JPH0543068B2 - - Google Patents

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JPH0543068B2
JPH0543068B2 JP60216872A JP21687285A JPH0543068B2 JP H0543068 B2 JPH0543068 B2 JP H0543068B2 JP 60216872 A JP60216872 A JP 60216872A JP 21687285 A JP21687285 A JP 21687285A JP H0543068 B2 JPH0543068 B2 JP H0543068B2
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JP
Japan
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circuit board
pin
support table
guide
holding member
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JP60216872A
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Japanese (ja)
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JPS6275358A (en
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Ko Nakajima
Katsutoshi Saida
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YOKO KK
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Publication date
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、偏平な回路基板に各種の電子部品を
装着して組立てられた被検査体としての実装回路
基板(以下、たんに回路基板という)を最終的に
導通検査する回路基板検査装置に係り、特に、各
種の電子部品を回路基板の両面に装着した被検査
体を検査する両面回路基板検査装置に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Field of Industrial Application] The present invention relates to a mounted circuit board (hereinafter simply referred to as a circuit board) as an object to be inspected, which is assembled by mounting various electronic components on a flat circuit board. ), and particularly relates to a double-sided circuit board testing device that tests a test object with various electronic components mounted on both sides of the circuit board.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

既に提案されているこの種の回路基板検査装置
は、回路基板の片面のみに各種の電子部品を装着
した被検査体として回路基板に多数のコンタクト
ピンすなわちコンタクトプロープを接触させて導
通検査している。
This type of circuit board testing equipment that has already been proposed tests continuity by bringing a number of contact pins, or contact probes, into contact with the circuit board, which has various electronic components mounted on only one side of the circuit board to be tested. .

すなわち、上述した回路基板検査装置は、ピン
ボードに多数のコンタクトピンに弾発的に植設
し、これらのコンタクトピンを、回路基板の一面
に装着された各電子部品から回路基板の他面へ突
出する導体部分に上方または下方から前進させて
圧接し、これによつて電気的導通検査を施すよう
になつている。
That is, the circuit board inspection device described above elastically implants a large number of contact pins on a pin board, and moves these contact pins from each electronic component mounted on one side of the circuit board to the other side of the circuit board. The protruding conductor portion is advanced and pressed against the protruding conductor portion from above or below, thereby testing electrical continuity.

このように、被検査体としての回路基板は、そ
の一面に各種電子を装着し、回路基板の他面が検
査回路面を形成している関係上、コンタクトピン
を被検査体の他面側から回路基板に接触導通させ
て測定検査が行われる。
In this way, the circuit board used as the object to be tested has various electronic devices mounted on one side, and the other side of the circuit board forms the test circuit surface, so contact pins are inserted from the other side of the object to be tested. The measurement test is performed by contacting and conducting the circuit board.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

しかしながら、最近の回路基板に使用される各
種の電子部品はますます小型化されているので、
高密度配置を予儀なくされ、これに起因して、回
路基板の表裏、つまり、両面にそれぞれ装着して
使用されるため、これらの両面回路基板の導通検
査は、両面回路基板の上・下方向から一挙に一工
程で導通検査することが望まれている。
However, as the various electronic components used in modern circuit boards are becoming smaller and smaller,
Due to this, the high-density layout is unavoidable, and due to this, the circuit boards are mounted on both sides, that is, both sides. Therefore, continuity testing of these double-sided circuit boards is performed on the top and bottom of the double-sided circuit boards. It is desired to perform a continuity test from all directions in one step.

一方、電子部品の高密度配置に伴いコンタクト
ピンの配置も高密度化されかつコンタクトピン自
体が細くなつている。したがつて、回路基板とコ
ンタクトピンの相対的位置に少しでも狂いがある
と、コンタクトピンは接触すべき回路パターン上
の検査点とは異なる位置へ接触してしまう。
On the other hand, as electronic components are arranged in a higher density, the arrangement of contact pins is also becoming more dense and the contact pins themselves are becoming thinner. Therefore, if there is even a slight deviation in the relative position of the circuit board and the contact pins, the contact pins will come into contact with a different position on the circuit pattern from the test point to which they should be contacted.

ところが、回路基板の位置決めのために用いる
位置決め孔は、いかに正確に加工しても、回路基
板の回路パターンの製作時点とは異なる時点に作
られるので、回路パターンに対する相対位置に製
作上の誤差が発生し易い。
However, no matter how accurately the positioning holes used for positioning the circuit board are made, they are made at a different time from the time when the circuit pattern of the circuit board is manufactured, so there is a manufacturing error in the relative position with respect to the circuit pattern. Easy to occur.

本発明の前述の問題点に鑑みなされたもので、
その目的は、両面回路基板の両面の導通検査を同
時に行うことができ、しかも、高密度化された回
路基板パターンに対し正確にコンタクトピンの先
端を接触させることができる回路基板検査装置を
得ることにある。
This was made in view of the above-mentioned problems of the present invention,
The purpose is to provide a circuit board testing device that can simultaneously test continuity on both sides of a double-sided circuit board, and that can also accurately bring the tip of a contact pin into contact with a high-density circuit board pattern. It is in.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

本発明の回路基板検査装置は、支持ベースに複
数の案内支柱を樹立し、各案内支柱の上部に、下
向きのコンタクトピンを有する上部ピンボードを
備えた固定板を支持し、この固定板と支持ベース
の間には、上向きのコンタクトピンを有する下部
ピンボードを備えた可動板を、上方へ向かつて移
動自在に各案内支柱により支持し、前記下部ピン
ボートの上位でしかも前記上部ピンボートの下位
において、前記各案内支柱に上下に摺動自在に枠
状の保持部材を嵌装し、固定板と保持部材との間
および可動板と保持部材との間にそれぞれ弾性材
を介在させ、保持部材上には、検査すべき両面回
路基板をその上下面が上下に露出する状態で位置
決めし支持する回路基板支持テーブルを、水平方
向に前後左右に微調整可能に支承し、回路基板支
持テーブル上方位置には、それにより位置決め支
持された両面回路基板上面の指標の位置を検知す
る回路基板位置検知装置を設け、前記保持部材に
は、それに対する回路基板支持テーブルの前後左
右位置の微調整を行う微調整装置を設けたことを
特徴とする。
The circuit board inspection device of the present invention has a plurality of guide posts established on a support base, supports a fixing plate having an upper pin board having downward contact pins on the top of each guide post, and connects the fixing plate with the support Between the bases, a movable plate having a lower pin board having upward contact pins is supported by each guide column so as to be movable upwardly, above the lower pin boat and below the upper pin boat, A frame-shaped holding member is fit into each of the guide columns so as to be slidable up and down, and an elastic material is interposed between the fixed plate and the holding member and between the movable plate and the holding member, and the elastic material is placed on the holding member. supports a circuit board support table that positions and supports a double-sided circuit board to be inspected with its upper and lower surfaces exposed vertically, and can be finely adjusted horizontally back and forth and left and right. , a circuit board position detection device is provided for detecting the position of the index on the top surface of the double-sided circuit board that is positioned and supported by the circuit board position detection device, and the holding member is provided with a fine adjustment device that finely adjusts the front, rear, left, and right positions of the circuit board support table with respect to the position detection device. It is characterized by having the following.

〔作用〕[Effect]

上記構成により、本発明では下部ピンボードの
上昇により、それと上部ピンボードとの間に回路
基板が挟まれて、その両面の検査が同時に行われ
る。また、回路基板への回路パターンの製作と同
時に、回路基板に適当なマークすなわち指標を形
成しておき、その回路基板を回路基板支持テーブ
ル上に装着した後、該支持テーブルを前後左右に
微調整して指標が所定の位置へ来るようにし、そ
れを回路基板位置検知装置により検出した後検査
が行われる。
With the above configuration, in the present invention, when the lower pin board is raised, the circuit board is sandwiched between it and the upper pin board, and both sides of the circuit board are inspected at the same time. In addition, at the same time as the circuit pattern is produced on the circuit board, appropriate marks or indicators are formed on the circuit board, and after the circuit board is mounted on the circuit board support table, the support table is finely adjusted back and forth and left and right. The indicator is brought to a predetermined position, and after this is detected by the circuit board position detection device, an inspection is performed.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明を図示の一実施例について説明す
る。
Hereinafter, the present invention will be described with reference to an illustrated embodiment.

第1図において、符号2は、偏平な四角形状支
持ベースであつて、この支持ベース2上の各角隅
部には、4本の案内支柱3が植設されており、こ
の案内支柱3の上部には、多数の下向きのコンタ
クトピン4を有する上部ピンボード6aを支持す
る固定板6が水平に固着されている。上部ピンボ
ード6aは固定板6の下面にスペーサ板7等を介
して支持されている。コンタクトピン4の上端は
導電線4aを介して図示しない上部コネクタに接
続されている。このコネクタは図示しない導通検
査用計器に接続される。
In FIG. 1, reference numeral 2 denotes a flat rectangular support base, and four guide columns 3 are installed at each corner of the support base 2. A fixing plate 6 supporting an upper pin board 6a having a large number of downward contact pins 4 is horizontally fixed to the upper part. The upper pin board 6a is supported on the lower surface of the fixed plate 6 via a spacer plate 7 and the like. The upper end of the contact pin 4 is connected to an upper connector (not shown) via a conductive wire 4a. This connector is connected to a continuity test meter (not shown).

一方、上記固定板6の下方において、上記各案
内支柱3には、下部ピンボード8aをスペーサ板
5を介して支持する可動板8が上、下方向に摺動
自在に嵌装されており、この下部ピンボード8a
の上面には多数のコンタクトピン9が上向きに、
しかも弾発的に昇降するように設けられている。
なお、コンタクトピン9の下端は、図示しない下
部コネクタ2に導電線9aを通して接続されてい
る。可動板8は案内支柱3に対しベアリング8b
により支持される。また、導電線9aは前述の計
器に接続される。
On the other hand, below the fixed plate 6, a movable plate 8 that supports the lower pin board 8a via the spacer plate 5 is fitted to each of the guide columns 3 so as to be slidable upward and downward. This lower pin board 8a
There are many contact pins 9 facing upward on the top surface of the
Moreover, it is designed to rise and fall elastically.
Note that the lower end of the contact pin 9 is connected to a lower connector 2 (not shown) through a conductive wire 9a. The movable plate 8 has a bearing 8b with respect to the guide column 3.
Supported by Further, the conductive wire 9a is connected to the aforementioned meter.

前記上部ピンボード6aの下部ピンボード8a
の間において、各案内支柱3には、中央部に大き
な開口10aを有する扁平な枠状保持部材10が
ベアリング10bを介して上、下方向に摺動自在
に嵌装されており、この保持部材10は、第2図
に示すように、それと可動板8の間、およびそれ
と固定板6の間にそれぞれ介装した弾性材、たと
えば圧縮コイルばね14,15によつて浮動状態
に保持されている。すなわち、可動板8上には、
各一対をなすガイドピン11が上方へ向かつて立
設されており、この各ガイドピン11の直上に位
置する上記保持部材10には各一対をなすガイド
ピン12が上下に貫通して植切されている。さら
に、各ガイドピン12の直上に位置する上記固定
板6の部分には、各一対のなすガイドピン13が
垂設されている。そして、各ガイドピン11と各
ガイドピン12の下側への突出部との間には、保
持部材10と可動板8との間に介在するように前
記コイルばね14が弾発的に介装されており、上
記各ガイドピン12の上側突出部とガイドピン1
3との間には、保持部材10と固定板6との間に
介在するように、前記コイルばね15が弾発的に
介装されており、特に、上部のコイルばね15は
下部のコイルばね14の弾力より弱く形成されて
いる。
Lower pinboard 8a of the upper pinboard 6a
In between, a flat frame-shaped holding member 10 having a large opening 10a in the center is fitted into each guide column 3 so as to be slidable upward and downward via a bearing 10b. 10 is held in a floating state by elastic members such as compression coil springs 14 and 15 interposed between it and the movable plate 8 and between it and the fixed plate 6, respectively, as shown in FIG. . That is, on the movable plate 8,
Each pair of guide pins 11 is erected upward, and each pair of guide pins 12 is vertically penetrated and planted in the holding member 10 located directly above each guide pin 11. ing. Further, a pair of guide pins 13 are vertically provided in a portion of the fixing plate 6 located directly above each guide pin 12 . The coil spring 14 is elastically interposed between each guide pin 11 and the downward protrusion of each guide pin 12 so as to be interposed between the holding member 10 and the movable plate 8. The upper protrusion of each guide pin 12 and the guide pin 1 are
3, the coil spring 15 is elastically interposed between the holding member 10 and the fixed plate 6. In particular, the upper coil spring 15 is interposed between the lower coil spring 15 and the lower coil spring 15. The elasticity is weaker than that of No. 14.

第3図に示すように、上部ピンボード6aには
案内スリーブ17が固定され、このスリーブ17
内に摺動ピン16が上下に変位自在に設けられ、
スリーブ17は、スリーブ17の上部端壁との間
に介装した圧縮コイルばね18によつて下降の限
度まで弾圧されている。そして、このような摺動
ピン16は上部ピンボード6aの他の個所にも設
けられ、これらの摺動ピン16の下端に、上部コ
ンタクトピン4の先端すなわち下端を保護する保
護板19が固定されている。保護板19には上部
コンタクトピン4の下端部が摺動自在に挿通され
ている。
As shown in FIG. 3, a guide sleeve 17 is fixed to the upper pin board 6a.
A sliding pin 16 is provided inside so as to be freely displaceable up and down.
The sleeve 17 is compressed to its downward limit by a compression coil spring 18 interposed between the sleeve 17 and the upper end wall thereof. Such sliding pins 16 are also provided at other locations on the upper pin board 6a, and a protective plate 19 is fixed to the lower ends of these sliding pins 16 to protect the tips, that is, the lower ends of the upper contact pins 4. ing. The lower end of the upper contact pin 4 is slidably inserted through the protection plate 19.

同様に、下部ピンボード8aにも、同じような
機能をもつ案内スリーブ20、摺動ピン21およ
び圧縮コイルばね22が設けられ、摺動ピン21
はばね22により上昇の限度まで弾圧されてい
る。そして、摺動ピン21の上端には下部コンタ
クトピン9の先端すなわち上端を保護する保護板
23が固定されており、下部コンタクトピン9の
上端が保護板23に摺動自在に挿通されている。
Similarly, the lower pin board 8a is also provided with a guide sleeve 20, a sliding pin 21, and a compression coil spring 22, which have similar functions.
is compressed by a spring 22 to the limit of its upward movement. A protection plate 23 is fixed to the upper end of the sliding pin 21 to protect the tip, that is, the upper end, of the lower contact pin 9, and the upper end of the lower contact pin 9 is slidably inserted through the protection plate 23.

第3図において、保持部材10には、回路基板
支持テーブル25が水平方向に前後左右に微調整
可能に支持される。微調整のための構造について
は後述する。回路基板支持テーブル25は、上面
に複数の位置決めピン26を植設され、このピン
26に両面を検査される回路基板Wの位置決め孔
がはめ込まれて、支持テーブル25に対する回路
基板Wの位置決めがなされる。回路基板支持板2
5は四角形の枠状をなし、その四辺部下側に基枠
27を固定してある。また、基板27を収容し支
持するために基枠27のまわりに支枠28が設け
られて、前記保持部材10にボルト29により固
定されている。
In FIG. 3, a circuit board support table 25 is supported by the holding member 10 so as to be finely adjustable horizontally in the front, rear, left and right directions. The structure for fine adjustment will be described later. The circuit board support table 25 has a plurality of positioning pins 26 planted on the top surface, and the positioning holes of the circuit board W to be inspected on both sides are fitted into the pins 26 to position the circuit board W with respect to the support table 25. Ru. Circuit board support plate 2
5 has a rectangular frame shape, and a base frame 27 is fixed to the lower side of the four sides. Further, a supporting frame 28 is provided around the base frame 27 to accommodate and support the substrate 27, and is fixed to the holding member 10 with bolts 29.

第4図に示すように、前記支枠28は四角形板
状の枠体で、その内側の回路基板支持テーブル2
5も、それに支持される回路基板Wの下面を下向
きに露出させうるように中心部に開口を有し、同
様に四角形状の枠体をなす板体である。
As shown in FIG. 4, the support frame 28 is a rectangular plate-shaped frame, and the circuit board support table 2 is located inside the support frame 28.
5 is also a plate having an opening in the center so that the lower surface of the circuit board W supported thereon can be exposed downward, and similarly forming a rectangular frame.

支枠28の手前側および奥側には1対の対向す
る細長いX軸方向ガイド部材30,31が固定さ
れている。これらのガイド部材30,31は、第
4図の−断面を示す第5図の左右寄り部分に
も示されている。そして、これらガイド部材3
0,31のそれぞれの内側に沿つてX軸方向(第
4図の左右方向)に案内されつつ摺動するように
細長い被案内部材32,33が設けられており、
これら被案内部材32,33は四角形枠34の対
向する2辺に固着されている。したがつて、四角
形枠34はX軸方向ガイド部材30,31に案内
されつつ支枠28に対してX軸方向に変位可能で
ある。
A pair of opposing elongated X-axis direction guide members 30 and 31 are fixed to the front side and the back side of the support frame 28. These guide members 30, 31 are also shown in the left and right portions of FIG. 5, which shows the - cross section of FIG. 4. And these guide members 3
Elongated guided members 32 and 33 are provided so as to slide while being guided in the X-axis direction (horizontal direction in FIG. 4) along the inside of each of the parts 0 and 31,
These guided members 32 and 33 are fixed to two opposing sides of a rectangular frame 34. Therefore, the rectangular frame 34 can be displaced in the X-axis direction with respect to the supporting frame 28 while being guided by the X-axis direction guide members 30 and 31.

四角形枠34の他の対向する2辺の外側には、
細長いY軸方向ガイド部材35,36が固着され
ている。また、第4図の−断面を示す第6図
の左側よりに示すように、四角形枠34と一体を
なす部材38と支枠28に突設したピン40との
間には圧縮ばね41が介装されている。また、第
6図の右側に示すように、四角形枠34と一体を
なす取付部材42から一体的に立上るように当接
板43が設けられている。一方、支枠28上の取
付板44にはマイクロメータヘツドMCXが取付
けられ、その先端に測定子45が接触している。
四角形枠34のX軸方向左方(第6図における)
への変位は、圧縮ばね41の弾力に抗して行われ
る。
On the outside of the other two opposing sides of the rectangular frame 34,
Elongated Y-axis direction guide members 35 and 36 are fixed. Further, as shown from the left side of FIG. 6 which shows the - cross-section of FIG. equipped. Further, as shown on the right side of FIG. 6, an abutment plate 43 is provided so as to rise integrally from a mounting member 42 that is integral with the rectangular frame 34. On the other hand, a micrometer head MCX is attached to a mounting plate 44 on the support frame 28, and a probe 45 is in contact with the tip of the micrometer head MCX.
Left side of the rectangular frame 34 in the X-axis direction (in FIG. 6)
The displacement to is performed against the elasticity of the compression spring 41.

四角形枠34の左右のY軸方向ガイド部材3
5,36の外側には、それに案内されつつY軸方
向に摺動変位する被案内部材47,48が位置し
ている。これらの被案内部材47,48は、第6
図に示すように回路基板支持テーブル25の基枠
27の下側に固定されている。したがつて、回路
基板支持テーブル25は、Y軸方向ガイド部材3
5,36に案内されつつY軸方向に摺動変位可能
である。一方、回路基板支持テーブル25を支承
する四角形枠34がX軸方向ガイド部材30,3
1に沿つてX軸方向に摺動変位自在であることに
より、回路基板支持テーブルはX軸方向にも摺動
変位可能である。
Y-axis direction guide members 3 on the left and right sides of the rectangular frame 34
Guided members 47 and 48 are located outside of the guide members 5 and 36 and are slidably displaced in the Y-axis direction while being guided by the guide members 47 and 48, respectively. These guided members 47 and 48 are
As shown in the figure, it is fixed to the lower side of the base frame 27 of the circuit board support table 25. Therefore, the circuit board support table 25 supports the Y-axis direction guide member 3
5, 36 and can be slid in the Y-axis direction. On the other hand, the rectangular frame 34 supporting the circuit board support table 25 is
1 in the X-axis direction, the circuit board support table can also be slid in the X-axis direction.

回転基板支持テーブル25のX軸方向の微量調
節はX軸用マイクロメータヘツドMCXの回路操
作により行われる。マイクロメータヘツドMCX
の回動調整により、第6図において、当接板43
が圧縮ばね41を圧縮しつつ左方へ、また圧縮ば
ね41の伸長力により右方へ変位する。
Fine adjustment of the rotary substrate support table 25 in the X-axis direction is performed by circuit operation of the X-axis micrometer head MCX. Micrometer head MCX
By adjusting the rotation of the contact plate 43 in FIG.
is displaced to the left while compressing the compression spring 41, and to the right due to the expansion force of the compression spring 41.

一方、回転基板支持テーブル25のY軸方向の
微量調節は、第5図に示すY軸用マイクロメータ
ヘツドMCYの回動操作により行われる。同図に
示すように、四角形枠34と一体的な部材50か
ら立上り状に突設した取付部材51に、上記マイ
クロメータヘツドMCYが取付けられ、また回転
基板支持テーブル25の下面に固定した部材52
には、先端に測定子53を有する柱状部材54の
基端が螺入により固定されている。また、マイク
ロメータヘツドMCYと反対の側にある四角形枠
34の辺の内側と、回転基板支持テーブル基枠2
7のピン56との間には圧縮ばね57が介装され
ている。回転基板支持テーブル25とY軸方向の
微量調節は、Y軸用マイクロメータヘツドMCY
の回転操作によりX軸の場合に同様にして行うこ
とができる。
On the other hand, minute adjustments of the rotary substrate support table 25 in the Y-axis direction are performed by rotating the Y-axis micrometer head MCY shown in FIG. As shown in the figure, the micrometer head MCY is attached to a mounting member 51 that protrudes upward from a member 50 integral with the rectangular frame 34, and a member 52 fixed to the lower surface of the rotary board support table 25.
The base end of a columnar member 54 having a probe 53 at its tip is fixed by screwing. In addition, the inner side of the rectangular frame 34 on the side opposite to the micrometer head MCY, and the rotating board support table base frame 2
A compression spring 57 is interposed between the pin 56 and the pin 56 of No. 7. The rotary substrate support table 25 and minute adjustments in the Y-axis direction are made using the Y-axis micrometer head MCY.
This can be done in the same way for the X-axis by rotating the X-axis.

第2図に示すように、前記支持ベース2の後部
上面には、ブレーキ付のモータM1が設置されて
おり、このモータM1の出力軸60には、逆ハー
ト形の第1カム部材61および同軸的な2個の第
2カム部材62a,62bが取付けられている。
As shown in FIG. 2, a motor M1 with a brake is installed on the rear upper surface of the support base 2, and an output shaft 60 of the motor M1 is provided with an inverted heart-shaped first cam member 61 and a coaxial Two second cam members 62a and 62b are attached.

各第2カム部材62a,62bは基本的には円
形をなすが、その周縁上の一部に後述の上限スイ
ツチおよび下限スイツチに当接してそれを作動さ
せる突部を有している。突部の角度位置は2個の
第2カム部材でそれぞれ異なつている。
Each of the second cam members 62a, 62b is basically circular, but has protrusions on a portion of its periphery that abut and actuate an upper limit switch and a lower limit switch, which will be described later. The angular positions of the protrusions are different for the two second cam members.

また、第1カム部材61の回転領域に近接する
上記支持ベース2上の位置には、ブラケツト62
が固設されており、このブラケツト62には作動
レバー63が支軸64によつて枢着されている。
さらに、この作動レバー63の一端部63aにあ
るローラは上記第1カム部材61の周縁に接触し
ており、作動レバー63の他端部63bは、可動
板8の下側板体8cの底面に付設された当接部材
66に前記コイルばね14,15の伸長しようと
する弾力によつて弾発的に当接している。さらに
また、上記第2カム部材62a,62bの回転軌
跡上には、第1図に示すように上限スイツチSa
と下限スイツチSbとが設けられており、上限ス
イツチSaは、後述のように下部ピンボード8a
および可動板8が上限位置に上昇したときにカム
62aの突部により作動してモータM1を停止さ
せるようになつており、下限スイツチSbは、後
述のように下部ピボード8aおよび可動板8が下
限位置に下降したときにカム62bの突部により
作動するようになつている。
Further, a bracket 62 is provided at a position on the support base 2 close to the rotation area of the first cam member 61.
An operating lever 63 is pivotally attached to this bracket 62 via a support shaft 64.
Further, a roller at one end 63a of the operating lever 63 is in contact with the periphery of the first cam member 61, and the other end 63b of the operating lever 63 is attached to the bottom surface of the lower plate 8c of the movable plate 8. The coil springs 14 and 15 elastically abut against the abutting member 66 which has been stretched by the elasticity of the coil springs 14 and 15. Furthermore, as shown in FIG. 1, an upper limit switch Sa
and a lower limit switch Sb, and the upper limit switch Sa is connected to the lower pin board 8a as described later.
When the movable plate 8 rises to the upper limit position, the protrusion of the cam 62a is actuated to stop the motor M1, and the lower limit switch Sb is activated when the lower pivot board 8a and the movable plate 8 move to the lower limit position. It is activated by the protrusion of the cam 62b when it is lowered to the position.

第2図に示すように、上部ピンポード6aおよ
びその下側に支持されるコンタクトピン先端保護
板19は、同図で実線で示す作用位置とそれから
後退し鎖線位置との間で移動自在となつている。
このような移動を可能とするために、上部ピンボ
ード6aの両端のスペーサ板7の上端は、第1図
に示すように移動板70に連結され、移動板70
はその上面に固定した金具71を介して、固定板
6の下面に前後方向に固定したガイド72に沿い
移動自在に支持されている。
As shown in FIG. 2, the upper pin port 6a and the contact pin tip protection plate 19 supported under the upper pin port 6a are movable between an operating position shown by a solid line in the same figure and a position retreated from the working position shown by a chain line. There is.
To enable such movement, the upper ends of the spacer plates 7 at both ends of the upper pin board 6a are connected to a moving plate 70 as shown in FIG.
is supported so as to be movable along a guide 72 fixed to the lower surface of the fixed plate 6 in the front-rear direction via a metal fitting 71 fixed to the upper surface thereof.

第2図に示すように、固定板6の下面の前部と
後部には、移動板70の前進位置および後退位置
を規定するために移動板の図示しない突起に当接
するストツパ74,75が固定されている。ま
た、移動板70の前進端位置および後退端位置を
検出するために検出スイツチ76,77が固定板
6の下面に取付けられている。
As shown in FIG. 2, stoppers 74 and 75 are fixed to the front and rear portions of the lower surface of the fixed plate 6, which contact protrusions (not shown) of the movable plate 70 to define the forward and backward positions of the movable plate 70. has been done. Further, detection switches 76 and 77 are attached to the lower surface of the fixed plate 6 to detect the forward end position and the backward end position of the movable plate 70.

上部ピンボード6aを第2図の実線位置と鎖線
位置との間で移動させるために、固定板6の後方
への延長部上に可逆転モータM2が設置されてい
る。可逆転モータM2の回転駆動軸は固定板6の
下側へ突出し、それに、第7図の平面図に示すよ
うに駆動プーリ80が固定されている。一方、固
定板6の前部の下側には遊動プーリ81が取付け
られており、これらのプーリ80,81に掛け渡
したワイヤロープ82の両端は前記金具71の側
面に83,84で示す位置でそれぞれ連結されて
いる。したがつて、モータM2の一方向への回転
により、移動板70および上部ピンボード6aは
前進し、モータM2の他方向への回転により移動
板70および上部ピンボード6aは後退する。
A reversible motor M2 is installed on the rearward extension of the fixed plate 6 in order to move the upper pin board 6a between the solid line position and the chain line position in FIG. A rotary drive shaft of the reversible motor M2 protrudes below the fixed plate 6, and a drive pulley 80 is fixed to it as shown in the plan view of FIG. On the other hand, a floating pulley 81 is attached to the lower front part of the fixed plate 6, and both ends of a wire rope 82 stretched around these pulleys 80, 81 are attached to the sides of the metal fitting 71 at positions 83, 84. are connected to each other. Therefore, rotation of the motor M2 in one direction causes the movable plate 70 and the upper pin board 6a to advance, and rotation of the motor M2 in the other direction causes the movable plate 70 and the upper pin board 6a to retreat.

上部ピンボード6aは、前進端位置へ達すると
ストツパ74への当接により停止し、検出スイツ
チ76の検出動作によりモータM2の一方向への
回転は停止する。一方、上部ピンボード6aは、
後退端位置へ達するとストツパ75への当接によ
り停止し、検出スイツチ77の検出動作によりモ
ータM2の他方向への回転は停止する。
When the upper pin board 6a reaches the forward end position, it comes into contact with the stopper 74 and stops, and the rotation of the motor M2 in one direction is stopped by the detection operation of the detection switch 76. On the other hand, the upper pinboard 6a is
When the rear end position is reached, the motor M2 comes into contact with the stopper 75 and stops, and the detection operation of the detection switch 77 stops the rotation of the motor M2 in the other direction.

固定板6の上面の両側部には、第2図に示すよ
うにブラケツト86が固定され、それにピン87
によつてレバー88の中程が枢着されている。レ
バー88の一端はソレノイド駆動装置SL(第1
図、第2図)のプランジヤ90にリンク91を介
して連結されている。レバー88の上記一端の下
降の限度はクツシヨンストツパ92により定めら
れる。レバー88の他端は位置決めピン93の上
端に当接している。位置決めピン93はそれを受
けるスリーブ94内で上下に摺動自在とされかつ
コイルばね95により常時上方に付勢されてい
る。
As shown in FIG. 2, brackets 86 are fixed to both sides of the upper surface of the fixing plate 6, and pins 87 are attached to the brackets 86.
The middle of the lever 88 is pivotally mounted by the lever 88. One end of the lever 88 is connected to the solenoid drive device SL (first
It is connected via a link 91 to a plunger 90 shown in FIGS. The lowering limit of the one end of the lever 88 is determined by a cushion stopper 92. The other end of the lever 88 is in contact with the upper end of the positioning pin 93. The positioning pin 93 is vertically slidable within a sleeve 94 that receives it, and is always urged upward by a coil spring 95.

一方、移動板70には上向き穴を有する位置決
めピン受け96が固定されている。
On the other hand, a positioning pin receiver 96 having an upward hole is fixed to the movable plate 70.

上部ピンボード6aが第2図に実線で示す前進
位置に達して停止すると、近接スイツチ98(第
1図の右上方)が作動して両ソレノイド駆動装置
SLを作動させる。これにより、そのプランジヤ
90が後退し、レバー88は第2図において反時
計方向に回動し、レバー88の端部が前記位置決
めピン93を、ばね95の力に抗して押し下げ、
位置決めピン受け96の上向き穴内へ係合させ
る。これにより、移動板70および上部ピンボー
ド6a所定の前進位置にロツクされる。また、上
部ピンボード6aの後退時には、ソレノイド駆動
装置SLが切られ、位置決めピン93はばね95
で押上げられて上部ピンボード6aの移動板70
のロツクが解かれる。
When the upper pin board 6a reaches the forward position shown by the solid line in FIG. 2 and stops, the proximity switch 98 (upper right in FIG. 1) is actuated to activate both solenoid drive devices.
Activate SL. This causes the plunger 90 to retreat, the lever 88 to rotate counterclockwise in FIG. 2, and the end of the lever 88 to push down the positioning pin 93 against the force of the spring 95.
It is engaged into the upward hole of the positioning pin receiver 96. As a result, the movable plate 70 and the upper pin board 6a are locked at a predetermined forward position. Further, when the upper pin board 6a is retracted, the solenoid drive device SL is turned off, and the positioning pin 93 is moved by the spring 95.
The movable plate 70 of the upper pin board 6a is pushed up by
The lock is released.

回路基板Wはその両面が検査されるものであつ
て、そのパターンを形成と同時に、その両端部寄
り位置にマークすなわち指標(例えば十印)が施
される。この指標は、パターンと同時に形成され
るのでパターンに対しては常に一定の位置関係に
ある。パターンと指標の形成時とは別に、回路基
板Wの適当位置に、第3図に示す回路基板位置決
めピン26が挿入される位置決め孔が形成され
る。
Both sides of the circuit board W are inspected, and at the same time as the pattern is formed, marks or indicators (for example, a cross mark) are placed near both ends of the circuit board W. Since this index is formed at the same time as the pattern, it is always in a constant positional relationship with respect to the pattern. Separately from the formation of the pattern and index, a positioning hole into which a circuit board positioning pin 26 shown in FIG. 3 is inserted is formed at an appropriate position on the circuit board W.

回路基板Wの指標の位置を検知するために、固
定板6の両端部に回路基板位置検知装置100が
取付部材101を介して設置される。第7図から
明らかなように、固定板6はその前部中央部が1
02で示すように開放され、回路基板位置検知装
置100はその開放部から下方へ突出するように
設けられている。
In order to detect the position of the index on the circuit board W, circuit board position detection devices 100 are installed at both ends of the fixed plate 6 via mounting members 101. As is clear from FIG. 7, the front central part of the fixing plate 6 is
It is opened as shown at 02, and the circuit board position detection device 100 is provided so as to protrude downward from the opening.

回路基板位置検知装置100は例えば顕微鏡で
あり、そのレンズの光学系には回路基板に形成し
た指標を同じような十印が付されている。レンズ
の指標は、回路基板Wの回路パターンがコンタク
トピン4,9に対して所定の相対位置をとつた時
に、回路基板上の指標の位置と正確に合うように
設けられている。
The circuit board position detection device 100 is, for example, a microscope, and the optical system of its lens has a cross mark similar to the index formed on the circuit board. The index of the lens is provided so that when the circuit pattern of the circuit board W takes a predetermined relative position with respect to the contact pins 4 and 9, it precisely matches the position of the index on the circuit board.

回路基板W上の指標と回路基板位置検出装置1
00の指標の一致は、顕微鏡をその上方から肉眼
で覗くことにより検知することができる。
Indicator on circuit board W and circuit board position detection device 1
The match of the 00 index can be detected by looking through the microscope with the naked eye.

一方、顕微鏡で直接覗く代りに、第8図および
第9図に示すように、前記回路基板検査装置を収
めたケーシング104の上部にCRT装置105
をそれぞれ顕微鏡100に対応させて設け、
CRT装置105の画面を見ることにより指標の
一致を確認するようにしてもよい。
On the other hand, instead of looking directly through a microscope, as shown in FIGS.
are respectively provided corresponding to the microscope 100,
Matching of the indicators may be confirmed by viewing the screen of the CRT device 105.

つぎに、以上に説明した回路基板検査装置の作
用につき説明する。
Next, the operation of the circuit board inspection apparatus described above will be explained.

この装置による検査の開始前には、上部ピンボ
ード6aは第2図に鎖線で示す後退位置にあり、
したがつて、第7図に示す固定板6の前部開放部
102の下側に回路基板支持テーブル25の上面
が露出している。よつて、回転基板支持テーブル
25の上面にその位置決めピン26(第3図)を
利用して回路基板Wを位置決めしつつ容易に載置
することができる。
Before starting an inspection using this device, the upper pinboard 6a is in the retracted position shown by the chain line in FIG.
Therefore, the upper surface of the circuit board support table 25 is exposed below the front open portion 102 of the fixed plate 6 shown in FIG. Therefore, the circuit board W can be easily placed on the upper surface of the rotary board support table 25 while being positioned using the positioning pins 26 (FIG. 3).

このように回路基板Wを位置決め載置しても、
その回路パターンと位置決め孔とは加工誤差によ
り相対位置が必ずしも常に一定ではない。したが
つて、回路基板Wの回路パターンに対し正確な相
対位置にある指標が回路基板位置検出装置である
顕微鏡の光学系の指標と一致するまで、顕微鏡を
覗きつつ、またはCRT装置を見つつ、回路基板
支持テーブル25を前後、左右、すなわちY軸方
向およびX軸方向に微量調節する。これはマイク
ロメータヘツドMCY,MCXの手による回動によ
り行うことができる。
Even if the circuit board W is positioned and mounted in this way,
The relative positions of the circuit pattern and the positioning holes are not always constant due to processing errors. Therefore, while looking through the microscope or the CRT device, until the mark at the correct relative position to the circuit pattern of the circuit board W matches the mark of the optical system of the microscope, which is the circuit board position detection device, The circuit board support table 25 is slightly adjusted back and forth, left and right, that is, in the Y-axis direction and the X-axis direction. This can be done by manually rotating the micrometer heads MCY and MCX.

以上のようにして、回路基板の位置決めが完了
したところで、モータM2を駆動して、後退位置
にある上部ピンボード6aを第2図の実線位置へ
前進させて、回路基板Wの上方に位置させる。こ
れにより、ソレノイド駆動装置SLが作動し、位
置決めピン93が下降して移動板70および上部
ピンボード6aを所定位置にロツクする。
When the positioning of the circuit board is completed in the above manner, the motor M2 is driven to move the upper pin board 6a, which is in the retracted position, forward to the solid line position in FIG. 2, and to position it above the circuit board W. . As a result, the solenoid drive device SL is actuated, and the positioning pin 93 is lowered to lock the movable plate 70 and the upper pin board 6a in a predetermined position.

これによつて、モータM1が駆動され、その出
力軸60に固定された第1カム部材61と第2カ
ム部材62a,62bが共に回転するので、逆ハ
ート形第1カム部材61の隆起部は、作動レバー
63を支軸64の周りに第2図において時計方向
に旋回させる。これによつて、この作動レバー6
3の一端部63aが下方へ押され、その他端部6
3bが当接部材66を介して可動板8を上方へ押
し上げる。
As a result, the motor M1 is driven, and the first cam member 61 fixed to the output shaft 60 and the second cam members 62a, 62b rotate together, so that the raised portion of the inverted heart-shaped first cam member 61 is , the operating lever 63 is rotated clockwise in FIG. 2 around the support shaft 64. As a result, this operating lever 6
One end 63a of 3 is pushed downward, and the other end 63a
3b pushes up the movable plate 8 via the contact member 66.

この押し上げによる可動板8の上昇により、下
部のコイルばね14は押し上げ力を保持部材10
に伝達し、保持部材10をも上昇させる。押し上
げ力はさらに保持部材10から上部のコイルばね
15に伝達される。ところで、上部のコイルばね
15の上端は固定板6に接触しており、しかも上
部のコイルばね15は下部のコイルばね14より
も弱いから可動板8の上昇開始により、まず上部
のコイルばね15が圧縮され始める。この時、下
部のコイルばね14の圧縮は殆んどなされず、し
たがつて可動板8上の下部ピンボード8aの上向
きコンタクトピン9と、保持部材10上の回路基
板Wとの相対距離の変化は殆んどない。これに対
し、上部コイルばね15の圧縮によつて保持部材
10上の回路基板Wと上部ピンボード6aの下向
きコンタクトピン4の距離は漸次縮まり、遂に
は、回路基板Wの上面の検査点が下向きコンタク
トピン4に接する。
As the movable plate 8 rises due to this pushing up, the lower coil spring 14 applies a pushing force to the holding member 10.
The holding member 10 is also raised. The pushing up force is further transmitted from the holding member 10 to the upper coil spring 15. By the way, the upper end of the upper coil spring 15 is in contact with the fixed plate 6, and since the upper coil spring 15 is weaker than the lower coil spring 14, when the movable plate 8 starts to rise, the upper coil spring 15 first moves upward. begins to be compressed. At this time, the lower coil spring 14 is hardly compressed, and therefore the relative distance between the upward contact pin 9 of the lower pin board 8a on the movable plate 8 and the circuit board W on the holding member 10 changes. There are almost no On the other hand, due to the compression of the upper coil spring 15, the distance between the circuit board W on the holding member 10 and the downward contact pins 4 of the upper pin board 6a gradually decreases, and finally the inspection point on the upper surface of the circuit board W is directed downward. Contact pin 4.

このような状態になつた後は上部コイルばね1
5の圧縮は止まる。また上部コイルばね15はそ
の弱い弾力で、下向きコンタクトピン4と回路基
板Wの上面の電子部品との最初の接触時に軟い緩
衝作用を果たし、部品を保護する。回路基板Wの
上面の電子部品はフラツトパツケージであること
が多く、そのまわりに突出する多数の折曲導電腕
はきわめて弱く、例べば30グラムを越える力で変
形する。上部コイルばね15の軟い緩衝作用は、
フラツトパツケージの弱い導電腕に所定の弱い力
でコンタクトピン4を接触させることを可能に
し、導電接着面の剥離等の事故を防ぎ正確な加圧
力を確保する。
After reaching this state, upper coil spring 1
5 compression stops. Moreover, the upper coil spring 15 has a weak elasticity, and when the downward contact pin 4 first comes into contact with the electronic component on the upper surface of the circuit board W, it performs a soft buffering effect and protects the component. The electronic components on the top surface of the circuit board W are often flat packages, and the many bent conductive arms protruding around them are extremely weak and deform with a force of over 30 grams, for example. The soft buffering effect of the upper coil spring 15 is
To make it possible to bring a contact pin 4 into contact with a weak conductive arm of a flat package with a predetermined weak force, to prevent accidents such as peeling of a conductive adhesive surface, and to ensure accurate pressing force.

このようにして所定の力で緩衝作用を伴なつて
下向きのコンタクトピン4と回路基板上面部品と
の接触を行ない、無理な応力なしに所定の導通関
係を確保した後、下部コイルばね14の圧縮変形
を起しつつ可動板8がさらに上昇を続く、遂には
上向きコンタクトピン9の上端が、回路基板Wの
下面の電子部品に接触して、所定の導通関係を作
るので、それを検査表示計器により読取ることが
できる。
In this way, the downward contact pin 4 is brought into contact with the top surface component of the circuit board with a predetermined force and a buffering effect, and after securing a predetermined conductive relationship without undue stress, the lower coil spring 14 is compressed. The movable plate 8 continues to rise further while being deformed, and finally the upper end of the upward contact pin 9 comes into contact with the electronic component on the bottom surface of the circuit board W, creating a predetermined conductive relationship, which is then inspected by the inspection display instrument. It can be read by

このようにして、可動板8が上限位置を達する
と、上限スイツチSa(第1図)が第2カム62a
の突部により押されて閉じる。すると、モータM
1にブレーキがかかつてモータM1は停止する。
In this way, when the movable plate 8 reaches the upper limit position, the upper limit switch Sa (Fig. 1) moves the second cam 62a.
Closed by being pushed by the protrusion. Then, motor M
When the brake is applied to motor M1, motor M1 stops.

一方、これにより図示しない測定検査時間の規
制用タイマが作用し、数秒ないし数十秒の測定検
査時間の経過によつて、モータM1は再び回転を
開始する。
On the other hand, as a result, a timer for regulating the measurement and inspection time (not shown) is activated, and the motor M1 starts rotating again after the measurement and inspection time of several seconds to several tens of seconds has elapsed.

したがつて、第1カム部材61は、下部ピンボ
ード8a、可動板8および保持部材10等の自重
によつて作動レバー63が第2図において反時計
方向に回動することを許す。ピンボード8a、可
動板8になどの下限位置への下降時に第2カム部
材62bの突部が下限スイツチSbを閉じる。こ
れによつて、モータM1が停止し、それにブレー
キがかかる。
Therefore, the first cam member 61 allows the operating lever 63 to rotate counterclockwise in FIG. 2 due to the weight of the lower pin board 8a, the movable plate 8, the holding member 10, etc. When the pin board 8a, the movable plate 8, etc. are lowered to the lower limit position, the protrusion of the second cam member 62b closes the lower limit switch Sb. This causes motor M1 to stop and is braked.

これによりすべての部材は検査開始前の状態に
戻る。この状態では、逆ハート形第1カム部材6
1の隆起部の反対側にある凹部に、作動レバー6
3の一端部63aにあるローラが係合し、その状
態が安定して維持される。
This returns all members to their state before the start of the test. In this state, the inverted heart-shaped first cam member 6
The actuating lever 6 is located in the recess on the opposite side of the protrusion of 1.
The roller at one end 63a of 3 is engaged, and this state is stably maintained.

以上のようにして、回路基板は、上下のコンタ
クトピン4,9による所定の検査点への接触を受
けて上下両側同時に導通検査される。なお、コン
タクトピン4,9の先端が回路基板の検査点に接
触する直前に、第3図に示す保護板19,23が
回路基板の面に接し、それらのばね18,22の
力に抗して後退した後、コンタクトピン4,9の
先端が回路基板に接触する。このようにして、コ
ンタクトピン4,9の先端接触部は常に保護板1
9,23により保護される。
As described above, the circuit board is tested for continuity on both the upper and lower sides simultaneously by contacting predetermined test points with the upper and lower contact pins 4 and 9. It should be noted that immediately before the tips of the contact pins 4 and 9 come into contact with the test points on the circuit board, the protective plates 19 and 23 shown in FIG. After moving back, the tips of the contact pins 4 and 9 come into contact with the circuit board. In this way, the tip contact portions of the contact pins 4 and 9 are always connected to the protective plate 1.
Protected by 9,23.

このようにして、検査完了後、上部ピンボード
6aは再び第2図の鎖線位置へ後退するので、回
路基板支持テーブル25の上方が開放される。し
たがつて、検査ずみ回路基板Wを容易に取外すこ
とができる。
In this way, after the inspection is completed, the upper pinboard 6a is moved back to the position shown in chain lines in FIG. 2, so that the upper part of the circuit board support table 25 is opened. Therefore, the inspected circuit board W can be easily removed.

以上のようにして、両面回路基板Wの導通検査
は反復継続して行われる。
As described above, the continuity test of the double-sided circuit board W is repeatedly and continuously performed.

〔効果〕〔effect〕

以上述べたように本発明によれば、可動板を固
定板に向かつて移動させるだけで、回路基板の両
面の導通検査を一工程で一挙に、しかも、確実に
行うことがができるばかりでなく、弾性材により
緩衝作用を伴つてコンタクトビンと電子部品の接
触を行うので損傷を防ぐことができる。また、回
転基板支持テーブル上に回路基板を位置決めした
後、回転基板支持テーブルを前後左右に微調整し
て、回路基板のコンタクトピンに対する位置を正
確に定めることができるので、回路基板パターン
に対しコンタクトピンを常に正しい位置で接触さ
せることができる。
As described above, according to the present invention, by simply moving the movable plate toward the fixed plate, it is possible not only to conduct continuity tests on both sides of the circuit board in one step, but also reliably. Since the contact bottle and the electronic component come into contact with each other with a buffering effect due to the elastic material, damage can be prevented. In addition, after positioning the circuit board on the rotating board support table, you can finely adjust the rotating board support table back and forth and left and right to accurately determine the position of the circuit board relative to the contact pins. Pins can always be brought into contact at the correct position.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明に係る回路基板検査装置の一部
断面正面図、第2図は同じく一部断面側面図、第
3図は第1図の一部の拡大縦断面図、第4図は上
部の部材を取除いて示す第1図の平面図、第5図
は第4図の−線断面図、第6図は第4図の
−線断面図、第7図は第1図において上部の一
部の部材を取除いて示した平面図、第8図は本発
明の回路基板検査装置、ケーシングおよびCRT
装置の関係を示す正面図、第9図は同側面図であ
る。 2……支持ベース、3……案内支柱、4……上
部コンタクトピンは、6……固定板、6a……上
部ピンボート、8……可動板、8a……下部ピン
ボード、9……下部コンタクトピン、10……保
持部材、14,15……弾性材(コイルばね)、
19,23……コンタクトピンの先端保護板、2
5……回路基板支持テーブル、26……回路基板
位置決めピン、W……回路基板、27……回路基
板支持テーブルの基枠、28……支枠、30,3
1……X軸方向ガイド部材、32,33……被案
内部材、34……四角形枠、35,36……Y軸
方向ガイド部材、40……ピン、41……ばね、
MCX,MCY……マイクロメータヘツド、47,
48……被案内部材、M1……モータ、61,6
2a,62b……カム、63……レバー、66…
…当接部材、70……移動板、M2……モータ、
74,75……ストツパ、80……駆動プーリ、
81……遊動プーリ、82……ワイヤ、SL……
ソレノイド駆動装置、88……レバー、93……
位置決めピン、94……スリーブ、96……位置
決めピン受け、100……回路基板位置検出装置
(顕微鏡)、105……CRT装置。
FIG. 1 is a partially sectional front view of a circuit board inspection apparatus according to the present invention, FIG. 2 is a partially sectional side view, FIG. 3 is an enlarged vertical sectional view of a part of FIG. 1, and FIG. 1 with the upper member removed; FIG. 5 is a sectional view taken along the line - - in FIG. 4; FIG. 6 is a sectional view taken along the line - - in FIG. FIG. 8 is a plan view showing the circuit board inspection device, casing, and CRT of the present invention with some parts removed.
FIG. 9 is a front view showing the relationship between the devices, and FIG. 9 is a side view of the same. 2... Support base, 3... Guide column, 4... Upper contact pin, 6... Fixed plate, 6a... Upper pin boat, 8... Movable plate, 8a... Lower pin board, 9... Lower contact Pin, 10... Holding member, 14, 15... Elastic material (coil spring),
19, 23...Contact pin tip protection plate, 2
5... Circuit board support table, 26... Circuit board positioning pin, W... Circuit board, 27... Base frame of circuit board support table, 28... Support frame, 30,3
1... X-axis direction guide member, 32, 33... Guided member, 34... Rectangular frame, 35, 36... Y-axis direction guide member, 40... Pin, 41... Spring,
MCX, MCY...Micrometer head, 47,
48...Guided member, M1...Motor, 61,6
2a, 62b...Cam, 63...Lever, 66...
...Abutting member, 70...Moving plate, M2...Motor,
74, 75... Stopper, 80... Drive pulley,
81... Idle pulley, 82... Wire, SL...
Solenoid drive device, 88... lever, 93...
Positioning pin, 94... Sleeve, 96... Positioning pin receiver, 100... Circuit board position detection device (microscope), 105... CRT device.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 支持ベースに複数の案内支柱を樹立し、各案
内支柱の上部に、下向きのコンタクトピンを有す
る上部ピンボードを備えた固定板を支持し、この
固定板と支持ベースの間には、上向きのコンタク
トピンを有する下部ピンボードを備えた可動板
を、上方へ向かつて移動自在に各案内支柱により
支持し、前記下部ピンボードの上位でしかも前記
上部ピンボードの下位において、前記各案内支柱
に上下に摺動自在に枠状の保持部材を嵌装し、固
定板と保持部材との間および可動板と保持部材と
の間にそれぞれ弾性材を介在させ、保持部材上に
は、検査すべき両面回路基板をその上下面が上下
に露出する状態で位置決めし支持する回路基板支
持テーブルを、水平方向に前後左右に微調整可能
に支承し、回路基板支持テーブル上方位置には、
それにより位置決め支持された両面回路基板上面
の指標の位置を検知する回路基板位置検知装置を
設け、前記保持部材には、それに対する回路基板
支持テーブルの前後左右位置の微調整を行う微調
整装置を設けてなる回路基板検査装置。 2 回路基板支持テーブル上に回路基板位置決め
ピンを突設し、このピンに回路基板に設けた位置
決め孔をはめることにより回路基板の位置決めを
行う特許請求の範囲第1項記載の回路基板検査装
置。 3 保持部材上に固定した支枠の対向する両辺部
に1対の平行な対向状の細長いガイド部材を固定
し、これらのガイド部材の間で対向する2辺が案
内されるように四角形枠を設け、四角形枠の前記
ガイド部材に対向しない他の2辺に他の細長いガ
イド部材を固着し、この他のガイド部材によつて
案内されるように該ガイド部材上に回路基板支持
テーブルを載置した特許請求の範囲第1項記載の
回路基板検査装置。 4 回路基板位置検知装置を、回路基板支持テー
ブル上の回路基板上面の指標の上部に設けた顕微
鏡により構成した特許請求の範囲第1項記載の回
路基板検査装置。 5 回路基板支持テーブルの微調整装置を、回路
基板支持テーブルを移動させるマイクロメータヘ
ツドと、回路基板支持テーブルを支持する四角形
枠を回路基板支持テーブルの移動方向に直交する
方向に移動させるマイクロメータヘツドとにより
構成した特許請求の範囲第3項記載の回路基板検
査装置。 6 上部ピンポードを固定板の下側に前後に移動
可能に装着してなる特許請求の範囲第1項記載の
回路基板検査装置。
[Scope of Claims] 1. A plurality of guide columns are established on a support base, and a fixed plate having an upper pin board having downward contact pins is supported on the top of each guide column, and the fixed plate and the support base are connected to each other. A movable plate having a lower pin board having upwardly facing contact pins is supported by each guide column in an upwardly movable manner, above the lower pin board and below the upper pin board; A frame-shaped holding member is fit into each of the guide columns so as to be slidable up and down, and an elastic material is interposed between the fixed plate and the holding member and between the movable plate and the holding member, and the elastic material is placed on the holding member. supports a circuit board support table that positions and supports a double-sided circuit board to be inspected with its upper and lower surfaces exposed vertically, and can be finely adjusted horizontally back and forth and left and right. ,
A circuit board position detection device is provided for detecting the position of the index on the upper surface of the double-sided circuit board that is positioned and supported, and the holding member is provided with a fine adjustment device for finely adjusting the front, rear, left, and right positions of the circuit board support table with respect to the position. Circuit board inspection equipment provided. 2. The circuit board inspection device according to claim 1, wherein a circuit board positioning pin is provided protrudingly on the circuit board support table, and the circuit board is positioned by fitting the pin into a positioning hole provided in the circuit board. 3. A pair of parallel, opposing, elongated guide members are fixed to opposite sides of the supporting frame fixed on the holding member, and the rectangular frame is arranged so that the two opposing sides are guided between these guide members. another elongated guide member is fixed to the other two sides of the rectangular frame that do not face the guide member, and a circuit board support table is placed on the guide member so as to be guided by the other guide member. A circuit board inspection device according to claim 1. 4. The circuit board inspection device according to claim 1, wherein the circuit board position detection device is constituted by a microscope provided above the index on the top surface of the circuit board on the circuit board support table. 5. The circuit board support table fine adjustment device includes a micrometer head that moves the circuit board support table, and a micrometer head that moves the rectangular frame that supports the circuit board support table in a direction perpendicular to the moving direction of the circuit board support table. A circuit board inspection device according to claim 3, comprising: 6. The circuit board inspection device according to claim 1, wherein the upper pin port is attached to the lower side of the fixed plate so as to be movable back and forth.
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