JPH0544847B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0544847B2 JPH0544847B2 JP59051275A JP5127584A JPH0544847B2 JP H0544847 B2 JPH0544847 B2 JP H0544847B2 JP 59051275 A JP59051275 A JP 59051275A JP 5127584 A JP5127584 A JP 5127584A JP H0544847 B2 JPH0544847 B2 JP H0544847B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- transistors
- pair
- mos transistor
- current
- transistor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F3/00—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
- H03F3/45—Differential amplifiers
- H03F3/45071—Differential amplifiers with semiconductor devices only
- H03F3/45479—Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of common mode signal rejection
- H03F3/45484—Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of common mode signal rejection in differential amplifiers with bipolar transistors as the active amplifying circuit
- H03F3/45547—Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of common mode signal rejection in differential amplifiers with bipolar transistors as the active amplifying circuit by using feedforward means
- H03F3/45551—Measuring at the input circuit of the differential amplifier
- H03F3/4556—Controlling the common emitter circuit of the differential amplifier
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F2203/00—Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
- H03F2203/45—Indexing scheme relating to differential amplifiers
- H03F2203/45408—Indexing scheme relating to differential amplifiers the CMCL comprising a short circuited differential output of a dif amp as an addition circuit
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F2203/00—Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
- H03F2203/45—Indexing scheme relating to differential amplifiers
- H03F2203/45424—Indexing scheme relating to differential amplifiers the CMCL comprising a comparator circuit
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Amplifiers (AREA)
- Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Bipolar Integrated Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
発明の関連する技術分野
本発明は、バイポーラ動作特性を持つたトラン
ジスタから構成された差動増幅器に関する。この
差動増幅器は標準コンプリメンタリMOS
(CMOS)技術とコンパチブルである。
ジスタから構成された差動増幅器に関する。この
差動増幅器は標準コンプリメンタリMOS
(CMOS)技術とコンパチブルである。
技術水準
集積電子回路が今日のように発達したことによ
つて、アナログ機能とデジタル機能とを同じ回路
で達成することに比較的関心がもたれている。バ
イポーラ技術は純アナログ回路に適しており、
MOS技術は回路のデジタル部分が重要である場
合に適している。バイポーラ技術とMOS技術の
利点を組合せる試みが何度もなされているが、こ
れらの試みは既存の製造過程の変更を必要とし、
またはこれらの試みによるとデバイスの適用範囲
が非常に限られることになる。バイポーラおよび
MOSデバイスを統合するように変更した製造過
程の実例としては、M.ダーウイツシユとR.タウ
ベネスト著の「CMOS・アンド・コンプリメン
タリ・アイソレイテツド・バイポーラ・トランジ
スタ・モノリシツク・インテグレイシヨン・プロ
セス」ジヤーナル・オブ・ジイ・エレクトロケミ
カル・ソサエテイ、Vol121、No.8、1984年8月
の記事、およびオツト・H・シヤーデ・Jnr.著の
「バイモス・マイクロパワーIC」IEEEジヤーナ
ル・オブ・ソリツド・ステート・サーキツト、
Vol SC−13、No.6、1978年12月の記事を参照さ
れたい。製造過程の変更は、実際には、コストを
増大させ、かつ回路素子の製造能力を低減させる
ような補完的な製造段階を要する。
つて、アナログ機能とデジタル機能とを同じ回路
で達成することに比較的関心がもたれている。バ
イポーラ技術は純アナログ回路に適しており、
MOS技術は回路のデジタル部分が重要である場
合に適している。バイポーラ技術とMOS技術の
利点を組合せる試みが何度もなされているが、こ
れらの試みは既存の製造過程の変更を必要とし、
またはこれらの試みによるとデバイスの適用範囲
が非常に限られることになる。バイポーラおよび
MOSデバイスを統合するように変更した製造過
程の実例としては、M.ダーウイツシユとR.タウ
ベネスト著の「CMOS・アンド・コンプリメン
タリ・アイソレイテツド・バイポーラ・トランジ
スタ・モノリシツク・インテグレイシヨン・プロ
セス」ジヤーナル・オブ・ジイ・エレクトロケミ
カル・ソサエテイ、Vol121、No.8、1984年8月
の記事、およびオツト・H・シヤーデ・Jnr.著の
「バイモス・マイクロパワーIC」IEEEジヤーナ
ル・オブ・ソリツド・ステート・サーキツト、
Vol SC−13、No.6、1978年12月の記事を参照さ
れたい。製造過程の変更は、実際には、コストを
増大させ、かつ回路素子の製造能力を低減させる
ような補完的な製造段階を要する。
MOS技術で製作できるバイポーラデバイスは、
特にYannis P Tsividis et al著の「ア・
CMOS・ボルテージ・リフアレンス」IEEEジヤ
ーナル・オブ・ソリツド・ステート・サーキツ
ツ、Vol SC−13、No.6、1978年12月のの論文、
およびEric A Vittoz et al著の「ア・ロウ・
ボルテージ・CMOS・バンド・ギヤツプ・リフ
アレンス」同Vol SC−14、No.3、1979年6月の
論文において既に提案されている。これらの論文
に記載され、しばしば「MOSサブストレートト
ランジスタ」と呼ばれるデバイスは、第1図に示
されている。n形のサブストレート1にp形凹入
拡散領域2が形成されている。p凹入拡散領域2
内のn+拡散領域4は、エミツタとして用いる電
極に接続されており、凹入拡散領域2内のp+領
域3はベース電極Bに接続されており、n-サブ
ストレート1内のn+領域5はコレクタ電極Cに
接続されている。このように形成されたバイポー
ラトランジスタのコレクタCはサブストレートの
電位におかれ、サブストレートは電源の正電圧に
印加接続されている。そのようなデバイスの適用
範囲は限られている。
特にYannis P Tsividis et al著の「ア・
CMOS・ボルテージ・リフアレンス」IEEEジヤ
ーナル・オブ・ソリツド・ステート・サーキツ
ツ、Vol SC−13、No.6、1978年12月のの論文、
およびEric A Vittoz et al著の「ア・ロウ・
ボルテージ・CMOS・バンド・ギヤツプ・リフ
アレンス」同Vol SC−14、No.3、1979年6月の
論文において既に提案されている。これらの論文
に記載され、しばしば「MOSサブストレートト
ランジスタ」と呼ばれるデバイスは、第1図に示
されている。n形のサブストレート1にp形凹入
拡散領域2が形成されている。p凹入拡散領域2
内のn+拡散領域4は、エミツタとして用いる電
極に接続されており、凹入拡散領域2内のp+領
域3はベース電極Bに接続されており、n-サブ
ストレート1内のn+領域5はコレクタ電極Cに
接続されている。このように形成されたバイポー
ラトランジスタのコレクタCはサブストレートの
電位におかれ、サブストレートは電源の正電圧に
印加接続されている。そのようなデバイスの適用
範囲は限られている。
標準的なMOS技術と完全にコンパチブルであ
り、かつ第1図のMOSサブストレートトランジ
スタのような適用上の制限がないバイポーラトラ
ンジスタの特性を持つたデバイスの別の実施例が
第2図に示されている。p形の凹入拡散領域11
は、例えば拡散によつてn形のサブストレート1
0に作られている。p形凹入拡散領域11はp+
形の拡散領域12を介してベース電極Bに接続さ
れておりn+形の拡散領域13はコレクタ電極C
に接続され、n+形の拡散領域14はエミツタ電
極Eに接続されている。金属またはドーピングし
た多結晶シリコンのゲート16は、2つの拡散領
域13,14間の領域上の絶縁酸化物15上方に
設けられて、ゲート電極Gに接続されている。サ
ブストレート10は、n+形の拡散領域17を介
して電極Sに接続されている。この構造は、この
ようにして形成されたトランジスタがラテラル構
造を有している点で第1図の構造とは異なつてい
る。ゲート電極Gは、拡散領域13,14間の領
域の導電形の反転を阻止するのに充分な負の程度
の電位におかれている。例えば、この領域に注入
されたp形不純物によつて、拡散領域13,14
間の領域にチヤンネルの形成を阻止しうる場合に
限つてゲート16を省くことができる。凹入拡散
領域11とサブストレート10とp−nの接合部
は、逆方向にバイアスされている。n+pエミツタ
接合部が順方向にバイアスされている場合、電子
は凹入拡散領域11(ベース電極Bに接続されて
いる)の中に放出され、電流の相当部分はコレク
タC(n+pコレクタ接合部は逆方向にバイアスさ
れている)に流れる。それ故、このバイポーラト
ランジスタに対しては電流増幅率α=−IC/IEを
定めることができる。その際、IEエミツタ電流を
示し、ICはコレクタ電流を示す。αは常に1より
小さい。他方、β電流増幅率β=IC/IBは、非常
に高い値となり、それにより、このデバイスは実
際に充分有用なものとなる。このデバイスは所定
の使用例において通常のバイポーラトランジスタ
の代りに申し分なく使うことができるけれども、
α電流利得の値が低く且制御特性が悪いため従来
の設計のバイポーラ回路を使うことができない他
の使用例もある。使用例の一例をあげると、特に
その種のデバイスを集積化した差動増幅器に使い
たい場合がある。
り、かつ第1図のMOSサブストレートトランジ
スタのような適用上の制限がないバイポーラトラ
ンジスタの特性を持つたデバイスの別の実施例が
第2図に示されている。p形の凹入拡散領域11
は、例えば拡散によつてn形のサブストレート1
0に作られている。p形凹入拡散領域11はp+
形の拡散領域12を介してベース電極Bに接続さ
れておりn+形の拡散領域13はコレクタ電極C
に接続され、n+形の拡散領域14はエミツタ電
極Eに接続されている。金属またはドーピングし
た多結晶シリコンのゲート16は、2つの拡散領
域13,14間の領域上の絶縁酸化物15上方に
設けられて、ゲート電極Gに接続されている。サ
ブストレート10は、n+形の拡散領域17を介
して電極Sに接続されている。この構造は、この
ようにして形成されたトランジスタがラテラル構
造を有している点で第1図の構造とは異なつてい
る。ゲート電極Gは、拡散領域13,14間の領
域の導電形の反転を阻止するのに充分な負の程度
の電位におかれている。例えば、この領域に注入
されたp形不純物によつて、拡散領域13,14
間の領域にチヤンネルの形成を阻止しうる場合に
限つてゲート16を省くことができる。凹入拡散
領域11とサブストレート10とp−nの接合部
は、逆方向にバイアスされている。n+pエミツタ
接合部が順方向にバイアスされている場合、電子
は凹入拡散領域11(ベース電極Bに接続されて
いる)の中に放出され、電流の相当部分はコレク
タC(n+pコレクタ接合部は逆方向にバイアスさ
れている)に流れる。それ故、このバイポーラト
ランジスタに対しては電流増幅率α=−IC/IEを
定めることができる。その際、IEエミツタ電流を
示し、ICはコレクタ電流を示す。αは常に1より
小さい。他方、β電流増幅率β=IC/IBは、非常
に高い値となり、それにより、このデバイスは実
際に充分有用なものとなる。このデバイスは所定
の使用例において通常のバイポーラトランジスタ
の代りに申し分なく使うことができるけれども、
α電流利得の値が低く且制御特性が悪いため従来
の設計のバイポーラ回路を使うことができない他
の使用例もある。使用例の一例をあげると、特に
その種のデバイスを集積化した差動増幅器に使い
たい場合がある。
差動増幅器とは、エミツタが電流源に接続さ
れ、かつコレクタ電流が、トランジスタのベース
に供給される信号によつて決められるトランジス
タの対(所謂デイフアレンシアル・ペア)を含む
回路のことである。その種の回路は、一般に2つ
の信号間の差を増幅するために使われており、こ
の場合出力量は電圧である。また回路は所謂「カ
レントスイツチ」として作動するように構成で
き、この場合、出力量を電流にすることができ
る。
れ、かつコレクタ電流が、トランジスタのベース
に供給される信号によつて決められるトランジス
タの対(所謂デイフアレンシアル・ペア)を含む
回路のことである。その種の回路は、一般に2つ
の信号間の差を増幅するために使われており、こ
の場合出力量は電圧である。また回路は所謂「カ
レントスイツチ」として作動するように構成で
き、この場合、出力量を電流にすることができ
る。
発明の目的
本発明の1つの課題は、電流増幅率αが低く且
つ定まりの悪いバイポーラデバイスを用いて製作
することができる差動増幅器を提供することにあ
る。本発明の他の課題は、標準CMOS技術と完
全にコンパチブルである差動増幅器を提供するこ
とにある。
つ定まりの悪いバイポーラデバイスを用いて製作
することができる差動増幅器を提供することにあ
る。本発明の他の課題は、標準CMOS技術と完
全にコンパチブルである差動増幅器を提供するこ
とにある。
発明の構成
本発明によると、この課題は、バイポーラ動作
特性を持つた第1の対のトランジスタを設け、第
1の対のトランジスタの各エミツタを相互に接続
し、第1の対のトランジスタの各コレクタを各負
荷要素に接続し、第1の対のトランジスタの少な
くとも一方のベースが差動増幅器の入力側を構成
しており、第1の対のトランジスタと実質的に同
一の別のトランジスタの第2の対を設け、第2の
対のトランジスタの各エミツタを第1の対のトラ
ンジスタの各エミツタと接続し、第2の対のトラ
ンジスタの各ベースを第1の対のトランジスタの
各ベースとそれぞれ接続し、第2の対のトランジ
スタの各コレクタ回路に第1の電流源によつて給
電し、第2の対のトランジスタの各コレクタ回路
と、第1および第2の対のトランジスタの各エミ
ツタに共通な回路点との間に制御回路を設け、こ
の制御回路によつて、第1の電流源によつて第2
の対のトランジスタの各コレクタ回路に給電され
る電流に等しい第1の対のトランジスタの各コレ
クタ電流の和を維持するように構成し、制御回路
をトランスコンダクタンスないし可変コンダクタ
ンス増幅器によつて構成し、該増幅器は、その入
力側に印加される第2の対のトランジスタの各コ
レクタ回路に共通な回路点の電圧に従つて増大す
る電流を給電することにより解決される。
特性を持つた第1の対のトランジスタを設け、第
1の対のトランジスタの各エミツタを相互に接続
し、第1の対のトランジスタの各コレクタを各負
荷要素に接続し、第1の対のトランジスタの少な
くとも一方のベースが差動増幅器の入力側を構成
しており、第1の対のトランジスタと実質的に同
一の別のトランジスタの第2の対を設け、第2の
対のトランジスタの各エミツタを第1の対のトラ
ンジスタの各エミツタと接続し、第2の対のトラ
ンジスタの各ベースを第1の対のトランジスタの
各ベースとそれぞれ接続し、第2の対のトランジ
スタの各コレクタ回路に第1の電流源によつて給
電し、第2の対のトランジスタの各コレクタ回路
と、第1および第2の対のトランジスタの各エミ
ツタに共通な回路点との間に制御回路を設け、こ
の制御回路によつて、第1の電流源によつて第2
の対のトランジスタの各コレクタ回路に給電され
る電流に等しい第1の対のトランジスタの各コレ
クタ電流の和を維持するように構成し、制御回路
をトランスコンダクタンスないし可変コンダクタ
ンス増幅器によつて構成し、該増幅器は、その入
力側に印加される第2の対のトランジスタの各コ
レクタ回路に共通な回路点の電圧に従つて増大す
る電流を給電することにより解決される。
実施例の説明
第3図は、本発明の実施例の差動増幅器の回路
略図を示す。第3図に示した差動増幅器は、npn
形の2つのバイポーラトランジスタT1,T2を
有している。バイポーラトランジスタT1,T2
のエミツタは相互に接続されており、コレクタは
それぞれ負荷RLを介して給電電圧源端子VCCに接
続されており、トランジスタT1のベースは入力
端子E+と接続され、トランジスタT2のベース
は入力端子E-と接続されている。トランジスタ
T2のコレクタは、出力端子SOに接続されてい
る。回路が通常のバイポーラ技術で作られている
場合、エミツタ電流の和は、エミツタと直列に接
続された電流源によつて固定されている。各トラ
ンジスタの電流増幅率αは極めて1に近いので、
コレクタ電流の和も同様に一定であり、決まつた
値をとる。しかし、バイポーラトランジスタが、
第2図のトランジスタの様にMOS技術で作られ
ている場合、電流増幅率αは1よりかなり小さい
だけでなく、各ウエフア毎になつている。それ
故、この場合、通常の回路の場合と同じバイアス
法を使うことはできない。
略図を示す。第3図に示した差動増幅器は、npn
形の2つのバイポーラトランジスタT1,T2を
有している。バイポーラトランジスタT1,T2
のエミツタは相互に接続されており、コレクタは
それぞれ負荷RLを介して給電電圧源端子VCCに接
続されており、トランジスタT1のベースは入力
端子E+と接続され、トランジスタT2のベース
は入力端子E-と接続されている。トランジスタ
T2のコレクタは、出力端子SOに接続されてい
る。回路が通常のバイポーラ技術で作られている
場合、エミツタ電流の和は、エミツタと直列に接
続された電流源によつて固定されている。各トラ
ンジスタの電流増幅率αは極めて1に近いので、
コレクタ電流の和も同様に一定であり、決まつた
値をとる。しかし、バイポーラトランジスタが、
第2図のトランジスタの様にMOS技術で作られ
ている場合、電流増幅率αは1よりかなり小さい
だけでなく、各ウエフア毎になつている。それ
故、この場合、通常の回路の場合と同じバイアス
法を使うことはできない。
従つて、本発明によると、2つのトランジスタ
T1,T2からなる第1のトランジスタ対と実質
的に同一の別の2つのトランジスタT3,T4と
共働させることが提案されている。トランジスタ
T3,T4の各ベース電極およびエミツタ電極は
トランジスタT1,T2のベース電極およびエミ
ツタ電極に対応して接続されている。トランジス
タT3,T4のコレクタは相互に接続されてお
り、電流IOを供給する電流源GOによつて給電さ
れている。トランジスタT3,T4のコレクタの
共通接続点は接続線20を介してトランスコンダ
クタンス増幅器Aの入力側に接続されている。こ
の増幅器Aはその出力側に電流Iが流れるように
する。この電流Iは増幅器Aの入力側に印加され
る電圧Vに従つて増加する。増幅器Aの出力電流
Iは、接続線30に流入するトランジスタT1〜
T4の各エミツタ電流の和を表わす。この回路装
置が適切に設計され、かつトランジスタT1〜T
4のコレクタ−エミツタ電圧が10分の数ボルトよ
り高ければ回路装置の次のような平衡点Pを有し
ている。その平衡点Pでは、IC1+IC2=IC3
4=IOであり、平衡点の電流はI=2IOαに相
当している。この平衡点では、増幅器Aの入力側
の電圧Vは値VOをとる。
T1,T2からなる第1のトランジスタ対と実質
的に同一の別の2つのトランジスタT3,T4と
共働させることが提案されている。トランジスタ
T3,T4の各ベース電極およびエミツタ電極は
トランジスタT1,T2のベース電極およびエミ
ツタ電極に対応して接続されている。トランジス
タT3,T4のコレクタは相互に接続されてお
り、電流IOを供給する電流源GOによつて給電さ
れている。トランジスタT3,T4のコレクタの
共通接続点は接続線20を介してトランスコンダ
クタンス増幅器Aの入力側に接続されている。こ
の増幅器Aはその出力側に電流Iが流れるように
する。この電流Iは増幅器Aの入力側に印加され
る電圧Vに従つて増加する。増幅器Aの出力電流
Iは、接続線30に流入するトランジスタT1〜
T4の各エミツタ電流の和を表わす。この回路装
置が適切に設計され、かつトランジスタT1〜T
4のコレクタ−エミツタ電圧が10分の数ボルトよ
り高ければ回路装置の次のような平衡点Pを有し
ている。その平衡点Pでは、IC1+IC2=IC3
4=IOであり、平衡点の電流はI=2IOαに相
当している。この平衡点では、増幅器Aの入力側
の電圧Vは値VOをとる。
第3図のトランジスタT1〜T4は普通のバイ
ポーラトランジスタとして示されているけれど
も、第3図の回路装置は、特に第2図に示したト
ランジスタのように、電流増幅率αがよくないト
ランジスタの場合に一層適していることが明らか
である。第2図に示されているようなトランジス
タを使用する場合、このトランジスタはゲート電
極(第2図の端子G)とサブストレート(第2図
の端子S)に接続された電極とを含んでいる。ト
ランジスタT1〜T4のそれぞれに対して、ゲー
トによつて被われた領域の導電形が反転しないよ
うにするために、ゲート電極の電位をエミツタに
対して十分負にする必要がある。実際には、この
ゲート電極は回路の負の給電端子(第3図の端子
O)に接続することができる。サブストレートに
接続した電極は、トランジスタT1〜T4のそれ
ぞれに対して、凹入拡散領域11とサブストレー
ト10との接合部(第2図)が逆バイアスされる
ような電位にしなければならない。実際には、サ
ブストレートは回路の正の給電端子VCCに接続す
ることができる。トランジスタT1,T2のコレ
クタに直列接続された負荷抵抗RLは、ダイオー
ドのように接続されたMOSトランジスタによつ
て、またはその他の等価的技術手段によつて実現
することができる。特に、これらの負荷素子は、
トランジスタT1,T2のコレクタに所定の電流
を供給する能動回路によつて構成してもよい。注
目すべき点は同じ対のトランジスタ(T1とT3
ないしT2とT4)の各ベースは相互に接続され
ているので、これらのトランジスタは同じ凹入拡
散領域11に製造することができることである。
ポーラトランジスタとして示されているけれど
も、第3図の回路装置は、特に第2図に示したト
ランジスタのように、電流増幅率αがよくないト
ランジスタの場合に一層適していることが明らか
である。第2図に示されているようなトランジス
タを使用する場合、このトランジスタはゲート電
極(第2図の端子G)とサブストレート(第2図
の端子S)に接続された電極とを含んでいる。ト
ランジスタT1〜T4のそれぞれに対して、ゲー
トによつて被われた領域の導電形が反転しないよ
うにするために、ゲート電極の電位をエミツタに
対して十分負にする必要がある。実際には、この
ゲート電極は回路の負の給電端子(第3図の端子
O)に接続することができる。サブストレートに
接続した電極は、トランジスタT1〜T4のそれ
ぞれに対して、凹入拡散領域11とサブストレー
ト10との接合部(第2図)が逆バイアスされる
ような電位にしなければならない。実際には、サ
ブストレートは回路の正の給電端子VCCに接続す
ることができる。トランジスタT1,T2のコレ
クタに直列接続された負荷抵抗RLは、ダイオー
ドのように接続されたMOSトランジスタによつ
て、またはその他の等価的技術手段によつて実現
することができる。特に、これらの負荷素子は、
トランジスタT1,T2のコレクタに所定の電流
を供給する能動回路によつて構成してもよい。注
目すべき点は同じ対のトランジスタ(T1とT3
ないしT2とT4)の各ベースは相互に接続され
ているので、これらのトランジスタは同じ凹入拡
散領域11に製造することができることである。
第4a図は、第3図の増幅器Aの実施例を示
し、第4b図は、第4a図の回路の特性曲線を示
す。第4a図の増幅器Aは、回路の給電端子間に
設けられた電流源Gpと直列に接続されたpチヤ
ネル型MOSトランジスタT5を有している。接
続線20を介してトランジスタT3,T4(第3
図)の各コレクタと接続されたMOSトランジス
タT5のゲートには、電位Vが加わる。接続線3
0に流れる増幅器の出力電流Iは、I=Ip−ID5
である。但し、Ipは電流源Gpによつて供給され
る電流であり、ID5はMOSトランジスタT5の
ドレイン電流である。増幅器Aの入力電圧Vの関
数としての出力電流Iの変化が、第4b図に示さ
れている。電流Ipが2IO/αより高い場合、回路は 値2IO/αに等しい出力電流の値のとき、平衡す る。その際、入力電圧VはVOである。電流Ipの
値の条件を満すために、例えば2/αの最大値より
大きな比のカーレントミラーによつて、この出力
電流を電流IOの制御下におくことができること
は明らかである。
し、第4b図は、第4a図の回路の特性曲線を示
す。第4a図の増幅器Aは、回路の給電端子間に
設けられた電流源Gpと直列に接続されたpチヤ
ネル型MOSトランジスタT5を有している。接
続線20を介してトランジスタT3,T4(第3
図)の各コレクタと接続されたMOSトランジス
タT5のゲートには、電位Vが加わる。接続線3
0に流れる増幅器の出力電流Iは、I=Ip−ID5
である。但し、Ipは電流源Gpによつて供給され
る電流であり、ID5はMOSトランジスタT5の
ドレイン電流である。増幅器Aの入力電圧Vの関
数としての出力電流Iの変化が、第4b図に示さ
れている。電流Ipが2IO/αより高い場合、回路は 値2IO/αに等しい出力電流の値のとき、平衡す る。その際、入力電圧VはVOである。電流Ipの
値の条件を満すために、例えば2/αの最大値より
大きな比のカーレントミラーによつて、この出力
電流を電流IOの制御下におくことができること
は明らかである。
第5a図は、増幅器Aの別の実施例を示し、第
5b図は、第5a図の回路の特性曲線を示す。第
5a図の増幅器Aは、nチヤンネル形MOSトラ
ンジスタT5を含んでいる。このMOSトランジ
スタT5のソースは、給電端子Oに対して電位
Vpにされている。MOSトランジスタT5のドレ
イン電流ID5は、2つのカーレントミラーを介
して出力電流Iに変換されている。第1のカーレ
ントミラーはpチヤンネル形MOSトランジスタ
T6,T7から構成され、第2のカーレントミラ
ーはnチヤンネル形MOSトランジスタT8,T
9から構成されている。第5b図は、トランジス
タT5のゲート電圧Vの関数として増幅器Aの出
力電流Iの変化を示す。座標VOと2IO/αとの交 点Pは、回路の平衡点に相応する。電圧Vpは、
10分の数ボルトより大きな、トランジスタT3,
T4のコレクタ−エミツタ電圧を確保するのに充
分な高さでなければならない。
5b図は、第5a図の回路の特性曲線を示す。第
5a図の増幅器Aは、nチヤンネル形MOSトラ
ンジスタT5を含んでいる。このMOSトランジ
スタT5のソースは、給電端子Oに対して電位
Vpにされている。MOSトランジスタT5のドレ
イン電流ID5は、2つのカーレントミラーを介
して出力電流Iに変換されている。第1のカーレ
ントミラーはpチヤンネル形MOSトランジスタ
T6,T7から構成され、第2のカーレントミラ
ーはnチヤンネル形MOSトランジスタT8,T
9から構成されている。第5b図は、トランジス
タT5のゲート電圧Vの関数として増幅器Aの出
力電流Iの変化を示す。座標VOと2IO/αとの交 点Pは、回路の平衡点に相応する。電圧Vpは、
10分の数ボルトより大きな、トランジスタT3,
T4のコレクタ−エミツタ電圧を確保するのに充
分な高さでなければならない。
第6図は、MOSトランジスタT5の電圧源を、
差動増幅器の入力端子E-(第3図)に印加される
入力電圧のレベルで制御する手段を示す。入力端
子E-は、pチヤンネル形MOSトランジスタT1
0のゲートに接続されている。このMOSトラン
ジスタT10のドレインは、回路の端子Oに接続
されており、ソースはMOSトランジスタT5の
ソースと接続されている。このようにして、
MOSトランジスタT5のソースの、端子Oに対
する電圧Vpは、差動増幅器の入力電圧によつて
制御できる。
差動増幅器の入力端子E-(第3図)に印加される
入力電圧のレベルで制御する手段を示す。入力端
子E-は、pチヤンネル形MOSトランジスタT1
0のゲートに接続されている。このMOSトラン
ジスタT10のドレインは、回路の端子Oに接続
されており、ソースはMOSトランジスタT5の
ソースと接続されている。このようにして、
MOSトランジスタT5のソースの、端子Oに対
する電圧Vpは、差動増幅器の入力電圧によつて
制御できる。
第7a図は、増幅器Aの別の実施例を示し、第
7b図は、第7a図の回路の特性曲線を示す。第
7a図の増幅器Aは、nチヤンネル形MOSトラ
ンジスタT5を含んでいる。このMOSトランジ
スタT5はコモンドレインモードで作動され、ト
ランジスタT11,T12によつて構成されたカ
ーレントミラーによつて負荷される。MOSトラ
ンジスタT5のゲートの入力電圧Vは、電流I/K
が流れているトランジスタT11,T5のゲート
−ソース電圧の和に等しい。但し、Kはトランジ
スタT11,T12によつて構成されたカーレン
トミラーの各電流の比である。出力電流Iが2
IO/αに等しい(第7b図)場合の平衡電圧VOは、 MOSトランジスタT5とT11との間に付加し
た1つまたは複数の、電圧降下を生じさせる素子
によつて増大させることができる。この素子は、
例えばダイオードのように接続したトランジスタ
T13,T14であり、第7a図に破線で示され
ている。
7b図は、第7a図の回路の特性曲線を示す。第
7a図の増幅器Aは、nチヤンネル形MOSトラ
ンジスタT5を含んでいる。このMOSトランジ
スタT5はコモンドレインモードで作動され、ト
ランジスタT11,T12によつて構成されたカ
ーレントミラーによつて負荷される。MOSトラ
ンジスタT5のゲートの入力電圧Vは、電流I/K
が流れているトランジスタT11,T5のゲート
−ソース電圧の和に等しい。但し、Kはトランジ
スタT11,T12によつて構成されたカーレン
トミラーの各電流の比である。出力電流Iが2
IO/αに等しい(第7b図)場合の平衡電圧VOは、 MOSトランジスタT5とT11との間に付加し
た1つまたは複数の、電圧降下を生じさせる素子
によつて増大させることができる。この素子は、
例えばダイオードのように接続したトランジスタ
T13,T14であり、第7a図に破線で示され
ている。
本発明は、特別な実施例に限つて記載されてい
るが、前述の実施例に制限されず、特許請求の範
囲を逸脱しない限りで変更ないし変形することが
できることは明らかである。実際には、p形サブ
ストレートおよびn形凹入拡散領域を使つた
MOS技術の場合にも同様に本発明の装置を構成
することができることは明らかである。更に、第
2図に示した特別なバイポーラデバイスと接続さ
れる異なつた実施例が記載されているが、本発明
は一般にどのようなバイポーラデバイスにも使用
でき、特に電流増幅率が低くて十分に制御できな
い場合に使用できることは容易にわかる。
るが、前述の実施例に制限されず、特許請求の範
囲を逸脱しない限りで変更ないし変形することが
できることは明らかである。実際には、p形サブ
ストレートおよびn形凹入拡散領域を使つた
MOS技術の場合にも同様に本発明の装置を構成
することができることは明らかである。更に、第
2図に示した特別なバイポーラデバイスと接続さ
れる異なつた実施例が記載されているが、本発明
は一般にどのようなバイポーラデバイスにも使用
でき、特に電流増幅率が低くて十分に制御できな
い場合に使用できることは容易にわかる。
第1図は、公知バイポーラMOSサブストレー
トトランジスタの構造図、第2図は、MOS形技
術によつて製造した別のバイポーラトランジスタ
の構造図、第3図は、本発明の実施例の差動増幅
器の略図、第4a図は、第3図の増幅器Aの実施
例を示す図、第4b図は第4a図の特性曲線図、
第5a図、第7a図は、第3図の増幅器Aの別の
実施例を示す図、第5b図は第5a図の特性曲線
図、第7b図は第7a図の特性曲線図、第6図
は、第5a図の回路の変形実施例を示す図であ
る。 1,10……サブストレート、2,11……凹
入拡散領域、GO,Gp……電流源、A……増幅
器、Vp……電圧源。
トトランジスタの構造図、第2図は、MOS形技
術によつて製造した別のバイポーラトランジスタ
の構造図、第3図は、本発明の実施例の差動増幅
器の略図、第4a図は、第3図の増幅器Aの実施
例を示す図、第4b図は第4a図の特性曲線図、
第5a図、第7a図は、第3図の増幅器Aの別の
実施例を示す図、第5b図は第5a図の特性曲線
図、第7b図は第7a図の特性曲線図、第6図
は、第5a図の回路の変形実施例を示す図であ
る。 1,10……サブストレート、2,11……凹
入拡散領域、GO,Gp……電流源、A……増幅
器、Vp……電圧源。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 バイポーラ動作特性を持つた第1の対のトラ
ンジスタを設け、第1の対のトランジスタの各エ
ミツタを相互に接続し、第1の対のトランジスタ
のコレクタを負荷要素に接続し、第1の対のトラ
ンジスタの少なくとも一方のベースが差動増幅器
の入力側を構成しており、第1の対のトランジス
タと実質的に同一の別のトランジスタの第2の対
を設け、第2の対のトランジスタのエミツタを第
1の対のトランジスタのエミツタと接続し、第2
の対のトランジスタの各ベースを第1の対のトラ
ンジスタの各ベースとそれぞれ接続し、第2の対
のトランジスタの各コレクタ回路に第1の電流源
によつて給電し、第2の対のトランジスタのコレ
クタ回路と、前記第1および第2の対のトランジ
スタの各エミツタに共通な回路点との間に制御回
路を設け、該制御回路によつて、第1の電流源に
よつて給電される電流に等しい第1の対のトラン
ジスタの各コレクタ電流の和を維持するように構
成し、前記制御回路をトランスコンダクタンスな
いし可変コンダクタンス増幅器によつて構成し、
該増幅器は、その入力側に印加される第2の対の
トランジスタの各コレクタ回路に共通な回路点の
電圧に従つて増大する電流を給電することを特徴
とする差動増幅器。 2 トランスコンダクタンス増幅器は第1の
MOSトランジスタを含み、該MOSトランジスタ
のゲートを第2の対のトランジスタの各コレクタ
回路に共通な回路点に接続し、前記MOSトラン
ジスタのソースを差動増幅器の第1の電源端子に
接続し、前記MOSトランジスタのドレインを第
1と第2の対のトランジスタの各エミツタに共通
な回路点に接続し、第2の電流源を前記第1の
MOSトランジスタのドレインと第2の電源端子
との間に接続し、第2の電流源によつて給電され
る電流を2IO/αより大きくし、その際、IOは第1 の電流源によつて給電される電流、αは第1と第
2の対の各トランジスタのコレクタ電流とエミツ
タ電流との比である特許請求の範囲第1項記載の
差動増幅器。 3 トランスコンダクタンス増幅器は第1の
MOSトランジスタを含み、該MOSトランジスタ
のゲートを第2の対のトランジスタの各コレクタ
回路に共通な回路点に接続し、前記MOSトラン
ジスタのソースを電圧源に接続し、前記MOSト
ランジスタのドレインを2つのカーレントミラー
を介して第1と第2の対のトランジスタの各エミ
ツタに共通な回路点に接続した特許請求の範囲第
1項記載の差動増幅器。 4 電圧源を、第1のMOSトランジスタの導電
形とは反対の導電形の第2のMOSトランジスタ
によつて構成し、該第2のMOSトランジスタの
ソースを第1のMOSトランジスタのソースに接
続し、第2のMOSトランジスタのドレインを電
源端子と接続し、第2のMOSトランジスタのゲ
ートを第1の対の各トランジスタのうち一方のト
ランジスタのベースに接続した特許請求の範囲第
3項記載の差動増幅器。 5 トランスコンダクタンス増幅器は第1の
MOSトランジスタを含み、該MOSトランジスタ
のゲートを第2の対のトランジスタの各コレクタ
回路に共通な回路点に接続し、そのドレインを差
動増幅器の電源端子に接続し、そのソースをカー
レントミラーを介して第1と第2の対のトランジ
スタの各エミツタに共通な点に接続した特許請求
の範囲第1項記載の差動増幅器。 6 電圧降下を生じさせる少なくとも1つの素子
を、第1のMOSトランジスタのソースとカーレ
ントミラーとの間に接続した特許請求の範囲第5
項記載の差動増幅器。 7 第1と第2の対の各トランジスタをそれぞれ
MOSトランジスタ構造にし、該MOSトランジス
タ構造は第1の導電形のサブストレートに形成さ
れており、前記MOSトランジスタ構造は第2の
導電形の凹入拡散領域を含み、第1の導電形の第
1と第2の領域を前記凹入拡散領域に形成し、前
記第1の領域と前記第2の領域とを分離している
前記凹入拡散領域の領域を絶縁ゲートによつて少
なくとも部分的に被い、前記第1の領域はトラン
ジスタのエミツタを構成し、前記第2の領域はト
ランジスタのコレクタを構成し、前記凹入拡散領
域はトランジスタのベースを構成し、ゲートとサ
ブストレートへのバイアス印加の際、ゲートの下
側の領域の導電形の反転せず、かつサブストレー
トと前記凹入拡散領域によつて形成された接合部
が常時逆にバイアスされているようにした特許請
求の範囲第1項記載の差動増幅器。 8 第2の対の各トランジスタはサブストレート
の共通の凹入拡散領域に設けられている特許請求
の範囲第7項記載の差動増幅器。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CH1492/83A CH651160A5 (fr) | 1983-03-18 | 1983-03-18 | Amplificateur differentiel a transistors bipolaires realises en technologie cmos. |
| CH1492/83-1 | 1983-03-18 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59178005A JPS59178005A (ja) | 1984-10-09 |
| JPH0544847B2 true JPH0544847B2 (ja) | 1993-07-07 |
Family
ID=4211723
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59051275A Granted JPS59178005A (ja) | 1983-03-18 | 1984-03-19 | バイポ−ラトランジスタを有する差動増幅器 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4580106A (ja) |
| JP (1) | JPS59178005A (ja) |
| CH (1) | CH651160A5 (ja) |
| DE (1) | DE3409470C2 (ja) |
| FR (1) | FR2542946B1 (ja) |
| GB (1) | GB2136652B (ja) |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4748420A (en) * | 1987-10-19 | 1988-05-31 | Tektronix, Inc. | Quadcomp amplifier |
| US4965529A (en) * | 1989-09-21 | 1990-10-23 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of Commerce | High current, very wide band transconductance amplifier |
| US5280199A (en) * | 1991-05-14 | 1994-01-18 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Differential input circuit and operational amplifier with wide common mode input voltage range |
| ES2088457T3 (es) * | 1991-09-25 | 1996-08-16 | Alcatel Bell Nv | Amplificador diferencial. |
| US5317279A (en) * | 1992-12-31 | 1994-05-31 | Ohio State University | Linear voltage to current converter including feedback network |
| JP2661527B2 (ja) * | 1993-01-27 | 1997-10-08 | 日本電気株式会社 | 差動増幅回路 |
| US6081139A (en) * | 1997-09-25 | 2000-06-27 | Intel Corporation | Differential amplifier with lateral bipolar transistor |
| US20030174011A1 (en) * | 2000-12-07 | 2003-09-18 | Alechine Evgueni Sergeyevich | Method of stabilization of operating conditions in electronic devices |
| US6344762B1 (en) * | 2000-12-21 | 2002-02-05 | Intersil Americas Inc. | Bias circuit for a low voltage differential circuit |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3497824A (en) * | 1967-08-18 | 1970-02-24 | Bell Telephone Labor Inc | Differential amplifier |
| JPS5545215A (en) * | 1978-09-27 | 1980-03-29 | Toshiba Corp | Transistor amplifier |
| US4210875A (en) * | 1978-12-29 | 1980-07-01 | Harris Corporation | Integrated amplifier with adjustable offset voltage |
| US4213098A (en) * | 1979-02-09 | 1980-07-15 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Semiconductor differential amplifier having feedback bias control for stabilization |
| DE2938544A1 (de) * | 1979-09-24 | 1981-04-23 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Operationsverstaerker in ig-fet-technologie |
-
1983
- 1983-03-18 CH CH1492/83A patent/CH651160A5/fr not_active IP Right Cessation
-
1984
- 1984-03-12 US US06/588,373 patent/US4580106A/en not_active Expired - Lifetime
- 1984-03-14 GB GB08406696A patent/GB2136652B/en not_active Expired
- 1984-03-14 FR FR8403904A patent/FR2542946B1/fr not_active Expired
- 1984-03-15 DE DE3409470A patent/DE3409470C2/de not_active Expired - Lifetime
- 1984-03-19 JP JP59051275A patent/JPS59178005A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| FR2542946B1 (fr) | 1987-01-30 |
| DE3409470C2 (de) | 1994-12-08 |
| GB8406696D0 (en) | 1984-04-18 |
| FR2542946A1 (fr) | 1984-09-21 |
| GB2136652A (en) | 1984-09-19 |
| GB2136652B (en) | 1986-07-30 |
| CH651160A5 (fr) | 1985-08-30 |
| DE3409470A1 (de) | 1984-09-20 |
| JPS59178005A (ja) | 1984-10-09 |
| US4580106A (en) | 1986-04-01 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5095284A (en) | Subthreshold CMOS amplifier with wide input voltage range | |
| US5734296A (en) | Low voltage operational amplifier input stage and method | |
| US6259321B1 (en) | CMOS variable gain amplifier and control method therefor | |
| US4730168A (en) | CMOS output stage with large voltage swing and with stabilization of the quiescent current | |
| US4048575A (en) | Operational amplifier | |
| US5699015A (en) | Low voltage operational amplifier and method | |
| US4059808A (en) | Differential amplifier | |
| JPH0227819B2 (ja) | ||
| US4918398A (en) | Differential amplifier using voltage level shifting to achieve rail-to-rail input capability at very low power supply voltage | |
| US3953807A (en) | Current amplifier | |
| US5798673A (en) | Low voltage operational amplifier bias circuit and method | |
| US4419631A (en) | Integrated circuit amplifier functioning in class AB and incorporating CMOS (metal oxide semiconductor) technology | |
| JPH0865063A (ja) | 半導体集積回路 | |
| US4340867A (en) | Inverter amplifier | |
| US4538114A (en) | Differential amplifier | |
| JPH0544847B2 (ja) | ||
| US4051443A (en) | Differential amplifier | |
| US4689651A (en) | Low voltage clamp | |
| US5682120A (en) | Differential amplifier circuit using lateral-type bipolar transistors with back gates | |
| US5451908A (en) | Circuit arrangement with controlled pinch resistors | |
| US5751183A (en) | Bipolar transistor circuit having a free collector | |
| US7274252B2 (en) | Power amplification circuit and operational amplifier incorporating said circuit | |
| US5278516A (en) | Buffer circuit | |
| US6081139A (en) | Differential amplifier with lateral bipolar transistor | |
| EP0486986B1 (en) | Buffer circuit |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |