JPH0548849B2 - - Google Patents
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- JPH0548849B2 JPH0548849B2 JP60092666A JP9266685A JPH0548849B2 JP H0548849 B2 JPH0548849 B2 JP H0548849B2 JP 60092666 A JP60092666 A JP 60092666A JP 9266685 A JP9266685 A JP 9266685A JP H0548849 B2 JPH0548849 B2 JP H0548849B2
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- photometry
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- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
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- G—PHYSICS
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- G01J1/02—Details
- G01J1/0228—Control of working procedures; Failure detection; Spectral bandwidth calculation
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- G—PHYSICS
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- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
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- G01J1/04—Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
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- G—PHYSICS
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- G01J1/04—Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
- G01J1/0407—Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings
- G01J1/0414—Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings using plane or convex mirrors, parallel phase plates, or plane beam-splitters
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- G—PHYSICS
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- G01J1/0407—Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings
- G01J1/0418—Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings using attenuators
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- G—PHYSICS
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- G01J1/02—Details
- G01J1/04—Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
- G01J1/0407—Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings
- G01J1/0466—Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings with a sighting port
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/08—Arrangements of light sources specially adapted for photometry standard sources, also using luminescent or radioactive material
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/08—Arrangements of light sources specially adapted for photometry standard sources, also using luminescent or radioactive material
- G01J2001/086—Calibrating drift correction
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/10—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void
