る。なお、スルーホール16の信頼性を向上させるた
め、スルーホールメツキの前処理として予めスミア除去
工程を行うことが好ましい。このスミア除去工程として
はプラズマエツチング等の物理的方法とクロム酸浸漬等
の化学的方法がある。
【0017】(4)外層材の回路形成とカバー層形成 上記スルーホールメツキ処理の完了した積層体は、その
表面に通常のテンテイング法または穴埋め印刷法によつ
て回路パターン19が形成される(図8参照)。その
後、塩化第2鉄水溶液または塩化第2銅水溶液等のエツ
チング液によつてエツチングを行つて導体回路が形成さ
れる(図9参照)。また、その他の回路形成方式として
半田や金等でパターンメツキを行い、それをエツチング
レジストとしてアルカリエツチヤント等でエツチングす
ることも可能である。このようにしてエツチング工程の
完了した上記積層体には液状のソルダーレジスト印刷ま
たはカバーレイフイルムをラミネートすることによつて
カバー層18が形成される(図1参照)。
表面に通常のテンテイング法または穴埋め印刷法によつ
て回路パターン19が形成される(図8参照)。その
後、塩化第2鉄水溶液または塩化第2銅水溶液等のエツ
チング液によつてエツチングを行つて導体回路が形成さ
れる(図9参照)。また、その他の回路形成方式として
半田や金等でパターンメツキを行い、それをエツチング
レジストとしてアルカリエツチヤント等でエツチングす
ることも可能である。このようにしてエツチング工程の
完了した上記積層体には液状のソルダーレジスト印刷ま
たはカバーレイフイルムをラミネートすることによつて
カバー層18が形成される(図1参照)。
【0018】(5)表面処理と外形加工 上記カバー層18の形成された積層体に必要に応じてニ
ツケル金メツキや半田レベラー等の表面処理を行い、そ
の後、金型打ち抜きまたはルーター加工によつて外形加
工を施して4層回路基板1が完成する。
ツケル金メツキや半田レベラー等の表面処理を行い、そ
の後、金型打ち抜きまたはルーター加工によつて外形加
工を施して4層回路基板1が完成する。
【0019】このようにして得られた4層回路基板1
(実施例品)の総厚と層間絶縁破壊電圧について、図1
0に示すようなガラスエポキシ4層回路基板20(従来
例品)と対比して下記の表1に示す。
(実施例品)の総厚と層間絶縁破壊電圧について、図1
0に示すようなガラスエポキシ4層回路基板20(従来
例品)と対比して下記の表1に示す。
【0020】
【表1】 上記表1から、実施例品の方が従来例品よりも、総厚
が薄く、かつ耐電圧性に優れることがわかる。
が薄く、かつ耐電圧性に優れることがわかる。
【0021】なお、上記実施例では、内層材の両面に外
層材を積層しているが、これに限るものではなく、内層
材の片面にだけ外層材を積層してもよいし、内層材に積
層される外層材と接着シートの枚数を増やすことによつ
て、層数を増加することもできる。
層材を積層しているが、これに限るものではなく、内層
材の片面にだけ外層材を積層してもよいし、内層材に積
層される外層材と接着シートの枚数を増やすことによつ
て、層数を増加することもできる。
【0022】
【発明の効果】以上のように、この発明の多層回路基板
によれば、内層材としてリジツド基材を用いることによ
り全体として剛性を持たせながらも、内層材に接着剤を
介して外層材を積層することにより全体の薄形化が可能
となり、しかも、厚みの均一化が図れる。したがつて、
部品の実装工程においてカール等の問題が発生せず、コ
ネクターに挿入したり、電子機器のシヤーシの溝に組み
込んだりするのが容易になる。さらに、回路のインピー
ダンスのばらつきを抑えることができて、そのコントロ
ールが容易になるという利点もある。しかも、フレキシ
ブル基材はリジツド基材よりも耐電圧が大きいため、絶
縁層(接着剤層)の厚みを薄くしてもリジツド基材と同
等、もしくはそれ以上の耐電圧が得られる。
によれば、内層材としてリジツド基材を用いることによ
り全体として剛性を持たせながらも、内層材に接着剤を
介して外層材を積層することにより全体の薄形化が可能
となり、しかも、厚みの均一化が図れる。したがつて、
部品の実装工程においてカール等の問題が発生せず、コ
ネクターに挿入したり、電子機器のシヤーシの溝に組み
込んだりするのが容易になる。さらに、回路のインピー
ダンスのばらつきを抑えることができて、そのコントロ
ールが容易になるという利点もある。しかも、フレキシ
ブル基材はリジツド基材よりも耐電圧が大きいため、絶
縁層(接着剤層)の厚みを薄くしてもリジツド基材と同
等、もしくはそれ以上の耐電圧が得られる。
【図1】この発明の一実施例を示す断面図である。
【図2】内層材を示す断面図である。
【図3】回路パターンが形成された内層材を示す断面図
である。
である。
【図4】導体回路が形成された内層材を示す断面図であ
る。
る。
【図5】内層材に外層材を積層した状態を示す断面図で
ある。
ある。
【図6】スルーホールの形成された上記積層体を示す断
面図である。
面図である。
【図7】スルーホールメツキされた上記積層体を示す断
面図である。
面図である。
【図8】外層回路パターンが形成された上記積層体を示
す断面図である。
す断面図である。
【図9】外層導体回路が形成された上記積層体を示す断
面図である。
面図である。
【図10】従来の多層リジツド回路基板を示す断面図で
ある。
ある。
【図11】従来の多層フレキシブル回路基板を示す断面
図である。
図である。
1 4層回路基板 2 ガラスエポキシ両面銅張積層板 9,10 接着シート 14,15 片面銅張ポリイミド基材 17 スルーホールメツキ部
Claims (1)
- 【請求項1】 両面に回路形成されたリジツド基材から
なる内層材に、片面に回路形成されたフレキシブル基材
からなる外層材が、接着剤を介して、上記外層材の回路
面を外側に向けた状態で積層され、上記積層体の各層に
またがるスルーホールメツキ部が設けられていることを
特徴とする多層回路基板。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22113691A JPH0541580A (ja) | 1991-08-05 | 1991-08-05 | 多層回路基板 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22113691A JPH0541580A (ja) | 1991-08-05 | 1991-08-05 | 多層回路基板 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0541580A true JPH0541580A (ja) | 1993-02-19 |
Family
ID=16762026
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22113691A Pending JPH0541580A (ja) | 1991-08-05 | 1991-08-05 | 多層回路基板 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0541580A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100439593B1 (ko) * | 2000-11-27 | 2004-07-12 | 마츠시다 덴코 가부시키가이샤 | 다층 회로 기판 및 그 제조 방법 |
| US6893576B1 (en) | 2000-02-28 | 2005-05-17 | Fujitsu Limited | Method of manufacturing multi-layer printed wiring board |
| US8232476B2 (en) | 2007-02-20 | 2012-07-31 | Hitachi Chemical Company, Ltd. | Flexible multilayer wiring board |
-
1991
- 1991-08-05 JP JP22113691A patent/JPH0541580A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6893576B1 (en) | 2000-02-28 | 2005-05-17 | Fujitsu Limited | Method of manufacturing multi-layer printed wiring board |
| KR100439593B1 (ko) * | 2000-11-27 | 2004-07-12 | 마츠시다 덴코 가부시키가이샤 | 다층 회로 기판 및 그 제조 방법 |
| US8232476B2 (en) | 2007-02-20 | 2012-07-31 | Hitachi Chemical Company, Ltd. | Flexible multilayer wiring board |
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