JPH0543989B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0543989B2 JPH0543989B2 JP28679388A JP28679388A JPH0543989B2 JP H0543989 B2 JPH0543989 B2 JP H0543989B2 JP 28679388 A JP28679388 A JP 28679388A JP 28679388 A JP28679388 A JP 28679388A JP H0543989 B2 JPH0543989 B2 JP H0543989B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- current
- electrode
- signal
- steel plate
- flaw detection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
- Electroplating Methods And Accessories (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、電気メツキ中に両極がシヨートする
ことにより発生するシヨート疵の検出を行うため
のシヨート疵検出装置、特に鋼板の表面に連続的
に亜鉛メツキ、合金メツキ等の電気メツキ処理を
行う電気メツキラインに適したシヨート疵検出装
置に関する。
ことにより発生するシヨート疵の検出を行うため
のシヨート疵検出装置、特に鋼板の表面に連続的
に亜鉛メツキ、合金メツキ等の電気メツキ処理を
行う電気メツキラインに適したシヨート疵検出装
置に関する。
近年、電気メツキラインにおける省エネ技術と
して種々の開発がなされ、電極と鋼板との極間距
離の短縮化が進む中で、電極と鋼板が接触するこ
とにより発生するシヨート疵の問題がより重大な
問題をなつてきている。本発明はそのようなシヨ
ート疵の発生を自動的に検知するシヨート疵検出
装置について言及する。
して種々の開発がなされ、電極と鋼板との極間距
離の短縮化が進む中で、電極と鋼板が接触するこ
とにより発生するシヨート疵の問題がより重大な
問題をなつてきている。本発明はそのようなシヨ
ート疵の発生を自動的に検知するシヨート疵検出
装置について言及する。
第６図は代表的な電気亜鉛メツキラインを表す
図である。
図である。
メツキ前の鋼板１０は図の左側より連続的に供
給され、通電ロール１２とバツクアツプロール１
６に狭まれ多数のセルを経て図の右方向へ送られ
る。上部電極１４１及び下部電極１４２は鋼板１
０の両面にメツキ層を形成すべく鋼板の１０の上
下に配置されている。交流電源（単相又は３相）
１６２の一端は各セルの通電ロール１２に接続さ
れ他端は各メツキ槽の上下電極１４１，１４２毎
に設けられる整流回路１６１を経て各セルの上下
電極１４１，１４２にそれぞれ接続されている。
亜鉛イオンを含んだメツキ液については図示され
ていないが、上下電極１４１，１４２付近から鋼
板１０の表面へ向けて噴流され、ポンプで循環さ
れる。
給され、通電ロール１２とバツクアツプロール１
６に狭まれ多数のセルを経て図の右方向へ送られ
る。上部電極１４１及び下部電極１４２は鋼板１
０の両面にメツキ層を形成すべく鋼板の１０の上
下に配置されている。交流電源（単相又は３相）
１６２の一端は各セルの通電ロール１２に接続さ
れ他端は各メツキ槽の上下電極１４１，１４２毎
に設けられる整流回路１６１を経て各セルの上下
電極１４１，１４２にそれぞれ接続されている。
亜鉛イオンを含んだメツキ液については図示され
ていないが、上下電極１４１，１４２付近から鋼
板１０の表面へ向けて噴流され、ポンプで循環さ
れる。
このような構成により、図の左方向から連続的
に供給される鋼板１０の上下面には析出した亜鉛
の層が形成され、図の右側へいく程メツキ層の厚
みが増大していく。
に供給される鋼板１０の上下面には析出した亜鉛
の層が形成され、図の右側へいく程メツキ層の厚
みが増大していく。
一般に、電気メツキラインで消費される電力に
は、メツキ反応そのものに消費される電力以外に
も電極１４１，１４２と鋼板１０との間の電気抵
抗によるジユール熱として消費される電力がかな
りの割合を占めている。これを減少するためには
電極と鋼板との間の距離を極力小さくして電気抵
抗を減らすのが最良の手段であるので、前述した
ように、この距離を短縮するための技術が種々開
発され、最近では８〜12mm程度になつてきてい
る。
は、メツキ反応そのものに消費される電力以外に
も電極１４１，１４２と鋼板１０との間の電気抵
抗によるジユール熱として消費される電力がかな
りの割合を占めている。これを減少するためには
電極と鋼板との間の距離を極力小さくして電気抵
抗を減らすのが最良の手段であるので、前述した
ように、この距離を短縮するための技術が種々開
発され、最近では８〜12mm程度になつてきてい
る。
そのため、上下電極１４１，１４２側からのメ
ツキ液噴流の圧力のバランスが悪い等の理由で鋼
板１０が上下にハンチングしたり、あるいは、鋼
板と鋼板をつなぐ溶接部分の形状が不良である等
の理由で電極と鋼板とのシヨートが発生する頻度
は年々増加する傾向にある。電極と鋼板とがシヨ
ートすると一時的に大量の電流が流れ、接触個所
が溶融して鋼板の表面にシヨート疵が発生する。
このシヨート疵には、単発的に発生するもの、鋼
板のハンチングにより連続的に発生するものがあ
り、結果、金属の破片がローラ１２，１６に付着
したために周期的に発生する押疵等がある。この
ようなシヨート疵の発生を検出する手段として
は、従来ではメツキ後の製品を目視で検査する以
外にはなかつた。
ツキ液噴流の圧力のバランスが悪い等の理由で鋼
板１０が上下にハンチングしたり、あるいは、鋼
板と鋼板をつなぐ溶接部分の形状が不良である等
の理由で電極と鋼板とのシヨートが発生する頻度
は年々増加する傾向にある。電極と鋼板とがシヨ
ートすると一時的に大量の電流が流れ、接触個所
が溶融して鋼板の表面にシヨート疵が発生する。
このシヨート疵には、単発的に発生するもの、鋼
板のハンチングにより連続的に発生するものがあ
り、結果、金属の破片がローラ１２，１６に付着
したために周期的に発生する押疵等がある。この
ようなシヨート疵の発生を検出する手段として
は、従来ではメツキ後の製品を目視で検査する以
外にはなかつた。
〔発明が解決しようとする課題〕
目視による検査では発見が遅れがちになるばか
りか、シヨート疵の原因になつたセルを見付け出
すことが困難である。そのため、シヨート疵のつ
いた製品が大量に出てしまい、歩留りが大幅に低
下するという問題があつた。
りか、シヨート疵の原因になつたセルを見付け出
すことが困難である。そのため、シヨート疵のつ
いた製品が大量に出てしまい、歩留りが大幅に低
下するという問題があつた。
したがつて本発明の目的は、電気メツキライン
におけるシヨート疵の発生をいち速く検出し、そ
して原因となつたメツキセルがいずれであるかも
直ちに判明するシヨート疵検出装置を提案するこ
とにある。
におけるシヨート疵の発生をいち速く検出し、そ
して原因となつたメツキセルがいずれであるかも
直ちに判明するシヨート疵検出装置を提案するこ
とにある。
第１図は本発明の電気メツキラインにおけるシ
ヨート疵検出装置の原理図である。図において、
鋼板１０の表面に電気メツキ処理を施すための電
気メツキラインは、直流電流源１６の一方の極に
接続された電極１４と他方の極に接続され鋼板１
０に接触する通電ロール１２とを具備している。
ヨート疵検出装置の原理図である。図において、
鋼板１０の表面に電気メツキ処理を施すための電
気メツキラインは、直流電流源１６の一方の極に
接続された電極１４と他方の極に接続され鋼板１
０に接触する通電ロール１２とを具備している。
本発明のシヨート疵検出装置の特徴は、電極１
４と通電ロール１２との間に流れる電流の量を検
出し、電流の量に応じた信号を出力する変流器、
シヤント等の電流検出手段５０と、信号を微分し
て微分値を出力する微分手段５２と、微分値が所
定の範囲内にあるか否かを判定する比較手段５４
と、比較手段５４の比較結果を保持してシヨート
疵検出信号を出力する状態保持手段５６とを具備
する点にある。
４と通電ロール１２との間に流れる電流の量を検
出し、電流の量に応じた信号を出力する変流器、
シヤント等の電流検出手段５０と、信号を微分し
て微分値を出力する微分手段５２と、微分値が所
定の範囲内にあるか否かを判定する比較手段５４
と、比較手段５４の比較結果を保持してシヨート
疵検出信号を出力する状態保持手段５６とを具備
する点にある。
シヨート疵が発生する時には流れる電流が急激
に変化する。この電流を電流検出手段５０で検出
し、微分手段５２で微分し、比較手段５４で所定
の値と比較すればこの急激な変化を検知すること
ができ、この状態を状態保持手段５６で保持すれ
ばシヨート疵が発生したことを表すシヨート疵検
出信号が得られる。このシヨート疵検出装置を各
セルの各電極に電流を供給するライン毎に設けれ
ばシヨート疵の原因となつた個所を直ちに判断す
ることができる。
に変化する。この電流を電流検出手段５０で検出
し、微分手段５２で微分し、比較手段５４で所定
の値と比較すればこの急激な変化を検知すること
ができ、この状態を状態保持手段５６で保持すれ
ばシヨート疵が発生したことを表すシヨート疵検
出信号が得られる。このシヨート疵検出装置を各
セルの各電極に電流を供給するライン毎に設けれ
ばシヨート疵の原因となつた個所を直ちに判断す
ることができる。
第２図は電流検出手段５０（第１図）の一例と
して変流器による場合の取り付け方法を表す図で
あり、変流器５０１以外は従来のメツキラインに
おける変圧整流回路の構成を表している。本図は
相数に関係なく１本の線で表す単線結線図（スケ
ルトン）で表されている。例えば3300ボルトの三
相交流を三相変圧器１６３において45ボルトに降
下して大電流（20000アンペア程度）のとり出し
を可能とし、コントローラ（図示せず）から点孤
が制御されるサイリスタ１６４によつて直流に変
換されて、＋側は上または下側の電極に供給され
−側は通電ロールへ供給される。
して変流器による場合の取り付け方法を表す図で
あり、変流器５０１以外は従来のメツキラインに
おける変圧整流回路の構成を表している。本図は
相数に関係なく１本の線で表す単線結線図（スケ
ルトン）で表されている。例えば3300ボルトの三
相交流を三相変圧器１６３において45ボルトに降
下して大電流（20000アンペア程度）のとり出し
を可能とし、コントローラ（図示せず）から点孤
が制御されるサイリスタ１６４によつて直流に変
換されて、＋側は上または下側の電極に供給され
−側は通電ロールへ供給される。
第２図例において、電流検出のための変流器５
０１は三相変圧器１６３の一次側に挿入される。
この場合、変圧器１６３の励磁電流までも検出し
てしまうので、その分、検出感度は劣る。
０１は三相変圧器１６３の一次側に挿入される。
この場合、変圧器１６３の励磁電流までも検出し
てしまうので、その分、検出感度は劣る。
第３図は電流検出手段５０（第１図）の第２の
例としてシヤント５０２による場合を表してい
る。シヤント５０２以外は第２図と同様である。
例としてシヤント５０２による場合を表してい
る。シヤント５０２以外は第２図と同様である。
第３図の例において、シヤント５０２による電
流検出はサイリスタ１６４で直流に変換された後
に行われる。この場合、第２図の例と異なり、変
圧器１６３の励磁電流の寄与は含まれないので検
出感度が高い。
流検出はサイリスタ１６４で直流に変換された後
に行われる。この場合、第２図の例と異なり、変
圧器１６３の励磁電流の寄与は含まれないので検
出感度が高い。
第４図は本発明に係るシヨート疵検出装置の一
実施例から第２図または第３図で示された電流検
出手段に相当する部分を除いた回路図である。
実施例から第２図または第３図で示された電流検
出手段に相当する部分を除いた回路図である。
演算増幅器IC１及びコンデンサＣ１、抵抗Ｒ
１で構成される微分回路は第１図の微分手段５２
を実現するものであり、単にＣとＲで構成される
ハイパスフイルタでも良いが、適切な定数を設定
するのが難しいので、このような演算増幅器を使
用した回路が望ましい。演算増幅器IC２、抵抗
Ｒ２，Ｒ３、及びダイオードＤ１で構成される回
路は信号を反転増幅すると共に検出器からの信号
の脈動による影響をダイオードＤ１で除去するた
めのものである。したがつて、検出器として、第
３図に表されたような変圧器の二次側に設けられ
たシヤントを採用するとすれば、この回路は不要
である。演算増幅器IC３，IC４、抵抗Ｒ４〜８、
及びダイオードＤ２，Ｄ３で構成される回路は微
分値の＋側及び−側のいずれの側も１つのコンパ
レータで比較することで検出するために、微分値
の絶対値を出力するものである。演算増幅器IC
５で構成される比較器は絶対値回路の出力電圧が
所定の値V0を越えた時、論理“０”信号を出力
する。したがつて、IC３，IC４を中心として構
成される絶対値回路とIC５による比較器とで第
１図の比較手段５４が実現される。比較手段５４
の構成として、絶対値回路を通さない構成でも良
い。すなわち、所定値V0との比較を行う比較器
と所定値−V0′との比較を行う比較器とを２段設
け、微分値がV0を超えるかあるいは−V0′を下回
る時に論理“０”信号を出力する構成としても良
い。NANDゲートIC６，IC７とで構成されるフ
リツプフロツプは第１図の状態保持手段５０を実
現するもので、IC４の出力が一瞬でも“０”と
なるとIC６の片側の入力が“０”となりその出
力には“１”が現れ、入力が“１”に戻つてもそ
の値が保持され、疵検出信号となる。SW１は初
期状態としてIC６の出力を“０”にリセツトす
るためのスイツチである。このようにフリツプフ
ロツプで構成する以外に、状態保持手段５０とし
ては、単安定マルチバイブレータで構成して所定
の時間だけ信号を出力する形としても良い。
１で構成される微分回路は第１図の微分手段５２
を実現するものであり、単にＣとＲで構成される
ハイパスフイルタでも良いが、適切な定数を設定
するのが難しいので、このような演算増幅器を使
用した回路が望ましい。演算増幅器IC２、抵抗
Ｒ２，Ｒ３、及びダイオードＤ１で構成される回
路は信号を反転増幅すると共に検出器からの信号
の脈動による影響をダイオードＤ１で除去するた
めのものである。したがつて、検出器として、第
３図に表されたような変圧器の二次側に設けられ
たシヤントを採用するとすれば、この回路は不要
である。演算増幅器IC３，IC４、抵抗Ｒ４〜８、
及びダイオードＤ２，Ｄ３で構成される回路は微
分値の＋側及び−側のいずれの側も１つのコンパ
レータで比較することで検出するために、微分値
の絶対値を出力するものである。演算増幅器IC
５で構成される比較器は絶対値回路の出力電圧が
所定の値V0を越えた時、論理“０”信号を出力
する。したがつて、IC３，IC４を中心として構
成される絶対値回路とIC５による比較器とで第
１図の比較手段５４が実現される。比較手段５４
の構成として、絶対値回路を通さない構成でも良
い。すなわち、所定値V0との比較を行う比較器
と所定値−V0′との比較を行う比較器とを２段設
け、微分値がV0を超えるかあるいは−V0′を下回
る時に論理“０”信号を出力する構成としても良
い。NANDゲートIC６，IC７とで構成されるフ
リツプフロツプは第１図の状態保持手段５０を実
現するもので、IC４の出力が一瞬でも“０”と
なるとIC６の片側の入力が“０”となりその出
力には“１”が現れ、入力が“１”に戻つてもそ
の値が保持され、疵検出信号となる。SW１は初
期状態としてIC６の出力を“０”にリセツトす
るためのスイツチである。このようにフリツプフ
ロツプで構成する以外に、状態保持手段５０とし
ては、単安定マルチバイブレータで構成して所定
の時間だけ信号を出力する形としても良い。
第５図は第４図の回路で観測された各部の信号
の波形であつて、第４図の回路の動作結果を表す
ものである。(A)〜(D)欄はそれぞれ第４図中Ａ〜Ｄ
点において観測された信号を表している。
の波形であつて、第４図の回路の動作結果を表す
ものである。(A)〜(D)欄はそれぞれ第４図中Ａ〜Ｄ
点において観測された信号を表している。
(A)欄の信号は検出器からの信号である。なお、
この信号は第２図のように変圧器の一次側に設け
られた変流器からの信号である。図中Ｘで表す時
点までは変流器の出力には規制的な脈動があるの
みであるが、Ｘ点においてシヨート疵が発生した
ために電流が急激に上昇し、その後、当該セルへ
の通電が停止されるので急激に下がり、０となつ
ている。(B)欄の信号は第４図のIC１の出力であ
るが、(A)欄の信号を微分し、正負を反転した信号
が現れている。(C)欄の信号はIC４の出力である。
(A)欄のＸで示す位置に鋭い信号が現れている。(D)
欄の信号はIC６の出力であり、シヨート疵検出
と同時にＬレベルからＨレベルへ変化し、それが
保持されている。
この信号は第２図のように変圧器の一次側に設け
られた変流器からの信号である。図中Ｘで表す時
点までは変流器の出力には規制的な脈動があるの
みであるが、Ｘ点においてシヨート疵が発生した
ために電流が急激に上昇し、その後、当該セルへ
の通電が停止されるので急激に下がり、０となつ
ている。(B)欄の信号は第４図のIC１の出力であ
るが、(A)欄の信号を微分し、正負を反転した信号
が現れている。(C)欄の信号はIC４の出力である。
(A)欄のＸで示す位置に鋭い信号が現れている。(D)
欄の信号はIC６の出力であり、シヨート疵検出
と同時にＬレベルからＨレベルへ変化し、それが
保持されている。
以上述べたように本発明によれば、シヨート疵
を発生したセルを早期に発見することが可能とな
り、さらにそれにより、自動的に当該セルへの通
電を停止するかあるいは電極を解放することによ
つてシヨート疵の発生量を最小限に抑えることが
可能になると同時に、電極の劣化あるいはロール
の疵摩耗を最小限に防止することができて、整備
費コスト削減への多大な寄与が期待できる。
を発生したセルを早期に発見することが可能とな
り、さらにそれにより、自動的に当該セルへの通
電を停止するかあるいは電極を解放することによ
つてシヨート疵の発生量を最小限に抑えることが
可能になると同時に、電極の劣化あるいはロール
の疵摩耗を最小限に防止することができて、整備
費コスト削減への多大な寄与が期待できる。
第１図は本発明の原理図、第２図は本発明に係
るシヨート疵検出装置における電流検出手段の第
１の例を表す図、第３図は本発明に係るシヨート
疵検出装置における電流検出手段の第２の例を表
す図、第４図は本発明に係るシヨート疵検出装置
の実施例を表す図、第５図は第４図の回路の動作
を表す図、第６図は代表的な電気メツキラインを
表す図。 図において、１０…鋼板、１２…通電ロール、
１４…電極、５０…電流検出手段、５４…比較手
段、５０１…変流器、５０２…シヤント。
るシヨート疵検出装置における電流検出手段の第
１の例を表す図、第３図は本発明に係るシヨート
疵検出装置における電流検出手段の第２の例を表
す図、第４図は本発明に係るシヨート疵検出装置
の実施例を表す図、第５図は第４図の回路の動作
を表す図、第６図は代表的な電気メツキラインを
表す図。 図において、１０…鋼板、１２…通電ロール、
１４…電極、５０…電流検出手段、５４…比較手
段、５０１…変流器、５０２…シヤント。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 鋼板１０の表面に電気メツキ処理を施すため
の電気メツキラインであつて、直流電流源１６の
一方の極に接続された電極１４と、他方の極に接
続され該鋼板１０に接触する通電ロール１２とを
具備する電気メツキラインにおけるシヨート疵の
発生を検出するシヨート疵検出装置において、 該電極１４と該通電ロール１２との間に流れる
電流の量を検出し、該電流の量に応じた信号を出
力する電流検出手段５０と、 該信号を微分して微分値を出力する微分手段５
２と、 該微分値が所定の範囲内にあるか否かを判定す
る比較手段５４と、 該比較手段５４の比較結果を保持して疵検出信
号を出力する状態保持手段５６とを具備すること
を特徴とする電気メツキラインにおけるシヨート
疵検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28679388A JPH02134553A (ja) | 1988-11-15 | 1988-11-15 | 電気メッキラインにおけるショート疵検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28679388A JPH02134553A (ja) | 1988-11-15 | 1988-11-15 | 電気メッキラインにおけるショート疵検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02134553A JPH02134553A (ja) | 1990-05-23 |
| JPH0543989B2 true JPH0543989B2 (ja) | 1993-07-05 |
Family
ID=17709113
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28679388A Granted JPH02134553A (ja) | 1988-11-15 | 1988-11-15 | 電気メッキラインにおけるショート疵検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02134553A (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2511192B2 (ja) * | 1990-11-27 | 1996-06-26 | 新日本製鐵株式会社 | ショ―ト疵検出装置 |
| DE102007053451B4 (de) | 2007-11-07 | 2011-12-01 | Thyssenkrupp Steel Europe Ag | Verfahren und Vorrichtung zur Detektierung von Bandanschlägen |
| JPWO2016185711A1 (ja) | 2015-05-21 | 2018-03-15 | 日本電気株式会社 | 蓄電池監視装置 |
| JP7416020B2 (ja) * | 2021-06-16 | 2024-01-17 | Ｊｆｅスチール株式会社 | スパーク検出装置及びスパーク検出方法 |
-
1988
- 1988-11-15 JP JP28679388A patent/JPH02134553A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02134553A (ja) | 1990-05-23 |
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