- G01J1/20—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void intensity of the measured or reference value being varied to equalise their effects at the detectors, e.g. by varying incidence angle
- G01J1/22—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void intensity of the measured or reference value being varied to equalise their effects at the detectors, e.g. by varying incidence angle using a variable element in the light-path, e.g. filter, polarising means
- G01J1/24—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void intensity of the measured or reference value being varied to equalise their effects at the detectors, e.g. by varying incidence angle using a variable element in the light-path, e.g. filter, polarising means using electric radiation detectors
- G01J2001/242—Filter wheel, i.e. absorption filter series graduated
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- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は被測定部からの光束を測定する測光
器、さらに詳しくは、標準光源を使用して目盛の
定めを行う測光器に関する。
器、さらに詳しくは、標準光源を使用して目盛の
定めを行う測光器に関する。
測光器の測定精度を高めるためには、目盛り定
め、すなわち標準光源を使用してデータ読取りを
行うこと、及び複数の測定レンジを有する場合に
各測定レンジ間の相関を取ること、すなわち一定
の入射光量についていずれの測定レンジにおいて
も同一の読取り値を得るようにするための調整を
正確に行うことを要する。
め、すなわち標準光源を使用してデータ読取りを
行うこと、及び複数の測定レンジを有する場合に
各測定レンジ間の相関を取ること、すなわち一定
の入射光量についていずれの測定レンジにおいて
も同一の読取り値を得るようにするための調整を
正確に行うことを要する。
上記調整を行う従来の測光装置としては、米国
特許第3818198号公報に記載されたものが知られ
ている。すなわち、本装置は、受光素子と増幅器
との間に主インピーダンスを接続して光検出回路
を形成し、一方これとは別に補正対象要素の数に
応じた数の補正用可変インピーダンスを備えてい
る。そして、目盛り定め、及び濃度フイルターを
変えて測光レンジを変える場合並びに開口絞りを
変えて測光領域を変える場合の相関調整が、所定
の可変インピーダンスを所定値に調整して上記主
インピーダンスに接続することによつて行われる
ように構成される。
特許第3818198号公報に記載されたものが知られ
ている。すなわち、本装置は、受光素子と増幅器
との間に主インピーダンスを接続して光検出回路
を形成し、一方これとは別に補正対象要素の数に
応じた数の補正用可変インピーダンスを備えてい
る。そして、目盛り定め、及び濃度フイルターを
変えて測光レンジを変える場合並びに開口絞りを
変えて測光領域を変える場合の相関調整が、所定
の可変インピーダンスを所定値に調整して上記主
インピーダンスに接続することによつて行われる
ように構成される。
従来の上記測光装置においては、複数の補正用
可変インピーダンスを準備しなければならず部品
点数が多く、またそれらを接続する部品及び回路
を要し、製造コストが高い問題があつた。また、
目盛り定め及び相関調整の操作が複雑であり、特
に、測光の度に標準光源を使用して上記調整を行
つて常に適正な補正用インピーダンスを接続し
て、精度の高い測光を行うことは困難であつた。
可変インピーダンスを準備しなければならず部品
点数が多く、またそれらを接続する部品及び回路
を要し、製造コストが高い問題があつた。また、
目盛り定め及び相関調整の操作が複雑であり、特
に、測光の度に標準光源を使用して上記調整を行
つて常に適正な補正用インピーダンスを接続し
て、精度の高い測光を行うことは困難であつた。
本発明は上記従来の測光装置の問題に鑑みなさ
れたものであつて、目盛り定め及び相関調整を可
変インピーダンスを使用せずして行うことができ
る測光器を提供することを目的とする。
れたものであつて、目盛り定め及び相関調整を可
変インピーダンスを使用せずして行うことができ
る測光器を提供することを目的とする。
本発明はまた、目盛り定め及び相関調整が自動
的に行われ、標準電球の経年変化や測光器自体の
振動等による狂いによる測定精度の低下を排除
し、測定の信頼性の低下を防ぐことができる測光
器を提供することを目的とする。
的に行われ、標準電球の経年変化や測光器自体の
振動等による狂いによる測定精度の低下を排除
し、測定の信頼性の低下を防ぐことができる測光
器を提供することを目的とする。
本発明は上記目的を達成するため以下の構成上
の特徴を有する。すなわち、本発明は、入射光を
電気信号として検出する光検出部と、 測定者の操作に従い測光条件を変更可能に構成
され、上記光検出部へ被測定部からの光束を導く
測光光学系と、 測定者の操作により、目盛定めモードと測光モ
ードとを切り替えるモード切り換え部と、 標準光源の理論的明るさデータDstd及び目的目
盛定めモードの際上記検出部の出力を上記標準光
源に係る複数の標準光源明るさデータRstdとして
記憶する記憶部と、 測光モードの際の上記検出部の出力を被測定部
明るさデータRnとし、上記記憶部に記憶されて
いる上記明るさデータDstd及び上記データRnを測
定した場合の測光条件と同一の条件において測定
された上記明るさデータRstdを読み出し、これに
基づき Ｒ＝Rn×Dstd／Rstd を演算して被測定部の明るさデータＲを演算する
演算部と を有することを特徴とする測光器である。
の特徴を有する。すなわち、本発明は、入射光を
電気信号として検出する光検出部と、 測定者の操作に従い測光条件を変更可能に構成
され、上記光検出部へ被測定部からの光束を導く
測光光学系と、 測定者の操作により、目盛定めモードと測光モ
ードとを切り替えるモード切り換え部と、 標準光源の理論的明るさデータDstd及び目的目
盛定めモードの際上記検出部の出力を上記標準光
源に係る複数の標準光源明るさデータRstdとして
記憶する記憶部と、 測光モードの際の上記検出部の出力を被測定部
明るさデータRnとし、上記記憶部に記憶されて
いる上記明るさデータDstd及び上記データRnを測
定した場合の測光条件と同一の条件において測定
された上記明るさデータRstdを読み出し、これに
基づき Ｒ＝Rn×Dstd／Rstd を演算して被測定部の明るさデータＲを演算する
演算部と を有することを特徴とする測光器である。
以下、本発明を輝度計に適用した実施例を図に
基づいて説明する。第１図は該実施例のブロツク
図であり、光学系１０は、測定（図示せず）の像
を結像させるための対物レンズ１と、周囲に直径
の異なる複数の開口絞りを設け、対物レンズ１の
結像位置に回転可能に斜設された開口絞り反射板
２と、異なる濃度のフイルターを同一円周上に設
けて開口絞り反射板２に後方に回転可能に配置さ
れたフイルター板３と、フイルター板３の後方に
配置されたリレーレンズ４とを有する。光学系１
０は、さらに、開口絞り反射板２の反射光軸に配
置された反射鏡５と、反射鏡５の反射光軸上に配
置されたリレーレンズ６及び接眼レンズ７とを有
する。
基づいて説明する。第１図は該実施例のブロツク
図であり、光学系１０は、測定（図示せず）の像
を結像させるための対物レンズ１と、周囲に直径
の異なる複数の開口絞りを設け、対物レンズ１の
結像位置に回転可能に斜設された開口絞り反射板
２と、異なる濃度のフイルターを同一円周上に設
けて開口絞り反射板２に後方に回転可能に配置さ
れたフイルター板３と、フイルター板３の後方に
配置されたリレーレンズ４とを有する。光学系１
０は、さらに、開口絞り反射板２の反射光軸に配
置された反射鏡５と、反射鏡５の反射光軸上に配
置されたリレーレンズ６及び接眼レンズ７とを有
する。
上記構成の光学系１０において、測点像が対物
レンズ１によつて開口絞り反射板２上に結像す
る。開口絞り反射板２において、設定されている
開口絞りによつて測点上の測光領域が決められ、
該測光領域から発した光束のみが開口絞りを通過
し、さらにフイルター板３上と所定のフイルター
を通過して、測点の測光領域の像が後述の受光素
子２２上に結像する。一方、開口絞り反射板２に
よつて反射された光束は反射鏡５、リレーレンズ
６及び接眼レンズ７を介して測定者の眼に達す
る。これにより測定者は測光領域が暗く抜けた測
点像を見ることができる。
レンズ１によつて開口絞り反射板２上に結像す
る。開口絞り反射板２において、設定されている
開口絞りによつて測点上の測光領域が決められ、
該測光領域から発した光束のみが開口絞りを通過
し、さらにフイルター板３上と所定のフイルター
を通過して、測点の測光領域の像が後述の受光素
子２２上に結像する。一方、開口絞り反射板２に
よつて反射された光束は反射鏡５、リレーレンズ
６及び接眼レンズ７を介して測定者の眼に達す
る。これにより測定者は測光領域が暗く抜けた測
点像を見ることができる。
一方、電気系は、インターフエイス部６０と、
インターフエイス部６０に接続された光検出部２
０、駆動モータ部５０、エンコーダ部３０と、光
検出部２０に接続された制御演算部４０と、イン
ターフエイス部６０及び制御演算部４０に接続さ
れた表示器９０、記憶回路７０、操作器８０とか
ら形成される。
インターフエイス部６０に接続された光検出部２
０、駆動モータ部５０、エンコーダ部３０と、光
検出部２０に接続された制御演算部４０と、イン
ターフエイス部６０及び制御演算部４０に接続さ
れた表示器９０、記憶回路７０、操作器８０とか
ら形成される。
インターフエイス部６０は各入力信号をそれぞ
れ出力側に適した信号に変換して出力する。光検
出部２０は、光学系１０からの光束が入射してこ
れを光電変換する受光素子２２と、受光素子２２
の出力を制御演算部４０から出力されインタフエ
イス部６０を介して入力される信号に従つて増幅
する増幅器２４とから成る。駆動モータ部５０は
フイルター板駆動モータ５２と開口絞り反射板駆
動モータ５４とを有し、それぞれ操作器８０から
入力されあるいは制御演算部４０から出力されて
インターフエイス６０を介して入力される制御信
号によつて制御される。
れ出力側に適した信号に変換して出力する。光検
出部２０は、光学系１０からの光束が入射してこ
れを光電変換する受光素子２２と、受光素子２２
の出力を制御演算部４０から出力されインタフエ
イス部６０を介して入力される信号に従つて増幅
する増幅器２４とから成る。駆動モータ部５０は
フイルター板駆動モータ５２と開口絞り反射板駆
動モータ５４とを有し、それぞれ操作器８０から
入力されあるいは制御演算部４０から出力されて
インターフエイス６０を介して入力される制御信
号によつて制御される。
エンコーダ部３０は、フイルター板３の挿入フ
イルターを検出するフイルター検出エンコーダ３
２と、開口絞り反射板２の設定開口絞りを検出す
る開口絞り検出エンコーダ３４とを有する。
イルターを検出するフイルター検出エンコーダ３
２と、開口絞り反射板２の設定開口絞りを検出す
る開口絞り検出エンコーダ３４とを有する。
制御演算部４０、表示部９０、不揮発性記憶素
子からなる記憶回路７０及び操作器８０の作動機
能は以下に第２図に示すフローチヤートに基いて
説明される。測定者は、最初に、目盛り定めモー
ドと測定モードの両方を行うか、又は既に行われ
た目盛り定めモードによつて記憶されている輝度
データRstd，Dstdを使用して測光モードのみを行
うか操作器８０により命令する。続いて、前者の
場合には、標準光源の理論的輝度データDstd並び
に所望の開口絞り及びフイルターに係る選択信号
を、また後者の場合には所望の開口絞り及びフイ
ルターに係る選択信号のみを操作器８０により入
力する。
子からなる記憶回路７０及び操作器８０の作動機
能は以下に第２図に示すフローチヤートに基いて
説明される。測定者は、最初に、目盛り定めモー
ドと測定モードの両方を行うか、又は既に行われ
た目盛り定めモードによつて記憶されている輝度
データRstd，Dstdを使用して測光モードのみを行
うか操作器８０により命令する。続いて、前者の
場合には、標準光源の理論的輝度データDstd並び
に所望の開口絞り及びフイルターに係る選択信号
を、また後者の場合には所望の開口絞り及びフイ
ルターに係る選択信号のみを操作器８０により入
力する。
一方、制御演算部４０はその作動が開始する
と、まず、ステツプ101において目盛り定めモー
ドが選択されているか否かが判断される。目盛り
定めモードが選択されていると、ステツプ102に
進み、駆動モータ部５０を駆動させて所定の開口
絞り及びフイルターを初期設定し、同時に輝度デ
ータDstdを記憶回路７０に記憶させる。続いて、
ステツプ103において操作器８０から目盛り定め
開始信号が入力されているか否かを判別し、該信
号が入力されていない場合には入力されるまで待
機する。
と、まず、ステツプ101において目盛り定めモー
ドが選択されているか否かが判断される。目盛り
定めモードが選択されていると、ステツプ102に
進み、駆動モータ部５０を駆動させて所定の開口
絞り及びフイルターを初期設定し、同時に輝度デ
ータDstdを記憶回路７０に記憶させる。続いて、
ステツプ103において操作器８０から目盛り定め
開始信号が入力されているか否かを判別し、該信
号が入力されていない場合には入力されるまで待
機する。
目盛り定め開始信号が入力されると、ステツプ
104において標準光源による標準光源輝度データ
Rstdが検出され、ステツプ105において記憶回路
７０に輝度データRstdが記憶される。続いて、ス
テツプ106において全フイルターについての輝度
データRstdの記憶が終了されたか否かが判断さ
れ、終了されていなければ、ステツプ109におい
てフイルターの切替えがなされてステツプ104に
戻る。
104において標準光源による標準光源輝度データ
Rstdが検出され、ステツプ105において記憶回路
７０に輝度データRstdが記憶される。続いて、ス
テツプ106において全フイルターについての輝度
データRstdの記憶が終了されたか否かが判断さ
れ、終了されていなければ、ステツプ109におい
てフイルターの切替えがなされてステツプ104に
戻る。
全フイルターについて輝度データRstdの記憶が
終了していると、ステツプ107に進んで全開口絞
りについての輝度データRstdの記憶が終了してい
るか否かが判別され、終了していないと判別され
ると、ステツプ108において開口絞りの切替えが
なされてステツプ104に戻る。
終了していると、ステツプ107に進んで全開口絞
りについての輝度データRstdの記憶が終了してい
るか否かが判別され、終了していないと判別され
ると、ステツプ108において開口絞りの切替えが
なされてステツプ104に戻る。
一方、ステツプ107において全開口絞りについ
て輝度データRstdの記憶が終了していると判別さ
れた場合、及び前述のステツプ101において目盛
り定めモードが選択されていないと判別された場
合、ステツプ110に進んで測光モードが選択され
ているか否かが判別される。そして、ステツプ
110において測光モードが選択されていないと判
別された場合はステツプ101に戻り、一方測光モ
ードが入力されているとステツプ111に進み、先
に入力されている命令信号により所望の開口絞り
及びフイルターが設定される。
て輝度データRstdの記憶が終了していると判別さ
れた場合、及び前述のステツプ101において目盛
り定めモードが選択されていないと判別された場
合、ステツプ110に進んで測光モードが選択され
ているか否かが判別される。そして、ステツプ
110において測光モードが選択されていないと判
別された場合はステツプ101に戻り、一方測光モ
ードが入力されているとステツプ111に進み、先
に入力されている命令信号により所望の開口絞り
及びフイルターが設定される。
続いて、ステツプ112において測光開始信号が
入力されているか否かが判断され、入力されてい
ない場合は入力されるまで待機する。そして、測
光開始信号が入力されると、ステツプ113に進ん
で被測定領域の輝度データRnの検出が行われる。
次に、ステツプ114において記憶回路７０が輝度
データRnを記憶し、ステツプ115において輝度デ
ータDstd，Rstd及びRnを読出す。
入力されているか否かが判断され、入力されてい
ない場合は入力されるまで待機する。そして、測
光開始信号が入力されると、ステツプ113に進ん
で被測定領域の輝度データRnの検出が行われる。
次に、ステツプ114において記憶回路７０が輝度
データRnを記憶し、ステツプ115において輝度デ
ータDstd，Rstd及びRnを読出す。
ステツプ116においては読出した輝度データ
Dstd，Rstd及びRnに基いて Ｒ＝Rn×Dstd／Rstd を演算し、ステツプ117において求められた輝度
データＲを表示器９０により表示する。続いて、
全測光モードが終了したか否かが判別され、終了
していなければステツプ101へ戻る。
Dstd，Rstd及びRnに基いて Ｒ＝Rn×Dstd／Rstd を演算し、ステツプ117において求められた輝度
データＲを表示器９０により表示する。続いて、
全測光モードが終了したか否かが判別され、終了
していなければステツプ101へ戻る。
上述の構成を有する本発明においては、目盛り
定め及び相関調整が、可変インピーダンスを使用
せずかつ自動的に行うことができ、容易に高精度
の測光を行うことができる効果を有する。また目
盛り定め及び相関調整が簡便に行えることにより
これらを測光の度に行うことも可能になり、標準
電球の経半変化や測光機自体の振動等による狂い
による測定精度の低下を有効に防ぐことが可能で
ある。
定め及び相関調整が、可変インピーダンスを使用
せずかつ自動的に行うことができ、容易に高精度
の測光を行うことができる効果を有する。また目
盛り定め及び相関調整が簡便に行えることにより
これらを測光の度に行うことも可能になり、標準
電球の経半変化や測光機自体の振動等による狂い
による測定精度の低下を有効に防ぐことが可能で
ある。
第１図は本発明の実施例の光学系及び電気系を
示すブロツク図、第２図は第１図に示す実施例の
作動を示すフローチヤート図である。 １：対物レンズ、２：開口絞り反射板、３：フ
イルター板、１０：光学系、３０：エンコーダ
部、４０：制御演算部、５０：駆動モータ部、６
０：インターフエイス部、７０：記憶回路、８
０：操作器。
示すブロツク図、第２図は第１図に示す実施例の
作動を示すフローチヤート図である。 １：対物レンズ、２：開口絞り反射板、３：フ
イルター板、１０：光学系、３０：エンコーダ
部、４０：制御演算部、５０：駆動モータ部、６
０：インターフエイス部、７０：記憶回路、８
０：操作器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 入射光を電気信号として検出する光検出部
と、 測定者の操作に従い測光条件を変更可能に構成
され、上記光検出部へ被測定部からの光束を導く
測光光学系と、 測定者の操作により、目盛定めモードと測光モ
ードとを切り替えるモード切り換え部と、 標準光源の理論的明るさデータDstd及び目盛定
めモードの際の上記検出部の出力を上記標準光源
に係る複数の標準光源明るさデータRstdとして記
憶する記憶部と、 測光モードの際の上記検出部の出力を被測定部
明るさデータRnとし、上記記憶部に記憶されて
いる上記明るさDstd及び上記データRnを測定した
場合の測光条件と同一の条件において測定された
上記明るさデータRstdを読み出し、これに基づき Ｒ＝Rn×Dstd／Rstd を演算して被測定部の明るさデータＲを演算する
演算部と を有することを特徴とする測光器。 ２ 特許請求の範囲第１項に記載の測光器におい
て、上記記憶部は電源を供給しなくとも記憶を保
存する不揮発性メモリで構成されていることを特
徴とする測光器。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60092666A JPS61250525A (ja) | 1985-04-30 | 1985-04-30 | 測光器 |
| US06/856,579 US4737029A (en) | 1985-04-30 | 1986-04-25 | Photometer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60092666A JPS61250525A (ja) | 1985-04-30 | 1985-04-30 | 測光器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61250525A JPS61250525A (ja) | 1986-11-07 |
| JPH0548849B2 true JPH0548849B2 (ja) | 1993-07-22 |
Family
ID=14060798
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60092666A Granted JPS61250525A (ja) | 1985-04-30 | 1985-04-30 | 測光器 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4737029A (ja) |
| JP (1) | JPS61250525A (ja) |
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1985
- 1985-04-30 JP JP60092666A patent/JPS61250525A/ja active Granted
-
1986
- 1986-04-25 US US06/856,579 patent/US4737029A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4737029A (en) | 1988-04-12 |
| JPS61250525A (ja) | 1986-11-07 |
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |