JPH0548432B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0548432B2
JPH0548432B2 JP59109005A JP10900584A JPH0548432B2 JP H0548432 B2 JPH0548432 B2 JP H0548432B2 JP 59109005 A JP59109005 A JP 59109005A JP 10900584 A JP10900584 A JP 10900584A JP H0548432 B2 JPH0548432 B2 JP H0548432B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
controller
input
information
computer
lsi
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP59109005A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS60252275A (ja
Inventor
Takao Watanabe
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yokogawa Electric Corp filed Critical Yokogawa Electric Corp
Priority to JP59109005A priority Critical patent/JPS60252275A/ja
Publication of JPS60252275A publication Critical patent/JPS60252275A/ja
Publication of JPH0548432B2 publication Critical patent/JPH0548432B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、アナログLSI試験装置に関し、詳し
くは複数組のLSI計測モジユール群を計算機で制
御する装置において、LSI計測モジユールのコン
トローラを操作する権利すなわち操作権を計算機
側とするか計測モジユール側とするかの操作権切
換え方式の改良に関するものである。
(従来の技術) 第2図は従来のアナログLSI試験装置の一例を
示す構成図である。図において、計算機2にはタ
ーミナルおよび外部メモリ3が接続されると共
に、バス4を介して複数組のLSI計測モジユール
101,102が接続され、計算機2の管理下で各
部が作動する。
LSI計測モジユール101は、コントローラ1
1、操作パネル121、測定器131,141より
構成され、他方のLSI計測モジユール102もこ
れと同一の構成となつている。
コントローラ111は、計算機2より指令され
る試験条件に基づき作動し、操作パネル121
らの情報をも参照して測定器131,141を付勢
する。測定器131,142は被試験LSI(図示せ
ず)と接続され、LSIの付勢ないしLSIからのデ
ータ測定を適宜に行うことができるようになつて
いる。コントローラ111はこの測定器を介して
得た測定データをバス4上に出力することができ
る。計算機2はバス4に出力されたデータを取り
込み、取り込んだデータをもとに被試験LSIの良
否判定を行うことができる。
しかしながら、このような従来の装置におい
て、階層構成を採らない計算機制御による場合に
は操作権(又は制御権とも言われる)はターミナ
ル又は操作パネルからの操作開始要求によつて容
易に決定することが可能であるが、階層構成を採
り物理距離が大の場合にはターミナルと操作パネ
ルとの操作開始要求は先着要求優先の方式となつ
ている。
従つて、階層構成を採る従来装置では、操作の
途中で操作権を切換えようとした場合、操作権を
強制的に切換えることが不可能であるため一度操
作権を解放した後で新たな操作権を確立するとい
つた煩しい手順を必要とし、スループツトの低下
やスループツト低下に関連するデータ解析能力の
低下といつた問題があつた。
(発明の目的) 本発明の目的は、このような点に鑑み、階層構
成が採用された装置であつて操作の途中において
も操作権を強制的に切換えることができ、これに
よりデータ解析及びスループツトの能力の向上を
図り得るアナログLSI試験装置を提供することに
ある。
(発明の概要) このような目的を達成するための本発明は、計
算機の下位階層として接続され、計算機により管
理し制御される複数個の計測モジユールを備え、
各計測モジユールを被試験LSIに接続し被試験
LSIの各種動作試験を行うアナログLSI試験装置
において、 前記各計測モジユールは、コントローラと、こ
のコントローラに与える情報を入力するための操
作パネルと、コントローラにより制御され被試験
LSIに対し必要な信号を供給すると共に被試験
LSIより測定信号を得てコントローラに与える測
定器より構成され、 前記コントローラは操作パネルからの入力情報
を受付け保持する入力割込回路を備え、この入力
割込回路からの情報あるいは計算機からの情報に
基づいて測定器を制御する機能を有し、 前記計算機は、ホストプロセツサ部分と、前記
コントローラを操作する権利に係わるメツセージ
を記憶する共有メモリより構成され、前記各計測
モジユールのコントローラに対して情報の授受を
行なうと共に、得られた情報をもとに適宜の解析
を行なう機能を備え、 前記ホストプロセツサ部分に対して情報を入力
するターミナル を具備し、通常はコントローラを操作する権利が
放棄されるまでは先に確立した操作する権利が保
持され、特に操作の途中で前記操作する権利を強
制的に計算機側へ切換える場合は、 (1) 前記共有メモリ経由でターミナルからの強制
終了要求メツセージを受けると前記コントロー
ラは操作パネルからの情報入力をロツクして入
力割込回路に保持するようにし、共有メモリ経
由で割込入力ロツク完了メツセージを前記ホス
トプロセツサ部分へ送り、 (2) 前記入力割込回路ロツク完了メツセージによ
りコントローラを操作する権利が計算機側に移
り、前記ターミナルからの情報に基づきホスト
プロセツサ部分がコントローラを制御し、 (3) 前記ターミナルの入力によりコントローラを
操作する権利が放棄されると、コントローラは
共有メモリ経由でその権利放棄を知り入力割込
回路のロツク状態を解除し保持されていた入力
情報の吐き出しと操作パネルからの新たな入力
情報を受付ける ようにして行われる構成としたことを特徴とす
る。
(実施例) 以下図面を用いて本発明を詳しく説明する。第
1図は本発明の一実施例図である。同図は階層構
成を採用した計算機制御によるLSI試験装置であ
り、20はホストプロセツサとしての機能を有す
る計算機、1101,1102はコントローラ部分
である。他の部分については第2図の従来装置に
おけるものと同一であり同一符号を付してその説
明を省略する。
また、第3図は操作権切換えの際の信号の流れ
を詳述するために第1図装置の一部をより詳細に
示した構成図である。第3図において、計算機2
0はホストプロセツサ部分21と共有メモリ22
より構成され、共有メモリ22は操作権に係わる
メツセージを記憶するために設けられている。コ
ントローラ部分1101は、第2図のコントロー
ラ111と同様の機能を持つコントローラ111
と、操作パネル121からの割込み入力を保持し
たその信号がコントローラ111に読み取られる
ように構成された入力割込回路112より構成さ
れる。
このような構成における動作を次に説明する。
以下には本発明の特徴とする操作権に係わる動作
について述べる。
ホストプロセツサ21に接続されたターミナル
1は下位階層のコントローラ1101,1102
制御すべくホストプロセツサ21に対して操作権
を要求する。
ホストプロセツサ21は、コントローラについ
て現状の操作権の所在を確認し、先の要求により
確立された操作権(ターミナル又は操作パネルに
与えられた操作権)をデータ形式で共有メモリ2
2に保存する。一方、コントローラ111はホス
トプロセツタ側へメツセージとして操作権の有無
を返す。
ホストプロセツサ2は、このメツセージを受け
てコントローラ111の動作を確認し、当該コン
トローラが操作権を放棄するまでは原則として先
に確立した操作権を保持する(メツセージ及び制
御信号は第3図の、、、の順序で伝わ
る)。
途中で操作権を強制的に切換える場合の動作は
次のとおりである。
ホストプロセツサ21経由でターミナル1から
強制終了要求メツセージを共有メモリ22に書き
込む(第3図の手順番号、)。コントローラ
111は、メモリ22からバス4上に送出された
強制終了要求メツセージを受け取り、操作パネル
121からの割込入力をロツクすることにより入
力割込回路112に保持させる(第3図の手順
、)。この状態の後操作権をターミナル1へ
移すためにコントローラ111は割込入力ロツク
完了メツセージを共有メモリ22経由でホストプ
ロセツサ21へ送る(第3図の手順、)。
これによりターミナル1は操作権を得てコント
ローラ111と測定器131の操作を行うことが
できる。
なお、操作中に操作パネル121からの入力が
あつたときにはその情報が入力割込回路112で
ロツクされ、操作権が復帰したときに自動的に操
作パネル121からの入力がアクテイブとなりロ
ツクされていた入力情報が吐き出されコントロー
ラ111に入力され適宜実行される。すなわち操
作権が復帰したときにはそこでの未処理の仕事が
遂行される。これにより、操作権が復帰したとき
情報入力が未処理のままで残り、不合理状態で動
作を終了し、次の操作開始時等で操作ミスを誘発
するという如き危険性を防止することができる。
なお、ターミナルの数、共有メモリの数は実施
例での個数に限定されることなく、ターミナルの
場合はデバイスアドレスを、共有メモリの場合は
共有メモリアドレスを変更することにより増加す
ることができる。また、コントローラとその操作
パネルも同様にその個数を増加することができ
る。
(発明の効果) 以上説明したように本発明によれば、操作権を
任意の時点で切換えることができ、更にこのよう
な切換が可能となつたことから、操作パネルより
操作した経過をそのまま引継いで更に詳細なレベ
ルの操作を可能とし、高度な現象解析及びエラー
からの回復が可能となる。即ち異常動作になつた
場合、操作権をより高度な解析能力を持つターミ
ナルへ移し、引続いて行われるターミナルの操作
によつて操作パネルでは不可能であつたメモリア
クセス等を可能とし、詳細なハードレジスタアク
セス等を行うことによつて異常原因の解析を容易
にする。
また、上述のようにメモリアクセス等が可能と
なることからプログラムの部分ロード(Load)
等の制御も可能となり、異常動作からの回復手段
も豊富になるという利点がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のアナログLSI試験装置の一実
施例を示す要部構成図、第2図は従来のアナログ
LSI試験装置の一例を示す図、第3図は第1図に
おける動作説明のための構成図である。 1……ターミナル、20……計算機、21……
ホストマイクロプロセツサ、22……共有メモ
リ、101,102……計測モジユール、111…
…コントローラ、112……入力割込回路、12
,122……操作パネル、131,132,141
142……測定器。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 計算機の下位階層として接続され、計算機に
    より管理し制御される複数個の計測モジユールを
    備え、各計測モジユールを被試験LSIに接続し被
    試験LSIの各種動作試験を行うアナログLSI試験
    装置において、 前記各計測モジユールは、コントローラと、こ
    のコントローラに与える情報を入力するための操
    作パネルと、コントローラにより制御され被試験
    LSIに対し必要な信号を供給すると共に被試験
    LSIより測定信号を得てコントローラに与える測
    定器より構成され、 前記コントローラは操作パネルからの入力情報
    を受付け保持する入力割込回路を備え、この入力
    割込回路からの情報あるいは計算機からの情報に
    基づいて測定器を制御する機能を有し、 前記計算機は、ホストプロセツサ部分と、前記
    コントローラを操作する権利に係わるメツセージ
    を記憶する共有メモリより構成され、前記各計測
    モジユールのコントローラに対して情報の授受を
    行なうと共に、得られた情報をもとに適宜の解析
    を行なう機能を備え、 前記ホストプロセツサ部分に対して情報を入力
    するターミナル を具備し、通常はコントローラを操作する権利が
    放棄されるまでは先に確立した操作する権利が保
    持され、特に操作の途中で前記操作する権利を強
    制的に計算機側へ切換える場合は、 (1) 前記共有メモリ経由でターミナルからの強制
    終了要求メツセージを受けると前記コントロー
    ラは操作パネルからの情報入力をロツクして入
    力割込回路に保持するようにし、共有メモリ経
    由で割込入力ロツク完了メツセージを前記ホス
    トプロセツサ部分へ送り、 (2) 前記入力割込回路ロツク完了メツセージによ
    りコントローラを操作する権利が計算機側に移
    り、前記ターミナルからの情報に基づきホスト
    プロセツサ部分がコントローラを制御し、 (3) 前記ターミナルの入力によりコントローラを
    操作する権利が放棄されると、コントローラは
    共有メモリ経由でその権利放棄を知り入力割込
    回路のロツク状態を解除し保持されていた入力
    情報の吐き出しと操作パネルからの新たな入力
    情報を受付ける ようにして行われる構成としたことを特徴とする
    アナログLSI試験装置。
JP59109005A 1984-05-29 1984-05-29 アナログlsi試験装置 Granted JPS60252275A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59109005A JPS60252275A (ja) 1984-05-29 1984-05-29 アナログlsi試験装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59109005A JPS60252275A (ja) 1984-05-29 1984-05-29 アナログlsi試験装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS60252275A JPS60252275A (ja) 1985-12-12
JPH0548432B2 true JPH0548432B2 (ja) 1993-07-21

Family

ID=14499149

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP59109005A Granted JPS60252275A (ja) 1984-05-29 1984-05-29 アナログlsi試験装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS60252275A (ja)

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS522244A (en) * 1975-06-24 1977-01-08 Toshiba Corp Measuring system

Also Published As

Publication number Publication date
JPS60252275A (ja) 1985-12-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0451788B2 (ja)
US4563736A (en) Memory architecture for facilitating optimum replaceable unit (ORU) detection and diagnosis
JPH0548432B2 (ja)
US6125456A (en) Microcomputer with self-diagnostic unit
JP2752911B2 (ja) ポート接続確認方法
JP2626127B2 (ja) 予備系ルート試験方式
JPH01155452A (ja) データ処理システムの接続確認方式
JP2584903B2 (ja) 外部装置制御方式
JPH045150B2 (ja)
JP3357952B2 (ja) 自動検査システム
JP2735246B2 (ja) テストアンドセット方式
JP2877505B2 (ja) Lsi実装ボード及びデータ処理装置
JPH0152774B2 (ja)
JPH0399326A (ja) マイクロプログラムローデイング方法とローデイング制御装置と情報処理装置と情報処理システム
JPH0662114A (ja) プロセッサ間診断処理方式
JPS6349812B2 (ja)
JPH02173852A (ja) バス診断装置
JPS59123056A (ja) 冗長機能自動切替システム
JP2531080B2 (ja) バスアダプタ切り換え方式
JPH06103220A (ja) データ処理システム
JP3012402B2 (ja) 情報処理システム
JPS63131234A (ja) 診断制御方式
JPH03175770A (ja) 並行データ試験方法
JPS58121459A (ja) 電子計算機のサ−ビスプロセツサ
JPH0218745B2 (ja)