JPH0548046U - 計測プログラム自動作成装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 ＰＷＢ等の電子回路の特性を計測する計測装
置を動作させるために用いられる計測プログラムを自動
的に作成する計測プログラム自動作成装置を得る。 【構成】 電子回路の計測仕様を入力するための計測仕
様入力手段と、この計測仕様から入力された計測仕様と
予め設定されている標準的な計測仕様とを照合し、その
結果に応じ、計測仕様と予め設定されている標準的な計
測仕様を照合し、その結果に応じて入力された計測仕様
を修正する計測品質確認手段により修正された計測仕様
を計測器のハードウェアに対応し易い形式の計測条件設
定表に展開する計測条件設定表作成手段と、計測装置に
対応するプログラム辞書が格納された言語変換データベ
ースとこのデータベース内のプログラム辞書を用い、計
測設定表作成手段で作成した計測条件設定表を計測プロ
グラムに変換する手段を備え、計測プログラムを自動的
に取り出し、計測装置を作動させる。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案は、ＰＷＢ等の電子回路の特性を計測する計測装置を動作するために用 いる計測プログラムを自動的に作成する装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】

一般に電子回路を搭載したプリント板を回路設計し、組み立て配線後は汎用プ リント板計測システムと呼ばれる計測装置により、ＰＷＢの特性の計測及び試験 が行われる。この計測装置は複数の信号発生手段や計測手段を有し、これらを計 測プログラムに従い、動作させることにより種々の試験を可能にするものである 。このような計測装置を用い、電子回路の特性を計測する際の全体の構成図を図 ４に示す。計測装置１に接続ケーブル２を介して計測回路３が接続されている。 計測回路３は接続ケーブル２に接続されるインターフェース回路４と周辺回路５ とコネクタ治具６とを有し、コネクタ治具６に供試ＰＷＢ７が接続され、周辺回 路５はＰＷＢ７が実際に使用されるときの周辺の状態を作り出すと共に、ＰＷＢ ７を試験することができるよう多数の切り替えスイッチ（リレー）（図は省略） を配置したものである。

【０００３】 そして、計測装置１が計測プログラムに従って作動し、インターフェース回路 ４及び周辺回路５等を通してＰＷＢに電気信号を入力する。

【０００４】 これにより供試ＰＷＢ７が動作し、ＰＷＢ７の出力は周辺回路５及びインター フェース回路４を介して計測装置１に入力され、計測装置１で計測される。

【０００５】 ここで、計測装置１を作動させるための計測プログラム、周辺回路５及びイン ターフェース回路４は、試験しようとするＰＷＢ７の回路設計固有のものであり 、従来次のような手順で作成されていた。

【０００６】 ステップ１； ＰＷＢ７の設計時に作成されるデバイス仕様に基いて、計測項 目を選択し、ＰＷＢ７の計測仕様を作成する。

【０００７】 ステップ２； 計測装置１を用いた計測方法を検討する。

【０００８】 ステップ３； 計測実施に必要なインターフェース回路４及び周辺回路５を設 計する。

【０００９】 ステップ４； インターフェース回路４及び周辺回路５を制作し、これらを接 続するとともに、周辺回路５にコネクタ治具６を制作する。

【００１０】 ステップ５； ステップ１及び２の計測項目及び計測方法に基づき、計測装置 １専用のＢＡＳＩＣ言語による計測プログラムを作成する。

【００１１】 ステップ６； 接続ケーブル２を介して計測回路３を計測装置１に接続すると ともに、コネクタ接続治具６にＰＷＢ７を装着し、計測装置１を計測プログラム に従って動作させ所要の計測ができるか否かの確認を行う。

【００１２】 ステップ７； ステップ６で得られた計測データと、ＰＷＢ７の検査仕様との 相関を確認する。

【００１３】 ステップ８； 計測時間短縮，データ品質の向上及び計測作業性の改善等の目 的に応じ計測順序を再検討する。

【００１４】 ステップ９； 計測プログラム及び計測回路３の最終仕様を決定する。

【００１５】 尚、ステップ７において、所要のデータが得られない場合は、ステップ２から ステップ７を繰り返し、計測プログラムや計測回路３の再作成を実施する。

【００１６】 それでも所要の計測データを得られない場合は、ステップ１からやり直す場合 がある。

【００１７】 このような各ステップに従って計測プログラムが作成されていたが、従来ステ ップ１を供試ＰＷＢ７の設計者が担当し、ステップ２からステップ７を試験担当 者が担当していた。

【００１８】 これは、既存装置１の各計測器が独自の形式による計測パラメータを使用して いるので、各計測器の機種毎にそれぞれのハードウェア及びソフトウェアを理解 しているテスト担当者がステップ２からステップ７を担当していたのである。

