JPH0547848U - 分光光度計 - Google Patents
分光光度計Info
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- JPH0547848U JPH0547848U JP10462791U JP10462791U JPH0547848U JP H0547848 U JPH0547848 U JP H0547848U JP 10462791 U JP10462791 U JP 10462791U JP 10462791 U JP10462791 U JP 10462791U JP H0547848 U JPH0547848 U JP H0547848U
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- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【構成】 被測定物のスペクトルデータを得る測定手段
１２と、前記被測定物の環境を制御する外部パラメータ
制御手段１４と、前記外部パラメータの制御状況に応じ
て測定手段によりスペクトルデータを採取させる測定制
御手段１６と、を備えたことを特徴とする分光光度計１
０。 【効果】 外部パラメータの制御を分光光度計が直接行
なうことが可能となる。
１２と、前記被測定物の環境を制御する外部パラメータ
制御手段１４と、前記外部パラメータの制御状況に応じ
て測定手段によりスペクトルデータを採取させる測定制
御手段１６と、を備えたことを特徴とする分光光度計１
０。 【効果】 外部パラメータの制御を分光光度計が直接行
なうことが可能となる。
Description
【０００１】
本考案は分光光度計、特に被測定物の測定環境を変化させてスペクトルデータ を得る分光光度計の改良に関する。
【０００２】
従来より被測定物のスペクトルデータを採取し、該スペクトルデータより被測 定物の成分の定性、定量的分析を行なう分光光度計が周知である。 ところが近年、被測定物のより詳細なスペクトルデータを得るために、温度、 磁場、電場等を測定対象物に加えて測定を行なう場合がある。すなわち、外部パ ラメータにより測定対象が変化する様子を観察することで、該被測定物のより多 彩なデータを得るのである。
【０００３】 従来、例えば試料の温度をかえてスペクトルを測定する場合には、二つの方法 が採用されてきた。 第一の方法は、独立な温度コントロール装置を用い、試料の温度を設定し、ス ペクトル測定を行なうものである。 また、第二の方法は、外部のコンピュータで温度コントロールを行ないながら 、スペクトル測定を行なうものである。
【０００４】
ところが、前記第一の方法のように独立のコントロール装置を用いる場合、温 度変化とスペクトル測定を同期させるのが困難であるという課題があった。 一方、前記第二の方法のように外部コンピュータを用いる場合には、特別なイ ンターフェイスを外部コンピュータに接続する必要があり、外部コンピュータの 能力により制限が生じてくるという課題が残されていた。すなわち、多数のパラ メータをコントロールしながら高速でスペクトル測定を行なう場合、外部コンピ ュータのスピードにより測定スピードの制限が生じる。また、外部コンピュータ の仕様によりインターフェイスの仕様を変えなければならず、コンピュータの互 換性が無く、極めて不経済のシステムとなってしまうのである。
【０００５】
前記目的を達成するために本考案にかかる分光光度計は、被測定物のスペクト ルデータを得る測定手段と、前記被測定物の環境を制御する外部パラメータ制御 手段と、前記外部パラメータの制御状況に応じて測定手段によりスペクトルデー タを採取させる測定制御手段と、を備えたことを特徴とする。
【０００６】
本考案にかかる分光光度計は、前述したように分光光度計自体に外部パラメー タ制御手段を備えるので、外部パラメータの変更により直接被測定物の環境制御 を行なうことができる。
【０００７】
以下、図面に基づき本考案の好適な実施例を説明する。 図１には本考案の一実施例にかかる分光光度計を液体クロマトグラフに接続し た状態が示されている。 同図において、分光光度計１０は、測定手段１２と、外部パラメータ制御手段 １４と、測定制御手段１６とを備える。 一方、液体クロマトグラフ１８は、ポンプ２０、高圧バルブ２２、インジェク タ２４、カラム２６、検知器２８よりなる。
【０００８】 そして、前記分光光度計１０にはコンピュータ３０が接続され、該コンピュー タ３０からの指示に基づき外部パラメータ制御手段１４が制御情報を出力する。 該制御情報は、Ｉ／Ｏポート３２を介してポンプ２０、高圧バルブ２２、カラム ２６に送られる。この結果、ポンプ２０及び高圧バルブ２２を制御することによ りカラム２６内の圧力を制御し、またカラム２６へ送られた制御情報によりカラ ム温度を制御することができる。
【０００９】 一方、測定制御手段１６はインジェクタ２４からのサンプル投入信号、検知器 ２８からのサンプル通過信号に基づき、測定手段１２に指示を与える。測定手段 １２はその内部に発光器、分光器、フローセル、受光器等を備え、サンプルのス ペクトルを得る。このスペクトル情報は測定制御手段１６を介してディスプレイ ３４等に表示される。
【００１０】 ここで、本実施例においてはコンピュータ３０は単に外部パラメータを外部パ ラメータ制御手段１４に与えるのみであり、実際の外部機器（本実施例ではカラ ム圧、カラム温度）の制御は外部パラメータ制御手段１４が行なう。このため、 コンピュータ３０の負担が大幅に軽減され処理の遅延等の問題を生じることがな く、またコンピュータ３０に特別なインターフェースは要求されず、汎用のコン ピュータを用いることができる。
【００１１】 更に外部パラメータ制御手段１４からの外部機器制御情報或いは液体クロマト グラフ１８に設けられた温度計、圧力計等から温度、圧力等の制御状態を検知し 、測定制御手段１６にフィードバックすることにより、ある特定の外部機器制御 状態におけるスペクトル情報等を容易に得ることができる。 図２には本実施例にかかる分光光度計を用いて1,1-Bi-2-Naphtholの分析を行 なった例が示されており、同図（Ａ）は分光光度計により得られたデータ、同図 （Ｂ）は検知器１８により得られたデータである。 同図より明らかなように、検知器１８の情報に同期してスペクトル情報を得る ことができる。
【００１２】 一方、図３には図２のピーク１及びピーク２のそれぞれのスペクトル情報が表 示されている。 この場合、検知器１８よりのピーク検出情報に基づき、分光光度計１０はポン プ２０を止め、バルブ２２を切換え、試料セルにピーク物質を保持して分光光度 計がスペクトル情報を得ている。 更に図４（Ａ）にはリボヌクレアーゼＡの温度条件をかえた時のＣＤスペクト ルが示されており、このような情報から図４（Ｂ）に示すようにリボヌクレアー ゼＡの温度による立体構造の変化が観察できる。
【００１３】 図５には本考案の第二実施例にかかる分光光度計の要部が示されており、前記 図１と対応する部分には符号１００を加えて示し、説明を省略する。 同図に示す分光光度計は、前記第一実施例のように外部コンピュータから外部 パラメータ情報を得るのではなく、外部記憶装置から直接に外部パラメータ制御 情報を得るものである。 すなわち、同図に示す分光光度計においては、外部パラメータ制御手段１１４ はＣＰＵ１５０，ＰＲＯＭ１５２，ＳＲＡＭ１５４を含む。そして、ＰＲＯＭ１ ５２には外部記憶装置１５６よりＩ／Ｏポート１５８を介してプログラムをよみ こむようにプログラムされている。
【００１４】 外部記憶装置１５６より読み込まれたプログラムはＳＲＡＭ１５４に記憶され 、所望の外部パラメータ制御をＩ／Ｏポート１３２を介して行なう。 例えば分光光度計で外部の温度計、ＰＨ計等の外部パラメータを測定しながら スペクトルの測定を行なう場合、同一のＡ／Ｄコンバータで別のデータを読む必 要があり、Ａ／Ｄコンバータに入る信号のレベルも質も異なる。 この場合、Ａ／Ｄコンバータで読取るデータを単位づけるのに別のプログラム で行なう方が便利であるが、本実施例ではＳＲＡＭ１５４に読み込むプログラム を変更するのみで極めて容易に対応可能である。
【００１５】 このように、本実施例にかかる分光光度計は、例えばフロッピーディスクドラ イブに挿入するフロッピー１６０を交換するのみで多種のプログラムに対応可能 である。 図６には本考案の第三実施例にかかる分光光度計の要部が示されており、前記 図１と対応する部分には符号２００を加えて示し、説明を省略する。 本実施例においては、分光光度計２１０に、パラレルインターフェイス、シリ アルインターフェイス、Ａ／Ｄコンバータ，Ｄ／Ａコンバータ、ＯＮ／ＯＦＦス イッチ等を備えたＩ／Ｏポート２３２を有している。
【００１６】 このため、温度コントローラ２７０、或いは温度計、電磁石、ガウスメータ、 高圧電源、電圧計、電流計、ガス切換えバルブ、ＰＨメータ、流体切換えバルブ 等の外部装置をＩ／Ｏポート２３２に接続することにより、分光光度計２１０に より直接これらの外部装置を制御することができる。 従って、分光光度計本体のプログラムに予め温度を設定しながらスペクトルを 測定するプログラムを用意し、入出力ポートのＲＳ−２３２Ｃで温度コントロー ラ２７０の温度を認知した後で分光測定を行なえば、極めて正確に温度とスペク トルの関係を測定できる。
【００１７】
以上説明したように本考案にかかる分光光度計によれば、被測定物の環境を制 御する外部パラメータ制御手段を備えたので、外部パラメータの制御を分光光度 計が直接行なうことが可能となる。
【図１】本考案の第一実施例にかかる分光光度計の構成
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
【図２】，
【図３】，
【図４】第一実施例にかかる分光光度計を用いた測定例
の説明図である。
の説明図である。
【図５】本考案の第二実施例にかかる分光光度計の要部
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
【図６】本考案の第三実施例にかかる分光光度計の要部
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
１０，２１０ 分光光度計 １２，２１２ 測定手段 １４，１１４，２１４ 外部パラメータ制御手段 １６，１１６，２１６ 測定制御手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)考案者 吉田 裕 東京都八王子市石川町2967番地の５ 日本 分光株式会社内 (72)考案者 磯田 和也 東京都八王子市石川町2967番地の５ 日本 分光株式会社内 (72)考案者 脇本 典夫 東京都八王子市石川町2967番地の５ 日本 分光株式会社内
Claims (1)
- 【請求項１】 被測定物のスペクトルデータを得る測定
手段と、 前記被測定物の環境を制御する外部パラメータ制御手段
と、 前記外部パラメータの制御状況に応じて測定手段により
スペクトルデータを採取させる測定制御手段と、 を備えたことを特徴とする分光光度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1991104627U JP2594579Y2 (ja) | 1991-11-25 | 1991-11-25 | 分光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1991104627U JP2594579Y2 (ja) | 1991-11-25 | 1991-11-25 | 分光光度計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0547848U true JPH0547848U (ja) | 1993-06-25 |
| JP2594579Y2 JP2594579Y2 (ja) | 1999-04-26 |
Family
ID=14385682
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1991104627U Expired - Lifetime JP2594579Y2 (ja) | 1991-11-25 | 1991-11-25 | 分光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2594579Y2 (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02309599A (ja) * | 1989-05-09 | 1990-12-25 | Varian Assoc Inc | マイクロ波誘導されたプラズマのための分光プラズマ・トーチ |
-
1991
- 1991-11-25 JP JP1991104627U patent/JP2594579Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02309599A (ja) * | 1989-05-09 | 1990-12-25 | Varian Assoc Inc | マイクロ波誘導されたプラズマのための分光プラズマ・トーチ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2594579Y2 (ja) | 1999-04-26 |
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