JPH0542377Y2 - - Google Patents
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- JPH0542377Y2 JPH0542377Y2 JP1986180658U JP18065886U JPH0542377Y2 JP H0542377 Y2 JPH0542377 Y2 JP H0542377Y2 JP 1986180658 U JP1986180658 U JP 1986180658U JP 18065886 U JP18065886 U JP 18065886U JP H0542377 Y2 JPH0542377 Y2 JP H0542377Y2
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- Japan
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- dry gas
- electronic
- electron detection
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本考案は、光エネルギーの照射で試料から放出
された電子の数を計数する電子計数装置に関す
る。
された電子の数を計数する電子計数装置に関す
る。
(従来技術)
従来、この種の電子計数装置としては、例えば
第4図のものが知られている。
第4図のものが知られている。
第4図において、1は電子検出部であり、陰極
を構成する金属ケース2内に絶縁材3を介して陽
極リング4が支持され、陽極リング4には電気回
路5側から3.4KV程度の高電圧が印加されてい
る。
を構成する金属ケース2内に絶縁材3を介して陽
極リング4が支持され、陽極リング4には電気回
路5側から3.4KV程度の高電圧が印加されてい
る。
金属ケース2は下部に電子を導入するための検
出窓6を備え、この検出窓6に対し陽極リング4
に続いて第1格子電極7、第2格子電極8が順次
設けられ、第1格子電極7は電気回路5により例
えば100Vの電圧の印加を受け、また第2格子電
極8は電気回路5側から例えば80Vの電圧の印加
を受けている。
出窓6を備え、この検出窓6に対し陽極リング4
に続いて第1格子電極7、第2格子電極8が順次
設けられ、第1格子電極7は電気回路5により例
えば100Vの電圧の印加を受け、また第2格子電
極8は電気回路5側から例えば80Vの電圧の印加
を受けている。
検出窓6の下には試料台9が配置され、試料台
9に収納した試料10に対しては光源装置11よ
り所定波長域の単色光が照射され、この光エネル
ギーの照射を受けて試料10から電子が放出され
る。試料から放出された電子は、第2格子電極
8、第1格子電極7を通過して陽極リング4に引
かれ、陽極リング4に近づくと、高電界による気
体放電現象が引き起こされ、この気体放電現象に
より陽極電圧が低下する。この気体放電現象によ
る陽極電圧の変化は電気回路5で検出され、第1
格子電極7にそれまでの100Vから例えば400Vに
アツプする矩形パルスを与え、同時に第2格子電
極にそれまでの80Vから例えば−30Vに下げる矩
形パルスを与え、なだれ的な気体放電現象の進展
を押えると共に、外部からの電子の導入を遮蔽す
る。
9に収納した試料10に対しては光源装置11よ
り所定波長域の単色光が照射され、この光エネル
ギーの照射を受けて試料10から電子が放出され
る。試料から放出された電子は、第2格子電極
8、第1格子電極7を通過して陽極リング4に引
かれ、陽極リング4に近づくと、高電界による気
体放電現象が引き起こされ、この気体放電現象に
より陽極電圧が低下する。この気体放電現象によ
る陽極電圧の変化は電気回路5で検出され、第1
格子電極7にそれまでの100Vから例えば400Vに
アツプする矩形パルスを与え、同時に第2格子電
極にそれまでの80Vから例えば−30Vに下げる矩
形パルスを与え、なだれ的な気体放電現象の進展
を押えると共に、外部からの電子の導入を遮蔽す
る。
以下、試料からの放出電子が導入される毎に同
様な動作が繰り返され、陽極電圧のパルス変化の
数から電子数を計数する。
様な動作が繰り返され、陽極電圧のパルス変化の
数から電子数を計数する。
ところで、このような従来の電子計数装置にあ
つては、電子検出部1内の湿度の影響を受けて計
数率のS/N比が悪くなるという問題があり、こ
れを解決するために、電子検出部1内に配管12
によつてドライエアー等の乾燥したガスを送り込
み、湿度の影響を無くすようにしている。
つては、電子検出部1内の湿度の影響を受けて計
数率のS/N比が悪くなるという問題があり、こ
れを解決するために、電子検出部1内に配管12
によつてドライエアー等の乾燥したガスを送り込
み、湿度の影響を無くすようにしている。
(発明が解決しようとする問題点)
しかしながら、このような従来の乾燥したガス
を電子検出部内に送り込むようにした装置にあつ
ては、ドライエアー等の乾燥したガスを流しつぱ
なしにしていたため、例えばボンベに充填したド
ライエアーを使用したような場合には、ドライエ
アーの消費量が多くなり、ランニングコストが高
くなるという問題があつた。
を電子検出部内に送り込むようにした装置にあつ
ては、ドライエアー等の乾燥したガスを流しつぱ
なしにしていたため、例えばボンベに充填したド
ライエアーを使用したような場合には、ドライエ
アーの消費量が多くなり、ランニングコストが高
くなるという問題があつた。
(問題点を解決するための手段)
本考案は、このような従来の問題点に鑑みてな
されたもので、電子検出部内の湿度を無くすため
に流すドライエアー等の乾燥したガスを無駄なく
使用して経済的で且つ安定した電子計数ができる
電子計数装置を提供することを目的とする。
されたもので、電子検出部内の湿度を無くすため
に流すドライエアー等の乾燥したガスを無駄なく
使用して経済的で且つ安定した電子計数ができる
電子計数装置を提供することを目的とする。
この目的を達成するため本考案にあつては、試
料に光を照射し、該試料から放出される電子を電
子検出部に導入して電子の数を計数する電子計数
装置に於いて、前記試料の設置台を含む電子検出
部内を密閉構造とし、該密閉構造とした前記電子
検出部内の上部の雰囲気を吸引すると共に水分を
除去したドライエアー、不活性ガス等のドライガ
スを前記電子検出部の下部へ送り込んで前記電子
検出部内で下方から上方に循環し、かつ循環させ
る流量をドライガスの電子検出部への吹き出しで
陽極リングが揺れ動かない程度の所定流量とする
ドライガス循環手段を設けるようにしたものであ
る。
料に光を照射し、該試料から放出される電子を電
子検出部に導入して電子の数を計数する電子計数
装置に於いて、前記試料の設置台を含む電子検出
部内を密閉構造とし、該密閉構造とした前記電子
検出部内の上部の雰囲気を吸引すると共に水分を
除去したドライエアー、不活性ガス等のドライガ
スを前記電子検出部の下部へ送り込んで前記電子
検出部内で下方から上方に循環し、かつ循環させ
る流量をドライガスの電子検出部への吹き出しで
陽極リングが揺れ動かない程度の所定流量とする
ドライガス循環手段を設けるようにしたものであ
る。
(作用)
このような本考案の構成によれば、密閉構造を
とつた電子検出部内の雰囲気を吸引してドライガ
ス発生装置で水分を除去した後に送り込んで循環
させるか、あるいはボンベに充填したドライガス
又は適宜の不活性ガスを検出部内に送り込んで湿
度をもつた雰囲気を排出した後にドライガスを循
環させるようになり、測定時に使用するドライガ
スの量は電子検出部内の容積で決まる所定量で済
むことから、ドライガスを無駄に使用することな
く検出部内の湿度を無くすことで安定した電子計
数を行なうことができる。
とつた電子検出部内の雰囲気を吸引してドライガ
ス発生装置で水分を除去した後に送り込んで循環
させるか、あるいはボンベに充填したドライガス
又は適宜の不活性ガスを検出部内に送り込んで湿
度をもつた雰囲気を排出した後にドライガスを循
環させるようになり、測定時に使用するドライガ
スの量は電子検出部内の容積で決まる所定量で済
むことから、ドライガスを無駄に使用することな
く検出部内の湿度を無くすことで安定した電子計
数を行なうことができる。
また、ドライガスを電子検出部の下部へ送り込
んで前記電子検出部内で下方から上方に循環し、
かつ循環させる流量をドライガスの電子検出部へ
の吹き出しで陽極リングが揺れ動かない程度の所
定流量としたことにより、試料から放出された電
子がドライガスのガス流に乗つて運ばれることに
なり、したがつて、試料から放出された電子を効
率良く電子検出部内に導入することができ、かつ
安定して電子の計数を行うことができる。
んで前記電子検出部内で下方から上方に循環し、
かつ循環させる流量をドライガスの電子検出部へ
の吹き出しで陽極リングが揺れ動かない程度の所
定流量としたことにより、試料から放出された電
子がドライガスのガス流に乗つて運ばれることに
なり、したがつて、試料から放出された電子を効
率良く電子検出部内に導入することができ、かつ
安定して電子の計数を行うことができる。
(実施例)
第1図は本考案の一実施例を示した説明図であ
る。
る。
まず構成を説明すると、1は電子検出部であ
り、陰極を構成する金属ケース2内に絶縁部材3
を介して陽極リング4を吊下げ状態で支持してお
り、陽極リング4に続いては第1格子電極7及び
第2格子電極8が順次設けられ、その下方には試
料10を収納する試料台9が配置されている。ま
た、陽極リング4、第1及び第2格子電極7,8
のそれぞれに対しては金属ケース2の上部に収納
した電気回路5より所定の電圧が印加されてい
る。
り、陰極を構成する金属ケース2内に絶縁部材3
を介して陽極リング4を吊下げ状態で支持してお
り、陽極リング4に続いては第1格子電極7及び
第2格子電極8が順次設けられ、その下方には試
料10を収納する試料台9が配置されている。ま
た、陽極リング4、第1及び第2格子電極7,8
のそれぞれに対しては金属ケース2の上部に収納
した電気回路5より所定の電圧が印加されてい
る。
このような電子検出部1の構造は従来と同じで
あるが、これに加えて本考案にあつては、試料台
9を含む電子検出部1内を一体化したケース部材
とすることで密閉構造としている。また、電子検
出部1内を密閉構造としたことに伴い光源装置1
から試料10に対し光を照射する部分には透過窓
13が設けられ、更に試料台9の右側には開閉自
在な扉14を設けた試料取出口15が形成されて
いる。
あるが、これに加えて本考案にあつては、試料台
9を含む電子検出部1内を一体化したケース部材
とすることで密閉構造としている。また、電子検
出部1内を密閉構造としたことに伴い光源装置1
から試料10に対し光を照射する部分には透過窓
13が設けられ、更に試料台9の右側には開閉自
在な扉14を設けた試料取出口15が形成されて
いる。
更に、密閉構造をとつた電子検出部1に対して
は金属ケース2の上部から下部の間を連絡する配
管16が設けられ、この配管16には流量計1
7、ポンプ18及びドライガス発生装置20が設
けられている。流量計17は電子検出部1内に対
するドライガスの循環流量を測定しており、また
ポンプ18は例えば矢印で示すように金属ケース
2の上部から吹込んだ雰囲気をケース下部に送り
込むように駆動される。更に、ドライガス発生装
置20は密閉容器の中にシリカゲル等の乾燥剤を
充填しており、ポンプ18から送り出された雰囲
気中に含まれる水分を吸着除去してドライガスと
して電子検出部1内に送り込むようになる。
は金属ケース2の上部から下部の間を連絡する配
管16が設けられ、この配管16には流量計1
7、ポンプ18及びドライガス発生装置20が設
けられている。流量計17は電子検出部1内に対
するドライガスの循環流量を測定しており、また
ポンプ18は例えば矢印で示すように金属ケース
2の上部から吹込んだ雰囲気をケース下部に送り
込むように駆動される。更に、ドライガス発生装
置20は密閉容器の中にシリカゲル等の乾燥剤を
充填しており、ポンプ18から送り出された雰囲
気中に含まれる水分を吸着除去してドライガスと
して電子検出部1内に送り込むようになる。
次に、第1図の実施例の作用を説明すると、扉
14を開いて試料取出口15から試料台9に図示
のように試料10をセツトしたならば、扉14を
閉じて電子検出部1内を密閉状態とする。
14を開いて試料取出口15から試料台9に図示
のように試料10をセツトしたならば、扉14を
閉じて電子検出部1内を密閉状態とする。
続いてポンプ18を作動することで配管16に
よつて金属ケース2の上部から電子検出部1内の
雰囲気を吸込んでドライガス発生装置20に送り
込み、ドライガス発生装置20で雰囲気中の水分
を除去してドライガスとして金属ケース2の下部
に送り込む。勿論、配管16による循環流量は流
量計17の測定流量を見ることで配管20からの
ドライガスの吹出しで陽極リング4が揺れ動かな
い程度の所定流量とする。
よつて金属ケース2の上部から電子検出部1内の
雰囲気を吸込んでドライガス発生装置20に送り
込み、ドライガス発生装置20で雰囲気中の水分
を除去してドライガスとして金属ケース2の下部
に送り込む。勿論、配管16による循環流量は流
量計17の測定流量を見ることで配管20からの
ドライガスの吹出しで陽極リング4が揺れ動かな
い程度の所定流量とする。
ポンプ18の駆動による雰囲気の循環によるド
ライガスの発生をある程度続けると、電子検出部
1内の雰囲気中の水分が略完全に除去されるよう
になり、雰囲気中の湿度が略零となつた状態で光
源装置11から透過窓13を介して試料10に所
定波長域の単色光を照射して電子を放出させ、放
出電子を陽極リング4側に導入することで生じた
気体放電現象に基づく電子の計数処理を行なわせ
る。勿論、この測定中にあつても、ポンプ18の
運転を継続することで、ドライガスの循環を継続
する。
ライガスの発生をある程度続けると、電子検出部
1内の雰囲気中の水分が略完全に除去されるよう
になり、雰囲気中の湿度が略零となつた状態で光
源装置11から透過窓13を介して試料10に所
定波長域の単色光を照射して電子を放出させ、放
出電子を陽極リング4側に導入することで生じた
気体放電現象に基づく電子の計数処理を行なわせ
る。勿論、この測定中にあつても、ポンプ18の
運転を継続することで、ドライガスの循環を継続
する。
第1図の矢印で示すように電子検出部1内の下
方から上方にドライガスの循環を行なつた場合に
は、試料10から放出された電子を効率良く陽極
リング4に引き寄せて電子数の計数を行なうこと
ができる。即ち、試料10から放出された電子
は、空気中の酸素分子に付着して電子検出部1内
に入り込んでくることから、この時、図示のよう
に試料10側から電子検出部1内にドライガスを
循環させることで、ドライガスのガス流れに乗つ
て放出された電子が運ばれることとなり、試料1
0から放出された電子を効率良く電子検出部1内
に導入することができる。
方から上方にドライガスの循環を行なつた場合に
は、試料10から放出された電子を効率良く陽極
リング4に引き寄せて電子数の計数を行なうこと
ができる。即ち、試料10から放出された電子
は、空気中の酸素分子に付着して電子検出部1内
に入り込んでくることから、この時、図示のよう
に試料10側から電子検出部1内にドライガスを
循環させることで、ドライガスのガス流れに乗つ
て放出された電子が運ばれることとなり、試料1
0から放出された電子を効率良く電子検出部1内
に導入することができる。
第2図は本考案の他の実施例を示した説明図で
あり、この実施例にあつてはボンベに充填したド
ライエアー若しくは不活性ガスを循環させるよう
にしたことを特徴とする。
あり、この実施例にあつてはボンベに充填したド
ライエアー若しくは不活性ガスを循環させるよう
にしたことを特徴とする。
即ち、第1図の実施例と同様密閉構造をもつた
電子検出部1の上下の間に配管16を接続し、配
管16と並列にドライエアーや不活性ガス等のド
ライガスを発生するガス発生装置22を配管24
によつて接続しており、配管16の出入口側のそ
れぞれには流量計17とポンプ18が設けられ
る。更にガス発生装置22の前後には切換バルブ
25,26を設けると共にガス発生装置22を備
えた配管24と並列な配管16の部分にも切換バ
ルブ27を設け、更に流量計17の出口側に切換
バルブ29を介して排気管30を接続している。
電子検出部1の上下の間に配管16を接続し、配
管16と並列にドライエアーや不活性ガス等のド
ライガスを発生するガス発生装置22を配管24
によつて接続しており、配管16の出入口側のそ
れぞれには流量計17とポンプ18が設けられ
る。更にガス発生装置22の前後には切換バルブ
25,26を設けると共にガス発生装置22を備
えた配管24と並列な配管16の部分にも切換バ
ルブ27を設け、更に流量計17の出口側に切換
バルブ29を介して排気管30を接続している。
この第2図の実施例の作用は、まず試料台9に
試料10をセツトして扉14を閉めた状態で、切
換バルブ26を開いてガス発生装置22をポンプ
18の吸込側に連通し、且つ切換バルブ29を開
いて排気管30に連通する。一方、切換バルブ2
5,27のそれぞれは閉鎖状態とする。
試料10をセツトして扉14を閉めた状態で、切
換バルブ26を開いてガス発生装置22をポンプ
18の吸込側に連通し、且つ切換バルブ29を開
いて排気管30に連通する。一方、切換バルブ2
5,27のそれぞれは閉鎖状態とする。
このようなバルブの切換状態によりガス発生装
置22から発生されたドライエアーや不活性ガス
は、ポンプ18で吸引されて電子検出部1内に送
り込まれ、このドライガスの送り込みで湿度をも
つた電子検出部1内の雰囲気が押出され、切換バ
ルブ29を介して排気管30より排出される。
置22から発生されたドライエアーや不活性ガス
は、ポンプ18で吸引されて電子検出部1内に送
り込まれ、このドライガスの送り込みで湿度をも
つた電子検出部1内の雰囲気が押出され、切換バ
ルブ29を介して排気管30より排出される。
ガス発生装置22からのドライガスのポンプ1
8による送り込みで電子検出部1内にドライガス
が充満されたならば、切換バルブ26及び29を
閉じ、同時に切換バルブ27を開く。このバルブ
切換で配管16による循環経路が構成され、電子
検出部1内に充満したドライガスをポンプ18に
より循環させるようになる。
8による送り込みで電子検出部1内にドライガス
が充満されたならば、切換バルブ26及び29を
閉じ、同時に切換バルブ27を開く。このバルブ
切換で配管16による循環経路が構成され、電子
検出部1内に充満したドライガスをポンプ18に
より循環させるようになる。
図示のように下方から上方に流す循環方向の方
が試料10から放出された電子の電子検出部1内
への送り込みが効率良くできる。
が試料10から放出された電子の電子検出部1内
への送り込みが効率良くできる。
第3図は本考案の他の実施例を示した説明図で