【００１９】

【考案が解決しようとする課題】

以上のように従来は、計測プログラムの作成が全面的に人手に依存されており 、多大の労力と時間とを費やしていた。また人手に依存しているため、計測プロ グラムの作成時に人為的なミスが生じ易く、正確さ及び実行時間等の計測プログ ラムの品質が試験技術者の知識及び経験等により大幅に左右されるという問題が あった。

【００２０】 本考案の目的は、計測装置を作動させるための計測プログラムを容易に自動的 に取り出すことができる計測プログラム自動作成装置を提供することにある。

【００２１】

【課題を解決するための手段】

本考案は、電子回路の特性を計測する計測装置を動作させるための計測プログ ラムを作成する計測プログラム自動作成装置であって、 前記電子回路の取得情報を入力する計測仕様入力手段と、 この計測仕様入力手段から入力された計測パラメータと、予め装置内に搭載し てある標準計測パラメータとを照合し、その照合結果に応じて、前記入力計測パ ラメータを修正する計測条件定義作成手段と、 前記計測装置に搭載した計測プログラム語辞書が格納されている言語変換デー タベースと、 この言語変換データベース内のプログラム言語辞書を用いた計測条件定義作成 手段とを有することを特徴とする。

【００２２】 また本考案は、電子回路の計測仕様入力手段と、 前記計測仕様入力手段から入力された計測仕様と予め設定されている標準的な 計測仕様とを照合し、その結果に応じて入力計測仕様を修正する計測品質確認手 段と、 前記計測品質確認手段により修正された計測仕様を計測装置のハードウェアに 対応し易い形式の計測条件設定表に展開するための計測条件設定表作成手段と、 計測装置に対応するプログラム辞書が格納されている言語変換データベースと 、 前記変換データベース内のプログラム辞書を用いて、前記計測条件設定表作成 手段で作成された計測条件設定表を計測プログラムに変換する計測プログラム変 換手段とを有することを特徴とする。

【００２３】

【実施例】

図１は本考案の一実施例を示すブロック図である。この計測プログラム自動作 成装置は、計測仕様作成装置１０と、この計測仕様作成装置１０に接続された計 測条件設定表作成装置２０と、この計測条件設定表作成装置２０に接続されたプ ログラム変換装置３０とから構成されている。

【００２４】 計測仕様作成装置１０は、被計測物であるＰＷＢの計測仕様を入力するための 端末装置１１を有している。端末装置１１は例えばＣＲＴ等のディスプレイとキ ーボードとを備えており、この端末装置１１に計測仕様作成部１２が接続されて いる。この計測仕様作成部１２に計測品質確認手段となる計測品質確認部１３が 接続されている。計測品質確認部１３は２つの目的を持ち、１番目の目的には、 計測仕様の不備を防止するものであり、例えば半導体の構造に起因するリーク特 性の測定項目、パッケージの構造に起因する無接続端子（ＮＣ端子）の確認項目 、過去の経験による信頼性保証のための計測項目等を含む標準的計測仕様が予め 設定されている。２番目の目的には、計測方法，条件，計測シーケンス等の計測 仕様を決定する各要素について標準的な仕様が提供され、設計者は会話形式によ り選択的に仕様書を作成することになり、計測仕様そのものを計測条件設定表の 作成が容易な形式に標準化することを意図している。そして、この標準的計測仕 様と計測仕様作成部１２で実際に作成された計測仕様とを照合し、その結果を端 末装置１１にフィードバックすることにより計測仕様の追加，修正，解除等を可 能にすると共に計測仕様の形式の標準化を行う。

【００２５】 計測仕様作成部１２及び計測品質確認部１３で作成された計測仕様を格納する 計測仕様データベース１４が、計測仕様作成部１２及び計測品質確認部１３に接 続されている。この計測仕様データベース１４には出力装置１５が接続されてお り、計測仕様を一定の形式、例えば電子回路の試験成績書等の様式で出力するこ とが可能である。これら端末装置１１，計測仕様作成部１２，計測品質確認部１ ３，計測仕様データベース１４および出力装置１５により、計測仕様作成装置１ ０が構成されている。

【００２６】 計測条件設定表作成装置２０は、計測仕様作成装置１０の計測仕様データベー ス１４に接続された計測条件設定表作成部２１を有している。この計測条件設定 表作成部２１は計測条件設定表作成手段を構成するものであり、計測仕様作成装 置１０で作成された計測仕様を標準的な計測装置（図示省略）のハードウェアに 対応し易い形式の計測条件設定表に変換する。

【００２７】 計測条件設定表作成部２１には計測条件設定表の変更及び修正を可能とするた め入力装置２３が接続されると共に、計測条件設定表作成部２１で作成された計 測条件設定表を格納するための計測条件設定表データベース２２が接続されてい る。これら計測条件設定表作成部２１，計測条件設定表データベース２２及び入 力装置２３により計測条件設定表作成装置２０が構成されている。

【００２８】 計測条件設定表作成装置２０の計測条件設定表データベース２２にはプログラ ム変換装置３０の計測プログラム変換部３１が接続され、さらにこの計測プログ ラム変換部３１に言語変換データベース３２が接続されている。この言語変換デ ータベース３２は、異なった機種の計測装置にそれぞれ対応する複数のプログラ ム辞書を備えている。計測プログラム変換部３１は計測プログラム変換手段を構 成するものであり、変換データベース３２のプログラム辞書を用いて計測条件設 定表作成装置２０で作成された計測条件設定表を、特定の計測装置に適合した計 測プログラムに変換する。計測プログラム変換部３１には、計測機器の選定を行 うための入力装置３５が接続されると共に、この計測プログラム変換部３１で作 成された計測プログラムを格納するための計測プログラムデータベース３３が接 続され、さらに、このデータベース３３に出力装置３４が接続されている。この 出力装置３４は計測プログラム計測装置で処理可能な形にメディア変換し、この 結果を出力する。これら計測プログラム変換部３１，変換データベース３２，計 測プログラムデータベース３３，出力装置３４及び入力装置３５により、プログ ラム変換装置３０が構成されている。

【００２９】 次に、本実施例の動作を説明する。

【００３０】 供試体である電子回路の設計者等の作業者により、計測仕様作成装置１０の端 末装置１１のディスプレイには、計測仕様作成部１２から一般言語の会話形式に よって計測仕様の質問事項が順次表示され、作業者はその供試体の試験仕様を電 子回路のデバイス仕様と比較しながらディスプレイ上の質問事項に答えていく。

【００３１】 計測仕様の質問事項としては、例えば測定項目名称，測定項目記号，規格最大 値，規格最小値，計測モード，端子条件設定の有無，端子番号の設定条件等があ る。

【００３２】 この設定仕様の入力に伴って、計測品質確認部１３では、計測仕様作成部１２ に入力された計測仕様と予め設定されている標準的計測仕様との照合が行われ、 その結果が必要に応じて端末装置１１にフィードバックされる。これにより計測 仕様の追加，修正，解除等が可能になるとともに計測仕様の標準化が行われる。

【００３３】 このようにして作成された計測仕様は、計測仕様データベース１４内に格納さ れる。

【００３４】 この計測仕様は必要に応じて、出力装置１５から試験成績書として出力される 。

【００３５】 次に計測仕様データベース１４内の計測仕様は計測条件設定表作成装置２０の 計測条件設定表作成部２１に引き出され、ここで標準的な計測装置のハードウェ アに対応し易い形式の計測条件設定表に変換される。この計測条件設定表は、入 力装置２３からの指示により変更及び修正されるようになっている。

【００３６】 その後、計測条件設定表は計測条件設定表作成部２１に接続されている計測条 件設定表データベース２２に格納される。こうして計測条件設定表作成装置２０ で作成された計測条件設定表は、データベース２２から計測プログラム変換装置 ３０の計測プログラム変換部３１に引き出され、ここで計測プログラムに変換さ れる。

【００３７】 一方、計測プログラム変換装置３０の入力装置３５から計測装置の選定が行わ れ計測プログラム変換部３１は選定された計測装置に対応するプログラム辞書を 言語変換データベース３２内から選択し、このプログラム辞書を用いて計測条件 設定表のプログラム変換を行う。

【００３８】 以上のようにして作成された計測プログラムは計測プログラムデータベース３ ３内に格納され、出力装置３４により計測装置で処理可能な形にメディア変換さ れ出力する。

【００３９】 このようにして特定の計測装置に対応した計測プログラムの作成が行われる。 ここで具体的な計測プログラム作成の実施例を示す。

【００４０】 図２は、オーディオ信号増幅用のＩＣ４１とこのＩＣ使用時における周辺の回 路を示している。ＩＣ４１は５つのピンＰ１からＰ５を有すると共に、以下の表 １に示す様なデバイス仕様を有しているものとする。

【００４１】

【表１】

【００４２】 端子電圧及び出力端子電圧のチェック、ＮＣ端子が無接触であることの確認、入 力リーク電流のチェック等の計測項目が計測仕様内に含まれているかどうかの確 認を行い、含まれていない場合には端末装置１１のディスプレイにこれらの項目 を表示させて計測仕様の修正を行う。このようにして作成された計測仕様の各項 目を実行するために設計された周辺回路を図３に示す。この回路は図２の回路に 切り替えスイッチＳＷ１からＳＷ４と、端子ＸＰＴ−１からＸＰＴ−４を設けた ものである。

【００４３】 試験時には入力端子Ｔ１及び出力端子Ｔ２にそれぞれ計測装置内のオーディオ ソース（信号源）及びオーディオ・ボルトメータを接続して計測が行われる。

【００４４】 計測仕様作成装置１０で作成された計測仕様を計測条件設定表作成装置２０で 表２の計測条件設定表に変換される。

【００４５】

【表２】

【００４６】 この計測条件設定表から例えばＩＣ４１のＮＣ端子であるピンＰ５の無接触の 状態を確認する場合には、切り替えスイッチＳＷ１及びＳＷ３をオンに、ＳＷ２ 及びＳＷ４をオフにすると共に端子ＸＰＴ−２には電源電圧＋３０Ｖを印加し、 端子ＸＰＴ−３から１０μＡの電流を流して計測を行うことが分かる。次に、計 測プログラム変換装置３０により、この計測条件設定表から計測プログラムが作 成される。

【００４７】 この計測プログラムは、計測条件設定表の各項目毎に順次その計測条件に従っ て計測がなされるようにオーディオ・ソースのオン・オフ、周辺回路の切り替え スイッチのＳＷ１からＳＷ４の設定を制御し、計測を実行するものである。この 計測プログラムは出力装置３４によりメディア変換され出力する。

【００４８】 尚、計測装置は通常それぞれ独自の入力形式によるＢＡＳＩＣ言語を使用して いるので、計測装置の種類に適応したプログラム言語を用いる必要があるが、上 述したように計測プログラム変換装置３０の変換データベース３２には、各機種 の計測装置に適応したプログラム言語が格納されている。従って、これから使用 しようとする計測装置に適したプログラム言語による計測プログラムを容易に作 成することができる。

【００４９】 さらに、計測プログラムを出力する出力装置３４と計測装置とをオンラインで 接続してこの計測プログラム自動作成装置により直接計測装置を制御できるよう にすると共に、端末装置１１から出力装置３４までの処理時間の短縮を図ること により、端末装置１１から一般ＢＡＳＩＣ言語入力によるデバッグ作業が容易と なる。

【００５０】

【考案の効果】

以上説明したようにこの発明によれば、電子回路の計測仕様を入力するための 計測仕様入力手段と、この計測仕様から入力された計測仕様と予め設定されてい る標準的な計測仕様とを照合し、その結果に応じて前記入力された計測仕様を修 正する計測品質確認手段により修正された計測仕様を計測器のハードウェアに対 応しやすい形式に計測条件設定表に展開する計測条件設定表作成手段と、計測装 置に対応するプログラム辞書が格納された変換データベースと、この変換データ ベース内のプログラム辞書を用いて前記計測条件設定表作成手段で作成された計 測条件設定表を計測プログラムに変換する計測プログラム変換手段とを備えてい るので、計測装置を作動させるための計測プログラムを容易に自動的に取り出す ことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案の一実施例に係る計測プログラム自動作
成装置を示す構成ブロック図である。

【図２】図１の実施例において供試体となる電子回路と
使用時における電子回路の周辺の回路を示す回路図であ
る。

【図３】図２の回路に計測用の切り替えスイッチ等を配
した周辺回路図である。

【図４】電子回路の試験を行う為の従来の装置を示すブ
ロック図である。

【符号の説明】

１０ 計測使用作成装置 １１ 端末装置 １２ 計測仕様作成部 １３ 計測品質確認部 ２０ 計測条件設定表作成装置 ３０ 計測プログラム変換装置

Claims (2)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】電子回路の特性を計測する計測装置を動作
   させるための計測プログラムを作成する計測プログラム
   自動作成装置であって、 前記電子回路の取得情報を入力する計測仕様入力手段
   と、 この計測仕様入力手段から入力された計測パラメータ
   と、予め装置内に搭載してある標準計測パラメータとを
   照合し、その照合結果に応じて、前記入力計測パラメー
   タを修正する計測条件定義作成手段と、 前記計測装置に搭載した計測プログラム語辞書が格納さ
   れている言語変換データベースと、 この言語変換データベース内のプログラム言語辞書を用
   いた計測条件定義作成手段とを有することを特徴とする
   計測プログラム自動作成装置。
2. 【請求項２】電子回路の計測仕様入力手段と、 前記計測仕様入力手段から入力された計測仕様と予め設
   定されている標準的な計測仕様とを照合し、その結果に
   応じて入力計測仕様を修正する計測品質確認手段と、 前記計測品質確認手段により修正された計測仕様を計測
   装置のハードウェアに対応し易い形式の計測条件設定表
   に展開するための計測条件設定表作成手段と、 計測装置に対応するプログラム辞書が格納されている言
   語変換データベースと、 前記変換データベース内のプログラム辞書を用いて、前
   記計測条件設定表作成手段で作成された計測条件設定表
   を計測プログラムに変換する計測プログラム変換手段と
   を有することを特徴とする計測プログラム自動作成装
   置。