JPH03732B2 - - Google Patents
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- JPH03732B2 JPH03732B2 JP11943983A JP11943983A JPH03732B2 JP H03732 B2 JPH03732 B2 JP H03732B2 JP 11943983 A JP11943983 A JP 11943983A JP 11943983 A JP11943983 A JP 11943983A JP H03732 B2 JPH03732 B2 JP H03732B2
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- JP
- Japan
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- relay contact
- relay
- contact
- circuit
- signal
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- Emergency Protection Circuit Devices (AREA)
- Relay Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の属する分野〕
本発明は、リレーの動作を自動的に診断するリ
レー動作診断回路に関するものである。
レー動作診断回路に関するものである。
リレーの接点は機械部品であるので、ICなど
の電気回路部品に比較して故障の発生する確率が
高い。一方、リレーはしばしば電気回路のキーポ
イントに使用される為、故障が発生すると回路が
正常に動作しなくなることが多い。ところで、従
来リレー接点の故障の有無を自動的に診断する方
法がなく、その為、電気回路に異常が生じた場合
にすばやく対処することができなかつた。
の電気回路部品に比較して故障の発生する確率が
高い。一方、リレーはしばしば電気回路のキーポ
イントに使用される為、故障が発生すると回路が
正常に動作しなくなることが多い。ところで、従
来リレー接点の故障の有無を自動的に診断する方
法がなく、その為、電気回路に異常が生じた場合
にすばやく対処することができなかつた。
本発明はこのような点に鑑みてなされたもの
で、被測定のリレー接点の動作の良、否を自動的
に判断することができるようにしたものである。
で、被測定のリレー接点の動作の良、否を自動的
に判断することができるようにしたものである。
以下、図面を用いて本発明を詳細に説明する。
第1図は本発明の一実施例を示す回路図である。
図において、Xは被試験のリレー接点、100は
本発明に係るリレーの動作診断回路図である。被
試験のリレー接点Xは端子101,102に接続
されている。Cs1〜Cs3は回路100の外部よ
り入力されるコントロール信号、Ds1〜Ds2は
出力信号である。
第1図は本発明の一実施例を示す回路図である。
図において、Xは被試験のリレー接点、100は
本発明に係るリレーの動作診断回路図である。被
試験のリレー接点Xは端子101,102に接続
されている。Cs1〜Cs3は回路100の外部よ
り入力されるコントロール信号、Ds1〜Ds2は
出力信号である。
診断回路100において、11,12は夫々D
タイプのフリツプ・フロツプ、21はトランジス
タ、22はバツフア・アンプ、23,24はリレ
ー接点、25はリレー接点23,24をドライブ
するドライブ回路である。このドライブ回路25
には信号Cs1が加えらる。30はコンパレート
回路で、31,32はコンパレータ、33〜36
は夫々抵抗素子である。コントロール信号Cs2
はバツフア・アンプ22を介してトランジスタ2
1に加えられる。トランジスタ21のエミツタ電
極は抵抗素子33〜35よりなる分圧回路を介し
て基準電位点COMに接続されると共に、抵抗素
子36とリレー接点23の直列回路を介して被試
験リレー接点Xの一端に接続され、又リレー接点
Xの他端はリレー接点24を介して基準の電位点
COMに接続されている。抵抗素子33と34の
分圧点Bはコンパレータ31の−入力端子に接続
され、抵抗素子34と35の分圧点Cはコンパレ
ータ32の+入力端子に接続されている。抵抗素
子36とリレー接点23の接続点Eは、コンパレ
ータ31,32の+、−入力端子に接続されてい
る。フリツプ・フロツプ11,12におけるプリ
セツト端子PRはコンパレータ31,32の出力
端子に、D端子は基準電位点COMに、又クリア
端子CLRは+5Vの電源端子に夫々接続されてい
る。クロツク端子CKにはクロツク信号としてコ
トロール信号Cs3が加えられる。
タイプのフリツプ・フロツプ、21はトランジス
タ、22はバツフア・アンプ、23,24はリレ
ー接点、25はリレー接点23,24をドライブ
するドライブ回路である。このドライブ回路25
には信号Cs1が加えらる。30はコンパレート
回路で、31,32はコンパレータ、33〜36
は夫々抵抗素子である。コントロール信号Cs2
はバツフア・アンプ22を介してトランジスタ2
1に加えられる。トランジスタ21のエミツタ電
極は抵抗素子33〜35よりなる分圧回路を介し
て基準電位点COMに接続されると共に、抵抗素
子36とリレー接点23の直列回路を介して被試
験リレー接点Xの一端に接続され、又リレー接点
Xの他端はリレー接点24を介して基準の電位点
COMに接続されている。抵抗素子33と34の
分圧点Bはコンパレータ31の−入力端子に接続
され、抵抗素子34と35の分圧点Cはコンパレ
ータ32の+入力端子に接続されている。抵抗素
子36とリレー接点23の接続点Eは、コンパレ
ータ31,32の+、−入力端子に接続されてい
る。フリツプ・フロツプ11,12におけるプリ
セツト端子PRはコンパレータ31,32の出力
端子に、D端子は基準電位点COMに、又クリア
端子CLRは+5Vの電源端子に夫々接続されてい
る。クロツク端子CKにはクロツク信号としてコ
トロール信号Cs3が加えられる。
被試験のリレー接点Xは他の電気回路(図示せ
ず)に組込まれている。このリレー接点Xを診断
する場合には、リレー接点23と24を閉にして
診断回路100に接続する。リレー接点Xが他の
電気回路において本来の動作をしているとき(診
断を行なつていないとき)には、リレー接点23
と24を開にして被試験のリレーXを診断回路1
00より切り離しておく。リレー接点23と24
の閉、開駆動はコントロール信号Cs1をドライ
ブ回路25に加えることによつて行なわれる。以
下、リレー接点23と24が閉で、被試験のリレ
ー接点Xが診断回路100に接続されている場合
について、(1)被試験リレー接点Xの故障の有無、
(2)被試験リレー接点Xの接触抵抗および絶縁抵抗
の良、否の判定、(3)被試験リレーXのチヤタリン
グの有無、について夫々本発明回路の動作を説明
する。
ず)に組込まれている。このリレー接点Xを診断
する場合には、リレー接点23と24を閉にして
診断回路100に接続する。リレー接点Xが他の
電気回路において本来の動作をしているとき(診
断を行なつていないとき)には、リレー接点23
と24を開にして被試験のリレーXを診断回路1
00より切り離しておく。リレー接点23と24
の閉、開駆動はコントロール信号Cs1をドライ
ブ回路25に加えることによつて行なわれる。以
下、リレー接点23と24が閉で、被試験のリレ
ー接点Xが診断回路100に接続されている場合
について、(1)被試験リレー接点Xの故障の有無、
(2)被試験リレー接点Xの接触抵抗および絶縁抵抗
の良、否の判定、(3)被試験リレーXのチヤタリン
グの有無、について夫々本発明回路の動作を説明
する。
(1) リレー接点Xの故障の有無について。
コントロール信号Cs2をバツフア・アンプ
22を介してトランジスタ21に与え、電圧源
Vによりコンパレート回路30における分圧回
路を構成する抵抗素子33,34,35に電流
を供給する。これにより分圧点B,Cにコンパ
レートレベルが設定される。分圧点Aの電圧を
Vとした場合、分圧点Eの電位は被試験のリレ
ー接点Xが開の時V、閉の時基準電位点COM
と同電位となる。ここで、コンパレータ31は
リレー接点Xが開放されているべき場合に確か
に開放しているかどうかを判断する。即ち、コ
ンパレータ31の+入力端子には接続点Eの電
位が、−入力端子には分圧点Bの電位が加えら
れている。その結果、リレー接点Xが正常で、
開になつていればコンパレータ31の出力レベ
ルは“H”となり、異常なら“L”レベルとな
る。
22を介してトランジスタ21に与え、電圧源
Vによりコンパレート回路30における分圧回
路を構成する抵抗素子33,34,35に電流
を供給する。これにより分圧点B,Cにコンパ
レートレベルが設定される。分圧点Aの電圧を
Vとした場合、分圧点Eの電位は被試験のリレ
ー接点Xが開の時V、閉の時基準電位点COM
と同電位となる。ここで、コンパレータ31は
リレー接点Xが開放されているべき場合に確か
に開放しているかどうかを判断する。即ち、コ
ンパレータ31の+入力端子には接続点Eの電
位が、−入力端子には分圧点Bの電位が加えら
れている。その結果、リレー接点Xが正常で、
開になつていればコンパレータ31の出力レベ
ルは“H”となり、異常なら“L”レベルとな
る。
次に、コンパレータ32はリレー接点Xの閉
の状態を判断する。即ち、コンパレータ32の
+入力端子には接続点Cの電位が、又−入力端
子には接続点Eの電位が加えられている。その
結果、リレーXの接点が正常で、閉じているべ
き場合に閉じていればコンパレータ32の出力
レベルは“H”、異常なら“L”レベルとなり、
この出力はフリツプ・フロツプ11のプリセツ
ト端子PRに加えらる。
の状態を判断する。即ち、コンパレータ32の
+入力端子には接続点Cの電位が、又−入力端
子には接続点Eの電位が加えられている。その
結果、リレーXの接点が正常で、閉じているべ
き場合に閉じていればコンパレータ32の出力
レベルは“H”、異常なら“L”レベルとなり、
この出力はフリツプ・フロツプ11のプリセツ
ト端子PRに加えらる。
(2) 接触抵坑の良、否の判定について。
リレーの特性として、接続の接触抵抗が大き
な問題になる。リレー接点Xの接触抵抗をr、
抵抗素子33〜36の値をR1〜R4とし、配
線抵抗を無視すれば、 r<R4×{R3/(R1+R2)} ……(1) の関係があるなら、コンパレータ32はこれを
正常と判断する。即ち、リレー接点Xの接触抵
抗が正常ならばコンパレータ32の出力レベル
は“H”、rの値が(1)式を超えていれば“L”
レベルとなる。コンパレータ32の出力信号は
フリツプ・フロツプ12のプリセツト端子PR
に加えられる。
な問題になる。リレー接点Xの接触抵抗をr、
抵抗素子33〜36の値をR1〜R4とし、配
線抵抗を無視すれば、 r<R4×{R3/(R1+R2)} ……(1) の関係があるなら、コンパレータ32はこれを
正常と判断する。即ち、リレー接点Xの接触抵
抗が正常ならばコンパレータ32の出力レベル
は“H”、rの値が(1)式を超えていれば“L”
レベルとなる。コンパレータ32の出力信号は
フリツプ・フロツプ12のプリセツト端子PR
に加えられる。
リレーにおいてはその接点が開の場合におけ
る絶縁抵抗も問題となる。本発明においては絶
縁抵抗の値が規定値より小さに場合はこれを検
出することができる。即ち、リレー接点Xの絶
縁抵抗の値をr′とした場合、配線抵抗を無視す
れば、 r′>R4×{(R2+R3)/R1}……(2) であればコンパレータ31は“H”レベルの信
号を出力する。この“H”レベルの信号はフリ
ツプ・フロツプ11のPR端子に加えられる。
る絶縁抵抗も問題となる。本発明においては絶
縁抵抗の値が規定値より小さに場合はこれを検
出することができる。即ち、リレー接点Xの絶
縁抵抗の値をr′とした場合、配線抵抗を無視す
れば、 r′>R4×{(R2+R3)/R1}……(2) であればコンパレータ31は“H”レベルの信
号を出力する。この“H”レベルの信号はフリ
ツプ・フロツプ11のPR端子に加えられる。
フリツプ・フロツプ11はそのプリセツト端
子PRに“H”レベルの信号が加えられてもQ
出力は変化しないが、“L”レベルの信号が加
えられるとQ出力は“H”レベルとなる。前記
した如く、リレー接点Xが開放されるべき場合
に確に開放していればコンパレータ31の出力
レベルは“H”、そうでなければ“L”となる。
又、リレー接点Xの絶縁抵抗、接触抵抗が良の
場合、コンパレータ31,32の出力レベルは
“H”、そうでなければ“L”となり、これらの
レベルがフリツプ・フロツプ11,12のプリ
セツト端子PRに加えられる。よつて、フリツ
プ・フロツプ11と12のQ出力端子より得ら
れる信号Ds1とDs2のレベルよりリレー接点
Xの動作の良、否および絶縁抵抗、接触抵抗の
良、否を判断することができる。この良、否の
判断はコンピユータ(図示せず)を用いること
により、自動的に処理することができる。
子PRに“H”レベルの信号が加えられてもQ
出力は変化しないが、“L”レベルの信号が加
えられるとQ出力は“H”レベルとなる。前記
した如く、リレー接点Xが開放されるべき場合
に確に開放していればコンパレータ31の出力
レベルは“H”、そうでなければ“L”となる。
又、リレー接点Xの絶縁抵抗、接触抵抗が良の
場合、コンパレータ31,32の出力レベルは
“H”、そうでなければ“L”となり、これらの
レベルがフリツプ・フロツプ11,12のプリ
セツト端子PRに加えられる。よつて、フリツ
プ・フロツプ11と12のQ出力端子より得ら
れる信号Ds1とDs2のレベルよりリレー接点
Xの動作の良、否および絶縁抵抗、接触抵抗の
良、否を判断することができる。この良、否の
判断はコンピユータ(図示せず)を用いること
により、自動的に処理することができる。
(3) チヤタリングの問題について。
被試験リレー接点Xにその接点を開又は閉に
する命令を与えてからから実際にその接点が
開、閉するまでには数ミリ秒の時間を要する。
更には、ドライ接点のリードリレーの場合、
開、閉動作後もしばらくはチヤタリングが発生
する。第2図はリレーXのチヤタリングの状態
を示すもので、イ及びハは正常、ロ及びニは異
常な場合を示すものである。本発明において
は、このようなリレーの動作時間と復帰時間の
異常の有無を判断することができる。
する命令を与えてからから実際にその接点が
開、閉するまでには数ミリ秒の時間を要する。
更には、ドライ接点のリードリレーの場合、
開、閉動作後もしばらくはチヤタリングが発生
する。第2図はリレーXのチヤタリングの状態
を示すもので、イ及びハは正常、ロ及びニは異
常な場合を示すものである。本発明において
は、このようなリレーの動作時間と復帰時間の
異常の有無を判断することができる。
即ち、第2図においてt1はリレーXを閉に
する信号が印加される時刻、t2は開にする信
号が印加される時刻を示すものである。Δt1
はリレーXが時刻t1からチヤタリングも無く
なり正常に閉じるまでの時間、Δt2は時刻t
2から一定時間経過してリレーXが確実に開の
状態になるまでの時間(Δt1,Δt2は実施例
で3msecを示すものである。ここで今、時刻
t1においてリレー接点Xを閉にする信号を印
加してからΔt1経過したのちコントロール信
号Cs3をフリツプ・フロツプ11,12のク
ロツク端子CKに印加する。このコントロール
信号Cs3はフリツプ・フロツプ11,12の
内容をクリヤする為に用いられる。コントロー
ル信号Cs3が印加された時刻において、第2
図イに示す如くリレー接点Xが確実に閉じてい
ればコンパレータ32の出力レベルは“H”で
あるので、フリツプ・フロツプ12の出力は
“L”レベルとなる。一方、コントロール信号
Cs3が印加された時刻において第2図ロに示
す如くリレー接点Xが未だ閉じていない場合に
はフリツプ・フロツプ12の出力は“H”レベ
ルとなる。即ち、リレー接点Xを閉にする信号
を印加してからチヤタリングもなく正常に閉じ
ていれば出力信号Ds2のレベルは“H”、異常
ならば“L”になる。
する信号が印加される時刻、t2は開にする信
号が印加される時刻を示すものである。Δt1
はリレーXが時刻t1からチヤタリングも無く
なり正常に閉じるまでの時間、Δt2は時刻t
2から一定時間経過してリレーXが確実に開の
状態になるまでの時間(Δt1,Δt2は実施例
で3msecを示すものである。ここで今、時刻
t1においてリレー接点Xを閉にする信号を印
加してからΔt1経過したのちコントロール信
号Cs3をフリツプ・フロツプ11,12のク
ロツク端子CKに印加する。このコントロール
信号Cs3はフリツプ・フロツプ11,12の
内容をクリヤする為に用いられる。コントロー
ル信号Cs3が印加された時刻において、第2
図イに示す如くリレー接点Xが確実に閉じてい
ればコンパレータ32の出力レベルは“H”で
あるので、フリツプ・フロツプ12の出力は
“L”レベルとなる。一方、コントロール信号
Cs3が印加された時刻において第2図ロに示
す如くリレー接点Xが未だ閉じていない場合に
はフリツプ・フロツプ12の出力は“H”レベ
ルとなる。即ち、リレー接点Xを閉にする信号
を印加してからチヤタリングもなく正常に閉じ
ていれば出力信号Ds2のレベルは“H”、異常
ならば“L”になる。
ここで、リレー接点Xを開にする時刻t2に
おいてリレー接点Xを開にする信号を印加して
からΔt2経過したのち、コントロール信号Cs
3をフリツプ・フロツプ11,12のクロツク
端子CKに印加する。コントロール信号Cs3が
印加された時刻において、第2図イに示す如く
リレー接点Xが確実に開になつていれば、コン
パレータ31の出力レベルは“H”であるので
フリツプ・フロツプ12の出力は“L”レベル
となる。一方、コントロール信号Cs3が印加
された時刻において第2図ニに示す如くリレー
の接点Xにチヤタリングが接続している場合に
はフリツプ・フロツプ11のQ出力は“H”レ
ベルとなる。即ち、リレー接点Xを閉にする信
号を印加してからチヤタリングもなく正常に閉
じていれば、出力信号Ds1のレベルは“L”、
異常ならば“H”になる。この“H”、“L”レ
ベルの信号はコンピユータによつて処理され
る。
おいてリレー接点Xを開にする信号を印加して
からΔt2経過したのち、コントロール信号Cs
3をフリツプ・フロツプ11,12のクロツク
端子CKに印加する。コントロール信号Cs3が
印加された時刻において、第2図イに示す如く
リレー接点Xが確実に開になつていれば、コン
パレータ31の出力レベルは“H”であるので
フリツプ・フロツプ12の出力は“L”レベル
となる。一方、コントロール信号Cs3が印加
された時刻において第2図ニに示す如くリレー
の接点Xにチヤタリングが接続している場合に
はフリツプ・フロツプ11のQ出力は“H”レ
ベルとなる。即ち、リレー接点Xを閉にする信
号を印加してからチヤタリングもなく正常に閉
じていれば、出力信号Ds1のレベルは“L”、
異常ならば“H”になる。この“H”、“L”レ
ベルの信号はコンピユータによつて処理され
る。
以上のように、本発明においては被試験リレー
接点Xの故障、接触抵抗、絶縁抵抗、チヤタリン
グのうちの1つでも問題がある場合、その診断を
一対のフリツプ・フロツプを用いて自動的に行な
う装置を得ることができる。その結果リレーを使
用した電気回路にそのリレーに異常が生じた場
合、その異状にすばやく対処することができる。
接点Xの故障、接触抵抗、絶縁抵抗、チヤタリン
グのうちの1つでも問題がある場合、その診断を
一対のフリツプ・フロツプを用いて自動的に行な
う装置を得ることができる。その結果リレーを使
用した電気回路にそのリレーに異常が生じた場
合、その異状にすばやく対処することができる。
第1図は本発明に係るリレーの動作診断回路の
一実施例を示す接続図、第2図は第1図回路の動
作を説明するための波形図である。 X……被測定のリレー接点、11,12……フ
リツプ・フロツプ、23,24……リレー、3
1,32……コンパレータ。
一実施例を示す接続図、第2図は第1図回路の動
作を説明するための波形図である。 X……被測定のリレー接点、11,12……フ
リツプ・フロツプ、23,24……リレー、3
1,32……コンパレータ。
Claims (1)
- 1 被測定のリレー接点、コントロール信号によ
り駆動される分圧回路、この分圧回路の駆動源と
被測定のリレー接点の間に直列に接続された抵抗
素子と第1のリレー接点、前記被測定のリレー接
点と基準の電位点間に接続された第2のリレー接
点、前記抵抗素子と第1のリレー接点の接続点に
おける電圧と前記分圧回路における異なる値の分
圧電圧とが互いに逆になつてそれぞれ入力端子に
印加される一対のコンパレータ、およびこの一対
のコンパレータの出力がそれぞれのプリセツト端
子に印加されると共にクロツク端子にコントロー
ル信号が印加されQ端子より前記被測定のリレー
接点の動作の良、否が判断され信号が取出される
D形のフリツプ・フロツプ、よりなるリレーの動
作診断回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11943983A JPS6010533A (ja) | 1983-06-30 | 1983-06-30 | リレ−の動作診断回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11943983A JPS6010533A (ja) | 1983-06-30 | 1983-06-30 | リレ−の動作診断回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6010533A JPS6010533A (ja) | 1985-01-19 |
| JPH03732B2 true JPH03732B2 (ja) | 1991-01-08 |
Family
ID=14761440
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11943983A Granted JPS6010533A (ja) | 1983-06-30 | 1983-06-30 | リレ−の動作診断回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6010533A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2524011B2 (ja) * | 1991-05-23 | 1996-08-14 | 株式会社日立製作所 | 高圧コイル注型用熱硬化性樹脂組成物、該組成物で注型、硬化してなるモ―ルドコイル、パネル |
| CN105595607B (zh) * | 2015-12-24 | 2017-05-17 | 宁波市江北怡和健康管理有限公司 | 防止刷毛压弯的刷头与刷盖配合结构 |
| JP7713399B2 (ja) * | 2022-01-17 | 2025-07-25 | オークマ株式会社 | 入力接点診断装置 |
-
1983
- 1983-06-30 JP JP11943983A patent/JPS6010533A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6010533A (ja) | 1985-01-19 |
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