JPH0547787B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0547787B2 JPH0547787B2 JP60291440A JP29144085A JPH0547787B2 JP H0547787 B2 JPH0547787 B2 JP H0547787B2 JP 60291440 A JP60291440 A JP 60291440A JP 29144085 A JP29144085 A JP 29144085A JP H0547787 B2 JPH0547787 B2 JP H0547787B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- counter
- delay time
- signal
- output
- flip
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 claims description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(a) 発明の技術分野
この発明は、論理回路用の試験信号発生回路に
関するものであり、さらに詳しくいえば試験信号
の波形幅やタイミングを変えることができるよう
にした試験信号発生回路に関するものである。
関するものであり、さらに詳しくいえば試験信号
の波形幅やタイミングを変えることができるよう
にした試験信号発生回路に関するものである。
(b) 発明の目的
この発明は、二つのカウンタを一つの基準信号
で制御し、これらのカウンタに独立の遅延時間を
設定することにより、試験信号の波形幅やタイミ
ングを変えることができるようにした試験信号発
生回路を提供するものである。
で制御し、これらのカウンタに独立の遅延時間を
設定することにより、試験信号の波形幅やタイミ
ングを変えることができるようにした試験信号発
生回路を提供するものである。
(c) 発明の実施例
最初に、この発明による実施例の構成図を第1
図に示す。
図に示す。
第1図の1Aと1Bはゲート、2Aと2Bは設
定器、3Aと3Bはカウンタ、4はフリツプフロ
ツプ、11Aと11Bはデイジタル信号、12は
基準信号、13はクロツクパルス、14は試験信
号である。
定器、3Aと3Bはカウンタ、4はフリツプフロ
ツプ、11Aと11Bはデイジタル信号、12は
基準信号、13はクロツクパルス、14は試験信
号である。
第1図の1Aと1B、2Aと2B、3Aと3B
はそれぞれ同じものなので、以下、第1図のA側
を主として説明し、B側は必要な部分だけを説明
することにする。
はそれぞれ同じものなので、以下、第1図のA側
を主として説明し、B側は必要な部分だけを説明
することにする。
第1図のデイジタル信号11Aとデイジタル信
号11Bは「1」と「0」で構成される。
号11Bは「1」と「0」で構成される。
基準信号12はデイジタル信号11A,11B
の繰返し周期の基準信号であり、デイジタル信号
11A,11Bの繰返し周期は基準信号12の周
期と同じになるように構成する。
の繰返し周期の基準信号であり、デイジタル信号
11A,11Bの繰返し周期は基準信号12の周
期と同じになるように構成する。
ゲート1Aにはデイジタル信号11Aと基準信
号12が入り、デイジタル信号11Aが「1」の
とき、カウンタ3Aに基準信号12を伝達する。
号12が入り、デイジタル信号11Aが「1」の
とき、カウンタ3Aに基準信号12を伝達する。
クロツクパルス13は基準信号12より繰返し
周期の短い信号であり、カウンタ3Aとカウンタ
3Bに入る。
周期の短い信号であり、カウンタ3Aとカウンタ
3Bに入る。
設定器2Aはカウンタ3Aに遅延時間を設定さ
せるためのものであり、例えばメモリなどで設定
器2Aを構成することができる。そして、図示を
省略したCPUから遅延時間に対応する設定値を
あらかじめ格納しておく。
せるためのものであり、例えばメモリなどで設定
器2Aを構成することができる。そして、図示を
省略したCPUから遅延時間に対応する設定値を
あらかじめ格納しておく。
設定器2Aからは第1の遅延時間に対応する設
定値がカウンタ3Aに送られ、カウンタ3Aには
第1の遅延時間に対応する設定値がセツトされ
る。
定値がカウンタ3Aに送られ、カウンタ3Aには
第1の遅延時間に対応する設定値がセツトされ
る。
カウンタ3Aはセツトされた設定値だけクロツ
クパルス13をカウントし、基準信号12から第
1の遅延時間だけ遅れた信号を出し、フリツプフ
ロツプ4をセツトする。
クパルス13をカウントし、基準信号12から第
1の遅延時間だけ遅れた信号を出し、フリツプフ
ロツプ4をセツトする。
例えば、クロツクパルス13の周期が10nsの場
合に第1の遅延時間を9μsにするためには、カウ
ンタ3Aに設定値として900をセツトするように
すればよい。
合に第1の遅延時間を9μsにするためには、カウ
ンタ3Aに設定値として900をセツトするように
すればよい。
カウンタ3Bにも第2の遅延時間がセツトされ
ており、カウンタ3Bは第2の遅延時間だけ遅れ
た信号でフリツプフロツプ4をリセツトする。
ており、カウンタ3Bは第2の遅延時間だけ遅れ
た信号でフリツプフロツプ4をリセツトする。
したがつて、フリツプフロツプ4はカウンタ3
Aの出力でセツトされ、カウンタ3Bの出力でリ
セツトされて試験信号14を出力する。
Aの出力でセツトされ、カウンタ3Bの出力でリ
セツトされて試験信号14を出力する。
なお、第1の遅延時間と第2の遅延時間は、同
じ時間でもよく、異なる時間にしてもよい。
じ時間でもよく、異なる時間にしてもよい。
次に、第1図のタイムチヤートを第2図に示
す。
す。
第2図アはデイジタル信号11Aの波形であ
り、「1」、「0」、「1」と変化している。
り、「1」、「0」、「1」と変化している。
第2図イはデイジタル信号11Bの波形であ
り、デイジタル信号11Aの反転波形になつてい
る。
り、デイジタル信号11Aの反転波形になつてい
る。
第2図ウは基準信号12の波形図であり、第2
図エはクロツクパルス13の波形図である。
図エはクロツクパルス13の波形図である。
第2図オは第2図アのデイジタル信号11Aが
「1」のときゲート1Aが出力する基準信号12
の波形図であり、第2図オのA1は第2図ウのA
に対応する。
「1」のときゲート1Aが出力する基準信号12
の波形図であり、第2図オのA1は第2図ウのA
に対応する。
第2図カは第1図の設定器2Aで第1の遅延時
間をT1に設定した場合のカウンタ3Aの出力波
形図であり、第2図カのA2は第2図オのA1か
らT1だけ遅れた信号である。
間をT1に設定した場合のカウンタ3Aの出力波
形図であり、第2図カのA2は第2図オのA1か
らT1だけ遅れた信号である。
第2図キは第2図イのデイジタル信号11Bが
「1」のときのゲート1Bが出力する基準信号1
2であり、第2図キのB1は第2図ウのBに対応
する。
「1」のときのゲート1Bが出力する基準信号1
2であり、第2図キのB1は第2図ウのBに対応
する。
第2図クは、設定器2Bで第2の遅延時間をT
2に設定した場合のカウンタ3Bの出力波形図で
あり、第2図クのB2は第2図キのB1からT2
だけ遅れた信号である。
2に設定した場合のカウンタ3Bの出力波形図で
あり、第2図クのB2は第2図キのB1からT2
だけ遅れた信号である。
第2図ケは、第1図のフリツプフロツプ4を第
2図カのA2でセツトし、第2図クのB2でリセ
ツトしたとき、フリツプフロツプ4から出てくる
試験信号14の波形図である。
2図カのA2でセツトし、第2図クのB2でリセ
ツトしたとき、フリツプフロツプ4から出てくる
試験信号14の波形図である。
第2図ケではフリツプフロツプ4の出力波形と
して1周期分だけを表示しているが、デイジタル
信号11A,11Bおよび基準信号12はそれぞ
れ連続信号なので、第2図ケの波形が連続してフ
リツプフロツプ4の出力から得られる。
して1周期分だけを表示しているが、デイジタル
信号11A,11Bおよび基準信号12はそれぞ
れ連続信号なので、第2図ケの波形が連続してフ
リツプフロツプ4の出力から得られる。
(d) 発明の効果
この発明によれば、カウンタ3Aに第1の遅延
時間をセツトするとともにカウンタ3Bに第2の
遅延時間をセツトし、クロツクパルス13をカウ
ンタ3A,3Bでカウントさせているので、フリ
ツプフロツプ4が出力する試験信号の幅とタイミ
ングを容易に変えることができる。
時間をセツトするとともにカウンタ3Bに第2の
遅延時間をセツトし、クロツクパルス13をカウ
ンタ3A,3Bでカウントさせているので、フリ
ツプフロツプ4が出力する試験信号の幅とタイミ
ングを容易に変えることができる。
第1図はこの発明による実施例の構成図、第2
図は第1図のタイムチヤート。 1A……ゲート、1B……ゲート、2A……設
定器、2B……設定器、3A……カウンタ、3B
……カウンタ、4……フリツプフロツプ、11A
……デイジタル信号、11B……デイジタル信
号、12……基準信号。
図は第1図のタイムチヤート。 1A……ゲート、1B……ゲート、2A……設
定器、2B……設定器、3A……カウンタ、3B
……カウンタ、4……フリツプフロツプ、11A
……デイジタル信号、11B……デイジタル信
号、12……基準信号。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 第1の遅延時間を設定する第1の設定器と、
基準信号と第1のデイジタル信号を入力とする第
1のゲートと、 クロツクパルスと第1のゲート出力を入力と
し、第1の設定器の設定値だけ前記クロツクパル
スをカウントする第1のカウンタと、 第2の遅延時間を設定する第2の設定器と、 前記基準信号と第2のデイジタル信号を入力と
する第2のゲートと、 前記クロツクパルスと第2のゲートの出力を入
力とし、第2の設定器の設定値だけ前記クロツク
パルスをカウントする第2のカウンタと、 第1のカウンタ出力と第2のカウンタ出力を入
力とするフリツプフロツプとを備え、 前記フリツプフロツプの出力から試験信号を発
生することを特徴とする試験信号発生回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60291440A JPS62148868A (ja) | 1985-12-24 | 1985-12-24 | 試験信号発生回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60291440A JPS62148868A (ja) | 1985-12-24 | 1985-12-24 | 試験信号発生回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62148868A JPS62148868A (ja) | 1987-07-02 |
| JPH0547787B2 true JPH0547787B2 (ja) | 1993-07-19 |
Family
ID=17768891
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60291440A Granted JPS62148868A (ja) | 1985-12-24 | 1985-12-24 | 試験信号発生回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62148868A (ja) |
-
1985
- 1985-12-24 JP JP60291440A patent/JPS62148868A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62148868A (ja) | 1987-07-02 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2775822B2 (ja) | インバータのオンディレイ回路 | |
| SU1383463A1 (ru) | Устройство дл формировани серии импульсов | |
| JPS62284518A (ja) | 集積回路 | |
| US4164712A (en) | Continuous counting system | |
| JPS62184373A (ja) | 試験信号発生回路 | |
| JPS62148868A (ja) | 試験信号発生回路 | |
| JPH0540469Y2 (ja) | ||
| JPS62188516A (ja) | 遅延回路 | |
| JP2699399B2 (ja) | 時間差測定回路 | |
| SU752797A1 (ru) | Программируемый преобразователь код-временной интервал | |
| SU744622A1 (ru) | Устройство дл определени отклонени частоты импульсной последовательности от заданной | |
| SU1529425A1 (ru) | Устройство стробировани задержанных импульсных сигналов | |
| SU921094A1 (ru) | Дес тичный счетчик | |
| JPH0545419A (ja) | 半導体試験装置の波形成形回路 | |
| SU917329A1 (ru) | Селектор пар импульсов | |
| SU1550503A1 (ru) | Устройство дл формировани синхросигналов | |
| RU1800595C (ru) | Многоканальный генератор серии задержанных импульсов | |
| SU917172A1 (ru) | Цифровой измеритель временных интервалов | |
| SU711673A1 (ru) | Селектор импульсной последовательности | |
| SU494844A1 (ru) | Формирователь одиночных импульсов | |
| SU387520A1 (ru) | Преобразователь интервалов времени в цифровой код | |
| SU799120A1 (ru) | Устройство задержки и формировани иМпульСОВ | |
| SU616710A1 (ru) | Преобразователь последовательности импульсов в одиночный пр моугольный импульс | |
| SU454662A1 (ru) | Синхронизирующее устройство | |
| SU1569879A1 (ru) | Устройство дл восстановлени тактовых импульсов |