JPH0547403Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0547403Y2 JPH0547403Y2 JP8804689U JP8804689U JPH0547403Y2 JP H0547403 Y2 JPH0547403 Y2 JP H0547403Y2 JP 8804689 U JP8804689 U JP 8804689U JP 8804689 U JP8804689 U JP 8804689U JP H0547403 Y2 JPH0547403 Y2 JP H0547403Y2
- Authority
- JP
- Japan
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- partition plate
- sample container
- rectangular waveguide
- sample
- microwave band
- Prior art date
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- Expired - Lifetime
Links
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- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 22
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 7
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 5
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- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims description 3
- 238000000638 solvent extraction Methods 0.000 claims 1
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Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本考案は、食品加工などの分野で広く用いられ
ている液状試料のマイクロ波帯における誘電特性
ε・tan〓を測定する誘電特性測定用試料容器に関
する。
ている液状試料のマイクロ波帯における誘電特性
ε・tan〓を測定する誘電特性測定用試料容器に関
する。
第3図は液状試料のマイクロ波帯における誘電
特性を測定する測定系の構成の概要を示す。
特性を測定する測定系の構成の概要を示す。
図において、13は試料容器、14はマイクロ
波発振器、15は同軸線路、16は同軸導波管変
換器、17は定在波測定器である。
波発振器、15は同軸線路、16は同軸導波管変
換器、17は定在波測定器である。
上記構成で液状試料を試料容器13に充てん
し、該液状試料の誘電特性を測定する。
し、該液状試料の誘電特性を測定する。
第4図は従来のこの種の試料容器の一例の断面
図である。
図である。
図において、1は矩形導波管からなる本体、2
はマイクロ波帯の電磁波に対し低損失の仕切板、
3は本体1の導波管の終端を電気的に短絡する終
端部、4は液状試料、5はネジである。
はマイクロ波帯の電磁波に対し低損失の仕切板、
3は本体1の導波管の終端を電気的に短絡する終
端部、4は液状試料、5はネジである。
この実施例では終端部3に金属板を使用し、本
体1と気密性を保つためOリングを介してネジ5
によつて固定され、仕切板2と本体1間の気密性
は、本体1の内壁面にシリコンゴム系の接着材に
て仕切板2を接着することにより確保されてい
る。
体1と気密性を保つためOリングを介してネジ5
によつて固定され、仕切板2と本体1間の気密性
は、本体1の内壁面にシリコンゴム系の接着材に
て仕切板2を接着することにより確保されてい
る。
仕切板2には、電磁波に対し低損失の石英板等
が用いられる。
が用いられる。
液状試料4は、図示していない試料注入孔から
注入、充てんされて、誘電特性の測定を行なう。
注入、充てんされて、誘電特性の測定を行なう。
従来の上記構造の試料容器は、試料温度を変
え、各温度に対する誘電特性を測定する必要があ
る場合に、試料容器全体を恒温槽に入れなければ
ならず、作業が大変で、長時間を要するという問
題があつた。
え、各温度に対する誘電特性を測定する必要があ
る場合に、試料容器全体を恒温槽に入れなければ
ならず、作業が大変で、長時間を要するという問
題があつた。
また、試料の加熱あるいは冷却時に、試料の膨
長あるいは収縮で生ずる内圧により、仕切板がず
れるという問題があつた。
長あるいは収縮で生ずる内圧により、仕切板がず
れるという問題があつた。
本考案は上記の問題を解消するためになされた
もので、試料を容易に加熱したり冷却することが
でき、また、試料の加熱あるいは冷却によつて仕
切板がずれることのない試料容器を得ることを目
的とする。
もので、試料を容易に加熱したり冷却することが
でき、また、試料の加熱あるいは冷却によつて仕
切板がずれることのない試料容器を得ることを目
的とする。
本考案の誘電特性測定用試料容器は、液状試料
のマイクロ波帯における誘電特性を測定する誘電
特性測定用の被測定液状試料を充てんする試料容
器で、矩形導波管の終端を電気的に短絡する終端
部とマイクロ波帯の電磁波に対し低損失の仕切板
で仕切つて構成した試料容器において、終端部に
空洞またはパイプを設け、前記終端部の空洞また
はパイプに加熱または冷却体の注入口と排出口を
備えたことと、前記マイクロ波帯の電磁波に対し
低損失の仕切板は前記矩形導波管の内壁全周で該
矩形導波管に接着し、かつ該矩形導波管の短辺に
固着した保持部で挟持されたことと、該保持部は
前記仕切板を緩衝材を介して挟持したことを特徴
とするものである。
のマイクロ波帯における誘電特性を測定する誘電
特性測定用の被測定液状試料を充てんする試料容
器で、矩形導波管の終端を電気的に短絡する終端
部とマイクロ波帯の電磁波に対し低損失の仕切板
で仕切つて構成した試料容器において、終端部に
空洞またはパイプを設け、前記終端部の空洞また
はパイプに加熱または冷却体の注入口と排出口を
備えたことと、前記マイクロ波帯の電磁波に対し
低損失の仕切板は前記矩形導波管の内壁全周で該
矩形導波管に接着し、かつ該矩形導波管の短辺に
固着した保持部で挟持されたことと、該保持部は
前記仕切板を緩衝材を介して挟持したことを特徴
とするものである。
第1図aは本考案の一実施例を示す断面図、同
図bは側面図を示す。
図bは側面図を示す。
図において1,2,3,4は第4図と同一また
は相当する部分を示し、6は矩形導波管、7は金
属片等で構成した矩形導波管6の内壁に設けた保
持部、8は仕切板2と保持部7の間に挟んだ緩衝
材、9は本体1の内壁に設けた保持部、10は仕
切板2と保持部9の間に挟んだ緩衝材である。本
実施例では終端部3を短絡部31と蓋部32で構
成し、内部に空洞33を形成すると共に、蓋部3
2には液体の注入口34および排出口35を設
け、加熱または冷却した液体を空洞33に流入さ
せることにより短絡部31を介して液状試料4の
温度を変化させるように構成したものである。
は相当する部分を示し、6は矩形導波管、7は金
属片等で構成した矩形導波管6の内壁に設けた保
持部、8は仕切板2と保持部7の間に挟んだ緩衝
材、9は本体1の内壁に設けた保持部、10は仕
切板2と保持部9の間に挟んだ緩衝材である。本
実施例では終端部3を短絡部31と蓋部32で構
成し、内部に空洞33を形成すると共に、蓋部3
2には液体の注入口34および排出口35を設
け、加熱または冷却した液体を空洞33に流入さ
せることにより短絡部31を介して液状試料4の
温度を変化させるように構成したものである。
例えば、試料注入孔(図示せず)から注入、充
てんされた液状試料4を130〜150℃に上げたい場
合には、130〜150℃に昇温した油を空洞33内に
流すことにより、液状試料4の厚みは5mm程度と
薄いため、10分位で液状試料4は一定の均一温度
になる。
てんされた液状試料4を130〜150℃に上げたい場
合には、130〜150℃に昇温した油を空洞33内に
流すことにより、液状試料4の厚みは5mm程度と
薄いため、10分位で液状試料4は一定の均一温度
になる。
仕切板2は、矩形導波管からなる本体1の内壁
全周でシリコンゴム系の接着剤で接着され、本体
1と仕切板2の膨張差による気密漏れが防止され
ている。
全周でシリコンゴム系の接着剤で接着され、本体
1と仕切板2の膨張差による気密漏れが防止され
ている。
しかし、上記のように試料を130℃位に昇温す
ると試料内圧が2気圧にもなり、シリコンゴム系
の接着剤による接着だけでは、矩形導波管6側方
向への圧力を支えきれず、気密を保持することが
できなくなる場合がある。
ると試料内圧が2気圧にもなり、シリコンゴム系
の接着剤による接着だけでは、矩形導波管6側方
向への圧力を支えきれず、気密を保持することが
できなくなる場合がある。
この様な場合には、仕切板2の両側に保持部7
および9を設け、緩衝材8および10を介して仕
切板2を挟持する構造としている。保持部7およ
び9は、矩形導波管6および本体1の内壁の短辺
側内壁に溶接あるいはロウ付けによつて固定され
ており、仕切板2に加わる圧力を支える。本実施
例で矩形導波管6は、保持部7が固定されている
ため仕切板2の保持を補助する機能を発揮すると
同時に、本来の機能であるマイクロ波発振器が接
続している同軸導波管変換器(図示せず)との接
続を補助するものである。
および9を設け、緩衝材8および10を介して仕
切板2を挟持する構造としている。保持部7およ
び9は、矩形導波管6および本体1の内壁の短辺
側内壁に溶接あるいはロウ付けによつて固定され
ており、仕切板2に加わる圧力を支える。本実施
例で矩形導波管6は、保持部7が固定されている
ため仕切板2の保持を補助する機能を発揮すると
同時に、本来の機能であるマイクロ波発振器が接
続している同軸導波管変換器(図示せず)との接
続を補助するものである。
保持部7および9を矩形導波管6および矩形導
波管からなる本体1の内壁の短辺側内壁にのみ設
けた理由は、第2図に矩形導波管内電界分布の一
例を示すように、矩形導波管の短辺側では電界E
が零となつているため、試料の誘電率を測定する
際に、保持部の存在による測定値への影響が小さ
いためである。
波管からなる本体1の内壁の短辺側内壁にのみ設
けた理由は、第2図に矩形導波管内電界分布の一
例を示すように、矩形導波管の短辺側では電界E
が零となつているため、試料の誘電率を測定する
際に、保持部の存在による測定値への影響が小さ
いためである。
仕切板2はシリコンゴム系接着剤の接着に加え
て、この保持部7および9によつて固定されてい
るため、液状試料の熱膨張や収縮による圧力が加
わつても、シリコンゴム系接着剤の接着が破られ
ることはないから、液体試料が仕切板2外周から
漏出することはない。
て、この保持部7および9によつて固定されてい
るため、液状試料の熱膨張や収縮による圧力が加
わつても、シリコンゴム系接着剤の接着が破られ
ることはないから、液体試料が仕切板2外周から
漏出することはない。
第1図における試料容器でSBand導波管(a
=109.2mm、c=54.6mm)を使用し保持部7の突
出した長さbを5mmとすると、周波数=2450M
Hzでのε・tan〓の測定値が±5%の誤差範囲内に
おさまることが確認された。この誤差範囲は10%
程度までなら許容範囲と考えられるので保持部7
の有無はなんら問題とならない。
=109.2mm、c=54.6mm)を使用し保持部7の突
出した長さbを5mmとすると、周波数=2450M
Hzでのε・tan〓の測定値が±5%の誤差範囲内に
おさまることが確認された。この誤差範囲は10%
程度までなら許容範囲と考えられるので保持部7
の有無はなんら問題とならない。
保持部7は金属片であり、仕切板2は石英板を
用いているので仕切板2が破壊されやすいため、
両者の間に薄いテフロンシートなどの緩衝材8を
挟んで、集中荷重の発生を防止する構造が採られ
ている。
用いているので仕切板2が破壊されやすいため、
両者の間に薄いテフロンシートなどの緩衝材8を
挟んで、集中荷重の発生を防止する構造が採られ
ている。
上記実施例では終端部に空洞を設けて加熱また
は冷却用液体を流入させる例で説明したが、終端
部を薄い金属板にパイプを固着する構造として
も、同じ効果が得られる。
は冷却用液体を流入させる例で説明したが、終端
部を薄い金属板にパイプを固着する構造として
も、同じ効果が得られる。
以上説明したように、本考案によれば、液状試
料の所望の各温度での誘電特性を精度よく簡便に
測定することができるので、食品加工の研究など
の進歩に寄与する効果が大である。
料の所望の各温度での誘電特性を精度よく簡便に
測定することができるので、食品加工の研究など
の進歩に寄与する効果が大である。
第1図a,bは本考案の一実施例を示す断面図
及び側面図、第2図は導波管内電界分布の一例を
示す説明図、第3図は液状試料のマイクロ波帯に
おける誘電特性を測定する測定系の構成の概要を
示す説明図、第4図は従来のこの種の試料容器の
一例の構造を示す断面図である。 1……本体、2……仕切板、3……終端部、4
……液状試料、5……ネジ、6……矩形導波管、
7,9……保持部、8,10……緩衝材、31…
…短絡部、32……蓋部、33……空洞、34…
…注入口、35……排出口。
及び側面図、第2図は導波管内電界分布の一例を
示す説明図、第3図は液状試料のマイクロ波帯に
おける誘電特性を測定する測定系の構成の概要を
示す説明図、第4図は従来のこの種の試料容器の
一例の構造を示す断面図である。 1……本体、2……仕切板、3……終端部、4
……液状試料、5……ネジ、6……矩形導波管、
7,9……保持部、8,10……緩衝材、31…
…短絡部、32……蓋部、33……空洞、34…
…注入口、35……排出口。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 液状試料のマイクロ波帯における誘電特性を
測定する誘電特性測定用の被測定液状試料を充
てんする試料容器で、矩形導波管の終端を電気
的に短絡する終端部とマイクロ波帯の電磁波に
対し低損失の仕切板で仕切つて構成した試料容
器において、 終端部に空洞またはパイプを設け、前記終端
部の空洞またはパイプに加熱または冷却体の注
入口と排出口を備えたことを特徴とする誘電特
性測定用試料容器。 (2) 実用新案登録請求の範囲第1項記載の誘電特
性測定用試料容器において、 前記マイクロ波帯の電磁波に対し低損失の仕
切板は前記矩形導波管の内壁全周で該矩形導波
管に接着し、かつ該矩形導波管の短辺に固着し
た保持部で挟持されたことと、 該保持部は前記仕切板を緩衝材を介して挟持
したことを特徴とする誘電特性測定用試料容
器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8804689U JPH0547403Y2 (ja) | 1989-07-28 | 1989-07-28 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8804689U JPH0547403Y2 (ja) | 1989-07-28 | 1989-07-28 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0328451U JPH0328451U (ja) | 1991-03-20 |
| JPH0547403Y2 true JPH0547403Y2 (ja) | 1993-12-14 |
Family
ID=31637679
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8804689U Expired - Lifetime JPH0547403Y2 (ja) | 1989-07-28 | 1989-07-28 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0547403Y2 (ja) |
-
1989
- 1989-07-28 JP JP8804689U patent/JPH0547403Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0328451U (ja) | 1991-03-20 |
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