JPH054533U - ランプ劣化検出装置 - Google Patents

ランプ劣化検出装置

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JPH054533U
JPH054533U JP5063491U JP5063491U JPH054533U JP H054533 U JPH054533 U JP H054533U JP 5063491 U JP5063491 U JP 5063491U JP 5063491 U JP5063491 U JP 5063491U JP H054533 U JPH054533 U JP H054533U
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JP
Japan
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light
lamp
laser
excitation
photodetector
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Pending
Application number
JP5063491U
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English (en)
Inventor
実 小島
貢 寺田
和義 数藤
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Amada Weld Tech Co Ltd
Original Assignee
Amada Miyachi Co Ltd
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Filing date
Publication date
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Publication of JPH054533U publication Critical patent/JPH054533U/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 レーザ装置に用いられる励起ランプの劣化時
期を正確に把握する。 【構成】 レーザ媒質と、このレーザ媒質に励起光を投
入する励起ランプとを有するレーザ共振器において、レ
ーザ共振器内に光検出器の少なくとも受光部を設置し、
励起ランプの光を前記受光部で直接受光するとともに、
前記光検出器で検出した光量の大小によりランプ劣化を
判定する判定手段を設けた。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は、レーザ共振器における励起ランプの劣化検出装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、レーザ共振器に使用する励起ランプの劣化を検出する手段として、図3 のように、レーザ共振器1から出射されるレーザ発振光を光検出器6で受光し、 レーザ発振出力が落ちたとき、励起ランプLが劣化したものと推測している。 なお、図3で、2はレーザ媒質、3aは全反射ミラー、3bは出力ミラー、7は 励起ランプの寿命を判定する判定手段、15はビームスプリッタである。
【0003】
【考案が解決しようとする課題】
しかし、前記従来の検出方法では、励起ランプの劣化に関係のない他の要因、 例えば、全反射ミラーや出力ミラー焼損、励起ランプの電源の性能劣化、レーザ 光軸と各光学素子の光軸ずれなどにより、レーザ発振出力が落ちる場合があり、 測定の精度が低い。
【0004】 従って、本来励起ランプの寿命がきていないにもかかわらず、励起ランプが劣 化したものと判定してしまう場合がある。 本考案は前記課題に鑑みてなされたものであり、励起ランプの光量を正確に測 定できるランプ劣化検出装置を提供することを技術的課題とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】
そこで、本考案は、レーザ媒質と、このレーザ媒質に励起光を投入する励起ラ ンプとを有するレーザ共振器において、レーザ共振器内に光検出器の少なくとも 受光部を設置し、励起ランプの光を前記受光部で直接受光するとともに、前記光 検出器で検出した光量の大小によりランプ劣化を判定する判定手段を設けた。
【0006】
【作用】
本考案によれば、レーザ共振器内に設置した受光部で検出光を直接受けるので 、光量検出に他の要因が影響する可能性が少ない。
【0007】
【実施例】
以下、本考案の実施例を図を用いて説明する。 図1において、レーザ共振器1内に励起ランプL、レーザ媒質2、出力ミラー 3a、全反射ミラー3bが配置され、さらに、励起ランプLから発する光を直接 受光する受光部4が設けられている。
【0008】 この受光部4に光ファイバ5の一端が接続され、この光ファイバ5の他端に光 電変換素子であるフォトダイオード6が配置されている。また、このフォトダイ オード6に判定手段7が接続されている。
【0009】 この判定手段7は、フォトダイオード6で光量に応じて検出された微弱電圧を 増幅する増幅器8、増幅器8で増幅されたアナログ値をデジタル変換するA/D コンバータ9、このA/Dコンバータ9から入力されたデジタル電圧値を処理す る中央処理装置10、処理結果を出力する出力手段11を備えている。
【0010】 そして、中央処理装置10は、メモリ12中に予め記憶されたしきい値電圧を 前記光量を示す電圧が下回ったとき、励起ランプLの劣化ありと判断するように なっている。判断結果は、出力手段11に出力される。出力手段11としては、 ディスプレイやプリンタの他、ブザー、ランプなどでもよい。
【0011】 本実施例では、受光部4をレーザ共振器1の内部に設置したことから励起ラン プ2からの光は、直接受光部4に投入され、外乱の影響を少ない状態で光ファイ バ5を経て、フォトダイオード6に伝えられる。
【0012】 この結果、外的要因により測定値が左右されることなく、正確な測定結果が得 られる。 また、本実施例のように光電素子として光ファイバ5を用いた場合、光ファイ バ5によりレーザ共振器からの影響を受けない位置にフォトダイオード6や判定 手段7を設置することができる。
【0013】 なお、受光部4は共振器内にあって受光が他の要素に妨げられない場所に設け るのが最適であり、励起ランプLの近傍で、励起ランプLとの間に障害物のない 状態にあるのがよい。また、受光部4は光ファイバ5の端部自体でもよい。
【0014】 また、励起ランプLが複数ある場合、その励起ランプL毎に受光部4、及び、 光検出器6を設けるのが望ましい。 また、光検出器6自体を共振器内に設けてもよい。
【0015】
【考案の効果】
本考案によれば、外的要因によらず、励起ランプの光量を正確に測定でき、ラ ンプの劣化時期を正確に把握できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本考案の一実施例の構成を示すブロック図
【図2】 判定手段の構成を示すブロック図
【図3】 従来例の構成を示すブロック図
【符号の説明】
1 レーザ共振器 2 励起ランプ 4 受光部 5 光ファイバ 6 光検出器(光電変換素子) 7 判定手段 8 増幅器 9 A/Dコンバータ 10 中央処理装置 11 出力手段 12 メモリ
フロントページの続き (72)考案者 数藤 和義 千葉県野田市二ツ塚95番地の3ミヤチテク ノス株式会社内

Claims (2)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 レーザ媒質と、このレーザ媒質に励起光
    を投入する励起ランプとを有するレーザ共振器におい
    て、レーザ共振器内に光検出器の少なくとも受光部を設
    置し、励起ランプの光を前記受光部で直接受光するとと
    もに、前記光検出器で検出した光量の大小によりランプ
    劣化を判定する判定手段を設けたことを特徴とするラン
    プ劣化検出装置。
  2. 【請求項2】 前記受光部に光ファイバの一端が接続さ
    れ、この光ファイバの他端に前記光検出器が接続された
    請求項1記載のランプ劣化検出装置。
JP5063491U 1991-07-01 1991-07-01 ランプ劣化検出装置 Pending JPH054533U (ja)

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JP5063491U JPH054533U (ja) 1991-07-01 1991-07-01 ランプ劣化検出装置

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JPH054533U true JPH054533U (ja) 1993-01-22

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ID=12864398

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JP5063491U Pending JPH054533U (ja) 1991-07-01 1991-07-01 ランプ劣化検出装置

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4835785A (ja) * 1971-09-10 1973-05-26

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4835785A (ja) * 1971-09-10 1973-05-26

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