JPH054734B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH054734B2 JPH054734B2 JP22429486A JP22429486A JPH054734B2 JP H054734 B2 JPH054734 B2 JP H054734B2 JP 22429486 A JP22429486 A JP 22429486A JP 22429486 A JP22429486 A JP 22429486A JP H054734 B2 JPH054734 B2 JP H054734B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- disk
- signal
- inclination
- light beam
- detection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、デイスク傾斜度検出装置に係り、光
学方式のデイスクを記録かつ再生する装置に設け
られ、デイスクの傾斜度を検出する装置に関す
る。
学方式のデイスクを記録かつ再生する装置に設け
られ、デイスクの傾斜度を検出する装置に関す
る。
従来の技術
従来より光学読取方式の情報記録円盤（以下
「デイスク」と言う）がある。このデイスクが恒
久的に平面性を保つことは難かしく、一般には中
心部と外周縁部との高さが変わり略椀形状に変形
することが多いが、エアサンドイツチ構造のデイ
スクなどではスペーサのある内周縁部及び外周縁
部のデイスク面で傾斜が起こることがある。
「デイスク」と言う）がある。このデイスクが恒
久的に平面性を保つことは難かしく、一般には中
心部と外周縁部との高さが変わり略椀形状に変形
することが多いが、エアサンドイツチ構造のデイ
スクなどではスペーサのある内周縁部及び外周縁
部のデイスク面で傾斜が起こることがある。
上記の変形を生じたデイスクに情報を記録する
場合には、デイスク面に垂直に光ビームが照射さ
れないので、ビームスポツトが歪み、歪んだピツ
トが形成されたり、ときにはピツトが形成されな
いこともある。ピツトが歪むと再生時の周波数特
性が劣化し、デイスクの内周縁部で上記傾斜があ
るとCAV方式では特に問題となる。また、デイ
スクを再生する場合には、デイスクで反射された
ビームが正確にピツクアツプに戻らないため情報
を正確に検出できなくなる。
場合には、デイスク面に垂直に光ビームが照射さ
れないので、ビームスポツトが歪み、歪んだピツ
トが形成されたり、ときにはピツトが形成されな
いこともある。ピツトが歪むと再生時の周波数特
性が劣化し、デイスクの内周縁部で上記傾斜があ
るとCAV方式では特に問題となる。また、デイ
スクを再生する場合には、デイスクで反射された
ビームが正確にピツクアツプに戻らないため情報
を正確に検出できなくなる。
このため、従来より第４図に示す如き装置を用
いてデイスクの傾斜を検出し、デイスクの傾斜に
応じて記録再生素子の姿勢制御を行なうデイスク
再生装置があつた。第４図において、ライトワン
ス型のデイスク１０は透明基板１１上に媒体１２
の膜が設けられたものである。発光ダイオード１
３と受光素子１４，１５とはデイスク１０の半径
方向に沿つて位置されている。受光素子１４，１
５はデイスク１０の媒体１２で反射された発光ダ
イオード１３よりの光ビームの受光量に応じたレ
ベルの信号を出力し、上記受光素子１４，１５
夫々の出力信号は差動増幅器１６で差動増幅され
てデイスク１０の傾斜に応じたレベルの信号が端
子１７より出力される。
いてデイスクの傾斜を検出し、デイスクの傾斜に
応じて記録再生素子の姿勢制御を行なうデイスク
再生装置があつた。第４図において、ライトワン
ス型のデイスク１０は透明基板１１上に媒体１２
の膜が設けられたものである。発光ダイオード１
３と受光素子１４，１５とはデイスク１０の半径
方向に沿つて位置されている。受光素子１４，１
５はデイスク１０の媒体１２で反射された発光ダ
イオード１３よりの光ビームの受光量に応じたレ
ベルの信号を出力し、上記受光素子１４，１５
夫々の出力信号は差動増幅器１６で差動増幅され
てデイスク１０の傾斜に応じたレベルの信号が端
子１７より出力される。
発明が解決しようとする問題点
上記のライトワンス型のデイスク１０は、記録
時にレーザ光を照射し媒体１２の一部を蒸発させ
てピツトを形成するために、既記録部分はピツト
が存在して光反射率が小で、未記録部分は光反射
率が大である。
時にレーザ光を照射し媒体１２の一部を蒸発させ
てピツトを形成するために、既記録部分はピツト
が存在して光反射率が小で、未記録部分は光反射
率が大である。
このために、例えばデイスク１０の発光ダイオ
ード１３に対応する位置より内周側部分が既記
録部分で、外周側部分が未記録部分である場合
には、デイスク１０が傾斜してなくとも差動増幅
器１６の出力レベルが変化してデイスク１０の傾
斜を示す誤りの信号を出力してしまうという問題
点があつた。
ード１３に対応する位置より内周側部分が既記
録部分で、外周側部分が未記録部分である場合
には、デイスク１０が傾斜してなくとも差動増幅
器１６の出力レベルが変化してデイスク１０の傾
斜を示す誤りの信号を出力してしまうという問題
点があつた。
また第５図に示す如く、２枚のデイスク１０を
スペーサ１８を挾んで離間対向させたエアーサン
ドイツチ構造のデイスク１９では、裏面（上面）
で反射された光ビームが図中破線で示す如く受光
素子１４，１５に入射して外乱を生じ、デイスク
１９の傾斜を正確に検出できないという問題点が
あつた。
スペーサ１８を挾んで離間対向させたエアーサン
ドイツチ構造のデイスク１９では、裏面（上面）
で反射された光ビームが図中破線で示す如く受光
素子１４，１５に入射して外乱を生じ、デイスク
１９の傾斜を正確に検出できないという問題点が
あつた。
本発明は、このような点に鑑みてなされたもの
であり、正確な傾斜検出の可能なデイスク傾斜度
検出装置を提供することを目的とする。
であり、正確な傾斜検出の可能なデイスク傾斜度
検出装置を提供することを目的とする。
問題点を解決するための手段
本発明において、一対の検出素子は、デイスク
で反射された光ビームの一部を照射され、デイス
クの傾斜に応じて夫々の照射量が変化する。
で反射された光ビームの一部を照射され、デイス
クの傾斜に応じて夫々の照射量が変化する。
RF信号検出回路は電気信号の高周波成分の有
無より情報の記録有無を検出する。
無より情報の記録有無を検出する。
ゲイン切換回路は一対の光検出素子夫々の出力
信号に対する増幅度RF信号検出回路の検出信号
に応じて切換える。
信号に対する増幅度RF信号検出回路の検出信号
に応じて切換える。
差動増幅器はゲイン切換回路で増幅された一対
の光検出素子夫々の出力信号を差動増幅してデイ
スクの傾斜度に応じたレベルの信号を生成する。
の光検出素子夫々の出力信号を差動増幅してデイ
スクの傾斜度に応じたレベルの信号を生成する。
作 用
本発明においては、光ビームはデイスクに集光
されてデイスクの裏面による反射光ビームは光学
系に入射することがなく、またデイスクの既記録
部分、未記録部分夫々の走査時に、一対の光検出
素子の出力信号のゲイン切換が行なわれて、常
時、差動出力・デイスク傾斜量特性が一定とされ
る。
されてデイスクの裏面による反射光ビームは光学
系に入射することがなく、またデイスクの既記録
部分、未記録部分夫々の走査時に、一対の光検出
素子の出力信号のゲイン切換が行なわれて、常
時、差動出力・デイスク傾斜量特性が一定とされ
る。
実施例
第１図は本発明装置の一実施例のブロツク系統
図を示す。同図中、レーザダイオード２１より発
射されたレーザ光ビームは光学系を構成するプリ
ズム２２を通り、対物レンズ２３によりデイスク
１０の媒体１２に集光される。
図を示す。同図中、レーザダイオード２１より発
射されたレーザ光ビームは光学系を構成するプリ
ズム２２を通り、対物レンズ２３によりデイスク
１０の媒体１２に集光される。
このため、第２図に示す如くエアーサンドイツ
チ構造のデイスク１９の記録及び再生を行なう場
合には、デイスク１９の裏面（上面）の媒体１２
で反射された光ビームは図中梨地で示す如く対物
レンズ２３の外側に照射され、この対物レンズ２
３に入射することはない。従つて、上記裏面で反
射された光ビームが光検出素子２７ａ，２７ｂに
外乱として入射することがない。
チ構造のデイスク１９の記録及び再生を行なう場
合には、デイスク１９の裏面（上面）の媒体１２
で反射された光ビームは図中梨地で示す如く対物
レンズ２３の外側に照射され、この対物レンズ２
３に入射することはない。従つて、上記裏面で反
射された光ビームが光検出素子２７ａ，２７ｂに
外乱として入射することがない。
デイスク１０で反射されたレーザ光ビームは対
物レンズ２３を通り、プリズム２２で反射されて
ハーフミラー２５に導びかれる。ハーフミラー２
５を透過したレーザ光ビームは光検素子２６に照
射され、ここで光電変換される。またハーフミラ
ー２５で反射されたレーザ光ビームは隣接して設
けられた光検出素子２７ａ，２７ｂに照射され
る。ところで、デイスク１０が実線に示す如く水
平であればハーフミラー２５の反射光ビームは光
検出素子２７ａ，２７ｂの境界部分に照射され、
デイスク１０が破線（又は一点鎖線）に示す如く
傾斜していればハーフミラー２５の反射光ビーム
は光検出素子２７ａ（又は２７ｂ）側に片寄つて
照射される。
物レンズ２３を通り、プリズム２２で反射されて
ハーフミラー２５に導びかれる。ハーフミラー２
５を透過したレーザ光ビームは光検素子２６に照
射され、ここで光電変換される。またハーフミラ
ー２５で反射されたレーザ光ビームは隣接して設
けられた光検出素子２７ａ，２７ｂに照射され
る。ところで、デイスク１０が実線に示す如く水
平であればハーフミラー２５の反射光ビームは光
検出素子２７ａ，２７ｂの境界部分に照射され、
デイスク１０が破線（又は一点鎖線）に示す如く
傾斜していればハーフミラー２５の反射光ビーム
は光検出素子２７ａ（又は２７ｂ）側に片寄つて
照射される。
光検出素子２６は光ビームを光電変換して、デ
イスク１０の媒体１２におけるピツトの有無に応
じてレベルの変化する信号を出力し、この出力信
号は端子２８より次段の再生回路（図示せず）に
供給されると共に、RF信号検出回路２９に供給
される。RF信号検出回路２９は光検出素子２６
の出力信号の高周波成分の有無を検出する。これ
によつてデイスク１０にピツトが形成された情報
既記録部分の走査により高周波成分が検出された
とき例えばＨレベルで、デイスク１０にピツトが
形成されていない未記録部分の走査により高周波
成分が検出されないときＬレベルとなるRF検出
信号が生成され、ゲイン切換回路３０に供給され
る。
イスク１０の媒体１２におけるピツトの有無に応
じてレベルの変化する信号を出力し、この出力信
号は端子２８より次段の再生回路（図示せず）に
供給されると共に、RF信号検出回路２９に供給
される。RF信号検出回路２９は光検出素子２６
の出力信号の高周波成分の有無を検出する。これ
によつてデイスク１０にピツトが形成された情報
既記録部分の走査により高周波成分が検出された
とき例えばＨレベルで、デイスク１０にピツトが
形成されていない未記録部分の走査により高周波
成分が検出されないときＬレベルとなるRF検出
信号が生成され、ゲイン切換回路３０に供給され
る。
また、光検出素子２７ａ，２７ｂ夫々で光電変
換された信号は夫々AGC回路３１，３２で自動
利得制御され光量の異なる記録時と再生時とで同
一レベルとされた後ゲイン切換回路３０を通して
差動増幅器３３に供給される。ゲイン切換回路３
０はRF検出信号がＬレベルのときとＨレベルの
ときとで、AGC回路３１，３２夫々の出力信号
に対する増幅度を切換え、夫々の信号を差動増幅
器３３の反転入力端子、非反転入力端子夫々に供
給する。
換された信号は夫々AGC回路３１，３２で自動
利得制御され光量の異なる記録時と再生時とで同
一レベルとされた後ゲイン切換回路３０を通して
差動増幅器３３に供給される。ゲイン切換回路３
０はRF検出信号がＬレベルのときとＨレベルの
ときとで、AGC回路３１，３２夫々の出力信号
に対する増幅度を切換え、夫々の信号を差動増幅
器３３の反転入力端子、非反転入力端子夫々に供
給する。
ここで、ゲイン切換回路３０がない場合には、
差動増幅器３３出力とデイスクの傾斜量とは、デ
イスク１０の未記録部分で第２図の実線に示す
如き関係であるが、デイスク１０の既記録部分で
は光反射率が小であるために実線に示す関係と
なる。従つて、ゲイン切換回路３０はRF検出信
号がＨレベルでデイスク１０の既記録部分を走査
しているとき実線の特性を実線の特性となる
よう補正している。このようにして差動増幅器３
３の出力は常時実線の特性とされて差動増幅器
３４の非反転入力端子に供給される。
差動増幅器３３出力とデイスクの傾斜量とは、デ
イスク１０の未記録部分で第２図の実線に示す
如き関係であるが、デイスク１０の既記録部分で
は光反射率が小であるために実線に示す関係と
なる。従つて、ゲイン切換回路３０はRF検出信
号がＨレベルでデイスク１０の既記録部分を走査
しているとき実線の特性を実線の特性となる
よう補正している。このようにして差動増幅器３
３の出力は常時実線の特性とされて差動増幅器
３４の非反転入力端子に供給される。
また、端子３５より入来するトラツキングエラ
ー信号はトラツキングコイル３６に供給され、こ
れによつて対物レンズ２３が変位されてトラツキ
ング制御が行なわれる。これと共にトラツキング
エラー信号は低域フイルタ３７でその低域成分が
取り出されて差動増幅器３４の反転入力端子に供
給される。差動増幅器３４は差動増幅器３３より
のデイスクの傾斜の検出信号のレベルから低域フ
イルタ３７よりのトラツキングエラー信号を減算
して出力する。この信号は端子３８より記録再生
素子である光学ヘツド（プリズム２２、対物レン
ズ２３等）の姿勢を変位させるチルトモータ（図
示せず）に供給される。
ー信号はトラツキングコイル３６に供給され、こ
れによつて対物レンズ２３が変位されてトラツキ
ング制御が行なわれる。これと共にトラツキング
エラー信号は低域フイルタ３７でその低域成分が
取り出されて差動増幅器３４の反転入力端子に供
給される。差動増幅器３４は差動増幅器３３より
のデイスクの傾斜の検出信号のレベルから低域フ
イルタ３７よりのトラツキングエラー信号を減算
して出力する。この信号は端子３８より記録再生
素子である光学ヘツド（プリズム２２、対物レン
ズ２３等）の姿勢を変位させるチルトモータ（図
示せず）に供給される。
このように、ゲイン切換回路３０によつて、デ
イスク１０の既記録部分と未記録部分との夫々に
おける差動出力・デイスク傾斜量特性が一定とさ
れ、傾斜量を誤検出することがない。
イスク１０の既記録部分と未記録部分との夫々に
おける差動出力・デイスク傾斜量特性が一定とさ
れ、傾斜量を誤検出することがない。
また、情報の記録及び再生に用いられるレーザ
光ビームを利用して傾斜を検出するので、傾斜検
出専用の光源を設ける必要がない。
光ビームを利用して傾斜を検出するので、傾斜検
出専用の光源を設ける必要がない。
発明の効果
上述の如く、本発明装置は、デイスク裏面の反
射光ビームが光学系に入射せず裏面の反射光ビー
ムが外乱を生ずることがなく、またデイスクの情
報記録有無に応じてゲイン切換を行なうことによ
り常時一定の差動出力・傾斜度特性となり、正確
な傾斜度検出を行なうことができる等の特長を有
している。
射光ビームが光学系に入射せず裏面の反射光ビー
ムが外乱を生ずることがなく、またデイスクの情
報記録有無に応じてゲイン切換を行なうことによ
り常時一定の差動出力・傾斜度特性となり、正確
な傾斜度検出を行なうことができる等の特長を有
している。
第１図は本発明装置の一実施例のブロツク系統
図、第２図は第１図示のレーザ光ビームの光路を
説明するための図、第３図は第１図示の装置の差
動出力・傾斜量特性を説明するための図、第４
図、第５図夫々は従来装置の各例の構成を示す図
である。 ２１……レーザダイオード、２３……対物レン
ズ、２５……ハーフミラー、２６，２７ａ，２７
ｂ……光検出素子、２９……RF信号検出回路、
３０……ゲイン切換回路、３１，３２……AGC
回路、３３，３４……差動増幅器。
図、第２図は第１図示のレーザ光ビームの光路を
説明するための図、第３図は第１図示の装置の差
動出力・傾斜量特性を説明するための図、第４
図、第５図夫々は従来装置の各例の構成を示す図
である。 ２１……レーザダイオード、２３……対物レン
ズ、２５……ハーフミラー、２６，２７ａ，２７
ｂ……光検出素子、２９……RF信号検出回路、
３０……ゲイン切換回路、３１，３２……AGC
回路、３３，３４……差動増幅器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 光学系でデイスクに光ビームを集光して照射
して情報を記録し、かつ該デイスクで反射され該
光学系に入射する光ビームを電気信号に変換して
情報の再生を行なう装置に設けられ、該デイスク
の傾斜を検出するデイスク傾斜度検出装置におい
て、 該デイスクで反射された光ビームの一部を照射
され、該デイスクの傾斜に応じて夫々の照射量が
変化する一対の光検出素子と、 該電気信号の高周波成分の有無より情報の記録
有無を検出するRF信号検出回路と、 該一対の光検出素子夫々の出力信号に対する増
幅度を該RF信号検出回路の検出信号に応じて切
換えるゲイン切換回路と、 該ゲイン切換回路で増幅された該一対の光検出
素子夫々の出力信号を差動増幅して該デイスクの
傾斜度に応じたレベルの信号を生成する差動増幅
器とよるなることを特徴とするデイスク傾斜度検
出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22429486A JPS6379239A (ja) | 1986-09-22 | 1986-09-22 | デイスク傾斜度検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22429486A JPS6379239A (ja) | 1986-09-22 | 1986-09-22 | デイスク傾斜度検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6379239A JPS6379239A (ja) | 1988-04-09 |
| JPH054734B2 true JPH054734B2 (ja) | 1993-01-20 |
Family
ID=16811516
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22429486A Granted JPS6379239A (ja) | 1986-09-22 | 1986-09-22 | デイスク傾斜度検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6379239A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100493274B1 (ko) * | 1998-10-22 | 2005-08-01 | 엘지전자 주식회사 | 틸트 검출 방법 및 장치 |
-
1986
- 1986-09-22 JP JP22429486A patent/JPS6379239A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6379239A (ja) | 1988-04-09 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |