JPH0547876U - Ｉｃテスタに使用されるｄｃ測定ユニットの自己診断回路 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 ＤＣ測定ユニット１の出力以降に基準抵抗ユ
ニットを接続しないでＤＣ測定ユニット１の機能を診断
する。 【構成】 設定電圧を供給する電源１ＡをもつＤＣ測定
ユニット１と、測定されるＩＣ３にＤＣ測定ユニット１
の端子１１と端子１２を接断するピン切換ユニット２を
備えるＩＣテスタにおいて、端子１１と端子１２の間に
抵抗１Ｅを接続し、端子１１と基準電位の間に基準抵抗
１Ｆを接続する。スイッチ１Ｇは基準抵抗１Ｆと端子１
１の間を接断する。ＩＣ３を試験するときはスイッチ１
Ｇを断にし、ピン切換ユニット２を接にし、ＤＣ測定ユ
ニット１の自己診断モードにするときはスイッチ１Ｇを
接にし、ピン切換ユニット２を断にする。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

この考案は、ＩＣテスタに使用されるＤＣ測定ユニットの自己診断回路につい てのものである。

【０００２】 ＩＣテスタのＤＣ測定ユニットには、基準プログラム電圧を加え、負荷に流れ る電流を測定する電圧印加電流測定機能と、基準プログラム電流を加え、負荷に 発生する電圧を測定する電流印加電圧測定機能がある。ＩＣテスタには、ＤＣ測 定ユニットの機能が正常に動作するかどうかを判断する自己診断回路を設ける。

【０００３】

【従来の技術】

次に、従来技術によるＩＣテスタのＤＣ測定ユニットの構成を図２により説明 する。図２の１Ａは電源、１Ｂは増幅器、１Ｃは電流計、１Ｄは増幅器、２はピ ン切換ユニット、３は測定されるＩＣ、４は基準抵抗ユニットである。ＤＣ測定 ユニット１０は図２の１Ａ〜１Ｄで構成され、１１は電圧供給用の端子、１２は 設定電圧に対する帰還用の端子である。

【０００４】 次に、図２の作用を説明する。電源１Ａの設定電圧は端子１１からピン切換ユ ニット２に供給され、ピン切換ユニット２のスイッチによりＩＣ３に加えられる 。図２では、スイッチ２Ａ、２Ｂ、２Ｃ、２Ｄを接にしてＩＣ３に電源１Ａの設 定電圧を加える。電源１ＡがＩＣ３に安定した電圧を供給するように、端子１２ から増幅器１Ｄを通って増幅器１Ｂに帰還をかける。ＤＣ測定ユニット１０の自 己診断状態では、ピン切換ユニット２のスイッチ２Ａ・２Ｃ・２Ｅ・２Ｆを接に して端子１１、端子１２と基準抵抗ユニット４を接続する。

【０００５】 例えば、電源１Ａの設定電圧をＶｆ、基準抵抗ユニット４の抵抗４Ｂの抵抗値 をＲｍ、電流測定値をＩｆとしたとき、Ｉｆ＝Ｖｆ／Ｒｍなら図２は正常に動作 していると診断できる。

【０００６】

【考案が解決しようとする課題】

図２の基準抵抗ユニット４は通常ＩＣテスタ１台あたり１組なので、それぞれ のＤＣ測定ユニット１０ごとに自己診断をする必要があり、ユニット数の多いＩ Ｃテスタでは、自己診断にかかる時間が増大する。また、ＤＣ測定ユニット１０ の機能チェックには、ピン切換ユニット２及び基準抵抗ユニット４の外部回路が 必要になるが、これらの外部回路が故障すると、不良箇所の特定が難しい。

【０００７】 この考案は、ＤＣ測定ユニット１０の端子１１と端子１２の間に抵抗１Ｅを接 続し、端子１１と基準電位の間に基準抵抗１Ｆを接続し、基準抵抗１Ｆと端子１ １との間をスイッチ１Ｇで接断し、ＤＣ測定ユニットの出力以降に基準抵抗ユニ ットを接続しないでＤＣ測定ユニットの機能を診断することができるＤＣ測定ユ ニットの自己診断回路の提供を目的とする。

【０００８】

【課題を解決するための手段】

この目的を達成するため、この考案では、設定電圧を供給する電源１Ａと、前 記設定電圧を供給する端子１１と、前記設定電圧に対する帰還用の端子１２をも つＤＣ測定ユニット１と、測定されるＩＣ３に端子１１と端子１２を接断するピ ン切換ユニット２を備えるＩＣテスタにおいて、端子１１と端子１２の間に接続 される抵抗１Ｅと、端子１１と基準電位の間に接続される基準抵抗１Ｆと、基準 抵抗１Ｆと端子１１の間を接断するスイッチ１ＧとをＤＣ測定ユニット１に設け 、ＩＣ３を試験するときはスイッチ１Ｇを断にし、ピン切換ユニット２を接にし 、ＤＣ測定ユニット１の自己診断モードにするときはスイッチ１Ｇを接にし、ピ ン切換ユニット２を断にする。

【０００９】

【作用】

次に、この考案によるＤＣ測定ユニットの自己診断回路の構成を図１により説 明する。図１の１はＤＣ測定ユニットであり、図１は図２の基準抵抗ユニット４ を取り除き、ＤＣ測定ユニット１に抵抗１Ｅ、基準抵抗１Ｆ、スイッチ１Ｇを追 加したものである。抵抗１Ｅは端子１１と端子１２の間に接続され、基準抵抗１ Ｆは端子１１と基準電位間に接続される。スイッチ１Ｇは基準抵抗１Ｆと端子１ １の間を接断する。

【００１０】 次に、図１の作用を説明する。ＩＣ３を試験するときは、スイッチ１Ｇを断に し、ピン切換ユニット２のピン制御リレー２Ａ、２Ｂ、２Ｃ、２Ｄを接にする。 これにより、ＤＣ測定ユニット１から電源１Ａの設定電圧がＩＣ３のピンに供給 される。

【００１１】 ＤＣ測定ユニット１を自己診断するときは、スイッチ１Ｇを接にし、ピン切換 ユニット２のリレー２Ａ、２Ｂ、２Ｃ、２Ｄを断にする。これにより、ＤＣ測定 ユニット１の端子１１には基準抵抗１Ｆが負荷として接続され、端子１２は抵抗 １Ｅを通して端子１１と同電位になる。

【００１２】 電圧印加電流測定機能の自己診断の場合、電源１Ａから端子１１に電圧Ｖｆが 供給される。これにより、抵抗値Ｒｍをもつ抵抗１Ｆを通して電流Ｉｆが流れる 。このときの電流Ｉｆ＝Ｖｆ／Ｒｍが期待値となる。ＤＣ測定ユニット１内の電 流計１Ｃにより電流Ｉｆの値を測定し、計算式で得られる期待値と比較すれば、 ＤＣ測定ユニット１の良否を判定することができる。このとき抵抗１Ｅは、端子 １１に電圧Ｖｆが安定して出力されるように帰還をかけるために必要になる。

【００１３】

【考案の効果】

この考案によれば、端子１１と端子１２の間に抵抗１Ｅを接続し、端子１１と 基準電位の間に基準抵抗１Ｆを接続し、基準抵抗１Ｆと端子１１の間をスイッチ １Ｇで接断するので、ＤＣ測定ユニットのみで自己診断が可能となる。従って、 外部回路が不必要となり、不良発生時の不良個所の特定が容易になる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この考案によるＤＣ測定ユニットの自己診断回
路の構成図である。

【図２】従来技術によるＤＣ測定ユニットの自己診断回
路の構成図である。

【符号の説明】

１ ＤＣ測定ユニット １Ａ 電源 １Ｂ 増幅器 １Ｃ 電流計 １Ｄ 増幅器 １Ｅ 抵抗 １Ｆ 基準抵抗 １Ｇ スイッチ ２ ピン切換ユニット １１ 電圧供給用の端子 １２ 電圧帰還用の端子

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 設定電圧を供給する電源(1A)と、前記設
   定電圧を供給する第１の端子(11)と、前記設定電圧に対
   する帰還用の第２の端子(12)をもつＤＣ測定ユニット
   (1) と、 測定されるＩＣ(3) に第１の端子(11)と第２の端子(12)
   を接断するピン切換ユニット(2) とを備えるＩＣテスタ
   において、 第１の端子(11)と第２の端子(12)の間に接続される抵抗
   (1E)と、 第１の端子(11)と基準電位の間に接続される基準抵抗(1
   F)と、 基準抵抗(1F)と第１の端子(11)の間を接断するスイッチ
   (1F)とをＤＣ測定ユニット(1) に設け、 ＩＣ(3) を試験するときはスイッチ(1G)を断にし、ピン
   切換ユニット(2) を接にし、ＤＣ測定ユニット(1) を自
   己診断モードにするときはスイッチ(1G)を接にし、ピン
   切換ユニット(2) を断にすることを特徴とするＩＣテス
   タに使用されるＤＣ測定ユニットの自己診断回路。