JPH0548053Y2

JPH0548053Y2 -

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Publication number: JPH0548053Y2
Application number: JP9878788U
Authority: JP
Priority date: 1988-07-26
Filing date: 1988-07-26
Publication date: 1993-12-20
Anticipated expiration: 2003-07-26
Also published as: JPH0220082U

Description

【考案の詳細な説明】 (a) 考案の技術分野この考案は、ICなどの部品を温度試験する場
合に使用する恒温槽において、低温試験のときに
恒温槽の側壁に発生する結露を防止すう機構につ
いてのものである。[Detailed explanation of the invention] (a) Technical field of the invention This invention is a thermostatic chamber used for temperature testing parts such as ICs, and is designed to prevent condensation from forming on the side walls of the thermostatic chamber during low-temperature tests. It's about mechanisms.

(b) 従来技術と問題点次に、第２図を参照して従来技術による恒温槽
の構成を説明する。(b) Prior Art and Problems Next, the configuration of a thermostat according to the prior art will be explained with reference to FIG.

第２図の１は恒温槽、２は外壁、３は断熱材、
４は内壁、５はベース、８はシヤツター、９は出
入口、１０はハンド、１１はIC、１２はプツシ
ヤ、１３は測定部、１４はケーブル、１５はIC
試験器である。 In Figure 2, 1 is a thermostatic chamber, 2 is an outer wall, 3 is a heat insulator,
4 is an inner wall, 5 is a base, 8 is a shutter, 9 is an entrance/exit, 10 is a hand, 11 is an IC, 12 is a pusher, 13 is a measurement part, 14 is a cable, 15 is an IC
It is a test device.

第２図は、高温または低温に設定できる恒温槽
１内にIC１１を入れ、IC１１を温度別に試験す
るオートハンドラの構成図である。 FIG. 2 is a configuration diagram of an autohandler that tests the IC 11 at different temperatures by placing the IC 11 in a constant temperature bath 1 that can be set to high or low temperatures.

ハンド１０はIC１１を恒温槽１の外部から測
定部１３へ出し入れする。 The hand 10 takes the IC 11 in and out from the outside of the thermostatic chamber 1 into and out of the measuring section 13.

測定部１３とIC試験器１５は、ケーブル１４
で接続される。第２図では、ケーブル１４で接続
しているが、測定部１３とIC試験器１５とは、
プローブコンタクトなどで接続される場合もあ
る。 The measurement unit 13 and the IC tester 15 are connected to the cable 14
Connected with In FIG. 2, the cable 14 connects the measuring section 13 and the IC tester 15.
They may also be connected using probe contacts or the like.

ハンド１０で測定部１３に運ばれたIC１１は、
プツシヤ１２で押され、測定部１３と接触させら
れて、温度試験を受ける。 The IC 11 carried by the hand 10 to the measuring section 13 is
It is pressed with the pusher 12 and brought into contact with the measuring part 13 to undergo a temperature test.

プツシヤ１２は図示を省略した駆動機構で、上
下に移動する。 The pusher 12 is a drive mechanism (not shown) that moves up and down.

恒温槽１の内部は、均一な温度にするため、外
部とは熱的に遮断する必要がある。 The inside of the constant temperature bath 1 needs to be thermally isolated from the outside in order to maintain a uniform temperature.

第２図では、恒温槽１の側面と上面には、それ
ぞれ外壁２と内壁４の間に断熱材３を入れてい
る。 In FIG. 2, a heat insulating material 3 is placed between the outer wall 2 and the inner wall 4 on the side and top surfaces of the constant temperature oven 1, respectively.

第２図のような構成では、断熱材３の厚さをか
なり厚くしないと効果がなく、また、厚さの寸法
誤差も多くなる。 The configuration shown in FIG. 2 is ineffective unless the heat insulating material 3 is considerably thick, and there are also many dimensional errors in the thickness.

これに対し、IC１１を安定した状態で試験す
るためには、測定部１３とプツシヤ１２の位置関
係に対する寸法誤差をなるべく小さくする必要が
ある。 On the other hand, in order to test the IC 11 in a stable state, it is necessary to minimize the dimensional error in the positional relationship between the measuring section 13 and the pusher 12.

また、測定部１３とIC試験器１５の距離は、
電気信号の遅れを少なくするため、極力近づける
必要がある。 In addition, the distance between the measuring section 13 and the IC tester 15 is
In order to reduce the delay in electrical signals, it is necessary to place them as close as possible.

このため、ベース５には、外壁２、断熱材３お
よび内壁４の構成を使用することができず、寸法
精度のよい樹脂板、例えばガラスエポキシ樹脂板
を使用している。 Therefore, the structure of the outer wall 2, heat insulating material 3, and inner wall 4 cannot be used for the base 5, and a resin plate with good dimensional accuracy, such as a glass epoxy resin plate, is used for the base 5.

しかし、IC１１の低温試験をする場合、 −5°C〜−10°Cで30分間程の使用であれば、ベ
ース５が樹脂板でも問題ないが、 −5°C〜−10°Cで30分以上または −50℃で温度試験をする場合、樹脂板の外気に
接している面が結露や着霜してしまい、その露や
霜が恒温槽１の下にセツトされているIC試験器
１５に落ちてIC試験器１５が電気的にシヨート
するという問題がある。 However, when performing a low temperature test for IC11, if it is used for about 30 minutes at -5°C to -10°C, there is no problem even if the base 5 is a resin plate, but at -5°C to -10°C When performing a temperature test for more than a minute or at -50°C, the surface of the resin plate that is in contact with the outside air may form condensation or frost. There is a problem that the IC tester 15 may be electrically shot due to the failure.

(c) 考案の目的この考案は、恒温槽の底面に温度調節のできる
ヒートプレートを取り付け、低温試験のときにヒ
ートプレートで恒温槽の底面を加熱し、低温試験
のときに発生する結露や着霜をなくすことができ
る恒温槽の提供を目的とする。(c) Purpose of the invention This invention attaches a heat plate that can adjust the temperature to the bottom of the thermostatic chamber, and uses the heat plate to heat the bottom of the thermostatic chamber during low-temperature tests to prevent condensation and condensation that occur during low-temperature tests. The purpose is to provide a constant temperature bath that can eliminate frost.

また、露や霜が解けて、IC試験器が電気的シ
ヨートするのを防ぐことができる恒温槽の提供を
目的とする。 Another objective is to provide a constant temperature chamber that can prevent the IC tester from electrically firing due to the melting of dew and frost.

また、ベースの厚さを薄くして、測定部とIC
試験器を近づけることができる恒温槽の提供を目
的とする。 In addition, the thickness of the base has been made thinner so that the measuring part and IC
The purpose is to provide a constant temperature bath that allows testing equipment to be brought close.

(d) 考案の実施例次に、この考案による実施例の構成図を第１図
に示す。(d) Example of the invention Next, a block diagram of an example of the invention is shown in FIG. 1.

第１図の６はヒートプレート、７は温度制御器
であり、その他は第２図と同じである。 6 in FIG. 1 is a heat plate, 7 is a temperature controller, and the other parts are the same as in FIG. 2.

ヒートプレート６は、温度制御器７に接続され
ており、温度制御器７はヒートプレート６の温度
を任意に設定することができる。 The heat plate 6 is connected to a temperature controller 7, and the temperature controller 7 can arbitrarily set the temperature of the heat plate 6.

恒温槽１の内部が、例えば−10℃のときは温度
制御器７でヒートプレート６を＋50℃にする。 When the temperature inside the constant temperature bath 1 is, for example, -10°C, the heat plate 6 is set to +50°C using the temperature controller 7.

また、恒温槽１の内部が、例えば−50℃のとき
は温度制御器７でヒートプレート６を＋80℃にす
る。 Further, when the temperature inside the constant temperature bath 1 is, for example, -50°C, the heat plate 6 is set to +80°C by the temperature controller 7.

このようにヒートプレート６の温度を恒温槽１
の内部温度に対応して設定すれば、恒温槽１の内
部の温度分布に影響を与えることなく、ベース５
の下面の結露や着霜を防ぐことができる。 In this way, the temperature of the heat plate 6 is adjusted to the constant temperature bath 1.
If the temperature is set according to the internal temperature of the base 5, it will not affect the temperature distribution inside the thermostatic chamber 1.
This prevents dew condensation and frost from forming on the underside.

また、ヒートプレート６の厚さは６mm程度で済
むので、ヒートプレート６をベース５に取り付け
た場合、ヒートプレート６とベース５の両方合わ
せても20mm程度の厚さで構成することができる。
これにより、測定部１３とIC試験器１５を近づ
けて、配置することができる。 Further, since the thickness of the heat plate 6 is only about 6 mm, when the heat plate 6 is attached to the base 5, the combined thickness of both the heat plate 6 and the base 5 can be about 20 mm.
Thereby, the measuring section 13 and the IC tester 15 can be placed close to each other.

(e) 考案の効果この考案によれば、恒温槽の底面に温度調整の
できるヒートプレートを取り付けているので、低
温試験のときにヒートプレートで恒温槽の底面を
加熱し、低温試験のときに発生する結露や着霜を
なくすことができる。(e) Effects of the invention According to this invention, a heat plate that can adjust the temperature is attached to the bottom of the thermostatic chamber, so the bottom of the thermostatic chamber is heated by the heat plate during low-temperature tests. It can eliminate condensation and frost formation.

また、ヒートプレートで恒温槽の底面を加熱す
るので、露や霜が解けて、IC試験器が電気的シ
ヨートするのを防ぐことができる。 Additionally, since the bottom of the thermostatic chamber is heated with a heat plate, dew and frost can melt and prevent the IC tester from electrically firing.

また、ヒートプレートは薄いものを使用するこ
とができるので、ベースの厚さを薄くし、測定部
とIC試験器を近づけることができる。 Furthermore, since a thin heat plate can be used, the thickness of the base can be reduced and the measurement unit and IC tester can be brought closer together.

[Brief explanation of the drawing]

第１図はこの考案による実施例の構成図、第２
図は従来技術による恒温槽の構成図である。１……恒温槽、２……外壁、３……断熱材、４
……内壁、５……ベース、６……ヒートプレー
ト、７……温度制御器、８……シヤツタ、９……
出入口、１０……ハンド、１１……IC、１２…
…プツシヤ、１３……測定部、１４……ケーブ
ル、１５……IC試験器。 Figure 1 is a configuration diagram of an embodiment according to this invention, Figure 2
The figure is a configuration diagram of a thermostat according to the prior art. 1... Constant temperature chamber, 2... Outer wall, 3... Insulation material, 4
...Inner wall, 5...Base, 6...Heat plate, 7...Temperature controller, 8...Shutter, 9...
Entrance/exit, 10...Hand, 11...IC, 12...
...pusher, 13...measuring section, 14...cable, 15...IC tester.

Claims

[Scope of Claim for Utility Model Registration] A heat plate attached to the lower part of the resin plate in a constant temperature oven in which a heat insulating material is inserted between the outer wall and the inner wall on the side and top surfaces and a resin plate is used on the bottom surface, and the heat plate A dew condensation prevention mechanism for a thermostatic oven, comprising: a temperature controller that controls the temperature of the thermostatic oven; and heating the heat plate when the temperature inside the thermostatic oven is set to a low temperature.