あり、この実施例は電子検出部1を直接密閉構造
とぜすに電子検出部1、試料台9及び光源装置1
1を密閉容器32内に組込んだことを特徴とし、
配管16を電子検出部1の上部に接続して流量計
17を介してポンプ18により吸込み、ドライガ
ス発生装置20で水分を除去したドライガスを密
閉容器32内に送り込むようにしている。勿論、
密閉容器32の試料台9に相対した位置には開閉
自在な扉14を備えた試料取出口15が設けられ
ている。
あり、この実施例は電子検出部1を直接密閉構造
とぜすに電子検出部1、試料台9及び光源装置1
1を密閉容器32内に組込んだことを特徴とし、
配管16を電子検出部1の上部に接続して流量計
17を介してポンプ18により吸込み、ドライガ
ス発生装置20で水分を除去したドライガスを密
閉容器32内に送り込むようにしている。勿論、
密閉容器32の試料台9に相対した位置には開閉
自在な扉14を備えた試料取出口15が設けられ
ている。
この第3図に示す密閉容器32を用いた構造
は、第2図の循環系統をもつた場合についてもそ
のまま適用することができる。
は、第2図の循環系統をもつた場合についてもそ
のまま適用することができる。
更に第2図の実施例にあつては、ガス発生装置
22からアルゴン等の不活性ガスを供給しても不
活性ガスを無駄なく使用できることから、例えば
ドライエアー(空気)の場合には光源装置11か
らの光の波長が200nm以下の場合には大きな光減
衰を受けて使用することができなかつたが、アル
ゴン等の不活性ガスの循環で無駄なく不活性ガス
を使用できることから、試料10に対し光源装置
11より100nmのように波長の短い光を減衰する
ことなく照射することができ、電子計数装置に使
用する光源装置からの光波長域を大幅に拡大する
ことができる。
22からアルゴン等の不活性ガスを供給しても不
活性ガスを無駄なく使用できることから、例えば
ドライエアー(空気)の場合には光源装置11か
らの光の波長が200nm以下の場合には大きな光減
衰を受けて使用することができなかつたが、アル
ゴン等の不活性ガスの循環で無駄なく不活性ガス
を使用できることから、試料10に対し光源装置
11より100nmのように波長の短い光を減衰する
ことなく照射することができ、電子計数装置に使
用する光源装置からの光波長域を大幅に拡大する
ことができる。
(考案の効果)
以上説明してきたように本考案によれば、試料
に光を照射し、試料から放出される電子を電子検
出部に導入して電子の数を計数する電子計数装置
において、試料の設置台を含む電子検出部内を密
閉構造とし、密閉構造とした電子検出部内の雰囲
気を吸引すると共に水分を除去したドライエア
ー、不活性ガス等のドライガスを送り込んで循環
させるドライガス循環手段を設けるようにしたた
め、ボンベに充填したドライエアーや不活性ガス
を使用しても、電子検出部内の容積で決まる量の
ドライガスを使用するだけで電子検出部内の湿度
をなくして安定した電子計数を行なうことがで
き、ドライガスを無駄に使用することがないた
め、ランニングコストを大幅に下げた経済的な電
子計数を行なうことができる。
に光を照射し、試料から放出される電子を電子検
出部に導入して電子の数を計数する電子計数装置
において、試料の設置台を含む電子検出部内を密
閉構造とし、密閉構造とした電子検出部内の雰囲
気を吸引すると共に水分を除去したドライエア
ー、不活性ガス等のドライガスを送り込んで循環
させるドライガス循環手段を設けるようにしたた
め、ボンベに充填したドライエアーや不活性ガス
を使用しても、電子検出部内の容積で決まる量の
ドライガスを使用するだけで電子検出部内の湿度
をなくして安定した電子計数を行なうことがで
き、ドライガスを無駄に使用することがないた
め、ランニングコストを大幅に下げた経済的な電
子計数を行なうことができる。
また、ドライガスを電子検出部の下部へ送り込
んで前記電子検出部内で下方から上方に循環し、
かつ循環させる流量をドライガスの電子検出部へ
の吹き出しで陽極リングが揺れ動かない程度の所
定流量としたことにより、試料から放出された電
子がドライガスのガス流に乗つて運ばれることに
なり、したがつて、試料から放出された電子を効
率良く電子検出部内に導入することができ、かつ
安定して電子の計数を行うことができる。
んで前記電子検出部内で下方から上方に循環し、
かつ循環させる流量をドライガスの電子検出部へ
の吹き出しで陽極リングが揺れ動かない程度の所
定流量としたことにより、試料から放出された電
子がドライガスのガス流に乗つて運ばれることに
なり、したがつて、試料から放出された電子を効
率良く電子検出部内に導入することができ、かつ
安定して電子の計数を行うことができる。
第1図は本考案の一実施例を示した説明図、第
2,3図は本考案の他の実施例を示した説明図、
第4図は従来例を示した説明図である。 1……電子検出部、2……金属ケース(陰極)、
3……絶縁材、4……陽極リング、5……電気回
路、7……第1格子電極、8……第2格子電極、
9……試料台、10……試料、11……光源装
置、13……透過窓、14……扉、15……試料
取出口、16,24……配管、17……流量計、
18……ポンプ、20……ドライガス発生装置、
22……ガス発生装置、25,26,27,29
……切換バルブ、30……排気管、32……密閉
容器。
2,3図は本考案の他の実施例を示した説明図、
第4図は従来例を示した説明図である。 1……電子検出部、2……金属ケース(陰極)、
3……絶縁材、4……陽極リング、5……電気回
路、7……第1格子電極、8……第2格子電極、
9……試料台、10……試料、11……光源装
置、13……透過窓、14……扉、15……試料
取出口、16,24……配管、17……流量計、
18……ポンプ、20……ドライガス発生装置、
22……ガス発生装置、25,26,27,29
……切換バルブ、30……排気管、32……密閉
容器。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 試料に光を照射し、該試料から放出される電子
を電子検出部に導入して電子の数を計数する電子
計数装置に於いて、 前記試料の設置台を含む電子検出部内を密閉構
造とし、該密閉構造とした前記電子検出部内の上
部の雰囲気を吸引すると共に水分を除去したドラ
イエアー、不活性ガス等のドライガスを前記電子
検出部の下部へ送り込んで前記電子検出部内で下
方から上方に循環し、かつ循環させる流量をドラ
イガスの電子検出部への吹き出しで陽極リングが
揺れ動かない程度の所定流量とするドライガス循
環手段を設けたことを特徴とする電子計数装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1986180658U JPH0542377Y2 (ja) | 1986-11-25 | 1986-11-25 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1986180658U JPH0542377Y2 (ja) | 1986-11-25 | 1986-11-25 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6384587U JPS6384587U (ja) | 1988-06-02 |
| JPH0542377Y2 true JPH0542377Y2 (ja) | 1993-10-26 |
Family
ID=31124815
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1986180658U Expired - Lifetime JPH0542377Y2 (ja) | 1986-11-25 | 1986-11-25 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0542377Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06789Y2 (ja) * | 1987-09-25 | 1994-01-05 | ホーチキ株式会社 | 電子計数装置 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS527785A (en) * | 1975-07-09 | 1977-01-21 | Rikagaku Kenkyusho | Counter tube for measuring low-speed electrons |
| JPS5931023B2 (ja) * | 1979-03-26 | 1984-07-30 | アロカ株式会社 | 放射線測定装置用計数ガス供給装置 |
| JPS59195177A (ja) * | 1983-04-20 | 1984-11-06 | Rikagaku Kenkyusho | 光電子の計数方法 |
| JPS6059986U (ja) * | 1983-09-30 | 1985-04-25 | 株式会社東芝 | 放射線測定装置 |
-
1986
- 1986-11-25 JP JP1986180658U patent/JPH0542377Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6384587U (ja) | 1988-06-02 |
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